JPH0982631A - 投影露光装置 - Google Patents

投影露光装置

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JPH0982631A
JPH0982631A JP7262196A JP26219695A JPH0982631A JP H0982631 A JPH0982631 A JP H0982631A JP 7262196 A JP7262196 A JP 7262196A JP 26219695 A JP26219695 A JP 26219695A JP H0982631 A JPH0982631 A JP H0982631A
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JP
Japan
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light
plane
mask
exposure apparatus
projection exposure
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JP7262196A
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English (en)
Inventor
Masahiro Nakagawa
正弘 中川
Yuji Kudo
祐司 工藤
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ウエハ上における高次の照度ムラを良好に補
正する。 【解決手段】 所定のパターンが形成されたマスクを照
明するための照明光学系と、マスクパターンを感光性基
板上に投影するための投影光学系とを備えた投影露光装
置において、マスクよりも光源側の光路中に設けられ、
照明光学系の光軸に対してほぼ垂直な2つの境界面を有
する媒質を含む平行平面板型の光透過手段と、感光性基
板上における高次の照度ムラを補正するために、光軸に
対して傾いた光線に対する光透過手段の屈折特性を制御
するための制御手段とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は投影露光装置に関
し、特に半導体素子等を製造するための投影露光装置に
おける高次の照度ムラの補正に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の投影露光装置では、高集
積化されたマスクパターンを感光性基板であるウエハ上
に正確に転写するために、ウエハ上における照度分布を
できるだけ均一にすることが必要がある。そこで、光源
からの光束をオプティカルインテグレータを介して二次
元的に分割して複数の光源像すなわち二次光源を形成
し、複数の二次光源からの光をコンデンサーレンズを介
してマスクに重畳的に照射している。マスクを透過した
光は、投影光学系を介して感光性基板であるウエハ上に
結像する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年のマス
クパターンの線幅のさらなる微細化に伴い、露光量の制
御精度に対する要求は一層厳しくなってきている。換言
すれば、ウエハ上における照度分布についてさらに厳密
な均一性が要求されるようになっている。しかしなが
ら、従来技術では、ウエハ上における高次の照度ムラを
良好に補正する手段を備えていなかった。
【0004】本発明は、前述の課題に鑑みてなされたも
のであり、ウエハ上における高次の照度ムラを良好に補
正することのできる投影露光装置を提供することを目的
とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明においては、所定のパターンが形成されたマ
スクを照明するための照明光学系と、前記マスクパター
ンを感光性基板上に投影するための投影光学系とを備え
た投影露光装置において、前記マスクよりも光源側の光
路中に設けられ、前記照明光学系の光軸に対してほぼ垂
直な2つの境界面を有する媒質を含む平行平面板型の光
透過手段と、前記感光性基板上における高次の照度ムラ
を補正するために、前記光軸に対して傾いた光線に対す
る前記光透過手段の屈折特性を制御するための制御手段
と、を備えていることを特徴とする投影露光装置を提供
する。
【0006】本発明の好ましい態様によれば、前記照明
光学系は、照明光を供給するための光源と、前記光源か
らの光に基づいて複数の光源像を形成するための多光源
像形成手段と、前記複数の光源像からの光を集光して前
記マスクを重畳的に照明するためのコンデンサーレンズ
とを有し、前記光透過手段は、前記コンデンサーレンズ
と前記マスクとの間の光路中に設けられる。
【0007】また、前記光透過手段は、透明な光学材料
からなる平行平面板であり、前記制御手段は、前記平行
平面板の厚さおよび屈折率のうち少なくとも一方を変化
させるか、あるいは、2つの透明な光学材料からなる平
行平面板と、該2つの平行平面板内に封入された透明な
液体とを有し、前記制御手段は、前記光透過手段の液体
の前記光軸方向の厚さを変化させるか、あるいは、1つ
の透明な光学材料からなる平行平面板を底部とする容器
と、該容器中に収容された透明な液体とを有し、前記制
御手段は、前記光透過手段の液体の前記光軸方向の厚さ
を変化させるか、あるいは、2つの透明な光学材料から
なる平行平面板と、該2つの平行平面板内に封入された
透明な気体とを有し、前記制御手段は、前記光透過手段
の気体の前記光軸方向の厚さおよび屈折率のうち少なく
とも一方を変化させる。
【0008】
【発明の実施の形態】投影露光装置では、投影光学系に
瞳の球面収差が若干存在している。したがって、ウエハ
上において照明のテレセントリック性を確保するため
に、照明光学系も投影光学系の瞳の球面収差に応じた瞳
の球面収差を有するように構成されている。図3は、ウ
エハ上において照明のテレセントリック性を確保するた
めに照明光学系が瞳の球面収差を有する様子を説明する
図である。
【0009】図3に示すように、マスクM上における照
明領域を規定するレチクルブラインドRBに対して、照
明光のテレセントリック性は良好である。また、ウエハ
W上においても、照明光のテレセントリック性は良好で
ある。しかしながら、マスクM上においては、照明光の
主光線が像高(光軸からの距離)によってばらついてい
ることがわかる。すなわち、マスクM上において、照明
領域の光軸近傍および最外周部では照明テレセントリッ
ク性は良好であるが、照明領域の中間像高部では主光線
が光軸に対してある程度の傾きを有する。
【0010】そこで、本発明では、マスクMよりも光源
側の光路中すなわちマスクMとメインコンデンサーレン
ズMCとの間の光路中に、たとえば平行平面板のような
光透過手段を挿入する。そして、この平行平面板の屈折
作用により、マスクM上において照明領域の中間像高部
に達する主光線すなわち光軸に対してある程度の傾きを
有する主光線を位置ずれさせる。この主光線の位置ずれ
は、照明領域の中間像高部において顕著であり、照明領
域の光軸近傍および最外周部ではほとんど発生しない。
【0011】こうして、マスクMに対する照明光の主光
線に密度変化が発生し、その結果マスクM上の照度分布
が4次以上の高次曲面成分を含んで変化する。なお、ウ
エハW上にも、マスクM上の照度分布と同様の照度分布
が投影光学系PLを介して投影される。この場合、光路
中に平行平面板を挿入しても、ウエハW上での照明光の
テレセントリック性は実質的に損なわれることがない。
【0012】このように、光路中に挿入する平行平面板
の厚さや屈折率を適宜変化させることにより、ウエハ上
において高次曲面の照度変動を発生させる。そして、平
行平面板の挿入により発生させた高次曲面の照度変動
で、ウエハW上の高次曲面の照度ムラ(以下、単に「高
次の照度ムラ」という)を相殺することによって、照度
分布の均一化を図ることができる。
【0013】なお、平行平面板に代えて、露光光透過性
の液体をガラス容器中に収容し、液量の増減によりその
厚さを変化させてもよい。また、露光光透過性の気体を
互いに平行な2つの平行平面板の間に封入し、封入気体
の圧力を変化させて気体の屈折率を制御するようにして
もよい。さらに、互いに平行な2つの平行平面板の間に
液体または気体を封入し、その厚さを変化させてもよ
い。
【0014】なお、光路に対する平行平面板の挿入によ
り、光束制限手段であるレチクルブラインドRBとマス
クMとの共役関係がわずかに崩れる。この場合、平行平
面板の厚さや屈折率に応じてレチクルブラインドRBを
光軸に沿って移動させ、マスクMとレチクルブラインド
RBとの共役関係を保つことが望ましい。こうして、レ
チクルブラインドRBの作用により、マスクM上での照
明領域を鮮明に規定することができる。
【0015】上述のように、平行平面板の挿入により、
その厚さまたは屈折率に依存してウエハW上では高次の
照度変動が発生する。そこで、ウエハWの露光面とほぼ
同じ高さにおいて投影光学系の投影領域内の照度分布を
検出する場合、実使用のマスクMと同じ厚さを有し且つ
その両面に反射防止コートが施された検出用マスクを用
いることが望ましい。こうして、ウエハW上における照
度分布を正確に検出することが可能になる。
【0016】本発明の実施例を、添付図面に基づいて説
明する。図1は、本発明の実施例にかかる投影露光装置
の構成を概略的に示す図である。図示の投影露光装置
は、たとえば超高圧水銀ランプからなる光源1を備えて
いる。光源1は、回転楕円面からなる反射面を有する集
光鏡(楕円鏡)2の第1焦点位置に位置決めされてい
る。したがって、光源1から射出された照明光束は、楕
円鏡2の第2焦点位置に光源像(二次光源)を形成す
る。
【0017】この光源像からの光束は、コリメートレン
ズ3によりほぼ平行な光束に変換された後、フライアイ
レンズのようなオプティカルインテグレーター4に入射
する。フライアイレンズ4に入射した光束は、フライア
イレンズ4を構成する複数のレンズエレメントにより二
次元的に分割され、その後側焦点位置(すなわち射出面
近傍)に複数の光源像(三次光源)を形成する。
【0018】複数の光源像からの光束は、第1リレーレ
ンズ5および第2リレーレンズ6を介した後、メインコ
ンデンサーレンズMCに入射する。メインコンデンサー
レンズMCを介して集光された光は、投影露光用のパタ
ーンが形成されたマスクMを重畳的に照明する。なお、
第1リレーレンズ5と第2リレーレンズ6との間の光路
中においてマスクMのパターン面と光学的に共役な位置
には、マスクM上の照明領域を規定するための光束制限
手段としてレチクルブラインドRBが設けられている。
【0019】マスクMを透過した光束は、投影光学系P
Lを介して、感光基板であるウエハWに達する。こうし
て、ウエハW上には、マスクMのパターン像が投影露光
される。ウエハWは、投影光学系PLの光軸AXに対し
て垂直な平面内において二次元的に移動可能なウエハス
テージWS上に支持されている。したがって、ウエハW
を二次元的に移動させながら露光を行うことにより、ウ
エハWの各露光領域にマスクMのパターンを逐次転写す
ることができる。
【0020】ウエハステージWS上には、投影光学系P
Lの光軸AXに対してウエハWの露光面とほぼ同じ高さ
に検出面を有する光検出器8が設けられている。したが
って、ウエハステージWSを介して光検出器8を二次元
的に駆動することにより、投影光学系PLの投影領域内
の照度分布を検出することができる。光検出器8の出力
は、制御系9に供給される。制御系9では、検出した照
度分布における高次の照度ムラ成分に応じて、所定の屈
折率および厚さを有する平行平面板7をマスクMとメイ
ンコンデンサーレンズMCとの間の光路中に挿入する。
【0021】図2は、マスクMとメインコンデンサーレ
ンズMCとの間の光路中に平行平面板7を挿入したとき
の様子を示す図であって、(a)は平行平面板7の挿入
によるレチクルブラインドRBとマスクMとの共役関係
の変化を、(b)は平行平面板7の挿入によるウエハW
上における照度分布の変動をそれぞれ示している。前述
したように、投影光学系PLには瞳の球面収差が若干存
在しているので、ウエハW上におけるテレセントリック
性を確保するために照明光学系も瞳の球面収差を有す
る。
【0022】したがって、図2(a)に示すように、マ
スクMとメインコンデンサーレンズMCとの間の光路中
において、光軸近傍および最外周部では主光線が光軸A
Xに対してほぼ平行であるが、中間像高部では主光線が
光軸AXに対してある程度の傾きを有する。そこで、マ
スクMとメインコンデンサーレンズMCとの間の光路中
に平行平面板7を挿入すると、この平行平面板7の屈折
作用により、マスクM上において照明領域の中間像高部
に達する主光線は位置ずれし、照明領域の光軸近傍およ
び最外周部に達する主光線はほとんど位置ずれしない。
【0023】こうして、マスクMに対する照明光の主光
線に密度変化が発生し、マスクM上における照度分布が
変動する。このマスクM上の照度分布の変動は、投影光
学系PLを介してウエハW上に投影される。その結果、
図2(b)において実線曲線および破線曲線で示すよう
に、マスクW上の照度分布において高次の照度変動が発
生する。
【0024】なお、挿入する平行平面板7の厚さが大き
い場合には図2(b)において破線で示すような照度変
動が発生する。また、平行平面板7の厚さが小さい場合
には図2(b)において実線で示すような照度変動が発
生する。換言すれば、ウエハW上において光検出器8に
よって検出した高次の照度ムラ成分を、平行平面板7の
挿入による高次の照度変動で相殺することによって、マ
スクW上の照度分布を均一にすることができる。
【0025】マスクMとメインコンデンサーレンズMC
との間の光路中に平行平面板7を挿入しても、ウエハW
上での照明光のテレセントリック性は実質的に損なわれ
ることがない。しかしながら、平行平面板7の挿入によ
り、図2(a)において破線10で示すように、レチク
ルブラインドRBの共役面は、マスクMのパターン面か
ら光軸AXに沿ってウエハW側に移動してしまう。
【0026】そこで、レチクルブラインドRBを光軸A
Xに沿って光源側に所定距離だけ移動させることによ
り、平行平面板7を挿入した状態においてもレチクルブ
ラインドRBとマスクMとの共役関係を保つことができ
る。その結果、平行平面板7の挿入にもかかわらず、レ
チクルブラインドRBの作用によりマスクM上の照明領
域を鮮明に規定することが可能になる。
【0027】図4は、図1の平行平面板7の屈折特性を
変化させる手法を示す図であって、(a)は屈折率が同
一で厚さが異なる3つの平行平面板を一体的に構成して
いる様子を、(b)は厚さが同一で屈折率が異なる3つ
の平行平面板を一体的に構成している様子をそれぞれ示
している。
【0028】図4(a)に示すように、屈折率が同一で
互いに厚さの異なる複数(この場合一例として3つ)の
平行平面板、すなわち第1〜第3平行平面板7a〜7c
を一体的に構成することによって平行平面板7を形成す
ることができる。この場合、光路中において平行平面板
7を図中矢印の方向に移動させて第1〜第3平行平面板
7a〜7cを光路に対して切り換えることによって、平
行平面板7の厚さをひいては平行平面板7の屈折特性を
変化させることができる。
【0029】また、図4(b)に示すように、厚さが同
一で互いに屈折率の異なる複数(この場合一例として3
つ)の平行平面板、すなわち第1〜第3平行平面板7a
〜7cを一体的に構成することによって平行平面板7を
形成することができる。この場合、光路中において平行
平面板7を図中矢印の方向に移動させて第1〜第3平行
平面板7a〜7cを光路に対して切り換えることによっ
て、平行平面板7の屈折率をひいては平行平面板7の屈
折特性を変化させることができる。
【0030】図4(a)および(b)では、一体的に形
成された平行平面板7を所定方向に沿って直線移動させ
て、平行平面板7の屈折特性を変化させている。しかし
ながら、屈折率が同一で互いに厚さの異なる複数の平行
平面板を、あるいは厚さが同一で互いに屈折率の異なる
複数の平行平面板を、たとえばターレット式により回転
させて光路に対して切り換えることもできる。また、図
4(a)および(b)では、屈折率または厚さのいずれ
か一方を変化させているが、屈折率および厚さの双方を
変化させて複数の平行平面板を一体的にあるいはターレ
ット式に形成してもよい。
【0031】なお、上述の実施例では、高次の照度変動
を発生させる手段として平行平面板を用いた例を示して
いる。しかしながら、平行平面板に代えて、露光光透過
性の液体をガラス容器中に収容し、液量の増減によりそ
の厚さを変化させてもよい。また、露光光透過性の気体
を互いに平行な2つの平行平面板の間に封入し、封入気
体の圧力を変化させて気体の屈折率を制御するようにし
てもよい。さらに、互いに平行な2つの平行平面板の間
に液体または気体を封入し、その厚さを変化させてもよ
い。
【0032】
【効果】以上説明したように、本発明の投影露光装置で
は、マスクよりも光源側の光路中に平行平面板のような
光透過部材を挿入することにより、ウエハ上における高
次の照度ムラを良好に補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例にかかる投影露光装置の構成を
概略的に示す図である。
【図2】マスクMとメインコンデンサーレンズMCとの
間の光路中に平行平面板7を挿入したときの様子を示す
図であって、(a)は平行平面板7の挿入によるレチク
ルブラインドRBとマスクMとの共役関係の変化を、
(b)は平行平面板7の挿入によるウエハW上における
照度分布の変動をそれぞれ示している。
【図3】ウエハ上において照明のテレセントリック性を
確保するために照明光学系が瞳の球面収差を有する様子
を説明する図である。
【図4】図1の平行平面板7の屈折特性を変化させる手
法を示す図であって、(a)は屈折率が同一で厚さが異
なる3つの平行平面板を一体的に構成している様子を、
(b)は厚さが同一で屈折率が異なる3つの平行平面板
を一体的に構成している様子をそれぞれ示している。
【符号の説明】
1 光源 2 楕円鏡 3 コリメートレンズ 4 フライアイレンズ 5 第1リレーレンズ 6 第2リレーレンズ 7 平行平面板 8 光検出器 9 制御系 RB レチクルブラインド MC メインコンデンサーレンズ M マスク PL 投影光学系 W ウエハ WS ウエハステージ

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定のパターンが形成されたマスクを照
    明するための照明光学系と、前記マスクパターンを感光
    性基板上に投影するための投影光学系とを備えた投影露
    光装置において、 前記マスクよりも光源側の光路中に設けられ、前記照明
    光学系の光軸に対してほぼ垂直な2つの境界面を有する
    媒質を含む平行平面板型の光透過手段と、 前記感光性基板上における高次の照度ムラを補正するた
    めに、前記光軸に対して傾いた光線に対する前記光透過
    手段の屈折特性を制御するための制御手段と、 を備えていることを特徴とする投影露光装置。
  2. 【請求項2】 前記照明光学系は、 照明光を供給するための光源と、 前記光源からの光に基づいて複数の光源像を形成するた
    めの多光源像形成手段と、 前記複数の光源像からの光を集光して前記マスクを重畳
    的に照明するためのコンデンサーレンズとを有し、 前記光透過手段は、前記コンデンサーレンズと前記マス
    クとの間の光路中に設けられることを特徴とする請求項
    1に記載の投影露光装置。
  3. 【請求項3】 前記光透過手段は、透明な光学材料から
    なる平行平面板であり、 前記制御手段は、前記平行平面板の厚さおよび屈折率の
    うち少なくとも一方を変化させることを特徴とする請求
    項1または2に記載の投影露光装置。
  4. 【請求項4】 前記光透過手段は、2つの透明な光学材
    料からなる平行平面板と、該2つの平行平面板内に封入
    された透明な液体とを有し、 前記制御手段は、前記光透過手段の液体の前記光軸方向
    の厚さを変化させることを特徴とする請求項1または2
    に記載の投影露光装置。
  5. 【請求項5】 前記光透過手段は、1つの透明な光学材
    料からなる平行平面板を底部とする容器と、該容器中に
    収容された透明な液体とを有し、 前記制御手段は、前記光透過手段の液体の前記光軸方向
    の厚さを変化させることを特徴とする請求項1または2
    に記載の投影露光装置。
  6. 【請求項6】 前記光透過手段は、2つの透明な光学材
    料からなる平行平面板と、該2つの平行平面板内に封入
    された透明な気体とを有し、 前記制御手段は、前記光透過手段の気体の前記光軸方向
    の厚さおよび屈折率のうち少なくとも一方を変化させる
    ことを特徴とする請求項1または2に記載の投影露光装
    置。
  7. 【請求項7】 前記マスク上の照明領域を規定するため
    の光束制限手段をさらに備え、 前記制御手段は、前記光束制限手段と前記マスクとの共
    役関係を保つために、前記光透過手段の屈折特性に応じ
    て前記光束制限手段を前記光軸に沿って移動させること
    を特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の投
    影露光装置。
  8. 【請求項8】 前記投影光学系の光軸に対して前記感光
    性基板の露光面とほぼ同じ高さの面内において前記投影
    光学系の投影領域内の照度分布を検出するための検出手
    段をさらに備え、 前記制御手段は、前記検出手段の出力に基づいて前記光
    透過手段の屈折特性を制御し、 前記検出手段は、実使用のマスクと同じ厚さを有し且つ
    その表面に反射防止コートが施された検出用マスクを用
    いて前記照度分布を検出することを特徴とする請求項1
    乃至7のいずれか1項に記載の投影露光装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2002014924A1 (fr) * 2000-08-11 2002-02-21 Nikon Corporation Systeme optique d'image a relais et dispositif optique d'eclairage, et systeme d'exposition dote de ce systeme optique
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JP2006324660A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Asml Holding Nv 照明ビーム調整手段を用いた装置と方法

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