JPH10123016A - 液晶ディスプレイ基板の高速同期撮像検査装置 - Google Patents

液晶ディスプレイ基板の高速同期撮像検査装置

Info

Publication number
JPH10123016A
JPH10123016A JP27832096A JP27832096A JPH10123016A JP H10123016 A JPH10123016 A JP H10123016A JP 27832096 A JP27832096 A JP 27832096A JP 27832096 A JP27832096 A JP 27832096A JP H10123016 A JPH10123016 A JP H10123016A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
image
substrate
light source
liquid crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP27832096A
Other languages
English (en)
Inventor
Keiichi Hori
恵一 堀
Takashi Yamaharu
孝 山春
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP27832096A priority Critical patent/JPH10123016A/ja
Publication of JPH10123016A publication Critical patent/JPH10123016A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、高速移動する基板上の欠陥撮像の
画像ブレが殆どなく、静止画像に近い鮮明な画像データ
を得ることができる検査装置を提供することを目的とす
る。 【解決手段】 本発明に係る液晶ディスプレイ基板の高
速同期撮像検査装置は、(A)液晶ディスプレイ基板1
に投光するストロボ光源7と、(B)透過法、反射法、
散乱法等の光学的方法により液晶ディスプレイ基板1の
欠陥を検査する撮像装置9と、(C)前記基板1または
該撮像装置9のいずれか一方または両方を駆動位置決め
する駆動位置決め装置4と、(D)前記ストロボ光源7
の点灯と、ストロボ光源点灯時の画像の取り込みと、画
像のデータ転送と、ストロボ光源点灯時の該駆動位置決
め装置の位置座標データの取り込みと、位置座標データ
の転送とのタイミングを制御する同期制御装置20を設
けたことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶ディスプレイ
用のガラス基板や、ガラス基板に透明電極膜を成膜した
ITO基板や、カラーフィルター基板や、TFT液晶デ
ィスプレイ基板等の液晶ディスプレイ基板の欠陥検査
を、透過法、反射法、散乱法等の光学的方法によって行
う撮像検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の液晶ディスプレイ基板の光学的検
査においては、連続点灯光源を用い、該基板を一定速度
で移動させながら、該基板からの透過光、反射光または
散乱光をシャッターを介してCCDエリアセンサーまた
はCCDラインセンサーで受光し、該シャッター速度お
よび該シャッター開閉の時間間隔を制御して、該基板の
各部分の画像を順次取り込む方法を採用している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】最近、液晶ディスプレ
イ基板の生産性向上とコストダウンの要求から、その基
板検査も生産ラインの中で、ライン速度に合わせて高速
で行い、検査結果を即時にラインにフィードバックし
て、製造工程の不具合を除去して歩留りの向上を図るだ
けでなく、欠陥の大きさおよび欠陥の存在箇所の位置を
精密に特定し、欠陥部をレーザー光や研磨テープ等を用
いて修正除去し、良品に仕上げ直す必要が生じてきた。
【0004】しかし、従来の方法では、次のような不具
合があり、上記のニーズに対応できなくなってきた。 (1)ライン速度に合わせて高速検査を行うために、液
晶ディスプレイ基板の移動速度を大きくした状態での撮
像が必要となった。
【0005】しかし、撮像にシャッターを用いる限り、
シャッター開の時間内での画像ブレが避けられない。そ
の結果、検査の信頼性が低下してしまう。例えば、該基
板の移動速度を200mm/秒とし、該シャッター開の
時間を5000分の1秒とすると、該画像ブレは200
mm/5000=0.04mm=40μmとなる。
【0006】したがって、大きさが20μmの欠陥の検
査を行おうとすると、このような画像ブレは良品も欠陥
と認識する過検出が多発し、検査の信頼性を著しく低下
させてしまう。 (2)前記シャッター開の時間を小さくすると、該画像
ブレは小さくなるが、画像取り込みのための受光量も小
さくなるので、ノイズの影響を受けやすくなる。 (3)前記基板の駆動位置決め装置と該シャッターとの
正確な同期制御が行われていないので、良否判定はでき
ても、欠陥部の修正除去に必要な欠陥部の精密な位置座
標が得られない。 本発明は、これらの問題を解決することができる装置を
提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
(第1の手段)本発明に係る液晶ディスプレイ基板の高
速同期撮像検査装置は、(A)液晶ディスプレイ基板に
投光するストロボ光源と、(B)透過法、反射法、散乱
法等の光学的方法により液晶ディスプレイ基板の欠陥を
検査する撮像装置と、(C)前記基板または該撮像装置
のいずれか一方または両方を駆動位置決めする駆動位置
決め装置と、(D)前記ストロボ光源の点灯と、ストロ
ボ光源点灯時の画像の取り込みと、画像のデータ転送
と、ストロボ光源点灯時の該駆動位置決め装置の位置座
標データの取り込みと、位置座標データの転送とのタイ
ミングを制御する同期制御装置を設けたことを特徴とす
る。 (第2の手段)本発明に係る液晶ディスプレイ基板の高
速同期撮像検査装置は、(A)液晶ディスプレイ基板を
搭載するXYテーブルと、(B)前記XYテーブルを、
X軸方向、およびY軸方向に駆動し位置決めするNC制
御装置と、(C)前記基板に光を供給するストロボ光源
と、(D)前記基板を透過する透過光を受光するCCD
カメラと、(E)前記CCDカメラで取り込まれた画像
データを入力する画像処理装置と、(F)前記画像処理
装置から、基板上の欠陥検出のための画像処理を行った
結果を入力する主制御装置と、(G)同期パルス発生装
置を具備し、(H)前記同期パルス発生装置は、NC制
御装置と、ストロボ光源と、CCDカメラと、画欅処理
装置と、主制御装置に、同期パルス信号を伝達し、
(I)前記ストロボ光源は、同期パルス発生装置から伝
達される同期パルス信号をトリガーとしてストロボ閃光
を発生し、(J)前記CCDカメラは、同期パルス信号
を受けてから、CCDカメラの内部の各画素にチャージ
された電荷を画像信号として該画像処理装置に転送し、
(K)パルスカウンターを内臓する画像処理装置は、同
期パルス発生装置から伝達された同期パルス信号をカウ
ントして、CCDカメラから転送された画像データが、
どのタイミングで撮像されたデータかを識別すると共
に、画像処理の結果をカウンターのデータと共に、主制
御装置に転送し、(L)パルスカウンターを内臓するN
C制御装置は、同期パルス発生装置からの伝達された同
期パルス信号を、パルスカウンターでカウントすると共
に、同期パルス信号をトリガーとして、XYテーブルの
位置検出器の位置データをラッチし、パルスカウンター
のカウントデー夕と共に、ラッチされた位置データを該
主制御装置に転送することを特徴とする。
【0008】すなわち、本発明は、(1)液晶ディスプ
レイ基板と該撮像装置とを相対的に駆動位置決めする駆
動位置決め装置を設け、(2)光学的方法により該基板
の検査を行う上で、該光源をストロボ光源とすると共
に、(3)該ストロボ光源の点灯と、該ストロボ光源点
灯時の画像の取り込みと、該画像のデータ転送と、該ス
トロボ光源点灯時の該駆動位置決め装置の位置座標デー
夕の取り込みと、該位置座標データの転送のタイミング
を制御する同期制御装置を設けたことを特徴とする。
【0009】したがって、次のように作用する。 (1)ストロボ光源は、閃光時間が8μs〜13μsと
小さく、仮に液晶ディスプレイ基板の移動速度を250
mm/秒の高速に設定しても、該ストロボ閃光時間内の
画像ブレは3μm前後となり、実用上、静止画像として
扱うことができる。 (2)また、該ストロボ光の点灯時間間隔を、例えば1
/30秒として、CCDカメラの画像データ取り出しサ
イクルに合わせ、CCDカメラと画像処理装置を同期制
御すると共に、駆動位置決め装置から該ストロボ光点灯
時の該基板位置座標データを瞬時に取り出す同期制御を
行うので、正確な欠陥位置座標を得ることができる。
【0010】
【発明の実施の形態】
(第1の実施の形態)本発明の第1の実施の形態を図1
〜図2に示す。図1は、本発明の第1の実施の形態に係
る装置の構成図。
【0011】図2は、本発明の第1の実施の形態の係る
装置における同期パルスと他の信号の関係を示す図であ
る。以下、本発明の詳細を図1および図2を参照しなが
ら説明する。
【0012】図1において、液晶ディスプレイ基板1
は、保持部材2で保持されており、保持部材2はXYテ
ーブル3に搭載されている。XYテーブル3は、NC制
御装置4により、図中に矢印で示すX軸方向、および紙
面に垂直なY軸方向に駆動位置決めされるようになって
いる。
【0013】基板1の下面側には、XYテーブル3から
独立した静止側に、図示しないレンズを組み込んだレン
ズホルダー5が設けてあり、光ファイバー6を介してス
トロボ光源7から供給されるストロボ光が、基板1を透
過する透過光8となって、CCDカメラ9で受光される
ようになっている。
【0014】CCDカメラ9で取り込まれた画像データ
は、信号線10を介して画像処理装置11に転送され、
該基板上の欠陥検出のための画像処理を行った結果が、
信号線13を介して主制御装置14に転送されるように
なっている。
【0015】NC制御装置4、ストロボ光源7、CCD
カメラ9、画欅処理装置11および主制御装置14に
は、それぞれ信号線15、16、17、18、19を介
して、同期パルス発生装置20から、1/30秒サイク
ルで同期パルス信号が伝達されるようになっている。
【0016】ストロボ光源7は、信号線16を介して伝
達される同期パルス信号をトリガーとしてストロボ閃光
をする。また、CCDカメラ9は、同期パルス信号を受
けてから1/30秒以内に、CCDカメラ9の内部の各
画素にチャージされた電荷を画像信号として該画像処理
装置11に転送するようになっている。
【0017】画像処理装置11には、パルスカウンター
21が内臓されており、信号線18を介して伝達された
同期パルス信号をカウントして、CCDカメラ9から転
送された画像データが、どのタイミングで撮像されたデ
ータかを識別すると共に、画像処理の結果をカウンター
21のデータと共に、主制御装置14に転送する。
【0018】NC制御装置4は、信号線15を介して伝
達された同期パルス信号を、パルスカウンター22でカ
ウントすると共に、同期パルス信号をトリガーとして、
XYテーブル3の図示しない位置検出器の位置データを
ラッチし、すなわち瞬時に取り込み、パルスカウンター
22のカウントデー夕と共に、ラッチされた位置データ
を信号線23を介して該主制御装置14に転送するよう
になっている。
【0019】本発明装置における同期パルスと他の信号
の関係を図2に示す。主制御装置14は、信号線19を
介して伝達される同期パルス信号をパルスカウンター2
4でカウントし、信号線13を介して伝達されるカウン
ター21のカウント値および信号線23を介して伝達さ
れる該カウンター22のカウント値を、カウンター24
のカウント値と比較することによって、該画像処理装置
11から転送される画像処理結果のデータとNC制御装
置4から転送される位置データが、どのストロボ閃光の
タイミングのデータかを識別する。
【0020】また、対応する画像処理結果のデータと位
置座標データから、該基板1の全体に渡る欠陥の位置と
数、すなわち欠陥マップデータを作成するようになって
いる。
【0021】
【発明の効果】本発明は前述のように構成されているの
で、以下に記載するような効果を奏する。 (1)本発明の高速同期撮像検査装置では、閃光時間の
きわめて短いストロボ光源を用いて液晶ディスプレイ基
板の欠陥撮像を行うため、高速移動する該基板上の欠陥
撮像の画像ブレが殆どなく、静止画像に近い鮮明な画像
データを得ることができる。そのため、検査の信頼性を
高めることができる。 (2)さらに、ストロボ閃光と同期して瞬時に該基板の
位置座標データを取り込み、そのタイミングで撮像され
た欠陥画像データと突き台わせることにより、該基板上
の欠陥の正確な位置データを得ることができるので、欠
陥の修正や除去がやりやすくなる。
【0022】なお、実施の形態では透過法の例を示した
が、該レンズホルダー5と該CCDカメラ9の配置と設
置角度を変えることによって、反射法、散乱法等の検査
にも本発明を適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る装置の構成
図。
【図2】本発明の第1の実施の形態の係る装置における
同期パルスと他の信号の関係を示す図。
【符号の説明】
1…液晶ディスプレイ基板 2…保持部材 3…XYテーブル 4…NC制御装置(駆動位置決め装置) 5…レンズホルダー 6…光ファイバー 7…ストロボ光源 8…信号線 9…CCDカメラ(撮像装置) 10…信号線 11…画像処理装置 13…信号線 14…主制御装置 15…信号線 16…信号線 17…信号線 18…信号線 19…信号線 20…同期パルス発生装置 21…パルスカウンター 22…パルスカウンター 23…信号線 24…パルスカウンター

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】(A)液晶ディスプレイ基板(1)に投光
    するストロボ光源(7)と、(B)透過法、反射法、散
    乱法等の光学的方法により液晶ディスプレイ基板(1)
    の欠陥を検査する撮像装置(9)と、(C)前記基板
    (1)または撮像装置(9)のいずれか一方または両方
    を駆動位置決めする駆動位置決め装置(4)と、(D)
    前記ストロボ光源(7)の点灯と、ストロボ光源点灯時
    の画像の取り込みと、画像のデータ転送と、ストロボ光
    源点灯時の駆動位置決め装置の位置座標データの取り込
    みと、位置座標データの転送のタイミングを制御する同
    期制御装置(20)を設けたことを特徴とする液晶ディ
    スプレイ基板の高速同期撮像検査装置。
  2. 【請求項2】(A)液晶ディスプレイ基板(1)を搭載
    するXYテーブル(3)と、(B)前記XYテーブル
    (3)を、X軸方向、およびY軸方向に駆動し位置決め
    するNC制御装置(4)と、(C)前記基板(1)に光
    を供給するストロボ光源(7)と、(D)前記基板
    (1)を透過する透過光(8)を受光するCCDカメラ
    (9)と、(E)前記CCDカメラ(9)で取り込まれ
    た画像データを入力する画像処理装置(11)と、
    (F)前記画像処理装置(11)から、基板上の欠陥検
    出のための画像処理を行った結果を入力する主制御装置
    (14)と、(G)同期パルス発生装置(20)を具備
    し、(H)前記同期パルス発生装置(20)は、NC制
    御装置(4)と、ストロボ光源(7)と、CCDカメラ
    (9)と、画欅処理装置(11)と、主制御装置(1
    4)に、同期パルス信号を伝達し、(I)前記ストロボ
    光源(7)は、同期パルス発生装置(20)から伝達さ
    れる同期パルス信号をトリガーとしてストロボ閃光を発
    生し、(J)前記CCDカメラ(9)は、同期パルス信
    号を受けてから、CCDカメラ(9)の内部の各画素に
    チャージされた電荷を画像信号として該画像処理装置
    (11)に転送し、(K)パルスカウンター(21)を
    内臓する画像処理装置(11)は、同期パルス発生装置
    (20)から伝達された同期パルス信号をカウントし
    て、CCDカメラ(9)から転送された画像データが、
    どのタイミングで撮像されたデータかを識別すると共
    に、画像処理の結果をカウンター(21)のデータと共
    に、主制御装置(14)に転送し、(L)パルスカウン
    ター(22)を内臓するNC制御装置(4)は、同期パ
    ルス発生装置(20)からの伝達された同期パルス信号
    を、パルスカウンター(22)でカウントすると共に、
    同期パルス信号をトリガーとして、XYテーブル(3)
    の位置検出器の位置データをラッチし、パルスカウンタ
    ー(22)のカウントデー夕と共に、ラッチされた位置
    データを該主制御装置(14)に転送することを特徴と
    する液晶ディスプレイ基板の高速同期撮像検査装置。
JP27832096A 1996-10-21 1996-10-21 液晶ディスプレイ基板の高速同期撮像検査装置 Withdrawn JPH10123016A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27832096A JPH10123016A (ja) 1996-10-21 1996-10-21 液晶ディスプレイ基板の高速同期撮像検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27832096A JPH10123016A (ja) 1996-10-21 1996-10-21 液晶ディスプレイ基板の高速同期撮像検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10123016A true JPH10123016A (ja) 1998-05-15

Family

ID=17595697

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27832096A Withdrawn JPH10123016A (ja) 1996-10-21 1996-10-21 液晶ディスプレイ基板の高速同期撮像検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10123016A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006133224A (ja) * 2004-10-21 2006-05-25 Mitsutoyo Corp にじみ限界に基づいて画像システムを制御するためのシステムおよび方法
JP2006337274A (ja) * 2005-06-03 2006-12-14 Mitsutoyo Corp 画像測定システム及び方法
JP2007212230A (ja) * 2006-02-08 2007-08-23 Tokyo Electron Ltd 欠陥検査方法,欠陥検査システム及びコンピュータプログラム
JP2008507702A (ja) * 2004-07-23 2008-03-13 ネクステック ソリューションズ, インコーポレイテッド 大型基板フラットパネル検査システム
CN114264663A (zh) * 2021-12-17 2022-04-01 苏州科韵激光科技有限公司 一种激光修复方法、装置和存储介质
CN116519597A (zh) * 2023-05-16 2023-08-01 中科慧远视觉技术(洛阳)有限公司 一种多轴系统检测方法、装置、上位机、介质及系统

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008507702A (ja) * 2004-07-23 2008-03-13 ネクステック ソリューションズ, インコーポレイテッド 大型基板フラットパネル検査システム
JP2006133224A (ja) * 2004-10-21 2006-05-25 Mitsutoyo Corp にじみ限界に基づいて画像システムを制御するためのシステムおよび方法
JP2006337274A (ja) * 2005-06-03 2006-12-14 Mitsutoyo Corp 画像測定システム及び方法
US7869622B2 (en) 2005-06-03 2011-01-11 Mitutoyo Corporation Image measuring system, image measuring method and image measuring program for measuring moving objects
JP2007212230A (ja) * 2006-02-08 2007-08-23 Tokyo Electron Ltd 欠陥検査方法,欠陥検査システム及びコンピュータプログラム
CN114264663A (zh) * 2021-12-17 2022-04-01 苏州科韵激光科技有限公司 一种激光修复方法、装置和存储介质
CN116519597A (zh) * 2023-05-16 2023-08-01 中科慧远视觉技术(洛阳)有限公司 一种多轴系统检测方法、装置、上位机、介质及系统
CN116519597B (zh) * 2023-05-16 2024-01-19 中科慧远视觉技术(洛阳)有限公司 一种多轴系统检测方法、装置、上位机、介质及系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3855733B2 (ja) 電子部品の外観検査装置および外観検査方法
US7889907B2 (en) Apparatus and methods for inspecting tape lamination
TWI444610B (zh) 平板玻璃表面的異物檢測裝置
WO2006059647A1 (ja) 表面検査装置及び表面検査方法
JP2010014436A (ja) 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
CN107966836A (zh) 一种tft-lcd缺陷光学自动检测系统
JP4362335B2 (ja) 検査装置
KR20190097929A (ko) 유리 시트 검사 장치 및 방법
JPH10123016A (ja) 液晶ディスプレイ基板の高速同期撮像検査装置
JPH11271038A (ja) 塗装欠陥検査装置
CN111654242B (zh) 检测太阳能晶片上的豁口的方法和系统
JP2015219085A (ja) 基板検査装置
KR20210023285A (ko) 기판의 베젤 영역에 패턴을 프린팅하기 위한 잉크젯 프린팅 시스템 및 이를 이용한 잉크젯 프린팅 방법
JP2004109094A (ja) 表面検査装置及び方法
JP2003186201A (ja) 異物検査機能を備えた露光装置及びその装置における異物検査方法
KR200363207Y1 (ko) 엘씨디 셀의 에지 검사 장치
TW579456B (en) Substrate treatment device
JP2003344299A (ja) カラーフィルターの欠陥検査装置およびカラーフィルターの欠陥検査方法
JP3670627B2 (ja) 微小形状部の寸法測定方法及び装置
JP2000046747A (ja) 液晶基板の外観検査方法および装置
JP2003177371A (ja) 液晶表示装置の検査装置及びその検査方法
JP2938126B2 (ja) カラーフィルタの表面検査装置
JP2001091474A (ja) 欠陥検査システム
JPH11194098A (ja) 欠陥検査装置
JP2018163261A (ja) 画像取得装置、露光装置、及び画像取得方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20040106