JPH0970750A - 基板研磨装置 - Google Patents

基板研磨装置

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JPH0970750A
JPH0970750A JP22974195A JP22974195A JPH0970750A JP H0970750 A JPH0970750 A JP H0970750A JP 22974195 A JP22974195 A JP 22974195A JP 22974195 A JP22974195 A JP 22974195A JP H0970750 A JPH0970750 A JP H0970750A
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JP
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polishing
substrate
chuck
plate
pad
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JP22974195A
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Shuzo Sato
修三 佐藤
Yoshiaki Komuro
善昭 小室
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Sony Corp
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板研磨における面内均一性の向上と研磨パ
ッドの長寿命化を同時に図ることができる基板研磨装置
を提供する。 【解決手段】 研磨ヘッド3のチャックプレート24に
て吸着保持した基板31を、研磨プレート上に張設され
た研磨パッドの表面に所定の研磨加圧力をもって押し付
けつつ研磨処理を行う基板研磨装置であって、研磨パッ
ドの表面形状に合わせてチャックプレート24を研磨加
圧方向に強制的に弾性変形させるべく、チャックプレー
ト24の基板保持面と反対側に形成されたチャンバー2
6と、このチャンバー26に連通する給排気口28を介
してチャンバー26内のエアー圧を可変する給排気装置
30とからなるチャック面補正機構を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、研磨ヘッドにて保
持した基板を研磨プレート上のパッド面に押し付けつつ
研磨処理を行う基板研磨装置に関するもので、特に、半
導体ウエハ上に成膜された各種の膜表面を均一に平坦化
する際に用いて好適なものである。
【0002】
【従来の技術】図5は従来の基板研磨装置の一例を示す
概略図であり、これは半導体ウエハの層間絶縁膜等の平
坦化研磨に用いられる化学的機械研磨(CMP)装置の
構成を示している。図5に示す基板研磨装置において
は、研磨プレート(研磨定盤)1の上面に多孔質材料か
らなる研磨パッド2が張設されている。研磨プレート1
は図示せぬプレート回転軸によって水平状態に支持さ
れ、研磨時にはそのプレート回転軸を介して図中矢印方
向に回転駆動される。一方、研磨プレート1の上方に
は、プレート上のパッド面に対向して研磨ヘッド3が配
置されている。この研磨ヘッド3の下面には図示せぬチ
ャックプレートが取り付けられており、このチャックプ
レートにウレタンゴム等からなる基板吸着フィルム4が
貼着されている。また研磨ヘッド3は図示せぬヘッド回
転軸に支持されており、研磨時にはそのヘッド回転軸を
介して図中矢印方向に回転駆動される。さらに研磨ヘッ
ド3の近傍には研磨剤(スラリー)供給用のノズル5が
配設されており、研磨時には研磨剤供給タンク6から送
出された研磨剤が上記ノズル5を通して研磨パッド2上
に供給される。
【0003】次に、上記従来の基板研磨装置の動作につ
いて説明する。先ず、基板の研磨処理に際しては、半導
体ウエハ等の基板7が基板吸着フィルム4を介して研磨
ヘッド3下面側のチャックプレート(不図示)に吸着保
持される。また、研磨プレート1と研磨ヘッド3とは、
それぞれの回転軸を介して図示せぬ駆動手段により回転
駆動される。このとき、研磨剤供給タンク6からノズル
5を通して研磨剤が研磨パッド2上に供給され、この状
態で図示せぬ加圧部の研磨加工圧Pをもって研磨パッド
2の表面に基板7が押し付けられる。これにより基板7
の表面は、研磨剤中のアルカリによる化学的研磨作用と
シリカによる機械的研磨作用とによって研磨される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、この種の基
板研磨装置においては、何枚もの基板7を研磨していく
うちに、研磨パッド2が磨耗したり劣化したりして、徐
々にパッド表面形状が崩れてくる。一般に、形状が崩れ
た研磨パッド2は、図6に示すような形状、すなわち基
板7との接触領域において中凹形状となる。そうする
と、これに押し付けられる基板7側では、パッド面との
当たり具合(研磨接触圧)が面内で不均一となるため、
その中央部と周縁部とで研磨速度に差が生じる。これに
より基板7の被研磨面は、パッド面形状がそのまま転写
されたような中凸形状となり、面内均一性が著しく悪化
してしまう。そのため従来では、ドレッサ等を用いて頻
繁にパッド面をツルーイング(形状補正)する必要があ
り、そのための段取り作業によるタイムロスや研磨パッ
ドの短寿命化を招いていた。また従来装置の中には、流
体(気体、液体等)による均等加圧方式にて基板7を研
磨パッド2に押し付ける方式を採用する考えもあるが、
その場合でもパッド面形状の崩れによる面内均一性の悪
化を回避できるものではなかった。
【0005】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたもので、その目的は、基板研磨における面内均一性
の向上と研磨パッドの長寿命化を同時に図ることができ
る基板研磨装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するためになされたもので、研磨ヘッドのチャックプ
レートにて吸着保持した基板を、研磨プレート上に張設
された研磨パッドの表面に所定の研磨加圧力をもって押
し付けつつ研磨処理を行う基板研磨装置において、研磨
パッドの表面形状に合わせてチャックプレートを研磨加
圧方向に強制的に弾性変形させるチャック面補正機構を
備えた構成を採っている。
【0007】こうした構成を採用すれば、研磨処理によ
って研磨パッドの表面形状が変化しても、その時々の研
磨パッドの表面形状に合わせてチャックプレートを研磨
加圧方向に強制的に弾性変形させることにより、たとえ
研磨パッドの表面形状に多少の崩れがあっても、チャッ
クプレートにて吸着保持した基板をその全面にわたりパ
ッド表面に均一に押し付けることが可能となる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、例えば半導体ウエハの平坦
化研磨に用いられる化学的機械研磨装置に適用した場合
の本発明の実施形態につき、図面を参照しつつ詳細に説
明する。なお、本発明に係わる基板研磨装置は上記化学
的機械研磨装置への適用に限定されるものではなく、例
えば機械的研磨作用を主体としたメカノケミカル研磨や
化学的研磨作用を主体としてケモメカニカル研磨など、
機械的作用と化学的作用とを複合化させた、いわゆる複
合研磨装置全般に適用できるものである。
【0009】図1は本発明に係わる基板研磨装置の一実
施形態を示す要部断面図であり、これは研磨プレート上
のパッド面に対向して配置される研磨ヘッド3の構造を
示している。図1に示す研磨ヘッド3においては、ヘッ
ド回転軸10の下端にフランジ11を介してアッパープ
レート12が取り付けられている。アッパープレート1
2はドーナツ形状をなすもので、そのプレート上には、
大径リング13と小径リング14とからなるロータリー
ジョイントハウジングが装着されている。このうち、大
径リング13はアッパープレート12上に螺子結合にて
固定され、その内側に小径リング14が摺動自在に嵌め
込まれている。
【0010】ここで大径リング13と小径リング14に
は、図2(a)に示すように、各々L字形の孔13a,
14aが設けられている。また、小径リング14の外周
面と、これに向かい合う大径リング13の内周面には、
それぞれリング全周にわたって突き合わせ溝13b,1
4bが形成されており、これらの突き合わせ溝13b,
14bを介して互いの孔13a,14a同士がリング回
転角とは無関係に常に連通するようになっている。ま
た、大径リング13の取付位置に対応してアッパープレ
ート12にも貫通孔12aが設けられており、この貫通
孔12aに大径リング13の孔13aが連通している。
【0011】さらにアッパープレート12の周縁部には
所定の円周ピッチで複数本のガイドシャフト15が摺動
自在に嵌挿されている。ガイドシャフト15の上端部は
アッパープレート12から突出して配置され、そこに抜
け止め用のストッパー16が取り付けられている。ま
た、ガイドシャフト12の下端部は螺子結合にてベース
プレート17に固定されている。さらにアッパープレー
ト12とベースプレート17の間には圧縮コイルバネ1
8が介装されている。この圧縮コイルバネ18はガイド
シャフト12に取り付けられ、そのバネ圧をもってアッ
パープレート12とベースプレート17が互いに略平行
に保持されている。
【0012】一方、アッパープレート12の下面略中央
には軸受け支持部材19が取り付けられている。この軸
受け支持部材19は中空構造をなすもので、その内周側
には凹面と凸面(球面)によって互いに滑動自在に結合
された球面滑り軸受け20が組み込まれている。これに
対して、ベースプート17の凹部上面には鍔付きの筒体
21が取り付けられている。上記球面滑り軸受け20
は、この筒体21の胴体部分に嵌め込まれ、その状態
で、筒体21上端に螺合されたナット22と軸受け支持
部材19の内周側に嵌め込まれた止め環23により挟持
されている。さらにベースプレート17の下面側にはチ
ャックプレート24が取り付けられている。このチャッ
クプレート24は、後述する基板を吸着保持するための
もので、その周縁部はシール用のOリング25を介して
ベースプレート17に密着固定されている。
【0013】加えて、本実施形態の研磨ヘッド3では、
研磨プレート上に張設された研磨パッドの表面形状に合
わせて上記チャックプレート17を研磨加圧方向(ヘッ
ド回転軸10の軸方向)に強制的に弾性変形させるチャ
ック面補正機構が以下のごとく構成されている。すなわ
ち、ベースプレート17とチャックプレート24との間
には微小なチャンバー26が形成されている。このチャ
ンバー26は、双方のプレート17、24間に介装され
た上記Oリング25によって気密状態に保持されてい
る。またベースプレート17の中心部には、チャンバー
26に連通する給排気口27が穿孔されている。この給
排気口27にはロータリージョイント28を介してエア
ーチューブ29の一端が接続されている。またエアーチ
ューブ29の他端は、筒体21及びヘッド回転軸10の
内部を通して給排気装置30へと接続されている。こう
した給排気系は、上記エアーチューブ29を通してチャ
ンバー26にエアーを供給したり、逆にチャンバー26
からエアーを吸引することによって、チャンバー26内
のエアー圧を任意に変化させるものである。
【0014】このチャック面補正機構においては、給排
気装置30の作動によりエアーチューブ29を通して給
排気口27から圧縮エアーがチャンバー26内に供給さ
れる。そうすると、チャンバー26内のエアー圧が高ま
り、このエアー圧に押し出されるようにしてチャックプ
レート24が研磨加圧方向に弾性変形する。そこで本出
願人は、チャンバー26内のエアー圧とチャック面形状
の関係を把握するため、基板を保持する領域の厚さが8
mmに設定されたステンレス(SUS材)のチャックプ
レート24を用いて、図1に示す如くチャックプレート
24の周縁部を固定した状態でチャンバー26内へのエ
アーの供給によりチャックプレート24に等分布荷重を
加え、各々の圧力条件でのチャック面の変化を測定して
みた。
【0015】この測定にあたっては、研磨プレートから
研磨ヘッド3を離間させた状態、つまり非研磨状態に
て、給排気装置30での圧力設定値を調整することによ
り、チャンバー26内のエアー圧を0Kgf/cm
2 (大気圧)〜4Kgf/cm2 の範囲内で1Kgf/
cm2 ずつ変化させ、各々のチャック面形状を測定し
た。その結果、チャック面の形状変化としては、図3に
示すように、0Kgf/cm2 ではパッド面に対して若
干中凹傾向にあったものが、1Kgf/cm2 のエアー
圧をかけた状態ではほぼ平坦になり、その後はエアー圧
の高まりにしたがって徐々に中凸傾向が強くなってい
る。つまり、チャック面の形状は、チャンバー26内の
エアー圧に比例して徐々に中凸傾向が顕著となり、これ
は理論的にも一致したものとなっている。このことから
上記チャック面補正機構では、チャンバー26内のエア
ー圧を調整することにより、チャックプレート24のチ
ャック面形状を任意に変化させることが可能であるとい
える。
【0016】ちなみに、基板保持領域でのプレート厚が
4mmに設定されたチャックプレート24を用いて上記
同様のエアー圧条件にてチャック面形状を測定してみた
ところ、エアー圧の上昇に伴うチャック面形状の変化度
合いが大きくなるだけで、エアー圧に比例してチャック
面形状が変化することに変わりはなかった。現状では、
研磨処理による研磨パッドの磨耗量を考慮すると、チャ
ックプレート24の変形量としては100μm程度で十
分であるため、チャック面形状をより細かに制御できる
という点からも、100μm程度の変形量が実用範囲内
のエアー圧(0Kgf/cm2 〜5Kgf/cm2 )に
て得られるよう、チャック面の厚さを設定するのが好ま
しい。
【0017】さらに、チャックプレート24の下面には
多孔質材料等からなる基板吸着フィルム(バッキングフ
ィルムBF(図3(a))が貼着され、この基板吸着フ
ィルムBFを介してチャックプレート24の下面側に基
板31が吸着保持されるようになっている。一般に、チ
ャックプレート24に対する基板31の脱着には、バキ
ューム吸引やエアーブローを用いるため、上記チャック
面補正機構を作動させるためのエアー系統とは別に基板
脱着用のエアー系統が必要になる。
【0018】基板脱着用のエアー系統としては、上述の
ロータリージョイントハウジング13、14によって形
成された第1のエアー流路(図2(a)参照)に加え
て、ベースプレート17の周縁部からチャックプレート
24の基板保持面(下面)に至る第2のエアー流路が確
保されている。この第2のエアー流路として、ベースプ
レート17の周縁部には、ガイドシャフト15の固定位
置と円周方向に位相をずらしたかたちで複数の通孔32
が同心円上に形成されている。また第1のエアー流路と
第2のエアー流路とは、図2中の破線で示すように、ア
ッパープレート12の貫通孔12aとベースプレート1
7の通孔32とを繋ぐエアーチューブ(不図示)によっ
て連通している。
【0019】さらに第2のエアー流路として、チャック
プレート24の周縁部には、図2(b)に示すように、
上記ベースプレート17の通孔32と同軸状態で通孔3
3が設けられている。またチャックプレート24の周縁
部にはリテーナーリング34が嵌着され、このリテーナ
ーリング34にも上記通孔33に連通するL型の通孔3
5が設けられている。ここで、リテーナーリング34は
研磨時における基板31の飛び出しを防止するためのも
ので、基板吸着フィルムBF面を基準とした厚み寸法t
1は基板31の厚み寸法t2よりも小さく設定されてい
る。さらにチャックプレート24には周縁部から内方に
向けてL型の通孔36が形成されている。この通孔36
はリテーナーリング34の通孔35に連通し、基板吸着
フィルムBFの貼着面に開口している。
【0020】続いて、本実施形態における基板研磨装置
の動作機能について説明する。先ず、研磨ヘッドのチャ
ックプレート24に基板吸着フィルムBFを介して基板
31を吸着保持する。このとき、大径リング13と小径
リング14とからなるロータリージョイントハウジング
を介して真空引きを行うことにより、上述した第1のエ
アー流路(図2(a)参照)と第2のエアー流路(図2
(b)参照)とを介してエアーの吸引がなされ、チャッ
クプレート24のチャック面24aに基板吸着フィルム
BFを介して基板31が吸着保持される。
【0021】こうして研磨ヘッド3に基板31がセット
されると、モータ等の駆動力をもってヘッド回転軸10
と一体に研磨ヘッド3が回転駆動される。このとき、大
径リング13はアッパープレート12とともに回転する
が、その内周側に嵌め込まれた小径リング14は、大径
リング13との間に確保された微小なエアーギャップに
より回転せずにフローティング状態となる。また、大径
リング13が回転しても、双方の孔13a,14aが互
いの突き合わせ溝13b,14bを介して常に連通した
状態に保持されるため、従来同様にヘッド回転中におい
てもチャックプレート24のチャック面24aにて基板
31を確実に保持することができる。
【0022】次に、回転する研磨プレート上の研磨パッ
ドに対し、上述の如く研磨ヘッド3のチャックプレート
24にて保持した基板31を所定の研磨加工圧をもって
押し付ける。このとき、研磨パッド上には図示せぬノズ
ルから研磨剤(スラリー)が供給される。ここで、チャ
ックプレート24にて保持した基板31を研磨パッドの
表面に押し付けた際、ヘッド回転軸10の傾きや回転精
度、あるいは基板31の厚さバラツキやチャッキング誤
差等により、基板31の被研磨面がパッド面に対して傾
いたまま押し付けられる場合がある。そこで研磨ヘッド
3を構成する上では、球面滑り軸受け20と圧縮コイル
バネ18を利用したユニバーサルジョイント構造を採用
し、上述した種々の要因による基板面とパッド面の傾き
を矯正できるようにしている。
【0023】その後、所定の時間が経過して1回目の研
磨が終了したら、研磨ヘッド3を上昇させて基板31の
脱着を行い、2回目の研磨を開始する。こうして研磨処
理を繰り返していくと、先の従来例でも述べたように、
研磨パッドの表面が徐々に磨耗してくる。そうすると、
パッド面形状の崩れとともに基板31の面内均一性も悪
化する。そこで本実施形態の基板研磨装置では、図4に
示すように、給排気系からのエアーの供給によってチャ
ンバー26内のエアー圧を高め、磨耗した研磨パッド2
の表面形状に合わせてチャックプレート24を研磨加圧
方向に強制的に弾性変形させる。
【0024】さらに詳述すると、研磨パッド2の表面形
状については、研磨処理後の基板31の表面状態から容
易に把握できるため、これによって把握されたパッド表
面形状に合わせてチャンバー26内のエアー圧を調整す
る。チャンバー26内のエアー圧とチャック面形状の関
係については先の図3にも示したように簡易な測定によ
って事前に把握できるため、基板31の表面状態から把
握したパッド表面形状に倣ったプロファイルをチャック
プレート24が形成するようにチャンバー26内のエア
ー圧を適宜調整する。ここで、先の図3に示した測定結
果は非研磨状態でのエアー圧とチャック面形状の関係を
示すものであったが、実際の研磨加工ではチャックプレ
ート24が研磨加工圧による等分布荷重をパッド面側か
ら受けることになる。そのため、例えば研磨加工圧が1
Kgf/cm2 に設定されている場合は、その分を加味
してチャンバー26内のエアー圧を高めに設定すること
が肝要である。
【0025】これにより、研磨中のチャックプレート2
4は、研磨加工圧によってパッドから受ける外圧とチャ
ンバー26からの内圧(エアー圧)との差圧で、パッド
表面形状に倣って弾性変形するようになるため、たとえ
磨耗した研磨パッド2であっても基板31の全面をパッ
ド表面に均一に押し付けつつ研磨処理を行うことができ
る。その結果、パッド面形状の崩れによる面内均一性の
悪化を回避しつつ、1回のツルーイングによって形状補
正した研磨パッド2で、より多くの基板31を好適に研
磨処理することができる。
【0026】ところで一般的に、新品のパッド表面又は
ツルーイング直後のパッド表面は面内均一性を上げるた
めに平坦に成形される。しかしながら本実施形態の基板
研磨装置では、パッド表面形状に合わせてチャックプレ
ートを弾性変形させることができるため、新品或いはツ
ルーイング直後のパッド表面を中凸形状に成形してお
き、そのパッド面形状に合わせてチャンバー26内を負
圧にしたり、大気圧でのチャック面を予め中凹形状に設
定して研磨処理を開始することで、磨耗によるパッド面
の中凹傾向の進行を遅らせることができるため、パッド
面のツルーイング頻度をより一層低下させることが可能
となる。
【0027】なお、上記実施形態においては、エアー圧
を利用してチャックプレート24を弾性変形させるチャ
ック面補正機構を採用するようにしたが、これ以外に
も、例えばチャックプレート24の基板保持面(チャッ
ク面)と反対側の面に螺子の先端を当接させ、その螺子
の押し込みによるメカニカルな中心荷重によってチャッ
クプレート24を強制的に弾性変形させる機構を採用す
ることも可能である。しかしながら、上記実施形態のよ
うにエアー圧を利用した方が、加工中の研磨パッド2か
ら受ける等分布荷重に対し、チャックプレート24のチ
ャック面形状をパッド表面形状に近似した理想的且つ単
調なプロファイルとすることができるうえ、パッド表面
形状の変化に追随したチャック面の形状制御がきわめて
容易となるため、より好適である。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように本発明の基板研磨装
置によれば、研磨パッドの表面形状に合わせてチャック
プレートを研磨加圧方向に強制的に弾性変形させるチャ
ック面補正機構を備えたことにより、研磨処理によって
研磨パッドの表面形状が変化しても、そのパッド表面形
状に合わせてチャックプレートを弾性変形させることに
より、たとえ研磨パッドの表面形状に多少の崩れがあっ
ても、チャックプレートにて吸着保持した基板をその全
面にわたりパッド表面に均一に押し付けることができ
る。これにより、基板研磨時の面内均一性を大幅に向上
させることができるとともに、研磨接触圧の均一化によ
って研磨速度を安定させることも可能となる。また、従
来に比較してパッド表面をツルーイングする頻度が低く
なるため、段取り作業によるタイムロスを低減できると
ともに、パッド自身の寿命を大幅に延ばすことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる基板研磨装置の一実施形態を示
す要部断面図である。
【図2】図1の一部詳細図である。
【図3】エアー圧とチャック面形状の関係を示す図であ
る。
【図4】実施形態における研磨加工時の模式図である。
【図5】従来の基板研磨装置の一例を示す概略図であ
る。
【図6】従来問題を説明する図である。
【符号の説明】
24 チャックプレート 26 チャンバー 27 給排気口 28 ロータリージョイント 29 エアーチューブ 30 給排気装置

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 研磨ヘッドのチャックプレートにて吸着
    保持した基板を、研磨プレート上に張設された研磨パッ
    ドの表面に所定の研磨加圧力をもって押し付けつつ研磨
    処理を行う基板研磨装置において、 前記研磨パッドの表面形状に合わせて前記チャックプレ
    ートを研磨加圧方向に強制的に弾性変形させるチャック
    面補正機構を備えたことを特徴とする基板研磨装置。
  2. 【請求項2】 前記チャック面補正機構は、前記チャッ
    クプレートの基板保持面と反対側に形成されたチャンバ
    ーと、このチャンバーに連通する給排気口を介して前記
    チャンバー内のエアー圧を可変する給排気系とによって
    構成されたことを特徴とする請求項1記載の基板研磨装
    置。
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