JPH10125277A - 質量分析装置 - Google Patents
質量分析装置Info
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- JPH10125277A JPH10125277A JP9155257A JP15525797A JPH10125277A JP H10125277 A JPH10125277 A JP H10125277A JP 9155257 A JP9155257 A JP 9155257A JP 15525797 A JP15525797 A JP 15525797A JP H10125277 A JPH10125277 A JP H10125277A
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- JP
- Japan
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- mass spectrometer
- interface mechanism
- pore
- groove
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 質量分析装置のインタフェース機構を構成す
る部材の清掃、交換等のための分解作業、その後の組み
立て作業を容易に行うことを可能とする。 【解決手段】 本発明をESIインタフェース機構に適
用した図示例は、イオン化電極3を構成する各細孔電極
が、本体部筐体1の平面板16上に設けられる台部11
の溝部14に係合するように下端部が方形状に、かつ、
溝部14に係合する形状とされて構成される。各細孔電
極は、台部11に設けた溝部14に案内されてスライド
可能とされると共に、各細孔電極が溝部14内に係合載
置されることにより、中心の細孔の位置合わせが可能に
されている。使用状態において、各細孔電極は、固定ネ
ジ4により装置の全体が真空引き抜きダクト5の面に固
定され、また、台部11の端部から溝部14に係合する
ストッパレバー13を有するストッパ12により真空引
き抜きダクト5の面に押しつけられて固定される。
る部材の清掃、交換等のための分解作業、その後の組み
立て作業を容易に行うことを可能とする。 【解決手段】 本発明をESIインタフェース機構に適
用した図示例は、イオン化電極3を構成する各細孔電極
が、本体部筐体1の平面板16上に設けられる台部11
の溝部14に係合するように下端部が方形状に、かつ、
溝部14に係合する形状とされて構成される。各細孔電
極は、台部11に設けた溝部14に案内されてスライド
可能とされると共に、各細孔電極が溝部14内に係合載
置されることにより、中心の細孔の位置合わせが可能に
されている。使用状態において、各細孔電極は、固定ネ
ジ4により装置の全体が真空引き抜きダクト5の面に固
定され、また、台部11の端部から溝部14に係合する
ストッパレバー13を有するストッパ12により真空引
き抜きダクト5の面に押しつけられて固定される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、質量分析装置に係
り、特に、試料をイオン化して分析部に導入するインタ
フェース機構の分解、清掃、部品交換等を容易に行うこ
とを可能にした質量分析装置に関する。
り、特に、試料をイオン化して分析部に導入するインタ
フェース機構の分解、清掃、部品交換等を容易に行うこ
とを可能にした質量分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、従来技術による質量分析装置
は、液体クロマトグラフ式とガスクロマトグラフとがあ
り、ガスクロマトグラフ式の場合、分析すべき試料を気
化、イオン化するインタフェース機構と、このイオン化
された粒子を静電レンズ、イオンガイドを介して高周波
電界により制御されるイオントラップ部に導き、イオン
トラップ部から出力される粒子を検出することにより試
料粒子の質量の分析を行う分析部とにより構成されてい
る。そして、ガスクロマトグラフ式の質量分析装置は、
前述の分析部を高真空の空間に配置し、インタフェース
機構を構成するイオン化部を低真空中に、気化部を大気
中に配置して構成されるのが一般的である。
は、液体クロマトグラフ式とガスクロマトグラフとがあ
り、ガスクロマトグラフ式の場合、分析すべき試料を気
化、イオン化するインタフェース機構と、このイオン化
された粒子を静電レンズ、イオンガイドを介して高周波
電界により制御されるイオントラップ部に導き、イオン
トラップ部から出力される粒子を検出することにより試
料粒子の質量の分析を行う分析部とにより構成されてい
る。そして、ガスクロマトグラフ式の質量分析装置は、
前述の分析部を高真空の空間に配置し、インタフェース
機構を構成するイオン化部を低真空中に、気化部を大気
中に配置して構成されるのが一般的である。
【0003】前述のインタフェース機構としては、エレ
クトロスプレーイオナイザ(ESI)と呼ばれるもの
と、大気圧化学イオナイザ(APCI)と呼ばれるもの
とが知られている。ESIは、高電圧を印加した二重パ
イプに不活性ガスと液体状の試料を吹き込むことにより
試料を気化させる気化器と、中心部に細孔を有するイオ
ン化電極とにより構成され、APCIは、中心部に細孔
を有して150度から200度程度に加熱された部材に
よる霧化器と、中心部に小孔を有して400度程度に加
熱された部材による気化器と、中心部に細孔を有するイ
オン化電極とにより構成される。
クトロスプレーイオナイザ(ESI)と呼ばれるもの
と、大気圧化学イオナイザ(APCI)と呼ばれるもの
とが知られている。ESIは、高電圧を印加した二重パ
イプに不活性ガスと液体状の試料を吹き込むことにより
試料を気化させる気化器と、中心部に細孔を有するイオ
ン化電極とにより構成され、APCIは、中心部に細孔
を有して150度から200度程度に加熱された部材に
よる霧化器と、中心部に小孔を有して400度程度に加
熱された部材による気化器と、中心部に細孔を有するイ
オン化電極とにより構成される。
【0004】図16は従来技術による質量分析装置のE
SIインタフェース機構の構成を示す斜視図であり、以
下、図16を参照して、従来技術によるインタフェース
機構について説明する。図16において、1は本体部筐
体、2は気化器、3はイオン化電極、4、4’は固定ネ
ジ、5は真空引き抜きダクト、6は霧化器、7はチュー
ブ、17は天板である。
SIインタフェース機構の構成を示す斜視図であり、以
下、図16を参照して、従来技術によるインタフェース
機構について説明する。図16において、1は本体部筐
体、2は気化器、3はイオン化電極、4、4’は固定ネ
ジ、5は真空引き抜きダクト、6は霧化器、7はチュー
ブ、17は天板である。
【0005】従来技術による質量分析装置は、図示しな
い、静電レンズ、イオンガイド、イオントラップ、粒子
検出部により構成される質量分析部、真空ポンプ、電
源、制御回路等が天板17を有する本体部筐体1内に収
納され、ESIインタフェース機構を構成するイオン化
電極3及び気化器2が、図16に示すように、本体部筐
体1の内部とは仕切られた部分に取り付けられて構成さ
れている。
い、静電レンズ、イオンガイド、イオントラップ、粒子
検出部により構成される質量分析部、真空ポンプ、電
源、制御回路等が天板17を有する本体部筐体1内に収
納され、ESIインタフェース機構を構成するイオン化
電極3及び気化器2が、図16に示すように、本体部筐
体1の内部とは仕切られた部分に取り付けられて構成さ
れている。
【0006】ESIインタフェース機構が取り付けられ
ている部分の天板17の部分は、図16では切り欠いた
状態に示されているが、この部分は、天板17と同一平
面となる取り外し可能な蓋または開閉可能な扉として構
成されている。また、図16では、本体部筐体1の側面
板を切り欠いた状態に示しているが、側面板は、実際に
は切り欠かれておらず、天板17の直下まで伸びてES
Iインタフェース機構を取り囲んでいる。そして、ES
Iインタフェース機構の保守は、前述した天板17の一
部に設けられている蓋を取り外しあるいは扉を開いて上
側から行われるようにされている。
ている部分の天板17の部分は、図16では切り欠いた
状態に示されているが、この部分は、天板17と同一平
面となる取り外し可能な蓋または開閉可能な扉として構
成されている。また、図16では、本体部筐体1の側面
板を切り欠いた状態に示しているが、側面板は、実際に
は切り欠かれておらず、天板17の直下まで伸びてES
Iインタフェース機構を取り囲んでいる。そして、ES
Iインタフェース機構の保守は、前述した天板17の一
部に設けられている蓋を取り外しあるいは扉を開いて上
側から行われるようにされている。
【0007】また、ESIインタフェース機構は、その
細孔部を中程度の真空に引く真空引き抜きダクト5を介
して取り付けられ、中心部に細孔を有する複数の円板状
に形成された細孔電極により構成されるイオン化電極3
と、チューブ7を介して送られる溶媒等に溶かされた試
料を気化する気化器2とにより構成されている。真空引
き抜きダクト5は、固定ネジ4’により本体部筐体1に
取り付けられ、内部の真空ポンプに連結されている。
細孔部を中程度の真空に引く真空引き抜きダクト5を介
して取り付けられ、中心部に細孔を有する複数の円板状
に形成された細孔電極により構成されるイオン化電極3
と、チューブ7を介して送られる溶媒等に溶かされた試
料を気化する気化器2とにより構成されている。真空引
き抜きダクト5は、固定ネジ4’により本体部筐体1に
取り付けられ、内部の真空ポンプに連結されている。
【0008】ESIインタフェース機構と図示しない真
空ポンプとは、通常2つの真空室を介して結合されてい
る。図16には示していないが、1つは、分析部を配置
する高真空の真空室であり、他の1つは、インタフェー
ス機構を構成するイオン化部を低真空とする真空室であ
る。そして、これらの真空室は、3つの真空ポンプによ
り内部の気体が吸引されている。すなわち、インタフェ
ース機構のイオン化部を低真空とする真空室に1つの真
空ポンプが割り当てられ、分析部を配置する高真空の真
空室にターボ分子真空ポンプが割り当てられ、さらに、
ターボ分子真空ポンプの排圧の排気のためにもう1つの
真空ポンプが配置されている。
空ポンプとは、通常2つの真空室を介して結合されてい
る。図16には示していないが、1つは、分析部を配置
する高真空の真空室であり、他の1つは、インタフェー
ス機構を構成するイオン化部を低真空とする真空室であ
る。そして、これらの真空室は、3つの真空ポンプによ
り内部の気体が吸引されている。すなわち、インタフェ
ース機構のイオン化部を低真空とする真空室に1つの真
空ポンプが割り当てられ、分析部を配置する高真空の真
空室にターボ分子真空ポンプが割り当てられ、さらに、
ターボ分子真空ポンプの排圧の排気のためにもう1つの
真空ポンプが配置されている。
【0009】気化器2は、図には示していないが、二重
パイプ状に形成されており、内側の中心パイプにチュー
ブ7からの試料が送り込まれ、内側パイプと外側パイプ
との間に不活性ガスが吹き込まれて試料を噴霧、気化
し、気化された試料をイオン化電極3の中心の細孔に向
けて吹き込む。なお、この気化器2の外側パイプには、
3kV程度の高電圧が、図示しないケーブルを介して本
体部筐体1の内部から印加されている。
パイプ状に形成されており、内側の中心パイプにチュー
ブ7からの試料が送り込まれ、内側パイプと外側パイプ
との間に不活性ガスが吹き込まれて試料を噴霧、気化
し、気化された試料をイオン化電極3の中心の細孔に向
けて吹き込む。なお、この気化器2の外側パイプには、
3kV程度の高電圧が、図示しないケーブルを介して本
体部筐体1の内部から印加されている。
【0010】イオン化電極3は、複数の細孔電極の細孔
の位置合わせをして固定ネジ4により真空引き抜きダク
ト5に固定されて取り付けられている。図には示してい
ないが、イオン化電極3を構成する複数の細孔電極のそ
れぞれには、吹き込まれた試料の粒子をイオン化するた
めに異なる電位の電圧が、図示しないケーブルを介して
本体部筐体1の内部から印加されている。
の位置合わせをして固定ネジ4により真空引き抜きダク
ト5に固定されて取り付けられている。図には示してい
ないが、イオン化電極3を構成する複数の細孔電極のそ
れぞれには、吹き込まれた試料の粒子をイオン化するた
めに異なる電位の電圧が、図示しないケーブルを介して
本体部筐体1の内部から印加されている。
【0011】前述において、チューブ7を介して送りこ
まれた試料は、気化器2により気化されて、その粒子が
イオン化電極3の細孔を通る間にイオン化され、本体部
筐体1の内部に収納される質量分析部に送りこまれるこ
とになる。なお、気化された後の試料は、真空引き抜き
ダクト5の内部が真空に引き抜かれていることにより、
自動的にイオン化電極3を通って本体部筐体1の内部に
導かれる。
まれた試料は、気化器2により気化されて、その粒子が
イオン化電極3の細孔を通る間にイオン化され、本体部
筐体1の内部に収納される質量分析部に送りこまれるこ
とになる。なお、気化された後の試料は、真空引き抜き
ダクト5の内部が真空に引き抜かれていることにより、
自動的にイオン化電極3を通って本体部筐体1の内部に
導かれる。
【0012】前述では、従来技術による質量分析装置の
ESIインタフェース機構について説明したが、APC
Iインタフェース機構も、図16の場合と同様に構成さ
れている。すなわち、APCIインタフェースを持つ質
量分析装置は、静電レンズ、イオンガイド、イオントラ
ップ粒子検出により構成される質量分析部、真空ポン
プ、電源、制御回路等が本体部筐体1内に収納され、A
PCIインタフェース機構が、イオン化電極、気化器及
びESIインタフェース機構にはない霧化器により構成
されて、前述の場合と同様に、本体部筐体1の内部とは
仕切られた部分に取り付けられて構成されている。そし
て、APCIインタフェース機構は、ESIインタフェ
ース機構とほぼ同様に、その細孔部を中程度の真空に引
く真空引き抜きダクト5介して取り付けられ、中心部に
細孔を有する複数の円板状に形成された細孔電極により
構成されるイオン化電極と、チューブを介して送られる
溶媒等に溶かされた試料を霧化する霧化器と、霧化され
た試料を気化する気化器とにより構成されている。真空
引き抜きダクトは、固定ネジにより本体部筐体に取り付
けられ、内部の真空ポンプに連結されている。
ESIインタフェース機構について説明したが、APC
Iインタフェース機構も、図16の場合と同様に構成さ
れている。すなわち、APCIインタフェースを持つ質
量分析装置は、静電レンズ、イオンガイド、イオントラ
ップ粒子検出により構成される質量分析部、真空ポン
プ、電源、制御回路等が本体部筐体1内に収納され、A
PCIインタフェース機構が、イオン化電極、気化器及
びESIインタフェース機構にはない霧化器により構成
されて、前述の場合と同様に、本体部筐体1の内部とは
仕切られた部分に取り付けられて構成されている。そし
て、APCIインタフェース機構は、ESIインタフェ
ース機構とほぼ同様に、その細孔部を中程度の真空に引
く真空引き抜きダクト5介して取り付けられ、中心部に
細孔を有する複数の円板状に形成された細孔電極により
構成されるイオン化電極と、チューブを介して送られる
溶媒等に溶かされた試料を霧化する霧化器と、霧化され
た試料を気化する気化器とにより構成されている。真空
引き抜きダクトは、固定ネジにより本体部筐体に取り付
けられ、内部の真空ポンプに連結されている。
【0013】霧化器は、150度〜200度程度に加熱
されており、チューブを介して送り込まれてくる試料を
中心部に設けられた細孔内で霧化して気化器に送り込
む。気化器は、霧化器より高い400度程度に加熱され
ており、霧化器より送られてくる霧化された試料を気化
し、気化された試料をイオン化電極の中心の細孔に向け
て吹き込む。そして、霧化器、気化器には、加熱のため
のヒータ、温度測定のためのセンサが組み込まれてお
り、これらに対する配線がケーブルを介して本体部筐体
の内部に引き込まれている。
されており、チューブを介して送り込まれてくる試料を
中心部に設けられた細孔内で霧化して気化器に送り込
む。気化器は、霧化器より高い400度程度に加熱され
ており、霧化器より送られてくる霧化された試料を気化
し、気化された試料をイオン化電極の中心の細孔に向け
て吹き込む。そして、霧化器、気化器には、加熱のため
のヒータ、温度測定のためのセンサが組み込まれてお
り、これらに対する配線がケーブルを介して本体部筐体
の内部に引き込まれている。
【0014】イオン化電極の構成は、前述したESIイ
ンタフェース機構を持つ質量分析装置の場合と同様であ
り、また、APCIインタフェース機構が本体部筐体に
取り付けられる構造、本体部筐体の側面板のAPCIイ
ンタフェース機構周辺の構造、天板の構成も、前述した
ESIインタフェース機構を持つ質量分析装置の場合と
同様である。
ンタフェース機構を持つ質量分析装置の場合と同様であ
り、また、APCIインタフェース機構が本体部筐体に
取り付けられる構造、本体部筐体の側面板のAPCIイ
ンタフェース機構周辺の構造、天板の構成も、前述した
ESIインタフェース機構を持つ質量分析装置の場合と
同様である。
【0015】前述において、チューブを介して送りこま
れた試料は、霧化器、気化器を経て気化され、その粒子
がイオン化電極の細孔を通る間にイオン化され、本体部
筐体の内部に収納される質量分析部に送りこまれること
になる。
れた試料は、霧化器、気化器を経て気化され、その粒子
がイオン化電極の細孔を通る間にイオン化され、本体部
筐体の内部に収納される質量分析部に送りこまれること
になる。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】前述した従来技術によ
る質量分析装置は、インタフェース機構を構成するイオ
ン化電極、気化器が、あるいは、これらと霧化器とを位
置合わせして取り付けネジにより取り付けられている。
そして、これらの部材は、一定時間使用した後には清掃
等のために取り外す必要があり、また、分析すべき試料
によっては部材を交換する必要がある。そして、インタ
フェース機構を構成する前述の各部材は相当な重量を有
し、また、使用直後にはかなりの熱を持っている。
る質量分析装置は、インタフェース機構を構成するイオ
ン化電極、気化器が、あるいは、これらと霧化器とを位
置合わせして取り付けネジにより取り付けられている。
そして、これらの部材は、一定時間使用した後には清掃
等のために取り外す必要があり、また、分析すべき試料
によっては部材を交換する必要がある。そして、インタ
フェース機構を構成する前述の各部材は相当な重量を有
し、また、使用直後にはかなりの熱を持っている。
【0017】このため、前述した従来技術による質量分
析装置のインタフェース機構は、清掃等のために分解し
た後に組み立てる際の位置合わせを、部材を手に持った
状態で行わなければならず、その作業が困難であり、ま
た、APCIインタフェース機構は、使用中加熱されて
いるため、使用直後に作業を行うことができないという
問題点を有している。
析装置のインタフェース機構は、清掃等のために分解し
た後に組み立てる際の位置合わせを、部材を手に持った
状態で行わなければならず、その作業が困難であり、ま
た、APCIインタフェース機構は、使用中加熱されて
いるため、使用直後に作業を行うことができないという
問題点を有している。
【0018】また、前述した従来技術による質量分析装
置のインタフェース機構は、前述した作業を、天板に設
けられたインタフェース機構の上の蓋を外し、あるい
は、扉を開いて上側から行わなければならず、極めて作
業性が悪いという問題点を生じさせている。また、通
常、天板の上には、液体クロマトグラフ等の機器が乗せ
られて使用されており、これらの機器が、天板上の蓋、
扉の上に乗せられていた場合、これらの機器を移動させ
なければ、前述したような清掃のための作業を行うこと
ができないという問題点を生じている。
置のインタフェース機構は、前述した作業を、天板に設
けられたインタフェース機構の上の蓋を外し、あるい
は、扉を開いて上側から行わなければならず、極めて作
業性が悪いという問題点を生じさせている。また、通
常、天板の上には、液体クロマトグラフ等の機器が乗せ
られて使用されており、これらの機器が、天板上の蓋、
扉の上に乗せられていた場合、これらの機器を移動させ
なければ、前述したような清掃のための作業を行うこと
ができないという問題点を生じている。
【0019】また、前述した従来技術による質量分析装
置は、3つもの真空ポンプを使用しているため、装置全
体を大型のものにしてしまい、また、重量も大きくなる
ので、搬入、設置を行う場合に、搬送可能な重量となる
ように解体し、現地での組み立てを行わなければなら
ず、それらの作業に要する作業量が多くなり、時間と費
用が大きくなるという問題点を有している。
置は、3つもの真空ポンプを使用しているため、装置全
体を大型のものにしてしまい、また、重量も大きくなる
ので、搬入、設置を行う場合に、搬送可能な重量となる
ように解体し、現地での組み立てを行わなければなら
ず、それらの作業に要する作業量が多くなり、時間と費
用が大きくなるという問題点を有している。
【0020】本発明の目的は、前記従来技術の問題点を
解決し、インタフェース機構の分解、清掃、部品交換等
を容易に行うことを可能にし、組立てを行う際の位置合
わせも容易に行うことを可能にした分析すべき試料を気
化、イオン化するインタフェース機構を有する質量分析
装置を提供することにある。
解決し、インタフェース機構の分解、清掃、部品交換等
を容易に行うことを可能にし、組立てを行う際の位置合
わせも容易に行うことを可能にした分析すべき試料を気
化、イオン化するインタフェース機構を有する質量分析
装置を提供することにある。
【0021】また、本発明の目的は、装置全体を小型に
することができ、また、重量を小さくし、搬入、設置を
行う場合にね、搬送可能な重量とするための分解数を少
なくして、現地での組み立て作業が容易な質量分析装置
を提供することにある。
することができ、また、重量を小さくし、搬入、設置を
行う場合にね、搬送可能な重量とするための分解数を少
なくして、現地での組み立て作業が容易な質量分析装置
を提供することにある。
【0022】
【課題を解決するための手段】本発明によれば前記目的
は、分析すべき試料を気化させる気化器、及び、中心部
に細孔を有するイオン化電極とにより構成されるESI
インタフェース機構と、前記インタフェース機構からの
イオン化された試料粒子の質量分析を行う質量分析部と
により構成される質量分析装置において、前記イオン化
電極を、下端部が方形状に、かつ、本体部筐体の平面板
上に設けられる台部の溝部に係合する形状を持つ複数の
細孔電極により構成することにより達成される。
は、分析すべき試料を気化させる気化器、及び、中心部
に細孔を有するイオン化電極とにより構成されるESI
インタフェース機構と、前記インタフェース機構からの
イオン化された試料粒子の質量分析を行う質量分析部と
により構成される質量分析装置において、前記イオン化
電極を、下端部が方形状に、かつ、本体部筐体の平面板
上に設けられる台部の溝部に係合する形状を持つ複数の
細孔電極により構成することにより達成される。
【0023】また、前記目的は、前記複数の細孔電極
を、前記溝部内にスライド可能に係合することにより、
また、使用時、固定ネジにより、あるいは、前記台部の
溝部に係合するストッパにより複数の細孔電極を結合し
てイオン化電極を形成することにより達成される。
を、前記溝部内にスライド可能に係合することにより、
また、使用時、固定ネジにより、あるいは、前記台部の
溝部に係合するストッパにより複数の細孔電極を結合し
てイオン化電極を形成することにより達成される。
【0024】また、前記目的は、ESIインタフェース
機構を有する質量分析装置において、前記イオン化電極
を、略四角柱状の台座部上に支持棒により取り付けた複
数の細孔電極により構成し、本体部筐体の平面板上に設
けられる溝部上に前記台座部を載置することにより、前
記複数の細孔電極を支持している台座部を、前記溝部内
にスライド可能に載置することにより、さらに、前記複
数の細孔電極を、使用時、固定ネジにより結合してイオ
ン化電極を形成することにより達成される。
機構を有する質量分析装置において、前記イオン化電極
を、略四角柱状の台座部上に支持棒により取り付けた複
数の細孔電極により構成し、本体部筐体の平面板上に設
けられる溝部上に前記台座部を載置することにより、前
記複数の細孔電極を支持している台座部を、前記溝部内
にスライド可能に載置することにより、さらに、前記複
数の細孔電極を、使用時、固定ネジにより結合してイオ
ン化電極を形成することにより達成される。
【0025】また、前記目的は、分析すべき試料を霧化
させる霧化器、霧化された試料を気化させる気化器、及
び、中心部に細孔を有するイオン化電極とにより構成さ
れるAPCIインタフェース機構と、前記インタフェー
ス機構からのイオン化された試料粒子の質量分析を行う
質量分析部とにより構成される質量分析装置において、
前記イオン化電極を複数の細孔電極により構成し、前記
複数の細孔電極、霧化器、気化器は、下端部を方形状
に、かつ、本体部筐体の平面板上に設けられる台部の溝
部に係合する形状を持つことにより達成される。
させる霧化器、霧化された試料を気化させる気化器、及
び、中心部に細孔を有するイオン化電極とにより構成さ
れるAPCIインタフェース機構と、前記インタフェー
ス機構からのイオン化された試料粒子の質量分析を行う
質量分析部とにより構成される質量分析装置において、
前記イオン化電極を複数の細孔電極により構成し、前記
複数の細孔電極、霧化器、気化器は、下端部を方形状
に、かつ、本体部筐体の平面板上に設けられる台部の溝
部に係合する形状を持つことにより達成される。
【0026】また、前記目的は、前記複数の細孔電極、
霧化器、気化器を、前記溝部内にスライド可能に係合さ
せ、使用時、固定ネジにより、あるいは、前記台部の溝
部に係合するストッパにより結合することにより達成さ
れる。
霧化器、気化器を、前記溝部内にスライド可能に係合さ
せ、使用時、固定ネジにより、あるいは、前記台部の溝
部に係合するストッパにより結合することにより達成さ
れる。
【0027】また、前記目的は、APCIインタフェー
ス機構を有する質量分析装置において、前記イオン化電
極を複数の細孔電極により構成し、前記複数の細孔電
極、霧化器、気化器を、略四角柱状の台座部上に支持棒
により取り付け、本体部筐体の平面板上に設けられる溝
部上に前記台座部を載置することにより、前記複数の細
孔電極、霧化器、気化器を支持している台座部を、前記
溝部内にスライド可能に載置することにより、さらに、
前記複数の細孔電極、霧化器、気化器を、使用時、固定
ネジにより結合することにより達成される。
ス機構を有する質量分析装置において、前記イオン化電
極を複数の細孔電極により構成し、前記複数の細孔電
極、霧化器、気化器を、略四角柱状の台座部上に支持棒
により取り付け、本体部筐体の平面板上に設けられる溝
部上に前記台座部を載置することにより、前記複数の細
孔電極、霧化器、気化器を支持している台座部を、前記
溝部内にスライド可能に載置することにより、さらに、
前記複数の細孔電極、霧化器、気化器を、使用時、固定
ネジにより結合することにより達成される。
【0028】さらに、前記目的は、前記複数の細孔電
極、または、複数の細孔電極、霧化器、気化器が、前記
溝部内に係合された状態で、あるいは、前記台座部を前
記溝部内に載置した状態で相互に位置合わせが行われて
いるようにすることにより達成される。
極、または、複数の細孔電極、霧化器、気化器が、前記
溝部内に係合された状態で、あるいは、前記台座部を前
記溝部内に載置した状態で相互に位置合わせが行われて
いるようにすることにより達成される。
【0029】本発明によれば前記目的は、前記インタフ
ェース機構を、本体部筐体に結合させて配置し、本体部
筐体に係合する前蓋により覆い、前蓋が取り外されたと
き、前記インタフェース機構の上部と側部、前部と上
部、前部と側部、または、上部と前部と側部が解放状態
とされるようにすることにより、また、前蓋が取り外さ
れたことを検出するマイクロスイッチを本体部筐体に備
え、前記前蓋が取り付けられているときのみ、装置の動
作を可能とすることにより達成される。
ェース機構を、本体部筐体に結合させて配置し、本体部
筐体に係合する前蓋により覆い、前蓋が取り外されたと
き、前記インタフェース機構の上部と側部、前部と上
部、前部と側部、または、上部と前部と側部が解放状態
とされるようにすることにより、また、前蓋が取り外さ
れたことを検出するマイクロスイッチを本体部筐体に備
え、前記前蓋が取り付けられているときのみ、装置の動
作を可能とすることにより達成される。
【0030】また、前記目的は、前記インタフェース機
構を、本体部筐体に結合し、インタフェース機構に対す
る電圧の印加、加熱のための電源を供給するケーブルを
コネクタを介して本体部筐体内部に引き込み、前記コネ
クタのコネクタピンの2本をジャンパ線により短絡して
おき、短絡されるコネクタピンの位置により、制御装置
にインタフェース機構の種別を判別させることにより、
また、前記制御装置をパソコンにより構成し、判別した
インタフェース機構の種別と、機器構成の概略とをディ
スプレイ上に表示することにより、また、前記ディスプ
レイ上に表示されるインタフェース機構の機器構成の各
部に印加されている電圧と、計測された温度及び設定温
度の少なくとも計測された温度とを対応して表示するこ
とにより達成される。
構を、本体部筐体に結合し、インタフェース機構に対す
る電圧の印加、加熱のための電源を供給するケーブルを
コネクタを介して本体部筐体内部に引き込み、前記コネ
クタのコネクタピンの2本をジャンパ線により短絡して
おき、短絡されるコネクタピンの位置により、制御装置
にインタフェース機構の種別を判別させることにより、
また、前記制御装置をパソコンにより構成し、判別した
インタフェース機構の種別と、機器構成の概略とをディ
スプレイ上に表示することにより、また、前記ディスプ
レイ上に表示されるインタフェース機構の機器構成の各
部に印加されている電圧と、計測された温度及び設定温
度の少なくとも計測された温度とを対応して表示するこ
とにより達成される。
【0031】さらに、前記目的は、質量分析部が収納さ
れる真空室を真空に引く第1の真空ポンプと、該第1の
真空ポンプからの排気及び前記イオン化電極により構成
される真空室からの排気を行う第2の真空ポンプとを備
えることにより、また、前記第1の真空ポンプを、本体
部筐体の内部に、その正面の手前側で、かつ、側面側
に、取り外し可能に配置することにより達成される。
れる真空室を真空に引く第1の真空ポンプと、該第1の
真空ポンプからの排気及び前記イオン化電極により構成
される真空室からの排気を行う第2の真空ポンプとを備
えることにより、また、前記第1の真空ポンプを、本体
部筐体の内部に、その正面の手前側で、かつ、側面側
に、取り外し可能に配置することにより達成される。
【0032】
【発明の実施の形態】以下、本発明による質量分析装置
の実施形態を図面により詳細に説明する。
の実施形態を図面により詳細に説明する。
【0033】図1は本発明による質量分析装置の全体の
構成を示す斜視図、図2は本発明の第1の実施形態によ
る質量分析装置のインタフェース機構の構成を示す斜視
図、図3は図2のインタフェース機構を分解して示す図
である。図1〜図3において、8はケーブル、9はコネ
クタ、10、10’は扉、11は台部、12はストッ
パ、13ストッパ・レバー、14は溝部、15は表示
器、16は平面板、17は天板、17’は天板の窪み
部、18は透明窓、19はマイクロスイッチ、20は前
蓋、20’はカバー、31は液体クロマトグラフ、32
はパソコン(PC)、33はディスプレイ、34はキー
ボード、35はマウス、36は机であり、他の符号は図
16の場合と同一である。
構成を示す斜視図、図2は本発明の第1の実施形態によ
る質量分析装置のインタフェース機構の構成を示す斜視
図、図3は図2のインタフェース機構を分解して示す図
である。図1〜図3において、8はケーブル、9はコネ
クタ、10、10’は扉、11は台部、12はストッ
パ、13ストッパ・レバー、14は溝部、15は表示
器、16は平面板、17は天板、17’は天板の窪み
部、18は透明窓、19はマイクロスイッチ、20は前
蓋、20’はカバー、31は液体クロマトグラフ、32
はパソコン(PC)、33はディスプレイ、34はキー
ボード、35はマウス、36は机であり、他の符号は図
16の場合と同一である。
【0034】本発明の質量分析装置は、図1にその全体
を示すように、質量分析装置を構成する各種機器が収納
される本体部筐体1と、本体部筐体1上に設けられてい
る天板17上に載置される液体クロマトグラフ31と、
本体部筐体1に並べて配置された机36の上に備えられ
る質量分析装置、液体クロマトグラフ31を制御し、こ
れらからのデータを処理するパソコン32と、制御の状
況、データ処理の状況を表示するディスプレイ33と、
パソコン32に対する指示等を入力するキーボード34
及びマウス36とにより構成されている。
を示すように、質量分析装置を構成する各種機器が収納
される本体部筐体1と、本体部筐体1上に設けられてい
る天板17上に載置される液体クロマトグラフ31と、
本体部筐体1に並べて配置された机36の上に備えられ
る質量分析装置、液体クロマトグラフ31を制御し、こ
れらからのデータを処理するパソコン32と、制御の状
況、データ処理の状況を表示するディスプレイ33と、
パソコン32に対する指示等を入力するキーボード34
及びマウス36とにより構成されている。
【0035】本体部筐体1の側面及び前面には扉10、
10’及び透明窓18が設けられている。側面に設けら
れている扉10は、本体部筐体1の内部に配置されてい
る真空排気用のターボ分子ポンプの作動油の給油口とし
て使用され、前面側の透明窓18は、ターボ分子ポンプ
の作動油の量が外部から見ることがてきるように設けら
れている。また、前面側の扉10’は、この扉10’を
開けることにより、電源スイッチ等の操作が可能に設け
られている。
10’及び透明窓18が設けられている。側面に設けら
れている扉10は、本体部筐体1の内部に配置されてい
る真空排気用のターボ分子ポンプの作動油の給油口とし
て使用され、前面側の透明窓18は、ターボ分子ポンプ
の作動油の量が外部から見ることがてきるように設けら
れている。また、前面側の扉10’は、この扉10’を
開けることにより、電源スイッチ等の操作が可能に設け
られている。
【0036】さらに、本体部筐体1の前面の上部には、
前方に突出した取り外し可能な前蓋20及び表示器15
が設けられたカバー20’が設けられている。前蓋20
の内側には、後述するようにインタフェース機構が本体
部筐体1に結合されて配置されており、前蓋20を図の
右側側方に引いて前蓋20を取り外すと、本体部筐体1
の上部、前部、図示例では右側側部の一部が解放され
て、インタフェース機構が露出する。これにより、イン
タフェース機構は、3方からの保守点検を行うことが可
能となり、極めて作業性よくインタフェース機構の分
解、組み立て等を行うことができる。なお、前蓋20
は、インタフェース機構の3方を解放するものでなくて
も、何れか2方を解放できるように形成されていてもよ
い。
前方に突出した取り外し可能な前蓋20及び表示器15
が設けられたカバー20’が設けられている。前蓋20
の内側には、後述するようにインタフェース機構が本体
部筐体1に結合されて配置されており、前蓋20を図の
右側側方に引いて前蓋20を取り外すと、本体部筐体1
の上部、前部、図示例では右側側部の一部が解放され
て、インタフェース機構が露出する。これにより、イン
タフェース機構は、3方からの保守点検を行うことが可
能となり、極めて作業性よくインタフェース機構の分
解、組み立て等を行うことができる。なお、前蓋20
は、インタフェース機構の3方を解放するものでなくて
も、何れか2方を解放できるように形成されていてもよ
い。
【0037】また、本発明の質量分析装置は、後述する
ように、前述の取り外し可能な前蓋20が、本体部筐体
1に確実に取り付けられているいるときのみ、動作可能
に構成されている。これにより、高電圧が印加されてい
るインタフェース機構の保守党の作業時の、作業者に対
する安全を確保することができる。
ように、前述の取り外し可能な前蓋20が、本体部筐体
1に確実に取り付けられているいるときのみ、動作可能
に構成されている。これにより、高電圧が印加されてい
るインタフェース機構の保守党の作業時の、作業者に対
する安全を確保することができる。
【0038】また、本体部筐体1の上面を構成する天板
17は、その周辺部を除いた部分が周辺部から窪ませた
窪み部17’として形成されて構成されている。そし
て、この窪み部17’の面上に液体クロマトグラフ31
が載置される。これにより、何らかの原因により、本体
部筐体1が振動したり移動した場合にも、その上に載置
されている機器である液体クロマトグラフ31が天板1
7が滑り落ちる等の不具合をなくすことができ、地震等
の際にも安全である。
17は、その周辺部を除いた部分が周辺部から窪ませた
窪み部17’として形成されて構成されている。そし
て、この窪み部17’の面上に液体クロマトグラフ31
が載置される。これにより、何らかの原因により、本体
部筐体1が振動したり移動した場合にも、その上に載置
されている機器である液体クロマトグラフ31が天板1
7が滑り落ちる等の不具合をなくすことができ、地震等
の際にも安全である。
【0039】図2、図3に示す本発明の第1の実施形態
による質量分析装置のインタフェース機構は、本発明を
ESIインタフェース機構に適用した例であり、イオン
化電極3を円板状ではなく下端部が方形状に、かつ、本
体部筐体1の平面板16上に設けられる台部11の溝部
14に係合する形状としたものである。また、インタフ
ェース機構が配置される本体部筐体1の壁面には、図1
により説明した前蓋20と係合するマイクロスイッチ1
9が設けられており、前蓋20が取り外されたとき、こ
のマイクロスイッチ19が、本体部筐体1内の機器の等
差を停止させて、インタフェース機構に印加される高電
圧の供給を停止させている。
による質量分析装置のインタフェース機構は、本発明を
ESIインタフェース機構に適用した例であり、イオン
化電極3を円板状ではなく下端部が方形状に、かつ、本
体部筐体1の平面板16上に設けられる台部11の溝部
14に係合する形状としたものである。また、インタフ
ェース機構が配置される本体部筐体1の壁面には、図1
により説明した前蓋20と係合するマイクロスイッチ1
9が設けられており、前蓋20が取り外されたとき、こ
のマイクロスイッチ19が、本体部筐体1内の機器の等
差を停止させて、インタフェース機構に印加される高電
圧の供給を停止させている。
【0040】この本発明の第1の実施形態による質量分
析装置のインタフェース機構は、イオン化電極3を構成
する各細孔電極が、表示器15を有する本体部筐体1の
平面板16上に設けられる台部11の溝部14に係合す
るように下端部が方形状に、かつ、溝部14に係合する
形状とされて構成される。そして、イオン化電極3を構
成する各細孔電極は、図3に示すように、台部11に設
けた溝部14に案内されてスライド可能とされると共
に、各細孔電極が溝部14内に係合載置されることによ
り、中心の細孔の位置合わせが可能にされている。
析装置のインタフェース機構は、イオン化電極3を構成
する各細孔電極が、表示器15を有する本体部筐体1の
平面板16上に設けられる台部11の溝部14に係合す
るように下端部が方形状に、かつ、溝部14に係合する
形状とされて構成される。そして、イオン化電極3を構
成する各細孔電極は、図3に示すように、台部11に設
けた溝部14に案内されてスライド可能とされると共
に、各細孔電極が溝部14内に係合載置されることによ
り、中心の細孔の位置合わせが可能にされている。
【0041】そして、使用状態において、イオン化電極
3を構成する各細孔電極は、固定ネジ4により装置の全
体が真空引き抜きダクト5の面に固定され、また、台部
11の端部から溝部14に係合するストッパレバー13
を有するストッパ12により真空引き抜きダクト5の面
に押しつけられて固定される。
3を構成する各細孔電極は、固定ネジ4により装置の全
体が真空引き抜きダクト5の面に固定され、また、台部
11の端部から溝部14に係合するストッパレバー13
を有するストッパ12により真空引き抜きダクト5の面
に押しつけられて固定される。
【0042】なお、イオン化電極3を構成する各細孔電
極及び気化器2には、チューブ7を介して図1に示した
液体クロマトグラフ31から試料が送りこまれ、また、
ケーブル8、コネクタ9を介して本体部筐体1内部の電
源から所定の電圧が印加される。また、気化器2内に備
えられる図示しないヒータに対する電源、その温度を測
定するためのセンサの配線が、ケーブル8内に設けられ
て、コネクタ9を介して本体部筐体1の内部に接続され
る。また、台部11に設けられる溝部14は、略台形に
形成され各細孔電極が溝部14に係合している状態では
上方に抜けないようにされている。
極及び気化器2には、チューブ7を介して図1に示した
液体クロマトグラフ31から試料が送りこまれ、また、
ケーブル8、コネクタ9を介して本体部筐体1内部の電
源から所定の電圧が印加される。また、気化器2内に備
えられる図示しないヒータに対する電源、その温度を測
定するためのセンサの配線が、ケーブル8内に設けられ
て、コネクタ9を介して本体部筐体1の内部に接続され
る。また、台部11に設けられる溝部14は、略台形に
形成され各細孔電極が溝部14に係合している状態では
上方に抜けないようにされている。
【0043】前述した本発明の第1の実施形態によれ
ば、インタフェース機構を構成するイオン化電極3、気
化器2の清掃、交換等のための分解作業を、固定ネジ4
を外し、ストッパ12を外すことにより、イオン化電極
3を構成する複数の細孔電極を個々に溝部14内をスラ
イドさせることにより容易に行うことができる。また、
その後の組み立て作業も、各部材を溝部14内をスライ
ドさせていくことにより、位置合わせに気を使うことな
く、確実に位置合わせして行うことができる。
ば、インタフェース機構を構成するイオン化電極3、気
化器2の清掃、交換等のための分解作業を、固定ネジ4
を外し、ストッパ12を外すことにより、イオン化電極
3を構成する複数の細孔電極を個々に溝部14内をスラ
イドさせることにより容易に行うことができる。また、
その後の組み立て作業も、各部材を溝部14内をスライ
ドさせていくことにより、位置合わせに気を使うことな
く、確実に位置合わせして行うことができる。
【0044】図4は本発明の第2の実施形態による質量
分析装置のインタフェース機構の構成を示す斜視図、図
5は図4のインタフェース機構を分解して示す図であ
る。図4、図5において、21は溝部、22は台座部、
23は支持棒であり、他の符号は図2、図3の場合と同
一である。
分析装置のインタフェース機構の構成を示す斜視図、図
5は図4のインタフェース機構を分解して示す図であ
る。図4、図5において、21は溝部、22は台座部、
23は支持棒であり、他の符号は図2、図3の場合と同
一である。
【0045】図4、図5に示す本発明の第2の実施形態
による質量分析装置のインタフェース機構は、本発明を
ESIインタフェース機構に適用した他の例であり、イ
オン化電極3を構成する各細孔電極を略四角柱状の台座
部22上支持棒23により取り付けた構造として、本体
部筐体1の平面板16上に設けられる溝部21上に台座
部22を載置して構成される。
による質量分析装置のインタフェース機構は、本発明を
ESIインタフェース機構に適用した他の例であり、イ
オン化電極3を構成する各細孔電極を略四角柱状の台座
部22上支持棒23により取り付けた構造として、本体
部筐体1の平面板16上に設けられる溝部21上に台座
部22を載置して構成される。
【0046】すなわち、この本発明の第2の実施形態に
よる質量分析装置のインタフェース機構のイオン化電極
3は、各細孔電極が、略四角柱状の台座部22上支持棒
23により取り付けられて構成され、台座部22が本体
部筐体1の平面板16上に設けられる溝部21に載置さ
れる。そして、イオン化電極3を構成する各細孔電極
は、図5に示すように、本体部筐体1の平面板16に設
けた溝部21内をスライド可能に、また、上方に取外し
可能にされると共に、各細孔電極が溝部21内に載置さ
れることにより、中心の細孔の位置合わせが可能にされ
ている。また、使用状態において、イオン化電極3を構
成する各細孔電極は、固定ネジ4により装置の全体が真
空引き抜きダクト5の面に固定され、また、溝部21に
係合するストッパ12により真空引き抜きダクト5の面
に押しつけられて固定される。
よる質量分析装置のインタフェース機構のイオン化電極
3は、各細孔電極が、略四角柱状の台座部22上支持棒
23により取り付けられて構成され、台座部22が本体
部筐体1の平面板16上に設けられる溝部21に載置さ
れる。そして、イオン化電極3を構成する各細孔電極
は、図5に示すように、本体部筐体1の平面板16に設
けた溝部21内をスライド可能に、また、上方に取外し
可能にされると共に、各細孔電極が溝部21内に載置さ
れることにより、中心の細孔の位置合わせが可能にされ
ている。また、使用状態において、イオン化電極3を構
成する各細孔電極は、固定ネジ4により装置の全体が真
空引き抜きダクト5の面に固定され、また、溝部21に
係合するストッパ12により真空引き抜きダクト5の面
に押しつけられて固定される。
【0047】なお、第1の実施形態の場合と同様に、イ
オン化電極3を構成する各細孔電極及び気化器2には、
ケーブル8、コネクタ9を介して本体部筐体1内部の電
源から所定の電圧が印加され、ヒータへの電源が供給さ
れ、また、温度測定用センサの信号もこのケーブルを介
して送られる。さらに、図4、図5に示す例において
も、前蓋20と係合するマイクロスイッチ19が設けら
れており、マイクロスイッチ19が図2、図3により説
明した実施形態と同様に作用する。また、図4、図5に
示す例では、イオン化電極3を構成する各細孔電極の真
空引き抜きダクト5側に設けられる細孔電極が、真空引
き抜きダクト5に直接取り付けられているが、この細孔
電極も、他の細孔電極と同様に支持棒により台座部に取
り付けるようにして、取り外し可能としてもよい。
オン化電極3を構成する各細孔電極及び気化器2には、
ケーブル8、コネクタ9を介して本体部筐体1内部の電
源から所定の電圧が印加され、ヒータへの電源が供給さ
れ、また、温度測定用センサの信号もこのケーブルを介
して送られる。さらに、図4、図5に示す例において
も、前蓋20と係合するマイクロスイッチ19が設けら
れており、マイクロスイッチ19が図2、図3により説
明した実施形態と同様に作用する。また、図4、図5に
示す例では、イオン化電極3を構成する各細孔電極の真
空引き抜きダクト5側に設けられる細孔電極が、真空引
き抜きダクト5に直接取り付けられているが、この細孔
電極も、他の細孔電極と同様に支持棒により台座部に取
り付けるようにして、取り外し可能としてもよい。
【0048】前述した本発明の第2の実施形態によって
も、第1の実施形態の場合と同様な効果を得ることがで
きる。
も、第1の実施形態の場合と同様な効果を得ることがで
きる。
【0049】図6は本発明の第3の実施形態による質量
分析装置のインタフェース機構の構成を示す斜視図、図
7は図6のインタフェース機構を分解して示す図であ
る。図6、図7における図の符号は図2の場合と同一で
ある。
分析装置のインタフェース機構の構成を示す斜視図、図
7は図6のインタフェース機構を分解して示す図であ
る。図6、図7における図の符号は図2の場合と同一で
ある。
【0050】図6、図7に示す本発明の第3の実施形態
による質量分析装置のインタフェース機構は、本発明を
APCIインタフェース機構に適用した例であり、前述
した本発明の第1の実施形態の場合と同様に、イオン化
電極3を円板状ではなく下端部が方形状に、かつ、本体
部筐体1の平面板16上に設けられる台部11の溝部1
4に係合する形状とし、また、気化器2、霧化器6も円
柱状ではなく下端部が方形状に、かつ、本体部筐体1の
平面板16上に設けられる台部11の溝部14に係合す
る形状としたものである。
による質量分析装置のインタフェース機構は、本発明を
APCIインタフェース機構に適用した例であり、前述
した本発明の第1の実施形態の場合と同様に、イオン化
電極3を円板状ではなく下端部が方形状に、かつ、本体
部筐体1の平面板16上に設けられる台部11の溝部1
4に係合する形状とし、また、気化器2、霧化器6も円
柱状ではなく下端部が方形状に、かつ、本体部筐体1の
平面板16上に設けられる台部11の溝部14に係合す
る形状としたものである。
【0051】すなわち、この本発明の第3の実施形態に
よる質量分析装置のインタフェース機構は、イオン化電
極3を構成する各細孔電極が、表示器15を有する本体
部筐体1の平面板16上に設けられる台部11の溝部1
4に係合するように下端部が方形状に、かつ、溝部14
に係合する形状とされて構成される。そして、イオン化
電極3を構成する各細孔電極は、図7に示すように、台
部11に設けた溝部14に案内されてスライド可能とさ
れると共に、各細孔電極が溝部14内に係合載置される
ことにより、中心の細孔の位置合わせが可能にされてい
る。
よる質量分析装置のインタフェース機構は、イオン化電
極3を構成する各細孔電極が、表示器15を有する本体
部筐体1の平面板16上に設けられる台部11の溝部1
4に係合するように下端部が方形状に、かつ、溝部14
に係合する形状とされて構成される。そして、イオン化
電極3を構成する各細孔電極は、図7に示すように、台
部11に設けた溝部14に案内されてスライド可能とさ
れると共に、各細孔電極が溝部14内に係合載置される
ことにより、中心の細孔の位置合わせが可能にされてい
る。
【0052】また、気化器2、霧化器6も、本体部筐体
1の平面板16上に設けられる台部11の溝部14に係
合するように下端部が方形状に、かつ、溝部14に係合
する形状とされて構成され、台部11に設けた溝部14
に案内されてスライド可能とされると共に、気化器2、
霧化器6が溝部14内に係合載置されることにより、中
心の孔の位置を相互に位置合わせすることが可能であ
り、かつ、イオン化電極3を構成する細孔電極の細孔と
の位置合わせも可能とされている。
1の平面板16上に設けられる台部11の溝部14に係
合するように下端部が方形状に、かつ、溝部14に係合
する形状とされて構成され、台部11に設けた溝部14
に案内されてスライド可能とされると共に、気化器2、
霧化器6が溝部14内に係合載置されることにより、中
心の孔の位置を相互に位置合わせすることが可能であ
り、かつ、イオン化電極3を構成する細孔電極の細孔と
の位置合わせも可能とされている。
【0053】そして、使用状態において、イオン化電極
3を構成する各細孔電極は、固定ネジ4によりイオン化
電極3の全体が真空引き抜きダクト5の面に固定され、
また、気化器2、霧化器6は、台部11の端部から溝部
14に係合するストッパレバー13を有するストッパ1
2によりイオン化電極3に押しつけられて固定される。
3を構成する各細孔電極は、固定ネジ4によりイオン化
電極3の全体が真空引き抜きダクト5の面に固定され、
また、気化器2、霧化器6は、台部11の端部から溝部
14に係合するストッパレバー13を有するストッパ1
2によりイオン化電極3に押しつけられて固定される。
【0054】なお、イオン化電極3を構成する各細孔電
極には、ケーブル8、コネクタ9を介して本体部筐体1
内部の電源から所定の電圧が印加され、気化器2、霧化
器6は、ケーブル8を介して本体部筐体1内部の電源か
らこれらを所定の温度に加熱するための電力が供給され
るが、これらは、前述した第1、第2の実施形態の場合
と同様であり、また、マイクロスイッチ19も同様に機
能している。また、台部11に設けられる溝部14は、
略台形に形成されており、各細孔電極、気化器2、霧化
器6が溝部14に係合している状態では上方に抜けない
ようにされている。
極には、ケーブル8、コネクタ9を介して本体部筐体1
内部の電源から所定の電圧が印加され、気化器2、霧化
器6は、ケーブル8を介して本体部筐体1内部の電源か
らこれらを所定の温度に加熱するための電力が供給され
るが、これらは、前述した第1、第2の実施形態の場合
と同様であり、また、マイクロスイッチ19も同様に機
能している。また、台部11に設けられる溝部14は、
略台形に形成されており、各細孔電極、気化器2、霧化
器6が溝部14に係合している状態では上方に抜けない
ようにされている。
【0055】前述した本発明の第3の実施形態によれ
ば、インタフェース機構を構成するイオン化電極3、気
化器2、霧化器6の清掃、交換等のための分解作業を、
固定ネジ4を外し、ストッパ12を外すことにより、イ
オン化電極3を構成する複数の細孔電極、気化器2、霧
化器6を個々に溝部14内をスライドさせることにより
容易に行うことができる。また、その後の組み立て作業
も、各部材を溝部14内をスライドさせていくことによ
り、位置合わせに気を使うことなく、確実に位置合わせ
して行うことができる。
ば、インタフェース機構を構成するイオン化電極3、気
化器2、霧化器6の清掃、交換等のための分解作業を、
固定ネジ4を外し、ストッパ12を外すことにより、イ
オン化電極3を構成する複数の細孔電極、気化器2、霧
化器6を個々に溝部14内をスライドさせることにより
容易に行うことができる。また、その後の組み立て作業
も、各部材を溝部14内をスライドさせていくことによ
り、位置合わせに気を使うことなく、確実に位置合わせ
して行うことができる。
【0056】図8は本発明の第4の実施形態による質量
分析装置のインタフェース機構の構成を示す斜視図、図
9は図8のインタフェース機構を分解して示す図であ
る。図8、図9における符号は、図4の場合と同一であ
る。
分析装置のインタフェース機構の構成を示す斜視図、図
9は図8のインタフェース機構を分解して示す図であ
る。図8、図9における符号は、図4の場合と同一であ
る。
【0057】図8、図9に示す本発明の第4の実施形態
による質量分析装置のインタフェース機構は、本発明を
APCIインタフェース機構に適用した他の例であり、
イオン化電極3を構成する各細孔電極を略四角柱状の台
座部22上支持棒23により取り付けた構造とし、か
つ、気化器2、霧化器6も、略四角柱状の台座部22上
支持棒23により取り付けた構造として、これらを本体
部筐体1の平面板16上に設けられる溝部21上に台座
部22を載置して構成される。
による質量分析装置のインタフェース機構は、本発明を
APCIインタフェース機構に適用した他の例であり、
イオン化電極3を構成する各細孔電極を略四角柱状の台
座部22上支持棒23により取り付けた構造とし、か
つ、気化器2、霧化器6も、略四角柱状の台座部22上
支持棒23により取り付けた構造として、これらを本体
部筐体1の平面板16上に設けられる溝部21上に台座
部22を載置して構成される。
【0058】すなわち、この本発明の第2の実施形態に
よる質量分析装置のインタフェース機構のイオン化電極
3は、各細孔電極が、略四角柱状の台座部22上支持棒
23により取り付けられて構成され、台座部22が本体
部筐体1の平面板16上に設けられる溝部21に載置さ
れる。また、気化器2、霧化器6も、略四角柱状の台座
部22上支持棒23により取り付けられて構成され、台
座部22が本体部筐体1の平面板16上に設けられる溝
部21に載置される。
よる質量分析装置のインタフェース機構のイオン化電極
3は、各細孔電極が、略四角柱状の台座部22上支持棒
23により取り付けられて構成され、台座部22が本体
部筐体1の平面板16上に設けられる溝部21に載置さ
れる。また、気化器2、霧化器6も、略四角柱状の台座
部22上支持棒23により取り付けられて構成され、台
座部22が本体部筐体1の平面板16上に設けられる溝
部21に載置される。
【0059】そして、イオン化電極3を構成する各細孔
電極、気化器2、霧化器6は、図9に示すように、本体
部筐体1の平面板16に設けた溝部21内をスライド可
能に、また、上方に取外し可能にされると共に、各細孔
電極、気化器2、霧化器6が溝部21内に載置されるこ
とにより、それぞれの部材の中心に設けられる細孔の位
置合わせが可能にされている。また、使用状態におい
て、イオン化電極3を構成する各細孔電極は、固定ネジ
4により真空引き抜きダクト5の面に固定される。さら
に、気化器2、霧化器6も、図示しない固定ネジにより
イオン化電極3に取り付けられればよい。また、気化器
2、霧化器6は、溝部21内に霧化器6の台座部22と
溝部21のエッジとの間に締め具等を設置して、イオン
化電極3の側に押し付けるように固定してもよい。
電極、気化器2、霧化器6は、図9に示すように、本体
部筐体1の平面板16に設けた溝部21内をスライド可
能に、また、上方に取外し可能にされると共に、各細孔
電極、気化器2、霧化器6が溝部21内に載置されるこ
とにより、それぞれの部材の中心に設けられる細孔の位
置合わせが可能にされている。また、使用状態におい
て、イオン化電極3を構成する各細孔電極は、固定ネジ
4により真空引き抜きダクト5の面に固定される。さら
に、気化器2、霧化器6も、図示しない固定ネジにより
イオン化電極3に取り付けられればよい。また、気化器
2、霧化器6は、溝部21内に霧化器6の台座部22と
溝部21のエッジとの間に締め具等を設置して、イオン
化電極3の側に押し付けるように固定してもよい。
【0060】なお、第3の実施形態の場合と同様に、イ
オン化電極3を構成する各細孔電極には、ケーブル8、
コネクタ9を介して本体部筐体1内部の電源から所定の
電圧が印加され、気化器2、霧化器6は、ケーブル8、
コネクタ9を介して本体部筐体1内部の電源からこれら
を所定の温度に加熱するための電力が供給される。ま
た、また、マイクロスイッチ19もたの実施形態の場合
と同様に機能している。また、図8、図9に示す例で
は、イオン化電極3を構成する各細孔電極の真空引き抜
きダクト5側に設けられる細孔電極が、真空引き抜きダ
クト5に直接取り付けられているが、この細孔電極も、
他の細孔電極と同様に支持棒により台座部に取り付ける
ようにして、取り外し可能としてもよい。
オン化電極3を構成する各細孔電極には、ケーブル8、
コネクタ9を介して本体部筐体1内部の電源から所定の
電圧が印加され、気化器2、霧化器6は、ケーブル8、
コネクタ9を介して本体部筐体1内部の電源からこれら
を所定の温度に加熱するための電力が供給される。ま
た、また、マイクロスイッチ19もたの実施形態の場合
と同様に機能している。また、図8、図9に示す例で
は、イオン化電極3を構成する各細孔電極の真空引き抜
きダクト5側に設けられる細孔電極が、真空引き抜きダ
クト5に直接取り付けられているが、この細孔電極も、
他の細孔電極と同様に支持棒により台座部に取り付ける
ようにして、取り外し可能としてもよい。
【0061】前述した本発明の第4の実施形態によって
も、第3の実施形態の場合と同様な効果を得ることがで
きる。
も、第3の実施形態の場合と同様な効果を得ることがで
きる。
【0062】図10は前述で説明したインタフェース機
構と本体部筐体1の内部機器とを接続するコネクタの構
成を説明する図である。図10において、91はロック
爪、92はコネクタピン、93はジャンパ線、94、9
5はヒータ、96はセンサである。
構と本体部筐体1の内部機器とを接続するコネクタの構
成を説明する図である。図10において、91はロック
爪、92はコネクタピン、93はジャンパ線、94、9
5はヒータ、96はセンサである。
【0063】前述したようにインタフェース機構8の分
解、組立て等の保守時には、インタフェース機構が本体
部筐体1から取り外されるが、このとき、インタフェー
ス機構内に備えられるヒータ、センサ、及び、これらに
接続されるケーブルは、コネクタ9を本体部筐体1に設
けられる受側から外される。すなわち、インタフェース
機構とケーブル8及びコネクタ9とは1対1に対応させ
られている。図10(a)に示すように、コネクタ9に
は、2本のヒータ94、95が撚り線を介して接続さ
れ、また、熱伝対、サーミスタ等による温度センサ96
が接続されている。なお、図10には示されていない
が、イオン化電極に対する高電圧印加用の配線が接続さ
れていてもよい。
解、組立て等の保守時には、インタフェース機構が本体
部筐体1から取り外されるが、このとき、インタフェー
ス機構内に備えられるヒータ、センサ、及び、これらに
接続されるケーブルは、コネクタ9を本体部筐体1に設
けられる受側から外される。すなわち、インタフェース
機構とケーブル8及びコネクタ9とは1対1に対応させ
られている。図10(a)に示すように、コネクタ9に
は、2本のヒータ94、95が撚り線を介して接続さ
れ、また、熱伝対、サーミスタ等による温度センサ96
が接続されている。なお、図10には示されていない
が、イオン化電極に対する高電圧印加用の配線が接続さ
れていてもよい。
【0064】コネクタ9は、図10(b)に示すよう
に、複数、図示例では15本のコネクタピン92を、3
×5のマトリクス状配置して備えており、2本のヒータ
94、95及び温度センサ96、図示しない高電圧配線
のそれぞれに1対のコネクタピン92が割り当てられ
る。そして、残りのコネクタピン92の1対がジャンパ
せんにより短絡されている。また、コネクタ9は、図1
0(c)に示すコネクタ9の側面図から判るように、ロ
ック爪91が設けられ、本体部筐体1に設けられている
受側に接続されたとき外れないように構成されている。
に、複数、図示例では15本のコネクタピン92を、3
×5のマトリクス状配置して備えており、2本のヒータ
94、95及び温度センサ96、図示しない高電圧配線
のそれぞれに1対のコネクタピン92が割り当てられ
る。そして、残りのコネクタピン92の1対がジャンパ
せんにより短絡されている。また、コネクタ9は、図1
0(c)に示すコネクタ9の側面図から判るように、ロ
ック爪91が設けられ、本体部筐体1に設けられている
受側に接続されたとき外れないように構成されている。
【0065】さて、前述したように、質量分析装置のイ
ンタフェース機構には、種々の方式のものがあり、それ
らのインタフェース機構は、同一の本体部筐体1に付け
変えて、本体部筐体1の内部に構成される質量分析装置
の主要な構成部分を共通に使用することができる。そし
て、インタフェース機構に接続されるケーブル8及びコ
ネクタ9は、前述したようにインタフェース機構と対応
付けられているが、コネクタ9の形状は各種の方式イン
タフェース機構と共通化されており、ヒータ94、9
5、温度センサ等が接続されるコネクタピンの位置も同
一とされている。
ンタフェース機構には、種々の方式のものがあり、それ
らのインタフェース機構は、同一の本体部筐体1に付け
変えて、本体部筐体1の内部に構成される質量分析装置
の主要な構成部分を共通に使用することができる。そし
て、インタフェース機構に接続されるケーブル8及びコ
ネクタ9は、前述したようにインタフェース機構と対応
付けられているが、コネクタ9の形状は各種の方式イン
タフェース機構と共通化されており、ヒータ94、9
5、温度センサ等が接続されるコネクタピンの位置も同
一とされている。
【0066】一方、ジャンパ線93により短絡されるコ
ネクタピン92の位置は、インタフェース機構の方式毎
に異なる位置とされている。これにより、本体部筐体1
の内部に構成される質量分析装置の主要な構成部分は、
取り付けられているインタフェース機構の方式を知るこ
とができ、それに対応したヒータへの電力の供給、内部
機器の制御、パソコン32のディスプレイ33への表示
制御を行うことができる。
ネクタピン92の位置は、インタフェース機構の方式毎
に異なる位置とされている。これにより、本体部筐体1
の内部に構成される質量分析装置の主要な構成部分は、
取り付けられているインタフェース機構の方式を知るこ
とができ、それに対応したヒータへの電力の供給、内部
機器の制御、パソコン32のディスプレイ33への表示
制御を行うことができる。
【0067】図11〜図13はインタフェース機構が取
り付けられたとき、前述したジャンパ線の作用によりイ
ンタフェース機構の種別を判定し、ディスプレイ33に
そのインタフェース機構の動作状態が表示された例を示
す図である。
り付けられたとき、前述したジャンパ線の作用によりイ
ンタフェース機構の種別を判定し、ディスプレイ33に
そのインタフェース機構の動作状態が表示された例を示
す図である。
【0068】いま、本体部筐体1にインタフェース機構
として、ESIインタフェース機構が取り付けられたも
のとする。すると、前述したジャンパ線92が短絡して
いるコネクタピン92の位置により、取り付けられたイ
ンタフェース機構がESIインタフェース機構であるこ
とが識別され、図11に示すように、ESIインタフェ
ース機構を持つ質量分析装置の概略構成が表示されると
共に、各部の電圧値が表示され、また、各部の温度が表
示される。温度の表示は、1つの部材に対して、設定温
度と、実際に動作している状態での部材の測定温度とが
表示される。
として、ESIインタフェース機構が取り付けられたも
のとする。すると、前述したジャンパ線92が短絡して
いるコネクタピン92の位置により、取り付けられたイ
ンタフェース機構がESIインタフェース機構であるこ
とが識別され、図11に示すように、ESIインタフェ
ース機構を持つ質量分析装置の概略構成が表示されると
共に、各部の電圧値が表示され、また、各部の温度が表
示される。温度の表示は、1つの部材に対して、設定温
度と、実際に動作している状態での部材の測定温度とが
表示される。
【0069】取り付けられたインタフェース機構が、A
PCIインタフェース機構であれば、図11の場合と同
様に、図12に示すような表示が行われる。また、実施
形態として説明していないが、SSIインタフェース機
構が取り付けられた場合には、図13に示すような表示
が行われる。
PCIインタフェース機構であれば、図11の場合と同
様に、図12に示すような表示が行われる。また、実施
形態として説明していないが、SSIインタフェース機
構が取り付けられた場合には、図13に示すような表示
が行われる。
【0070】前述において、1つの部材に対して表示さ
れる設定温度と測定温度とが一致した場合、例えば、何
れか一方の表示を点滅させる、色彩を変える、白黒を反
転させる、あるいは、色彩を変え白黒を反転させて点滅
させる等により識別し易い表示とすることができ、これ
により、装置の使用の開始等を促すことができる。ま
た、設定温度と測定温度とが掛け離れている場合に、例
えば、両方の表示を同時に前述したような表示に変化さ
せて、装置が使用可能な状態になっていないことを示す
こともできる。
れる設定温度と測定温度とが一致した場合、例えば、何
れか一方の表示を点滅させる、色彩を変える、白黒を反
転させる、あるいは、色彩を変え白黒を反転させて点滅
させる等により識別し易い表示とすることができ、これ
により、装置の使用の開始等を促すことができる。ま
た、設定温度と測定温度とが掛け離れている場合に、例
えば、両方の表示を同時に前述したような表示に変化さ
せて、装置が使用可能な状態になっていないことを示す
こともできる。
【0071】図14は本発明による質量分析装置におけ
る真空ポンプの使用例を説明する図、図15は2つの真
空ポンプの本体部筐体1の内部での配置を説明する図で
ある。図14、図15において、24、25は真空室、
26はターボ分子真空ポンプ、27はスクロール真空ポ
ンプ、28は操作部、29はインジケータである。
る真空ポンプの使用例を説明する図、図15は2つの真
空ポンプの本体部筐体1の内部での配置を説明する図で
ある。図14、図15において、24、25は真空室、
26はターボ分子真空ポンプ、27はスクロール真空ポ
ンプ、28は操作部、29はインジケータである。
【0072】図14は、本体部筐体1内に収納される質
量分析部を配置する真空室25とイオン化電極3内に形
成される真空室24とを簡略に描いたものである。そし
て、本発明において、図14に示すように、質量分析部
を構成する真空室25は、ターボ分子真空ポンプ26に
よりその内部が真空に引かれており、また、イオン化電
極3内に形成される真空室24は、スクロール真空ポン
プ27によりその内部が真空に引かれている。さらに、
スクロール真空ポンプ27は、ターボ分子真空ポンプ2
6の排圧の排気を行うことが可能にターボ分子真空ポン
プ26の排気側にも連結されている。
量分析部を配置する真空室25とイオン化電極3内に形
成される真空室24とを簡略に描いたものである。そし
て、本発明において、図14に示すように、質量分析部
を構成する真空室25は、ターボ分子真空ポンプ26に
よりその内部が真空に引かれており、また、イオン化電
極3内に形成される真空室24は、スクロール真空ポン
プ27によりその内部が真空に引かれている。さらに、
スクロール真空ポンプ27は、ターボ分子真空ポンプ2
6の排圧の排気を行うことが可能にターボ分子真空ポン
プ26の排気側にも連結されている。
【0073】一般に、ターボ分子真空ポンプの排圧の排
気のために、もう1つの真空ポンプが必要であり、質量
分析装置は、従来、3つの真空ポンプを必要としていた
が、本発明では、前述したように、イオン化電極3内に
形成される真空室24に対して設けられるスクロール真
空ポンプ27をターボ分子真空ポンプの排圧の排気のた
めにも使用するように構成したことにより、質量分析装
置に必要な真空ポンプを2台とすることができ、装置全
体の部品点数の減少によるコストの低減、装置の小型
化、軽量化を図ることができる。
気のために、もう1つの真空ポンプが必要であり、質量
分析装置は、従来、3つの真空ポンプを必要としていた
が、本発明では、前述したように、イオン化電極3内に
形成される真空室24に対して設けられるスクロール真
空ポンプ27をターボ分子真空ポンプの排圧の排気のた
めにも使用するように構成したことにより、質量分析装
置に必要な真空ポンプを2台とすることができ、装置全
体の部品点数の減少によるコストの低減、装置の小型
化、軽量化を図ることができる。
【0074】前述した2台の真空ポンプ26、27は、
図15に示すように、本体部筐体1の内部に収納されて
いる。すなわち、ターボ分子真空ポンプ26は、本体部
筐体1の正面の手前側に、かつ、図示の例では右側の筐
体底面に配置される。そして、作動油量のインジケータ
29の本体部筐体1の前面位置に、図1により説明した
透明窓18が設けられ、また、ターボ分子真空ポンプ2
6の図示しない給油口が、本体部筐体1の側面に設けた
扉10の位置となるようにされている。このターボ分子
真空ポンプ26は、取り外し可能に、本体部筐体1に取
り付けられている。また、スクロールポンプ27は、本
体部筐体1の正面の手前側のほぼ中央に、イオン化電極
3内に形成される真空室に直接結合するように、本体部
筐体1の天井部に取り付けられている。
図15に示すように、本体部筐体1の内部に収納されて
いる。すなわち、ターボ分子真空ポンプ26は、本体部
筐体1の正面の手前側に、かつ、図示の例では右側の筐
体底面に配置される。そして、作動油量のインジケータ
29の本体部筐体1の前面位置に、図1により説明した
透明窓18が設けられ、また、ターボ分子真空ポンプ2
6の図示しない給油口が、本体部筐体1の側面に設けた
扉10の位置となるようにされている。このターボ分子
真空ポンプ26は、取り外し可能に、本体部筐体1に取
り付けられている。また、スクロールポンプ27は、本
体部筐体1の正面の手前側のほぼ中央に、イオン化電極
3内に形成される真空室に直接結合するように、本体部
筐体1の天井部に取り付けられている。
【0075】なお、前述では、2台の真空ポンプをター
ボ分子真空ポンプ、スクロール真空ポンプであるとして
説明したが、真空ポンプとしてどのような形式の真空ポ
ンプを使用してもよい。また、図15に示す操作部28
は、電源スイッチ等が配置されたものであり、図1によ
り説明したように、本体部筐体1の前面側に設けられた
扉10’を開けることにより操作が可能とされている。
ボ分子真空ポンプ、スクロール真空ポンプであるとして
説明したが、真空ポンプとしてどのような形式の真空ポ
ンプを使用してもよい。また、図15に示す操作部28
は、電源スイッチ等が配置されたものであり、図1によ
り説明したように、本体部筐体1の前面側に設けられた
扉10’を開けることにより操作が可能とされている。
【0076】前述したように、本発明では、2台の真空
ポンプを本体部筐体1の内部に収納しているので、装置
から発生する騒音を低減することができる。また、大型
となるターボ分子真空ポンプ26を取り外し可能に構成
しているので、装置を納品する際に、ターボ分子真空ポ
ンプ26を取り外すだけで、容易に搬送することがで
き、また、現地での組み立ても容易に行うことが可能と
なる。
ポンプを本体部筐体1の内部に収納しているので、装置
から発生する騒音を低減することができる。また、大型
となるターボ分子真空ポンプ26を取り外し可能に構成
しているので、装置を納品する際に、ターボ分子真空ポ
ンプ26を取り外すだけで、容易に搬送することがで
き、また、現地での組み立ても容易に行うことが可能と
なる。
【0077】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、質
量分析装置のインタフェース機構を構成するイオン化電
極、気化器、霧化器等の部材の清掃、交換等のための分
解作業を、容易に行うことができ、また、その後の組み
立て作業も、位置合わせに気を使うことなく、確実に位
置合わせして行うことができる。
量分析装置のインタフェース機構を構成するイオン化電
極、気化器、霧化器等の部材の清掃、交換等のための分
解作業を、容易に行うことができ、また、その後の組み
立て作業も、位置合わせに気を使うことなく、確実に位
置合わせして行うことができる。
【0078】また、本発明によれば、インタフェース機
構に対する加熱電源供給用等のケーブルと筐体内部を接
続するコネクタのコネクタピンを短絡するジャンパ線を
設け、インタフェース機構の種類に応じて、ジャンパ線
により短絡されるコネクタピンの位置を異ならせている
ので、これにより、取り付けられているインタフェース
機構の方式を知ることができ、それに対応したヒータへ
の電力の供給、内部機器の制御、パソコン32のディス
プレイ33への表示制御を行うことができる。
構に対する加熱電源供給用等のケーブルと筐体内部を接
続するコネクタのコネクタピンを短絡するジャンパ線を
設け、インタフェース機構の種類に応じて、ジャンパ線
により短絡されるコネクタピンの位置を異ならせている
ので、これにより、取り付けられているインタフェース
機構の方式を知ることができ、それに対応したヒータへ
の電力の供給、内部機器の制御、パソコン32のディス
プレイ33への表示制御を行うことができる。
【0079】また、本発明によれば、イオン化電極内に
形成される真空室に対して設けられるスクロール真空ポ
ンプを質量分析部が配置される真空室に対して設けられ
ているターボ分子真空ポンプの排圧の排気のためにも使
用するように構成したことにより、質量分析装置に必要
な真空ポンプを2台とすることができ、装置全体の部品
点数の減少によるコストの低減、装置の小型化、軽量化
を図ることができる。
形成される真空室に対して設けられるスクロール真空ポ
ンプを質量分析部が配置される真空室に対して設けられ
ているターボ分子真空ポンプの排圧の排気のためにも使
用するように構成したことにより、質量分析装置に必要
な真空ポンプを2台とすることができ、装置全体の部品
点数の減少によるコストの低減、装置の小型化、軽量化
を図ることができる。
【0080】さらに、本発明によれば、2台の真空ポン
プを本体部筐体の内部に収納しているので、装置から発
生する騒音を低減することができ、また、大型となるタ
ーボ分子真空ポンプを取り外し可能に構成しているの
で、装置を納品する際に、ターボ分子真空ポンプを取り
外すだけで、容易に搬送することができ、また、現地で
の組み立ても容易に行うことが可能となる。
プを本体部筐体の内部に収納しているので、装置から発
生する騒音を低減することができ、また、大型となるタ
ーボ分子真空ポンプを取り外し可能に構成しているの
で、装置を納品する際に、ターボ分子真空ポンプを取り
外すだけで、容易に搬送することができ、また、現地で
の組み立ても容易に行うことが可能となる。
【図1】本発明による質量分析装置の全体の構成を示す
斜視図である。
斜視図である。
【図2】本発明の第1の実施形態による質量分析装置の
インタフェース機構の構成を示す斜視図である。
インタフェース機構の構成を示す斜視図である。
【図3】図2のインタフェース機構を分解して示す図で
ある。
ある。
【図4】本発明の第2の実施形態による質量分析装置の
インタフェース機構の構成を示す斜視図である。
インタフェース機構の構成を示す斜視図である。
【図5】図4のインタフェース機構を分解して示す図で
ある。
ある。
【図6】本発明の第3の実施形態による質量分析装置の
インタフェース機構の構成を示す斜視図である。
インタフェース機構の構成を示す斜視図である。
【図7】図6のインタフェース機構を分解して示す図で
ある。
ある。
【図8】本発明の第4の実施形態による質量分析装置の
インタフェース機構の構成を示す斜視図である。
インタフェース機構の構成を示す斜視図である。
【図9】図8のインタフェース機構を分解して示す図で
ある。
ある。
【図10】インタフェース機構と本体部筐体の内部機器
とを接続するコネクタの構成を説明する図である。
とを接続するコネクタの構成を説明する図である。
【図11】インタフェース機構が取り付けられたとき、
ディスプレイにそのインタフェース機構の動作状態が表
示された例を示す図である。
ディスプレイにそのインタフェース機構の動作状態が表
示された例を示す図である。
【図12】インタフェース機構が取り付けられたとき、
ディスプレイにそのインタフェース機構の動作状態が表
示された例を示す図である。
ディスプレイにそのインタフェース機構の動作状態が表
示された例を示す図である。
【図13】インタフェース機構が取り付けられたとき、
ディスプレイにそのインタフェース機構の動作状態が表
示された例を示す図である。
ディスプレイにそのインタフェース機構の動作状態が表
示された例を示す図である。
【図14】本発明による質量分析装置における真空ポン
プの使用例を説明する図である。
プの使用例を説明する図である。
【図15】2つの真空ポンプの本体部筐体の内部での配
置を説明する図である。
置を説明する図である。
【図16】従来技術による質量分析装置のESIインタ
フェース機構の構成を示す斜視図である。
フェース機構の構成を示す斜視図である。
1 本体部筐体 2 気化器 3 イオン化電極 4、4’ 固定ネジ 5 真空引き抜きダクト 6 霧化器 7 チューブ 8 ケーブル 9 コネクタ 10、10’ 扉 11 台部 12 ストッパ 13ストッパ・レバー 14 溝部 15 表示器 16 平面板 17 天板 17’ 天板の窪み部 18 透明窓 19 マイクロスイッチ 20 前蓋 20’ カバー 21 溝部 22 台座部 23 支持棒 24、25 真空室 26 ターボ分子真空ポンプ 27 スクロール真空ポンプ 28 操作部 29 インジケータ 31 液体クロマトグラフ 32 パソコン(PC) 33 ディスプレイ 34 キーボード 35 マウス 36 机 91 ロック爪 92 コネクタピン 93 ジャンパ線 94、95 ヒータ 96 センサ
Claims (24)
- 【請求項1】 分析すべき試料を気化させる気化器、及
び、中心部に細孔を有するイオン化電極とにより構成さ
れるインタフェース機構と、前記インタフェース機構か
らのイオン化された試料粒子の質量分析を行う質量分析
部とにより構成される質量分析装置において、前記イオ
ン化電極は、下端部が方形状に、かつ、本体部筐体の平
面板上に設けられる台部の溝部に係合する形状を持つ複
数の細孔電極により構成されることを特徴とする質量分
析装置。 - 【請求項2】 前記複数の細孔電極は、前記溝部内にス
ライド可能に係合されていることを特徴とする請求項1
記載の質量分析装置。 - 【請求項3】 前記複数の細孔電極は、使用時、固定ネ
ジにより、あるいは、前記台部の溝部に係合するストッ
パにより複数の細孔電極が結合されてイオン化電極を形
成することを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。 - 【請求項4】 前記複数の細孔電極は、前記溝部内に係
合された状態で相互に位置合わせが行われていることを
特徴とする請求項1、2または3記載の質量分析装置。 - 【請求項5】 分析すべき試料を気化させる気化器、及
び、中心部に細孔を有するイオン化電極とにより構成さ
れるインタフェース機構と、前記インタフェース機構か
らのイオン化された試料粒子の質量分析を行う質量分析
部とにより構成される質量分析装置において、前記イオ
ン化電極は、略四角柱状の台座部上に支持棒により取り
付けた複数の細孔電極により構成され、本体部筐体の平
面板上に設けられる溝部上に前記台座部が載置されるこ
とを特徴とする質量分析装置。 - 【請求項6】 前記複数の細孔電極を支持している台座
部は、前記溝部内にスライド可能に載置されていること
を特徴とする請求項5記載の質量分析装置。 - 【請求項7】 前記複数の細孔電極は、使用時、固定ネ
ジにより複数の細孔電極が結合されてイオン化電極を形
成することを特徴とする請求項5記載の質量分析装置。 - 【請求項8】 前記複数の細孔電極は、前記台座部が前
記溝部内に載置された状態で相互に位置合わせが行われ
ていることを特徴とする請求項5、6または7記載の質
量分析装置。 - 【請求項9】 分析すべき試料を霧化させる霧化器、霧
化された試料を気化させる気化器、及び、中心部に細孔
を有するイオン化電極とにより構成されるインタフェー
ス機構と、前記インタフェース機構からのイオン化され
た試料粒子の質量分析を行う質量分析部とにより構成さ
れる質量分析装置において、前記イオン化電極は複数の
細孔電極により構成され、前記複数の細孔電極、霧化
器、気化器は、下端部が方形状に、かつ、本体部筐体の
平面板上に設けられる台部の溝部に係合する形状を持つ
ことを特徴とする質量分析装置。 - 【請求項10】 前記複数の細孔電極、霧化器、気化器
は、前記溝部内にスライド可能に係合されていることを
特徴とする請求項7記載の質量分析装置。 - 【請求項11】 前記複数の細孔電極、霧化器、気化器
は、使用時、固定ネジにより、あるいは、前記台部の溝
部に係合するストッパにより結合されることを特徴とす
る請求項7記載の質量分析装置。 - 【請求項12】 前記複数の細孔電極、霧化器、気化器
は、前記溝部内に係合された状態で相互に位置合わせが
行われていることを特徴とする請求項9、10または1
1記載の質量分析装置。 - 【請求項13】 分析すべき試料を霧化させる霧化器、
霧化された試料を気化させる気化器、及び、中心部に細
孔を有するイオン化電極とにより構成されるインタフェ
ース機構と、前記インタフェース機構からのイオン化さ
れた試料粒子の質量分析を行う質量分析部とにより構成
される質量分析装置において、前記イオン化電極は、複
数の細孔電極により構成され、前記複数の細孔電極、霧
化器、気化器は、略四角柱状の台座部上に支持棒により
取り付けられ、本体部筐体の平面板上に設けられる溝部
上に前記台座部が載置されることを特徴とする質量分析
装置。 - 【請求項14】 前記複数の細孔電極、霧化器、気化器
を支持している台座部は、前記溝部内にスライド可能に
載置されていることを特徴とする請求項10記載の質量
分析装置。 - 【請求項15】 前記複数の細孔電極、霧化器、気化器
は、使用時、固定ネジにより結合されることを特徴とす
る請求項11記載の質量分析装置。 - 【請求項16】 前記複数の細孔電極、霧化器、気化器
は、前記台座部が前記溝部内に載置された状態で相互に
位置合わせが行われていることを特徴とする請求項1
3、14または15記載の質量分析装置。 - 【請求項17】 分析すべき試料を気化させる気化器、
及び、中心部に細孔を有するイオン化電極とにより構成
されるインタフェース機構と、前記インタフェース機構
からのイオン化された試料粒子の質量分析を行う質量分
析部とにより構成される質量分析装置において、前記イ
ンタフェース機構は、本体部筐体に結合されて配置さ
れ、本体部筐体に係合する前蓋により覆われ、前蓋が取
り外されたとき、前記インタフェース機構の上部と側
部、前部と上部、前部と側部、または、上部と前部と側
部が解放状態とされること特徴とする質量分析装置。 - 【請求項18】 前記前蓋が取り外されたことを検出す
るマイクロスイッチが本体部筐体に備え、前記前蓋が取
り付けられているときのみ、装置の動作を可能とするこ
とを特徴とする請求項17記載の質量分析装置。 - 【請求項19】 分析すべき試料を気化させる気化器、
及び、中心部に細孔を有するイオン化電極とにより構成
されるインタフェース機構と、前記インタフェース機構
からのイオン化された試料粒子の質量分析を行う質量分
析部とにより構成される質量分析装置において、前記イ
ンタフェース機構は、本体部筐体に結合され、インタフ
ェース機構に対する電圧の印加、加熱のための電源を供
給するケーブルがコネクタを介して本体部筐体内部に引
き込まれ、前記コネクタは、そのコネクタピンの2本が
ジャンパ線により短絡されており、短絡されるコネクタ
ピンの位置により、制御装置にインタフェース機構の種
別を判別させることを特徴とする質量分析装置。 - 【請求項20】 前記制御装置は、パソコンにより構成
され、判別したインタフェース機構の種別と、機器構成
の概略とをディスプレイ上に表示することを特徴とする
請求項19記載の質量分析装置。 - 【請求項21】 前記ディスプレイ上に表示されるイン
タフェース機構の機器構成の各部には、印加されている
電圧と、計測された温度及び設定温度の少なくとも計測
された温度とが対応して表示されることを特徴とする請
求項20記載の質量分析装置。 - 【請求項22】 分析すべき試料を気化させる気化器、
及び、中心部に細孔を有するイオン化電極とにより構成
されるインタフェース機構と、前記インタフェース機構
からのイオン化された試料粒子の質量分析を行う質量分
析部とにより構成される質量分析装置において、質量分
析部が収納される真空室を真空に引く第1の真空ポンプ
と、該第1の真空ポンプからの排気及び前記イオン化電
極により構成される真空室からの排気を行う第2の真空
ポンプとを備えることを特徴とする請求項21記載の質
量分析装置。 - 【請求項23】 前記第1の真空ポンプは、本体部筐体
の内部に、その正面の手前側で、かつ、側面側に配置さ
れることを特徴とする請求項22記載の質量分析装置。 - 【請求項24】 前記第1の真空ポンプは、取り外し可
能に本体部筐体の内部に配置されることを特徴とする請
求項22または23記載の質量分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15525797A JP3494553B2 (ja) | 1996-08-30 | 1997-06-12 | 質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8-229816 | 1996-08-30 | ||
JP22981696 | 1996-08-30 | ||
JP15525797A JP3494553B2 (ja) | 1996-08-30 | 1997-06-12 | 質量分析装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001282047A Division JP4267223B2 (ja) | 1996-08-30 | 2001-09-17 | 質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10125277A true JPH10125277A (ja) | 1998-05-15 |
JP3494553B2 JP3494553B2 (ja) | 2004-02-09 |
Family
ID=26483302
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15525797A Expired - Fee Related JP3494553B2 (ja) | 1996-08-30 | 1997-06-12 | 質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3494553B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008533443A (ja) * | 2005-02-09 | 2008-08-21 | ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド | 排出チューブをオリフィスに対して位置調整するための装置および方法 |
JP2008544286A (ja) * | 2005-06-24 | 2008-12-04 | ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド | 質量分析計インタフェースハウジング |
JP2014224713A (ja) * | 2013-05-15 | 2014-12-04 | 日本プライスマネジメント株式会社 | 補助装置及び液体クロマトグラフィシステム |
JP2015050086A (ja) * | 2013-09-03 | 2015-03-16 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
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JPS55118472U (ja) * | 1979-02-16 | 1980-08-21 | ||
JPS63134448U (ja) * | 1987-02-25 | 1988-09-02 | ||
JPH01134847A (ja) * | 1987-11-20 | 1989-05-26 | Yokogawa Electric Corp | 高周波誘導結合プラズマ質量分析計 |
JPH042033A (ja) * | 1990-04-18 | 1992-01-07 | Hitachi Ltd | 試料のイオン化および質量分析のための装置 |
-
1997
- 1997-06-12 JP JP15525797A patent/JP3494553B2/ja not_active Expired - Fee Related
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