JPH10105902A - 磁気ディスクの検査方法 - Google Patents
磁気ディスクの検査方法Info
- Publication number
- JPH10105902A JPH10105902A JP25313196A JP25313196A JPH10105902A JP H10105902 A JPH10105902 A JP H10105902A JP 25313196 A JP25313196 A JP 25313196A JP 25313196 A JP25313196 A JP 25313196A JP H10105902 A JPH10105902 A JP H10105902A
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- Japan
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- disk
- magnetic
- magnetic disk
- radial direction
- magnetic field
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- Pending
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- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 微少な欠陥をも見落すことなく高速で検査可
能な磁気ディスクの検査方法を提供する。 【解決手段】 磁気ディスクを半径方向に磁化した後、
該磁気ディスク表面から発生する漏れ磁束を磁気センサ
ーによって検出することを特徴とする磁気ディスクの検
査方法。
能な磁気ディスクの検査方法を提供する。 【解決手段】 磁気ディスクを半径方向に磁化した後、
該磁気ディスク表面から発生する漏れ磁束を磁気センサ
ーによって検出することを特徴とする磁気ディスクの検
査方法。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスクの欠
陥の有無を検査する方法に関する。特に、高速でほそい
欠陥をも検査し得る磁気ディスクの検査方法に関する。
陥の有無を検査する方法に関する。特に、高速でほそい
欠陥をも検査し得る磁気ディスクの検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の磁気ディスクの検査においては、
磁気ヘッドによって、実用される場合と同様に実際に信
号を１トラックずつ、書き込み、読み出しを行って、エ
ラーを検出する、という方法がとられている。その際使
用される信号の書き込み電流値はディスクに記録するに
十分な大きさであり、また信号周波数は、ディスク上の
記録密度が、通常実用時ドライブで使用される際の記録
密度と同程度になるような値が用いられる。
磁気ヘッドによって、実用される場合と同様に実際に信
号を１トラックずつ、書き込み、読み出しを行って、エ
ラーを検出する、という方法がとられている。その際使
用される信号の書き込み電流値はディスクに記録するに
十分な大きさであり、また信号周波数は、ディスク上の
記録密度が、通常実用時ドライブで使用される際の記録
密度と同程度になるような値が用いられる。
【０００３】しかるに近年、磁気ディスクの線記録密度
は飛躍的に上昇しており、それに伴い、使用周波数も上
がってきている。従って、実用時の周波数で記録再生を
行なう従来の検査方法では検査機を高周波数対応させる
必要があるため検査機がコスト高になるという問題があ
った。また、近年、磁気ディスクはトラック密度が高く
なり、従来のように１トラックずつ、書き込み読み出し
を繰り返す検査方法では、検査時間が長くかかる、とい
う問題が生じている。この問題を回避するため、トラッ
クを一定間隔ずつとばして検査する、という方法がとら
れることもあるが、その場合、とばされたトラックにあ
る欠陥は検出できないため、そこに円周方向のほそく長
い欠陥があった場合には、ドライブに組み込んだ際エラ
ー訂正が不可能となり、データの読み出しができなくな
るという問題があった。
は飛躍的に上昇しており、それに伴い、使用周波数も上
がってきている。従って、実用時の周波数で記録再生を
行なう従来の検査方法では検査機を高周波数対応させる
必要があるため検査機がコスト高になるという問題があ
った。また、近年、磁気ディスクはトラック密度が高く
なり、従来のように１トラックずつ、書き込み読み出し
を繰り返す検査方法では、検査時間が長くかかる、とい
う問題が生じている。この問題を回避するため、トラッ
クを一定間隔ずつとばして検査する、という方法がとら
れることもあるが、その場合、とばされたトラックにあ
る欠陥は検出できないため、そこに円周方向のほそく長
い欠陥があった場合には、ドライブに組み込んだ際エラ
ー訂正が不可能となり、データの読み出しができなくな
るという問題があった。
【０００４】また、実用機よりトラック幅の広いヘッド
を用いれば、トラックを飛ばさずとも、検査の高速化が
はかれるが、広幅のヘッドを使用すると、欠陥の幅が狭
い場合、磁気ヘッドは欠陥部と正常部に亘って読み取り
を行ない、両者の重畳信号が出力されるため、欠陥部に
よる出力変化の変化率が小さくなってその検知が難しく
なり、微少な欠陥の検出が困難になる、という問題があ
った。
を用いれば、トラックを飛ばさずとも、検査の高速化が
はかれるが、広幅のヘッドを使用すると、欠陥の幅が狭
い場合、磁気ヘッドは欠陥部と正常部に亘って読み取り
を行ない、両者の重畳信号が出力されるため、欠陥部に
よる出力変化の変化率が小さくなってその検知が難しく
なり、微少な欠陥の検出が困難になる、という問題があ
った。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は斯かる実情に
鑑みなされたものであり、その目的は、微少な欠陥をも
見落すことなく高速で検査可能な磁気ディスクの検査方
法を提供するものである。
鑑みなされたものであり、その目的は、微少な欠陥をも
見落すことなく高速で検査可能な磁気ディスクの検査方
法を提供するものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、磁気ディスク
を半径方向に磁化した後、該磁気ディスク表面から発生
する漏れ磁束を磁気センサーによって検出することを特
徴とする磁気ディスク等の検査方法を提供するものであ
る。
を半径方向に磁化した後、該磁気ディスク表面から発生
する漏れ磁束を磁気センサーによって検出することを特
徴とする磁気ディスク等の検査方法を提供するものであ
る。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明は、磁気ディスクの欠陥の
有無を検査する方法にある。磁気ディスクとしては、磁
気を用いて書き込み及び／又は読み出しを行なうもので
あれば特に制限はなく、γ−Ｆｅ2 Ｏ3 等のセラミック
ス磁性微粉末、又はＦｅ等の金属微粒子磁性粉を塗布し
て形成された磁気ディスク、あるいは、蒸着、スパッタ
リング、メッキ等によって形成された金属薄膜からなる
磁気ディスク等に適用することができる。
有無を検査する方法にある。磁気ディスクとしては、磁
気を用いて書き込み及び／又は読み出しを行なうもので
あれば特に制限はなく、γ−Ｆｅ2 Ｏ3 等のセラミック
ス磁性微粉末、又はＦｅ等の金属微粒子磁性粉を塗布し
て形成された磁気ディスク、あるいは、蒸着、スパッタ
リング、メッキ等によって形成された金属薄膜からなる
磁気ディスク等に適用することができる。
【０００８】また、磁場の方向は、長手記録、垂直記録
を問わない。本発明は、一般の検出法では検出もれが発
生するおそれのある円周方向のほそい欠陥をも検知する
ことにある。即ち、前述したように、従来法の欠陥測定
では、時間短縮のためトラックを飛ばして検査するの
で、円周上のほそい欠陥は見逃してしまう可能性があ
る。
を問わない。本発明は、一般の検出法では検出もれが発
生するおそれのある円周方向のほそい欠陥をも検知する
ことにある。即ち、前述したように、従来法の欠陥測定
では、時間短縮のためトラックを飛ばして検査するの
で、円周上のほそい欠陥は見逃してしまう可能性があ
る。
【０００９】しかるに、磁気ディスクに欠陥がある場
合、磁気ディスクを半径方向に一様に磁化するとその部
分で漏れ磁束が生じる。従って、磁気ディスク表面の漏
れ磁束を検出することによって、かかる円周方向のほそ
い欠陥ももれなく検出することができる。本発明は半径
方向に一様に磁化を行なう。円周方向に磁化を行なうと
十分な漏れ磁束が発生せず、半径方向に磁化した時の方
が漏れ磁束の量が多くなる効果がある。本発明に用いら
れる、磁気ディスクを半径方向に磁化する方法としては
外部磁界が用いられ、外部磁界としては、図１の電磁石
を用いることができる。
合、磁気ディスクを半径方向に一様に磁化するとその部
分で漏れ磁束が生じる。従って、磁気ディスク表面の漏
れ磁束を検出することによって、かかる円周方向のほそ
い欠陥ももれなく検出することができる。本発明は半径
方向に一様に磁化を行なう。円周方向に磁化を行なうと
十分な漏れ磁束が発生せず、半径方向に磁化した時の方
が漏れ磁束の量が多くなる効果がある。本発明に用いら
れる、磁気ディスクを半径方向に磁化する方法としては
外部磁界が用いられ、外部磁界としては、図１の電磁石
を用いることができる。
【００１０】即ち、磁気ディスク１の両面に円盤状電磁
石２，２′を臨接して配設する。円盤状電磁石２，２′
は夫々コイル３，３′とヨーク４ａ，４ｂ，４ａ′，４
ｂ′から形成され磁気ディスク１の全面を覆うように構
成されており、コイル３，３′にパルス電流を印加する
と、中央ヨーク４ａ，４ａ′と外周の環状ヨーク４ｂ，
４ｂ′間に磁界が発生し、その結果磁気ディスク１は半
径方向に一様に磁化される。
石２，２′を臨接して配設する。円盤状電磁石２，２′
は夫々コイル３，３′とヨーク４ａ，４ｂ，４ａ′，４
ｂ′から形成され磁気ディスク１の全面を覆うように構
成されており、コイル３，３′にパルス電流を印加する
と、中央ヨーク４ａ，４ａ′と外周の環状ヨーク４ｂ，
４ｂ′間に磁界が発生し、その結果磁気ディスク１は半
径方向に一様に磁化される。
【００１１】また、図２に示すように検査用の磁気セン
サーの直前に着磁用の永久磁石を配置する方法などが考
えられる。即ち、漏れ磁界を検出するための磁気センサ
ー５の前方に着磁用の永久磁石６を磁界が磁気ディスク
１の半径方向を向くように配設される。発生磁場として
は、ディスクを十分に磁化する必要があることから、磁
気ディスクの磁性材料の保磁力の１．５倍以上の大きさ
があることが望ましい。
サーの直前に着磁用の永久磁石を配置する方法などが考
えられる。即ち、漏れ磁界を検出するための磁気センサ
ー５の前方に着磁用の永久磁石６を磁界が磁気ディスク
１の半径方向を向くように配設される。発生磁場として
は、ディスクを十分に磁化する必要があることから、磁
気ディスクの磁性材料の保磁力の１．５倍以上の大きさ
があることが望ましい。
【００１２】近年、ディスクの保磁力が上がってきてお
り、それに伴い必要な磁場をも大きくなってきている。
電磁石にパルス電流を流したときに発生するパルス磁界
を用いれば、保磁力の大きなディスクも十分に磁化する
ことができる。検査の方法は従来のように磁気センサー
１トラックずつ移動していくことも考えられるが、螺旋
状に移動した方がトラック間を移動する時間が無駄にな
らないため、検査時間の短縮のためには好ましい。
り、それに伴い必要な磁場をも大きくなってきている。
電磁石にパルス電流を流したときに発生するパルス磁界
を用いれば、保磁力の大きなディスクも十分に磁化する
ことができる。検査の方法は従来のように磁気センサー
１トラックずつ移動していくことも考えられるが、螺旋
状に移動した方がトラック間を移動する時間が無駄にな
らないため、検査時間の短縮のためには好ましい。
【００１３】使用する磁気センサーとしては、ヨークと
コイルを用いたインダクティブヘッド、磁場を電気抵抗
変化として検出するＭＲヘッド、あるいは磁場を電圧変
化として検出するようにしたホールセンサー等を用いる
ことができるが、ＭＲヘッドは感度がよく磁気センサー
として好ましい。図３に従来法による欠陥検出波形と本
発明による欠陥検出波形を示す。従来法によるときは、
図３（Ｂ）に示すように、正常部では大きな信号出力７
ａが出力され、異常部があると信号出力７ａに低下が生
じ異常出力７ｂが生じる。しかし、異常出力は強い信号
出力７ａの変化として生じるためその検知は難しい。し
かるに、本発明方法では、正常部では殆ど磁気もれがな
く、磁気もれによる信号を含まないノイズ出力７ａが出
力され、欠陥部があるとその部分から磁気もれが検出さ
れ異常部信号７ｂが検出される。
コイルを用いたインダクティブヘッド、磁場を電気抵抗
変化として検出するＭＲヘッド、あるいは磁場を電圧変
化として検出するようにしたホールセンサー等を用いる
ことができるが、ＭＲヘッドは感度がよく磁気センサー
として好ましい。図３に従来法による欠陥検出波形と本
発明による欠陥検出波形を示す。従来法によるときは、
図３（Ｂ）に示すように、正常部では大きな信号出力７
ａが出力され、異常部があると信号出力７ａに低下が生
じ異常出力７ｂが生じる。しかし、異常出力は強い信号
出力７ａの変化として生じるためその検知は難しい。し
かるに、本発明方法では、正常部では殆ど磁気もれがな
く、磁気もれによる信号を含まないノイズ出力７ａが出
力され、欠陥部があるとその部分から磁気もれが検出さ
れ異常部信号７ｂが検出される。
【００１４】
【実施例】以下に、実施例により本発明を更に具体的に
説明するが、本発明はその要旨を超えない限り以下の実
施例によって限定されるものではない。 （実施例１）あらかじめ図１に示すような電磁石（Ｈ＝
５ｋＯｅ、パルス磁界）によって、保磁力２．２ｋＯｅ
の３．５インチの磁気ディスクを半径方向に磁化し、ト
ラック幅２．５μｍのＭＲヘッドによって、磁気ディス
クの内周部から外周部に向かって、１周につきヘッドが
２．５μｍ移動するように螺旋状に、表面のもれ磁束を
検査したところ、従来（比較例１）の検査方法と同様に
欠陥を検出することができた。検査に要した時間は約１
０分であった。
説明するが、本発明はその要旨を超えない限り以下の実
施例によって限定されるものではない。 （実施例１）あらかじめ図１に示すような電磁石（Ｈ＝
５ｋＯｅ、パルス磁界）によって、保磁力２．２ｋＯｅ
の３．５インチの磁気ディスクを半径方向に磁化し、ト
ラック幅２．５μｍのＭＲヘッドによって、磁気ディス
クの内周部から外周部に向かって、１周につきヘッドが
２．５μｍ移動するように螺旋状に、表面のもれ磁束を
検査したところ、従来（比較例１）の検査方法と同様に
欠陥を検出することができた。検査に要した時間は約１
０分であった。
【００１５】（比較例１）実施例１と同様の磁気ディス
ク（半径方向に磁化していないもの）の内周部から外周
部に向かって、２．５μｍピッチで移動しながら、１ト
ラックずつ信号の書き込み、読み出しを繰り返した。具
体的には、以下の手順でエラーの測定を行った。 １．一定周波数（０．５ｕｍ）の信号書き込み。 ２．平均再生出力のレベルの６５％以下の出力をエラー
として検出。 ３．次のトラックへ移動。 かかった時間は約３０分であった。
ク（半径方向に磁化していないもの）の内周部から外周
部に向かって、２．５μｍピッチで移動しながら、１ト
ラックずつ信号の書き込み、読み出しを繰り返した。具
体的には、以下の手順でエラーの測定を行った。 １．一定周波数（０．５ｕｍ）の信号書き込み。 ２．平均再生出力のレベルの６５％以下の出力をエラー
として検出。 ３．次のトラックへ移動。 かかった時間は約３０分であった。
【００１６】
【発明の効果】本発明によれば、磁気ディスクを半径方
向に磁化し、磁気センサーによって該磁気ディスクから
の漏れ磁束を検出することにより、該磁気ディスクの欠
陥が検出され、磁気ディスクの検査時間の短縮をはかる
ことができる。
向に磁化し、磁気センサーによって該磁気ディスクから
の漏れ磁束を検出することにより、該磁気ディスクの欠
陥が検出され、磁気ディスクの検査時間の短縮をはかる
ことができる。
【図１】円盤状電磁石を用いて磁化する状態を示す縦断
面図。
面図。
【図２】永久磁石を用いて磁化する状態を示す斜視図。
【図３】検査の際の出力を示す出力波形図で（Ａ）は本
発明方法、（Ｂ）は従来方法を示す。
発明方法、（Ｂ）は従来方法を示す。
１ 磁気ディスク ２ 円盤状電磁石 ５ 磁気センサー ６ 永久磁石 ７ａ 正常部出力 ７ｂ 欠陥部出力
Claims (6)
- 【請求項１】 磁気ディスクを半径方向に磁化した後、
該磁気ディスク表面から発生する漏れ磁束を磁気センサ
ーによって検出することを特徴とする磁気ディスクの検
査方法。 - 【請求項２】 永久磁石または電磁石からなる外部磁界
により、磁気ディスクを半径方向に磁化することを特徴
とする請求項１記載の磁気ディスクの検査方法。 - 【請求項３】 磁気ディスクの両面に円盤状電磁石を臨
接して配置し、円盤状電磁石にパルス電流を印加するこ
とによって磁気ディスクを半径方向に磁化することを特
徴とする請求項２記載の磁気ディスクの検査方法。 - 【請求項４】 磁気センサーを磁気ディスクに対してス
パイラル状に掃引することによって、漏れ磁束を検出す
ることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の磁
気ディスクの検査方法。 - 【請求項５】 磁気センサーがＭＲヘッドであることを
特徴とする請求項１〜４いずれかに記載の磁気ディスク
の検査方法。 - 【請求項６】 磁気ディスクを半径方向に磁化する際の
外部磁界の大きさが、該磁気ディスクの保磁力の１．５
倍以上であることを特徴とする請求項１〜５いずれかに
記載の磁気ディスクの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25313196A JPH10105902A (ja) | 1996-09-25 | 1996-09-25 | 磁気ディスクの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25313196A JPH10105902A (ja) | 1996-09-25 | 1996-09-25 | 磁気ディスクの検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10105902A true JPH10105902A (ja) | 1998-04-24 |
Family
ID=17246943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25313196A Pending JPH10105902A (ja) | 1996-09-25 | 1996-09-25 | 磁気ディスクの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10105902A (ja) |
-
1996
- 1996-09-25 JP JP25313196A patent/JPH10105902A/ja active Pending
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