JPH10111216A - 短波長用検出光学装置 - Google Patents

短波長用検出光学装置

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JPH10111216A
JPH10111216A JP8285964A JP28596496A JPH10111216A JP H10111216 A JPH10111216 A JP H10111216A JP 8285964 A JP8285964 A JP 8285964A JP 28596496 A JP28596496 A JP 28596496A JP H10111216 A JPH10111216 A JP H10111216A
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JP
Japan
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light
short
image
wavelength
optical system
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Application number
JP8285964A
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English (en)
Inventor
Keiji Inada
惠司 稲田
Hiroaki Tanaka
宏明 田中
Yutaka Ichihara
裕 市原
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 短波長光用TVカメラ等の短波長用の検出光
学系を用いることなく、像の検出を行うことができ、検
出光学系が安価で、メンテナンスも容易な短波長用検出
光学装置を提供する。 【解決手段】 「短波長光光源」としてのレーザ光源1
1と、該光源11からの光束を参照面14aおよび被検
面15aへ導く一方前記参照面14aおよび被検面15
aからの反射光を「結像光学系」としてのフォーカシン
グレンズ16へ導く半透過鏡13と、該半透過鏡13か
らの反射光を結像させるフォーカシングレンズ16と、
該フォーカシングレンズ16を介して結像された干渉像
を観測する「検出光学系」としてのズームレンズ17及
び可視光用TVカメラ18を備え、前記フォーカシング
レンズ16による干渉像の結像位置に、前記短波長光に
よる干渉像を可視光による干渉像に変換する「可視光変
換手段」としてのスクリーン19を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、短波長光が用い
られる短波長用検出光学装置、例えば、短波長光を用い
てレンズやミラー等の光学部品の透過波面形状や面形状
を測定する短波長干渉計に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、レンズやミラーなどの透過波
面形状や面形状を高精度に測定するために、各種干渉計
が用いられている。干渉計を用いた測定方法では、光源
からの光を参照面と被検面にそれぞれ当てて反射光を
得、その双方の反射光を干渉させることにより得られた
干渉縞を撮像手段で取り込んで解析するというものであ
る。このような干渉計として、光源からの光の分割方式
によって、フィゾー干渉計、トワイマン・グリーン干渉
計などがある。
【0003】最近、各種測定装置や加工装置に光源とし
てエキシマレーザなどが用いられるようになった。この
ような短波長光(例えば、波長が248nm以下)を用
いることにより高精度な測定を行うことができ、この測
定を加工にフィードバックすることで微細な加工を行う
ことができる。短波長光を用いる測定装置や加工装置に
は多数の光学部品が使われており、これらの光学部品の
面形状や透過波面形状には高い精度が要求される。特
に、これらの光学部品の透過波面形状測定には前述した
干渉計の測定光としてその装置に利用する短波長光を用
いることになる。もちろん面形状測定においても、波長
分解能の同じ干渉計であれば、波長が短いほど高分解能
化がはかれる。
【0004】図2はそのような短波長光を用いた、従来
のフィゾー干渉計の光学系の構成図である。レーザ光源
21より出射された短波長光はビームエキスパンダ22
により必要な光束に拡大され、半透過鏡23を通過す
る。通過した光束はフィゾーレンズ24に入射し、一部
が、フィゾーレンズ24の参照面24aで反射して半透
過鏡23に戻る。一方、残りの光束は、被検物25の被
検面25aで反射してフィゾーレンズ24を通過し、半
透過鏡23に戻る。これらの光束は干渉しながら半透過
鏡23で反射され、フォーカシングレンズ26により結
像位置に干渉縞の空間像を形成する。この干渉縞の空間
像を、ズームレンズ27により必要な大きさに変えて、
短波長光用TVカメラ28に取り込むという構成になっ
ている。この短波長光用TVカメラ28には、短波長光
用として高価な石英ガラス28aや特殊エリアセンサ2
8bが設けられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の干渉計においては、干渉縞を取り込む撮像
手段として、可視光に感度がよくても短波長光に感度の
悪い、通常の撮像管やCCD素子を用いたTVカメラを
使うことができなかった。従って、短波長光に感度のよ
い特別な短波長光用TVカメラ28を用意しなければな
らず、干渉計が高価になってしまうという問題点があっ
た。また、短波長光用TVカメラ28の受光部は短波長
光により劣化するが、カメラに組み込まれているため、
交換が容易ではないという欠点もあった。
【0006】そこで、この発明は、短波長光用TVカメ
ラ等の短波長用の検出光学系を用いることなく、像の検
出を行うことができ、検出光学系が安価で、メンテナン
スも容易な短波長用検出光学装置を提供することを課題
とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】かかる課題を達成するた
めに、請求項1に記載の発明は、短波長光光源と、該光
源からの光束を結像させる結像光学系と、該結像光学系
による結像位置に配設され、前記短波長光による像を可
視光による像に変換する可視光変換手段と、該可視光に
よる像を観測する検出光学系とを有する短波長用検出光
学装置としたことを特徴とする。
【0008】請求項2に記載の発明は、短波長光光源
と、該光源からの光束を参照面および被検面へ導く一方
前記参照面および被検面からの反射光を結像光学系へ導
く半透過鏡と、該半透過鏡からの反射光又は透過光を結
像させる前記結像光学系と、該結像光学系を介して結像
された干渉像を観測する検出光学系とを備えた短波長用
検出光学装置において、前記結像光学系による干渉像の
結像位置に、前記短波長光による干渉像を可視光による
干渉像に変換する可視光変換手段を設けた短波長用検出
光学装置としたことを特徴とする。
【0009】請求項3に記載の発明は、請求項1又は2
に記載の構成に加え、前記短波長光による像を可視光に
よる像に変換する可視光変換手段が、前記短波長光を照
射されると可視光を発する物質を表面に被膜したスクリ
ーンであることを特徴とする。
【0010】請求項4に記載の発明は、請求項3に記載
の構成に加え、前記スクリーン表面を被膜した物質が3
00nmより短い波長光を浴びて可視光を発する物質で
あることを特徴とする。
【0011】請求項5に記載の発明は、請求項1又は2
に記載の構成に加え、前記短波長光による像を可視光に
よる像に変換する可視光変換手段が、前記短波長光を照
射されると可視光を発する物質からなる板状のスクリー
ンであることを特徴とする。
【0012】請求項6に記載の発明は、請求項1乃至5
の何れかに一つに記載の構成に加え、前記検出光学系
が、可視光に変換された像を可視用TVカメラで観測可
能とする光学系及びTVカメラを有することを特徴とす
る。
【0013】請求項7に記載の発明は、請求項1乃至5
の何れかに一つに記載の構成に加え、前記検出光学系に
可視のズームレンズ、又は変倍レンズを用いることを特
徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて説明する。
【0015】図1には、「短波長用検出光学装置」とし
て短波長干渉計に、この発明を適用した発明の実施の形
態を示す。
【0016】図中符号11は「短波長光光源」としての
レーザ光源で、このレーザ光源11としては、ArFレ
ーザ(波長約193nm)、KrFレーザ(波長約24
8nm)等があげられる。
【0017】このレーザ光源11より出射された短波長
光はビームエキスパンダ12により必要な光束に拡大さ
れ、半透過鏡13を通過する。通過した光束はフィゾー
レンズ14に入射し、一部が、フィゾーレンズ14の参
照面14aで反射して半透過鏡13に戻る。一方、残り
の光束は、被検物15の被検面15aで反射してフィゾ
ーレンズ14を通過し、半透過鏡13に戻る。これらの
光束は干渉しながら半透過鏡13で反射され、「結像光
学系」としてのフォーカシングレンズ16により、結像
位置に置かれた「可視光変換手段」としてのスクリーン
19の表面上に干渉縞を結像する。
【0018】このスクリーン19と前記レーザ光源11
との間の光学系に用いられる光学素材としては、蛍石や
石英(合成石英を含む)が望ましく、又、光学系の面精
度はλ/10(λは光源の波長)程度が望ましい。
【0019】また、そのスクリーン19は、表面に短波
長光に反応する蛍光膜19aが形成されており、この蛍
光膜19aにより、干渉縞は可視光による像に置き換え
られる。この可視光の波長としては、400nm〜70
0nmが望ましい。この蛍光膜19aは、例えば、真空
蒸着、スパッタリングなどにより均一に被膜されてい
る。また、このスクリーン19の裏面側には、可視光用
の反射防止膜19bが真空蒸着等により形成されてい
る。
【0020】このスクリーン19の表面に被膜する物質
は、その蛍光膜19aに限らず、短波長光を浴びて可視
光を発する物質であれば他のものでも良い。また、スク
リーン19自体を、短波長光を浴びて可視光を発する物
質で形成することもできる。このものとしては、例え
ば、光を透過する蛍光ガラス,有機ポリマー等が考えら
れる。
【0021】そして、このスクリーン19により、可視
光に変換された干渉像を、ズームレンズ17により必要
な大きさに変えて、一般の可視光用TVカメラ18に取
り込む、という構成になっている。この可視光用TVカ
メラ18には、通常のカバーガラス18a及び通常のエ
リアセンサ18bが配設されている。この可視光用TV
カメラ18に取り込まれた像は、モニター(不図示)に
より見ることができる。また、可視光用TVカメラ18
から解析装置(不図示)に取り込んで、画像処理などに
よって解析を行い、測定データを出力することができ
る。このTVカメラ18としては、前記可視光の波長4
00nm〜700nmの範囲で感度特性が良好なものが
望ましい。
【0022】かかるズームレンズ17及び可視光用TV
カメラ18により、干渉像を観測する「検出光学系」が
構成され、このズームレンズ17が、可視光に変換され
た像を可視用TVカメラ18で観測可能とする光学系で
ある。
【0023】このようにフォーカシングレンズ16によ
り結像された干渉縞をスクリーン19の表面上の蛍光膜
19aにより、可視光の干渉縞に変換したため、この蛍
光膜19aより後ろの光学系、つまり、反射防止膜19
b,ズームレンズ17及びTVカメラ18等を可視光用
のものとすることができ、短波長光用の高価なものを使
用する必要がないと共に、光学系の損傷も短波長光を使
用しているものと比較すると低減することができ、メン
テナンスも容易である。また、スクリーン19のズーム
レンズ17側に短波長光を遮断するフィルターを入れれ
ば、変換されなかった短波長光の影響を防止できる。但
し、この変換されなかった短波長光の影響は、そのフィ
ルターを入れなくても殆ど問題にならない。
【0024】なお、上記実施の形態では、短波長干渉計
に、この発明を適用したが、これに限らず、短波長光が
透過する光学系を有する装置で有れば、他の短波長用検
出光学装置にも適用できることは勿論である。また、上
記実施の形態では、半透過鏡23を透過した後、フィゾ
ーレンズ14及び被検物15で反射され、更に、この反
射光を半透過鏡13で反射して結像する構成となってい
るが、これに限らず、レーザ光源11からの光を半透過
鏡23で反射した後、フィゾーレンズ14及び被検物1
5で反射された光を半透過鏡23を透過させて結像する
ようにすることもできる。
【0025】
【発明の効果】以上説明してきたように、請求項1に記
載の発明によれば、短波長光光源からの光束を結像させ
る結像光学系による結像位置に、短波長光による像を可
視光による像に変換する可視光変換手段を設けたため、
検出光学系は可視光用で良いことから安価にできると共
に、メンテナンスも容易になる。また、検出光学系の前
でインコヒーレントな蛍光に変換しているので、この検
出光学系の内部反射による余計な干渉縞(スペックル)
の発生も除去できる。
【0026】請求項2に記載された発明によれば、結像
光学系による干渉像の結像位置に、短波長光による干渉
像を可視光による干渉像に変換する可視光変換手段を設
けたため、干渉像を観測する検出光学系は、短波長光用
とする必要が無く、可視光用で良いことから安価にでき
ると共に、メンテナンスも容易になる。また、検出光学
系の前でインコヒーレントな蛍光に変換しているので、
この検出光学系の内部反射による余計な干渉縞(スペッ
クル)の発生も除去できる。
【0027】請求項3に記載された発明によれば、請求
項1又は2の効果に加え、短波長光による像を可視光に
よる像に変換する可視光変換手段を、短波長光を照射さ
れると可視光を発する物質を表面に被膜したスクリーン
とすることにより、この可視光変換手段を比較的に簡単
に成形できると共に、かかる物質を表面側に被膜するこ
とで、裏面側に形成する反射防止膜は、可視光用のもの
を使用できる。
【0028】請求項4に記載された発明によれば、請求
項3に記載の効果と同様の効果が得られる。
【0029】請求項5に記載された発明によれば、請求
項1又は2に記載の効果と同様の効果が得られる。
【0030】請求項6に記載された発明によれば、請求
項1乃至5のいずれかに記載の効果に加え、可視光に変
換された像を可視用TVカメラで観測可能とする光学系
及びTVカメラを可視光用とすることができ、安価にで
きると共に、メンテナンスも容易になる。また、可視光
に変換された像を可視用TVカメラで観測可能とする光
学系(例えば、ズームレンズ)の前でインコヒーレント
な蛍光に変換しているので、レンズ構成枚数の多いズー
ムレンズの内部反射による余計な干渉縞(スペックル)
の発生も除去できる。
【0031】請求項7に記載された発明によれば、請求
項1乃至5のいずれかに記載の効果に加え、検出光学系
に可視のズーム又は変倍レンズを用いることにより、安
価にできると共に、メンテナンスも容易になる。また、
可視光に変換された像をズームレンズの前でインコヒー
レントな蛍光に変換しているので、レンズ構成枚数の多
いズームレンズの内部反射による余計な干渉縞(スペッ
クル)の発生も除去できる、という実用上有益な効果を
発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の形態に係る短波長干渉計の概
略図である。
【図2】従来の短波長干渉計を示す概略図である。
【符号の説明】
11 レーザ光源(短波長光光源) 12 ビームエキスパンダ 13 半透過鏡 14 フィゾーレンズ 14a 参照面 15 被検物 15a 被検面 16 フォーカシングレンズ(結像光学系) 17 ズームレンズ 18 可視光用TVカメラ 19 スクリーン 19a 蛍光膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI G01M 11/00 G01M 11/00 M

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 短波長光光源と、該光源からの光束を結
    像させる結像光学系と、該結像光学系による結像位置に
    配設され、前記短波長光による像を可視光による像に変
    換する可視光変換手段と、該可視光による像を観測する
    検出光学系とを有することを特徴とする短波長用検出光
    学装置。
  2. 【請求項2】 短波長光光源と、該光源からの光束を参
    照面および被検面へ導く一方前記参照面および被検面か
    らの反射光を結像光学系へ導く半透過鏡と、該半透過鏡
    からの反射光又は透過光を結像させる前記結像光学系
    と、該結像光学系を介して結像された干渉像を観測する
    検出光学系とを備えた短波長用検出光学装置において、 前記結像光学系による干渉像の結像位置に、前記短波長
    光による干渉像を可視光による干渉像に変換する可視光
    変換手段を設けたことを特徴とする短波長用検出光学装
    置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2に記載の短波長用検出光
    学装置において、前記短波長光による像を可視光による
    像に変換する可視光変換手段が、前記短波長光を照射さ
    れると可視光を発する物質を表面に被膜したスクリーン
    であることを特徴とする短波長用検出光学装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の短波長用検出光学装置
    において、前記スクリーン表面を被膜した物質が300
    nmより短い波長光を浴びて可視光を発する物質である
    ことを特徴とする短波長用検出光学装置。
  5. 【請求項5】 請求項1又は2に記載の短波長用検出光
    学装置において、前記短波長光による像を可視光による
    像に変換する可視光変換手段が、前記短波長光を照射さ
    れると可視光を発する物質からなる板状のスクリーンで
    あることを特徴とする短波長用検出光学装置。
  6. 【請求項6】 請求項1乃至5の何れかに一つに記載の
    短波長用検出光学装置において、前記検出光学系が、可
    視光に変換された像を可視用TVカメラで観測可能とす
    る光学系及びTVカメラを有することを特徴とする短波
    長用検出光学装置。
  7. 【請求項7】 請求項1乃至5の何れかに一つに記載の
    短波長用検出光学装置において、前記検出光学系に可視
    のズームレンズ、又は変倍レンズを用いることを特徴と
    する短波長用検出光学装置。
JP8285964A 1996-10-08 1996-10-08 短波長用検出光学装置 Pending JPH10111216A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101915555A (zh) * 2010-07-09 2010-12-15 上海理工大学 采用电控变焦透镜作为共焦显微系统轴向扫描方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101915555A (zh) * 2010-07-09 2010-12-15 上海理工大学 采用电控变焦透镜作为共焦显微系统轴向扫描方法

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