JPH10124341A - 故障診断方法 - Google Patents

故障診断方法

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JPH10124341A
JPH10124341A JP8276122A JP27612296A JPH10124341A JP H10124341 A JPH10124341 A JP H10124341A JP 8276122 A JP8276122 A JP 8276122A JP 27612296 A JP27612296 A JP 27612296A JP H10124341 A JPH10124341 A JP H10124341A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
control
normal
devices
dram
failure diagnosis
Prior art date
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Pending
Application number
JP8276122A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoshi Okochi
聡 大河内
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Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Xerox Co Ltd filed Critical Fuji Xerox Co Ltd
Priority to JP8276122A priority Critical patent/JPH10124341A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 メモリデバイス等を制御する制御デバイスの
故障も考慮した故障診断を行う。 【解決手段】 ROMにエラーが無くDRAMにエラー
が有った場合、DRAMの動作にのみ関係する、U5
(DRAM)とU5のみを制御するU3(マルチプレク
サ)とをチェックせよと通知する(158)。また、R
OMにエラーが有りDRAMにエラーが無かった場合
は、ROMの動作にのみ関係する、U4(ROM)とU
4のみを制御するU1(アドレスバッファ)とをチェッ
クせよと通知する(162)。このようにROM及びD
RAMについての診断結果から、直接診断可能でない上
記U1(アドレスバッファ)やU3(マルチプレクサ)
も対象とした診断を行うので、故障している可能性があ
る全てのデバイスを判別することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、故障診断方法に係
り、より詳しくは、上位側の電子デバイスで下位側の電
子デバイスに対する制御を行う制御対応関係が設定され
た機器における故障診断方法に関する。
【0002】なお、メモリデバイスとは、ROM、DR
AM(ダイナミックRAM)、EEPROM(Electric
ally Erasable PROM)等を意味し、電子デバイスと
は、上記のようなメモリデバイス、メモリデバイスの動
作制御に係るコントローラ、データ入出力用デバイス
(ディスプレイ、キーボード、マウス等)、データ入出
力用デバイスの動作制御に係るコントローラ等を意味す
る。
【0003】
【従来の技術】従来よりパーソナルコンピュータ等の情
報処理装置には、ROM、DRAM、EEPROM等の
メモリデバイスが内蔵されており、これらのメモリデバ
イスが故障していないかをチェックする故障診断機能が
設けられていた。
【0004】従来のメモリデバイスを対象とした故障診
断においては、メモリデバイスに記憶されたデータの合
計値と本来の合計値とが一致しているか否かをチェック
するチェックサムによるデータ検査や、テストデータの
読み書きによるデバイス検査等を実行し、その結果をデ
ィスプレイに表示してオペレータに通知していた。
【0005】ところで、各メモリデバイスは単独で動作
するわけではなく、各メモリデバイスへのデータ入出力
動作を制御する制御デバイスが上記情報処理装置に内蔵
されており、制御デバイスとメモリデバイスの両方が正
常動作することにより、メモリデバイスへのデータ書き
込み又はメモリデバイスからのデータ読み出しが正常に
行われる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
故障診断では、上記制御デバイス自体が正常であるか否
かを直接診断することができないこともあり、制御デバ
イスを診断対象から除外していた。即ち、DRAMへの
データ書き込みにエラーが発生した場合、DRAMに関
する制御デバイスを無視してDRAMに異常があるとし
か診断結果を表示しなかった。
【0007】このため、DRAMは正常であるにもかか
わらず、DRAMに関する制御デバイスに異常が生じた
ために、DRAMに異常があると誤った故障診断結果を
表示してしまうおそれがあった。
【0008】本発明は上記問題点を解消するために成さ
れたものであり、メモリデバイス等を制御する制御デバ
イスの故障も考慮した故障診断方法を提供することを目
的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の故障診断方法は、上位側の電子デバ
イスで下位側の電子デバイスに対する制御を行う制御対
応関係が設定された機器における故障診断方法であっ
て、上位側の電子デバイスと下位側の電子デバイスとの
制御対応関係を予め記憶しておき、下位側の電子デバイ
スについて動作が正常か否かを診断し、当該診断結果と
前記制御対応関係とに基づいて、故障している可能性が
ある全ての電子デバイスを選別する、ことを特徴とす
る。
【0010】また、請求項2記載の故障診断方法は、複
数のメモリデバイスと、メモリデバイスに対するデータ
の入出力を制御する制御デバイスと、を含んで構成され
た情報処理装置における故障診断方法であって、一のメ
モリデバイスと前記一のメモリデバイスに対するデータ
の入出力を制御する制御デバイスとの制御対応関係を各
メモリデバイス毎に記憶しておき、各メモリデバイスに
対するデータの入出力が正常であるか否かを診断し、各
メモリデバイスについての診断結果と、各メモリデバイ
スについての前記制御対応関係と、に基づいて、故障し
ている可能性がある全ての制御デバイス及びメモリデバ
イスを選別する、ことを特徴とする。
【0011】また、請求項3記載の故障診断方法では、
請求項2記載の故障診断方法において、複数の制御デバ
イスにより制御されるメモリデバイスに対するデータの
入出力が正常である場合、前記複数の制御デバイスは正
常であると判断し、前記メモリデバイスに対するデータ
の入出力が正常でない場合、前記複数の制御デバイスは
故障している可能性があると判断する、ことを特徴とす
る。
【0012】また、請求項4記載の故障診断方法では、
請求項2記載の故障診断方法において、複数のメモリデ
バイスを制御する制御デバイスについては、前記複数の
メモリデバイスのうち少なくとも1つに対するデータの
入出力が正常である場合、該制御デバイスは正常である
と判断し、前記複数のメモリデバイスの全てに対するデ
ータの入出力が正常でない場合、該制御デバイスは故障
している可能性があると判断する、ことを特徴とする。
【0013】また、請求項5記載の故障診断方法は、請
求項1乃至請求項4の何れか一項に記載の故障診断方法
において、選別された全てのデバイスをオペレータに報
知することを特徴とする。
【0014】上記請求項1記載の故障診断方法では、上
位側の電子デバイスで下位側の電子デバイスに対する制
御を行う制御対応関係が設定された機器において、上位
側の電子デバイスと下位側の電子デバイスとの制御対応
関係を予め記憶しておく。そして、下位側の電子デバイ
スについて動作が正常か否かを診断する。さらに、当該
診断結果と予め記憶した制御対応関係とに基づいて、故
障している可能性がある全ての電子デバイスを選別す
る。
【0015】具体的には、一の下位側の電子デバイスが
異常であった場合、該下位側の電子デバイスのみなら
ず、該下位側の電子デバイスに対する制御を行う上位側
の電子デバイスも故障している可能性があると判断す
る。
【0016】一方、一の下位側の電子デバイスが正常で
あった場合、該下位側の電子デバイスのみならず、該下
位側の電子デバイスに対する制御を行う上位側の電子デ
バイスも正常であると判断する。このようにして診断可
能な下位側の電子デバイスについての診断結果から、故
障している可能性がある全ての電子デバイスを選別す
る。
【0017】以上の請求項1記載の故障診断方法では、
下位側の電子デバイスについての診断結果から、該下位
側の電子デバイスのみならず、直接診断可能でない上位
側の電子デバイスも対象として正常か否かの判断を行う
ので、故障している可能性がある全ての電子デバイスを
判別することができ、信頼性の高い故障診断結果を得る
ことができる。
【0018】一般の情報処理装置では、ROMやDRA
M等のメモリデバイスを対象とした故障診断が行われる
ことが多い。メモリデバイスを対象とした故障診断に
は、上記請求項2記載の故障診断方法を適用することが
できる。
【0019】即ち、請求項2記載の故障診断方法では、
予め一のメモリデバイスと前記一のメモリデバイスに対
するデータの入出力を制御する制御デバイスとの制御対
応関係を各メモリデバイス毎に記憶しておく。そして、
各メモリデバイスに対するデータの入出力が正常である
か否かを診断する。さらに、各メモリデバイスについて
の診断結果と、各メモリデバイスについての前記制御対
応関係と、に基づいて、故障している可能性がある全て
の制御デバイス及びメモリデバイスを選別する。
【0020】即ち、一のメモリデバイスが異常であった
場合、該メモリデバイスのみならず、該メモリデバイス
を制御する制御デバイスも故障している可能性があると
判断し、一方、一のメモリデバイスが正常であった場
合、該メモリデバイスのみならず、該メモリデバイスを
制御する制御デバイスも正常であると判断する。
【0021】また、複数の制御デバイスにより一のメモ
リデバイスが制御される状況では、請求項3記載の発明
のように、複数の制御デバイスにより制御されるメモリ
デバイスに対するデータの入出力が正常である場合、複
数の制御デバイスは正常であると判断し、前記メモリデ
バイスに対するデータの入出力が正常でない場合、複数
の制御デバイスは故障している可能性があると判断す
る。
【0022】また、複数のメモリデバイスを一の制御デ
バイスで制御する状況では、請求項4記載の発明のよう
に、複数のメモリデバイスのうち少なくとも1つに対す
るデータの入出力が正常である場合、制御デバイスは正
常であると判断し、複数のメモリデバイスの全てに対す
るデータの入出力が正常でない場合、制御デバイスは故
障している可能性があると判断する。
【0023】このように請求項2記載の故障診断方法で
は、各メモリデバイスについての診断結果から、該メモ
リデバイスのみならず、直接診断可能でない制御デバイ
スも対象として正常か否かの判断を行うので、故障して
いる可能性がある全てのデバイス(メモリデバイス及び
制御デバイス)を判別することができ、信頼性の高い故
障診断結果を得ることができる。
【0024】なお、請求項5記載の発明のように、選別
された全てのデバイスをオペレータに報知することによ
り、オペレータは故障している可能性がある全てのデバ
イスを認識し、さらなる故障箇所の特定や部品交換等の
故障時の対応を迅速に行うことができる。なお、オペレ
ータに報知する手段としては、ディスプレイに表示して
も良いし、スピーカから音声で通知しても良いし、所定
の用紙にプリントしても良い。また、これらを組み合わ
せて実施しても良い。
【0025】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る実施形態を説
明する。
【0026】図1には、本発明に係る故障診断方法によ
る故障診断処理を実行する情報処理装置10のブロック
図が示されている。この情報処理装置10には、情報処
理装置10全体の制御を行うMCU(Microprogram Con
trol Unit )12と、装置全体を制御するための制御プ
ログラムや後述する故障診断処理のプログラム等が予め
記憶されたROM20と、上記各種プログラム等が使用
する作業用記憶域としてのDRAM22と、が設けられ
ている。これらMCU12、ROM20及びDRAM2
2は、32ビットのデータバス26を介して互いに接続
されている。
【0027】また、MCU12は32ビットのアドレス
バス24に接続されており、このアドレスバス24には
アドレスバッファ14と、ROM/DRAMコントロー
ラ16と、マルチプレクサ18と、が接続されている。
【0028】MCU12の制御によってROM20から
プログラム等を読み出す場合には、アドレスバッファ1
4とROM/DRAMコントローラ16との制御によっ
てROM20からの読み出し動作が実行される。即ち、
ROM20からの読み出し動作が正常に実行されるため
には、ROM20のみならず、アドレスバッファ14及
びROM/DRAMコントローラ16も正常であること
が必要条件である。
【0029】また、MCU12の制御によってDRAM
22に対してデータを入出力する場合には、ROM/D
RAMコントローラ16とマルチプレクサ18との制御
によってDRAM22に対するデータ入出力動作が実行
される。即ち、DRAM22に対するデータ入出力動作
が正常に実行されるためには、DRAM22のみなら
ず、ROM/DRAMコントローラ16及びマルチプレ
クサ18も正常であることが必要条件である。
【0030】このようなROM20及びDRAM22に
関する制御・被制御の親子関係は、図2のようにツリー
構造で表すことができ、この制御・被制御の親子関係の
情報はROM20に記憶されている。また、制御・被制
御の親子関係は、図3に示すように、診断可能な電子デ
バイスの各々について依存する電子デバイスを表形式で
記憶し管理しても良い。なお、これら図2、3及び後述
する図4では、表記を簡単にするために、アドレスバッ
ファ14をU1、ROM/DRAMコントローラ16を
U2、マルチプレクサ18をU3、ROM20をU4、
DRAM22をU5とそれぞれ略記している。
【0031】また、図1の情報処理装置10では、デー
タバス26に入出力コントローラ28が接続されてお
り、この入出力コントローラ28にはディスプレイ30
とキーボード32とがそれぞれ接続されている。ディス
プレイ30には、MCU12の制御により、後述する故
障診断処理による診断結果が表示される。
【0032】次に、本実施形態の作用を説明する。オペ
レータがキーボード32によって故障診断処理の実行指
示を行うと、MCU12によって図5に示す制御ルーチ
ンが実行開始される。
【0033】図5のステップ102ではROM20の診
断を行う。例えば、ROM20からプログラムやデータ
等を正常に読み出すことができるか否かをチェックす
る。次のステップ104ではROM20の診断結果(正
常か異常か)をMCU12内のレジスタに記憶する。同
様に、次のステップ106ではDRAM22の診断を行
う。例えば、DRAM22へのデータ書き込み及びDR
AM22からのデータ読み出しが正常であるか否かをチ
ェックする。また、DRAM22に所定の数字データを
書き込み、書き込み後再度読み出して、読み出された数
字データの合計値が本来の合計値と一致しているか否か
をチェックする。次のステップ108ではDRAM22
の診断結果(正常か異常か)をMCU12内のレジスタ
に記憶し、そして、次のステップ110では図6に示す
診断結果表示処理のサブルーチンを実行する。
【0034】図6のサブルーチンでは、まず、診断結果
としてROM20にエラーがあったか否かを判定し、次
にDRAM22にエラーがあったか否かを判定する。こ
れらの判定において、ROM20とDRAM22ともに
エラーが無かった場合は「故障無し」とディスプレイ3
0に表示してオペレータに通知する。
【0035】また、ROM20にエラーが無くDRAM
22にエラーが有った場合は、図2のツリー構造でU4
(ROM20)が正常でU5(DRAM22)のみエラ
ーであるので、U4の動作に関係するU1、U2、U4
は正常であり、異常の可能性がある電子デバイスはU
3、U5と判断することができる。これにより、「U
3、U5をチェックせよ」とディスプレイ30に表示し
てオペレータに通知する。
【0036】また、ROM20にエラーが有りDRAM
22にエラーが無かった場合は、図2のツリー構造でU
5が正常でU4のみエラーであるので、U5の動作に関
係するU2、U3、U5は正常であり、異常の可能性が
ある電子デバイスはU1、U4と判断することができ
る。これにより、「U1、U4をチェックせよ」とディ
スプレイ30に表示してオペレータに通知する。
【0037】さらに、ROM20とDRAM22ともに
エラーが有った場合は、図2の全ての電子デバイスが異
常である可能性があるので、「U1、U2、U3、U
4、U5をチェックせよ」とディスプレイ30に表示し
てオペレータに通知する。
【0038】なお、上記4つの場合のそれぞれで異常の
可能性がある電子デバイスは図4の表に記載した。
【0039】以上のような診断結果表示処理を実行した
後は、図5のステップ112で何らかのエラーが発生し
たか否かを判定し、何らかのエラーが発生した場合はス
テップ116へ進み、予定していた後続の処理を中止し
異常時の終了処理を行って制御ルーチンを終了する。一
方、ステップ112でエラーが無い場合は、予定してい
た後続の処理を実行する。
【0040】以上の説明から明らかなように、本実施形
態によれば、ROM20及びDRAM22についての診
断結果から、これらROM20やDRAM22のみなら
ず、直接診断可能でないアドレスバッファ14(U
1)、ROM/DRAMコントローラ16(U2)及び
マルチプレクサ18(U3)も対象として正常か否かの
判断を行うので、故障している可能性がある全てのデバ
イスを判別することができ、信頼性の高い故障診断結果
を得ることができる。
【0041】また、故障診断結果はディスプレイ30に
表示されるので、オペレータは故障診断結果を即座に認
識することができ、さらなる故障デバイスの特定やデバ
イス交換等の故障時対応を迅速に行うことができる。
【0042】
【発明の効果】本発明によれば、診断可能な下位側の電
子デバイスについての診断結果から、該下位側の電子デ
バイスのみならず、直接診断可能でない上位側の電子デ
バイスも対象として正常か否かの判断を行うので、故障
している可能性がある全ての電子デバイスを判別するこ
とができ、信頼性の高い故障診断結果を得ることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施形態における情報処理装置の概略構成を
示すブロック図である。
【図2】各電子デバイスの制御・被制御の親子関係をツ
リー構造で示した図である。
【図3】診断可能な電子デバイスと該診断可能な電子デ
バイスを制御する電子デバイスとの対応を示す表であ
る。
【図4】さまざまな診断結果の場合にエラーの可能性が
ある全ての電子デバイスを示す表である。
【図5】本実施形態における故障診断処理の制御ルーチ
ンを示す流れ図である。
【図6】診断結果表示処理のサブルーチンを示す流れ図
である。
【符号の説明】
10 情報処理装置 12 MCU 14 アドレスバッファ 16 ROM/DRAMコントローラ 18 マルチプレクサ 20 ROM 22 DRAM 30 ディスプレイ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上位側の電子デバイスで下位側の電子デ
    バイスに対する制御を行う制御対応関係が設定された機
    器における故障診断方法であって、 上位側の電子デバイスと下位側の電子デバイスとの制御
    対応関係を予め記憶しておき、 下位側の電子デバイスについて動作が正常か否かを診断
    し、 当該診断結果と前記制御対応関係とに基づいて、故障し
    ている可能性がある全ての電子デバイスを選別する、 ことを特徴とする故障診断方法。
  2. 【請求項2】 複数のメモリデバイスと、メモリデバイ
    スに対するデータの入出力を制御する制御デバイスと、
    を含んで構成された情報処理装置における故障診断方法
    であって、 一のメモリデバイスと前記一のメモリデバイスに対する
    データの入出力を制御する制御デバイスとの制御対応関
    係を各メモリデバイス毎に記憶しておき、 各メモリデバイスに対するデータの入出力が正常である
    か否かを診断し、 各メモリデバイスについての診断結果と、各メモリデバ
    イスについての前記制御対応関係と、に基づいて、故障
    している可能性がある全ての制御デバイス及びメモリデ
    バイスを選別する、 ことを特徴とする故障診断方法。
  3. 【請求項3】 複数の制御デバイスにより制御されるメ
    モリデバイスに対するデータの入出力が正常である場
    合、前記複数の制御デバイスは正常であると判断し、前
    記メモリデバイスに対するデータの入出力が正常でない
    場合、前記複数の制御デバイスは故障している可能性が
    あると判断する、 ことを特徴とする請求項2記載の故障診断方法。
  4. 【請求項4】 複数のメモリデバイスを制御する制御デ
    バイスについては、前記複数のメモリデバイスのうち少
    なくとも1つに対するデータの入出力が正常である場
    合、該制御デバイスは正常であると判断し、前記複数の
    メモリデバイスの全てに対するデータの入出力が正常で
    ない場合、該制御デバイスは故障している可能性がある
    と判断する、 ことを特徴とする請求項2記載の故障診断方法。
  5. 【請求項5】 選別された全てのデバイスをオペレータ
    に報知する、 ことを特徴とする請求項1乃至請求項4の何れか一項に
    記載の故障診断方法。
JP8276122A 1996-10-18 1996-10-18 故障診断方法 Pending JPH10124341A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010514050A (ja) * 2006-12-18 2010-04-30 トムソン ライセンシング セルフテスト装置コンポーネント

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