JPH0970682A - レーザ溶接装置 - Google Patents
レーザ溶接装置Info
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- JPH0970682A JPH0970682A JP7255523A JP25552395A JPH0970682A JP H0970682 A JPH0970682 A JP H0970682A JP 7255523 A JP7255523 A JP 7255523A JP 25552395 A JP25552395 A JP 25552395A JP H0970682 A JPH0970682 A JP H0970682A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レ−ザビ−ムのパワ−密度変化の原因となる
熱レンズ効果を発生させるウインドウを使用せず、ビ−
ム伝送路を清浄に保ち、且つ溶接部のシ−ルドを確実に
行えるレ−ザ溶接装置を提供する。 【解決手段】(A)レ−ザ発振器10で発生したレ−ザ
ビ−ム1を伝送するビ−ム伝送路3内を清浄空気9で充
填させるための、前記ビ−ム伝送路3に設けられた空気
供給口8と、(B)集光鏡2からのレ−ザビ−ム1が通
過するように前記ビ−ム伝送路3に設けられた開口部1
8を有し、(C)前記開口部18と溶接部4との間にあ
って、前記開口部18からの前記清浄空気9が逃げるた
めの隙間30を有して設けられ、(D)前記溶接部4に
対してシ−ルドガス7を吹き付けるためのシ−ルドガス
供給部6、15を備えている。
熱レンズ効果を発生させるウインドウを使用せず、ビ−
ム伝送路を清浄に保ち、且つ溶接部のシ−ルドを確実に
行えるレ−ザ溶接装置を提供する。 【解決手段】(A)レ−ザ発振器10で発生したレ−ザ
ビ−ム1を伝送するビ−ム伝送路3内を清浄空気9で充
填させるための、前記ビ−ム伝送路3に設けられた空気
供給口8と、(B)集光鏡2からのレ−ザビ−ム1が通
過するように前記ビ−ム伝送路3に設けられた開口部1
8を有し、(C)前記開口部18と溶接部4との間にあ
って、前記開口部18からの前記清浄空気9が逃げるた
めの隙間30を有して設けられ、(D)前記溶接部4に
対してシ−ルドガス7を吹き付けるためのシ−ルドガス
供給部6、15を備えている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は集光鏡を用いるレ−
ザ溶接装置、特にレ−ザビ−ムのパワ−密度変化を少な
くしたレ−ザ溶接装置に関するものである。
ザ溶接装置、特にレ−ザビ−ムのパワ−密度変化を少な
くしたレ−ザ溶接装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】レ−ザ溶接装置はそのエネルギ密度が高
く、溶接変形が少なくかつ高品質の溶接部が得ら、大気
中での作業が可能であり、鉄鋼材料やアルミニュウム等
の非鉄金属の溶接に適用される。
く、溶接変形が少なくかつ高品質の溶接部が得ら、大気
中での作業が可能であり、鉄鋼材料やアルミニュウム等
の非鉄金属の溶接に適用される。
【0003】この種の従来のレ−ザ溶接装置は、図9に
示すように、レ−ザ発振器10で発生したレ−ザビ−ム
1をビ−ム伝送路3を通じて集光鏡2に導き、被溶接物
の溶接部4に集光させ、その熱エネルギにより、溶接を
行うものである。ところで粉塵等が前記ビ−ム伝送路3
内に侵入し、前記集光鏡2の汚染によりビ−ム反射率が
低下しないように、清浄空気9を供給し、前記ビ−ム伝
送路3内の内圧を高く保持している。一方、前記溶接部
4からのヒュ−ム等の侵入による前記集光鏡2の汚染を
防止し、かつ前記溶接部4を大気から隔離するためのシ
−ルドガス7を供給するためにArやHe等の不活性ガ
スをシ−ルドガス供給口13より入れて、センタ−ノズ
ル14の先端から前記溶接部4に吹きつけられる。
示すように、レ−ザ発振器10で発生したレ−ザビ−ム
1をビ−ム伝送路3を通じて集光鏡2に導き、被溶接物
の溶接部4に集光させ、その熱エネルギにより、溶接を
行うものである。ところで粉塵等が前記ビ−ム伝送路3
内に侵入し、前記集光鏡2の汚染によりビ−ム反射率が
低下しないように、清浄空気9を供給し、前記ビ−ム伝
送路3内の内圧を高く保持している。一方、前記溶接部
4からのヒュ−ム等の侵入による前記集光鏡2の汚染を
防止し、かつ前記溶接部4を大気から隔離するためのシ
−ルドガス7を供給するためにArやHe等の不活性ガ
スをシ−ルドガス供給口13より入れて、センタ−ノズ
ル14の先端から前記溶接部4に吹きつけられる。
【0004】この前記シ−ルドガス7に空気が混入する
と、空孔等の溶接欠陥が発生する。このため、前記ビ−
ム伝送路3内の空気とシ−ルドガスの混入を防止する手
段とし、図9に示すように、前記ビ−ム伝送路3内の発
振器10側を清浄空気9で満たし、また前記集光鏡2側
にシ−ルドガス7を供給するための仕切りとして通常ウ
インドウ12と呼ばれる平レンズが配置されている。他
に、集光鏡2を有するレ−ザ溶接装置にはレ−ザ発振器
10内のレ−ザガスの気密を保ち、レ−ザ発振器10か
らのレ−ザビ−ムを取り出すためのレ−ザ発振器内ウイ
ンドウ11がレ−ザ発振器内部の出口に設置されてい
る。これらウインドウはレ−ザビ−ムの光路に影響を与
えない、即ち集光性のない状態となっている。
と、空孔等の溶接欠陥が発生する。このため、前記ビ−
ム伝送路3内の空気とシ−ルドガスの混入を防止する手
段とし、図9に示すように、前記ビ−ム伝送路3内の発
振器10側を清浄空気9で満たし、また前記集光鏡2側
にシ−ルドガス7を供給するための仕切りとして通常ウ
インドウ12と呼ばれる平レンズが配置されている。他
に、集光鏡2を有するレ−ザ溶接装置にはレ−ザ発振器
10内のレ−ザガスの気密を保ち、レ−ザ発振器10か
らのレ−ザビ−ムを取り出すためのレ−ザ発振器内ウイ
ンドウ11がレ−ザ発振器内部の出口に設置されてい
る。これらウインドウはレ−ザビ−ムの光路に影響を与
えない、即ち集光性のない状態となっている。
【0005】
【発明を解決しようとする課題】しかしながら、ウイン
ドウ11、12をレ−ザビ−ム1が透過する際に、エネ
ルギの一部が前記ウインドウ11、12に吸収される。
このため前記ウインドウ11、12が熱変形し、いわゆ
る熱レンズ効果が生じ、集光鏡2の焦点距離が短くなる
現象が発生し、溶接部4のレ−ザビ−ムのパワ−密度が
変化する。前記ウインドウ11、12からの放熱は前記
ウインドウ11、12の外周枠の金属部への熱伝導によ
るのみで、外周枠への水冷ジャケットの設置も、熱レン
ズ効果を抑制することが困難であった。このような熱レ
ンズ効果が溶接時に発生すると、溶接中に溶け込み深さ
や溶け込み形状が変化し、安定した溶接状態が得られな
くなるという問題が生ずる。
ドウ11、12をレ−ザビ−ム1が透過する際に、エネ
ルギの一部が前記ウインドウ11、12に吸収される。
このため前記ウインドウ11、12が熱変形し、いわゆ
る熱レンズ効果が生じ、集光鏡2の焦点距離が短くなる
現象が発生し、溶接部4のレ−ザビ−ムのパワ−密度が
変化する。前記ウインドウ11、12からの放熱は前記
ウインドウ11、12の外周枠の金属部への熱伝導によ
るのみで、外周枠への水冷ジャケットの設置も、熱レン
ズ効果を抑制することが困難であった。このような熱レ
ンズ効果が溶接時に発生すると、溶接中に溶け込み深さ
や溶け込み形状が変化し、安定した溶接状態が得られな
くなるという問題が生ずる。
【0006】また長時間の連続溶接の場合、溶接部4付
近ではレ−ザ誘起プラズマが発生し、センタ−ノズル1
4は高温に曝し続けられるため、前記ノズル14の溶
融、溶け落ちが発生し、シ−ルド状態が変化して安定し
た溶接状態が得られなくなるという問題があった。
近ではレ−ザ誘起プラズマが発生し、センタ−ノズル1
4は高温に曝し続けられるため、前記ノズル14の溶
融、溶け落ちが発生し、シ−ルド状態が変化して安定し
た溶接状態が得られなくなるという問題があった。
【0007】そこで本発明のうち請求項1記載の発明
は、レ−ザビ−ムのパワ−密度変化の原因となる熱レン
ズ効果を発生させるウインドウを使用せず、ビ−ム伝送
路を清浄に保ち、且つ溶接部のシ−ルドを確実に行える
レ−ザ溶接装置を提供することを目的としたものであ
る。
は、レ−ザビ−ムのパワ−密度変化の原因となる熱レン
ズ効果を発生させるウインドウを使用せず、ビ−ム伝送
路を清浄に保ち、且つ溶接部のシ−ルドを確実に行える
レ−ザ溶接装置を提供することを目的としたものであ
る。
【0008】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明の目的に加えて、シ−ルドガス供給部による溶接部の
大気との隔離性をさらに向上させるレ−ザ溶接装置を提
供することを目的としたものである。
明の目的に加えて、シ−ルドガス供給部による溶接部の
大気との隔離性をさらに向上させるレ−ザ溶接装置を提
供することを目的としたものである。
【0009】請求項3記載の発明は、請求項2記載の発
明の目的に加えて、請求項2記載のシ−ルドガス供給部
における第1ノズルにより生じる随伴流を防止し、溶接
部への空気の巻き込みを阻止するレ−ザ溶接装置を提供
することを目的としたものである。
明の目的に加えて、請求項2記載のシ−ルドガス供給部
における第1ノズルにより生じる随伴流を防止し、溶接
部への空気の巻き込みを阻止するレ−ザ溶接装置を提供
することを目的としたものである。
【0010】請求項4記載の発明は、請求項2又は請求
項3記載の発明の目的に加えて、シ−ルドガス供給部の
ノズルの溶融、溶け落ちを防止するための、シ−ルドガ
ス供給部の下端を冷却することができるレ−ザ溶接装置
を提供することを目的としたものである。
項3記載の発明の目的に加えて、シ−ルドガス供給部の
ノズルの溶融、溶け落ちを防止するための、シ−ルドガ
ス供給部の下端を冷却することができるレ−ザ溶接装置
を提供することを目的としたものである。
【0011】請求項5記載の発明は、請求項1の発明の
目的に加えて、溶接部から飛散するスッパタ等の集光鏡
への侵入を防止することができるレ−ザ溶接装置を提供
することを目的としたものである。
目的に加えて、溶接部から飛散するスッパタ等の集光鏡
への侵入を防止することができるレ−ザ溶接装置を提供
することを目的としたものである。
【0012】請求項6記載の発明は、請求項1の発明の
目的と同様に、レ−ザビ−ムのパワ−密度変化の原因と
なる熱レンズ効果を発生させるウインドウを使用せず、
ビ−ム伝送路内を清浄に保ちながら、溶接部のシ−ルド
を行えるレ−ザ溶接装置を提供することを目的としたも
のである。
目的と同様に、レ−ザビ−ムのパワ−密度変化の原因と
なる熱レンズ効果を発生させるウインドウを使用せず、
ビ−ム伝送路内を清浄に保ちながら、溶接部のシ−ルド
を行えるレ−ザ溶接装置を提供することを目的としたも
のである。
【0013】
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ためには、ビ−ム伝送路3内の清浄度と溶接部4の大気
からの隔離性を保持し、ウインドウ11、12の熱レン
ズ効果を防止する手段を講じればよい。このため、図9
のレ−ザ溶接装置のレ−ザビ−ム照射中における溶接部
4でのパワ−密度変化及び集光鏡2の焦点位置の移動状
況におよぼすウインドウ11、12の影響を詳細に調査
した。この結果、レ−ザ発振器内ウインドウ11は熱レ
ンズ効果にほとんど影響を与えず、空気とシ−ルドガス
を仕切っているビ−ム伝送路3内のウインドウ12のみ
が、熱レンズ効果に大きな影響を与えることを確認し、
前記ビ−ム伝送路3内のウインドウ12の熱レンズ効果
を防止すればよいことが判明した。本発明はこの様な知
見を基に完成したものである。
ためには、ビ−ム伝送路3内の清浄度と溶接部4の大気
からの隔離性を保持し、ウインドウ11、12の熱レン
ズ効果を防止する手段を講じればよい。このため、図9
のレ−ザ溶接装置のレ−ザビ−ム照射中における溶接部
4でのパワ−密度変化及び集光鏡2の焦点位置の移動状
況におよぼすウインドウ11、12の影響を詳細に調査
した。この結果、レ−ザ発振器内ウインドウ11は熱レ
ンズ効果にほとんど影響を与えず、空気とシ−ルドガス
を仕切っているビ−ム伝送路3内のウインドウ12のみ
が、熱レンズ効果に大きな影響を与えることを確認し、
前記ビ−ム伝送路3内のウインドウ12の熱レンズ効果
を防止すればよいことが判明した。本発明はこの様な知
見を基に完成したものである。
【0014】本発明のうち請求項1記載の発明は、
(A)レ−ザ発振器10で発生したレ−ザビ−ム1を伝
送するビ−ム伝送路3内を清浄空気9で充填させるため
の、前記ビ−ム伝送路3に設けられた空気供給口8と、
(B)集光鏡2からのレ−ザビ−ム1が通過するように
前記ビ−ム伝送路3に設けられた開口部18を有し、
(C)前記開口部18と溶接部4との間にあって、前記
開口部18からの前記清浄空気9が逃げるための隙間3
0を有して設けられ、(D)前記溶接部4に対してシ−
ルドガス7を吹き付けるためのシ−ルドガス供給部6を
備えてなることを特徴とするものである。
(A)レ−ザ発振器10で発生したレ−ザビ−ム1を伝
送するビ−ム伝送路3内を清浄空気9で充填させるため
の、前記ビ−ム伝送路3に設けられた空気供給口8と、
(B)集光鏡2からのレ−ザビ−ム1が通過するように
前記ビ−ム伝送路3に設けられた開口部18を有し、
(C)前記開口部18と溶接部4との間にあって、前記
開口部18からの前記清浄空気9が逃げるための隙間3
0を有して設けられ、(D)前記溶接部4に対してシ−
ルドガス7を吹き付けるためのシ−ルドガス供給部6を
備えてなることを特徴とするものである。
【0015】すなわち、本発明のレ−ザ溶接装置はレ−
ザ発振器10から溶接部4までのレ−ザビ−ム光路内に
ウインドウを配置しない構造となり、前記ビ−ム伝送路
3内を清浄空気9で充填させた状態にして開口部18を
設け、この開口部18から集光されたレ−ザビ−ムに対
して、別途のシ−ルドガス供給部6、15によって前記
溶接部4に対してシ−ルドガス7を吹きつける構造とな
る。
ザ発振器10から溶接部4までのレ−ザビ−ム光路内に
ウインドウを配置しない構造となり、前記ビ−ム伝送路
3内を清浄空気9で充填させた状態にして開口部18を
設け、この開口部18から集光されたレ−ザビ−ムに対
して、別途のシ−ルドガス供給部6、15によって前記
溶接部4に対してシ−ルドガス7を吹きつける構造とな
る。
【0016】さらに詳細に説明する。(イ)本発明のレ
−ザ溶接装置はビ−ム伝送路内にウインドウを配置しな
い構造にすることによって、前記ウインドウの熱レンズ
効果は発生しないようになる。(ロ)前記ビ−ム伝送路
内を清浄空気で充填させるため、前記ビ−ム伝送路に空
気供給口を設け、集光鏡からのレ−ザビ−ムが通過する
ように前記ビ−ム伝送路に開口部を設け、前記開口部か
らの前記清浄空気を逃がす構造にすることによって、粉
塵や溶接時に発生するヒュ−ム等の前記ビ−ム伝送路内
への侵入が防止できるようになる。(ハ)溶接部に対し
てシ−ルドガスを吹きつけシ−ルドガス供給部を備える
ことによって、前記溶接部を大気から隔離することが出
来るようになる。
−ザ溶接装置はビ−ム伝送路内にウインドウを配置しな
い構造にすることによって、前記ウインドウの熱レンズ
効果は発生しないようになる。(ロ)前記ビ−ム伝送路
内を清浄空気で充填させるため、前記ビ−ム伝送路に空
気供給口を設け、集光鏡からのレ−ザビ−ムが通過する
ように前記ビ−ム伝送路に開口部を設け、前記開口部か
らの前記清浄空気を逃がす構造にすることによって、粉
塵や溶接時に発生するヒュ−ム等の前記ビ−ム伝送路内
への侵入が防止できるようになる。(ハ)溶接部に対し
てシ−ルドガスを吹きつけシ−ルドガス供給部を備える
ことによって、前記溶接部を大気から隔離することが出
来るようになる。
【0017】また請求項2記載の発明は、請求項1記載
の発明の構成のうち、シ−ルドガス供給部15に、集光
鏡2で集光されたレ−ザビ−ムが通過する中心通路31
と、この中心通路31の下端から溶接部4に向かう第1
ノズル16を設けることを特徴とするものである。この
第1ノズル16を設けることによって、前記溶接部4へ
周りからシ−ルドガスを吹きつける構造となり、前記溶
接部4の大気との隔離性をさらに向上させるようにな
る。
の発明の構成のうち、シ−ルドガス供給部15に、集光
鏡2で集光されたレ−ザビ−ムが通過する中心通路31
と、この中心通路31の下端から溶接部4に向かう第1
ノズル16を設けることを特徴とするものである。この
第1ノズル16を設けることによって、前記溶接部4へ
周りからシ−ルドガスを吹きつける構造となり、前記溶
接部4の大気との隔離性をさらに向上させるようにな
る。
【0018】また請求項3記載の発明は、請求項2記載
の発明の構成に加えて、集光鏡2で集光されたレ−ザビ
−ム1が通過する中心通路31に、前記第1ノズル16
に逆方向に吹き出すと第2ノズル17が設けることを特
徴とするものである。前記第2ノズル17を設けること
によって、前記第1ノズル16より生ずる随伴流を防止
することにより、溶接部4への空気の巻き込みを防止出
来るようになる。
の発明の構成に加えて、集光鏡2で集光されたレ−ザビ
−ム1が通過する中心通路31に、前記第1ノズル16
に逆方向に吹き出すと第2ノズル17が設けることを特
徴とするものである。前記第2ノズル17を設けること
によって、前記第1ノズル16より生ずる随伴流を防止
することにより、溶接部4への空気の巻き込みを防止出
来るようになる。
【0019】また請求項4記載の発明は、請求項2又は
請求項3記載の発明の構成に加えて、シ−ルドガス供給
部15の下端に冷却するための水冷部32を設けること
を特徴とするものである。この水冷部32を設けること
によって、溶接部4で発生したレ−ザ誘起プラズマによ
る前記シ−ルドガス供給部15のノズルの溶融、溶け落
ちが発生を防止出来るようになり、安定した溶接状態が
得られるようになる。
請求項3記載の発明の構成に加えて、シ−ルドガス供給
部15の下端に冷却するための水冷部32を設けること
を特徴とするものである。この水冷部32を設けること
によって、溶接部4で発生したレ−ザ誘起プラズマによ
る前記シ−ルドガス供給部15のノズルの溶融、溶け落
ちが発生を防止出来るようになり、安定した溶接状態が
得られるようになる。
【0020】また請求項5記載の発明は、請求項1記載
の発明の構成に加えて、シ−ルドガス供給部15と開口
部18との間の隙間30にエア−カ−テンを形成するた
めの吹き出し手段20を設けられることを特徴とするも
のである。前記エア−カ−テンを形成するための吹き出
し手段20を設けることによって、質量が大きくかつ飛
散速度の速いスパッタの侵入を防止出来るようになる。
の発明の構成に加えて、シ−ルドガス供給部15と開口
部18との間の隙間30にエア−カ−テンを形成するた
めの吹き出し手段20を設けられることを特徴とするも
のである。前記エア−カ−テンを形成するための吹き出
し手段20を設けることによって、質量が大きくかつ飛
散速度の速いスパッタの侵入を防止出来るようになる。
【0021】また請求項6記載の発明は、(A)レ−ザ
発振器10で発生したレ−ザビ−ム1を伝送するビ−ム
伝送路3内をシ−ルドガス7で充填させるため、前記ビ
−ム伝送路3に設けられたシ−ルドガス供給口13と、
(B)集光鏡2からのレ−ザビ−ム1が通過するように
覆うとともに、溶接部4に対しシ−ルドガス7を導くた
め前記ビ−ム伝送路3に接続されたセンタ−ノズル14
を備えてなることを特徴とするものである。レ−ザ発振
器10から溶接部4までのレ−ザビ−ム光路内にウイン
ドウを配置しない構造であり、前記ビ−ム伝送路3内を
シ−ルドガス7で充填させた状態で、前記溶接部4に対
して前記シ−ルドガス7を吹きつける構造となる。これ
らによって、前記ウインドウの熱レンズ効果の発生防
止、粉塵や溶接時に発生するヒュ−ム等の前記ビ−ム伝
送路内への侵入防止、前記溶接部を大気から隔離するこ
とが出来るようになる。
発振器10で発生したレ−ザビ−ム1を伝送するビ−ム
伝送路3内をシ−ルドガス7で充填させるため、前記ビ
−ム伝送路3に設けられたシ−ルドガス供給口13と、
(B)集光鏡2からのレ−ザビ−ム1が通過するように
覆うとともに、溶接部4に対しシ−ルドガス7を導くた
め前記ビ−ム伝送路3に接続されたセンタ−ノズル14
を備えてなることを特徴とするものである。レ−ザ発振
器10から溶接部4までのレ−ザビ−ム光路内にウイン
ドウを配置しない構造であり、前記ビ−ム伝送路3内を
シ−ルドガス7で充填させた状態で、前記溶接部4に対
して前記シ−ルドガス7を吹きつける構造となる。これ
らによって、前記ウインドウの熱レンズ効果の発生防
止、粉塵や溶接時に発生するヒュ−ム等の前記ビ−ム伝
送路内への侵入防止、前記溶接部を大気から隔離するこ
とが出来るようになる。
【0022】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を、図1ない
し図8を用いて説明する。本発明に係わるレ−ザ溶接装
置は図1に示すように、(A)レ−ザ発振器10と、
(B)このレ−ザ発振器10で発生したレ−ザビ−ム1
を伝送するビ−ム伝送路3と、(C)このビ−ム伝送路
3の端に設けられ、前記レ−ザビ−ム1を反射して被溶
接物の溶接部4に集光させる集光鏡2と、(D)この集
光鏡2からのレ−ザビ−ムが通過するよう、前記ビ−ム
伝送路3に設けられた開口部18と、(E)前記ビ−ム
伝送路3内を清浄空気で充填させるため、前記ビ−ム伝
送路3に設けられた空気供給口8と、(F)前記開口部
18と前記溶接部4との間であって、前記開口部18か
らの前記清浄空気が逃げるための隙間30を有して設け
られ、(G)前記溶接部4に対しシ−ルドガスを吹き付
けるためのシ−ルドガスノズル6とを備えてなってい
る。
し図8を用いて説明する。本発明に係わるレ−ザ溶接装
置は図1に示すように、(A)レ−ザ発振器10と、
(B)このレ−ザ発振器10で発生したレ−ザビ−ム1
を伝送するビ−ム伝送路3と、(C)このビ−ム伝送路
3の端に設けられ、前記レ−ザビ−ム1を反射して被溶
接物の溶接部4に集光させる集光鏡2と、(D)この集
光鏡2からのレ−ザビ−ムが通過するよう、前記ビ−ム
伝送路3に設けられた開口部18と、(E)前記ビ−ム
伝送路3内を清浄空気で充填させるため、前記ビ−ム伝
送路3に設けられた空気供給口8と、(F)前記開口部
18と前記溶接部4との間であって、前記開口部18か
らの前記清浄空気が逃げるための隙間30を有して設け
られ、(G)前記溶接部4に対しシ−ルドガスを吹き付
けるためのシ−ルドガスノズル6とを備えてなってい
る。
【0023】(A)レ−ザ発振器10は公知のものであ
り、ウインドウ11から平行なレ−ザビ−ム1を発す
る。(B)ビ−ム伝送路3はこのレ−ザビ−ム1を集光
鏡2へ導く筒形状で、外部の粉塵等がビ−ム伝送路3内
へ侵入させないように清浄空気が充填された状態で、レ
−ザビ−ム光路内にウインドウを配置しない構造となっ
ている。(C)集光鏡2は前記ビ−ム伝送路3の端を塞
ぐように設けられ、斜め配置の放物面状の反射鏡で、前
記レ−ザビ−ム1を約90°方向転換させて反射して被
溶接物の溶接部4にレ−ザビ−ム1を集光させる構造と
なっている。この集光鏡2は銅やアルミニュウム等の熱
伝導率の良い材料で製作され、背面側から水冷されてい
る。(D)開口部18は前記集光鏡2からのレ−ザビ−
ムが通過するように前記ビ−ム伝送路3の下側に円形状
の開口として設けられている。前記ビ−ム伝送路3の内
部の清浄度を保つために、この開口部18から清浄空気
が排出されている。(E)空気供給口8は前記ビ−ム伝
送路3の前記レ−ザ発振器10付近に設けられ、前記ビ
−ム伝送路3内の清浄度を高めるために、空気圧縮機等
から供給される清浄空気の導入口である。(F)前記開
口部18と前記溶接部4との間に設けられた隙間30は
前記開口部18から排出される前記清浄空気をレ−ザ溶
接装置の系外へ導くもので、前記溶接部4に発生するヒ
ュ−ム等を合わせて系外へ導かれる。(G)シ−ルドガ
スノズル6は前記溶接部4を大気から隔離するために、
シ−ルドガスとして使用されるArやHe等の不活性ガ
スを前記溶接部4に吹き付ける構造になっている。吹き
付け方法は一方向だけでなく、溶接部の周囲に吹き付け
る構造にすることができる。なお、ArやHe等の不活
性ガスはボンベ又は液体ガスの気化器等から供給され
る。
り、ウインドウ11から平行なレ−ザビ−ム1を発す
る。(B)ビ−ム伝送路3はこのレ−ザビ−ム1を集光
鏡2へ導く筒形状で、外部の粉塵等がビ−ム伝送路3内
へ侵入させないように清浄空気が充填された状態で、レ
−ザビ−ム光路内にウインドウを配置しない構造となっ
ている。(C)集光鏡2は前記ビ−ム伝送路3の端を塞
ぐように設けられ、斜め配置の放物面状の反射鏡で、前
記レ−ザビ−ム1を約90°方向転換させて反射して被
溶接物の溶接部4にレ−ザビ−ム1を集光させる構造と
なっている。この集光鏡2は銅やアルミニュウム等の熱
伝導率の良い材料で製作され、背面側から水冷されてい
る。(D)開口部18は前記集光鏡2からのレ−ザビ−
ムが通過するように前記ビ−ム伝送路3の下側に円形状
の開口として設けられている。前記ビ−ム伝送路3の内
部の清浄度を保つために、この開口部18から清浄空気
が排出されている。(E)空気供給口8は前記ビ−ム伝
送路3の前記レ−ザ発振器10付近に設けられ、前記ビ
−ム伝送路3内の清浄度を高めるために、空気圧縮機等
から供給される清浄空気の導入口である。(F)前記開
口部18と前記溶接部4との間に設けられた隙間30は
前記開口部18から排出される前記清浄空気をレ−ザ溶
接装置の系外へ導くもので、前記溶接部4に発生するヒ
ュ−ム等を合わせて系外へ導かれる。(G)シ−ルドガ
スノズル6は前記溶接部4を大気から隔離するために、
シ−ルドガスとして使用されるArやHe等の不活性ガ
スを前記溶接部4に吹き付ける構造になっている。吹き
付け方法は一方向だけでなく、溶接部の周囲に吹き付け
る構造にすることができる。なお、ArやHe等の不活
性ガスはボンベ又は液体ガスの気化器等から供給され
る。
【0024】以上述べた構造のようなレ−ザ溶接装置は
以下のように作動する。 (イ)レ−ザビ−ムが通過する光路内はレ−ザ発振器1
0から溶接部4までの間にウインドウを配置しない構造
になっている。ウインドウを使用しないので、前記ウイ
ンドウの熱レンズ効果による溶接中の焦点位置の移動は
発生しない。この結果、溶接部のレ−ザビ−ムのパワ−
密度変化は生ぜず、溶接部の溶け込み量の変化がなく、
溶け込み不足等による溶接欠陥の発生がなく、品質の安
定した溶接部材が得られている。(ロ)また清浄空気を
空気供給口8からビ−ム伝送路3内部に供給し、集光鏡
2下開口部18から排出する構造になっている。清浄空
気はビ−ム伝送路3内に充填され、外部の粉塵等がビ−
ム伝送路3内への侵入防止を図ると共に、ビ−ム伝送路
3内の清浄度を高める。ビ−ム伝送路3内で発生する粉
塵も、清浄空気により、集光鏡2下開口部18から排出
される。さらに前記開口部18と前記溶接部4との間に
設けられた隙間30は排出された清浄空気をレ−ザ溶接
装置の系外へ導くもので、溶接部に発生するヒュ−ム等
を合わせて系外へ導かれる。このように、ビ−ム伝送路
3内の清浄度がを高められることにより、レ−ザ発振器
10で発振されたレ−ザビ−ム1は途中での粉塵等によ
る減衰はなく集光鏡に達し、集光鏡でレ−ザビ−ムを被
溶接物の溶接部へ集光させられる。さらに、ヒュウ−ム
等が前記ビ−ム伝送路3に侵入による前記集光鏡2の汚
染が防止され、前記集光鏡2の反射率が変化しない。こ
の結果、溶接部のレ−ザビ−ムのパワ−密度変化は生ぜ
ず、溶接部の溶け込み量の変化がなく、連続して、安定
した溶接状態が得られている。(ハ)さらに、シ−ルド
ガスをシ−ルドガスノズル6から溶接部4に向けて吹き
つける構造になっている。前記シ−ルドガスとして用い
られるArやHe等の不活性ガスは前記溶接部4を大気
から隔離し、溶接部の酸化、空気の混入による空孔等の
溶接欠陥発生を防止している。特に、アルミニュウム等
の活性な金属にはシ−ルドガスは不可欠で、溶接部の外
観変色、表面の滑らかさの改善にも、大きく寄与してい
る。さらに、ArやHe等の不活性ガスは溶接部でのレ
−ザ誘起プラズマの発生低減を制御する機能を果たし、
プラズマにより高温に曝し続けられた前記シ−ルドガス
ノズル6の下端の溶融、溶け落ちの発生を防止にも寄与
している。この結果、溶接欠陥の発生がなく、品質のよ
い溶接部材が得られている。
以下のように作動する。 (イ)レ−ザビ−ムが通過する光路内はレ−ザ発振器1
0から溶接部4までの間にウインドウを配置しない構造
になっている。ウインドウを使用しないので、前記ウイ
ンドウの熱レンズ効果による溶接中の焦点位置の移動は
発生しない。この結果、溶接部のレ−ザビ−ムのパワ−
密度変化は生ぜず、溶接部の溶け込み量の変化がなく、
溶け込み不足等による溶接欠陥の発生がなく、品質の安
定した溶接部材が得られている。(ロ)また清浄空気を
空気供給口8からビ−ム伝送路3内部に供給し、集光鏡
2下開口部18から排出する構造になっている。清浄空
気はビ−ム伝送路3内に充填され、外部の粉塵等がビ−
ム伝送路3内への侵入防止を図ると共に、ビ−ム伝送路
3内の清浄度を高める。ビ−ム伝送路3内で発生する粉
塵も、清浄空気により、集光鏡2下開口部18から排出
される。さらに前記開口部18と前記溶接部4との間に
設けられた隙間30は排出された清浄空気をレ−ザ溶接
装置の系外へ導くもので、溶接部に発生するヒュ−ム等
を合わせて系外へ導かれる。このように、ビ−ム伝送路
3内の清浄度がを高められることにより、レ−ザ発振器
10で発振されたレ−ザビ−ム1は途中での粉塵等によ
る減衰はなく集光鏡に達し、集光鏡でレ−ザビ−ムを被
溶接物の溶接部へ集光させられる。さらに、ヒュウ−ム
等が前記ビ−ム伝送路3に侵入による前記集光鏡2の汚
染が防止され、前記集光鏡2の反射率が変化しない。こ
の結果、溶接部のレ−ザビ−ムのパワ−密度変化は生ぜ
ず、溶接部の溶け込み量の変化がなく、連続して、安定
した溶接状態が得られている。(ハ)さらに、シ−ルド
ガスをシ−ルドガスノズル6から溶接部4に向けて吹き
つける構造になっている。前記シ−ルドガスとして用い
られるArやHe等の不活性ガスは前記溶接部4を大気
から隔離し、溶接部の酸化、空気の混入による空孔等の
溶接欠陥発生を防止している。特に、アルミニュウム等
の活性な金属にはシ−ルドガスは不可欠で、溶接部の外
観変色、表面の滑らかさの改善にも、大きく寄与してい
る。さらに、ArやHe等の不活性ガスは溶接部でのレ
−ザ誘起プラズマの発生低減を制御する機能を果たし、
プラズマにより高温に曝し続けられた前記シ−ルドガス
ノズル6の下端の溶融、溶け落ちの発生を防止にも寄与
している。この結果、溶接欠陥の発生がなく、品質のよ
い溶接部材が得られている。
【0025】また大気からの隔離性を向上させるため、
図2に示すように環状シ−ルドガスノズル15を用いる
ことが好ましい。この環状シ−ルドガスノズル15に、
集光鏡2で集光されたレ−ザビ−ムが通過する中心通路
31と、この中心通路31の下端から溶接部4に向かう
第1ノズル16を設置する。この第1ノズル16を設置
することによって、前記溶接部4へ周りから均一にシ−
ルドガス7を吹きつける構造となり、前記溶接部4の大
気との隔離性がさらに向上するようになっている。前記
第1ノズル16のガス吹き出し口の形状は図3に示すよ
うに連続した円周状のスリットでも良く、また図4に示
すように小さな穴が円周状に配置されたものでもよい。
図2に示すように環状シ−ルドガスノズル15を用いる
ことが好ましい。この環状シ−ルドガスノズル15に、
集光鏡2で集光されたレ−ザビ−ムが通過する中心通路
31と、この中心通路31の下端から溶接部4に向かう
第1ノズル16を設置する。この第1ノズル16を設置
することによって、前記溶接部4へ周りから均一にシ−
ルドガス7を吹きつける構造となり、前記溶接部4の大
気との隔離性がさらに向上するようになっている。前記
第1ノズル16のガス吹き出し口の形状は図3に示すよ
うに連続した円周状のスリットでも良く、また図4に示
すように小さな穴が円周状に配置されたものでもよい。
【0026】ところで、前記第1ノズル16により中心
通路31に空気の随伴流が生じる。この随伴流を防止す
るため、図5に示すように環状シ−ルドガスノズル15
の内側(レ−ザビ−ムの通路側)に前記第1ノズル16
と逆方向に吹き出す第2ノズル17を設け、シ−ルドガ
ス7を吹き出させる。前記第2ノズル17を設置するこ
とによって、前記第1ノズル16により生じる空気の随
伴流を相殺し、環状シ−ルドガスノズル15の中心通路
31の下側からの溶接部4への空気の巻き込みを阻止し
ている。
通路31に空気の随伴流が生じる。この随伴流を防止す
るため、図5に示すように環状シ−ルドガスノズル15
の内側(レ−ザビ−ムの通路側)に前記第1ノズル16
と逆方向に吹き出す第2ノズル17を設け、シ−ルドガ
ス7を吹き出させる。前記第2ノズル17を設置するこ
とによって、前記第1ノズル16により生じる空気の随
伴流を相殺し、環状シ−ルドガスノズル15の中心通路
31の下側からの溶接部4への空気の巻き込みを阻止し
ている。
【0027】また、第1ノズル16は溶接部4に近づけ
る程、大気との隔離効果は確実となる。その反面、シ−
ルドガス供給部15の溶融、溶け落ちが生じる恐れがあ
る。この溶融、溶け落ち防止のため、図6に示すよう
に、シ−ルはドガス供給部15の下端に冷却するための
水冷部32を設けることが好ましい。この水冷部32を
設けることによって、溶接部4で発生したレ−ザ誘起プ
ラズマにより高温に曝し続けられた前記シ−ルドガス供
給部15の下端の溶融、溶け落ちの発生を防止出来、第
1ノズル16の寿命も向上し、安定した溶接状態が得ら
れている。
る程、大気との隔離効果は確実となる。その反面、シ−
ルドガス供給部15の溶融、溶け落ちが生じる恐れがあ
る。この溶融、溶け落ち防止のため、図6に示すよう
に、シ−ルはドガス供給部15の下端に冷却するための
水冷部32を設けることが好ましい。この水冷部32を
設けることによって、溶接部4で発生したレ−ザ誘起プ
ラズマにより高温に曝し続けられた前記シ−ルドガス供
給部15の下端の溶融、溶け落ちの発生を防止出来、第
1ノズル16の寿命も向上し、安定した溶接状態が得ら
れている。
【0028】また、溶接部4と開口部18までの距離が
短い場合、溶接時に発生する、質量が大きくかつ飛散速
度の速いスパッタが集光鏡2まで侵入することがある。
この侵入防止のため、図7に示すように、溶接部4から
集光鏡2に向かって飛散するスッパタ23をエア−カ−
テンノズル20から吹き出される高速の空気(エア−カ
−テン)により吹き飛ばすことが好ましい。このエア−
カ−テンにより、集光鏡の汚染は大幅に低減され、集光
鏡の反射率が安定し、長時間安定した溶接状態を得られ
るようになった。
短い場合、溶接時に発生する、質量が大きくかつ飛散速
度の速いスパッタが集光鏡2まで侵入することがある。
この侵入防止のため、図7に示すように、溶接部4から
集光鏡2に向かって飛散するスッパタ23をエア−カ−
テンノズル20から吹き出される高速の空気(エア−カ
−テン)により吹き飛ばすことが好ましい。このエア−
カ−テンにより、集光鏡の汚染は大幅に低減され、集光
鏡の反射率が安定し、長時間安定した溶接状態を得られ
るようになった。
【0029】本発明に係わる他のレ−ザ溶接装置は図8
に示すように、(A)レ−ザ発振器10と、(B)この
レ−ザ発振器10で発生したレ−ザビ−ム1を伝送する
ビ−ム伝送路3と、(C)このビ−ム伝送路3の端に設
けられ、前記レ−ザビ−ム1を反射して被溶接物の溶接
部4に集光させる集光鏡2と、(D)この集光鏡2から
のレ−ザビ−ムが通過するよう覆うとともに、前記溶接
部4に対しシ−ルドガスを吹き付けるため前記ビ−ム伝
送路3に接続されたセンタ−ノズル14と、(E)前記
ビ−ム伝送路3内をシ−ルドガスで充填させるためとと
もに、前記シ−ルドガスを前記センタ−ノズル14に導
くために前記ビ−ム伝送路3に設けられたシ−ルドガス
供給口13とを備えてなっている。
に示すように、(A)レ−ザ発振器10と、(B)この
レ−ザ発振器10で発生したレ−ザビ−ム1を伝送する
ビ−ム伝送路3と、(C)このビ−ム伝送路3の端に設
けられ、前記レ−ザビ−ム1を反射して被溶接物の溶接
部4に集光させる集光鏡2と、(D)この集光鏡2から
のレ−ザビ−ムが通過するよう覆うとともに、前記溶接
部4に対しシ−ルドガスを吹き付けるため前記ビ−ム伝
送路3に接続されたセンタ−ノズル14と、(E)前記
ビ−ム伝送路3内をシ−ルドガスで充填させるためとと
もに、前記シ−ルドガスを前記センタ−ノズル14に導
くために前記ビ−ム伝送路3に設けられたシ−ルドガス
供給口13とを備えてなっている。
【0030】図1と異なる部分は(D)のセンタ−ノズ
ルがビ−ム伝送路と接続された構造と、(E)のシ−ル
ドガス供給口がビ−ム伝送路内設けられた構造である。
(D)のセンタ−ノズル14は集光鏡2からのレ−ザビ
−ムが通過するよう覆うとともにビ−ム伝送路3に接続
された構造である。さらに、前記センタ−ノズル14は
シ−ルドガスとして使用されるArやHe等の不活性ガ
スを前記溶接部4に吹き付け、溶接部4を大気から隔離
する構造になっている。シ−ルドガスの噴射方向はレ−
ザビ−ムの照射と同じ方向となっており、溶接部に発生
するヒュウムやスパッタ等のビ−ム伝送路への侵入を防
止する構造になっている。(E)のシ−ルドガス供給口
13は前記ビ−ム伝送路3の前記レ−ザ発振器10付近
に設けられ、前記ビ−ム伝送路3内の清浄度を高めると
ともに、前記シ−ルドガスを前記センタ−ノズル14に
導くためのシ−ルドガスの導入口である。なお、シ−ル
ドガスとして使用されるArやHe等の不活性ガスはボ
ンベ又は液体ガスの気化器等から供給される。
ルがビ−ム伝送路と接続された構造と、(E)のシ−ル
ドガス供給口がビ−ム伝送路内設けられた構造である。
(D)のセンタ−ノズル14は集光鏡2からのレ−ザビ
−ムが通過するよう覆うとともにビ−ム伝送路3に接続
された構造である。さらに、前記センタ−ノズル14は
シ−ルドガスとして使用されるArやHe等の不活性ガ
スを前記溶接部4に吹き付け、溶接部4を大気から隔離
する構造になっている。シ−ルドガスの噴射方向はレ−
ザビ−ムの照射と同じ方向となっており、溶接部に発生
するヒュウムやスパッタ等のビ−ム伝送路への侵入を防
止する構造になっている。(E)のシ−ルドガス供給口
13は前記ビ−ム伝送路3の前記レ−ザ発振器10付近
に設けられ、前記ビ−ム伝送路3内の清浄度を高めると
ともに、前記シ−ルドガスを前記センタ−ノズル14に
導くためのシ−ルドガスの導入口である。なお、シ−ル
ドガスとして使用されるArやHe等の不活性ガスはボ
ンベ又は液体ガスの気化器等から供給される。
【0031】以上述べた構造のようなレ−ザ溶接装置は
以下のように作動する。 (イ)図1と同様に、レ−ザビ−ムが通過する光路内は
レ−ザ発振器10から溶接部4までのレ−ザビ−ム光
路内にウインドウを配置しない構造になっている。ウイ
ンドウを使用しないので、前記ウインドウの熱レンズ効
果による溶接中の焦点位置の移動が発生しない。この結
果、溶接部のレ−ザビ−ムのパワ−密度変化は生ぜず、
溶接部の溶け込み量の変化がなく、溶け込み不足等によ
る溶接欠陥の発生がなく、品質の安定した溶接部材が得
られている。(ロ)またシ−ルドガスをシ−ルドガス供
給口13からビ−ム伝送路3内部に供給し、センタ−ノ
ズル14から溶接部4に向けて吹きつける構造になって
いる。シ−ルドガスを前記ビ−ム伝送路3内に充填さ
せ、外部の粉塵等が前記ビ−ム伝送路3内へ侵入防止を
図ると共に、前記ビ−ム伝送路3内の清浄度を高める。
前記ビ−ム伝送路3内で発生する粉塵も、シ−ルドガス
により前記センタ−ノズル14から排出される。さら
に、シ−ルドガスをセンタ−ノズル14から溶接部4に
向けて吹きつける構造になっている。シ−ルドガスの噴
射方向はレ−ザビ−ムの照射と同じ方向となり、前記溶
接部4に発生するヒュウム等の前記ビ−ム伝送路3への
侵入を防止出来る。このように、ビ−ム伝送路内の清浄
度がを高められることにより、レ−ザ発振器で発振され
たレ−ザビ−ムは途中での粉塵等による減衰はなく集光
鏡に達し、集光鏡でレ−ザビ−ムを被溶接物の溶接部へ
集光させられる。さらに、ヒュウ−ム等がビ−ム伝送路
に侵入による集光鏡の汚染が防止され、集光鏡の反射率
が変化しない。シ−ルドガスとして用いられるArやH
e等の不活性ガスは溶接部を大気から隔離し、溶接部の
酸化、空気の混入による空孔等の溶接欠陥発生を防止し
ている。特に、アルミニュウム等の活性な金属にはシ−
ルドガスは不可欠で、溶接部の外観変色、表面の滑らか
さの改善にも、大きく寄与している。さらに、ArやH
e等の不活性ガスは溶接部でのレ−ザ誘起プラズマの発
生低減を制御する機能を果たし、プラズマにより高温に
曝し続けられたセンタ−ノズルの下端の溶融、溶け落ち
の発生を防止にも寄与している。この結果、溶接部のレ
−ザビ−ムのパワ−密度変化は生ぜず、溶接部の溶け込
み量の変化がなく、連続して、安定した溶接状態が得ら
れている。
以下のように作動する。 (イ)図1と同様に、レ−ザビ−ムが通過する光路内は
レ−ザ発振器10から溶接部4までのレ−ザビ−ム光
路内にウインドウを配置しない構造になっている。ウイ
ンドウを使用しないので、前記ウインドウの熱レンズ効
果による溶接中の焦点位置の移動が発生しない。この結
果、溶接部のレ−ザビ−ムのパワ−密度変化は生ぜず、
溶接部の溶け込み量の変化がなく、溶け込み不足等によ
る溶接欠陥の発生がなく、品質の安定した溶接部材が得
られている。(ロ)またシ−ルドガスをシ−ルドガス供
給口13からビ−ム伝送路3内部に供給し、センタ−ノ
ズル14から溶接部4に向けて吹きつける構造になって
いる。シ−ルドガスを前記ビ−ム伝送路3内に充填さ
せ、外部の粉塵等が前記ビ−ム伝送路3内へ侵入防止を
図ると共に、前記ビ−ム伝送路3内の清浄度を高める。
前記ビ−ム伝送路3内で発生する粉塵も、シ−ルドガス
により前記センタ−ノズル14から排出される。さら
に、シ−ルドガスをセンタ−ノズル14から溶接部4に
向けて吹きつける構造になっている。シ−ルドガスの噴
射方向はレ−ザビ−ムの照射と同じ方向となり、前記溶
接部4に発生するヒュウム等の前記ビ−ム伝送路3への
侵入を防止出来る。このように、ビ−ム伝送路内の清浄
度がを高められることにより、レ−ザ発振器で発振され
たレ−ザビ−ムは途中での粉塵等による減衰はなく集光
鏡に達し、集光鏡でレ−ザビ−ムを被溶接物の溶接部へ
集光させられる。さらに、ヒュウ−ム等がビ−ム伝送路
に侵入による集光鏡の汚染が防止され、集光鏡の反射率
が変化しない。シ−ルドガスとして用いられるArやH
e等の不活性ガスは溶接部を大気から隔離し、溶接部の
酸化、空気の混入による空孔等の溶接欠陥発生を防止し
ている。特に、アルミニュウム等の活性な金属にはシ−
ルドガスは不可欠で、溶接部の外観変色、表面の滑らか
さの改善にも、大きく寄与している。さらに、ArやH
e等の不活性ガスは溶接部でのレ−ザ誘起プラズマの発
生低減を制御する機能を果たし、プラズマにより高温に
曝し続けられたセンタ−ノズルの下端の溶融、溶け落ち
の発生を防止にも寄与している。この結果、溶接部のレ
−ザビ−ムのパワ−密度変化は生ぜず、溶接部の溶け込
み量の変化がなく、連続して、安定した溶接状態が得ら
れている。
【0032】
【実施例1】本発明の実施例を図1を用いて説明する。
本実施例に係わるレ−ザ溶接装置は、図1に示すよう
に、レ−ザビ−ム1はレ−ザ発振器10からビ−ム伝送
路3を通り、集光鏡2により溶接部4に集光される。前
記ビ−ム伝送路3内の前記集光鏡2の汚染を防止するた
め、前記レ−ザ発振器10近傍の空気供給口8から清浄
空気が供給され、前記集光鏡2下の開口部18への溶接
部4からのヒュ−ムの侵入を防止するように排出され
る。シル−ドガスとしてArガスを30l/分供給し、
レザ−出力を3kWとして、焦点位置におけるレ−ザビ
−ムのパワ−密度を測定した。
本実施例に係わるレ−ザ溶接装置は、図1に示すよう
に、レ−ザビ−ム1はレ−ザ発振器10からビ−ム伝送
路3を通り、集光鏡2により溶接部4に集光される。前
記ビ−ム伝送路3内の前記集光鏡2の汚染を防止するた
め、前記レ−ザ発振器10近傍の空気供給口8から清浄
空気が供給され、前記集光鏡2下の開口部18への溶接
部4からのヒュ−ムの侵入を防止するように排出され
る。シル−ドガスとしてArガスを30l/分供給し、
レザ−出力を3kWとして、焦点位置におけるレ−ザビ
−ムのパワ−密度を測定した。
【0033】その結果、図9に示すウインドウ12を設
置した従来法では、ビ−ム照射開始時2.8x106 W
/cm2 から照射1分後に1.0x106 W/cm2 の
パワ−密度の低下が生じた。本発明ではビ−ム照射1分
後においても2.8x106W/cm2 のままであり、
レ−ザビ−ムのパワ−密度の変化は全く生じなった。ま
た焦点距離の変化量は従来装置で2mm程度であったも
のが、本発明では焦点位置の移動は認められなった。さ
らに板厚3mm、溶接長500mmのステンレス鋼(S
US304)板について、レザ−出力を3kW、溶接速
度1m/分で溶接を行ったところ図9に示す従来法では
溶接開始時は貫通溶接であったのが、溶接後半では部分
溶け込み溶接に変化した。一方、本発明では溶接部全長
に渡って安定した貫通溶接を得ることができた。
置した従来法では、ビ−ム照射開始時2.8x106 W
/cm2 から照射1分後に1.0x106 W/cm2 の
パワ−密度の低下が生じた。本発明ではビ−ム照射1分
後においても2.8x106W/cm2 のままであり、
レ−ザビ−ムのパワ−密度の変化は全く生じなった。ま
た焦点距離の変化量は従来装置で2mm程度であったも
のが、本発明では焦点位置の移動は認められなった。さ
らに板厚3mm、溶接長500mmのステンレス鋼(S
US304)板について、レザ−出力を3kW、溶接速
度1m/分で溶接を行ったところ図9に示す従来法では
溶接開始時は貫通溶接であったのが、溶接後半では部分
溶け込み溶接に変化した。一方、本発明では溶接部全長
に渡って安定した貫通溶接を得ることができた。
【0034】
【実施例2】本実施例は図1に示すレ−ザ溶接装置に、
溶接部のシ−ルドガスノズル6に図6に示す水冷機構を
有する環状シ−ルドガスノズル15を用い、溶接部へシ
−ルドガスを吹き出す第1ノズル16と、前記環状シル
−ドガスノズル15の内側(レ−ザビ−ムの通路側)に
逆方向へのガス吹き出す第2ノズル17を設け、溶接試
験を行った。シル−ドガスとしてHeガスを40l/
分、冷却水を1l/分供給し、前記の実施例1と同様に
板厚3mm、溶接長500mmのステンレス鋼(SUS
304)板について、レザ−出力を3kW、溶接速度1
m/分で溶接を行った。この結果、図9に示す従来法で
は、溶接開始時の貫通溶接から、溶接後半では部分溶け
込み溶接に変化していたのに対し、本発明では溶接部全
長に渡って安定した貫通溶接であり、表面変色の少ない
溶接部を得ることができた。
溶接部のシ−ルドガスノズル6に図6に示す水冷機構を
有する環状シ−ルドガスノズル15を用い、溶接部へシ
−ルドガスを吹き出す第1ノズル16と、前記環状シル
−ドガスノズル15の内側(レ−ザビ−ムの通路側)に
逆方向へのガス吹き出す第2ノズル17を設け、溶接試
験を行った。シル−ドガスとしてHeガスを40l/
分、冷却水を1l/分供給し、前記の実施例1と同様に
板厚3mm、溶接長500mmのステンレス鋼(SUS
304)板について、レザ−出力を3kW、溶接速度1
m/分で溶接を行った。この結果、図9に示す従来法で
は、溶接開始時の貫通溶接から、溶接後半では部分溶け
込み溶接に変化していたのに対し、本発明では溶接部全
長に渡って安定した貫通溶接であり、表面変色の少ない
溶接部を得ることができた。
【0035】
【実施例3】本実施例は図1に示すレ−ザ溶接装置に、
溶接部のシ−ルドガスノズル6に図7に示す環状シ−ル
ドガスノズル15を用い、さらに環状シ−ルドガスノズ
ルと集光鏡との間にエア−カ−テンを形成するノズル2
0を配置し、溶接試験を行った。シル−ドガスとしてA
rガスを30l/分供給し、板厚3mm、溶接長500
mmのアルミ鋼(A5052)板について、レザ−出力
を3kW、溶接速度1.5m/分とし、エア−カ−テン
ノズル20から300l/分の空気を吹き出し、エア−
カ−テンを形成して溶接を行った。
溶接部のシ−ルドガスノズル6に図7に示す環状シ−ル
ドガスノズル15を用い、さらに環状シ−ルドガスノズ
ルと集光鏡との間にエア−カ−テンを形成するノズル2
0を配置し、溶接試験を行った。シル−ドガスとしてA
rガスを30l/分供給し、板厚3mm、溶接長500
mmのアルミ鋼(A5052)板について、レザ−出力
を3kW、溶接速度1.5m/分とし、エア−カ−テン
ノズル20から300l/分の空気を吹き出し、エア−
カ−テンを形成して溶接を行った。
【0036】この結果、図9に示す従来法では溶接開始
時の貫通溶接から、溶接後半では部分溶け込み溶接に変
化していたものが、本発明では溶接部全長に渡って安定
した貫通溶接を得ることができた。また図9に示す従来
法では溶接中のスパッタにより集光鏡が汚染し、溶接部
へのレ−ザパワ−の集光鏡の反射率が、延べ溶接長さ1
0mの時点で、初期の95%に低下したのに対し、エア
−カ−テンノズルを配置した本発明は10m溶接後でも
レ−ザパワ−の集光鏡の反射率の低下は認められなっ
た。
時の貫通溶接から、溶接後半では部分溶け込み溶接に変
化していたものが、本発明では溶接部全長に渡って安定
した貫通溶接を得ることができた。また図9に示す従来
法では溶接中のスパッタにより集光鏡が汚染し、溶接部
へのレ−ザパワ−の集光鏡の反射率が、延べ溶接長さ1
0mの時点で、初期の95%に低下したのに対し、エア
−カ−テンノズルを配置した本発明は10m溶接後でも
レ−ザパワ−の集光鏡の反射率の低下は認められなっ
た。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のうち請求
項1記載の発明はレ−ザ発振器から溶接部までのレ−ザ
ビ−ム光路内にウインドウを配置しない構造となり、前
記ビ−ム伝送路内を清浄空気で充填させた状態で、前記
溶接部に対してシ−ルドガスを吹きつける構造となる。
これらにより、ウインドウの熱レンズ効果の発生防止、
粉塵や溶接時に発生するヒュ−ム等のビ−ム伝送路内へ
の侵入防止及び溶接部を大気から隔離することを可能と
するものである。
項1記載の発明はレ−ザ発振器から溶接部までのレ−ザ
ビ−ム光路内にウインドウを配置しない構造となり、前
記ビ−ム伝送路内を清浄空気で充填させた状態で、前記
溶接部に対してシ−ルドガスを吹きつける構造となる。
これらにより、ウインドウの熱レンズ効果の発生防止、
粉塵や溶接時に発生するヒュ−ム等のビ−ム伝送路内へ
の侵入防止及び溶接部を大気から隔離することを可能と
するものである。
【0038】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明の効果に加え、溶接部の大気との隔離性をさらに向上
させるものである。請求項3記載の発明は、請求項2記
載の発明の効果に加えて、シ−ルドガスによる溶接部へ
の空気の巻き込みを防止することを可能とするものであ
る。請求項4記載の発明は、請求項2又は請求項3記載
の発明の効果に加えて、溶接部で発生したレ−ザ誘起プ
ラズマによるシ−ルドガス供給部のノズルの溶融、溶け
落ちを防止することを可能とするものである。請求項5
記載の発明は、請求項1記載の発明の効果に加えて、質
量が大きくかつ飛散速度の速いスパッタのビ−ム伝送路
への侵入を防止することを可能とするものである。
明の効果に加え、溶接部の大気との隔離性をさらに向上
させるものである。請求項3記載の発明は、請求項2記
載の発明の効果に加えて、シ−ルドガスによる溶接部へ
の空気の巻き込みを防止することを可能とするものであ
る。請求項4記載の発明は、請求項2又は請求項3記載
の発明の効果に加えて、溶接部で発生したレ−ザ誘起プ
ラズマによるシ−ルドガス供給部のノズルの溶融、溶け
落ちを防止することを可能とするものである。請求項5
記載の発明は、請求項1記載の発明の効果に加えて、質
量が大きくかつ飛散速度の速いスパッタのビ−ム伝送路
への侵入を防止することを可能とするものである。
【0039】また請求項6記載の発明は、レ−ザ発振器
から溶接部までのレ−ザビ−ム光路内にウインドウを配
置しない構造であり、前記ビ−ム伝送路内をシ−ルドガ
スで充填させた状態で、前記溶接部に対して前記シ−ル
ドガスを吹きつける構造となる。これらにより、ウイン
ドウの熱レンズ効果の発生防止、粉塵や溶接時に発生す
るヒュ−ム等のビ−ム伝送路内への侵入防止および、溶
接部を大気から隔離することを可能とするものである。
から溶接部までのレ−ザビ−ム光路内にウインドウを配
置しない構造であり、前記ビ−ム伝送路内をシ−ルドガ
スで充填させた状態で、前記溶接部に対して前記シ−ル
ドガスを吹きつける構造となる。これらにより、ウイン
ドウの熱レンズ効果の発生防止、粉塵や溶接時に発生す
るヒュ−ム等のビ−ム伝送路内への侵入防止および、溶
接部を大気から隔離することを可能とするものである。
【0040】以上本発明により、ウインドウの熱レンズ
効果の発生防止、粉塵や溶接時に発生するヒュ−ム等の
ビ−ム伝送路内への侵入防止及び溶接部を大気から隔離
することを可能としたことにより、溶接欠陥の発生及び
溶け込み変化がなく、安定して品質のよい溶接部材を得
ることが出来るようになった。
効果の発生防止、粉塵や溶接時に発生するヒュ−ム等の
ビ−ム伝送路内への侵入防止及び溶接部を大気から隔離
することを可能としたことにより、溶接欠陥の発生及び
溶け込み変化がなく、安定して品質のよい溶接部材を得
ることが出来るようになった。
【図1】本発明のレ−ザ溶接装置の構成図である。
【図2】レ−ザ溶接装置の好ましいシ−ルドガス供給部
の構成図である。
の構成図である。
【図3】図2のA−A' 断面を示すものであり、ガス吹
き出し口の断面図である。
き出し口の断面図である。
【図4】図2のA−A' 断面を示すものであり、ガス吹
き出し口の断面図である。
き出し口の断面図である。
【図5】レ−ザ溶接装置の更に好ましいシ─ルドガス供
給部の構成図である。
給部の構成図である。
【図6】レ−ザ溶接装置の更に好ましいシ─ルドガス供
給部の構成図である。
給部の構成図である。
【図7】レ−ザ溶接装置の更に好ましいレ−ザ照射部の
構成図である。
構成図である。
【図8】本発明の他のレ−ザ溶接装置の構成図である。
【図9】従来例のレ−ザ溶接装置の構成図である。
1 レ−ザビ−ム 2 集光鏡 3 ビ−ム伝送路 4 溶接部 5 被溶接材 6 シ−ルドガスノズル 7 シ−ルドガスの流れを示す矢印 8 空気供給口 9 空気の流れを示す矢印 10 レ−ザ発振器 11 レ−ザ発振器内ウインドウ 12 ウインドウ 13 シ−ルドガス供給口 14 センタ−ノズル 15 環状シ−ルドガスノズル 16 第1ノズル 17 第2ノズル(逆方向ガス吹き出し口) 18 開口部 19 冷却水の流れを示す矢印 20 エア−カ−テンノズル 21 エア−カ−テン用空気の流れを示す矢印 22 エア−カ−テン空気の流れを示す矢印 23 スッパタの流れを示す矢印 24 冷却水供給口 25 冷却水排出口 30 隙間 31 中心通路 32 水冷部
Claims (6)
- 【請求項1】 レ−ザ発振器10と、 このレ−ザ発振器10で発生したレ−ザビ−ム1を伝送
するビ−ム伝送路3と、このビ−ム伝送路3の端に設け
られ、前記レ−ザビ−ム1を反射して被溶接物の溶接部
4に集光させる集光鏡2と、 この集光鏡2からのレ−ザビ−ムが通過するよう、前記
ビ−ム伝送路3に設けられた開口部18と、 前記ビ−ム伝送路3内を清浄空気で充填させるため、前
記ビ−ム伝送路3に設けられた空気供給口8と、 前記開口部18と前記溶接部4との間であって、前記開
口部18からの前記清浄空気が逃げるための隙間30を
有して設けられ、前記溶接部4に対しシ−ルドガスを吹
き付けるためのシ−ルドガス供給部6、15と、 を備えてなることを特徴とするレ−ザ溶接装置。 - 【請求項2】 前記シ−ルドガス供給部6、15は、前
記集光鏡2で集光されたレ−ザビ−ムが通過する中心通
路31と、この中心通路31の下端から前記溶接部4に
向かう第1ノズル16が設けられてなることを特徴とす
る請求項1記載のレ−ザ溶接装置。 - 【請求項3】 前記第1ノズル16により中心通路31
に生じる随伴流を防止するため、前記中心通路31に設
けられ、前記第1ノズル16と逆方向に吹き出す第2ノ
ズル17が設けられたことを特徴とする請求項2記載の
レ−ザ溶接装置。 - 【請求項4】 前記シ−ルドガス供給部15の下端を冷
却するための水冷部32が設けられたことを特徴とする
請求項2又は請求項3記載のレ−ザ溶接装置。 - 【請求項5】 前記シ−ルドガス供給部15と前記開口
部18との間の隙間30にエア−カ−テンを形成するた
めの吹き出し手段20が設けられたことを特徴とする請
求項1記載のレ−ザ溶接装置。 - 【請求項6】 レ−ザ発振器10と、 このレ−ザ発振器10で発生したレ−ザビ−ム1を伝送
するビ−ム伝送路3と、このビ−ム伝送路3の端に設け
られ、前記レ−ザビ−ム1を反射して被溶接物の溶接部
4に集光させる集光鏡2と、 この集光鏡2からのレ−ザビ−ム1が通過するように覆
うとともに、前記溶接部4に対しシ−ルドガスを吹き付
けるため前記ビ−ム伝送路3に接続されたセンタ−ノズ
ル14と、 前記ビ−ム伝送路3内をシ−ルドガスで充填させるため
とともに、前記シ−ルドガスを前記センタ−ノズル14
に導くために前記ビ−ム伝送路3に設けられたシ−ルド
ガス供給口13と、 を備えてなることを特徴とするレ−ザ溶接装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7255523A JPH0970682A (ja) | 1995-09-06 | 1995-09-06 | レーザ溶接装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7255523A JPH0970682A (ja) | 1995-09-06 | 1995-09-06 | レーザ溶接装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0970682A true JPH0970682A (ja) | 1997-03-18 |
Family
ID=17279932
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7255523A Pending JPH0970682A (ja) | 1995-09-06 | 1995-09-06 | レーザ溶接装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0970682A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006043775A (ja) * | 2004-08-06 | 2006-02-16 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh & Co Kg | レーザ加工ヘッド |
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JP2007111773A (ja) * | 2005-10-18 | 2007-05-10 | General Electric Co <Ge> | 熱成形システムおよび能動冷却プロセス |
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EP2024132A1 (de) * | 2006-05-09 | 2009-02-18 | Trumpf Laser- und Systemtechnik GmbH | Laserbearbeitungsmaschine mit einer einrichtung zum belüften der laserstrahlführung und verfahren zum belüften der laserstrahlführung einer laserbearbeitungsmaschine |
JP2010240722A (ja) * | 2009-04-09 | 2010-10-28 | Ihi Corp | レーザ加工ヘッド |
JP2013173176A (ja) * | 2012-02-27 | 2013-09-05 | Mitsubishi Electric Corp | レーザ加工装置 |
CN110939710A (zh) * | 2019-12-30 | 2020-03-31 | 四川众友机械有限责任公司 | 一种差速器半轴齿轮的轴孔密封结构及加工工艺 |
-
1995
- 1995-09-06 JP JP7255523A patent/JPH0970682A/ja active Pending
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