JP2009098150A - 毛管で分離した蒸発チェンバーおよびノズル装置および方法 - Google Patents
毛管で分離した蒸発チェンバーおよびノズル装置および方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009098150A JP2009098150A JP2008268168A JP2008268168A JP2009098150A JP 2009098150 A JP2009098150 A JP 2009098150A JP 2008268168 A JP2008268168 A JP 2008268168A JP 2008268168 A JP2008268168 A JP 2008268168A JP 2009098150 A JP2009098150 A JP 2009098150A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- evaporation chamber
- nozzle
- capillary
- ultrasonic nozzle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0431—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
【解決手段】装置は、超音波ノズルの上流に配置された蒸発チェンバー;毛管で分離された蒸発チェンバーおよび超音波ノズル;流れる液体中のサンプルからのスプレイ形成用手段;超音波ノズルが、振動冷却サンプル分子および蒸発した溶媒を含む超音波分子ビームを形成するための蒸発したサンプル化合物および溶媒蒸気の超音波膨張を誘導する真空系;フライ・スルー電子イオン化イオン源;質量分析器;イオン検出器およびサンプルの化学的含有物の同定および/または定量のための得られた質量スペクトルの情報のデータ処理用の手段を含む。
【選択図】図1
Description
従って、有効な電子イオン化LC−MSを有するための改良された方法および装置について要望が強く、それこそ本発明の主題である。
サンプルは、その蒸発時における〜1000倍の液体の膨張により、ほぼ音速でのその液体伝達毛管の管系から、熱によるスプレイで生ずる。小滴およびサンプルの蒸発前に、小滴は、停止されるかまたは著しく減速され、蒸発され、そして次に乾燥した小滴から必ず生成される小さいサンプル粒子は、完全に蒸発されねばならない。この2段階蒸発プロセスは、超音波ノズルからのその膨張前に蒸発チェンバーおよびノズルでサンプルが存在している制限された時間内に、サンプル粒子と溶媒蒸気との間に多くの衝突を必要とする。比較的低い揮発性を有するサンプル化合物について、ノズル後の比較的低い圧での衝突速度は、あまりにも遅くて溶媒の小滴を停止させそしてその粒子からサンプルを蒸発させることになり、その結果、ほとんどのサンプルは、蒸発することなく膨張し、そのため、消失して検出されない。それゆえ、ノズル後の圧の増加なしに、蒸発チェンバーでの圧を増加させる明白な必要性が存在する。
空気圧スプレイは、非常に有効であり広く使用される方法であるが、すべてのガスおよび蒸発した溶媒が、制限された最大のスループットでターボモレキュラーポンプにより排気される真空系中に膨張することから見て、それぞれのガス流速mL/分は、約1μL/分のLC液体流速の低下を生ずる。そのため、制限された上限のLC液体流速に対する不利なしに、ガス流を付加することができる明白な必要性がある。
熱による蒸発ユニットは真空系内部に配置される超音波ノズルで終わるので、液体輸送ラインの閉塞のすべてのケースは、真空系の排気および開放、そして溶媒伝達管の置換後のそのポンプの作動停止、そして排気後MSシステムで通常採用されているような全MSシステムの再調整を必要とする。そのため、大気圧より高い圧で蒸発チェンバーを使用できる可能性は、少なくともサービスにとって、行うのが容易なために望ましい。
空気圧スプレイの使用は、熱によるスプレイの問題のいくつかまたは殆どを解決できる。しかし、空気圧スプレイの追加の認められる問題は、使用される多量のネブライゼーションのガスから見て、このガスおよび蒸発した溶媒およびサンプルのいくらかは、ガスクロマトグラフのスプリットインゼクターにおけるように洗い流さねばならず、そしてこのようなガスの分解は、大気圧より高い圧で蒸発チェンバーの操作を要することである。本発明者により見いだされたことは、驚くべきことに、ヘリウムによるサンプルを含むLC液体の一部の置換が、無視できるシグナルの損失を生じ、そして非常に驚くべきことに、SMBでのサンプルの量の低下にかかわらず、シグナル増加の直感的に分かる結果に反する。低下した量のサンプルによるこの増加したシグナルを説明すれば、溶媒の蒸気の量も低下し、そのためそれらの超音波膨張後そしてスキマー前のサンプルからの溶媒分子の散乱の有害な作用並びにイオン源での増加する空間電荷も低下することである。さらに、ビームの中心に集中するジェット分離サンプルの大きさは、軽ヘリウム原子による溶媒蒸気の置換により改善され、そして真空バックグラウンド濾過のプロセスも、ヘリウムによるサンプル加速から見て改善される。サンプル加速も、溶媒分子による衝突誘導散乱の損失の低下に有益である。従って、もし蒸発したサンプルおよび溶媒の一部が排気されるならば、分解の損失により失うことなく、ネブライゼーションのガスとしてヘリウムを使用できることが分かった。
過去において(例えば米国特許7247495)、蒸発が早ければ早いほど、サンプルの分解に利用できる時間を短縮する点で良好である。その結果、チャンネルのノズル内のその音速付近の運動中の超高速サンプル蒸発が使用され、そしてこのような高速蒸発は、制限された熱移動の考えから、非常に高いノズル蒸発器温度(例えば500℃以上)を要する。驚くべきことに、熱的に不安定な化合物の保存について反対のことが正しく、すなわち、高温度における高速蒸発よりも低温度における低速蒸発が良いことが、本発明者により実験で見いだされた。この反対の直感で分かる結論のための理由は、サンプルの劣化のための活性化エネルギーが、サンプルの蒸発について通常高いことである。その結果、要求される高温度の蒸発は、劣化に利用される時間の短縮によるこのようなサンプルの分解における線形の利得よりもサンプルの劣化の速度に対する、より顕著かつ急激な作用を有する。従って、あまりに遅いサンプルの洗浄および排出によるピークの拡大の限界まで、蒸発チェンバーが比較的低温度の遅い蒸発について比較的大きくなければならないことが分かってきた。
周囲圧より高い圧でのスプレイ形成およびサンプル蒸発の使用は、外気(任意にトラップを経る)への容易な蒸発分解の使用を可能にする。その結果、制約されないネブライゼーションガスの流速の使用は、上限のLC液体の流速と追加のネブライゼーションガスとを直接妥協させることなく、有効な空気圧によるスプレイを可能にする。この特徴は、毛管で分離された蒸発チェンバーおよびノズルの装置により、真空ポンプは、そのスループット限界に従って溶媒およびガスの負荷を受け入れ、一方関係する負荷は、周囲圧で蒸発チェンバーの外に排気される。その結果、熱によるスプレイのみを使用しようとする要求は、もはや存在せず、そして遙かに強力な空気によるスプレイが使用できる。
エレクトロスプレイは、サンプルのイオン化のためにLC−MSで広く使用されている他のタイプのスプレイ形成である。エレクトロスプレイは、低圧では高いエレクトロスプレイ針電圧がアークおよび放電を促進することから、大気圧以上の圧を要する。エレクトロスプレイは、重要な利点である熱またはガスを要しないスプレイ方法である。エレクトロスプレイは、細かいスプレイ形成を得る有効な方法(最低の添加ガスとともにまたはなしで)であるが、それはまた、その電子イオン化のための超音波ノズルからの中性のサンプル化合物としてエレクトロスプレイ後およびサンプル膨張前で、有効なサンプルの蒸発に使用できる。エレクトロスプレイでは、注射針のような針は、約3−5KVに充電され(または液体が間接的に充填され)、そしてもし接地された金属性の対象物に近く配置されるならば、この針から流れる液体は、自発的にエレクトロスプレイとして知られているスプレイを形成する。この新規な発明に独特なことは、不活性チェンバーにおけるそのさらなる完全な熱的蒸発のために潜在的に熱およびガスのないスプレイ形成用のエレクトロスプレイの利用である。本発明者は、加熱されたガラスライナーが、150℃より高いガラスの有限な電導性のために、エレクトロスプレイについて接地された逆電極として働くことができることを見いだした。
改良された堅牢さに加えて、追加された毛管の流れインピーダンスは、大気圧より高い圧を生ずる蒸発したLC溶媒の流速に抵抗するように調節されるので、それはまた、それが外気に開放されたとき、毛管を経る制約/制限された空気の流速に抵抗できる。その結果、蒸発チェンバーへのサービスは容易になり、そしてたとえもし溶媒伝達管が閉塞することがあっても、その置換は、もし必要ならば、簡単かつ迅速に行われ、そしてMS真空チェンバーの排気を要しない。同じことは、周期的に汚れそして清掃または置換を要するライナーにもあてはまり、追加された毛管輸送ラインにより簡単かつ迅速になった。その上、ライナーは蒸発にのみ働きそしてノズルで終わらないため、毛管で分離された蒸発チェンバーおよびノズルの装置の適切なデザインにより、市販されているGC注入ライナーの多くの種類および形状のなかで最適なライナーを選ぶことができる。
大気圧より高い圧での蒸発チェンバーの操作は、容易な流れ分解を可能にする。従って、早いLCカラムの流速が、たとえ比較的小さいかつ低コストのポンプでも、真空ポンプの過負荷なしに得られる。スプレイガスとしてのヘリウム(または水素)の使用は、ヘリウムによるその膨張時の顕著に増加するサンプルのイオン化の能率から見て、分解出力で失われるすべてのサンプルおよび溶媒を相殺する以上のものがある。ヘリウムのこのような使用は、改善されたジェット分離、中性物およびイオンとしての低下した散乱の損失、イオン源における低下した空間電荷効果および改善された真空バックグラウンド濾過を生ずる。そのため、分解関連の損失は避けられ、そしてヘリウムがネブライゼーションガスとして使用されるとき、感度は改善されるか、または実用的に分解とは無関係のままである。
高い蒸発チェンバーの圧で、蒸発衝突の頻度は、0.1バールに比べて1より大きいオーダーの大きさで増大する。その上、蒸発チェンバーライナーでのスプレイの小滴、サンプルの粒子およびサンプルの蒸気の滞留時間も、所定の全ガスフラックスについてガスの速度がその圧に対して反比例するため、圧とともに直線的に増加する。従って、0.1バールから2バールへの蒸発チェンバーでの圧の増加は、ネブライゼーションガスおよび溶媒蒸気との蒸発散乱衝突の約400倍になる。そのため、スプレイ小滴は、1cm以下でGCインゼクターにおけるように停止し、そして生じたサンプル粒子は、周囲圧より高い圧で溶媒との高い頻度の蒸発衝突により有効に蒸発する。結果として、増大した範囲の低揮発性のサンプル化合物が蒸発できる。
長くかつ分離して加熱された毛管輸送ラインによる蒸発チェンバーからのノズルの物理的分離は、それらが互いに適切に熱的に絶縁されているので、これらの要素のそれぞれの有効な分離した温度コントロールを可能にする。重要であるが予想されなかった発見は、従来の概念とは対照的に、ゆるやかなサンプルの蒸発が、より低い温度でより長い蒸発チェンバー滞留時間で達成できることである。それは、より低い温度はサンプルの劣化の低下に指数関数的な作用を有するが、一方劣化時間は増加する劣化に対して線形の作用を有するに過ぎないからである。そのため、蒸発チェンバーの圧が高くなる(そしてライナーの直径および容積も増大する)という事実は、それに応じて約20倍、蒸発チェンバーでのサンプルスプレイ、粒子および蒸気の滞留時間も長くなり、そして約100−200℃顕著に冷たい蒸発チェンバーの使用が可能になり、熱的に不安定なサンプル化合物のゆるやかな熱的蒸発の明確な結果を得る。本発明によりそして従来の教示とは対照的に、サンプルの蒸発は、遙かに大きな蒸発チェンバーを使用して、従って高圧での遙かに遅いガスおよび蒸気の運動速度で行われる。本発明による毛管輸送ラインは、蒸発チェンバーとノズルとの間の流れインピーダンス要素として働き、輸送ラインとして作用し、そしてサンプル蒸発のプロセスに加わらない。さらに、蒸発チェンバーおよびノズルの熱的分離は、時間でプログラムされたゆるやかな蒸発のために、それらの独立した温度コントロールおよびプログラミングを可能にし、比較的揮発性のサンプルが低揮発性サンプルよりも低い温度で蒸発できる。
蒸発チェンバーからのノズルの物理的分離は、ノズルが、最適なノズルの形状に別に機械加工できそして改善された感度に最適なノズル温度で維持できることを意味する。従来の組み合わされた蒸発チェンバーおよびノズルは、典型的な例として、蒸発チェンバーの不活性さおよび高温度の要件の組み合わせにより、一片の融解シリカ管系から製造され、従ってこれらの周知の系におけるノズルは、また融解シリカから製造される。本発明によれば、ノズルは、また機械加工されたセラミックまたはVespel高温度プラスチックから製造でき、それゆえ実験条件例えば溶媒タイプ、流速およびヘリウムから作られたガスの流速に依存する最適な感度のためのすべての望ましい形状を有する。
毛管で分離された蒸発チェンバーおよびノズルの装置の驚くほど有利な特徴の1つは、毛管の長さが、予想されないほど長い長さまで重要ではないことである。このことに関する主な理由は、毛管の直径が典型的な例で蒸発チェンバーライナー(典型的な例で、それぞれ0.32mmの毛管内径対3−4mmの蒸発チェンバーライナーの内径)のそれの10%より小さいので、溶媒の蒸気およびサンプルの速度が、蒸発ライナーにおけるよりも毛管では約200倍早い(2の因数は、毛管における平均圧が2の因数で低下するという事実から生ずる)からである。従って、たとえ毛管が、典型的な例では5cmである蒸発チェンバーのライナーの長さの有効長より20倍長くても、そのなかのサンプルの劣化は無視できる。その上、ライナーの温度は、溶媒の小滴およびサンプル粒子からのサンプルの蒸発を促進かつ増大させるために最適な毛管輸送ラインの温度より高くなければならず、従って、サンプルの劣化は、もしそれが生ずるならば、蒸発ライナーで生じ勝ちであり、そしてたとえ毛管輸送ラインが1mの長さを有しても、毛管輸送ラインでは生じない。それゆえ、例えば1mまでのような比較的長い毛管輸送ラインでも安全に使用でき、それは、以下に記述されるように価値のある特徴の蒸発チェンバーの配置において顕著に大きな順応性をもたらす。Vespelにより被覆された融解シリカ毛管は、ステンレス鋼の管の内側に置かれそしていくつかのガスクロマトグラフにおいて実行されるようにそれらの形状の可撓性を維持しつつ、直接的な電熱により好都合に加熱できる。もし長い毛管が望まれるならば、それらの流れインピーダンスを低下させるために、より大きな内径例えば0.53mmが使用できる。内径が0.53mmの毛管は、内径0.32mmの毛管のそれよりも7.5倍低い流れインピーダンスを有し、そのため同じ流れインピーダンスについて7.5倍になる。
サービスMSおよび小さい研究室のような多くの応用において、GC−MSまたはLC−MSの何れかで操作できるたった1つの質量分光計システムを有するのは明白な利点がある。このような統一されたシステムは、コスト、空間およびその操作者からの維持を節約できる。GC−MSおよびLC−MSの両者に関する電子イオン化の使用は、両者の応用に使用できる統一されたMSシステムの提供において独特である。蒸発チェンバーにおけるその蒸発のためにサンプルを含む溶液の流れをもたらす、LCからノズルを分離する可撓性の毛管の使用は、組み合わされたシステムにエレガントな解決をもたらす。そのシステムでは、ノズルは、1つはGCから来てそして他はLCから来る2つの毛管輸送ラインからサンプルを受け取る。そのため、たった1つのMSプラットホームにおいて2つのシステムを有することに加えて、このようなシステムは、コントロールコンピューターの好適なユーザーインターフェースを経て適切なコントロールソフトウエアの選択によるだけで、ハードウエアの変更なしにGC−MSおよびLC−MSの2つのモードの間を切り換える能力を有することを特徴とする。
毛管輸送ラインの使用が蒸発チェンバーの弾力性のある配置をもたらすので、それは、そのインゼクターの1つの代わりにガスクロマトグラフに配置できる。さらに、GCインゼクターそれ自体は、やや改変されそしてLCサンプル蒸発に働く。それは、それが溶液の流れからの有効なサンプルの蒸発を可能にする必要な特徴の多くを共有するからである。大きな相違は、GCインゼクターが液体のパルスからのサンプルの蒸発のためにデザインされているのに対し、本発明によれば、それは液体の定常流からのサンプルの蒸発に改変されねばならないことである。GCにおける蒸発チェンバーのこのような配置は、蒸発チェンバーの配置についてエレガントかつ低コストの解決策を提示し、そしてコントロールコンピューターの好適なユーザーインターフェースを経て適切なコントロールソフトウエアの選択によるだけで、ハードウエアの変更なしに2つの異なるインゼクターを使用する交互のGC−MSおよびLC−MSの分析を可能にする。
2 流れ注入弁
3 溶媒容器
4 LCポンプ
5 溶媒伝達管
6 LCカラム
7 溶媒伝達管
8 ユニオン継手
9 溶媒伝達管
10 蒸発チェンバー
11 空気圧噴霧器要素
12 ライナー
13 加熱ブロック
14 ヒーター要素
15 内部シール
16 嵌め環
17 管系
18 流れ制御弁
19 分解流れ出力管
20 弁
21 毛管輸送ライン
22 嵌め環シール
23 真空チェンバーフランジ
24 誘導構造要素
25 ヒーター要素
26 超音波ノズル
27 ノズル設置ブロック
28 ノズルヒーター
29 ガス管
51 GC標準インゼクター
52 GCカラム
53 GC輸送ライン
54 ヒーター
55 LCおよびGC統一インターフェースボックス
56 ヒーター
57 毛管輸送ライン
58 嵌め環
59 誘導構造要素
60 ヒーター要素
61 超音波ノズル
71 サンプルループ
72 流れ注入弁
73 溶媒容器
74 LCポンプ
75 溶媒伝達管
76 液体クロマトグラフィカラム
77 溶媒伝達管
78 ユニオン継手
79 溶媒伝達管
80 蒸発チェンバー
81 ガスクロマトグラフ
82 GCインゼクター
83 GC分離カラム
84 毛管輸送ライン
85 輸送ライン
86 ヒーター
87 真空フランジ
88 超音波ノズル構造
89 ノズルヒーター
90 熱絶縁支持体
91 ガス管
92 流れコントロール弁
Claims (27)
- 超音波ノズルの上流に位置するサンプル蒸発チェンバーを使用する質量分光測定分析用の超音波分子ビーム中にサンプルを導入する方法であって、該方法は、流れる液体中の分析されるべきサンプル化合物を該蒸発チェンバーに向かって導き;
流れる液体中の該サンプル化合物からスプレイを形成し;
該超音波ノズルからのその膨張前に、該蒸発チェンバーにおいて該スプレイ中の該サンプル化合物を蒸発させ;
該超音波ノズルから真空系中に該蒸発したサンプル化合物および溶媒を膨張させ、振動冷却サンプル分子および蒸発した溶媒により超音波分子ビームを形成し;
フライ・スルー電子イオン化イオン源で該超音波分子ビーム中に振動冷却分子として含まれている間、該サンプル化合物を電子によりイオン化し;
該サンプル化合物から形成されたイオンを質量分析し;
質量分析後該サンプル化合物から形成された該イオンを検出し、そして
該サンプルの化学的含有物を同定および/または定量するために、得られた質量スペクトルの情報から得られたデータを処理することからなり、その場合、該サンプル蒸発チェンバーは、毛管輸送ラインにより該超音波ノズルへ接続され、
該サンプルの蒸発は、該毛管輸送ラインへのその移入前に、該蒸発チェンバーにおいて完了し、そして
該蒸発したサンプル化合物および液体は、該超音波ノズル中へ該毛管輸送ラインで輸送されることを特徴とする質量分光測定分析用の超音波分子ビーム中にサンプルを導入する方法。 - 該サンプルおよびスプレイ蒸発チェンバーにおけるスプレイが、空気圧スプレイにより行われる請求項1の方法。
- 該サンプルおよびスプレイ蒸発チェンバーにおけるスプレイが、エレクトロスプレイにより行われる請求項1の方法。
- 該スプレイおよびサンプル蒸発チェンバーが、ガスクロマトグラフに設けられ、ハードウエアを変えることなく液体クロマトグラフおよびガスクロマトグラフから該超音波ノズルへのサンプルの導入を可能にする請求項1の方法。
- 該スプレイおよびサンプル蒸発チェンバーが、0.1mmから0.53mmの範囲の内径および25mmより長い長さを有する不活性融解シリカまたは不活性金属の輸送ラインにより該超音波ノズルから分離され;そして該輸送ラインの毛管の長さおよび直径が、調節されて、使用される流れる液体の流速で該蒸発チェンバー中に1絶対大気圧より高い圧をもたらすこと、および/またはすべての真空ポンプの過負荷なしに大気への蒸発チェンバーの開放を可能にすることを行う請求項1の方法。
- 該毛管輸送ラインが、該サンプル蒸発チェンバーにおける高圧側と該超音波ノズルの後の低圧側との間で2の因数より大きい圧力差をもたらす請求項1の方法。
- 該毛管輸送ラインが可撓性でありそして真っ直ぐではない毛管である請求項1の方法。
- 該毛管輸送ラインが、別に加熱されそして温度コントロールされる請求項1の方法。
- 該蒸発チェンバーが、0.5mmより大きい内径を有する不活性のガラスまたは融解シリカライナーを含む請求項1の方法。
- メーキャップガスが、該毛管をでる蒸発したサンプルおよび溶媒に加えてノズルへ供給される請求項1の方法。
- 該スプレイ形成が、ヘリウムまたは水素の軽ガスにより助けられる請求項1の方法。
- 流れる液体中の分析されるべきサンプル化合物が、液体クロマトグラフおよび/または流れ注入弁におけるサンプルループから該蒸発チェンバーに向かって導かれる請求項1の方法。
- 該エレクトロスプレイが、加熱されたガラスライナーの内側に配置されしかもエレクトロスプレイの逆電極として働く非電導性溶媒伝達管から形成される請求項3の方法。
- 超音波ノズルの上流に配置される蒸発チェンバー、
蒸発チェンバーと該超音波ノズルとを分離している毛管、
流れる液体中の該サンプルからのスプレイ形成用手段、
そのなかで、該超音波ノズルが、振動冷却サンプル分子および蒸発した溶媒を含む超音波分子ビームを形成するために蒸発したサンプル化合物および溶媒蒸気の超音波膨張を誘導する真空系、
振動冷却分子として該超音波分子ビーム中に含まれている間に該サンプル化合物のイオン化を行うフライ・スルー電子イオン化イオン源、
該フライ・スルーイオン源におけるサンプル化合物から形成されるイオンの質量分析のための質量分析器、
質量分析後該サンプル化合物から形成される該イオンの検出のためのイオン検出器、および
該サンプルの化学的含有物を同定および/または定量するための得られた質量スペクトル情報のデータ処理のための手段からなることを特徴とする質量分光測定のために超音波分子ビーム中へ流れる液体中のサンプルを導入するための装置。 - サンプル化合物の蒸発のためのスプレイを形成する該手段が、空気圧スプレイである請求項14の装置。
- サンプル化合物の蒸発のためのスプレイを形成する該手段が、エレクトロスプレイである請求項14の装置。
- 該サンプル蒸発チェンバーがガスクロマトグラフに設けられ、さらにハードウエアを変えることなく液体クロマトグラフおよびガスクロマトグラフから該超音波ノズルへサンプル導入する手段を含む請求項14の装置。
- 該スプレイおよびサンプル蒸発チェンバーが、0.1mmから0.53mmまでの範囲の内径および25mmより長い長さを有する不活性融解シリカまたは不活性金属の輸送ラインにより該超音波ノズルから分離され;そして該輸送ラインの毛管が、使用される液体の流速で該蒸発チェンバーにおいて1絶対大気圧より高い圧をもたらす、および/またはすべての真空ポンプの過負荷なしに大気への蒸発チェンバーの開放を可能にする長さおよび直径を有する請求項14の装置。
- 蒸発チェンバーおよび該超音波ノズルを分離する該毛管が、該サンプル蒸発チェンバーにおける高圧側と該超音波ノズルの後の低圧側との間で2の因数より大きい圧力差をもたらす請求項14の装置。
- 該毛管輸送ラインが可撓性でありそして真っ直ぐではない毛管である請求項14の装置。
- 該毛管輸送ラインが、別に加熱されそして温度コントロールされる請求項14の装置。
- 該超音波ノズルの上流でメーキャップガスをもたらす手段をさらに含む請求項14の装置。
- スプレイ形成用の該手段が、ヘリウムまたは水素の軽ガスにより操作される請求項14の装置。
- 流れる液体中の分析されるべき該サンプル化合物が、液体クロマトグラフおよび/または流れ注入管におけるサンプルループから超音波ノズルに向かって導かれる請求項14の装置。
- 該エレクトロスプレイが、加熱されたガラスライナーの内側に配置されしかもエレクトロスプレイの逆電極として働く非電導性溶媒伝達管から形成される請求項16の装置。
- 流れる液体中の分析されるべきサンプル化合物を超音波ノズルの上流に配置された蒸発チェンバー向かって導き、
サンプル蒸発チェンバー中で該サンプルを蒸発させ、
サンプル蒸発チェンバーと超音波ノズルとの間に組み合わされた毛管輸送ライン中の該蒸発したサンプル化合物および液体を受容し、
次の分析のために、毛管輸送ラインから超音波ノズルへ該蒸発したサンプル化合物および液体を輸送することを特徴とする質量分光測定分析法。 - 流れる液体中のサンプルを蒸発するように適合されたサンプル蒸発チェンバー、
サンプル蒸発チェンバーに組み合わされた超音波ノズル、
蒸発したサンプル化合物を受容しそしてそれらを超音波ノズルへ輸送するためのサンプル蒸発チェンバーと超音波ノズルとの間に組み合わされた毛管輸送ライン
からなることを特徴とする質量分光測定分析用装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IL186740A IL186740A0 (en) | 2007-10-18 | 2007-10-18 | Method and device for sample vaporization from a flow of a solution |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009098150A true JP2009098150A (ja) | 2009-05-07 |
Family
ID=40562515
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008268168A Pending JP2009098150A (ja) | 2007-10-18 | 2008-10-17 | 毛管で分離した蒸発チェンバーおよびノズル装置および方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8604424B2 (ja) |
JP (1) | JP2009098150A (ja) |
IL (1) | IL186740A0 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010025932A (ja) * | 2008-07-23 | 2010-02-04 | Aviv Amirav | 質量分光分析におけるサンプル導入のための開放型プローブ方法および装置 |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8245564B1 (en) * | 2008-09-16 | 2012-08-21 | Northrop Grumman Systems Corporation | Chemical sample collection and detection system |
RU2603610C2 (ru) | 2011-02-25 | 2016-11-27 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Устройство для генерирования аэрозоля для распыления жидкости, и способ управления температурой распыляемой жидкости |
CN102608343A (zh) * | 2012-03-02 | 2012-07-25 | 中国科学院过程工程研究所 | 一种气体稳压定量稀薄化部件及其用途 |
CN104181263B (zh) * | 2013-05-28 | 2016-07-06 | 北京东西分析仪器有限公司 | 电晕放电雾化粒子带电检测器 |
DE112015001080T5 (de) * | 2014-03-04 | 2016-11-24 | Micromass Uk Limited | Probeneinbringungssystem für Spektrometer |
US10060838B2 (en) | 2015-04-09 | 2018-08-28 | Ut-Battelle, Llc | Capture probe |
US9632066B2 (en) | 2015-04-09 | 2017-04-25 | Ut-Battelle, Llc | Open port sampling interface |
US9768006B2 (en) * | 2016-01-20 | 2017-09-19 | Thermo Finnigan Llc | Ion transfer tube flow and pumping system load |
CN109844901B (zh) * | 2016-10-14 | 2022-06-14 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 提高用于质谱分析的直接取样接口灵敏度的方法和系统 |
US10823714B2 (en) | 2016-12-29 | 2020-11-03 | Thermo Finnigan Llc | Simplified source control interface |
US10475634B2 (en) * | 2017-04-12 | 2019-11-12 | Graduate School At Shenzhen, Tsinghua University | Vacuum electro-spray ion source and mass spectrometer |
IT201700115527A1 (it) * | 2017-10-13 | 2019-04-13 | Univ Degli Studi Di Urbino Carlo Bo | Macchina per analisi chimica comprendente la combinazione della spettrometria di massa a ionizzazione elettronica con la cromatografia liquida |
US11125657B2 (en) * | 2018-01-30 | 2021-09-21 | Ut-Battelle, Llc | Sampling probe |
EP3758853A4 (en) * | 2018-03-01 | 2022-03-02 | DH Technologies Development Pte. Ltd. | INTEGRATED ELECTRIC SPRAY EMITTER AND METHOD FOR ITS MANUFACTURE |
IL259320A (en) * | 2018-05-13 | 2018-06-28 | Amirav Aviv | Mass spectrometer with photoionization ion source method and system |
GB201808892D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB201808893D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
GB201808912D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
GB201808932D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
GB201808890D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
US11373849B2 (en) | 2018-05-31 | 2022-06-28 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer having fragmentation region |
GB201808949D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
GB201808894D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB201808936D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
GB2576077B (en) | 2018-05-31 | 2021-12-01 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US10497548B1 (en) | 2019-05-01 | 2019-12-03 | Aviv Amirav | Method and apparatus for electron ionization liquid chromatography mass spectrometry |
US11077218B1 (en) * | 2020-03-24 | 2021-08-03 | Patrick Gagnon | Payment terminal sanitizing device |
CN113655160A (zh) * | 2021-08-13 | 2021-11-16 | 深圳德谱仪器有限公司 | 一种用于色谱仪的喷嘴 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0249343A (ja) * | 1988-05-27 | 1990-02-19 | Hewlett Packard Co <Hp> | クロマトグラフー質量分析計インターフェースとセパレータ |
US5055677A (en) * | 1989-07-13 | 1991-10-08 | Aviv Amirav | Mass spectrometer method and apparatus for analyzing materials |
JPH05251038A (ja) * | 1992-03-04 | 1993-09-28 | Hitachi Ltd | プラズマイオン質量分析装置 |
JPH06138092A (ja) * | 1991-10-08 | 1994-05-20 | Hewlett Packard Co <Hp> | パーティクルビーム液体クロマトグラフ・質量分析装置 |
JPH0968517A (ja) * | 1995-08-31 | 1997-03-11 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
JPH11142372A (ja) * | 1997-07-17 | 1999-05-28 | Nohmi Bosai Ltd | 電気噴霧電離方法および装置、質量分析方法並びに火災検出装置 |
JP2000162188A (ja) * | 1998-11-23 | 2000-06-16 | Aviv Amirav | 溶液中のサンプルを分析する質量分析法及び装置 |
JP2001503556A (ja) * | 1997-05-17 | 2001-03-13 | アナリチカ オブ ブランフォード,インコーポレーテッド | 大気圧イオン源の構造 |
US20080087812A1 (en) * | 2006-10-13 | 2008-04-17 | Ionsense, Inc. | Sampling system for containment and transfer of ions into a spectroscopy system |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4960992A (en) * | 1983-08-30 | 1990-10-02 | Research Corporation Technologies | Method and means for vaporizing liquids by means of heating a sample capillary tube for detection or analysis |
US4814612A (en) * | 1983-08-30 | 1989-03-21 | Research Corporation | Method and means for vaporizing liquids for detection or analysis |
IT1262928B (it) * | 1992-01-14 | 1996-07-22 | Erba Strumentazione | Procedimento e dispositivo per l'iniezione a vaporizzazione in apparecchi di analisi gascromatografica |
US7247495B2 (en) * | 1998-11-23 | 2007-07-24 | Aviv Amirav | Mass spectrometer method and apparatus for analyzing a sample in a solution |
US6630664B1 (en) * | 1999-02-09 | 2003-10-07 | Syagen Technology | Atmospheric pressure photoionizer for mass spectrometry |
WO2004057638A2 (en) * | 2002-12-18 | 2004-07-08 | Brigham Young University | Method and apparatus for aerodynamic ion focusing |
US7232992B2 (en) * | 2004-05-21 | 2007-06-19 | Analytica Of Branford, Inc. | Charged droplet sprayers |
US7649171B1 (en) * | 2007-05-21 | 2010-01-19 | Northrop Grumman Corporation | Miniature mass spectrometer for the analysis of biological small molecules |
-
2007
- 2007-10-18 IL IL186740A patent/IL186740A0/en unknown
-
2008
- 2008-10-06 US US12/245,903 patent/US8604424B2/en active Active
- 2008-10-17 JP JP2008268168A patent/JP2009098150A/ja active Pending
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0249343A (ja) * | 1988-05-27 | 1990-02-19 | Hewlett Packard Co <Hp> | クロマトグラフー質量分析計インターフェースとセパレータ |
US5055677A (en) * | 1989-07-13 | 1991-10-08 | Aviv Amirav | Mass spectrometer method and apparatus for analyzing materials |
JPH06138092A (ja) * | 1991-10-08 | 1994-05-20 | Hewlett Packard Co <Hp> | パーティクルビーム液体クロマトグラフ・質量分析装置 |
JPH05251038A (ja) * | 1992-03-04 | 1993-09-28 | Hitachi Ltd | プラズマイオン質量分析装置 |
JPH0968517A (ja) * | 1995-08-31 | 1997-03-11 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
JP2001503556A (ja) * | 1997-05-17 | 2001-03-13 | アナリチカ オブ ブランフォード,インコーポレーテッド | 大気圧イオン源の構造 |
JPH11142372A (ja) * | 1997-07-17 | 1999-05-28 | Nohmi Bosai Ltd | 電気噴霧電離方法および装置、質量分析方法並びに火災検出装置 |
JP2000162188A (ja) * | 1998-11-23 | 2000-06-16 | Aviv Amirav | 溶液中のサンプルを分析する質量分析法及び装置 |
US20080087812A1 (en) * | 2006-10-13 | 2008-04-17 | Ionsense, Inc. | Sampling system for containment and transfer of ions into a spectroscopy system |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010025932A (ja) * | 2008-07-23 | 2010-02-04 | Aviv Amirav | 質量分光分析におけるサンプル導入のための開放型プローブ方法および装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
IL186740A0 (en) | 2008-02-09 |
US8604424B2 (en) | 2013-12-10 |
US20090101814A1 (en) | 2009-04-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009098150A (ja) | 毛管で分離した蒸発チェンバーおよびノズル装置および方法 | |
US4531056A (en) | Method and apparatus for the mass spectrometric analysis of solutions | |
JP3079055B2 (ja) | エレクトロスプレー、大気圧化学的イオン化質量分析計およびイオン発生源 | |
JP4234441B2 (ja) | 検体のイオン化方法及び装置並びに供用イオン源プローブ | |
JP4178110B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US6759650B2 (en) | Method of and apparatus for ionizing an analyte and ion source probe for use therewith | |
JP2778689B2 (ja) | 放電イオン化質量分析計 | |
JP5589750B2 (ja) | 質量分析装置用イオン化装置及び該イオン化装置を備える質量分析装置 | |
JP4454157B2 (ja) | 質量分析装置のためのイオン源 | |
WO2012176534A1 (ja) | 液体クロマトグラフ質量分析装置 | |
US20150060566A1 (en) | Ionization probe | |
JP6620896B2 (ja) | イオン化装置及び質量分析装置 | |
WO2003046543A1 (fr) | Spectrometre de masse a ionisation a la pression atmospherique | |
US10497548B1 (en) | Method and apparatus for electron ionization liquid chromatography mass spectrometry | |
JP2003215101A (ja) | 液体クロマトグラフ質量分析計 | |
JP2000162188A (ja) | 溶液中のサンプルを分析する質量分析法及び装置 | |
US4891515A (en) | Solution analyzing mass spectrometer | |
TWI694483B (zh) | 離子化介面及質譜儀 | |
JP2011113832A (ja) | 質量分析装置 | |
JPH06331616A (ja) | 電気噴霧をイオン流に変換するためのハウジング | |
JP2001183343A (ja) | 液体クロマトグラフ質量分析計 | |
JP2000055880A (ja) | 液体クロマトグラフ質量分析装置 | |
JP3978184B2 (ja) | 大気圧イオン化質量分析装置 | |
CN116598187A (zh) | 离子分析装置 | |
WO2023178442A9 (en) | Self cleaning ionization source |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111006 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20120511 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20120511 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130226 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130813 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140128 |