JPH0990425A - 表示装置 - Google Patents
表示装置Info
- Publication number
- JPH0990425A JPH0990425A JP26499695A JP26499695A JPH0990425A JP H0990425 A JPH0990425 A JP H0990425A JP 26499695 A JP26499695 A JP 26499695A JP 26499695 A JP26499695 A JP 26499695A JP H0990425 A JPH0990425 A JP H0990425A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- display device
- thin film
- wiring pattern
- interlayer insulating
- film transistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ボトムゲート型薄膜トランジスタを用いたア
クティブマトリクス型表示装置の駆動基板側にブラック
マトリクスを形成して光漏れを有効に防止する。 【解決手段】 表示装置は間隙を介して互いに接合した
駆動基板1及び対向基板2と、この間隙に保持された電
気光学物質3を備えている。駆動基板1にはゲート電極
6、ゲート絶縁膜7、半導体薄膜8を下から順に積層し
たボトムゲート型の薄膜トランジスタ5が集積形成され
ている。さらに、遮光性を有する配線パタン10と層間
絶縁膜12を介して配線パタン10の上方に位置する遮
光性の金属パタン13と、トランジスタ5に接続する画
素電極4とを備えている。配線パタン10と金属パタン
13は互いに部分的に重なり合い格子状のブラックマト
リクスの少なくとも一部を形成して画素電極4の周囲を
遮光している。配線パタン10と金属パタン13の端部
同志が重なり合った部分の幅寸法Aは両パタンの間に介
在する層間絶縁膜12の厚み寸法Bより大きく設定され
ている。
クティブマトリクス型表示装置の駆動基板側にブラック
マトリクスを形成して光漏れを有効に防止する。 【解決手段】 表示装置は間隙を介して互いに接合した
駆動基板1及び対向基板2と、この間隙に保持された電
気光学物質3を備えている。駆動基板1にはゲート電極
6、ゲート絶縁膜7、半導体薄膜8を下から順に積層し
たボトムゲート型の薄膜トランジスタ5が集積形成され
ている。さらに、遮光性を有する配線パタン10と層間
絶縁膜12を介して配線パタン10の上方に位置する遮
光性の金属パタン13と、トランジスタ5に接続する画
素電極4とを備えている。配線パタン10と金属パタン
13は互いに部分的に重なり合い格子状のブラックマト
リクスの少なくとも一部を形成して画素電極4の周囲を
遮光している。配線パタン10と金属パタン13の端部
同志が重なり合った部分の幅寸法Aは両パタンの間に介
在する層間絶縁膜12の厚み寸法Bより大きく設定され
ている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はアクティブマトリク
ス型の表示装置に関する。より詳しくは、画素電極及び
ボトムゲート型薄膜トランジスタが集積形成された駆動
基板の遮光構造に関する。
ス型の表示装置に関する。より詳しくは、画素電極及び
ボトムゲート型薄膜トランジスタが集積形成された駆動
基板の遮光構造に関する。
【0002】
【従来の技術】図11を参照して従来のアクティブマト
リクス型表示装置の一例を簡潔に説明する。図示する様
に、従来の表示装置は所定の間隙を介して互いに接合し
た駆動基板101及び対向基板102と、この間隙に保
持された液晶103等の電気光学物質とを備えている。
駆動基板101にはボトムゲート型の薄膜トランジスタ
104と画素電極105とが集積形成されている。薄膜
トランジスタ104はゲート電極106、陽極酸化膜1
07、ゲート絶縁膜108、半導体薄膜109を下から
順に積層したボトムゲート構造を有している。薄膜トラ
ンジスタ104は第1層間絶縁膜110により被覆され
ている。その上には配線パタン111が形成されてお
り、薄膜トランジスタ104のソース領域S及びドレイ
ン領域Dに接続している。配線パタン111は第2層間
絶縁膜112により被覆されており、その上に前述した
画素電極105がパタニング形成されている。画素電極
105は片方の配線パタン111を介してドレイン領域
Dに電気接続している。一方、対向基板102の内表面
には対向電極113が全面的に形成されてる。さらに、
駆動基板101側の画素電極105の開口部以外を遮閉
する様に金属膜からなるブラックマトリクス114がパ
タニング形成されている。
リクス型表示装置の一例を簡潔に説明する。図示する様
に、従来の表示装置は所定の間隙を介して互いに接合し
た駆動基板101及び対向基板102と、この間隙に保
持された液晶103等の電気光学物質とを備えている。
駆動基板101にはボトムゲート型の薄膜トランジスタ
104と画素電極105とが集積形成されている。薄膜
トランジスタ104はゲート電極106、陽極酸化膜1
07、ゲート絶縁膜108、半導体薄膜109を下から
順に積層したボトムゲート構造を有している。薄膜トラ
ンジスタ104は第1層間絶縁膜110により被覆され
ている。その上には配線パタン111が形成されてお
り、薄膜トランジスタ104のソース領域S及びドレイ
ン領域Dに接続している。配線パタン111は第2層間
絶縁膜112により被覆されており、その上に前述した
画素電極105がパタニング形成されている。画素電極
105は片方の配線パタン111を介してドレイン領域
Dに電気接続している。一方、対向基板102の内表面
には対向電極113が全面的に形成されてる。さらに、
駆動基板101側の画素電極105の開口部以外を遮閉
する様に金属膜からなるブラックマトリクス114がパ
タニング形成されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】一般に、ボトムゲート
型の薄膜トランジスタは画素の高精細化が進んでいない
大面積のアクティブマトリクス型液晶表示装置に形成さ
れている。例えば、4インチ以上の対角寸法を有するV
GA型の液晶表示装置に使用され、その画素数は640
画素×480画素程度である。画面寸法に比べ画素数が
比較的少ない為、画素電極は微細化もしくは高精細化さ
れておらず、十分な画素電極の面積を確保できていた。
従って、対向基板側にブラックマトリクスを設けた場合
でも実用的には十分な画素開口率が得られ表示装置の透
過率も特に問題はなかった。しかしながら、画素の高精
細化が進むと、これに応じて薄膜トランジスタも微細化
しなければならないが、実際には半導体の微細加工限界
に至る為トランジスタサイズを縮小できず、その分画素
電極の面積が犠牲になってくる。さらに、対向基板側に
ブラックマトリクスを設けた従来の構造では、対向基板
と駆動基板の位置合わせ誤差を吸収する為、ブラックマ
トリクスのマージンが必要になり、その分画素開口率が
犠牲になる。微細化が進むとこの点が問題となり、従来
のボトムゲート型薄膜トランジスタを用いた大型の液晶
表示装置では画素の高精細化が困難な状況にあった。
型の薄膜トランジスタは画素の高精細化が進んでいない
大面積のアクティブマトリクス型液晶表示装置に形成さ
れている。例えば、4インチ以上の対角寸法を有するV
GA型の液晶表示装置に使用され、その画素数は640
画素×480画素程度である。画面寸法に比べ画素数が
比較的少ない為、画素電極は微細化もしくは高精細化さ
れておらず、十分な画素電極の面積を確保できていた。
従って、対向基板側にブラックマトリクスを設けた場合
でも実用的には十分な画素開口率が得られ表示装置の透
過率も特に問題はなかった。しかしながら、画素の高精
細化が進むと、これに応じて薄膜トランジスタも微細化
しなければならないが、実際には半導体の微細加工限界
に至る為トランジスタサイズを縮小できず、その分画素
電極の面積が犠牲になってくる。さらに、対向基板側に
ブラックマトリクスを設けた従来の構造では、対向基板
と駆動基板の位置合わせ誤差を吸収する為、ブラックマ
トリクスのマージンが必要になり、その分画素開口率が
犠牲になる。微細化が進むとこの点が問題となり、従来
のボトムゲート型薄膜トランジスタを用いた大型の液晶
表示装置では画素の高精細化が困難な状況にあった。
【0004】
【課題を解決するための手段】上述した従来の技術の課
題を解決する為以下の手段を講じた。即ち、本発明にか
かる表示装置は基本的な構成として、所定の間隙を介し
て互いに接合した駆動基板及び対向基板と、該間隙に保
持された電気光学物質とを備えている。前記駆動基板は
薄膜トランジスタを有する。この薄膜トランジスタはゲ
ート電極、ゲート絶縁膜及び半導体薄膜を下から順に積
層したボトムゲート型である。前記駆動基板はさらに、
遮光性を有する配線パタンと、層間絶縁膜を介して該配
線パタンの上方に位置する遮光性の金属パタンと、該薄
膜トランジスタに接続する画素電極とを有する。一方、
前記対向基板は対向電極を有する。特徴事項として、前
記配線パタンと金属パタンは互いに部分的に重なり合い
格子状のブラックマトリクスの少なくとも一部を形成し
て該画素電極の周囲を遮光する。この際、前記配線パタ
ンと金属パタンの端部同志が重なり合った部分の幅寸法
は、両パタンの間に介在する該層間絶縁膜の厚み寸法よ
り大きく設定されている。好ましくは、前記金属パタン
はTi,Mo,Al,AlSi,W,Ta,Cr及びN
iCrから選択された金属材料を用いる。又好ましく
は、前記ブラックマトリクスは、該薄膜トランジスタの
ゲート電極に接続する行状のゲート配線パタンと、該薄
膜トランジスタに信号を供給する列状の信号配線パタン
と、該薄膜トランジスタの上方を含む範囲を遮光する金
属パタンとで構成される。
題を解決する為以下の手段を講じた。即ち、本発明にか
かる表示装置は基本的な構成として、所定の間隙を介し
て互いに接合した駆動基板及び対向基板と、該間隙に保
持された電気光学物質とを備えている。前記駆動基板は
薄膜トランジスタを有する。この薄膜トランジスタはゲ
ート電極、ゲート絶縁膜及び半導体薄膜を下から順に積
層したボトムゲート型である。前記駆動基板はさらに、
遮光性を有する配線パタンと、層間絶縁膜を介して該配
線パタンの上方に位置する遮光性の金属パタンと、該薄
膜トランジスタに接続する画素電極とを有する。一方、
前記対向基板は対向電極を有する。特徴事項として、前
記配線パタンと金属パタンは互いに部分的に重なり合い
格子状のブラックマトリクスの少なくとも一部を形成し
て該画素電極の周囲を遮光する。この際、前記配線パタ
ンと金属パタンの端部同志が重なり合った部分の幅寸法
は、両パタンの間に介在する該層間絶縁膜の厚み寸法よ
り大きく設定されている。好ましくは、前記金属パタン
はTi,Mo,Al,AlSi,W,Ta,Cr及びN
iCrから選択された金属材料を用いる。又好ましく
は、前記ブラックマトリクスは、該薄膜トランジスタの
ゲート電極に接続する行状のゲート配線パタンと、該薄
膜トランジスタに信号を供給する列状の信号配線パタン
と、該薄膜トランジスタの上方を含む範囲を遮光する金
属パタンとで構成される。
【0005】本発明によれば、ボトムゲート型の薄膜ト
ランジスタを集積形成したアクティブマトリクス型の表
示装置において、画素部の開口率を向上させる為、ブラ
ックマトリクスを駆動基板上に形成した所謂オンチップ
ブラック構造を採用している。即ち、画素電極をスイッ
チング駆動するボトムゲート型薄膜トランジスタの部分
に遮光性の金属パタンを独自に設ける事により、従来対
向基板側に形成されていたブラックマトリクスを不要に
した。これにより、駆動基板と対向基板の位置合わせ精
度により決定されていた公差が小さくでき、その分駆動
基板側のブラックマトリクスのマージンを縮小化でき、
画素開口部の面積を拡大可能にし開口率の改善を図って
いる。このオンチップブラック構造では遮光性を有する
配線パタンと同じく遮光性を有する金属パタンを互いに
部分的に重ねて格子状のブラックマトリクスの少なくと
も一部を形成している。この際、配線パタンと金属パタ
ンの端部同志が重なり合った部分の幅寸法を、両パタン
の間に介在する層間絶縁膜の厚み寸法より大きく設定し
ている。これにより、配線パタンと金属パタンの間で光
漏れが発生しない様にしている。この結果、アクティブ
マトリクス型表示装置のコントラスト比の低下を防止で
きる。
ランジスタを集積形成したアクティブマトリクス型の表
示装置において、画素部の開口率を向上させる為、ブラ
ックマトリクスを駆動基板上に形成した所謂オンチップ
ブラック構造を採用している。即ち、画素電極をスイッ
チング駆動するボトムゲート型薄膜トランジスタの部分
に遮光性の金属パタンを独自に設ける事により、従来対
向基板側に形成されていたブラックマトリクスを不要に
した。これにより、駆動基板と対向基板の位置合わせ精
度により決定されていた公差が小さくでき、その分駆動
基板側のブラックマトリクスのマージンを縮小化でき、
画素開口部の面積を拡大可能にし開口率の改善を図って
いる。このオンチップブラック構造では遮光性を有する
配線パタンと同じく遮光性を有する金属パタンを互いに
部分的に重ねて格子状のブラックマトリクスの少なくと
も一部を形成している。この際、配線パタンと金属パタ
ンの端部同志が重なり合った部分の幅寸法を、両パタン
の間に介在する層間絶縁膜の厚み寸法より大きく設定し
ている。これにより、配線パタンと金属パタンの間で光
漏れが発生しない様にしている。この結果、アクティブ
マトリクス型表示装置のコントラスト比の低下を防止で
きる。
【0006】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の最良
な実施形態を詳細に説明する。図1は本発明にかかるア
クティブマトリクス型表示装置の基本的な構造を示す模
式的な部分断面図である。図示する様に、本表示装置は
所定の間隙を介して互いに接合した駆動基板1及び対向
基板2と、この間隙に保持された液晶等の電気光学物質
3とを備えている。駆動基板1には画素電極4とこれを
スイッチング駆動する薄膜トランジスタ5とが集積形成
されている。薄膜トランジスタ5はゲート電極6、ゲー
ト絶縁膜7及び半導体薄膜8を下から順に積層したボト
ムゲート型である。かかる構成を有する薄膜トランジス
タ5は第1層間絶縁膜9により被覆されている。第1層
間絶縁膜9の上には遮光性を有する配線パタン10とパ
ッドパタン11がパタニング形成されている。配線パタ
ン10は第1層間絶縁膜9に開口したコンタクトホール
を介して薄膜トランジスタ5のソース領域Sに電気接続
している。又、パッドパタン11もコンタクトホールを
介して薄膜トランジスタ5のドレイン領域Dに電気接続
している。これら配線パタン10及びパッドパタン11
は第2層間絶縁膜12により被覆されており、その上に
は遮光性の金属パタン13が形成されている。金属パタ
ン13は2カ所に分割されており、一方は浮游電位にあ
ると共に、他方はパッドパタン11に電気接続してい
る。この金属パタン13は第3層間絶縁膜14により被
覆されており、その上には前述した画素電極4がパタニ
ング形成されている。画素電極4は片方の金属パタン1
3及びパッドパタン11を介してドレイン領域Dに電気
接続している。これに対し、対向基板2の内表面には対
向電極15が全面的に形成されている。なお、ゲート電
極6の表面は陽極酸化膜16で覆われている。又、半導
体薄膜8の直上にはゲート電極6と平面的に整合してチ
ャネルストッパ17がパタニング形成されている。
な実施形態を詳細に説明する。図1は本発明にかかるア
クティブマトリクス型表示装置の基本的な構造を示す模
式的な部分断面図である。図示する様に、本表示装置は
所定の間隙を介して互いに接合した駆動基板1及び対向
基板2と、この間隙に保持された液晶等の電気光学物質
3とを備えている。駆動基板1には画素電極4とこれを
スイッチング駆動する薄膜トランジスタ5とが集積形成
されている。薄膜トランジスタ5はゲート電極6、ゲー
ト絶縁膜7及び半導体薄膜8を下から順に積層したボト
ムゲート型である。かかる構成を有する薄膜トランジス
タ5は第1層間絶縁膜9により被覆されている。第1層
間絶縁膜9の上には遮光性を有する配線パタン10とパ
ッドパタン11がパタニング形成されている。配線パタ
ン10は第1層間絶縁膜9に開口したコンタクトホール
を介して薄膜トランジスタ5のソース領域Sに電気接続
している。又、パッドパタン11もコンタクトホールを
介して薄膜トランジスタ5のドレイン領域Dに電気接続
している。これら配線パタン10及びパッドパタン11
は第2層間絶縁膜12により被覆されており、その上に
は遮光性の金属パタン13が形成されている。金属パタ
ン13は2カ所に分割されており、一方は浮游電位にあ
ると共に、他方はパッドパタン11に電気接続してい
る。この金属パタン13は第3層間絶縁膜14により被
覆されており、その上には前述した画素電極4がパタニ
ング形成されている。画素電極4は片方の金属パタン1
3及びパッドパタン11を介してドレイン領域Dに電気
接続している。これに対し、対向基板2の内表面には対
向電極15が全面的に形成されている。なお、ゲート電
極6の表面は陽極酸化膜16で覆われている。又、半導
体薄膜8の直上にはゲート電極6と平面的に整合してチ
ャネルストッパ17がパタニング形成されている。
【0007】本発明の特徴事項として、配線パタン10
と金属パタン13は互いに重なり合い格子状のブラック
マトリクスの少なくとも一部を形成して画素電極4の周
囲を遮光する。この際、配線パタン10と金属パタン1
3の端部同志が重なり合った部分の幅寸法Aは、両パタ
ンの間に介在する第2層間絶縁膜12の厚み寸法Bより
大きく設定されている。これにより、配線パタン10と
金属パタン13間の多重反射による光漏れを防止し、表
示装置のコントラスト低下を抑制する。
と金属パタン13は互いに重なり合い格子状のブラック
マトリクスの少なくとも一部を形成して画素電極4の周
囲を遮光する。この際、配線パタン10と金属パタン1
3の端部同志が重なり合った部分の幅寸法Aは、両パタ
ンの間に介在する第2層間絶縁膜12の厚み寸法Bより
大きく設定されている。これにより、配線パタン10と
金属パタン13間の多重反射による光漏れを防止し、表
示装置のコントラスト低下を抑制する。
【0008】引き続き図1を参照して本表示装置の各部
の具体的構成を説明する。薄膜トランジスタ5はボトム
ゲート構造を有しており、半導体薄膜8はゲート電極6
の上部に存在する。ゲート電極6は例えばMo/Taか
らなり、半導体薄膜8は例えば多結晶シリコンからな
る。ゲート電極6を被覆する陽極酸化膜16は例えばT
aOx からなる。ゲート絶縁膜7はP−SiO2 /P−
SiNの二層構造からなる。第1層間絶縁膜9及び第2
層間絶縁膜12は例えばPSGからなる。配線パタン1
0及びパッドパタン11は例えばMo又はAlからな
る。チャネルストッパ17は例えばP−SiO2 からな
る。第3層間絶縁膜14は例えばSiO2 からなる。画
素電極4は例えばITOからなる。最後に、遮光性を有
する金属パタン13は例えばTi,Mo,Al,AlS
i,W,Ta,Cr,NiCrから選択され、その光学
濃度(OD)は3以上であり、十分な遮光性を有する。
金属パタン13は第2層間絶縁膜12の上部に存在して
いる。画素電極4はこの金属パタン13の一部を介して
下方に存在する半導体薄膜8と接続する。半導体薄膜8
は前述した様に多結晶シリコンからなり、レーザ再結晶
化工程を経て作成される。又、層間絶縁膜やゲート絶縁
膜は600℃以下の工程で作成されている。さらに、駆
動基板1はAl2 O3 を主成分にした低融点の透明絶縁
材料を使用している。
の具体的構成を説明する。薄膜トランジスタ5はボトム
ゲート構造を有しており、半導体薄膜8はゲート電極6
の上部に存在する。ゲート電極6は例えばMo/Taか
らなり、半導体薄膜8は例えば多結晶シリコンからな
る。ゲート電極6を被覆する陽極酸化膜16は例えばT
aOx からなる。ゲート絶縁膜7はP−SiO2 /P−
SiNの二層構造からなる。第1層間絶縁膜9及び第2
層間絶縁膜12は例えばPSGからなる。配線パタン1
0及びパッドパタン11は例えばMo又はAlからな
る。チャネルストッパ17は例えばP−SiO2 からな
る。第3層間絶縁膜14は例えばSiO2 からなる。画
素電極4は例えばITOからなる。最後に、遮光性を有
する金属パタン13は例えばTi,Mo,Al,AlS
i,W,Ta,Cr,NiCrから選択され、その光学
濃度(OD)は3以上であり、十分な遮光性を有する。
金属パタン13は第2層間絶縁膜12の上部に存在して
いる。画素電極4はこの金属パタン13の一部を介して
下方に存在する半導体薄膜8と接続する。半導体薄膜8
は前述した様に多結晶シリコンからなり、レーザ再結晶
化工程を経て作成される。又、層間絶縁膜やゲート絶縁
膜は600℃以下の工程で作成されている。さらに、駆
動基板1はAl2 O3 を主成分にした低融点の透明絶縁
材料を使用している。
【0009】図2は、本発明にかかるアクティブマトリ
クス表示装置の1画素分を示す模式的な平面図である。
前述した様に、本発明では格子状のブラックマトリクス
は駆動基板側に設けられている。即ち、ブラックマトリ
クスは、薄膜トランジスタのゲート電極6に接続する行
状のゲート配線パタン(第1遮光層)6aと、薄膜トラ
ンジスタに信号を供給する列状の信号配線パタン(第2
遮光層)10と、薄膜トランジスタの上方を含む範囲を
遮光する金属パタン(第3遮光層)13とで構成されて
いる。なお、薄膜トランジスタはアイランド状の半導体
薄膜8を素子領域とし、そのドレイン領域には画素電極
4が接続され、ソース領域には信号配線パタン10が接
続されている。この様に、ブラックマトリクスは遮光用
に特に設けた金属パタン13だけではなく、信号配線パ
タン10等も利用している。この場合、金属パタン13
と信号配線パタン10やゲート配線パタン6aとの間で
光漏れが発生しない様に、互いに重なり合った部分をと
る必要がある。この重なり部分の幅寸法Aは上下パタン
の間に介在する層間絶縁膜の厚み寸法より大きく設定さ
れている。
クス表示装置の1画素分を示す模式的な平面図である。
前述した様に、本発明では格子状のブラックマトリクス
は駆動基板側に設けられている。即ち、ブラックマトリ
クスは、薄膜トランジスタのゲート電極6に接続する行
状のゲート配線パタン(第1遮光層)6aと、薄膜トラ
ンジスタに信号を供給する列状の信号配線パタン(第2
遮光層)10と、薄膜トランジスタの上方を含む範囲を
遮光する金属パタン(第3遮光層)13とで構成されて
いる。なお、薄膜トランジスタはアイランド状の半導体
薄膜8を素子領域とし、そのドレイン領域には画素電極
4が接続され、ソース領域には信号配線パタン10が接
続されている。この様に、ブラックマトリクスは遮光用
に特に設けた金属パタン13だけではなく、信号配線パ
タン10等も利用している。この場合、金属パタン13
と信号配線パタン10やゲート配線パタン6aとの間で
光漏れが発生しない様に、互いに重なり合った部分をと
る必要がある。この重なり部分の幅寸法Aは上下パタン
の間に介在する層間絶縁膜の厚み寸法より大きく設定さ
れている。
【0010】上述した本発明の特徴事項を明らかにする
為、図3を参照して光漏れの現象を説明する。本図は第
1遮光層、第2遮光層、第3遮光層間の重なり部分を十
分に確保しなかった場合における光漏れの状態を模式的
に表わしている。駆動基板1の下方から光が入射する
と、先ず金属パタン(第3遮光層)13で反射し、それ
がさらに多重反射を起して、下層の配線パタン(第2遮
光層)10及びゲート電極(第1遮光層)6に反射し
て、光が上方に漏れてくる。これにより、表示装置のコ
ントラスト比の低下を招き画質が悪化する。これを防ぐ
為には、第1遮光層、第2遮光層、第3遮光層の間に存
在する第1層間絶縁膜9及び第2層間絶縁膜12の膜厚
を薄くする必要がある。しかしながら現実には絶縁耐圧
の低下及び層間絶縁膜のピンホールの発生を招く為限界
がある。この点に鑑み、本発明では第1遮光層及び第2
遮光層と第3遮光層との間の重なり部分の面積を層間絶
縁膜の膜厚以上の寸法に設定している。この様にする事
で、最大45°の傾斜角をもって入射した光の漏れ出し
を効果的に防ぐ事が可能である。
為、図3を参照して光漏れの現象を説明する。本図は第
1遮光層、第2遮光層、第3遮光層間の重なり部分を十
分に確保しなかった場合における光漏れの状態を模式的
に表わしている。駆動基板1の下方から光が入射する
と、先ず金属パタン(第3遮光層)13で反射し、それ
がさらに多重反射を起して、下層の配線パタン(第2遮
光層)10及びゲート電極(第1遮光層)6に反射し
て、光が上方に漏れてくる。これにより、表示装置のコ
ントラスト比の低下を招き画質が悪化する。これを防ぐ
為には、第1遮光層、第2遮光層、第3遮光層の間に存
在する第1層間絶縁膜9及び第2層間絶縁膜12の膜厚
を薄くする必要がある。しかしながら現実には絶縁耐圧
の低下及び層間絶縁膜のピンホールの発生を招く為限界
がある。この点に鑑み、本発明では第1遮光層及び第2
遮光層と第3遮光層との間の重なり部分の面積を層間絶
縁膜の膜厚以上の寸法に設定している。この様にする事
で、最大45°の傾斜角をもって入射した光の漏れ出し
を効果的に防ぐ事が可能である。
【0011】図4は本発明にかかる表示装置の他の実施
形態を示す模式的な部分断面図である。基本的には図1
に示した実施形態と同様であり、対応する部分には対応
する参照番号を付して理解を容易にしている。異なる点
は、2個に分割された金属パタン13の片方が浮游電位
ではなく固定電位に保持されている事である。本例で
は、この金属パタン13は表示駆動時における中心電位
(VCOM電位)に固定されている。この様にする事
で、画素電極4の電気的なシールドを図ると共に、下層
の配線パタン10との間で生じる容量結合の影響を軽減
している。
形態を示す模式的な部分断面図である。基本的には図1
に示した実施形態と同様であり、対応する部分には対応
する参照番号を付して理解を容易にしている。異なる点
は、2個に分割された金属パタン13の片方が浮游電位
ではなく固定電位に保持されている事である。本例で
は、この金属パタン13は表示駆動時における中心電位
(VCOM電位)に固定されている。この様にする事
で、画素電極4の電気的なシールドを図ると共に、下層
の配線パタン10との間で生じる容量結合の影響を軽減
している。
【0012】図5は本発明にかかる表示装置の別の実施
形態を示す模式的な部分断面図である。基本的には図1
に示した実施形態と同様であり、対応する部分には対応
する参照番号を付して理解を容易にしている。異なる点
は、金属パタン13と画素電極4との間に介在する第3
層間絶縁膜14aがSiO2 の無機物ではなくアクリル
樹脂等の有機物からなり平坦化膜を兼ねている事であ
る。この平坦化膜は薄膜トランジスタや配線パタン等の
凹凸を埋め、駆動基板1の表面の平坦化を図るものであ
って、特に電気光学物質として液晶等を用いる場合その
配向制御に有利となる。
形態を示す模式的な部分断面図である。基本的には図1
に示した実施形態と同様であり、対応する部分には対応
する参照番号を付して理解を容易にしている。異なる点
は、金属パタン13と画素電極4との間に介在する第3
層間絶縁膜14aがSiO2 の無機物ではなくアクリル
樹脂等の有機物からなり平坦化膜を兼ねている事であ
る。この平坦化膜は薄膜トランジスタや配線パタン等の
凹凸を埋め、駆動基板1の表面の平坦化を図るものであ
って、特に電気光学物質として液晶等を用いる場合その
配向制御に有利となる。
【0013】図6は本発明にかかる表示装置のさらに別
の実施形態を示しており、図1の実施形態と対応する部
分には対応する参照番号が付してある。本実施形態では
第2層間絶縁膜が取り除かれており、金属パタン13と
配線パタン10とが直接接触している。同様に金属パタ
ン13とパッドパタン11も直接に接触している。即
ち、金属パタン13はTi等からなり画素電極4とパッ
ドパタン11との間に介在してバリア層として機能し両
者の電気的な接続を良好なものにしている。
の実施形態を示しており、図1の実施形態と対応する部
分には対応する参照番号が付してある。本実施形態では
第2層間絶縁膜が取り除かれており、金属パタン13と
配線パタン10とが直接接触している。同様に金属パタ
ン13とパッドパタン11も直接に接触している。即
ち、金属パタン13はTi等からなり画素電極4とパッ
ドパタン11との間に介在してバリア層として機能し両
者の電気的な接続を良好なものにしている。
【0014】最後に図7ないし図10の工程図を参照し
て、本発明にかかる表示装置の製造方法を詳細に説明す
る。先ず図7の工程Aで低融点ガラス等からなる透明絶
縁基板51を用意する。工程Bに進みMo/Taからな
るゲート電極膜52をスパッタリングにより成膜する。
工程Cに進みMo/Taをドライエッチングしてゲート
電極53に加工する。工程Dに進みゲート酸化処理を行
なってゲート電極53を被覆する様に陽極酸化膜54を
形成する。さらに陽極酸化用の電極部分をエッチングに
より除去する。工程Eに進み、必要に応じてゲート電極
53やこれに接続するゲート配線パタンの一部から陽極
酸化膜54をエッチングで取り除き予めコンタクト部分
を設ける。
て、本発明にかかる表示装置の製造方法を詳細に説明す
る。先ず図7の工程Aで低融点ガラス等からなる透明絶
縁基板51を用意する。工程Bに進みMo/Taからな
るゲート電極膜52をスパッタリングにより成膜する。
工程Cに進みMo/Taをドライエッチングしてゲート
電極53に加工する。工程Dに進みゲート酸化処理を行
なってゲート電極53を被覆する様に陽極酸化膜54を
形成する。さらに陽極酸化用の電極部分をエッチングに
より除去する。工程Eに進み、必要に応じてゲート電極
53やこれに接続するゲート配線パタンの一部から陽極
酸化膜54をエッチングで取り除き予めコンタクト部分
を設ける。
【0015】図8の工程Fに進み、P−CVD法により
ゲート絶縁膜55及び半導体薄膜56を連続成膜する。
本例ではゲート絶縁膜55はSiN/SiO2 の二層構
造であり、半導体薄膜56は非晶質シリコンである。こ
の後レーザアニールを行なって非晶質シリコンを再結晶
化して多結晶シリコンに転換する。工程Gに進み、ゲー
ト電極53をマスクとした裏面露光を行なって、絶縁基
板51の表面にレジストパタン57を形成する。工程H
に進みレジストパタン57をマスクとしてイオンドーピ
ングを行ない半導体薄膜56に不純物を注入してソース
領域及びドレイン領域を設ける。本例では、原料ガスと
してPH3 を用いたイオンドーピングを行なってNチャ
ネル型の薄膜トランジスタを形成する。工程Iに進み再
びレーザアニールを行なって、半導体薄膜56に注入さ
れた不純物を活性化する。この際照射されるレーザ光の
エネルギー密度は200mJ/cm2 〜500mJ/cm2 程度
である。
ゲート絶縁膜55及び半導体薄膜56を連続成膜する。
本例ではゲート絶縁膜55はSiN/SiO2 の二層構
造であり、半導体薄膜56は非晶質シリコンである。こ
の後レーザアニールを行なって非晶質シリコンを再結晶
化して多結晶シリコンに転換する。工程Gに進み、ゲー
ト電極53をマスクとした裏面露光を行なって、絶縁基
板51の表面にレジストパタン57を形成する。工程H
に進みレジストパタン57をマスクとしてイオンドーピ
ングを行ない半導体薄膜56に不純物を注入してソース
領域及びドレイン領域を設ける。本例では、原料ガスと
してPH3 を用いたイオンドーピングを行なってNチャ
ネル型の薄膜トランジスタを形成する。工程Iに進み再
びレーザアニールを行なって、半導体薄膜56に注入さ
れた不純物を活性化する。この際照射されるレーザ光の
エネルギー密度は200mJ/cm2 〜500mJ/cm2 程度
である。
【0016】図9の工程Jに進み半導体薄膜56をHF
によりウェットエッチングしてアイランド状にパタニン
グする。工程Kに進みCVDでPSGを堆積し第1層間
絶縁膜58を形成する。工程Lに進みHFによるウェッ
トエッチングで一対のコンタクトホール59を第1層間
絶縁膜58に開口する。これらのコンタクトホール59
は薄膜トランジスタのソース領域及びドレイン領域に連
通している。工程Mに進みスパッタリングでアルミニウ
ム膜60を形成する。
によりウェットエッチングしてアイランド状にパタニン
グする。工程Kに進みCVDでPSGを堆積し第1層間
絶縁膜58を形成する。工程Lに進みHFによるウェッ
トエッチングで一対のコンタクトホール59を第1層間
絶縁膜58に開口する。これらのコンタクトホール59
は薄膜トランジスタのソース領域及びドレイン領域に連
通している。工程Mに進みスパッタリングでアルミニウ
ム膜60を形成する。
【0017】図10の工程Nに進みアルミニウム膜をパ
タニングして信号配線パタン61及びパッドパタン62
に加工する。工程Oに進みP−CVD法でSiO2 を堆
積し第2層間絶縁膜63を形成する。さらに熱アニール
を行なって第1層間絶縁膜58に含有されていた水素を
半導体薄膜56に拡散させる。所謂水素化処理を行なっ
て薄膜トランジスタの動作特性を改善する。この後HF
によるウェットエッチングでコンタクトホール64を第
2層間絶縁膜63に開口する。工程Pに進み、第2層間
絶縁膜63の上にスパッタリングで金属を堆積し、さら
に所定の形状にパタニングして遮光用の金属パタン64
に加工する。最後に工程Qに進み金属パタン64を第3
層間絶縁膜65で被覆する。この第3層間絶縁膜65に
コンタクトホールを開口した後ITOを低温スパッタリ
ングで成膜する。成膜されたITOをエッチングでパタ
ニングし画素電極66に加工する。
タニングして信号配線パタン61及びパッドパタン62
に加工する。工程Oに進みP−CVD法でSiO2 を堆
積し第2層間絶縁膜63を形成する。さらに熱アニール
を行なって第1層間絶縁膜58に含有されていた水素を
半導体薄膜56に拡散させる。所謂水素化処理を行なっ
て薄膜トランジスタの動作特性を改善する。この後HF
によるウェットエッチングでコンタクトホール64を第
2層間絶縁膜63に開口する。工程Pに進み、第2層間
絶縁膜63の上にスパッタリングで金属を堆積し、さら
に所定の形状にパタニングして遮光用の金属パタン64
に加工する。最後に工程Qに進み金属パタン64を第3
層間絶縁膜65で被覆する。この第3層間絶縁膜65に
コンタクトホールを開口した後ITOを低温スパッタリ
ングで成膜する。成膜されたITOをエッチングでパタ
ニングし画素電極66に加工する。
【0018】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、配
線パタンと金属パタンは駆動基板上で互いに部分的に重
なり合い格子状のブラックマトリクスの少なくとも一部
を形成して画素電位の周囲を遮光する。低融点絶縁材料
等からなる駆動基板側にブラックマトリクスが形成でき
る為、基板下方から入射する光に対して散乱が少なくな
り画素の解像度が向上する。又、配線パタンと金属パタ
ンの端部同志が重なり合った部分の幅寸法が両パタンの
間に介在する層間絶縁膜の厚み寸法より大きく設定して
いる為、特に多重反射による入射光の光漏れを防止する
事ができる。本発明ではブラックマトリクスはボトムゲ
ート型の薄膜トランジスタが形成された駆動基板側に作
成する為、各遮光層の合わせ精度が半導体技術の合わせ
精度に近くなり、薄膜トランジスタとの公差が少ない
分、開口率が大きくとれる様になる。さらに、ボトムゲ
ート構造を採用する事で低温プロセスにより絶縁基材上
に半導体薄膜を集積形成できる為、安価で且つ大面積の
液晶表示装置が作成できる。
線パタンと金属パタンは駆動基板上で互いに部分的に重
なり合い格子状のブラックマトリクスの少なくとも一部
を形成して画素電位の周囲を遮光する。低融点絶縁材料
等からなる駆動基板側にブラックマトリクスが形成でき
る為、基板下方から入射する光に対して散乱が少なくな
り画素の解像度が向上する。又、配線パタンと金属パタ
ンの端部同志が重なり合った部分の幅寸法が両パタンの
間に介在する層間絶縁膜の厚み寸法より大きく設定して
いる為、特に多重反射による入射光の光漏れを防止する
事ができる。本発明ではブラックマトリクスはボトムゲ
ート型の薄膜トランジスタが形成された駆動基板側に作
成する為、各遮光層の合わせ精度が半導体技術の合わせ
精度に近くなり、薄膜トランジスタとの公差が少ない
分、開口率が大きくとれる様になる。さらに、ボトムゲ
ート構造を採用する事で低温プロセスにより絶縁基材上
に半導体薄膜を集積形成できる為、安価で且つ大面積の
液晶表示装置が作成できる。
【図1】本発明にかかる表示装置の一実施形態を示す部
分断面図である。
分断面図である。
【図2】本発明にかかる表示装置の1画素分を示す模式
的な平面図である。
的な平面図である。
【図3】アクティブマトリクス型表示装置の参考例を示
す部分断面図である。
す部分断面図である。
【図4】本発明にかかる表示装置の他の実施形態を示す
部分断面図である。
部分断面図である。
【図5】本発明にかかる表示装置の別の実施形態を示す
部分断面図である。
部分断面図である。
【図6】本発明にかかる表示装置のさらに別の実施形態
を示す部分断面図である。
を示す部分断面図である。
【図7】本発明にかかる表示装置の製造方法を示す工程
図である。
図である。
【図8】同じく製造方法を示す工程図である。
【図9】同じく製造方法を示す工程図である。
【図10】同じく製造方法を示す工程図である。
【図11】従来の表示装置の一例を示す部分断面図であ
る。
る。
1 駆動基板 2 対向基板 3 電気光学物質 4 画素電極 5 薄膜トランジスタ 6 ゲート電極 7 ゲート絶縁膜 8 半導体薄膜 9 第1層間絶縁膜 10 配線パタン 12 第2層間絶縁膜 13 金属パタン 15 対向電極
Claims (3)
- 【請求項1】 所定の間隙を介して互いに接合した駆動
基板及び対向基板と、該間隙に保持された電気光学物質
とを備えた表示装置であって、 前記駆動基板は、ゲート電極、ゲート絶縁膜及び半導体
薄膜を下から順に積層したボトムゲート型の薄膜トラン
ジスタと、遮光性を有する配線パタンと、層間絶縁膜を
介して該配線パタンの上方に位置する遮光性の金属パタ
ンと、該薄膜トランジスタに接続する画素電極とを有
し、 前記対向基板は対向電極を有し、 前記配線パタンと金属パタンは互いに部分的に重なり合
い格子状のブラックマトリクスの少なくとも一部を形成
して該画素電極の周囲を遮光し、 前記配線パタンと金属パタンの端部同志が重なり合った
部分の幅寸法は、両パタンの間に介在する該層間絶縁膜
の厚み寸法より大きく設定されている事を特徴とする表
示装置。 - 【請求項2】 前記金属パタンはTi,Mo,Al,A
lSi,W,Ta,Cr及びNiCrから選択された金
属材料を用いる事を特徴とする請求項1記載の表示装
置。 - 【請求項3】 前記ブラックマトリクスは、該薄膜トラ
ンジスタのゲート電極に接続する行状のゲート配線パタ
ンと、該薄膜トランジスタに信号を供給する列状の信号
配線パタンと、該薄膜トランジスタの上方を含む範囲を
遮光する金属パタンとで構成される事を特徴とする請求
項1記載の表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26499695A JPH0990425A (ja) | 1995-09-19 | 1995-09-19 | 表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26499695A JPH0990425A (ja) | 1995-09-19 | 1995-09-19 | 表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0990425A true JPH0990425A (ja) | 1997-04-04 |
Family
ID=17411126
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26499695A Pending JPH0990425A (ja) | 1995-09-19 | 1995-09-19 | 表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0990425A (ja) |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002108244A (ja) * | 2000-09-27 | 2002-04-10 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置の製造方法 |
KR100517142B1 (ko) * | 2000-10-27 | 2005-09-26 | 닛뽄덴끼 가부시끼가이샤 | 액티브 매트릭스 유기 전자 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
JP2006048027A (ja) * | 2004-07-09 | 2006-02-16 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置 |
KR100537882B1 (ko) * | 1997-08-25 | 2006-03-14 | 삼성전자주식회사 | 액정표시장치및그제조방법 |
JP2007086803A (ja) * | 2006-11-29 | 2007-04-05 | Mitsubishi Electric Corp | 液晶表示装置およびその製造方法 |
KR100721552B1 (ko) * | 2004-05-19 | 2007-05-23 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기전계 발광표시장치 및 그의 제조방법 |
JP2007233409A (ja) * | 2007-05-01 | 2007-09-13 | Sony Corp | 表示装置およびその製造方法 |
JP2008009447A (ja) * | 2007-08-03 | 2008-01-17 | Sony Corp | 液晶表示装置およびその製造方法 |
SG143975A1 (en) * | 2001-02-28 | 2008-07-29 | Semiconductor Energy Lab | Method of manufacturing a semiconductor device |
KR100857039B1 (ko) * | 2000-08-10 | 2008-09-05 | 소니 가부시끼 가이샤 | 박막 반도체 장치 및 액정 표시 장치와 그의 제조 방법 |
US7459354B2 (en) | 2001-01-29 | 2008-12-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing a semiconductor device including top gate thin film transistor and method for manufacturing an active matrix device including top gate thin film transistor |
KR100884541B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2009-02-18 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 및 그 제조방법 |
US7498605B2 (en) | 2003-07-25 | 2009-03-03 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Flat panel display |
JP2012032818A (ja) * | 2004-07-09 | 2012-02-16 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置 |
US8890187B2 (en) | 2010-04-16 | 2014-11-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device with an insulating partition |
-
1995
- 1995-09-19 JP JP26499695A patent/JPH0990425A/ja active Pending
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100537882B1 (ko) * | 1997-08-25 | 2006-03-14 | 삼성전자주식회사 | 액정표시장치및그제조방법 |
KR100857039B1 (ko) * | 2000-08-10 | 2008-09-05 | 소니 가부시끼 가이샤 | 박막 반도체 장치 및 액정 표시 장치와 그의 제조 방법 |
JP2002108244A (ja) * | 2000-09-27 | 2002-04-10 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置の製造方法 |
KR100517142B1 (ko) * | 2000-10-27 | 2005-09-26 | 닛뽄덴끼 가부시끼가이샤 | 액티브 매트릭스 유기 전자 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
US7459354B2 (en) | 2001-01-29 | 2008-12-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing a semiconductor device including top gate thin film transistor and method for manufacturing an active matrix device including top gate thin film transistor |
SG143975A1 (en) * | 2001-02-28 | 2008-07-29 | Semiconductor Energy Lab | Method of manufacturing a semiconductor device |
US7618904B2 (en) | 2001-02-28 | 2009-11-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of manufacturing a semiconductor device |
KR100884541B1 (ko) * | 2002-12-10 | 2009-02-18 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 및 그 제조방법 |
US7498605B2 (en) | 2003-07-25 | 2009-03-03 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Flat panel display |
KR100721552B1 (ko) * | 2004-05-19 | 2007-05-23 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기전계 발광표시장치 및 그의 제조방법 |
JP2006048027A (ja) * | 2004-07-09 | 2006-02-16 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置 |
JP2012032818A (ja) * | 2004-07-09 | 2012-02-16 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置 |
JP2007086803A (ja) * | 2006-11-29 | 2007-04-05 | Mitsubishi Electric Corp | 液晶表示装置およびその製造方法 |
JP4606403B2 (ja) * | 2006-11-29 | 2011-01-05 | 三菱電機株式会社 | 液晶表示装置の製造方法 |
JP2007233409A (ja) * | 2007-05-01 | 2007-09-13 | Sony Corp | 表示装置およびその製造方法 |
JP2008009447A (ja) * | 2007-08-03 | 2008-01-17 | Sony Corp | 液晶表示装置およびその製造方法 |
JP4706674B2 (ja) * | 2007-08-03 | 2011-06-22 | ソニー株式会社 | 液晶表示装置およびその製造方法 |
US8890187B2 (en) | 2010-04-16 | 2014-11-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device with an insulating partition |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7009206B2 (en) | Thin film transistor array panel and liquid crystal display including the panel | |
JP5101580B2 (ja) | 液晶表示装置用基板及びそれを用いた液晶表示装置 | |
JP4761600B2 (ja) | 液晶表示装置用薄膜トランジスタ基板及びその製造方法 | |
US6259200B1 (en) | Active-matrix display apparatus | |
JP4301259B2 (ja) | 液晶表示装置及びその製造方法 | |
JP3503685B2 (ja) | 液晶表示装置及びその製造方法 | |
US6724443B1 (en) | Active matrix type display device | |
US20050140858A1 (en) | Liquid crystal display device and method of manufacturing the same | |
JP4235576B2 (ja) | カラーフィルタ基板及びそれを用いた表示装置 | |
JPH08122824A (ja) | カラー表示装置 | |
JPS6045219A (ja) | アクテイブマトリクス型表示装置 | |
JPH0990425A (ja) | 表示装置 | |
US6717631B2 (en) | Array substrate for use in LCD device | |
US7459725B2 (en) | Thin film transistor array substrate and fabrication method thereof | |
US20040135939A1 (en) | Liquid crystal display device with light shielding structure and method for forming the same | |
JP4275038B2 (ja) | アクティブマトリクス基板およびそれを備えた表示装置 | |
TW200422748A (en) | Manufacturing method of optoelectronic substrate, manufacturing method of optoelectronic apparatus, and the optoelectronic apparatus | |
JP3892882B2 (ja) | 半透過型液晶表示装置 | |
JP2002123192A (ja) | 電気光学装置及びその製造方法 | |
JP4900332B2 (ja) | 液晶表示装置の製造方法 | |
JPH08334787A (ja) | 表示装置 | |
JPH0820643B2 (ja) | アクティブマトリクス表示装置 | |
JPH10268346A (ja) | アクティブマトリクス型液晶表示装置 | |
JPH04331924A (ja) | 液晶表示装置 | |
JP3645769B2 (ja) | 反射型液晶表示装置 |