JPH0961467A - 光応用測定装置 - Google Patents

光応用測定装置

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JPH0961467A
JPH0961467A JP7215692A JP21569295A JPH0961467A JP H0961467 A JPH0961467 A JP H0961467A JP 7215692 A JP7215692 A JP 7215692A JP 21569295 A JP21569295 A JP 21569295A JP H0961467 A JPH0961467 A JP H0961467A
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JP
Japan
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faraday element
light
polarization
faraday
polarization degree
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Application number
JP7215692A
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English (en)
Inventor
Masao Takahashi
正雄 高橋
Kiyohisa Terai
清寿 寺井
Sakae Ikuta
栄 生田
Keiko Niwa
景子 丹羽
Toru Tamagawa
徹 玉川
Hiroshi Miura
宏 三浦
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 偏光度低下による影響を低減して、精度の高
い電流の測定を行うことができる光応用測定装置を提供
する。 【解決手段】 同一特性の第1及び第2のLD1a,1
b、第1及び第2の偏光子2a,2b、第1及び第2の
ファラデー素子列3a,3bを、同一の条件で配置す
る。第1及び第2のファラデー素子列3a,3bは、導
体4a,4bによって同一条件の磁界中におく。第1の
ファラデー素子列3aの出力光側に、偏光度補正部22
を介して、第3のファラデー素子17、ポッケルス素子
16、導体4cによって構成される電流測定部20を設
ける。第2のファラデー素子列3bの出力光側に、回転
グラントムソンプリズム12、ドライバー13、フォト
ダイオード14及び補正演算部15によって構成される
偏光度測定部21を設ける。補正演算部15を偏光度補
正部22における導体4cに接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電流による磁場中
におかれた場合にファラデー効果を示すファラデー素子
を利用して、磁場を発生させている電流を計測する光応
用測定装置に係り、特に、装置内部を伝搬する直線偏光
の偏光度低下を防止する光応用測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】磁場中におかれた特定媒質にレーザ光を
透過させると、その偏光面が回転するという旋光性を示
す場合があり、このように偏向面が回転する減少をファ
ラデー効果と呼ぶ。かかる特定媒質の旋光性を利用した
測定装置として、光応用測定装置が開発されている。こ
の光応用測定装置は、施光による偏向面の回転角度が、
特定媒質に与えられている磁界又は電流に比例して変化
することを利用して、透過光の回転角度を調べることに
より、磁界又は電流を測定するものである。
【0003】このような従来の光応用測定装置の一例
を、図6に従って以下に説明する。すなわち、光源とし
ては、レーザダイオード(以下、LDと呼ぶ)1が用い
られている。LD1のレーザ出力側には、レーザ光を直
線偏光にする偏光子2が設けられている。この偏光子2
には、方解石や水晶などの複屈折性の単結晶をはり合わ
せ、通過する光からある決まった直線偏光を取り出せる
ようにした偏光プリズムが用いられている。偏光子2の
出力光側には、上記の旋光性を有する媒質であるファラ
デー素子3が設けられている。このファラデー素子3
は、導体4に流れる電流Iによって形成される磁界内に
配置されている。
【0004】ファラデー素子3の出力光側には、電流測
定部20が設けられている。この電流測定部20は、検
光子5、フォトダイオード6x,6y、AGC増幅器7
x,7y、除算器8及びROMテーブル9によって構成
されている。検光子5は、ファラデー素子3の出力光が
入射される位置に設けられている。この検光子5として
は、偏光子2に対して45°回転させてセットされたウ
ォラストンプリズムが用いられている。ウォラストンプ
リズムとは、偏光プリズムの一種で、光学軸方向が互い
に垂直な方解石または水晶の直角プリズム2個を張り合
わせたものであり、入射した光を直交する2つの偏光成
分(x成分とy成分)に分ける機能を有する。
【0005】検光子5からの2つの偏光成分の出力側に
は、それぞれフォトダイオード6x,6yが設けられて
いる。このフォトダイオード6x,6yは、偏光成分の
光を電気信号に変換する光電変換の機能を有する。フォ
トダイオード6x,6yの電気信号出力側は、それぞれ
AGC増幅器7x,7yに接続されている。AGC増幅
器7x,7yは自動利得調節(AGC)を行う増幅器で
あり、入力された電気信号を規格化する機能を有する。
これらのAGC増幅器7x,7yは、除算器8を介して
ROMテーブル9に接続されている。除算器8は、入力
した電気信号の和と差の割り算を行う機能を有し、RO
Mテーブル9は、入力した電気信号のアークサイン演算
を行う機能を有する。
【0006】以上のような光応用測定装置の従来例にお
いては、次のような作用により導体4に流れる電流Iが
測定される。まず、LD1からレーザ光が出力され、こ
れが偏光子2において直線偏光にされてファラデー素子
3に入射する。ファラデー素子3に入射した直線偏光
は、導体4を流れる電流Iに比例して施光し、角度θだ
け回転した直線偏光となって出力される。従って、この
θを測定することによって電流値を知ることができる。
【0007】このような回転角度θの測定は以下のよう
に行われる。つまり、偏光は進行方向に垂直な面内で互
いに直角方向に振動する成分が合成されたものと考える
ことができるので、ファラデー素子3からの出力光は、
検光子5によって直交する2つの偏光成分の光に分けら
れる。そして、2つの偏光成分の光はフォトダイオード
6によって光電変換され、次の式1と式2によって表さ
れるような2つの電気信号Vx,Vyが出力される。な
お、式1,2におけるbは比例定数である。
【0008】
【数1】 Vx=b・sin2 (45°+θ)=b/2(1+sin2θ)…式1
【数2】 Vy=b・cos2 (45°+θ)=b/2(1−sin2θ)…式2 次に、これらの電気信号Vx,Vyは、AGC増幅器7
x,7yによって直流分成分で規格化され、次の式3と
式4によって表されるような2つの電気信号Vx´,V
y´が出力される。
【0009】
【数3】
【数4】 続いて、これらの電気信号Vx′、Vy′はともに除算
器8に入力され、この除算器8によって電気信号V
x′、Vy′の和と差の割り算が行われる。さらに、R
OMテーブル9によって次の式5に示すようなアークサ
イン演算が行われ、回転角度θが求められる。
【0010】
【数5】 従って、この回転角度θと次の式6によって示されるよ
うな磁界との関係、及び周知の磁界と電流との関係に基
づいて、導体4を流れる電流Iの値を容易に求めること
ができる。
【0011】
【数6】 θ=VHL …式6 V:ベルデ定数 H:磁界強度 L:ファラデー素子の磁界方向長さ ここで、ベルデ定数とはファラデー素子の材料によって
定まる定数であり、実際に用いられる材料に対してはこ
のベルデ定数が大きいことと、使用する波長のレーザ光
に対して損失の少ないことが要求される。
【0012】以上のような光応用測定装置によれば、電
流信号出力は光信号の強度に無関係であり、アライメン
トずれやLDの劣化で光量が変化しても、検出値に誤差
が発生しにくく、高精度の電流計測を行うことができ
る。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような光応用測定装置には、以下のような問題点があっ
た。すなわち、装置内における光の伝搬過程において、
理想的な直線偏光が保たれていれば上述のような高精度
の計測が可能となるが、実際には、光学部品の光弾性効
果によって複屈折や光の散乱が発生する場合がある。か
かる場合には、ウォラストンプリズムに対する入射光が
理想的な直線偏光でなく、楕円偏光やランダム偏光成分
の混じったものとなることがある。このように偏光度が
低下すると、ファラデー素子の透過光の回転角を正確に
検出することができなくなり、測定値の誤差を生じるこ
ととなる。
【0014】本発明は、上記のような従来技術の問題点
を解決するために提案されたものであり、その目的は、
偏光度低下による影響を低減して、精度の高い電流の測
定を行うことができる光応用測定装置を提供することで
ある。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明は、直線偏光を出力する光源と、電流による
磁界中に配置され、前記光源から入射される直線偏光の
偏光面を前記電流に比例した角度で回転させるファラデ
ー素子と、前記ファラデー素子からの出力光の偏光面の
回転角度に基づいて、前記磁界を発生させている電流を
測定する電流測定部とを有する光応用測定装置におい
て、以下のような構成上の特徴を有している。
【0016】すなわち、請求項1記載の発明は、前記フ
ァラデー素子からの出力光の偏光度を測定する偏光度測
定部と、前記偏光度測定部によって測定された偏光度に
基づいて、前記ファラデー素子からの出力光の偏光度を
補正する偏光度補正部とを備えたことを特徴とする。
【0017】以上のような請求項1記載の発明では、フ
ァラデー素子からの出力光の偏光度が低下している場合
に、偏光度測定部においてその偏光度が測定される。測
定された偏光度に基づいて、偏光度補正部はファラデー
素子からの出力光の偏光度を補正し直線偏光とする。こ
の直線偏光に基づいて、電流測定部による測定が行われ
る。
【0018】請求項2記載の発明は、前記光源は、互い
に同一の特性を有する第1と第2の光源であり、前記フ
ァラデー素子は、2個のファラデー素子を直列に配置し
てなる第1のファラデー素子列と、2個のファラデー素
子を直列に配置してなる第2のファラデー素子列であ
り、かつ、これらの第1と第2のファラデー素子列の全
てのファラデー素子は、互いに同一の特性を有し、前記
第2のファラデー素子列からの出力光の偏光度を測定す
る偏光度測定部と、前記偏光度測定部により測定された
偏光度に基づいて、前記第1のファラデー素子列からの
出力光の偏光度を補正する偏光度補正部と備えたことを
特徴とする。
【0019】以上のような請求項2記載の発明では、第
1のファラデー素子列と第2のファラデー素子列とは同
一の特性を有しているので、第1のファラデー素子列に
おける直線偏光の回転作用は第2のファラデー素子列に
おいて模擬され、第2のファラデー素子列からの出力光
の偏光度は、第1のファラデー素子列のものと同一視で
きる。従って、第2のファラデー素子列からの出力光を
偏光度測定部に入力することにより、第1のファラデー
素子列からの出力光と同一の偏光度が測定され、この偏
光度に基づいて、偏光度補正部によって第1のファラデ
ー素子列からの出力光が直線偏光に補正される。そし
て、この直線偏光に基づいて電流測定部による測定が行
われる。
【0020】請求項3記載の発明は、前記光源は、互い
に同一の特性を有する第1と第2の光源であり、前記フ
ァラデー素子は、2個のファラデー素子を直列に配置し
てなる第1のファラデー素子列と、2個のファラデー素
子を直列に配置してなる第2のファラデー素子列であ
り、かつ、これらの第1と第2のファラデー素子列の全
てのファラデー素子は、互いに同一の特性を有し、前記
第2のファラデー素子においては、磁界を発生させる電
流が鎖交しないように又は鎖交電流の総和が0となるよ
うに構成され、前記第2のファラデー素子列からの出力
光の偏光度を測定する偏光度測定部を備え、前記偏光度
測定部により測定された偏光度に基づいて、測定電流値
を補正する補正部又は前記第1のファラデー素子列から
の出力光の偏光度を補正する偏光度補正部を備えたこと
を特徴とする。
【0021】以上のような請求項3記載の発明では、第
1のファラデー素子列と第2のファラデー素子列とは同
一の特性を有しているが、前記第2のファラデー素子に
おいては電流が鎖交しないか、あるいは鎖交電流の総和
が0となるように構成されているので、第1のファラデ
ー素子列の旋光の回転角度は第2のファラデー素子列に
よって模擬されない。ただし、第2のファラデー素子列
からの出力光の偏光度は第1のファラデー素子列と同一
視できる。従って、第2のファラデー素子列からの出力
光を偏光度測定部に入力することにより、第1のファラ
デー素子列からの出力光と同一の偏光度が測定される。
そして、この偏光度に基づいて、第1のファラデー素子
列の出力光が補正部により補正されて直線偏光となり、
この直線偏光に基づいて電流測定部による測定が行われ
る。もしくは、偏光度測定部により測定された偏光度に
基づいて、電流測定部による測定電流値が補正部により
補正される。
【0022】請求項4記載の発明は、前記光源は、互い
に同一の特性を有する第1と第2の光源であり、前記第
1の光源からの出力光は、前記ファラデー素子を介して
前記第1の測定部に入射されるように構成され、前記第
2の光源からの出力光を円偏光に変換して前記ファラデ
ー素子に入射させる円偏光変換部を備え、前記円偏光変
換部からの入射光に対応して、前記ファラデー素子から
出力される出力光の偏光度を測定する偏光度測定部を備
え、前記偏光度測定部により測定された測定電流値を補
正する補正部又は前記第1のファラデー素子列からの出
力光の偏光度を補正する偏光度補正部を備えたことを特
徴とする。
【0023】以上のような請求項4記載の発明では、第
2の光源からの出力光が円偏光変換部によって円偏光に
されてファラデー素子に入射される。ファラデー素子に
おいては偏光度の低下がある場合には、円偏光が楕円偏
光として出力され、偏光度測定部に入射される。偏光度
測定部においては、出力光の楕円率に基づいて、ファラ
デー素子からの出力光の偏光度を測定して出力する。そ
して、この偏光度に基づいて、ファラデー素子の出力光
が補正部により補正されて直線偏光となり、この直線偏
光に基づいて電流測定部による測定が行われる。もしく
は、偏光度測定部により測定された偏光度に基づいて、
電流測定部による測定電流値が補正部により補正され
る。
【0024】請求項5記載の発明は、請求項1〜4のい
ずれか1項に記載の光応用測定装置において、前記偏光
度補正部は、2個のファラデー素子を直列に配置してな
る第3のファラデー素子列と、この2個のファラデー素
子の間に配置されたポッケルス素子を有することを特徴
とする。
【0025】以上のような請求項5記載の発明では、フ
ァラデー素子からの出力光に複屈折が生じ、偏光度が低
下した場合に、偏光度測定部によってその偏光度が測定
される。ファラデー素子からの出力光には、第3のファ
ラデー素子の一方によって、複屈折の軸が回転される。
そして、偏光度測定部によって得られた偏光度に基づい
て、第3のファラデー素子の一方からの出力光に、ポッ
ケルス素子によって逆の複屈折が与えられる。さらに、
ポッケルス素子からの出力光は、第3のファラデー素子
の他方によって、偏波面が回転されて元の偏波面に戻さ
れる。従って、偏高度の高い直線偏光が維持される。
【0026】
【発明の実施の形態】本発明による光応用測定装置の実
施の形態を図面に従って以下に説明する。なお、LD、
偏光子、ファラデー素子、電流、検光子、フォトダイオ
ード、AGC増幅器、除算器、ROMテーブルは、従来
と同じ機能を有する部材であるので、これら各部材の個
々の機能の説明は省略する。また、請求項に記載された
光源はLDと偏光子の組合わせであり、円偏光変換部は
λ/4板とする。
【0027】(1)第1の実施の形態 請求項1〜2及び請求項5記載の発明に対応する一つの
実施の形態を、図1に従って以下に説明する。
【0028】(構成)まず、本実施の形態の構成を説明
する。すなわち、本実施の形態においては、第1のLD
1a、第1の偏光子2a及び第1のファラデー素子列3
aと、第2のLD1b、第2の偏光子2b及びファラデ
ー素子列3bとが、同一の条件で配置されている。第1
及び第2のファラデー素子列3a,3bは、それぞれ同
一のファラデー素子3を二つずつ直列に配置したもので
あり、導体4a,4bによって同一条件の磁界中におか
れる構成となっている。
【0029】第1のファラデー素子列3aの出力光側に
は、偏光度補正部22を介して、従来例と同様の構成の
電流測定部20が設けられている。偏光度補正部22
は、ポッケルス素子16を挟んで二つの第3のファラデ
ー素子17を直列に配置したものである。ポッケルス素
子16は、屈折率が印可電界に比例して変化する素子で
あり、光軸方向に数kVの電圧をかけると複屈折が生じ
る。第3のファラデー素子17は、複屈折の軸を回転さ
せるために設けられている。ポッケルス素子16及び第
3のファラデー素子17は、導体4cによって補正用の
磁界中におかれている。
【0030】一方、第2のファラデー素子列3bの出力
光側には、偏光度測定部21が配置されている。偏光度
測定部21は、回転グラントムソンプリズム12、ドラ
イバー13、フォトダイオード14及び補正演算部15
によって構成されている。回転グラントムソンプリズム
12は、第2のファラデー素子列3bの出力光側に設け
られた偏光子で、ドライバー13によって駆動可能に設
けられている。フォトダイオード14は、回転グラント
ムソンプリズム12の出力光を電気信号に変換するもの
であり、回転グラントムソンプリズム12の設定角度と
透過光量から偏光度、複屈折の軸方位を演算する補正演
算部15に接続されている。補正演算部15は、回転グ
ラントムソンプリズム12を駆動するドライバー13に
接続され、さらに、偏光度補正部22における導体4c
に接続されている。
【0031】(作用)以上のような構成を有する本実施
の形態の作用は以下の通りである。すなわち、第1及び
第2のLD1a,1b、第1及び第2の偏光子2a,2
b、第1及び第2のファラデー素子列3a,3bとは同
一の特性を有し、同一条件下に配置されているので、第
1のファラデー素子列3aの複屈折による偏光度の低下
は、第2のファラデー素子列3bにおいて模擬される。
かかる複屈折によって低下した偏光度を補正するために
は、出射光に逆の複屈折を与えればよい。そこで、第2
のファラデー素子列3bからの出力光が、偏光度測定部
11の回転グラントムソンプリズム12に入射され、フ
ォトダイオード14において電気信号に変換される。さ
らに、補正演算部15において補正信号が算出され、こ
の補正信号が補正演算部15から偏光度補正部10の導
体4cに送出される。
【0032】そして、補正信号により導体4cを流れる
電流が磁界を発生させるために、ポッケルス素子16及
びファラデー素子17が制御される。すなわち、第1の
ファラデー素子列3aからの出力光は、第3のファラデ
ー素子17の一方によって、その複屈折の軸が回転され
る。次に、ポッケルス素子16によって、第1のファラ
デー素子列3aからの複屈折光と逆の複屈折が与えられ
る。さらに、ポッケルス素子16からの出射光は偏波面
が回転されているので、第3のファラデー素子17の他
方によって元の偏波面に戻される。
【0033】以上のようにして、複屈折による偏光度の
低下が補正され、常に偏光度の高い直線偏光が保持され
る。そして、かかる直線偏光に基づいて、従来例と同様
に、電流測定部20において電流値が算出される。
【0034】(効果)以上のような本実施の形態の効果
は以下の通りである。すなわち、電流測定用のファラデ
ー素子列3aの透過光の偏光度が低くとも、偏光度補正
部22によって偏光度が補正される。このような補正後
の直線偏光に基づいて、旋光角が正確に測定されるの
で、電流測定部20における測定電流値が正確となる。
【0035】(2)第2の実施の形態 請求項3記載の発明に対応する一つの実施の形態を、第
2の実施の形態として図2に従って説明する。
【0036】(構成)まず、本実施の形態の構成を説明
する。すなわち、本実施の形態においては、第1のLD
1a及び第1の偏光子2aと、これらと同一の特性の第
2のLD1b及び第2の偏光子2bが同一の条件で配置
されている。また、第1の偏光子2a及び第2の偏光子
2bの出力光側には、同一特性のファラデー素子3を二
つずつ直列に配置した第1のファラデー素子列3a及び
第2のファラデー素子列3bが配置されている。第1及
び第2のファラデー素子列3a,3bには、導体4a,
4bによって磁界中におかれる構成となっているが、第
2のファラデー素子列3bは、導体4aによる電流が鎖
交しない。あるいは、鎖交する電流の総和を0にするよ
うに構成されている。
【0037】第1のファラデー素子列3aの出力光側に
は、偏光度補正部22を介して、従来例と同様の構成の
電流測定部20が設けられ、電流測定部20は電流演算
部18に接続されている。一方、第2のファラデー素子
列3bの出力光側には、偏光度測定部21が配置されて
いる。偏光度測定部21は、回転グラントムソンプリズ
ム12、ドライバー13、フォトダイオード14及び補
正演算部15によって構成されている。さらに、電流測
定部20及び補正演算部15は、電流演算部18に接続
されている。
【0038】(作用)以上のような構成を有する本実施
の形態の作用は以下の通りである。すなわち、第2のフ
ァラデー素子3bは電流が鎖交しない、あるいは鎖交す
る電流の総和が0となるように構成されているので、第
2のファラデー素子3bは、第1のファラデー素子列3
aのファラデー旋光角は模擬せずに、偏光度のみが模擬
される。このような第2のファラデー素子3bからの出
力光は、回転グラントムソンプリズム12に入射され、
フォトダイオード14において電気信号に変換される。
さらに、補正演算部15において補正信号が算出され、
この補正信号が補正演算部15から電流演算部18に出
力される。
【0039】一方、LD1a及び第2の偏光子2aから
出力される直線偏光は、ファラデー素子列3aを透過し
た後、電流測定部20において演算が行われる。そし
て、補正演算部15からの補正信号に基づいて、電流演
算部18において電流測定部20における演算が補正さ
れる。
【0040】(効果)以上のような本実施の形態の効果
は以下の通りである。すなわち、電流による磁界の強度
によっては、ファラデー施光角が大きくなる場合があ
る。このように旋光角が大きくなると、複屈折による偏
光度を正確に測定できなくなる可能性がある。しかし、
本実施の形態においては、ファラデー施光角が大きくな
った場合であっても、第2のファラデー素子列3bでは
旋光角は模擬せずに、偏光度のみを模擬することができ
るので、複屈折による偏光度を正確に測定できる。従っ
て、かかる第2のファラデー素子列3bからの出力光に
基づいて算出される補正値は正確なものとなり、最終的
に算出される電流値が正確となる。
【0041】(3)第3の実施の形態 請求項4記載の発明に対応する一つの実施の形態を、第
3の実施の形態として図3に従って以下に説明する。
【0042】(構成)まず、本実施の形態の構成を説明
する。すなわち、本実施の形態においては、第1のLD
1a及び第1の偏光子2aと、これらと同一の特性の第
2のLD1b及び第2の偏光子2bが同一の条件で配置
されている。第2の偏光子2bの出力光側にはλ/4板
19が配置されている。このλ/4板19は、その光軸
と45度の線に偏光面が平行に入射した直線偏光を円偏
光に変えるものである。
【0043】第1の偏光子2aの出力光側には、ファラ
デー素子列3aが配置されている。第1の偏光子2aか
らの入射光に対応する第1のファラデー素子列3aの出
力光側には、偏光度補正部22を介して、従来例と同様
の構成の電流測定部20が設けられている。一方、λ/
4板19の出力光側には、λ/4板19からの出力光が
ファラデー素子列3aに入射可能となるように、出力光
の進行方向を変えるミラーが配置されている。λ/4板
19からの入射光に対応するファラデー素子列3aの出
力光側には、その方向を変えるミラーが配置され、ミラ
ーからの反射光が入射される偏光度測定部21が設けら
れている。偏光度測定部21は、検光子5、フォトダイ
オード14及び補正演算部15によって構成されてい
る。さらに、電流測定部20及び補正演算部15は、電
流演算部18に接続されている。
【0044】(作用)以上のような構成を有する本実施
の形態の作用は以下の通りである。すなわち、LD1a
及び第2の偏光子2aと、LD1b及び第2の偏光子2
bとは同一の特性を有し同一の条件で配置されている。
そして、ファラデー素子列3aは共用されるので、LD
1a及び第2の偏光子2aからの直線偏光がファラデー
素子列3aを透過した場合の偏光度は、LD1b及び第
2の偏光子2bからの直線偏光がファラデー素子列3a
を透過した場合の偏光度と同一となる。
【0045】本実施の形態においては、ファラデー素子
列3aからの出力光の偏光度の低下による電流測定値の
誤差は、以下のように補正される。すなわち、LD1b
及び第2の偏光子2bから出力される直線偏光は、λ/
4板19によって円偏光とされ、ミラーにより方向を変
えられてファラデー素子列3aに入射する。この時、フ
ァラデー素子に直線複屈折があると、ファラデー素子列
3aを透過する光は楕円偏光となる。本実施の形態にお
いては、この楕円偏光の楕円率を測定することにより、
複屈折を測定する。つまり、楕円偏光はミラーにより方
向を変えられて検光子5に入射する。検光子5を透過し
た光はフォトダイオード14によって電気信号に変換す
る。この電気信号は被測定電流信号の周波数成分を含
み、この周波数成分の強度はファラデー素子列3aの直
線複屈折が大きいほど大きくなることから、周波数成分
の強度に基づいて補正演算部15において補正信号が算
出される。
【0046】一方、LD1a及び第2の偏光子2aから
出力される直線偏光は、ファラデー素子列3aを透過し
た後、電流測定部20において演算が行われる。そし
て、補正演算部15からの補正信号に基づいて、電流演
算部18において電流測定部20における演算が補正さ
れる。
【0047】(効果)以上のような本実施の形態の効果
は以下の通りである。すなわち、電流測定用のファラデ
ー素子列3aの透過光の偏光度が低くとも、楕円偏光の
楕円率を測定することによりその偏光度が測定され、補
正演算部15によって補正値が算出される。電流演算部
18では、このような補正値に基づいて電流測定部20
における測定電流値が補正されるので、最終的に算出さ
れる電流値が正確となる。
【0048】また、本実施の形態においては、第1の実
施の形態と異なり、電流測定用と補正値測定用の光はど
ちらも同一のファラデー素子列3aを透過させるため、
電流測定用と補正値測定用の光の偏光度は完全に一致す
る。従って、同一の特性ではあるが別体のファラデー素
子列3bを用いることによって、ファラデー素子列3a
の偏光度を模擬する第1の実施の形態に比べて、本実施
の形態は偏光度の誤差が少なく、測定値がより正確なも
のとなる。
【0049】(4)他の実施の形態 本発明は以上のような実施の形態に限定されるものでは
なく、各部材の配置、組合わせ等は適宜変更可能であ
る。
【0050】例えば、上記第2の実施の形態及び第3の
実施の形態においては、偏光度低下による電流感度の変
化を電流演算部18により補正する構成となっている
が、図5に示すように、第1の実施の形態と同様に第3
のファラデー素子17及びポッケルス素子16から成る
偏光度補正部21によって、第1のファラデー素子列3
aの出力光の偏光度を補正する構成とすることも可能で
ある。このような構成にすれは、被測定電流の周波数成
分を最低にするように、ポッケルス素子16に加える電
圧およびファラデー素子17に加える電流を制御するこ
とによって、リアルタイムに直線複屈折の補正を行い、
高精度測定を行うことが可能となる。
【0051】また、第1の実施の形態及び第2の実施の
形態における第1のファラデー素子列3aと第2のファ
ラデー素子列3bとは、全くの同一特性を有することが
理想である。そこで、これらの実施の形態においても、
ファラデー素子の断面積を広くとれる場合には、図4に
示すように、第3の実施の形態と同様にミラーを配置す
ることにより、ファラデー素子列3aのみに電流測定用
の光と偏光度測定用の光を通し、第2のファラデー素子
列3bを省略した構成とすることも可能である。このよ
うな構成にすれば、偏光度の測定がより正確となるとと
もに、部材数の低減を図ることができる。
【0052】なお、本実施の形態は、最終的にすべて電
流の測定を行う装置として構成されているが、電流によ
り発生している磁界強度を測定することもできる。すな
わち、本実施の形態のように回転角度θを正確に測定で
きれば、上述の式6により、電流を算出する場合よりも
直接的に磁界強度を算出することができる。
【0053】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、偏光度
測定部及び偏光度補正部を設けることによって、偏光度
低下による影響を低減して、精度の高い電流の測定を行
うことが可能な光応用測定装置を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光応用測定装置の第1の実施の形
態を示す構成図である。
【図2】本発明による光応用測定装置の第2の実施の形
態を示す構成図である。
【図3】本発明による光応用測定装置の第3の実施の形
態を示す構成図である。
【図4】本発明による光応用測定装置の他の実施の形態
を示す構成図である。
【図5】本発明による光応用測定装置の他の実施の形態
を示す構成図である。
【図6】従来の光応用測定装置の一例を示す構成図であ
る。
【符号の説明】
1…LD 1a…第1のLD 2a…第2のLD 2…偏光子 2a…第1の偏光子 2b…第2の偏光子 3…ファラデー素子 3a…第1のファラデー素子列 3b…第2のファラデー素子列 4,4a,4b,4c…導体 5…検光子 6x,6y,14…フォトダイオード 7x,7y…AGC増幅器 8…除算器 9…ROMテーブル 12…回転グラントムソンプリズム 13…ドライバー 15…補正演算部 16…ポッケルス素子 17…第3のファラデー素子 18…電流演算部 19…λ/4板 20…電流測定部 21…偏光度測定部 22…偏光度補正部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 丹羽 景子 神奈川県川崎市川崎区浮島町2番1号 株 式会社東芝浜川崎工場内 (72)発明者 玉川 徹 神奈川県横浜市鶴見区末広町2丁目4番地 株式会社東芝京浜事業所内 (72)発明者 三浦 宏 神奈川県川崎市川崎区浮島町2番1号 株 式会社東芝浜川崎工場内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 直線偏光を出力する光源と、電流による
    磁界中に配置され、前記光源から入射される直線偏光の
    偏光面を前記電流に比例した角度で回転させるファラデ
    ー素子と、前記ファラデー素子からの出力光の偏光面の
    回転角度に基づいて、前記磁界を発生させている電流を
    測定する電流測定部とを有する光応用測定装置におい
    て、 前記ファラデー素子からの出力光の偏光度を測定する偏
    光度測定部と、 前記偏光度測定部によって測定された偏光度に基づい
    て、前記ファラデー素子からの出力光の偏光度を補正す
    る偏光度補正部とを備えたことを特徴とする光応用測定
    装置。
  2. 【請求項2】 直線偏光を出力する光源と、電流による
    磁界中に配置され、前記光源から入射される直線偏光の
    偏光面を前記電流に比例した角度で回転させるファラデ
    ー素子と、前記ファラデー素子からの出力光の偏光面の
    回転角度に基づいて、前記磁界を発生させている電流を
    測定する電流測定部とを有する光応用測定装置におい
    て、 前記光源は、互いに同一の特性を有する第1と第2の光
    源であり、 前記ファラデー素子は、2個のファラデー素子を直列に
    配置してなる第1のファラデー素子列と、2個のファラ
    デー素子を直列に配置してなる第2のファラデー素子列
    であり、かつ、これらの第1と第2のファラデー素子列
    の全てのファラデー素子は、互いに同一の特性を有し、 前記第2のファラデー素子列からの出力光の偏光度を測
    定する偏光度測定部と、前記偏光度測定部により測定さ
    れた偏光度に基づいて、前記第1のファラデー素子列か
    らの出力光の偏光度を補正する偏光度補正部と備えたこ
    とを特徴とする光応用測定装置。
  3. 【請求項3】 直線偏光を出力する光源と、電流による
    磁界中に配置され、前記光源から入射される直線偏光の
    偏光面を前記電流に比例した角度で回転させるファラデ
    ー素子と、前記ファラデー素子からの出力光の偏光面の
    回転角度に基づいて、前記磁界を発生させている電流を
    測定する電流測定部とを有する光応用測定装置におい
    て、 前記光源は、互いに同一の特性を有する第1と第2の光
    源であり、 前記ファラデー素子は、2個のファラデー素子を直列に
    配置してなる第1のファラデー素子列と、2個のファラ
    デー素子を直列に配置してなる第2のファラデー素子列
    であり、かつ、これらの第1と第2のファラデー素子列
    の全てのファラデー素子は、互いに同一の特性を有し、 前記第2のファラデー素子においては、磁界を発生させ
    る電流が鎖交しないように又は鎖交電流の総和が0とな
    るように構成され、 前記第2のファラデー素子列からの出力光の偏光度を測
    定する偏光度測定部を備え、 前記偏光度測定部により測定された偏光度に基づいて、
    測定電流値を補正する補正部又は前記第1のファラデー
    素子列からの出力光の偏光度を補正する偏光度補正部を
    備えたことを特徴とする光応用測定装置。
  4. 【請求項4】 直線偏光を出力する光源と、電流による
    磁界中に配置され、前記光源から入射される直線偏光の
    偏光面を前記電流に比例した角度で回転させるファラデ
    ー素子と、前記ファラデー素子からの出力光の偏光面の
    回転角度に基づいて、前記磁界を発生させている電流を
    測定する電流測定部とを有する光応用測定装置におい
    て、 前記光源は、互いに同一の特性を有する第1と第2の光
    源であり、 前記第1の光源からの出力光は、前記ファラデー素子を
    介して前記第1の測定部に入射されるように構成され、 前記第2の光源からの出力光を円偏光に変換して前記フ
    ァラデー素子に入射させる円偏光変換部を備え、 前記円偏光変換部からの入射光に対応して、前記ファラ
    デー素子から出力される出力光の偏光度を測定する偏光
    度測定部を備え、 前記偏光度測定部により測定された測定電流値を補正す
    る補正部又は前記第1のファラデー素子列からの出力光
    の偏光度を補正する偏光度補正部を備えたことを特徴と
    する光応用測定装置。
  5. 【請求項5】 前記偏光度補正部は、2個のファラデー
    素子を直列に配置してなる第3のファラデー素子列と、
    この2個のファラデー素子の間に配置されたポッケルス
    素子を有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか
    1項に記載の光応用測定装置。
JP7215692A 1995-08-24 1995-08-24 光応用測定装置 Pending JPH0961467A (ja)

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