JPH0968517A - 液体クロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents

液体クロマトグラフ質量分析装置

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JPH0968517A
JPH0968517A JP7223852A JP22385295A JPH0968517A JP H0968517 A JPH0968517 A JP H0968517A JP 7223852 A JP7223852 A JP 7223852A JP 22385295 A JP22385295 A JP 22385295A JP H0968517 A JPH0968517 A JP H0968517A
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liquid chromatograph
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pipe
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 荷電微小液滴などによるノイズの影響を受け
にくい液体クロマトグラフ質量分析装置を提供する。 【解決手段】 液体クロマトグラフ部10と質量分析部
20との間にあるインタフェース部30のイオン化部3
1の後段には屈曲した試料導入路35を設け、この試料
導入路35を通過する際に荷電微小液滴を管壁に付着さ
せることにより除去し、加熱、衝突を経て屈曲した試料
導入路を通過したイオンが質量分析部20にて検出され
るようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液体クロマトグラ
フ質量分析装置(以下LC/MSという)に関し、さら
に詳しくはLC/MSの液体クロマトグラフ部と質量分
析部とのインタフェースに関する。
【0002】
【従来の技術】LC/MSでは、液体クロマトグラフ部
で分離された成分をイオン化して質量分析部に導入す
る。したがって、分離成分をイオン化するインタフェー
スが必要である。LC/MSに一般的に用いられるイン
タフェースとしては、エレクトロスプレイインタフェー
ス(ESI)や大気圧化学イオン化インタフェース(A
PCI)等、いくつかの種類がある。
【0003】ESI法では液体試料を細いノズルの先端
に送り、そのノズルの先端に高電圧を印加する。これに
よりノズル先端には強い不平等電界が形成され、この強
い電界により液体試料が帯電液滴として噴霧され、更
に、液滴内でのイオンのクーロン反発力により液滴の分
裂が進行してイオン化が行われる。
【0004】一方、APCI法ではネブライザ(霧化
器)においてガス流により液体試料を強制噴霧し、これ
を加熱することにより液滴の脱溶媒化を行った後、コロ
ナ放電により生成したバッファイオンにより試料のイオ
ン化(化学イオン化)を行う。図2は従来からのLC/
MSの一般的な構成を示す図である。10は液体クロマ
トグラフ部、20は質量分析部である。30はインタフ
ェース部で、本図のものはESI法を用いたエレクトロ
スプレーイオン化部31と図示しないヒータ機構が取り
付けてあるパイプ32とを有している。エレクトロスプ
レーイオン化部31のエレクトロスプレープローブ31
aは固定部材33により固定される。固定部材33はパ
イプ32に対する位置が定まったもので、本図では質量
分析部と共用のハウジングを固定部材33として用いて
いる。エレクトロスプレープローブ31aは液体クロマ
トグラフ部10から送られてくる試料液体が通過する細
管を有し、パイプ32に対向する側の先端はニードル状
にしてあり、細管を通過した液体がニードル先端のノズ
ル部分から噴出されるようになっている。そして図示し
ない高電圧発生回路よりエレクトロスプレープローブ3
1aに数KV程度の高電圧が印加される。このように設
定することにより液体クロマトグラフ部10から送られ
てくる液体試料は、ニードル先端のノズル付近に形成さ
れた強い電界によりスプレー状に引き出され、パイプ3
2に入る。
【0005】なお、このESI法の配置のときはパイプ
32とエレクトロスプレープローブ31aのニードル先
端との距離が近くなるように配置してより多くの荷電微
小液滴等がパイプ32に入るようにエレクトロスプレー
プローブ31aを固定部材33に固定しておく。荷電微
小液滴はパイプ32内でヒータにより加熱されることに
より溶媒が蒸発し、かつ、他の粒子との衝突等を経るこ
とによりさらに微小化してイオン化が促進され、生成さ
れたイオンがパイプ32から引き出されて質量分析部2
0に送られる。
【0006】これに対し、APCI法によるイオン化を
行うときは図2のエレクトロスプレーイオン化部31の
代わりに図3に示すような大気圧化学イオン化部34が
取り付けられる。すなわち、試料液体が通過する細管を
有するとともに先端がニードル状してあるプローブ34
a、プローブ34aのニードル部分を囲むように設けら
れる霧化室34b、霧化室の開口部前面に取り付けられ
る放電電極34cを具備する大気圧化学イオン化部34
が取り付けられる。霧化室34bを図示しないヒータに
より加熱するとともに、放電電極34cに数KVの電圧
を印加する。このようにすることにより、液体クロマト
グラフ部10から送られてくる液体試料は別途にプロー
ブに接続されたガスラインからの霧化用ガスによりプロ
ーブ34aのニードル先端のノズルから霧化室34b内
に噴霧され、ヒータにより脱溶媒化された後放電電極に
おいて生成されるバッファイオンとの接触によりイオン
化される。そして、生成されたイオンは加熱されたパイ
プ32を介して前述のESI法と同様にイオン化が促進
されつつ、質量分析部20に送られる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来のLC/MSで
は、エレクトロスプレーイオン化部31にしろ、大気圧
化学イオン化部34にしろ、あるいはその他のスプレー
を利用したイオン化部(ソニックスプレー等)にしろ、
イオン化部で生成されたイオン、荷電微小液滴等はイオ
ン化部の後段に設けてある直管形状のパイプを通過し、
その際にイオン化が促進されつつ、次段の質量分析部に
送られていた。
【0008】しかし、この場合、イオンだけでなく、中
性液滴や荷電微小液滴(イオンより大きい粒子)も、こ
のパイプ内を通過することから、これらの粒子の影響が
バックグラウンドノイズとなって現れ、悪影響を及ぼし
ていた。
【0009】このようなノイズを除去するため、パイプ
の軸線と質量分析部のスキマー中心線とをずらすように
配置したり、あるいは質量分析部のイオン収束レンズを
用いて質量分析部の中心軸線をずらしたり、イオン検出
部で目的粒子であるイオン以外の除去を行う工夫を行っ
ていた。
【0010】しかし、たとえ、質量分析部において軸外
しを行うことにより、ノイズを低減できたとしても、こ
れら中性粒子、荷電微小液滴が質量分析部内に導入され
てしまい、汚染の原因となってしまっていた。
【0011】本発明は以上のような課題を解決し、中性
粒子や荷電微小液滴などの目的粒子たるイオン以外の粒
子によるノイズを簡単に除去し、しかも質量分析部の汚
染が生じないようにしたLC/MSを提供することを目
的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
になされた本発明の液体クロマトグラフ質量分析装置
(LC/MS)は、液体クロマトグラフ部と質量分析部
との間に、液体クロマトグラフ部から与えられる液体試
料をイオン化して質量分析部に与えるインタフェース部
を備えた液体クロマトグラフ質量分析装置において、前
記インタフェース部のイオン化部の後段には屈曲した試
料導入路を設け、この試料導入路を通過したイオンが質
量分析部にて検出されるようにしたことを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明のLC/MSでは、インタ
フェース部において、イオン化部の後段には屈曲した試
料導入路が設けられているので、試料導入路内を通過す
る粒子は内壁に衝突することとなる。衝突した粒子のう
ち、イオンは質量が小さく、すぐに電界により引かれる
ことにより、質量分析部に送られる。一方、目的粒子で
あるイオン以外の質量が大きい荷電微小液滴や中性粒子
については内壁に衝突するとそのまましばらく付着する
が、加熱の影響等により、気化され、これらは質量分析
部の排気系により排出される異なるので、直接には質量
分析部の検出部にまでは届かなくなる。したがって、質
量が大きい中性粒子や荷電微小液滴は検出部には届かな
くなくなり、ノイズ除去ができる。
【0014】以下、本発明の実施例を図を用いて説明す
る。図1は本発明の一実施例を示すLC/MSを示す構
成図である。なお、従来例と同じものについては図2、
3と同符号を付することにより説明を省略する。
【0015】図に示すようにインタフェース部30は、
エレクトロスプレーイオン化部31が質量分析部20の
ハウジングを利用した固定部材33に固定されている。
そして、エレクトロスプレーイオン化部31のエレクト
ロスプレープローブ31aのニードル先端のノズル部分
付近の位置に質量分析部20への試料導入路としての屈
曲したパイプ35が取り付けられている。このパイプ3
5には図示しないヒータが設けてあることが望ましい。
【0016】この装置では、液体クロマトグラフ部10
から液体試料がカラムを介してエレクトロスプレーイオ
ン化部31に送られ、エクトロスプレーイオン化部31
にて生成された荷電微小液滴が、パイプ35において、
他の分子との衝突や加熱した場合には加熱による脱溶媒
化などを経てさらに微小化し、イオンが生成される。こ
のとき、イオンとともに、中性の液滴やイオンになりき
れないなかった荷電微小液滴も同時にパイプ35内に侵
入する。しかし、パイプ35が屈曲しているため、これ
らの粒子は図4に示すように内壁と衝突し、管内に付着
する。付着した液滴はやがて気化して管壁から脱離し、
質量分析部20の排気系により排出される。したがっ
て、スキマ以降へ侵入することがなく、また汚染も生じ
ることはない。一方、生成されたイオンは、質量分析部
20の電界に引かれてスキマ以降に侵入し、イオン収束
レンズを介して四重極に導入され、検出器により検出さ
れる。
【0017】図6、7に従来の直線状のパイプを用いた
場合と屈曲したパイプを用いた場合のベースラインのデ
ータを示す。この測定は1%酢酸水溶液とメタノールと
を1:1の割合で混合した試料を用い、横軸を時間軸
(フルスケール約1分)縦軸を検出信号強度としたもの
で、2つの測定は同一測定条件でなされたものである。
これらを比較すれば、明かに屈曲したパイプを用いた場
合の方がベースラインのノイズが低減していることがわ
かる。
【0018】なお、本実施例のパイプの屈曲形状は一例
であり、たとえば滑らかな曲線形状のパイプとしてもよ
い。要するに、直線形状のパイプと異なるようにすれば
本願発明は実施可能である。また、パイプのかわりに図
5に示したような屈曲した管路を有するブロックを用い
てもよい。ただ、パイプにせよ、ブロックにせよ、あま
り極端に屈曲させるとイオン強度に影響が生じるので、
適度な屈曲にすることが必要である。
【0019】また、本実施例では、質量分析部側でのノ
イズ除去は行っていないが、従来からの質量分析部側で
行われているノイズ除去を併用することにより、さらに
ノイズの除去が向上できるとともに、質量分析部の汚染
を防ぐことができる。
【0020】
【発明の効果】以上、説明したように本発明のLC/M
Sでは、インタフェース部には屈曲した試料導入路を設
け、この導入路を介して質量分析部にイオンを送ること
としたので、中性粒子やイオン化されない荷電粒子によ
るノイズが除去でき、しかも、質量分析部の汚染も生じ
ない。さらに、パイプと質量分析部のスキマとのアライ
メントは軸線を一致させればよいので、組立時に神経質
になることもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である液体クロマトグラフ質
量分析装置の構成図。
【図2】従来からの液体クロマトグラフ質量分析装置の
構成図(ESI法)。
【図3】従来からの液体クロマトグラフ質量分析装置の
構成図(APCI法)。
【図4】パイプ内で荷電微小液滴が衝突する様子を説明
する図。
【図5】本発明の他の実施例である液体クロマトグラフ
質量分析装置に使用する試料導入路(ブロック)の図。
【図6】直線状パイプを用いたときのベースラインの
図。
【図7】屈曲したパイプを用いたときのベースラインの
図。
【符号の説明】
10:液体クロマトグラフ部 20:質量分析部 30:インタフェース部 31:エレクトロスプレーイオン化部 33:固定部材 34:大気圧化学イオン化部 35:屈曲パイプ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 液体クロマトグラフ部と質量分析部との
    間に、液体クロマトグラフ部から与えられる液体試料を
    イオン化して質量分析部に与えるインタフェース部を備
    えた液体クロマトグラフ質量分析装置において、前記イ
    ンタフェース部のイオン化部の後段には屈曲した試料導
    入路を設け、この試料導入路を通過したイオンが質量分
    析部にて検出されるようにしたことを特徴とする液体ク
    ロマトグラフ質量分析装置。
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CN104040680A (zh) * 2012-01-23 2014-09-10 株式会社日立高新技术 质量分析装置

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