JPH0989753A - 粒子分析装置 - Google Patents

粒子分析装置

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JPH0989753A
JPH0989753A JP7245774A JP24577495A JPH0989753A JP H0989753 A JPH0989753 A JP H0989753A JP 7245774 A JP7245774 A JP 7245774A JP 24577495 A JP24577495 A JP 24577495A JP H0989753 A JPH0989753 A JP H0989753A
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JP
Japan
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objective lens
lens
image
flow cell
particle
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Pending
Application number
JP7245774A
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English (en)
Inventor
Hidetoshi Sugiyama
英利 杉山
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】温度変動による対物レンズの焦点ずれを補正し
常にピントのあった画像を得る高信頼性の粒子分析装置
を提供する。 【解決手段】温度による各構造材の膨張収縮量の和が対
物レンズ5の膨張量と打消し合うように各部の寸法・材
質を決定することにより温度変動による対物レンズ5の
焦点ずれを補正し常にピントのあった画像を得る粒子分
析装置を提供することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、流れている液体中
の粒子を撮像し、液体中の粒子を分析する粒子分析装置
であり、特に尿,血液中の細胞や粒子を分析するのに適
した粒子分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、尿沈査検査は尿を遠心濃縮しサン
プルをスライドガラスに移し、標本を作成し、顕微鏡検
査を行うものであった。この方法では、遠心分離の工程
において有形成分が破壊されたり、濃縮精度にばらつき
が生じたりした。また、検査工程に非常に時間のかかる
ものであった。
【0003】標本を作成せずに、流れているサンプル液
中の粒子画像を撮像し、得られた画像から粒子を分析,
分類するものとしては、特開平3−105235 号公報,特開
平4−30383 号明細書が知られている。
【0004】特開平3−105235 号公報では、フラットシ
ースフロー方式を応用し顕微鏡検査方法を採用してお
り、フローセル中サンプルを上部から下部へ流れの幅が
広くなるように偏平に流し、ストロボ光による静止画像
を撮像しその静止画像を用いて粒子を分析する方法が示
されている。
【0005】ここで、サンプルが尿の場合尿中の粒子の
種類が多種にわたり、かつ大きさも異なる。代表的な値
としては、赤血球,白血球が10μm程度、上皮細胞が
十μm、円柱が100〜200μmである。このような
場合、同一倍率で細胞を分類することは不可能であり、
測定中に倍率を切り換える必要がある。特開平3−10523
5号公報では倍率切り替えの機構を持ち、切り換えに伴
いサンプル厚み, 光源の光量も変化させている。
【0006】特願平4−30383号明細書では、さらに粒子
検出用光学系を粒子画像撮像系の中に組み込んだ方法が
示されている。すなわち、粒子検出用レーザ光束が、顕
微鏡画像撮像系の顕著鏡コンデンサレンズを通してサン
プル試料流れに照射する方法が述べられている。粒子検
出用の光学系を別に用意する必要がないこと、粒子検出
位置を出来るだけ粒子画像取り込み領域に近づけて配置
できる特徴がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記の粒子分析装置に
おいて粒子の像は対物レンズで拡大し撮像される。ここ
でぼけのない画像を得るには、数μという対物レンズの
焦点距離内を粒子が通過する必要である。しかし温度変
動のある環境で装置が使われる場合、対物レンズ自体の
温度変化にともなう膨張または収縮によって焦点ずれを
生ずる恐れがある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の粒子分析装置では温度変化による部材の
膨張・収縮を利用した対物レンズの位置補正機構を設
け、変度変動による焦点ずれ補正し、常に、ピントのあ
った画像を得るようにした。
【0009】周囲温度の上昇により対物レンズ自体は膨
張し、撮像しようとする物体に近づく。これがレンズの
焦点距離範囲を外れると像がぼけることになる。そこで
対物レンズの光軸方向位置を決めている部材の温度上昇
による膨張が対物レンズを物体から離す方向に働くよう
に構成し、かつ対物レンズの膨張分と等しい距離だけ作
用するように部材の寸法・材質(熱膨張係数)を選定す
る。このように構成された対物レンズの位置補正機構は
温度が下降したときにも同様に対物レンズの位置を補正
する。温度が下降した場合、対物レンズは収縮し、撮像
しようとする物体から離れようとする。しかし、温度下
降によるレンズ位置補正機構の収縮がレンズを物体に近
づける方向に作用し、ピントのずれを防止する。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面を用
いて説明する。
【0011】(実施例1)図1は粒子分析装置の全体構
成図である。顕微鏡光源であるフラッシュランプ1を出
た光は顕微鏡光軸8上に進み、フィールドレンズ2で集
められコンデンサレンズ3を通ってフローセル4内のサ
ンプル流れ7上に集光される。顕微鏡対物レンズ5によ
り粒子画像は結像位置6に像を形成する。この結像位置
の像は、TVカメラ6によって捕らえられ電気信号とし
て画像分類回路に送られる。このような粒子分析装置で
本発明は対物レンズの光軸位置補正機構を設け、装置周
囲の温度変動による粒子像のピントずれを防止したこと
を特徴とする。図2は本発明による対物レンズ位置補正
機構の最も簡単な一例である。ホルダ9は対物レンズ5
とフローセル4を位置決め固定する。ここで対物レンズ
5の胴付き面から先端までの距離をL1,熱膨張係数を
α1 ,ホルダ9の胴付き面からフローセル中心位置10
までの距離をL2,熱膨張係数をα2,周囲温度の変化量
をΔtとすると温度変化による対物レンズ5の伸び:Δ
1=l1α1Δt ,ホルダ9の伸び:Δl=l2α2Δt
となる。ここで対物レンズ5の位置を補正するためには
Δl=Δlとなればよい。即ち、l2/l1=α1
/α2となるようにホルダ9の材質と寸法を決めること
によりホルダ9自体が本発明における対物レンズ位置補
正機構となる。
【0012】(実施例2)実施例1は最も簡単な形の対
物レンズ補正機構でありフローセル4と対物レンズ5の
ホルダ9が対物レンズ位置補正機構となっている。しか
しもっと複雑な構造においても対物レンズ5の位置補正
機構は実現できる。図3は、その一例である。フローセ
ル4はホルダ9に固定される。対物レンズ5は対物レン
ズホルダ11に固定されホルダ9内を光軸方向に動く。
ばね12は対物レンズ5をフローセル4から離す方向に
常に作用する。対物レンズ調整ねじ12を緩めると対物
レンズ5はバネ12に押されてフローセル4から離れる
方向に移動する。逆に対物レンズ調整ねじ12を締める
と対物レンズ5がフローセル4に近づく方向に移動す
る。このような対物レンズ5の調整機構を有する構造に
おいては対物レンズ位置調整機構は次のように構成す
る。対物レンズ5の胴付き面かフローセル4側先端まで
の距離:l1,熱膨張係数:α1,ホルダのフローセル中
心位置10からめねじ左端までの距離:l2,熱膨張係
数:α2,対物レンズホルダ11の胴付き面から右端ま
での距離:L3,熱膨張係数:α3,対物レンズ調整ねじ
12の左端からねじかみあい部左端までの距離:L4
熱膨張係数:α4とするとΔtの周囲温度変動があった
場合それぞれの膨張量が互いに打ち消しあうためには実
施例1と同様に l1α1Δt+l3α3Δt+l4α4Δt=l2α2Δt 上式の両辺からΔtを除いて l1α1+l3α3+l4α4=l2α2 となるように各部品の材料・寸法を決めることでこのユ
ニット全体が対物レンズ位置補正機構となり温度変動が
あってもそれに応じて対物レンズの位置を補正し、常に
焦点のあった画像を取り込むことができる。
【0013】
【発明の効果】温度変動による対物レンズの焦点ずれを
補正し常にピントのあった画像を得ることができるた
め、分類ミスのない高信頼性の粒子分析装置を提供する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】粒子検出装置の説明図。
【図2】対物レンズ位置補正機構の説明図。
【図3】対物レンズ位置補正機構の説明図。
【符号の説明】
4…フローセル、5…対物レンズ、6…カメラ、7…サ
ンプル流れ、8…光軸、9…ホルダ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】フローセルにサンプルを供給し、前記フロ
    ーセルにサンプル液の外層として流れるシース液を供給
    し、撮像用光学系でサンプル液中の粒子を撮像し、得ら
    れた画像を解析し粒子の分析をする粒子分析装置におい
    て、温度による焦点ずれを補正する対物レンズの光軸方
    向位置補正機構を設けたことを特徴とする粒子分析装
    置。
  2. 【請求項2】請求項1において、温度による各構造材の
    膨張収縮量の和が前記対物レンズの変形量と打消あうよ
    うに構成し前記対物レンズの光軸方向の位置を補正する
    粒子分析装置。
JP7245774A 1995-09-25 1995-09-25 粒子分析装置 Pending JPH0989753A (ja)

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