JPH10111540A

JPH10111540A - 放射線画像読取装置

Info

Publication number: JPH10111540A
Application number: JP8267112A
Authority: JP
Inventors: Junko Sato; 淳子佐藤; Masabumi Saito; 正文斉藤
Original assignee: Konica Minolta Inc
Current assignee: Konica Minolta Inc
Priority date: 1996-10-08
Filing date: 1996-10-08
Publication date: 1998-04-28
Anticipated expiration: 2016-10-08
Also published as: JP3704838B2

Abstract

(57)【要約】（修正有）【課題】主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ及び
２次元ムラの全ての補正を容易に行なうことができる放
射線画像読取装置を提供する。【解決手段】読み取った原画像データより主走査方向
に発生するムラを補正するための第１の補正データと、
副走査方向に発生するムラを補正するための第２の補正
データとを算出する手段と、原画像データを前記第１の
補正データを用いて補正を行ない、１次補正画像データ
を取得する手段と、該１次補正画像データよりポリゴン
に起因するムラをポリゴンの各反射面毎かつ主走査方向
の位置毎に補正するための第３の補正データを算出する
手段と、原画像データを前記第１、第２の補正データを
用いて補正し、２次補正画像データを取得する手段と、
このデータより２次元的に発生するムラを補正するため
の第４の補正データを算出する手段と、前記第１乃至第
４の補正データを記憶する手段と、これの補正データよ
り各画素毎の補正データを算出する手段とを備えて構成
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は放射線画像情報を光
学的に読み取る放射線画像読取装置に関し、特に輝尽性
蛍光体を使用した読取装置のように、精細な濃淡情報を
正確に再現する必要がある読取装置における読取画像デ
ータの補正技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】図７は、輝尽性蛍光体プレートへの画像
（例えば、医療用診断画像）の記録方法を示す図であ
る。

【０００３】Ｘ線源１から出射されたＸ線は、絞り２に
よって絞られた後、被写体３に照射される。被写体３を
透過したＸ線は、輝尽性蛍光体プレート４（以下、単に
蛍光体プレートという）に入射し、これによって、被写
体３の画像の潜像が形成される。

【０００４】この潜像の画像化は、レーザ光を走査して
蛍光体プレート４を励起し、蓄積している潜像エネルギ
ーを蛍光として放射させ、この蛍光を集光器により集光
し、光電子増倍管（フォトマルチプライヤ）を備えた光
検出器により検出し、得られるアナログ電気信号をＡ／
Ｄ変換してデジタル化した後、そのデータに所定の信号
処理を施すことにより行われる。

【０００５】本発明者は、より高精度な画像再現を行う
ために、読取画像データの補正技術について検討した
が、その結果として以下の事項が明らかとなった。補正
の種類としては、集光系及び光学系によるムラ（シェー
ディング）の補正の他に、蛍光体の発光強度が時間経過
とともに減衰するフェーディングに対する補正が必要で
ある。

【０００６】また、例えば、図８（ア）に示すようなポ
リゴン３５（反射面としてＡ面〜Ｈ面を持つ）を用いて
光ビームを走査する場合、同図（イ）に例示されるよう
に、Ａ面と他の面（例えばＥ面）とでは反射率に差があ
り、その結果、蛍光体プレートの同じ位置を走査したと
しても、Ａ面を使用した場合とＥ面を使用した場合とで
は、蛍光体プレートに達するレーザパワーが相違し、そ
れによって、検出する信号レベルと面内での分布内容が
相違する。また、各反射面毎の倒れ角の違いによっても
信号レベルが相違する。従って、使用するポリゴン面を
意識した補正を行う必要がある。

【０００７】また、図８（ウ）に示すように、蛍光体プ
レートには、２次元的な感度ムラ（あるいはＸ線ムラに
起因するムラ）が存在し、高精度化をねらう場合は、こ
の２次元ムラに対する補正が必要である。

【０００８】特開昭６３−１５３０４８号公報には、被
写体を置かずに撮影したベタ画像を用いて被写体を置い
て撮影した画像を補正する技術が開示されている。ま
た、特開昭６３−１５８５３６号公報には、被写体を置
かずに撮影したベタ画像から主走査、副走査方向の補正
データを求めて記憶しておき、被写体を置いて撮影した
画像を補正する技術が開示されている。

【０００９】また、特開平２−５８９７３号公報には、
ポリゴンの面毎に主走査方向の特性を記憶し、ポリゴン
面に対応して補正する技術が開示されている。また、特
開平５−３１３２６２号公報には、主走査、副走査方向
の補正後に間引き補正データを作成し、補間した補正デ
ータで補正を行なう技術が開示されている。

【００１０】また、特開平５−３１３２６４号公報に
は、ポリゴン面と副走査位置を特定し、補正データの作
成時と補正時で特定関係が成立するように制御する技術
が開示されている。

【００１１】また、特開平７−２９５１２１号公報に
は、ポリゴンの反射面毎に、またポリゴンの反射面毎か
つ主走査方向の各装置位置毎に補正する第１の補正デー
タを作成し、該第１の補正データで画像を補正すること
により、輝尽性蛍光体に起因するムラを補正するための
第２の補正データを作成する技術が開示されている。

【００１２】更に、本出願人が出願した特願平７−２７
２６３３号には、被写体を置かずに撮影したベタ画像か
ら、主走査方向の補正データ１を作成し、該補正データ
１で撮影画像を補正することにより（画像１）ポリゴン
の反射面かつ主走査方向の各走査位置毎に補正する補正
データ２を作成し、該補正データ２で画像１を補正する
ことにより（画像２）副走査方向の補正データ３を作成
し、該補正データ３で画像２を補正することにより２次
元ムラ補正データ（間引き補正データ）を作成し、これ
ら全ての補正データに基づいて画素毎の補正データを作
成する技術が開示されている。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】前述したように、輝尽
性蛍光体を用いた放射線画像読取装置では、以下のよう
な要因による画像ムラが発生する。

【００１４】主走査方向ムラ集光系ムラ、光学系によるムラ（励起光のパワー変動、
走査速度ムラ）、蛍光体プレート感度ムラ副走査方向ムラ輝尽性蛍光体のフェーディング、Ｘ線のヒール効果（特
性に基づくムラ）、読取ユニットの移動ムラ、蛍光体プ
レート感度ムラ（全て副走査位置に起因）２次元ムラ蛍光体プレート感度ムラ、Ｘ線の照度ムラポリゴンムラポリゴンの各反射面毎の反射率差及び同一面内での反射
率差、ポリゴンの倒れ前記特開昭６３−１５３０４８号
公報、特開昭６３−１５８５３６号公報、特開平５−３
１３２６２号公報では、ポリゴンによるムラが考慮され
ていないためポリゴンムラが補正されず、また、特開平
２−５８９７３号公報では、ポリゴンムラと主走査方向
ムラが対象であるため、その他のムラは補正されないと
いう問題がある。

【００１５】また、副走査方向には、位置に起因する副
走査ムラと、偏向したポリゴン面に起因するムラが存在
するため、特開平５−３１３２６４号公報のようにポリ
ゴン面と副走査位置を特定し、補正データ作成用画像と
実際の読み取り画像で関係を一致させる必要があるが、
副走査の制御は極めて困難である。

【００１６】本発明はこのような課題に鑑みてなされた
ものであって、主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ
及び２次元ムラの全ての補正を容易に行なうことができ
る放射線画像読取装置を提供することを目的としてい
る。

【００１７】

【課題を解決するための手段】

（１）前記した課題を解決するための第１の発明は、複
数の反射面を持つポリゴンで反射偏向された光ビームに
より放射線画像が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元
的に走査して発生する光を検出することにより画像信号
を得る放射線画像読取装置において、読み取った原画像
データより主走査方向に発生するムラを補正するための
第１の補正データと、副走査方向に発生するムラを補正
するための第２の補正データとを算出する手段と、原画
像データを前記第１の補正データを用いて補正を行な
い、１次補正画像データを取得する手段と、該１次補正
画像データよりポリゴンに起因するムラをポリゴンの各
反射面毎かつ主走査方向の位置毎に補正するための第３
の補正データを算出する手段と、原画像データを前記第
１、第２の補正データを用いて補正を行ない、２次補正
画像データを取得する手段と、該２次補正画像データよ
り２次元的に発生するムラを補正するための第４の補正
データを算出する手段と、前記第１乃至第４の補正デー
タを記憶する手段と、前記第１乃至第４の補正データよ
り各画素毎の補正データを算出する手段とを備えたこと
を特徴としている。

【００１８】この発明の構成によれば、各種のムラをそ
れぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査ムラ、
ポリゴンムラ及び２次元ムラの全ての補正を容易に行な
うことができる。

【００１９】（２）前記した課題を解決する第２の発明
は、複数面のポリゴンで反射偏向された光ビームにより
放射線画像が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元的に
走査して発生する光を検出することにより画像信号を得
る放射線画像読取装置において、読み取った原画像デー
タより主走査方向に発生するムラを補正するための第１
の補正データと、副走査方向に発生するムラを補正する
ための第２の補正データと、ポリゴンに起因するムラを
ポリゴンの各反射面毎に補正するための第３の補正デー
タを算出する手段と、原画像データを前記第１、第２の
補正データを用いて補正を行ない、１次補正画像データ
を取得する手段と、該１次元補正画像データより２次元
的に発生するムラを補正するための第４の補正データを
算出する手段と、前記第１乃至第４の補正データを記憶
する手段と、前記第１乃至第４の補正データより各画素
毎の補正データを算出する手段とを備えたことを特徴と
している。

【００２０】この発明の構成によれば、各種のムラをそ
れぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査ムラ、
ポリゴンムラ及び２次元ムラの全ての補正を容易に行な
うことができる。

【００２１】（３）この場合において、前記第２の補正
データ算出手段が、原画像データを副走査方向に平均化
したデータをローパスフィルタでフィルタリングする手
段を備えることを特徴としている。

【００２２】この発明の構成によれば、副走査方向に存
在するポリゴンの反射面に起因するムラ（高周波ムラ）
を除去することができる。（４）また、前記ローパスフィルタのカットオフ空間周
波数ｆが、ポリゴン面数をＮ、読取画素サイズをｄとし
た時、ｆ≧１／（Ｎ×ｄ）であることを特徴としている。

【００２３】この発明の構成によれば、ポリゴン面数Ｎ
と読取画素サイズｄにより空間周波数ｆが求まるが、カ
ットオフ空間周波数を少なともｆ以上に設定することに
より、空間周波数及びその高調波成分に基づくムラを除
去することができる。

【００２４】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態例を詳細に説明する。図１は本発明の一実施の
形態例を示すブロック図である。図７と同一のものは、
同一の符号を付して示す。図１において破線で囲んだ部
分２０は輝尽性蛍光体プレートの読取部である。図２は
この輝尽性蛍光体プレート読取部の構成例を示す図であ
る。

【００２５】先ず、蛍光体プレート読取部について説明
すれば、図２において、蛍光体プレート４は左側壁に固
定されており、繰り返し使用される。読取ユニット３０
は、副走査モータ（ステッピングモータ）４１によるボ
ールネジ４２の駆動により、ガイドシャフト４３に沿っ
て移動し、走査線（光ビーム）３１を副走査方向にスキ
ャンする。

【００２６】主走査方向のスキャンはポリゴン走査機構
３２により行われる。ポリゴン走査機構３２は、ポリゴ
ンと該ポリゴンを回転させる機構を含む。副走査モータ
４１の動作は、副走査モータ制御機構４５により制御さ
れる。蛍光は集光器５により集光され、フォトマル６に
より電気信号に変換されるようになっている。

【００２７】ＬＤ１はレーザ光源，ＰＤ１はフォトセン
サであり、原点位置検出センサを構成している。この原
点位置検出センサは、読取ユニット３０の副走査方向の
原点位置を検出するものである。フォトセンサＰＤ１の
出力は、副走査モータ制御機構４５に入力され、副走査
モータ制御機構４５は読取ユニット３０の停止位置を制
御する。

【００２８】図１において、１はＸ線を発生するＸ線
源、２は該Ｘ線源１から発生するＸ線を絞る絞り、３は
該絞り２によって絞られたＸ線を受ける被写体、４は該
被写体３を透過したＸ線を受ける蛍光体プレートであ
る。該蛍光体プレート４には、被写体透過Ｘ線を入射し
て潜像が形成されるようになっている。１３は潜像の読
出し時にレーザ光を発生するレーザ光源、３２は該レー
ザ光源１３からのレーザ光を受けて、蛍光体プレート４
上をレーザ光で走査する光走査手段としてのポリゴン走
査機構３２（図２参照）である。

【００２９】５は蛍光体プレート４から発生する蛍光を
集光する集光器、６は該集光器５で集光された蛍光を光
電変換するフォトマルチプライヤ（以下フォトマルと略
す）である。７は該フォトマル６に管電圧を供給する電
源である。

【００３０】８はフォトマル６の出力を増幅するアン
プ、９は該アンプ６の出力を対数圧縮増幅するログアン
プ、１０は該ログアンプ９の出力を受けてノイズ成分を
除去するフィルタ、１１は該フィルタ１０の出力をサン
プリングしてホールドするサンプルホールド回路、１２
は該サンプルホールド回路１１の出力（アナログ信号）
をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器である。

【００３１】ＳＷは、補正データ作成時の信号経路と実
際の画像読み取り時の信号経路とを切替えるスイッチで
あり、補正データ作成時には共通接点をＡ接点側に、画
像読み取り時にはＢ接点側に切替える。

【００３２】１５はＡ／Ｄ変換器１２の出力データ（読
取画像データ）と、読み取った画像データを後述の補正
手段で補正した画像データを記憶するフレームメモリ、
１６は該フレームメモリ１５に記憶されたデータを受け
て所定の処理を行なうコントローラ、１７は該コントロ
ーラ１６を介して送られてくる画像データを出力するプ
リンタ、自動現像機等の周辺機器（略してプリンタ・自
現機）である。画像データはまた、コントローラ１６を
介してホストＣＰＵ（図示せず）に出力されるようにな
っている。

【００３３】１４はタイミング回路であり、該タイミン
グ回路１４は、サンプルホールド回路１１、Ａ／Ｄ変換
器１２、後述の補正用データ作成手段５２及び補正デー
タメモリ６０にそれぞれタイミングクロックを供給する
ものである。タイミング回路１４は、放射線画像の撮影
条件に応じて読み取り時の読取画素サイズを決定する。
例えば、予め決められた０．１，０．１５，０．２ｍｍ
の３種類の読取画素サイズの中から、１つの読取画素サ
イズを選択して設定し、該設定された読取画素サイズで
読み取りを行わせるようにサンプルホールド回路１１へ
タイミングクロックを供給する。

【００３４】５０は輝尽性蛍光体プレート読取部２０で
読み取られ、Ａ／Ｄ変換器１２でディジタルデータに変
換されたディジタル読取画像データを、各種のムラに基
づく補正データで補正する補正手段である。

【００３５】補正手段５０は、読み取られた画像データ
を補正する補正回路５１と、読取画像データを補正する
ための各種補正データを作成する補正用データ作成手段
５２と、主走査方向における補正データを記憶する主走
査補正データメモリ５３と、ポリゴンに起因する補正デ
ータを記憶するポリゴン補正データメモリ５４と、副走
査方向における補正データを記憶する副走査補正データ
メモリ５５と、２次元補正用の２次元ムラ補正データを
記憶する間引きデータメモリ５６と、２次元ムラ補正デ
ータを補間して２次元ムラ補正データを作成する補間デ
ータ作成手段５７と、各メモリに記憶されている補正デ
ータを読み出して加算する加算手段５８と、補正データ
を計算する補正データ計算手段５９と、作成された補正
データを格納する補正データメモリ６０とにより構成さ
れている。このような補正手段５０は例えばマイクロプ
ロセッサとメモリによって構成される。

【００３６】このように構成された装置の動作を説明す
れば、以下の通りである。（１）補正データ作成動作図に示す回路は、切り替えスイッチＳＷをＡ接点側に投
入した状態で、被写体なしのベタ画像をフレームメモリ
１５に格納する。つまり、Ｘ線源１から発生するＸ線は
被写体３を透過し、蛍光体プレート４に入射して潜像が
形成される。潜像の読み出し時には、蛍光体プレート４
上をポリゴン走査機構３２によりレーザ光で走査する。

【００３７】この時、発生する蛍光は、続く集光器５に
より集光され、フォトマル６により光電変換される。該
フォトマル６の出力信号は、アンプ８で増幅され、ログ
アンプ９で対数圧縮増幅され、フィルタ１０でノイズ成
分が除去される。

【００３８】そして、フィルタ１０の出力は、サンプル
ホールド回路１１によりタイミング回路１４からの発生
タイミングによりサンプルホールドされる。該サンプル
ホールド回路１１の出力は、続くＡ／Ｄ変換器１２によ
りディジタルデータに変換され、切替えスイッチＳＷを
介してフレームメモリ１５の所定の位置に格納される。
以上の操作を主走査方向及び副走査方向に必要なだけ繰
り返して、蛍光体プレート４の全面に記録されている画
像情報をディジタル画像データに変換し、フレームメモ
リ１５に格納する。

【００３９】そして、補正用データ作成手段５２は、フ
レームメモリ１５に格納されているベタ画像データを読
み出して、後述する各種のムラ補正データを作成し、主
走査補正データメモリ５３，ポリゴン補正データメモリ
５４，副走査補正データメモリ５５及び間引きデータメ
モリ５６に記憶させる。

【００４０】間引きデータメモリ５６には、ベタ画像デ
ータに所定の補正処理を加えた後、一定の規則に従って
サンプリングし、その周囲の画素データも加味したデー
タ（間引きデータ）から作成された２次元ムラ補正デー
タが記憶される。補間データ作成手段５７は、間引きデ
ータメモリ５６に記憶されている２次元ムラ補正データ
を読み出して、それに基づいて補間により２次元ムラ補
正データを作成し、記憶する。この時、補間データ作成
手段５７は、間引きデータメモリ５６に記憶されていな
い点の画像データの２次元ムラ補正データは、補間法を
用いて作成する。

【００４１】主走査補正データメモリ５３，ポリゴン補
正データメモリ５４，副走査補正データメモリ５５及び
補間データ作成手段５７の出力は、加算手段５８により
画素毎に加算される。補正データ計算手段５９は、読取
画素サイズに適合した補正データを計算し、補正データ
メモリ６０に記憶する。このようにして、補正データメ
モリ６０には、読取画素毎に補正データが記憶される。

【００４２】（２）実際の画像データの読み取り処理前記（１）により補正データが求まったら、切替えスイ
ッチＳＷをＢ側に投入し、被写体３を配置した状態で画
像データの読み取りを行なう。読み取られた画像データ
は、Ａ／Ｄ変換器１２から補正回路５１に与えられる。
該補正回路５１は、読み込んだ画像データから補正デー
タメモリ６０に記憶されている対応する画素の補正デー
タを引算し、補正後の画像データを求める。このように
して求まった補正後画像データは、順次フレームメモリ
１５に格納されていく。本発明によれば、各種のムラを
それぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査ム
ラ、２次元ムラ及びポリゴンムラの全ての補正を容易に
行なうことができる。

【００４３】（３）ムラ補正データの作成次に、補正用データ作成手段５２による各種のムラ補正
データの作成方法について説明する。

【００４４】被写体がない状態で、フレームメモリ１５
に格納されたベタ画像データには、主走査ムラ、副走査
ムラ、ポリゴンムラ、２次元ムラが混在している。そこ
で、本発明では、フレームメモリ１５に格納されている
ベタ画像データを基にこれらムラの補正データを分離し
て抽出する。

【００４５】図３は画像データの画素配置例を示す図で
ある。画像データの主走査方向及び副走査方向の画素数
をそれぞれｉ，ｊとし、各画素データをＸ_uv（ｕ＝０，
１…ｉ−１、ｖ＝０，１…ｊ−１）と表わすことにす
る。主走査方向をｘ方向、副走査方向をｙ方向とする。

【００４６】ここで、ポリゴンの反射面数を１０とする
と、副走査方向の画素は偏向を行なった反射面に応じ
て、１０ｎ、１０ｎ＋１、… 、１０ｎ＋９（ｎ＝０，
１，…９）と１０グループに分けることができる。つま
り、ポリゴンの同じ反射面を用いた画像データは、副走
査方向の１０行毎に現れることになる。図３を用いて説
明すると、１０ｎ行目の画素データと、１０ｎ＋１０行
目の画素データは、同じポリゴン面を用いて得られる。
図中の画像データＸ_uvは、ｕ列・ｖ行の画素データを表
わす。

【００４７】（３−１）主走査ムラ補正データの作成読み取ったベタ画像データＸのｘ方向の各列の平均信号
値を求め、Ａ₀、Ａ₁、…、Ａ_i-1とする。各列の平均信
号値Ａ_kは次式で表される。

【００４８】

【数１】

【００４９】これによって、ベタ画像が例えば図４の
（ａ）に斜線で示すような濃度ムラを有する場合、同図
（ｂ）のような平均値Ａ₀〜Ａ_i-1のプロファイルが得ら
れる。図（ｂ）において、縦軸は濃度レベル、横軸は主
走査方向ｘである。ここで、Ａ _kの最小値をＡ_minとし、
Ａ_kとＡ_minとの差Ｓ_kを求めると、Ｓ_kは次式で表され
る。

【００５０】Ｓ_k＝Ａ_k−Ａ_min （ｋ＝0,1,…,ｉ−1）（２）このことは、図４の（ｂ）について説明すれば、最小値
Ａ_minから上の部分（斜線領域Ｓ）を切り出し、この切
り出した部分を主走査ムラ補正データとするものであ
る。このようにして求めた差Ｓ_kを主走査ムラ補正デー
タＳ₀、Ｓ₁、…、Ｓ_i-1として主走査補正データメモリ
５３に記憶する。

【００５１】また、異なった画素サイズで各列毎の画像
データを得て、同様に補正データを求めることができ
る。なお、この主走査ムラ補正データＳ₀、Ｓ₁、…、Ｓ
_i-1は、読み出し画像データを引算により補正する場合
の補正データであり、読み出し画像データを加算により
補正する場合には、図４の（ｂ）の最大値Ａ_maxからの
差分（斜線領域Ｓ’）を補正データとすることができ
る。このことは、いちいち記述しないが、以降の補正デ
ータについても同様である。

【００５２】（３−２）副走査ムラ補正データの作成読み取ったベタ画像データＸのｙ方向の各行の平均信号
値を求め、Ｂ₀、Ｂ₁、…、Ｂ_j-1とする。各行の平均信
号値Ｂ_lは次式で表される。

【００５３】

【数２】

【００５４】これによって、ベタ画像が例えば図４の
（ａ）に斜線で示すような濃度ムラを有する場合、同図
（ｄ）のような平均値Ｂ₀〜Ｂ_j-1のプロファイルが得ら
れる。ここで、Ｂ_lの最小値をＢ_minとし、Ｂ_lとＢ_minと
の差Ｃ_lを求めると、Ｃ_lは次式で表される。

【００５５】Ｃ_l＝Ｂ_l−Ｂ_min（ｌ＝0,1,…,ｊ−1）（４）このことは、図４の（ｄ）について説明すれば、最小値
Ｂ_minから上の部分（斜線領域Ｃ）を切り出し、この切
り出した部分を差分データＣ₀、Ｃ₁、…、Ｃ_j- ₁とする
ものである。

【００５６】次に、（４）式で求めた差分データＣ_lを
カットオフ空間周波数ｆのローパスフィルタでフィルタ
リングしたデータを副走査ムラ補正データＦ₀、Ｆ₁、
…、Ｆ _j-1として副走査補正データメモリ５５に記憶す
る。副走査方向には、ポリゴンの反射面に起因するムラ
（高周波ムラ）と、副走査の位置に起因するムラ（低周
波ムラ）がある。そこで、平均した画像データをローパ
スフィルタでフィルタリングすることにより、高周波ム
ラを除去しておくものである。なお、ローパスフィルタ
の機能をデータ処理で実現することは周知の技術であ
り、周知の方法を用いてフィルタリングする。

【００５７】（３−３）ポリゴンムラ補正データの作成反射面毎かつ主走査方向補正データ読み取ったベタ画像データＸの０列に属する各画素から
主走査ムラ補正データＳ₀を引算する。同様に、１列、
２列、…ｉ−１列に属する各画素からそれぞれ主走査ム
ラ補正データＳ₁、Ｓ₂、…、Ｓ_i-1を引算する。この処
理は、ベタ画像を主走査ムラ補正データを用いて補正
し、補正後画像データＸ’を作成する処理である。補正
後画像データＸ’は次式で表される。

【００５８】Ｘ’＝Ｘ_kl−Ｓ_k （ｋ＝0，1，…，ｉ−１、ｌ＝0，1，…，ｊ−１）（５）この式は、図３において、各画素データから０列に属す
る画素データについては、Ｓ₀を引算し、１列に属する
画素データについては、Ｓ₁を引算することを示す。以
下の列についても同様である。

【００５９】このようにして求めた補正後画像データ
Ｘ’の１０ｎ行に属するデータであって、かつ０列に属
する全ての画素の平均信号値を求め、Ｄ_0,0とする。同
様にして、１０ｎ行に属するデータであって、かつ１
列、２列、…、ｉ−１列に属する全ての画素の平均信号
値を求め、それぞれＤ_1,0、Ｄ_2,0、…、Ｄ_i-1,0とす
る。

【００６０】同様にして、１０ｎ＋１、１０ｎ＋２、
…、１０ｎ＋９行に属し、かつ０列、１列，…、ｉ−１
列に属する全ての画素の平均信号値を、Ｄ_0,1〜
Ｄ_i-1,1、Ｄ_0, ₂〜Ｄ_i-1,2、…Ｄ_0,9〜Ｄ_i-1,9とする。

【００６１】このようにして求めた平均信号値Ｄ
_k,n（ｋ＝０，１，…，ｉ−１、ｎ＝０，１，…，９）
が、図４の（ｃ）に示すように得られたものとする。
（ｃ）において縦軸は濃度レベル（平均値）、横軸は主
走査方向ｘである。全ての平均信号値の最小値をＤ_min
とし、Ｄ_k,nとＤ_minとの差を、ポリゴン面毎かつ主走査
方向の補正データＰ_0,0〜Ｐ_i-1,0、…、Ｐ_0,9〜Ｐ_i-1,9
としてポリゴン補正データメモリ５４に記憶する。

【００６２】反射面毎の補正データの場合と同様にして、補正後画像データＸ’を作成す
る。次に、補正後画像データＸ’の１０ｎ行に属する全
ての画素の平均信号値を求めＤ₀とする。同様に、１０
ｎ＋１、１０ｎ＋２、…、１０ｎ＋９行に属する全ての
画素の平均信号値を求め、Ｄ₁、Ｄ₂、…、Ｄ₉とする。
Ｄ_n（ｎ＝０，１，…，９）の最小値をＤ _minとし、Ｄ_n
とＤ_minとの差を、ポリゴン面毎の補正データＰ₀、
Ｐ₁、…、Ｐ₉として、ポリゴン補正データメモリ５４に
記憶する。

【００６３】上述の説明において、で求めた反射面毎
かつ主走査方向補正データと、で求めた反射面毎の補
正データは、ポリゴン補正データメモリ５４に記憶され
るが、実際の画像読み取りでは、これら補正データが同
時に採用されることはない。即ち、ポリゴン補正データ
メモリ５４は予め決められたいずれかのポリゴン補正方
法で必要なメモリ量だけあればよい。

【００６４】（３−４）２次元ムラ補正データの作成図８の（ウ）に示したように、蛍光体プレート４には、
２次元的な感度ムラがあり、このような感度ムラは、主
走査方向のみならず、副走査方向も加味した２次元の補
正を行なう必要がある。

【００６５】先ず、読み取ったベタ画像データＸの０列
に属する各画素から主走査ムラ補正データＳ₀を引算す
る。同様に、１列、２列、…、ｉ−１列に属する各画素
から主走査ムラ補正データＳ₁、Ｓ₂、…、Ｓ_i-1を引算
する。

【００６６】同様にして、０行に属する各画素から副走
査ムラ補正データＦ₀を引算する。同様に、１行、２
行、…、ｊ−１行に属する各画素から副走査ムラ補正デ
ータＦ ₁、Ｆ₂、…、Ｆ_j-1を引算する。このようにし
て、ベタ画像データを、主走査、副走査ムラ補正データ
を用いて補正し、補正後画像データＸ’’を作成する。
補正後画像データＸ’’は、次式で表される。

【００６７】Ｘ’’＝Ｘ_kl−Ｓ_k−Ｆ_l （ｋ＝0,1,…,i-1、ｌ＝0,1,…,j-1）（６）以上の処理により、蛍光体プレート全面にわたる２次元
補正画像データが求まったことになる。ここで、各画素
から一定の法則に従って特定の画素を抽出する。図５は
間引き画像データと補間方法の説明図である。図では、
主走査方向にＫ ₁〜Ｋ₅の５個の間引きデータをとった場
合を示している。副走査方向にも同様にして間引きデー
タを求める。

【００６８】この間引き画像データＫ₁〜Ｋ₅は、単に前
述の補正後画像データＸ’’からサンプリングして求め
るのではなく、サンプリングした点の周囲のＭ×Ｎ画素
のデータを平均して求める。

【００６９】このようにして求めた間引き画像データに
ついて、最小値との差を２次元ムラ補正データとする。
即ち、求めた間引き画像データについて、最小値を求
め、各間引きデータから最小値を引算することにより、
２次元ムラ補正データを求めるものである。Ｕ_p1〜Ｕ_p5
は、このようにして求めた図５に示す間引きデータＫ₁
〜Ｋ₅の２次元ムラ補正データである。以上の操作は蛍
光体プレート全面に対して行ない、２次元ムラ補正デー
タを求める。このようにして求めた２次元ムラ補正デー
タは、間引きデータメモリ５６に記憶される。

【００７０】なお、この間引き画像データは、例えば主
走査方向、副走査方向共に例えば５ｍｍに１個程度の割
合で求める程度で、かなりの補間精度を維持できること
が分かっている。従って、間引きデータメモリ５６の記
憶容量を小さくすることができる。

【００７１】２次元ムラ補正データＵ_p1〜Ｕ_p5が、図５
に示すように求まると、各２次元ムラ補正データ間のデ
ータは、補間して求める。補間方法として、例えば図に
示すように、Ｕ_p1とＵ_p2 間の画素の２次元ムラ補正デ
ータを求める場合には、Ｕ_p1とＵ_p2 間が直線であるも
のとして、その間を線形補間することにより、２次元ム
ラ補正データＵ_rsを求ることができる。このような補間
は、図１の補間データ作成手段５７が行なう。

【００７２】（４）装置全体の動作補正データ作成用画像データとして、被写体を配置し
ない状態でベタ画像の撮影を行ない、得られた画像デー
タはフレームメモリ１５に格納される。このベタ画像デ
ータを画像１とする。読み取った画像データには、主走
査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ、２次元ムラが混在
している。

【００７３】そこで、補正用データ作成手段５２は、
画像１を主走査方向に平均し、最小平均値との差を主走
査方向のムラ補正データとし、主走査補正データメモリ
５３に記憶する（前述の（３−１）参照）。

【００７４】次に、補正用データ作成手段５２は、画
像１を副走査方向に平均する。副走査方向には、ポリゴ
ンの反射面に起因するムラ（高周波のムラ）と、位置に
起因するムラ（低周波のムラ）がある。そこで、平均化
したデータと最小値との差をとった後にローパスフィル
タでフィルタリングすることにより、高周波ムラを除去
する。

【００７５】この結果、位置に起因する低周波ムラの特
性を表わすデータが残るので、副走査補正データメモリ
５５に記憶する（前述の（３−２）参照）。なお、フィ
ルタリングは、平均化したデータに対して行ない、その
後、最小値との差をとるようにしてもよい。

【００７６】ここで、ローパスフィルタのカットオフ空
間周波数ｆは、ポリゴン面数をＮ、読取画素サイズをｄ
とすると次式を満たすことが望ましい。ｆ≧１／（Ｎ×ｄ）（７）空間周波数は、ポリゴン面数Ｎと読取画素サイズｄの関
数となり、ポリゴン面Ｎが増えるほど、また読取画素サ
イズｄが大きいほど低くなる。従って、高周波ムラは、
周期Ｎ×ｄ毎或いはその１／（整数）周期毎にスジ状の
模様として現れる。このスジを除去するためには、カッ
トオフ空間周波数ｆが（７）式を満たしている必要があ
る。

【００７７】このように、本発明によれば、副走査方向
に存在するポリゴンの反射面に起因するムラ（空間周波
数及びその高調波成分に基づく高周波ムラ）を除去する
ことができる。

【００７８】補正用データ作成手段５２は、前記画像
１を主走査ムラ補正データで補正し、全域にわたる主走
査ムラのない画像データを作成する。この画像データを
画像２とする。ここで、前述の副走査ムラ補正データ
は、画像２から算出するようにしてもよい。

【００７９】次に、補正用データ作成手段５２は、画
像２を偏向した反射面毎に主走査方向に平均し、最小平
均値との差をポリゴンの各反射面毎かつ主走査方向の位
置毎に補正する補正データとし、ポリゴン補正データメ
モリ５４に記憶する（前述の（３−３）の参照）。こ
の時の、補正データ数は、反射面数×主走査画素数とな
る。

【００８０】なお、主走査方向に発生するポリゴンの面
内反射率ムラは低周波であるため、補正データ又は算出
途中のデータを主走査方向にスムージング処理して求め
てもよい。

【００８１】また、ポリゴンムラ補正データは、画像１
を偏向した反射面毎に平均化し、最小平均値との差をポ
リゴンの各反射面毎に補正するデータとしてもよい（前
述の（３−３）の参照）。このポリゴンムラ補正デー
タは、ポリゴン補正データメモリ５４に記憶される。こ
の場合のデータ数は、ポリゴンの反射面数となる。

【００８２】この場合において、主走査方向に発生する
ポリゴンの面内反射率ムラは補正できないが、画像２を
作成する必要がなくなる。なお、画像２からポリゴンの
各反射面毎に補正するデータを作成するようにしてもよ
い。

【００８３】補正用データ作成手段５２は、画像１を
主走査ムラ補正データと副走査ムラ補正データで補正
し、画像３とする。この画像３には、蛍光体プレート感度ムラやＸ線の照
度ムラ以外に、ポリゴンムラをはじめ、Ｘ線モトル（Ｘ
線の位置的なゆらぎ）や、輝尽性蛍光体プレート４の欠
陥や、ゴミ等の高周波ムラが残っている。この高周波ム
ラを除去するため、２次元的にスムージング（周囲画素
との平均化）処理を行ないながら画像３の間引きデータ
を作成し、作成した間引きデータの最小値との差を２次
元ムラ補正データとし、間引きデータメモリ５６に記憶
する（前述の（３−４）参照）。

【００８４】以上の動作により、主走査補正データメ
モリ５３には主走査ムラ補正データが、副走査補正デー
タメモリ５５には副走査ムラ補正データが、ポリゴン補
正データメモリ５４にはポリゴンムラ補正データが、間
引きデータメモリ５６には２次元ムラ補正データがそれ
ぞれ記憶されたことになる。

【００８５】そこで、切替えスイッチＳＷをＢ側に投
入し、被写体画像を輝尽性蛍光体プレート読取部２０で
読み取り、Ａ／Ｄ変換器１２でディジタルデータに変換
された被写体の画像データを補正回路５１に記憶させ
る。以上の読み取り操作を繰り返して、蛍光体プレート
１枚分の読み取り画像データが補正回路５１に記憶され
る。

【００８６】一方、加算手段５８は各データメモリ５３
〜５６に記憶されている補正データを一挙に加算し、補
正データ計算手段５９により所定の処理を経た補正デー
タを順次、画素毎に補正データメモリ６０に記憶させて
いく。

【００８７】この場合において、２次元ムラ補正データ
は、画素数だけ準備されていないので、２次元ムラ補正
データの存在しない点の２次元ムラ補正データは、補間
データ作成手段５７により補間して求めて加算手段５８
に入力するようになっている。以上の加算操作を画素数
だけ繰り返すことにより、補正データメモリ６０には１
枚の蛍光体プレートの各画素点の補正データが記憶され
ることになる。

【００８８】補正回路５１は、読み込んだ被写体画像デ
ータと補正データメモリ６０に記憶されている補正デー
タとの対応をとりながら、被写体画像データから補正デ
ータ（全ての補正データの和）を引算する処理を全画素
数繰り返す。

【００８９】なお、２次元データの補間と各メモリ５３
〜５６に記憶されている補正データの加算と補正データ
計算手段５９による計算の合計処理速度が、画像データ
の読み取り速度以下であれば、読み取りを行ないながら
各画素点の補正データを作成することが可能であり、そ
の場合には、補正データメモリ６０は不要となる。

【００９０】補正回路５１で補正された画像データはフ
レームメモリ１５に順次格納されていく。このように、
本発明によれば、各種のムラをそれぞれ分離して求める
ため、主走査ムラ、副走査ムラ、ポリゴンムラ及び２次
元ムラの全ての補正を容易に行なうことができる。

【００９１】この場合において、ポリゴンで読み取る画
像データは、補正データと読み取り画素データの面を一
致させることが極めて重要である。例えば、ポリゴンの
Ｅ面（図８参照）で読み取った画像データを、ポリゴン
のＧ面の補正データで補正しても良好なムラ補正を行な
うことはできない。ポリゴンのＥ面（図８参照）で読み
取った画像データは、ポリゴンのＥ面の補正データで補
正することにより、良好なムラ補正が行なえることにな
る。

【００９２】そこで、ポリゴン面を識別する必要があ
る。読み取ったポリゴンの面を識別する方法としては、
ポリゴンの各反射面にマーカをつけ、反射面を検出する
方法や、読み取った画像データを解析することにより反
射面を識別する方法等がある。

【００９３】上述のムラ補正処理において、ポリゴン補
正データメモリ５４には、前述の（３−３）ので求め
た反射面毎かつ主走査方向補正データと、（３−３）の
で求めた反射面毎の補正データが存在するが、読み取
り画像を補正するにあたっては、何れか一方のみを用い
る。同時に用いることはない。即ち、ポリゴン補正デー
タメモリ５４は、予め決められたいずれかのポリゴン補
正方法で必要なメモリ量だけあればよい。何れを用いる
かは、ホストＣＰＵから指示したり、装置自体の操作部
から指示してやることができる。

【００９４】上述の実施の形態例において、各画素毎の
補正データを求める際には、補正データ量に制限を加え
ることができる。なお、補正量の制限は主走査ムラ補正
データを例にとって説明するが、他の副走査ムラ補正デ
ータ、ポリゴンムラ補正データ、２次元ムラ補正データ
についても同様にして補正の制限を行なうことができ
る。

【００９５】例えば、ベタ画像の読み取りデータの主走
査方向（ｘ方向）のプロファイル（平均値）として、図
６の（ａ）に示すように、濃度が画面の大部分の領域に
おいて概ね平坦であるが左端部で急低下しているものが
得られたとすると、主走査ムラ補正データは、最小値
（レベル１）で切り出され、（ｂ）に示すようなものと
なる。

【００９６】このため、補正量を読み取り画像データか
ら引算すると、画像データの実質信号範囲が狭くなると
いう不都合を生じることがある。そこで、このような場
合には、（ｃ）に示すように補正量の切りだしレベルを
レベル２まで上げて補正する。

【００９７】このようにした場合、画面の端の部分のム
ラは補正しきれずに残るが、それ以外の面の大部分を占
める領域についてはムラが補正されるので、実用上は許
容できる。ここで、レベル２の値は、許容できるムラ領
域の大きさ、又はムラの値と補正後の実質信号範囲の縮
小量とのかねあいによって決められる。

【００９８】例えば、許容できるムラ領域の大きさは、
面の全画素数に対するムラ領域の画素数の割合によって
規定することができる。即ち、この比率が所定値を越え
ないようにレベル２を決めるのである。これによれば、
比較的単純なアルゴリズムによりレベル２、即ち補正の
制限量を決めることができる。

【００９９】また、上述の実施の形態例では、ある画素
サイズで画像を読み取る場合を示したが、本発明はこれ
に限るものではない。読み取り画素サイズが変更可能な
場合には、上記補正データを複数の画素サイズ毎に求
め、メモリに記憶しておき、実際の撮影時の読み取り画
素サイズに合わせて最適な補正データを用いてムラ補正
を行なうようにすることができる。

【０１００】また、ポリゴンの面数も上述した８面，１
０面に限るものではなく、任意の面数を用いることがで
きる。

【０１０１】

【発明の効果】以上、詳細に説明したように、（１）請求項１記載の発明によれば、複数の反射面を持
つポリゴンで反射偏向された光ビームにより放射線画像
が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元的に走査して発
生する光を検出することにより画像信号を得る放射線画
像読取装置において、読み取った原画像データより主走
査方向に発生するムラを補正するための第１の補正デー
タと、副走査方向に発生するムラを補正するための第２
の補正データとを算出する手段と、原画像データを前記
第１の補正データを用いて補正を行ない、１次補正画像
データを取得する手段と、該１次補正画像データよりポ
リゴンに起因するムラをポリゴンの各反射面毎かつ主走
査方向の位置毎に補正するための第３の補正データを算
出する手段と、原画像データを前記第１、第２の補正デ
ータを用いて補正を行ない、２次補正画像データを取得
する手段と、該２次補正画像データより２次元的に発生
するムラを補正するための第４の補正データを算出する
手段と、前記第１乃至第４の補正データを記憶する手段
と、前記第１乃至第４の補正データより各画素毎の補正
データを算出する手段とを備えることにより、各種のム
ラをそれぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査
ムラ、ポリゴンムラ及び２次元ムラの全ての補正を容易
に行なうことができる。

【０１０２】（２）請求項２記載の発明よれば、複数面
のポリゴンで反射偏向された光ビームにより放射線画像
が蓄積記録された輝尽性蛍光体を２次元的に走査して発
生する光を検出することにより画像信号を得る放射線画
像読取装置において、読み取った原画像データより主走
査方向に発生するムラを補正するための第１の補正デー
タと、副走査方向に発生するムラを補正するための第２
の補正データと、ポリゴンに起因するムラをポリゴンの
各反射面毎に補正するための第３の補正データを算出す
る手段と、原画像データを前記第１、第２の補正データ
を用いて補正を行ない、１次補正画像データを取得する
手段と、該１次元補正画像データより２次元的に発生す
るムラを補正するための第４の補正データを算出する手
段と、前記第１乃至第４の補正データを記憶する手段
と、前記第１乃至第４の補正データより各画素毎の補正
データを算出する手段とを備えることにより、各種のム
ラをそれぞれ分離して求めるため、主走査ムラ、副走査
ムラ、ポリゴンムラ及び２次元ムラの全ての補正を容易
に行なうことができる。

【０１０３】（３）請求項３記載の発明によれば、前記
第２の補正データ算出手段が、原画像データを副走査方
向に平均化したデータをローパスフィルタでフィルタリ
ングする手段を備えることにより、副走査方向に存在す
るポリゴンの反射面に起因するムラ（高周波ムラ）を除
去することができる。

【０１０４】（４）請求項４記載の発明によれば、前記
ローパスフィルタのカットオフ空間周波数ｆを、ポリゴ
ン面数をＮ、読取画素サイズをｄとした時、ｆ≧１／（Ｎ×ｄ）と決めることにより、ポリゴン面数Ｎと読取画素サイズ
ｄにより決定される空間周波数ｆが求まるが、カットオ
フ空間周波数を少なくともｆ以上に設定することによ
り、空間周波数及びその高調波成分に基づくムラを除去
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態例を示すブロック図であ
る。

【図２】輝尽性蛍光体プレート読取部の構成例を示す図
である。

【図３】画像データの画素配置例を示す図である。

【図４】ベタ画像と補正データ作成の説明図である。

【図５】間引き画像データと補間方法の説明図である。

【図６】補正データに制限を加える場合の説明図であ
る。

【図７】輝尽性蛍光体プレートへの画像の記録方法の説
明図である。

【図８】ポリゴンミラーの面による読み取り信号の相違
と輝尽性蛍光体プレートにおける２次元ムラを示す図で
ある。

【符号の説明】

１Ｘ線源２絞り３被写体４輝尽性蛍光体プレート５集光器６フォトマル７電源８アンプ９ログアンプ１０フィルタ１１サンプルールド回路１２Ａ／Ｄ変換器１３レーザ光源１４タイミング回路１５フレームメモリ１６コントローラ１７プリンタ・自現機３２ポリゴン走査機構５０補正手段５１補正回路５２補正用データ作成手段５３走査補正データメモリ５４ポリゴン補正データメモリ５５副走査補正データメモリ５６間引きデータメモリ５７補間データ作成手段５８加算手段５９補正データ計算手段６０補正データメモリ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の反射面を持つポリゴンで反射偏向
された光ビームにより放射線画像が蓄積記録された輝尽
性蛍光体を２次元的に走査して発生する光を検出するこ
とにより画像信号を得る放射線画像読取装置において、読み取った原画像データより主走査方向に発生するムラ
を補正するための第１の補正データと、副走査方向に発
生するムラを補正するための第２の補正データとを算出
する手段と、原画像データを前記第１の補正データを用いて補正を行
ない、１次補正画像データを取得する手段と、該１次補正画像データよりポリゴンに起因するムラをポ
リゴンの各反射面毎かつ主走査方向の位置毎に補正する
ための第３の補正データを算出する手段と、原画像データを前記第１、第２の補正データを用いて補
正を行ない、２次補正画像データを取得する手段と、該２次補正画像データより２次元的に発生するムラを補
正するための第４の補正データを算出する手段と、前記第１乃至第４の補正データを記憶する手段と、前記第１乃至第４の補正データより各画素毎の補正デー
タを算出する手段とを備えたことを特徴とする放射線画
像読取装置。
【請求項２】複数面のポリゴンで反射偏向された光ビ
ームにより放射線画像が蓄積記録された輝尽性蛍光体を
２次元的に走査して発生する光を検出することにより画
像信号を得る放射線画像読取装置において、読み取った原画像データより主走査方向に発生するムラ
を補正するための第１の補正データと、副走査方向に発
生するムラを補正するための第２の補正データと、ポリ
ゴンに起因するムラをポリゴンの各反射面毎に補正する
ための第３の補正データを算出する手段と、原画像データを前記第１、第２の補正データを用いて補
正を行ない、１次補正画像データを取得する手段と、該１次元補正画像データより２次元的に発生するムラを
補正するための第４の補正データを算出する手段と、前記第１乃至第４の補正データを記憶する手段と、前記第１乃至第４の補正データより各画素毎の補正デー
タを算出する手段とを備えたことを特徴とする放射線画
像読取装置。
【請求項３】前記第２の補正データ算出手段が、原画
像データを副走査方向に平均化したデータをローパスフ
ィルタでフィルタリングする手段を備えることを特徴と
する請求項１乃至２の何れかに記載の放射線画像読取装
置。
【請求項４】前記ローパスフィルタのカットオフ空間
周波数ｆが、ポリゴン面数をＮ、読取画素サイズをｄと
した時、ｆ≧１／（Ｎ×ｄ）であることを特徴とする請求項３記載の放射線画像読取
装置。