JPH0968407A - 変位検出装置 - Google Patents

変位検出装置

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Publication number
JPH0968407A
JPH0968407A JP22372895A JP22372895A JPH0968407A JP H0968407 A JPH0968407 A JP H0968407A JP 22372895 A JP22372895 A JP 22372895A JP 22372895 A JP22372895 A JP 22372895A JP H0968407 A JPH0968407 A JP H0968407A
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JP
Japan
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objective lens
measured
displacement
focus error
signal
Prior art date
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Application number
JP22372895A
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English (en)
Inventor
Nobuo Nabeshima
信雄 鍋島
Akinori Kawamoto
聡紀 河本
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Sony Manufacturing Systems Corp
Original Assignee
Sony Precision Technology Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 装置が複雑、高価になることなく、被測定面
の変位の変化量の大小に関係なく、被測定面の変位を非
接触で高精度に検出することのできる変位検出装置を得
る。 【解決手段】 被測定面10に対向する如く配され、レ
ーザビームを対物レンズ9にその光軸に沿って入射さ
せ、その集束出射ビームを被測定面10に入射させるレ
ーザ光源2と、被測定面10から反射し、反射ビームが
入射せしめられるフォーカスエラー検出手段6、7と、
対物レンズ9の光軸方向の位置を測定する測定手段1
2、14とを有し、被測定面10の測定毎に、対物レン
ズ9を移動させて、フォーカスエラー検出手段6、7に
よってフォーカスエラーが所定値になったときの対物レ
ンズ9の位置を測定手段12、14によって測定し、フ
ォーカスエラーが所定値となったときの対物レンズ9の
位置の変位から、被測定面10の対物レンズ9の光軸方
向の変位を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は被測定面の変位を検
出する変位検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】以下に、図4を参照して、従来の被測定
面の変位を非接触で検出することのできる変位検出装置
を説明する。9は光軸方向に移動可能な対物レンズ(そ
の焦点距離をf1 とする)で、被測定面10に対向して
おり、棒11を介してアクチュエータ15によって駆動
せしめられる。アクチュエータ15は、円筒状の永久磁
石16及びの内側の円筒状の可動コイル17から構成さ
れるボイスコイルモータである。棒11が設けられ、そ
の下端に対物レンズ9が取付けられ、上端が連結部11
aを介して、可動コイル17の下端に取付けられてい
る。
【0003】次に、シャーシ等の固定部に取付けられた
検出光学系1について説明する。レーザ光源としてのレ
ーザダイオード2からの発散出射レーザビームが、コリ
メータレンズ3に入射して、平行ビームに変換される。
この平行ビームは、偏光ビームスプリッタ4を透過し、
更に、λ/4板(ここで、λはレーザダイオード2から
のレーザビームの波長である)8を透過することによっ
て偏光され、対物レンズ9にその光軸に沿って入射す
る。対物レンズ9からの集束出射ビームは、被測定面1
0に入射し、その発散反射ビームは対物レンズ9に再度
入射して、平行出射ビームに変換され、その平行出射ビ
ームは、λ/4板8を透過して再度偏光された後、偏光
ビームスプリッタ4に入射して、その反射面で進行方向
が90°変更され、その平行出射ビームは集光レンズ5
に入射すことによって集光せしめられ、その集束出射ビ
ームは円筒レンズ6を通じて、4分割光検出器(例え
ば、フォトダイオードからなる)7上に入射する。これ
ら円筒レンズ6及び4分割光検出器7にて、非点収差法
によるフォーカスエラー検出手段が構成される。
【0004】光検出器7は、図2に示す如く、4分割さ
れた光検出部7A、7B、7C、7D(この符号は、光
検出部に対し、反時計回りに付されている)から構成さ
れ。対物レンズ9のフォーカスエラー信号Eは、光検出
器7の受光面上のビームスポットBSに基づく光検出部
7A〜7Dよりの各検出信号をそれぞれA〜Dとする
と、
【0005】
【数1】E=(A+C)−(B+D)
【0006】のように表される。対物レンズ9からの集
束出射ビームが被測定面10上に焦点を結んでいると
き、即ち、対物レンズ9と被測定面10との間の距離d
が対物レンズ9の焦点距離f1 に等しいときは、図2
(B)に示す如くビームスポットBSは、4個の光検出
部7A〜7Dの中心と一致する中心を有する円となり、
フォーカスエラー信号は0となる。又、対物レンズ9と
被測定面10との間の距離dが対物レンズ9の焦点距離
1 より短くなると、図2(A)に示す如く、光検出器
7の受光面上のビームスポットBSは、4個の光検出部
7A〜7Dの中心と一致する中心を有し、長径の方向が
光検出部7B、7Dを結ぶ方向の楕円になり、フォーカ
スエラー信号Eのレベルは負になる。更に、対物レンズ
9と被測定面10との間の距離dが対物レンズ9の焦点
距離f1 より長くなると、図2(C)に示す如く、光検
出器7の受光面上のビームスポットBSは、4個の光検
出部7A〜7Dの中心と一致する中心を有し、長径の方
向が光検出部7A、7Cを結ぶ方向の楕円になり、フォ
ーカスエラー信号Eのレベルは正になる。そして、フォ
ーカスエラー信号Eは、図3に示す如く、対物レンズ9
から被測定面10までの距離dの変化に応じて、S字状
に変化する。そして、d=f1 のとき、対物レンズ9は
被測定面10に対し合焦位置にある。
【0007】そして、光検出器7からのフォーカスエラ
ー信号Eがサーボ回路20に供給され、そのサーボ回路
20によって、可動コイル17が駆動されて、光検出器
7からのフォーカスエラー信号Eのレベルが0となるよ
うに、対物レンズ9が駆動される。
【0008】棒11の中間には、目盛13を有するリニ
アスケール(磁気スケール、光学スケール、容量型スケ
ール等)12が取付けられ、このリニアスケール12に
対し、検出ヘッド(磁気ヘッド、光学ヘッド、容量型ヘ
ッド等)が固定部に設けられて、検出ヘッド14がスケ
ール12の目盛信号を読み取る。検出ヘッド14の検出
出力が信号処理回路18によって信号処理されることに
より、目盛示す信号が得られる。この目盛を示す信号は
表示器(数字等を表示する単純な表示器又はデータロガ
ー等の如く、記憶手段、制御手段、表示器等を備え、数
字と共にグラフをも表示する表示装置)19に供給され
て、目盛を示す数字、グラフ等が表示される。尚、上述
とは逆に、検出ヘッド14を棒11に取付け、リニアス
ケール12を固定部に取付けても良い。
【0009】この表示器19に表示される目盛は、対物
レンズ9の光軸方向の位置を間接的に示している。被測
定面10の位置が対物レンズ9の光軸方向に、第1の位
置から第2の位置に変化すれば、合焦状態にある対物レ
ンズ9も他の第1の位置から他の第2の位置に移動す
る。合焦状態にある対物レンズ9と被測定面10との間
の距離dは対物レンズ9の焦点距離f1 に等しく一定で
ある。従って、被測定面10の対物レンズ9の光軸方向
の変位(第1及び第2の位置間の距離)は、対物レンズ
9の変位(他の第1及び第2の位置間の距離)に等しい
ので、対物レンズ9の変位から被測定面の10の変位が
分かる。
【0010】尚、被測定物を対物レンズ9の光軸と直角
な方向に移動させることにより、その被測定物のある面
の各部の変位が検出される。又、同じ被測定面10が対
物レンズ9の光軸方向に移動する場合も、その被測定面
10の変位が検出される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】かかる従来の変位検出
装置は、図3に示すフォーカスエラー信号の特性から明
らかなように、被測定面10の変位が小さいときは問題
ないが、被測定面10の変位が大きい場合、即ち、測定
範囲が広い場合はリニアスケール12を長くする必要が
生じる。しかし、リニアスケール12を長くすると、ア
クチュエータ15の駆動対象が重くなり、サーボが掛け
難くなる。更に、サーボを適切に掛けようとすると、装
置が複雑、高価となってしまう。
【0012】かかる点に鑑み、本発明は、装置が複雑、
高価になることなく、被測定面の変位の大きさに無関係
に、被測定面の変位を非接触で高精度に検出することの
できる変位検出装置を提案しようとするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】第1の本発明は、被測定
面に対向する如く配され、その光軸方向に移動可能な対
物レンズと、レーザビームを対物レンズにその光軸に沿
って入射させ、その集束出射ビームを被測定面に入射さ
せるレーザ光源と、被測定面から反射し、対物レンズを
再度通過した反射ビームが入射せしめられるフォーカス
エラー検出手段と、対物レンズの光軸方向の位置を測定
する測定手段とを有し、被測定面の測定毎に、対物レン
ズ及び被測定面間の距離が対物レンズの焦点距離より長
い距離及び短い距離の間に亘って変化するように対物レ
ンズを移動させて、フォーカスエラー検出手段によって
フォーカスエラーが所定値になったときの対物レンズの
位置を測定手段によって測定し、フォーカスエラーが所
定値となったときの対物レンズの位置の変位から、被測
定面の対物レンズの光軸方向の変位を検出するようにし
たことを特徴とする変位検出装置である。
【0014】かかる第1の本発明によれば、被測定面の
測定毎に、対物レンズ及び被測定面間の距離が対物レン
ズの焦点距離より長い距離及び短い距離の間に亘って変
化するように対物レンズを移動させて、フォーカスエラ
ー検出手段によってフォーカスエラーが所定値になった
ときの対物レンズの位置を測定手段によって測定し、フ
ォーカスエラーが所定値となったときの対物レンズの位
置の変位から、被測定面の対物レンズの光軸方向の変位
を検出する。
【0015】
【発明の実施の形態】以下に、図1を参照して、本発明
の実施の形態を説明するも、図1において、図4と対応
する部分には、同一符号を付して示す。9は光軸方向に
移動可能な対物レンズ(その焦点距離をf1 とする)
で、被測定面10に対向しており、棒11を介して、ア
クチュエータ15によって駆動せしめられる。アクチュ
エータ15は、円筒状の永久磁石16及びの内側の円筒
状の可動コイル17から構成されるボイスコイルモータ
である。棒11が設けられ、その下端に対物レンズ9が
取付けられ、上端が連結部11aを介して、可動コイル
17の下端に取付けられている。
【0016】次に、シャーシ等の固定部に取付けられた
検出光学系1について説明する。レーザ光源としてのレ
ーザダイオード2からの発散出射レーザビームが、コリ
メータレンズ3に入射して、平行ビームに変換される。
この平行ビームは、偏光ビームスプリッタ4を透過した
後、λ/4板(ここでλはレーザダイオード14からの
レーザビームの波長を示す)8を透過することによって
偏光された後、対物レンズ9にその光軸に沿って入射す
る。対物レンズ9からの集束出射ビームは、被測定面1
0に入射し、その発散反射ビームは対物レンズ9に再度
入射して、平行出射ビームに変換され、その平行出射ビ
ームはλ/4板8を透過することによって再度偏光され
た後、偏光ビームスプリッタ4に入射して、その反射面
で進行方向が90°変更され、その平行出射ビームは集
光レンズ5に入射して集光せしめられ、その集束出射ビ
ームは円筒レンズ6を通じて、4分割光検出器(例え
ば、フォトダイオードからなる)7上に入射する。これ
ら円筒レンズ6及び4分割光検出器7にて、非点収差法
によるフォーカスエラー検出手段が構成される。
【0017】光検出器7は、図2に示す如く、4分割さ
れた光検出部7A、7B、7C、7D(この符号は、光
検出部に対し、反時計回りに付されている)から構成さ
れる。対物レンズ9のフォーカスエラー信号Eは、光検
出器7の受光面上のビームスポットBSに基づく光検出
部7A〜7Dよりの各検出信号をそれぞれA〜Dとした
とき、上述の数1の式で表される。
【0018】対物レンズ9からの集束出射ビームが被測
定面10上に焦点を結んでいるとき、即ち、対物レンズ
9と被測定面10との間の距離dが対物レンズ9の焦点
距離f1 に等しいときは、図2(B)に示す如くビーム
スポットBSは、4個の光検出部7A〜7Dの中心と一
致する中心を有する円となり、フォーカスエラー信号は
0となる。又、対物レンズ9と被測定面10との間の距
離dが対物レンズ9の焦点距離f1 より短くなると、図
2(A)に示す如く、光検出器7の受光面上のビームス
ポットBSは、4個の光検出部7A〜7Dの中心と一致
する中心を有し、長径の方向が光検出部7B、7Dを結
ぶ方向の楕円になり、フォーカスエラー信号のレベルは
負になる。更に、対物レンズ9と被測定面10との間の
距離dが対物レンズ9の焦点距離f1 より長くなると、
図2(C)に示す如く、光検出器7の受光面上のビーム
スポットBSは、4個の光検出部7A〜7Dの中心と一
致する中心を有し、長径の方向が光検出部7A、7Cを
結ぶ方向の楕円になり、フォーカスエラー信号のレベル
正になる。そして、フォーカスエラー信号Eのレベル
は、図3に示す如く、対物レンズ9から被測定面10ま
での距離dの変化に応じて、S字状に変化する。そし
て、d=f1 のとき、対物レンズ9は被測定面10に対
し合焦位置にある。
【0019】21は制御器で、制御器21からの駆動信
号が可動コイル17に供給されて、対物レンズ9がその
光軸方向に駆動せしめられる。棒11の中間には、目盛
13を有するリニアスケール(磁気スケール、光学スケ
ール、容量型スケール等)12が取付けられ、このリニ
アスケール12に対し、検出ヘッド(磁気ヘッド、光学
ヘッド、容量型ヘッド等)14が固定部に取付けられ
て、この検出ヘッド14がスケール12の目盛信号を読
み取る。検出ヘッド14の検出出力が信号処理回路22
によって信号処理されることにより、目盛を示す信号が
得られる。尚、上述とは逆に、検出ヘッド14を棒11
に取付け、リニアスケール12を固定部に取付けても良
い。
【0020】又、光検出器7よりのフォーカスエラー信
号Eが信号処理回路23に供給されて信号処理されて、
フォーカスエラー信号Eにおいて、対物レンズ9と被測
定面10との間の距離dが、対物レンズ9の焦点距離f
1 と等しくなったとき、合焦検出信号が出力されて、演
算回路24に供給される。尚、この演算回路24は、変
位検出装置の各部を制御する制御手段としてのCPUを
含んでいる。検出ヘッド14からの目盛を示す信号は、
演算回路24を介して表示器(数字等を表示する単純な
表示器又はデータロガー等の如く、記憶手段、制御手
段、表示器等を備え、数字と共にグラフをも表示する表
示装置)27に供給されて、目盛を示す数字、グラフ等
が表示される。
【0021】次に、この実施の形態の動作を説明する。
対物レンズ9と被測定面10との間の距離dが、対物レ
ンズ9の焦点距離f1 より十分長いとき及び十分短いと
きは、光検出器7よりのフォーカスエラー信号Eのレベ
ルは、対物レンズ9と被測定面10との間の距離dが変
化しても、0のままである。そこで、先ず、対物レンズ
9と被測定面10との間の距離dが、対物レンズ9の焦
点距離f1 より十分長くなる出発位置(検出光学系1の
λ/4板8に近いが、対物レンズ9がこのλ/4板8に
衝突するおそれのない所定位置)に対物レンズ9を置
き、制御器21からの駆動信号をアクチュエータ15の
可動コイル17に供給して、対物レンズ9を被測定面1
0に近づく方向に移動させる。そうすると、光検出器7
からのフォーカスエラー信号Eのレベルは最初0で、そ
の後、正となり、値が次第に大となり、正のピーク値を
経て、その値が次第に小さくなり、やがて0になる。こ
のフォーカスエラー信号Eのレベルが0になったとき
は、対物レンズ9と被測定面10との間の距離dが対物
レンズ9の焦点距離f1 と等しくなったときで、このと
きの対物レンズ9の被測定面10に対する位置が合焦位
置である。その後も、続けて、対物レンズ9を被測定面
10に近づく方向に移動させると、フォーカスエラー信
号Eのレベル負になり、値が次第に大となり、負のピー
ク値を経て、その値が次第に小さくなり、終には再び0
になる。そのときの対物レンズ9の位置を到達位置(被
測定面10に近いが、この被測定面10がどのように変
位しても、対物レンズ9がその被測定面10に衝突する
おそれのない所定位置)にする。その後、制御器21に
よって、アクチュエータ15の可動コイル17に、上述
と逆極性の駆動信号を供給して、対物レンズ9を逆方向
に駆動して、元の出発位置に戻す。尚、対物レンズ9を
逆方向に駆動して、元の出発位置に戻る途中でも、対物
レンズ9が被測定面10に対し合焦位置に来る。
【0022】尚、演算回路24が信号処理回路23から
の合焦点での信号を受けたときに、信号処理回路22の
変位量を読み込んで表示器27に供給する方法として
は、合焦点の信号全てに対して行うことや、対物レンズ
9の移動方向に応じて、一方向のみの合焦点の信号に対
して行うことも可能である。
【0023】しかして、演算回路24の入力端子26
に、変位検出装置の動作を開始させるためのキースイッ
チからのキー信号又は外部からの動作開始制御信号を供
給して、変位検出装置の動作を開始させた後、最初に、
対物レンズ9を出発位置から到達位置まで移動させ、最
初の被測定面(これを基準被測定面とする)10に対す
る対物レンズ9の位置が合焦位置になったとき、信号処
理回路23から得た合焦検出信号を演算回路24に供給
し、そのときの信号処理回路22から得られる対物レン
ズ9の光軸方向の位置(リニアスケール12の目盛)
(これを基準位置とする)を示す信号を、演算回路24
を通じてメモリ25に記憶させる。
【0024】しかる後、被測定面10を測定する毎に、
アクチュエータ15によって、対物レンズ9を出発位置
から到達位置まで移動させて、対物レンズ9の合焦位置
での信号処理回路22からの対物レンズ9の位置(リニ
アスケール12の目盛)を示す信号を得て、演算回路2
4に供給して、メモリ25に記憶されて基準位置との差
分、即ち、被測定面10の基準となる被測定面10の変
位を算出して、データロガ等の表示器27に供給して、
その変位を数字、グラフ等で表示させる。尚、演算回路
24から表示器27に供給される複数の一連の被特性面
10の変位のデータは、表示器27内の記憶手段に記憶
され、それらを並列的に表示することもできる。
【0025】この表示器19に表示される目盛は、対物
レンズ9の光軸方向の位置を間接的に示している。対物
レンズ9の変位から被測定面の10の変位が分かる。
【0026】尚、被測定物を対物レンズ9の光軸と直角
な方向に移動させることにより、その被測定物のある面
の各部の変位が検出される。この場合は、被測定面10
を対物レンズ9の光軸と直角な方向に移動させるタイミ
ングと、測定開始(対物レンズ9の移動開始)のタイミ
ングを同期させることにより、この変位検出装置は表面
形状測定装置となる。又、同じ被測定面10が対物レン
ズ9の光軸方向に移動する場合も、その被測定面10の
変位が検出される。
【0027】対物レンズ9を移動させる手段としては、
リニアーモータ、ステッピングモータ、DCモータ、エ
アーシリンダー、油圧シリンダー等でも良く、又、手動
であっても良い。
【0028】尚、対物レンズ9を出発位置から到達位置
まで移動させる場合、検出光学系1や、被測定面10に
接近し過ぎたり、衝突するのを回避するために、棒11
の途中に突起を設け、その突起は対物レンズ9の出発位
置及び到達位置に対応して設けられたストッパと衝合さ
せるようにしても良い。
【0029】又、信号処理回路23から演算回路24に
供給される信号は、フォーカスエラー信号が0になった
とき、即ち、対物レンズ9が被測定面10に対し合焦点
に位置したときに発生するのが好ましいが、対物レンズ
9と被測定面10との間の距離dが、対物レンズ9の焦
点距離f1 に極く近い所定の値になったとき、即ち、フ
ォーカスエラー信号が0に極く近い所定値になったとき
に発生するようにしても良い。
【0030】フォーカスエラー検出手段としては、上述
の実施の形態では、非点収差法を採用したが、臨界角
法、ナイフエッジ法等でも良い。
【0031】又、上述の実施の形態における演算回路2
4からの被測定面10の変位を示す信号を、磁気テー
プ、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク等に記
憶させることができる。
【0032】
【発明の効果】第1の本発明によれば、被測定面に対向
する如く配され、その光軸方向に移動可能な対物レンズ
と、レーザビームを対物レンズにその光軸に沿って入射
させ、その集束出射ビームを被測定面に入射させるレー
ザ光源と、被測定面から反射し、対物レンズを再度通過
した反射ビームが入射せしめられるフォーカスエラー検
出手段と、対物レンズの光軸方向の位置を測定する測定
手段とを有し、被測定面の測定毎に、対物レンズ及び被
測定面間の距離が対物レンズの焦点距離より長い距離及
び短い距離の間に亘って変化するように対物レンズを移
動させて、フォーカスエラー検出手段によってフォーカ
スエラーが所定値になったときの対物レンズの位置を測
定手段によって測定し、フォーカスエラーが所定値とな
ったときの対物レンズの位置の変位から、被測定面の対
物レンズの光軸方向の変位を検出するようにしたので、
装置が複雑、高価になることなく、被測定面の変位の変
化量の大小に関係なく、被測定面の変位を非接触で高精
度に検出することのできる変位検出装置を得ることがで
きる。
【0033】第2の本発明によれば、第1の本発明の変
位検出装置において、基準となる被測定面の測定時のフ
ォーカスエラーが所定値になったときの対物レンズの位
置を基準位置として記憶する記憶手段と、フォーカスエ
ラーが所定値となったときの対物レンズの位置の、記憶
手段に記憶されている基準位置に対する差分を算出する
演算手段とを設けてなり、演算手段から、被測定面の対
物レンズの光軸方向の基準となる被測定面からの変位を
得るようにしたので、第1の本発明の効果に加えて、被
測定面の基準被測定面からの変位を検出することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態のブロック線図である。
【図2】光検出器の動作説明のための略線図である。
【図3】フォーカスエラー信号の特性を示す曲線図であ
る。
【図4】従来例を示すブロック線図である。
【符号の説明】 1 検出光学系 2 レーザダイオード 3 コリメータレンズ 4 偏光ビームスプリッタ 5 集光レンズ 6 円筒レンズ 7 光検出器 8 λ/4板 9 対物レンズ 10 被測定面 11 棒 12 リニアスケール 13 目盛 14 検出ヘッド 15 アクチュエータ 16 永久磁石 17 可動コイル 22 信号処理回路 23 信号処理回路 24 演算回路 25 メモリ 26 入力端子 27 表示器

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定面に対向する如く配され、その光
    軸方向に移動可能な対物レンズと、 レーザビームを前記対物レンズにその光軸に沿って入射
    させ、その集束出射ビームを前記被測定面に入射させる
    レーザ光源と、 前記被測定面から反射し、前記対物レンズを再度通過し
    た反射ビームが入射せしめられるフォーカスエラー検出
    手段と、 前記対物レンズの光軸方向の位置を測定する測定手段と
    を有し、 前記被測定面の測定毎に、前記対物レンズ及び前記被測
    定面間の距離が前記対物レンズの焦点距離より長い距離
    及び短い距離の間に亘って変化するように前記対物レン
    ズを移動させて、前記フォーカスエラー検出手段によっ
    てフォーカスエラーが所定値になったときの前記対物レ
    ンズの位置を前記測定手段によって測定し、前記フォー
    カスエラーが所定値となったときの前記対物レンズの位
    置の変位から、前記被測定面の前記対物レンズの光軸方
    向の変位を検出するようにしたことを特徴とする変位検
    出装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の変位検出装置におい
    て、 基準となる前記被測定面の測定時の前記フォーカスエラ
    ーが所定値になったときの前記対物レンズの位置を基準
    位置として記憶する記憶手段と、 前記フォーカスエラーが所定値となったときの前記対物
    レンズの位置の、前記記憶手段に記憶されている基準位
    置に対する差分を算出する演算手段とを設けてなり、 前記演算手段から、前記被測定面の前記対物レンズの光
    軸方向の前記基準となる被測定面からの変位を得るよう
    にしたことを特徴とする変位検出装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7187630B2 (en) 2001-06-11 2007-03-06 Mitutoyo Corporation Focusing servo device and focusing servo method
KR101055639B1 (ko) * 2010-11-30 2011-08-10 한국기계연구원 측정 시스템

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7187630B2 (en) 2001-06-11 2007-03-06 Mitutoyo Corporation Focusing servo device and focusing servo method
CN1310224C (zh) * 2001-06-11 2007-04-11 株式会社三丰 聚焦伺服装置和聚焦伺服方法
KR101055639B1 (ko) * 2010-11-30 2011-08-10 한국기계연구원 측정 시스템

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