CN107966836A - 一种tft-lcd缺陷光学自动检测系统 - Google Patents

一种tft-lcd缺陷光学自动检测系统 Download PDF

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    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
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Abstract

一种TFT‑LCD缺陷光学自动检测系统,包括焦距自动可调镜头、工业相机、屏幕抓取旋转机构、屏幕点亮器、视觉控制器、检测结果显示器、机械手及控制器。当自动检测TFT‑LCD缺陷时,屏幕点亮器首先驱动TFT‑LCD显示第一个检测画面,同时将指令传送给视觉控制器,视觉控制器接收到指令后控制工业相机拍照,并运行相应检测画面的图像处理程序。然后检测第二个检测画面,依次循环进行,直到所有TFT‑LCD检测画面显示并检测完毕。最后将结果送到检测结果显示器。为了提高检测的准确率,视觉控制器控制焦距可调镜头自动聚焦。为了提高检测效率,机械手末端的屏幕抓取旋转机构进行快速取放。该系统具有检测准确率高、检测效率高的优点。

Description

一种TFT-LCD缺陷光学自动检测系统
技术领域
本发明涉及一种光学自动检测系统,尤其涉及一种TFT-LCD缺陷光学自动检测系统。
背景技术
目前TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)薄膜晶体管液晶显示器因其性能优良,大规模生产特性好,良品率高等优点被广泛用于手机、电脑显示器等领域。但由于复杂的生产工艺及较高的工艺要求,使其在生产过程中产生带有显示缺陷的少数不良品。传统的人工检查方法受到检测人员主观因素及客观环境影响,导致传统的人眼缺陷检测方法很难满足生产效率、检测质量以及低成本的要求。
光学自动检测是利用机器视觉代替人眼来做检测与判断,即通过机器视觉产品将被摄取目标转换成图像信号,根据像素分布和亮度、颜色等信息,通过图像处理算法来判断产品质量的是否合格。因此在大批量生产中,可以快速、准确的检测出产品的缺陷,且检测结果不受检测人员主观因素的影响。经上述可知,现有TFT-LCD缺陷检测技术中,存在效率低、准确率低、结果不统一等弊端。
发明内容
经过背景技术的分析可知,在现有TFT-LCD缺陷检测技术中,存在效率低、准确率低、结果不统一等弊端。本发明提供了一种TFT-LCD缺陷光学自动检测系统。
为了实现上述目的,本发明技术方案如下:
一种TFT-LCD缺陷光学自动检测系统,该系统包括焦距自动可调镜头、工业相机、屏幕抓取旋转机构、屏幕点亮器、视觉控制器、检测结果显示器、机械手及控制器。光学自动检测系统包括焦距自动可调镜头、工业相机、屏幕抓取旋转机构、屏幕点亮器、视觉控制器、检测结果显示器、机械手及控制器;其中屏幕点亮器驱动待测TFT-LCD显示画面,并通过通讯通知视觉控制器;然后,视觉控制器驱动工业相机拍照并运行对应画面的缺陷检测程序;焦距自动可调镜头在视觉控制器的控制下自动对焦;屏幕抓取旋转机构实现快速的TFT-LCD取放;检测结果显示器显示综合判定结果。
由屏幕点亮器驱动TFT-LCD显示白、黑、红、绿、蓝、灰阶、彩条、图片等检测画面。待测TFT-LCD所显示的检测画面与视觉控制器在时序上保持一致性。视觉控制器控制工业相机对不同检测画面采集拍照并运行对应检测画面的缺陷检测图像处理程序。
当待测TFT-LCD被放置在屏幕点亮器上后,由于TFT-LCD的FPC存在轻微变形和轻微错偏等现场,易导致TFT-LCD的放置位置出现轻微高低不平。由于普通镜头的景深较浅,导致普通镜头的对焦不准。所述视觉控制器控制焦距可调镜头自动聚焦。由于TFT-LCD在制造工艺中TFT晶体管按照一定的规则排布,反映在TFT-LCD图像上表现为规则的纹理特性。图像处理控制系统通过所采集待测TFT-LCD图像的纹理特征的清晰度,自动调节镜头的焦距,实现自动聚焦。
屏幕抓取旋转机构由橡胶吸头、连接块和旋转轴组成。屏幕抓取旋转机构将检测完毕的TFT-LCD吸起取走,然后迅速旋转,将下一个待测屏幕放置在屏幕点亮器上,最后把检测完毕的TFT-LCD依据图像处理的检测结果放置在良品或不良品区域。
与现有技术相比,本发明的一个或多个实施例可以具有如下优点:
1、本发明中屏幕点亮器与视觉控制器有交互通讯,实现TFT-LCD多检测画面的自动缺陷检测。
2、本发明利用TFT-LCD的纹理特性清晰度实现自动聚焦功能,具有检测准确率高的优点。
3、本发明中屏幕抓取旋转机构实现了先取再旋转最后放置的工序,可提高缺陷检测的效率。
4、本发明与TFT-LCD人工缺陷检测相比,可快速、准确的检测出产品的缺陷且检测标准统一,检测结果不受检测人员主观因素的影响。
附图说明
图1为TFT-LCD缺陷光学自动检测系统主要部件示意图;
图2为TFT-LCD缺陷光学自动检测系统结构框图;
图3为自动聚焦过程图像;
图4为屏幕抓取旋转机构结构图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步详述。
如图1所示,屏幕点亮器1驱动待测TFT-LCD2显示检测画面,屏幕抓取旋转机构3将检测完毕的TFT-LCD吸起取走。焦距可调镜头4与工业相机5安装在待测TFT-LCD正上方。
如图2所示,TFT-LCD缺陷光学自动检测系统包括焦距自动可调镜头、工业相机、屏幕抓取旋转机构、屏幕点亮器、视觉控制器、检测结果显示器、机械手及控制器。屏幕点亮器驱动待测TFT-LCD显示检测画面,同时向视觉控制器发送指令。视觉控制器控制焦距可调镜头自动聚焦后驱动工业相机采集图像。视觉控制器对所采集的图像进行图像处理后,通知机械手控制器将检测完毕的TFT-LCD取走并分类放置,同时将检测结果显示在显示器上。屏幕抓取旋转机构安装在机械手手臂末端。
图3中点缺陷用黑色记号笔圈出。图3-1为焦距未达到最佳的TFT-LCD图像。图像中无纹理背景,存在的点缺陷未显示在图像中。图3-2为焦距接近最佳的TFT-LCD图像。图像中纹理背景较模糊,点缺陷也较模糊。图3-3为焦距最佳的TFT-LCD图像。图像中纹理背景清晰,点缺陷也较清晰。图3-4为焦距超过最佳的TFT-LCD图像。图像中,纹理背景变模糊,点缺陷边缘也变得不清晰。系统的自动对焦过程主要检测纹理背景的清晰度,当纹理背景最清晰时,系统达到焦距最佳。
如图4所示,屏幕抓取旋转机构由橡胶吸头1、连接块2和旋转轴3组成。安装在机械手手臂末端。当机械手控制器接收到视觉控制器检测完毕的信号后,在料盘中将下一个待测TFT-LCD吸起,通过机械手将屏幕抓取旋转机构移动到屏幕点亮器附近。然后,将检测完毕的TFT-LCD吸起,迅速旋转,将下一个待测TFT-LCD放置在屏幕点亮器上。最后,通过机械手依据图像处理的检测结果将检测完毕的TFT-LCD放置在良品或不良品区域。

Claims (4)

1.一种TFT-LCD缺陷光学自动检测系统,其特征是:光学自动检测系统包括焦距自动可调镜头、工业相机、屏幕抓取旋转机构、屏幕点亮器、视觉控制器、检测结果显示器、机械手及控制器;其中屏幕点亮器驱动待测TFT-LCD显示画面,并通过通讯通知视觉控制器;然后,视觉控制器驱动工业相机拍照并运行对应画面的缺陷检测程序;焦距自动可调镜头在视觉控制器的控制下自动对焦;屏幕抓取旋转机构实现快速的TFT-LCD取放;检测结果显示器显示综合判定结果。
2.根据权利1所述的一种TFT-LCD缺陷光学自动检测系统,其特征是:屏幕点亮器驱动TFT-LCD显示白、黑、红、绿、蓝、灰阶、彩条、图片等检测画面;待测TFT-LCD所显示的检测画面与工业相机采集拍照在时序上保持一致性;视觉控制器运行对应检测画面的缺陷检测图像处理程序。
3.根据权利1所述的一种TFT-LCD缺陷光学自动检测系统,其特征是:视觉控制器控制焦距可调镜头自动聚焦;视觉控制器通过所采集待测TFT-LCD图像的纹理特征的清晰度调节镜头的焦距,实现自动聚焦。
4.根据权利1所述的一种TFT-LCD缺陷光学自动检测系统,其特征是:屏幕抓取旋转机构由橡胶吸头、连接块和旋转轴组成;屏幕抓取旋转机构安装在机械手手臂末端;检测完毕后,先将TFT-LCD吸起取走,然后迅速旋转,将下一个待测屏幕放置在屏幕点亮器驱动上。
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