JPH0989755A - 埃塵検出装置 - Google Patents
埃塵検出装置Info
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- JPH0989755A JPH0989755A JP7241562A JP24156295A JPH0989755A JP H0989755 A JPH0989755 A JP H0989755A JP 7241562 A JP7241562 A JP 7241562A JP 24156295 A JP24156295 A JP 24156295A JP H0989755 A JPH0989755 A JP H0989755A
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title abstract description 10
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims abstract description 51
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 claims abstract description 36
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 塵や埃等の透過性の高い微粒子を検出する。
【解決手段】 光１５を発生する発光ダイオード１０
と、光１５の照射部分の気流中の埃塵に反射した光を検
知するフォトダイオード３０と、フォトダイオード３０
が光を検知する際の背景となる黒紙２０と、フォトトラ
ンジスタ３０で受光した光の量の変化を検出する検出回
路４０とを有する。
と、光１５の照射部分の気流中の埃塵に反射した光を検
知するフォトダイオード３０と、フォトダイオード３０
が光を検知する際の背景となる黒紙２０と、フォトトラ
ンジスタ３０で受光した光の量の変化を検出する検出回
路４０とを有する。
Description
【発明の属する技術分野】本発明は、埃塵検出装置に関
し、特に埃や塵を検知して警告信号を発生する埃塵検出
装置に関する。
し、特に埃や塵を検知して警告信号を発生する埃塵検出
装置に関する。
【０００１】
【従来の技術】従来この種の技術では、気流にレーザビ
ームを当てて散乱した光を直接観測することによって埃
や塵の分布を測定していた。たとえば、特開昭６０−９
３９４４号公報には、２枚の放物面鏡を使用して２枚目
の放物面境の焦点の位置に光電変換手段を配置した光散
乱粒子測定装置の技術が記載されている。
ームを当てて散乱した光を直接観測することによって埃
や塵の分布を測定していた。たとえば、特開昭６０−９
３９４４号公報には、２枚の放物面鏡を使用して２枚目
の放物面境の焦点の位置に光電変換手段を配置した光散
乱粒子測定装置の技術が記載されている。
【０００２】図３を参照すると、従来の技術では、二重
管９５０によりエアロゾル粒子９６１等の気流中の微粒
子を集めて、第１枚目の放物面境９２１の焦点９１９に
おいて微粒子流とほぼ直角に交差するようにレーザビー
ム９１５を設けている。このレーザ光は第１枚目の放物
面境９２１によって反射されて、第２枚目の放物面境９
２２に入る。第２枚目の放物面境９２２で反射された光
はその焦点の位置に集光される。そして、この焦点の位
置に設けられたフォトマル又はフォトダイオード等の光
電変換手段９３０により、光から電流信号に変換され
て、微粒子が検出される。
管９５０によりエアロゾル粒子９６１等の気流中の微粒
子を集めて、第１枚目の放物面境９２１の焦点９１９に
おいて微粒子流とほぼ直角に交差するようにレーザビー
ム９１５を設けている。このレーザ光は第１枚目の放物
面境９２１によって反射されて、第２枚目の放物面境９
２２に入る。第２枚目の放物面境９２２で反射された光
はその焦点の位置に集光される。そして、この焦点の位
置に設けられたフォトマル又はフォトダイオード等の光
電変換手段９３０により、光から電流信号に変換され
て、微粒子が検出される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来技術では、
光源から発せられたレーザ光を鏡により反射させて、光
電変換手段（以下、センサという）に直接照射するよう
に構成している。このような構成においては、検出しよ
うとする微粒子の透過性が高い場合、センサに入力され
る光の強度によっては微粒子の存在を認識することが困
難になることがある。
光源から発せられたレーザ光を鏡により反射させて、光
電変換手段（以下、センサという）に直接照射するよう
に構成している。このような構成においては、検出しよ
うとする微粒子の透過性が高い場合、センサに入力され
る光の強度によっては微粒子の存在を認識することが困
難になることがある。
【０００４】また、従来の技術では、微粒子を一旦集め
て焦点における微粒子の存在を検出するため、装置全体
の構成が複雑になるおそれがある。従って、情報処理装
置の一部にこのような機能を設けようとしても実装上困
難となるおそれがある。
て焦点における微粒子の存在を検出するため、装置全体
の構成が複雑になるおそれがある。従って、情報処理装
置の一部にこのような機能を設けようとしても実装上困
難となるおそれがある。
【０００５】本発明の目的は、塵や埃等の透過性の高い
微粒子を検出できる埃塵検出装置を提供することにあ
る。
微粒子を検出できる埃塵検出装置を提供することにあ
る。
【０００６】また、本発明の他の目的は、情報処理装置
の一部として組込み可能な埃塵検出装置を提供すること
にある。
の一部として組込み可能な埃塵検出装置を提供すること
にある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の埃塵検出装置は、空気中の微粒子により屈折
された光を受光して微粒子の存在を検知する。
に本発明の埃塵検出装置は、空気中の微粒子により屈折
された光を受光して微粒子の存在を検知する。
【０００８】また、本発明の他の埃塵検出装置は、光を
一定の照射角度により発生する光源と、この光源による
照射角度の外側に設けられたセンサ手段とを含み、前記
センサ手段の受光部分には空気中の微粒子により屈折さ
れた光が受光されて微粒子の存在を検知する。
一定の照射角度により発生する光源と、この光源による
照射角度の外側に設けられたセンサ手段とを含み、前記
センサ手段の受光部分には空気中の微粒子により屈折さ
れた光が受光されて微粒子の存在を検知する。
【０００９】また、本発明の他の埃塵検出装置におい
て、前記微粒子は透過性の高いものであることを意味す
る。
て、前記微粒子は透過性の高いものであることを意味す
る。
【００１０】また、本発明の他の埃塵検出装置におい
て、前記微粒子は埃または塵を意味する。
て、前記微粒子は埃または塵を意味する。
【００１１】また、本発明の他の埃塵検出装置におい
て、前記センサ手段は、前記微粒子による屈折光を受光
するフォトトランジスタと、このフォトトランジスタに
より受光した光の量の変化を検出して微粒子の存在を検
知する検出回路とをさらに含む。
て、前記センサ手段は、前記微粒子による屈折光を受光
するフォトトランジスタと、このフォトトランジスタに
より受光した光の量の変化を検出して微粒子の存在を検
知する検出回路とをさらに含む。
【００１２】また、本発明を適用した情報処理装置にお
いては、光を一定の照射角度により発生する光源と、こ
の光源による照射角度の外側に設けられ、前記微粒子に
よる屈折光を受光するフォトトランジスタと、このフォ
トトランジスタにより受光した光の量の変化を検出して
微粒子の量を計数する検出回路と、この検出回路による
微粒子量の一定時間毎の計数値が所定量を越えるとその
旨を表示する警告手段とを含む。
いては、光を一定の照射角度により発生する光源と、こ
の光源による照射角度の外側に設けられ、前記微粒子に
よる屈折光を受光するフォトトランジスタと、このフォ
トトランジスタにより受光した光の量の変化を検出して
微粒子の量を計数する検出回路と、この検出回路による
微粒子量の一定時間毎の計数値が所定量を越えるとその
旨を表示する警告手段とを含む。
【００１３】
【発明の実施の形態】次に本発明の埃塵検出装置の一実
施例について図面を参照して詳細に説明する。
施例について図面を参照して詳細に説明する。
【００１４】図１を参照すると、本発明の一実施例であ
る埃塵検出装置は、光１５を発生する発光ダイオード１
０と、光１５の照射部分の気流中の埃塵に反射した光を
検知するフォトダイオード３０と、フォトダイオード３
０が光を検知する際の背景となる黒紙２０と、フォトト
ランジスタ３０で受光した光の量の変化を検出する検出
回路４０とを有している。
る埃塵検出装置は、光１５を発生する発光ダイオード１
０と、光１５の照射部分の気流中の埃塵に反射した光を
検知するフォトダイオード３０と、フォトダイオード３
０が光を検知する際の背景となる黒紙２０と、フォトト
ランジスタ３０で受光した光の量の変化を検出する検出
回路４０とを有している。
【００１５】発光ダイオード１０は、光１５を一定の照
射角度により発生する光源である。ここでは光源として
発光ダイオードを使用しているが、一定の照射角度を設
けることができれば白色光やHe-Ne光等の他の光源を使
用してもよい。
射角度により発生する光源である。ここでは光源として
発光ダイオードを使用しているが、一定の照射角度を設
けることができれば白色光やHe-Ne光等の他の光源を使
用してもよい。
【００１６】フォトトランジスタ３０は、受光する光の
量に応じてその内部に流れる電流値が変化する特性を有
する。このフォトトランジスタ３０は、発光ダイオード
１０からの光１５の照射範囲の外側に設けられる。そし
て、このフォトトランジスタ３０から光１５の照射範囲
を横切った反対側には、黒紙２０が設けられる。この黒
紙２０として、光の発生や反射の量が極めて少ないもの
が使用される。
量に応じてその内部に流れる電流値が変化する特性を有
する。このフォトトランジスタ３０は、発光ダイオード
１０からの光１５の照射範囲の外側に設けられる。そし
て、このフォトトランジスタ３０から光１５の照射範囲
を横切った反対側には、黒紙２０が設けられる。この黒
紙２０として、光の発生や反射の量が極めて少ないもの
が使用される。
【００１７】検出回路４０は、フォトトランジスタ３０
と電気的に接続しており、フォトトランジスタ３０中を
流れる電流の変化により微粒子の存在を検知する。すな
わち、フォトトランジスタ３０と検出回路４０とによ
り、光を検出するセンサとしての機能を発揮する。
と電気的に接続しており、フォトトランジスタ３０中を
流れる電流の変化により微粒子の存在を検知する。すな
わち、フォトトランジスタ３０と検出回路４０とによ
り、光を検出するセンサとしての機能を発揮する。
【００１８】フォトトランジスタ３０は、その受光部分
が向いている方向の直線上と発光ダイオード１０からの
光１５の照射範囲とが交わった範囲を検出範囲として、
この範囲にある光を検出する。すなわち、検出範囲内に
塵や埃等の微粒子があれば光１５が屈折してフォトトラ
ンジスタ３０の受光部分に入力される。これにより、フ
ォトトランジスタ３０中に流れる電流が変化して、検出
回路４０によって微粒子の存在が検知される。
が向いている方向の直線上と発光ダイオード１０からの
光１５の照射範囲とが交わった範囲を検出範囲として、
この範囲にある光を検出する。すなわち、検出範囲内に
塵や埃等の微粒子があれば光１５が屈折してフォトトラ
ンジスタ３０の受光部分に入力される。これにより、フ
ォトトランジスタ３０中に流れる電流が変化して、検出
回路４０によって微粒子の存在が検知される。
【００１９】一方、検出範囲に微粒子が存在しない場合
には、発光ダイオード１０からの光はその照射角の内側
にのみ届き、照射角の外側に設けられたフォトトランジ
スタ３０には届かない。
には、発光ダイオード１０からの光はその照射角の内側
にのみ届き、照射角の外側に設けられたフォトトランジ
スタ３０には届かない。
【００２０】このような光の検知において、フォトトラ
ンジスタ３０の受光部分が向いている方向の直線上には
黒紙２０が設けられているため、外部からの受光はほと
んどない。従って、塵や埃等の微粒子による屈折光のみ
が確実にフォトトランジスタ３０の受光部分に得られる
ことになる。
ンジスタ３０の受光部分が向いている方向の直線上には
黒紙２０が設けられているため、外部からの受光はほと
んどない。従って、塵や埃等の微粒子による屈折光のみ
が確実にフォトトランジスタ３０の受光部分に得られる
ことになる。
【００２１】次に、本発明の埃塵検出装置を情報処理装
置の一部として使用した一適用例について説明する。
置の一部として使用した一適用例について説明する。
【００２２】図２を参照すると、情報処理装置の筺体１
００には冷却用ファン１１０が設けられている。そし
て、上述のように黒紙２０に対面してフォトトランジス
タ３０が筺体１００の内部に設けられている。フォトト
ランジスタ３０には、検出回路４０を介してタイマ５０
が接続されている。また、図２には示していないが、発
光ダイオード１０も同様に設けられているものとする。
さらに、筺体１００の外側には、警告ランプ１２０が設
けられている。この警告ランプ１２０は、情報処理装置
内部の埃塵が一定量を越えると点灯して、注意を喚起す
るために使用される。
００には冷却用ファン１１０が設けられている。そし
て、上述のように黒紙２０に対面してフォトトランジス
タ３０が筺体１００の内部に設けられている。フォトト
ランジスタ３０には、検出回路４０を介してタイマ５０
が接続されている。また、図２には示していないが、発
光ダイオード１０も同様に設けられているものとする。
さらに、筺体１００の外側には、警告ランプ１２０が設
けられている。この警告ランプ１２０は、情報処理装置
内部の埃塵が一定量を越えると点灯して、注意を喚起す
るために使用される。
【００２３】筺体１００内の埃塵による屈折光がフォト
トランジスタ３０によって受光されると、検出回路４０
により埃塵の存在が検知される。検出回路４０は図示し
ないカウンタを有し、埃塵が検出される度に計数する。
このカウンタはタイマ５０により、予め定められた時間
ごとにリセットされる。これにより、カウンタは一定時
間当たりの埃塵の検出量を計数することになる。
トランジスタ３０によって受光されると、検出回路４０
により埃塵の存在が検知される。検出回路４０は図示し
ないカウンタを有し、埃塵が検出される度に計数する。
このカウンタはタイマ５０により、予め定められた時間
ごとにリセットされる。これにより、カウンタは一定時
間当たりの埃塵の検出量を計数することになる。
【００２４】検出回路４０は、カウンタの値が所定値を
越えると警告ランプ１２０を点灯させる。この警告ラン
プ１２０の点灯により、筺体１００内の埃塵の量が一定
量を越えていることを外部から認識することができる。
すなわち、この状態を放置すれば、ファン１１０におい
て目詰まりを起こして十分な冷却効果が得られなくなる
おそれがあることを知らせることができる。
越えると警告ランプ１２０を点灯させる。この警告ラン
プ１２０の点灯により、筺体１００内の埃塵の量が一定
量を越えていることを外部から認識することができる。
すなわち、この状態を放置すれば、ファン１１０におい
て目詰まりを起こして十分な冷却効果が得られなくなる
おそれがあることを知らせることができる。
【００２５】このように、本発明の一実施例である埃塵
検出装置によれば、フォトトランジスタ３０を光１５の
外側に設けて空気中の微粒子による屈折光を間接的に受
光することにより、塵や埃等の透過性の高い微粒子を検
出することができる。また、検出回路４０内のカウンタ
により埃塵の検出量を計数して、情報処理装置内の埃塵
の量が所定量を越えた場合に警告ランプ１２０を点灯さ
せることにより、ファン１１０の目詰まりの可能性を警
告することができる。
検出装置によれば、フォトトランジスタ３０を光１５の
外側に設けて空気中の微粒子による屈折光を間接的に受
光することにより、塵や埃等の透過性の高い微粒子を検
出することができる。また、検出回路４０内のカウンタ
により埃塵の検出量を計数して、情報処理装置内の埃塵
の量が所定量を越えた場合に警告ランプ１２０を点灯さ
せることにより、ファン１１０の目詰まりの可能性を警
告することができる。
【００２６】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よると、空気中の微粒子による屈折光を間接的に受光す
ることによって、塵や埃等の透過性の高い微粒子を検出
することができる。
よると、空気中の微粒子による屈折光を間接的に受光す
ることによって、塵や埃等の透過性の高い微粒子を検出
することができる。
【００２７】また、本発明では簡易な構成を採ることに
より、情報処理装置内の埃塵の検出を可能とし、ファン
の目詰まり発生を予め警告することができる。
より、情報処理装置内の埃塵の検出を可能とし、ファン
の目詰まり発生を予め警告することができる。
【００２８】さらに、本発明では微粒子の検出を焦点で
はなく一定幅を有する検出範囲において行うことによ
り、偏りの少ない検出を行うことができる。
はなく一定幅を有する検出範囲において行うことによ
り、偏りの少ない検出を行うことができる。
【図１】本発明の埃塵検出装置の一実施例の構成を示す
図である。
図である。
【図２】本発明の一実施例の埃塵検出装置の適用例を示
す図である。
す図である。
【図３】従来技術の埃塵検出装置の構成を示す図であ
る。
る。
１０ 発光ダイオード １５ 光 ２０ 黒紙 ３０ フォトトランジスタ ４０ 検出回路 １００ 筺体 １１０ ファン １２０ 警告ランプ ９１５ レーザビーム ９２１，９２２ 放物面境 ９３０ 光電変換手段 ９５０ 二重管
Claims (5)
- 【請求項１】 空気中の微粒子により屈折された光を受
光して微粒子の存在を検知することを特徴とする埃塵検
出装置。 - 【請求項２】 光を一定の照射角度により発生する光源
と、 この光源による照射角度の外側に設けられたセンサ手段
とを含み、 前記センサ手段の受光部分には空気中の微粒子により屈
折された光が受光されて微粒子の存在を検知することを
特徴とする埃塵検出装置。 - 【請求項３】 前記微粒子は埃または塵であることを特
徴とする請求項２記載の埃塵検出装置。 - 【請求項４】 前記センサ手段は、 前記微粒子による屈折光を受光するフォトトランジスタ
と、 このフォトトランジスタにより受光した光の量の変化を
検出して微粒子の存在を検知する検出回路とをさらに含
むことを特徴とする請求項３記載の埃塵検出装置。 - 【請求項５】 光を一定の照射角度により発生する光源
と、 この光源による照射角度の外側に設けられ、前記微粒子
による屈折光を受光するフォトトランジスタと、 このフォトトランジスタにより受光した光の量の変化を
検出して微粒子の量を計数する検出回路と、 この検出回路による微粒子量の一定時間毎の計数値が所
定量を越えるとその旨を表示する警告手段とを含むこと
を特徴とする情報処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7241562A JP2770800B2 (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | 埃塵検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7241562A JP2770800B2 (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | 埃塵検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0989755A true JPH0989755A (ja) | 1997-04-04 |
| JP2770800B2 JP2770800B2 (ja) | 1998-07-02 |
Family
ID=17076195
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7241562A Expired - Fee Related JP2770800B2 (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | 埃塵検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2770800B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012112721A (ja) * | 2010-11-22 | 2012-06-14 | Sumco Corp | 浮遊粒子の測定方法及びその装置 |
| JP2014181930A (ja) * | 2013-03-18 | 2014-09-29 | Sumco Corp | 人頭型気流試験装置及び該装置を用いた防塵用具の品質検査を行う方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0290037A (ja) * | 1988-09-27 | 1990-03-29 | Noboru Nakatani | レーザ多焦点法による粒子の速度，径，屈折率の同時測定システム |
| JPH0531314A (ja) * | 1991-07-31 | 1993-02-09 | Matsushita Electric Works Ltd | 空気清浄器 |
-
1995
- 1995-09-20 JP JP7241562A patent/JP2770800B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0290037A (ja) * | 1988-09-27 | 1990-03-29 | Noboru Nakatani | レーザ多焦点法による粒子の速度，径，屈折率の同時測定システム |
| JPH0531314A (ja) * | 1991-07-31 | 1993-02-09 | Matsushita Electric Works Ltd | 空気清浄器 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012112721A (ja) * | 2010-11-22 | 2012-06-14 | Sumco Corp | 浮遊粒子の測定方法及びその装置 |
| JP2014181930A (ja) * | 2013-03-18 | 2014-09-29 | Sumco Corp | 人頭型気流試験装置及び該装置を用いた防塵用具の品質検査を行う方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2770800B2 (ja) | 1998-07-02 |
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