JPH0961293A - 光学装置のゴミ検出装置 - Google Patents
光学装置のゴミ検出装置Info
- Publication number
- JPH0961293A JPH0961293A JP21717295A JP21717295A JPH0961293A JP H0961293 A JPH0961293 A JP H0961293A JP 21717295 A JP21717295 A JP 21717295A JP 21717295 A JP21717295 A JP 21717295A JP H0961293 A JPH0961293 A JP H0961293A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dust
- optical
- scanning
- light
- cover glass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/94—Investigating contamination, e.g. dust
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 走査光学系等の光学装置において、カバーガ
ラス、レンズ、ミラー等の光学部品の表面に付着してい
るゴミを検出する。 【解決手段】 カバーガラス６を透過するレーザ走査光
２ａがカバーガラス６の表面に付着しているゴミ10によ
り散乱されて生ずるに散乱光２ｂを、光ロッド12により
センサ14に導波して電気信号に変換し、この電気信号を
検出手段16により基準値と比較してゴミの有無の判別あ
るいはゴミの量の推定を行うことによって、カバーガラ
ス６の表面の付着ゴミ10を検出する。
ラス、レンズ、ミラー等の光学部品の表面に付着してい
るゴミを検出する。 【解決手段】 カバーガラス６を透過するレーザ走査光
２ａがカバーガラス６の表面に付着しているゴミ10によ
り散乱されて生ずるに散乱光２ｂを、光ロッド12により
センサ14に導波して電気信号に変換し、この電気信号を
検出手段16により基準値と比較してゴミの有無の判別あ
るいはゴミの量の推定を行うことによって、カバーガラ
ス６の表面の付着ゴミ10を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は画像走査装置等の光
学装置におけるゴミ検出装置、さらに詳しくは、光学装
置における光路上の光学部品に付着したゴミを検出する
ゴミの検出装置に関するものである。
学装置におけるゴミ検出装置、さらに詳しくは、光学装
置における光路上の光学部品に付着したゴミを検出する
ゴミの検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】画像走査装置等の光学装置には、その光
路上にミラーやｆθレンズ等の光学部品が配されている
が、これらの光学部品の表面にゴミが付着するとその影
響により画質が低下し、特にレーザ走査によるラスター
走査方式の画像走査装置では、偏向器以降の光学系の反
射面にゴミが付着すると、読取りあるいは記録される画
像に後述する縦筋が生ずることとなる。また、画像の詳
細な情報が要求される医用画像等においては、ゴミの付
着による影響は好ましくない。
路上にミラーやｆθレンズ等の光学部品が配されている
が、これらの光学部品の表面にゴミが付着するとその影
響により画質が低下し、特にレーザ走査によるラスター
走査方式の画像走査装置では、偏向器以降の光学系の反
射面にゴミが付着すると、読取りあるいは記録される画
像に後述する縦筋が生ずることとなる。また、画像の詳
細な情報が要求される医用画像等においては、ゴミの付
着による影響は好ましくない。
【０００３】このため、上記画像走査装置においては、
走査光を偏向する偏光器を含む光学系の内部へのゴミの
侵入を防止するために、偏光器をケーシング内に収容
し、前記ケーシングの走査光の出射開口に出射開口を密
閉し走査光を透過するカバーガラスを設置して光学系内
部の空気を外部の空気と遮断することが行われている。
このようにカバーガラスを設置することにより、回転多
面鏡等の偏向器の反射面の表面や偏向器以降の光学系の
反射面にゴミ等が付着することを防止することができ
る。また、このカバーガラスにより、高速回転する回転
多面鏡の表面が汚れたり、回転する回転多面鏡により生
ずる空気の乱れが光学系全体に影響することを防止する
ことができる。回転多面鏡の表面が汚れると反射率が低
下するだけでなく不均一な汚れによりシェーディング等
の原因となり、特にカラープリンタでは色ムラとなる可
能性があり、この種の画像走査装置にはカバーガラスを
設けることが望ましいとされている。
走査光を偏向する偏光器を含む光学系の内部へのゴミの
侵入を防止するために、偏光器をケーシング内に収容
し、前記ケーシングの走査光の出射開口に出射開口を密
閉し走査光を透過するカバーガラスを設置して光学系内
部の空気を外部の空気と遮断することが行われている。
このようにカバーガラスを設置することにより、回転多
面鏡等の偏向器の反射面の表面や偏向器以降の光学系の
反射面にゴミ等が付着することを防止することができ
る。また、このカバーガラスにより、高速回転する回転
多面鏡の表面が汚れたり、回転する回転多面鏡により生
ずる空気の乱れが光学系全体に影響することを防止する
ことができる。回転多面鏡の表面が汚れると反射率が低
下するだけでなく不均一な汚れによりシェーディング等
の原因となり、特にカラープリンタでは色ムラとなる可
能性があり、この種の画像走査装置にはカバーガラスを
設けることが望ましいとされている。
【０００４】しかし、ゴミの侵入を防止する目的で設け
られたカバーガラスの表面にゴミ等が付着すると、走査
光がそのゴミにより影響を受け、画像走査における性能
の劣化を招くことになる。すなわち、偏向器に反射され
た後にカバーガラスを透過する走査光がラスター走査す
る際、ゴミ等が付着した箇所を透過すると、その透過光
はその箇所で強度が低下するため、記録される画像には
主走査線の同じ箇所で濃度が低下する結果、副走査方向
に縦筋が生ずることとなる。これは、読取りの場合も同
じであり、画像走査装置には致命的な欠陥となる。
られたカバーガラスの表面にゴミ等が付着すると、走査
光がそのゴミにより影響を受け、画像走査における性能
の劣化を招くことになる。すなわち、偏向器に反射され
た後にカバーガラスを透過する走査光がラスター走査す
る際、ゴミ等が付着した箇所を透過すると、その透過光
はその箇所で強度が低下するため、記録される画像には
主走査線の同じ箇所で濃度が低下する結果、副走査方向
に縦筋が生ずることとなる。これは、読取りの場合も同
じであり、画像走査装置には致命的な欠陥となる。
【０００５】したがって、カバーガラス等の光学部品の
表面に付着しているゴミが発見されたときには、光学装
置の運転を停止して、付着したゴミを除去するために光
学部品を清掃しなければならない。
表面に付着しているゴミが発見されたときには、光学装
置の運転を停止して、付着したゴミを除去するために光
学部品を清掃しなければならない。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
の光学部品に付着したゴミは、これを検出する適当な手
段がなく、例えば、画像走査装置では、画像を走査した
後、すなわち、記録された画像に上述のような縦筋が現
れたときになって初めてゴミの存在が認められるもので
あり、したがって、画像走査後にゴミが付着していたこ
とが判明した場合には、これらの光学部品を清掃してゴ
ミを除去した後に、再び同じ走査をやり直さなければな
らないという不都合が生ずる。しかし、走査する対象の
種類によっては、例えば放射線撮影に使用される輝尽性
蛍光体シートのように、同じ走査をやり直すことのでき
ないものもあり、このような画像の走査における性能の
劣化は極力避けられなければならない。また、写真感材
に露光するシステムでは現像工程を要するため、ゴミの
発見が遅れたり、大量に露光した後になって初めてゴミ
の付着が判明する等の不都合が存在する。特に高速で連
続的に記録を行う装置では、ゴミによる欠陥にオペレー
タが気付いても、清掃のために装置の運転を停止するま
での間に相当の量のロスが生じてしまう。
の光学部品に付着したゴミは、これを検出する適当な手
段がなく、例えば、画像走査装置では、画像を走査した
後、すなわち、記録された画像に上述のような縦筋が現
れたときになって初めてゴミの存在が認められるもので
あり、したがって、画像走査後にゴミが付着していたこ
とが判明した場合には、これらの光学部品を清掃してゴ
ミを除去した後に、再び同じ走査をやり直さなければな
らないという不都合が生ずる。しかし、走査する対象の
種類によっては、例えば放射線撮影に使用される輝尽性
蛍光体シートのように、同じ走査をやり直すことのでき
ないものもあり、このような画像の走査における性能の
劣化は極力避けられなければならない。また、写真感材
に露光するシステムでは現像工程を要するため、ゴミの
発見が遅れたり、大量に露光した後になって初めてゴミ
の付着が判明する等の不都合が存在する。特に高速で連
続的に記録を行う装置では、ゴミによる欠陥にオペレー
タが気付いても、清掃のために装置の運転を停止するま
での間に相当の量のロスが生じてしまう。
【０００７】本発明は、上記課題に鑑み、走査光学系等
の光学装置の光路上の光学部品の表面に付着したゴミを
随時に検出することができる装置を提供することを目的
とするものである。
の光学装置の光路上の光学部品の表面に付着したゴミを
随時に検出することができる装置を提供することを目的
とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明によるゴミ検出装置は、上記のような光学装
置の光路上の光学部品のゴミ検出装置において、光学部
品を透過または反射する光が該光学部品に付着したゴミ
により散乱されて生ずる散乱光を受光する該光路外に配
置されたセンサと、このセンサの出力を基準値と比較し
てゴミの検出を行う検出手段とを有することを特徴とす
るものである。
め、本発明によるゴミ検出装置は、上記のような光学装
置の光路上の光学部品のゴミ検出装置において、光学部
品を透過または反射する光が該光学部品に付着したゴミ
により散乱されて生ずる散乱光を受光する該光路外に配
置されたセンサと、このセンサの出力を基準値と比較し
てゴミの検出を行う検出手段とを有することを特徴とす
るものである。
【０００９】ここで、「検出」とは、ゴミの有無の判別
に限られるものではなく、ゴミの量の多少の判別、すな
わちゴミの量の推定をも含むものである。
に限られるものではなく、ゴミの量の多少の判別、すな
わちゴミの量の推定をも含むものである。
【００１０】上記センサは、前記光学部品と前記センサ
との間であって前記光路外に設けられた散乱光を導波す
る手段を介して散乱光を受光するようにしてもよい。
との間であって前記光路外に設けられた散乱光を導波す
る手段を介して散乱光を受光するようにしてもよい。
【００１１】また、上記散乱光を導波する手段は、前記
光学部品の近傍に配された光ロッドにより形成されるも
のであることが好ましい。
光学部品の近傍に配された光ロッドにより形成されるも
のであることが好ましい。
【００１２】さらに、上記光学装置がケーシング内に走
査光を偏向する偏光器を収容してなる画像走査装置であ
るときには、上記光学部品は該ケーシングの走査光の出
射出口に設置された該走査光を透過するカバーガラスで
あってもよい。
査光を偏向する偏光器を収容してなる画像走査装置であ
るときには、上記光学部品は該ケーシングの走査光の出
射出口に設置された該走査光を透過するカバーガラスで
あってもよい。
【００１３】加えて、上記散乱光を導波する手段は、前
記光学装置が前記画像走査装置であり、前記光学部品が
前記カバーガラスであるときには、前記カバーガラスに
より形成されるものであってもよい。
記光学装置が前記画像走査装置であり、前記光学部品が
前記カバーガラスであるときには、前記カバーガラスに
より形成されるものであってもよい。
【００１４】
【発明の効果】本発明による光学装置のゴミ検出装置
は、光学部品を透過あるいは反射する光が、この光学部
品の表面に付着したゴミにより散乱されて生ずる散乱光
を光路外に配置されたセンサにより受光し、このセンサ
の出力を検出することによりゴミの有無の判別およびゴ
ミの量の推定を行うことによって光路上の光学部品の表
面に付着したゴミを検出することができる。
は、光学部品を透過あるいは反射する光が、この光学部
品の表面に付着したゴミにより散乱されて生ずる散乱光
を光路外に配置されたセンサにより受光し、このセンサ
の出力を検出することによりゴミの有無の判別およびゴ
ミの量の推定を行うことによって光路上の光学部品の表
面に付着したゴミを検出することができる。
【００１５】したがって、本発明による光学装置のゴミ
検出装置によれば、光源から光を発振させて光学部品に
透過あるいは反射させることにより、光学部品の表面に
付着しているゴミを必要に応じて随時に検出することが
可能である。
検出装置によれば、光源から光を発振させて光学部品に
透過あるいは反射させることにより、光学部品の表面に
付着しているゴミを必要に応じて随時に検出することが
可能である。
【００１６】これによって、光学部品の清掃の要否のフ
ィードバックが促進され、常に光学部品をクリーンな状
態に保つことができるので、光学装置内へのゴミの侵入
および付着を未然に防止することも可能である。
ィードバックが促進され、常に光学部品をクリーンな状
態に保つことができるので、光学装置内へのゴミの侵入
および付着を未然に防止することも可能である。
【００１７】また、散乱光を受光するセンサを光路外に
配することにより、センサは光学部品を透過または反射
する光を受光することなく、散乱光のみを受光すること
ができる。
配することにより、センサは光学部品を透過または反射
する光を受光することなく、散乱光のみを受光すること
ができる。
【００１８】さらに、散乱光をセンサにより受光する際
に、散乱光を導波する手段を介することにより、散乱光
の受光がより容易かつ確実になり、Ｓ／Ｎ比が増大す
る。
に、散乱光を導波する手段を介することにより、散乱光
の受光がより容易かつ確実になり、Ｓ／Ｎ比が増大す
る。
【００１９】例えば、レーザ走査によるラスター走査方
式の画像走査装置において、散乱光を導波する手段とし
て、光ロッドを走査光の走査光路外であって、カバーガ
ラスの近傍の、偏光器により偏向される走査光の偏向面
と前記カバーガラスとに対して平行に配することによ
り、光ロッドは散乱光のみをセンサに導波するととも
に、ゴミがカバーガラス表面のどの位置に付着している
かを問わず、このゴミによって生ずる散乱光を確実にセ
ンサに導波することができるので、カバーガラスのゴミ
の有無の判別およびゴミの量の推定を正確に行うことが
可能になる。
式の画像走査装置において、散乱光を導波する手段とし
て、光ロッドを走査光の走査光路外であって、カバーガ
ラスの近傍の、偏光器により偏向される走査光の偏向面
と前記カバーガラスとに対して平行に配することによ
り、光ロッドは散乱光のみをセンサに導波するととも
に、ゴミがカバーガラス表面のどの位置に付着している
かを問わず、このゴミによって生ずる散乱光を確実にセ
ンサに導波することができるので、カバーガラスのゴミ
の有無の判別およびゴミの量の推定を正確に行うことが
可能になる。
【００２０】なお、上記画像走査装置において、散乱光
を導波する手段としてカバーガラスを使用したときに
は、本発明によるゴミ検出装置のコストダウンおよびダ
ウンサイズ化を図ることができる。
を導波する手段としてカバーガラスを使用したときに
は、本発明によるゴミ検出装置のコストダウンおよびダ
ウンサイズ化を図ることができる。
【００２１】
【発明の実施の形態】以下、本発明による光学装置のゴ
ミ検出装置の一例として、レーザ走査によるラスター走
査方式の画像走査装置におけるゴミ検出装置の実施の形
態を図面に基づいて説明する。図１は本発明によるゴミ
検出装置の対象となる画像走査装置の一部を示す斜視
図、図２は本発明によるゴミ検出装置の一つの実施の形
態を示す斜視図、図３は図２に示すゴミ検出装置の断面
図、図４は本発明によるゴミ検出装置の他の実施の形態
を示す斜視図である。
ミ検出装置の一例として、レーザ走査によるラスター走
査方式の画像走査装置におけるゴミ検出装置の実施の形
態を図面に基づいて説明する。図１は本発明によるゴミ
検出装置の対象となる画像走査装置の一部を示す斜視
図、図２は本発明によるゴミ検出装置の一つの実施の形
態を示す斜視図、図３は図２に示すゴミ検出装置の断面
図、図４は本発明によるゴミ検出装置の他の実施の形態
を示す斜視図である。
【００２２】図１に示すように、レーザ光を使用する画
像走査装置において、レーザ光源２から発振されるレー
ザ走査光２ａを偏向する回転多面鏡４を、レーザ走査光
２ａを透過するカバーガラス６を備えたケーシング８内
に収容し、回転多面鏡４を含む光学系内部へのゴミの侵
入を防止することが行われている。なお、図１の例では
レーザ光源２がケーシング８の外に配されているが、こ
れはケーシング８の中に設置されていてもよい。
像走査装置において、レーザ光源２から発振されるレー
ザ走査光２ａを偏向する回転多面鏡４を、レーザ走査光
２ａを透過するカバーガラス６を備えたケーシング８内
に収容し、回転多面鏡４を含む光学系内部へのゴミの侵
入を防止することが行われている。なお、図１の例では
レーザ光源２がケーシング８の外に配されているが、こ
れはケーシング８の中に設置されていてもよい。
【００２３】図２に示す本発明の実施の形態によるゴミ
検出装置は、走査光の走査光路から外れる位置であっ
て、カバーガラス６の前方のやや斜め上方の、走査光の
偏向面とカバーガラス６とに対して平行する位置に、カ
バーガラス６の水平方向の長さよりもやや大きい長さを
有する光ロッド12が設けられている。さらに、この光ロ
ッド12の両端には、光ロッド12によって導波された散乱
光２ｂを受光し電気信号に変換するセンサ14およびこの
センサ14の出力を基準値と比較してゴミの有無の判別あ
るいはゴミの量の推定を行う検出手段16が設置されてい
る。
検出装置は、走査光の走査光路から外れる位置であっ
て、カバーガラス６の前方のやや斜め上方の、走査光の
偏向面とカバーガラス６とに対して平行する位置に、カ
バーガラス６の水平方向の長さよりもやや大きい長さを
有する光ロッド12が設けられている。さらに、この光ロ
ッド12の両端には、光ロッド12によって導波された散乱
光２ｂを受光し電気信号に変換するセンサ14およびこの
センサ14の出力を基準値と比較してゴミの有無の判別あ
るいはゴミの量の推定を行う検出手段16が設置されてい
る。
【００２４】回転多面鏡４により偏向されたレーザ走査
光２ａがカバーガラス６を透過するときにカバーガラス
６の表面にゴミ10が付着していると、ゴミ10が付着して
いる部分を透過するレーザ走査光２ａは付着ゴミ10に当
たって散乱し、散乱光２ｂを生ずる。この散乱光２ｂ
は、光ロッド12によってセンサ14へ導波されて電気信号
として出力される。この出力値を検出手段16により基準
値と比較し、出力値が基準値より小さいときにゴミが有
ると判断することにより、カバーガラス６の付着ゴミ10
の有無が判別される。また、出力値と基準値との差の大
小によりカバーガラス６に付着したゴミの量の多少の判
別、すなわちゴミの量の推定を行うこともできる。
光２ａがカバーガラス６を透過するときにカバーガラス
６の表面にゴミ10が付着していると、ゴミ10が付着して
いる部分を透過するレーザ走査光２ａは付着ゴミ10に当
たって散乱し、散乱光２ｂを生ずる。この散乱光２ｂ
は、光ロッド12によってセンサ14へ導波されて電気信号
として出力される。この出力値を検出手段16により基準
値と比較し、出力値が基準値より小さいときにゴミが有
ると判断することにより、カバーガラス６の付着ゴミ10
の有無が判別される。また、出力値と基準値との差の大
小によりカバーガラス６に付着したゴミの量の多少の判
別、すなわちゴミの量の推定を行うこともできる。
【００２５】このように本発明によるゴミ検出装置によ
れば、レーザ光源２からレーザ走査光２ａを発振させて
カバーガラス６を透過させることにより、カバーガラス
６の表面に付着したゴミ10を必要に応じて随時、検出す
ることができる。すなわち、本発明のゴミ検出装置によ
れば、画像走査装置の運転中に画像走査と並行しながら
走査と同時にゴミの検出を行うことができるだけでな
く、走査休止時、例えば、走査待機時や装置の立ち上げ
時等にゴミの検出を別途行うことも可能である。なお、
このような走査休止時のゴミの検出では、走査光のレベ
ルを一定値に固定したり、あるいは、走査光のレベルを
階段状または連続的に可変スイープしたり、特定の波長
の光のみに限定することも可能なため、散乱光の受光の
Ｓ／Ｎ比が増大し、より正確なゴミの有無の判別および
ゴミの量の推定、さらには、検出結果に基づく付着ゴミ
の種類の推定をも可能とするものである。
れば、レーザ光源２からレーザ走査光２ａを発振させて
カバーガラス６を透過させることにより、カバーガラス
６の表面に付着したゴミ10を必要に応じて随時、検出す
ることができる。すなわち、本発明のゴミ検出装置によ
れば、画像走査装置の運転中に画像走査と並行しながら
走査と同時にゴミの検出を行うことができるだけでな
く、走査休止時、例えば、走査待機時や装置の立ち上げ
時等にゴミの検出を別途行うことも可能である。なお、
このような走査休止時のゴミの検出では、走査光のレベ
ルを一定値に固定したり、あるいは、走査光のレベルを
階段状または連続的に可変スイープしたり、特定の波長
の光のみに限定することも可能なため、散乱光の受光の
Ｓ／Ｎ比が増大し、より正確なゴミの有無の判別および
ゴミの量の推定、さらには、検出結果に基づく付着ゴミ
の種類の推定をも可能とするものである。
【００２６】このような随時のゴミの検出によって、カ
バーガラス６の清掃へのフィードバックが促進され、画
像走査装置内へのゴミの侵入および付着を未然に防止す
ることが可能である。
バーガラス６の清掃へのフィードバックが促進され、画
像走査装置内へのゴミの侵入および付着を未然に防止す
ることが可能である。
【００２７】なお、散乱光を導波する手段として使用さ
れる光ロッド12は、必ずしも図２に示すようにカバーガ
ラス６の前、やや斜め上方に設置する必要はないが、カ
バーガラス６を透過する走査光を受光することなく、付
着ゴミ10によって生ずる散乱光２ｂのみを導波するよう
に、レーザ光の走査光路を外して設置しなければならな
い。また、光ロッド12は、ゴミ10がカバーガラス６の表
面のどの位置に付着しているかを問わず、このゴミによ
って生ずる散乱光２ｂを確実にセンサ14に導波すること
ができるように、カバーガラス６の近傍であって、レー
ザ走査光の偏向面とカバーガラス６とに対して平行する
位置に設置する必要がある。また、同様の理由から、光
ロッド12の水平方向の長さはカバーガラス６の水平方向
の長さと同等もしくはこれよりも大きいことが望まし
い。
れる光ロッド12は、必ずしも図２に示すようにカバーガ
ラス６の前、やや斜め上方に設置する必要はないが、カ
バーガラス６を透過する走査光を受光することなく、付
着ゴミ10によって生ずる散乱光２ｂのみを導波するよう
に、レーザ光の走査光路を外して設置しなければならな
い。また、光ロッド12は、ゴミ10がカバーガラス６の表
面のどの位置に付着しているかを問わず、このゴミによ
って生ずる散乱光２ｂを確実にセンサ14に導波すること
ができるように、カバーガラス６の近傍であって、レー
ザ走査光の偏向面とカバーガラス６とに対して平行する
位置に設置する必要がある。また、同様の理由から、光
ロッド12の水平方向の長さはカバーガラス６の水平方向
の長さと同等もしくはこれよりも大きいことが望まし
い。
【００２８】また、散乱光２ｂを受光するためのセンサ
14は、光ロッド12の両端に限らず、ケーシング８内ある
いは画像走査装置内に適宜設置することができるが、光
ロッドと同様に、散乱光２ｂのみを導波する必要上、走
査光の走査光路を外して設置しなければならない。な
お、センサとしては、ＡＤＰ（アバランシュ・フォト・
ダイオード）、フォトダイオード等を使用することがで
きる。
14は、光ロッド12の両端に限らず、ケーシング８内ある
いは画像走査装置内に適宜設置することができるが、光
ロッドと同様に、散乱光２ｂのみを導波する必要上、走
査光の走査光路を外して設置しなければならない。な
お、センサとしては、ＡＤＰ（アバランシュ・フォト・
ダイオード）、フォトダイオード等を使用することがで
きる。
【００２９】図３は、図２に示す実施の形態によるゴミ
検出装置の断面図を表示したものである。
検出装置の断面図を表示したものである。
【００３０】図４に示す実施の形態によるゴミ検出装置
では、図２で示した散乱光２ｂを導波する手段として、
光ロッド12の代わりにカバーガラス６が使用されてい
る。このようにカバーガラス自体を散乱光を導波する手
段として使用したときには、本発明によるゴミ検出装置
のコストダウンおよびダウンサイズ化を図ることができ
る。
では、図２で示した散乱光２ｂを導波する手段として、
光ロッド12の代わりにカバーガラス６が使用されてい
る。このようにカバーガラス自体を散乱光を導波する手
段として使用したときには、本発明によるゴミ検出装置
のコストダウンおよびダウンサイズ化を図ることができ
る。
【００３１】本発明のゴミ検出装置は各種のレーザプリ
ンタ等の画像記録用の画像走査装置に適用することがで
きるが、特に高画質が要求される画像記録装置に適して
いる。その一つの例として、カラーフイルムを読み取っ
て得た画像信号を用いて印画紙にカラー写真をプリント
するデジタル写真プリンタシステムを図５により説明す
る。
ンタ等の画像記録用の画像走査装置に適用することがで
きるが、特に高画質が要求される画像記録装置に適して
いる。その一つの例として、カラーフイルムを読み取っ
て得た画像信号を用いて印画紙にカラー写真をプリント
するデジタル写真プリンタシステムを図５により説明す
る。
【００３２】図５に示すように、写真フイルムを読み取
って得た後、必要に応じて画像処理を施された画像信号
Ｓが、可視画像を再生するプリンタ60に入力される。プ
リンタ60は、プリント部と現像処理部と乾燥部とからな
り、プリント部は、マガジン62に配設されたロール状長
尺の印画紙100 に位置決め用の基準孔を穿孔するホール
パンチユニット63、位置決め用の基準孔を基準として印
画紙100 を長手方向すなわち副走査方向に搬送する副走
査ドライブ系64、変調機ドライバにより変調された信号
に基づいて変調された光を主走査方向に走査しながら印
画紙100 に照射する露光スキャナ61、プリンタ制御Ｉ／
Ｆを介して入力された画像検索用情報を印画紙100 の裏
面に印字する裏印字ユニット65から構成されている。
って得た後、必要に応じて画像処理を施された画像信号
Ｓが、可視画像を再生するプリンタ60に入力される。プ
リンタ60は、プリント部と現像処理部と乾燥部とからな
り、プリント部は、マガジン62に配設されたロール状長
尺の印画紙100 に位置決め用の基準孔を穿孔するホール
パンチユニット63、位置決め用の基準孔を基準として印
画紙100 を長手方向すなわち副走査方向に搬送する副走
査ドライブ系64、変調機ドライバにより変調された信号
に基づいて変調された光を主走査方向に走査しながら印
画紙100 に照射する露光スキャナ61、プリンタ制御Ｉ／
Ｆを介して入力された画像検索用情報を印画紙100 の裏
面に印字する裏印字ユニット65から構成されている。
【００３３】また乾燥部には、乾燥の完了した露光済み
の印画紙100 （写真プリント）を１枚ずつ切断するカッ
ター66と、この１枚ずつ切断された写真プリント100 を
整列して並べるソーター67とを備えている。
の印画紙100 （写真プリント）を１枚ずつ切断するカッ
ター66と、この１枚ずつ切断された写真プリント100 を
整列して並べるソーター67とを備えている。
【００３４】変調機ドライバ（図示せず）は入力された
画像データに基づいて、プリンタ60の露光スキャナ61か
ら出射される光を変調する。
画像データに基づいて、プリンタ60の露光スキャナ61か
ら出射される光を変調する。
【００３５】一方、プリンタ60はＣＰＵの制御により、
プリンタ制御Ｉ／Ｆを介して駆動制御される。まず副走
査ドライブ系64がマガジン62から所定の搬送通路に沿っ
て延びる印画紙100 を副走査方向に搬送する。搬送通路
上にはホールパンチユニット63が設けられており、この
ホールパンチユニット63は例えば写真プリント１枚分の
送り量に相当する長さ間隔ごとに印画紙100 の側縁部付
近に同期基準となる基準孔を穿孔する。プリンタ60の内
部においては、この基準孔を同期の基準として印画紙10
0 の搬送がなされる。
プリンタ制御Ｉ／Ｆを介して駆動制御される。まず副走
査ドライブ系64がマガジン62から所定の搬送通路に沿っ
て延びる印画紙100 を副走査方向に搬送する。搬送通路
上にはホールパンチユニット63が設けられており、この
ホールパンチユニット63は例えば写真プリント１枚分の
送り量に相当する長さ間隔ごとに印画紙100 の側縁部付
近に同期基準となる基準孔を穿孔する。プリンタ60の内
部においては、この基準孔を同期の基準として印画紙10
0 の搬送がなされる。
【００３６】印画紙100 はこのように副走査されつつ、
露光スキャナ61からの画像データに基づいて変調された
光を主走査され、印画紙100 にはこの主走査と副走査と
の組合わせで画像データに基づく可視画像が露光され
る。なお副走査方向の送り速度はＣＰＵによって、露光
の主走査速度と同期がとられて可視画像の再生に必要な
速度に制御されている。
露光スキャナ61からの画像データに基づいて変調された
光を主走査され、印画紙100 にはこの主走査と副走査と
の組合わせで画像データに基づく可視画像が露光され
る。なお副走査方向の送り速度はＣＰＵによって、露光
の主走査速度と同期がとられて可視画像の再生に必要な
速度に制御されている。
【００３７】表面に可視画像が露光された印画紙100 は
搬送通路に沿って裏印字ユニット65の位置まで搬送さ
れ、裏印字ユニット65は、ＣＰＵにより画像データと一
義的に対応付けられた画像検索用情報をＣＰＵより受け
て、搬送された印画紙100 の裏面（可視画像が露光され
た面の裏面）にその可視画像と対応する画像検索用情
報、すなわちフイルム番号およびコマ番号等を印字す
る。なお、可視画像を露光する露光スキャナ61と裏印字
ユニット65との配置位置のずれは、ホールパンチユニッ
ト63により穿孔された印画紙100 の基準孔を利用したソ
フトシーケンス（例えば、特開平５−193609号に開示さ
れたシーケンス）により、位置的に同期をとりつつ吸収
するものとする。なお、この画像検索用情報は、印画紙
100 の裏面だけでなく、可視画像の露光された表面の一
部に記録されるようにしてもよい。この場合、可視画像
の露光されている範囲外の領域、例えば周縁部に記録す
るのが望ましい。
搬送通路に沿って裏印字ユニット65の位置まで搬送さ
れ、裏印字ユニット65は、ＣＰＵにより画像データと一
義的に対応付けられた画像検索用情報をＣＰＵより受け
て、搬送された印画紙100 の裏面（可視画像が露光され
た面の裏面）にその可視画像と対応する画像検索用情
報、すなわちフイルム番号およびコマ番号等を印字す
る。なお、可視画像を露光する露光スキャナ61と裏印字
ユニット65との配置位置のずれは、ホールパンチユニッ
ト63により穿孔された印画紙100 の基準孔を利用したソ
フトシーケンス（例えば、特開平５−193609号に開示さ
れたシーケンス）により、位置的に同期をとりつつ吸収
するものとする。なお、この画像検索用情報は、印画紙
100 の裏面だけでなく、可視画像の露光された表面の一
部に記録されるようにしてもよい。この場合、可視画像
の露光されている範囲外の領域、例えば周縁部に記録す
るのが望ましい。
【００３８】露光された印画紙100 は搬送通路に沿って
プリント部から現像処理部に搬送され、ここで所定の現
像処理および水洗処理がなされ乾燥部に送られる。乾燥
部では、現像処理部で水洗処理された印画紙100 を乾燥
処理し、乾燥の完了した印画紙100 は、カッター66によ
り基準孔を同期の基準とした写真プリントの１枚の大き
さに対応したピースに切り分けられる。この写真プリン
トに切り分けられた印画紙100 は、ソーター67において
フイルム１本単位で集積され、他の工程において６コマ
ピースずつに分離切断されたフイルムピースとともに注
文者に返却される。
プリント部から現像処理部に搬送され、ここで所定の現
像処理および水洗処理がなされ乾燥部に送られる。乾燥
部では、現像処理部で水洗処理された印画紙100 を乾燥
処理し、乾燥の完了した印画紙100 は、カッター66によ
り基準孔を同期の基準とした写真プリントの１枚の大き
さに対応したピースに切り分けられる。この写真プリン
トに切り分けられた印画紙100 は、ソーター67において
フイルム１本単位で集積され、他の工程において６コマ
ピースずつに分離切断されたフイルムピースとともに注
文者に返却される。
【００３９】このようなカラー写真のプリント装置で
は、画像の鮮鋭度のみならずカラーの仕上がりも重視さ
れるため、前述のように縦筋の外に色ムラの原因にもな
る可能性があるゴミの付着は極力回避されなければなら
ず、カバーガラスとともに本発明のゴミ検出装置を備え
ることが特に望まれるものである。
は、画像の鮮鋭度のみならずカラーの仕上がりも重視さ
れるため、前述のように縦筋の外に色ムラの原因にもな
る可能性があるゴミの付着は極力回避されなければなら
ず、カバーガラスとともに本発明のゴミ検出装置を備え
ることが特に望まれるものである。
【００４０】なお、本発明による光学装置のゴミ検出装
置は、上記のような画像走査装置等の走査光学系の光学
装置のみならず、顕微鏡の照明、スポット光照射による
板状体の面検査装置等の照明光学系の装置にも応用する
ことができるものである。この場合には、散乱光を導波
する手段として、光ロッドを二次元に配置したり、レン
ズの周囲を円周状に取り巻く形状等に配置することによ
り、散乱光の受光によるゴミの検出が可能である。
置は、上記のような画像走査装置等の走査光学系の光学
装置のみならず、顕微鏡の照明、スポット光照射による
板状体の面検査装置等の照明光学系の装置にも応用する
ことができるものである。この場合には、散乱光を導波
する手段として、光ロッドを二次元に配置したり、レン
ズの周囲を円周状に取り巻く形状等に配置することによ
り、散乱光の受光によるゴミの検出が可能である。
【図１】本発明によるゴミ検出装置の対象となる画像走
査装置の一部を示す斜視図
査装置の一部を示す斜視図
【図２】本発明によるゴミ検出装置の一つの実施の形態
を示す斜視図
を示す斜視図
【図３】図２に示すゴミ検出装置の断面図
【図４】本発明によるゴミ検出装置の他の実施の形態を
示す斜視図
示す斜視図
【図５】本発明によるゴミ検出装置を備えた画像走査装
置の応用例としてデジタル写真プリンタシステムの一例
を示す概略断面図
置の応用例としてデジタル写真プリンタシステムの一例
を示す概略断面図
２ レーザ光源 ２ａ レーザ走査光 ２ｂ 散乱光 ４ 回転多面鏡 ６ カバーガラス ８ ケーシング １０ 付着ゴミ １２ 光ロッド １４ センサ １６ 検出手段 ６０ プリンタ ６１ 露光スキャナ
Claims (5)
- 【請求項１】 走査光学系等の光学装置における光路上
の光学部品のゴミ検出装置であって、該光学部品を透過
または反射する光が該光学部品に付着したゴミにより散
乱されて生ずる散乱光を受光する該光路外に配置された
センサと、該センサの出力を基準値と比較してゴミの検
出を行う検出手段を有することを特徴とする光学装置の
ゴミ検出装置。 - 【請求項２】 前記光学部品と前記センサとの間であっ
て前記光路外に、該光学部品に付着したゴミにより散乱
されて生ずる散乱光を導波する手段を有することを特徴
とする請求項１記載の光学装置のゴミ検出装置。 - 【請求項３】 前記散乱光を導波する手段が、前記光学
部品の近傍に配された光ロッドにより形成されるもので
あることを特徴とする請求項２記載の光学装置のゴミ検
出装置。 - 【請求項４】 前記光学装置がケーシング内に走査光を
偏向する偏光器を収容してなる画像走査装置であり、前
記光学部品が該ケーシングの走査光の出射出口に設置さ
れた該走査光を透過するカバーガラスであることを特徴
とする請求項１から３いずれか１項記載の光学装置のゴ
ミ検出装置。 - 【請求項５】 前記光学装置がケーシング内に走査光を
偏向する偏光器を収容してなる画像走査装置であり、前
記光学部品が該ケーシングの走査光の出射出口に設置さ
れた該走査光を透過するカバーガラスであり、前記散乱
光を導波する手段が前記カバーガラスにより形成される
ものであることを特徴とする請求項２記載の光学装置の
ゴミ検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21717295A JPH0961293A (ja) | 1995-08-25 | 1995-08-25 | 光学装置のゴミ検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21717295A JPH0961293A (ja) | 1995-08-25 | 1995-08-25 | 光学装置のゴミ検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0961293A true JPH0961293A (ja) | 1997-03-07 |
Family
ID=16699993
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21717295A Withdrawn JPH0961293A (ja) | 1995-08-25 | 1995-08-25 | 光学装置のゴミ検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0961293A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013155399A1 (en) * | 2012-04-13 | 2013-10-17 | Kla-Tencor Corporation | Indexing optics for an actinic extreme ultra-violet (euv) reticle inspection tool |
| WO2015139657A1 (zh) * | 2014-03-20 | 2015-09-24 | 国家电网公司 | 照度测试装置 |
| CN106645196A (zh) * | 2016-12-15 | 2017-05-10 | 广东威创视讯科技股份有限公司 | 投影镜头的灰尘检测装置及灰尘清除装置 |
| WO2020017429A1 (ja) * | 2018-07-18 | 2020-01-23 | 株式会社小糸製作所 | センサシステムの検査装置および検査方法 |
-
1995
- 1995-08-25 JP JP21717295A patent/JPH0961293A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013155399A1 (en) * | 2012-04-13 | 2013-10-17 | Kla-Tencor Corporation | Indexing optics for an actinic extreme ultra-violet (euv) reticle inspection tool |
| WO2015139657A1 (zh) * | 2014-03-20 | 2015-09-24 | 国家电网公司 | 照度测试装置 |
| CN106645196A (zh) * | 2016-12-15 | 2017-05-10 | 广东威创视讯科技股份有限公司 | 投影镜头的灰尘检测装置及灰尘清除装置 |
| WO2020017429A1 (ja) * | 2018-07-18 | 2020-01-23 | 株式会社小糸製作所 | センサシステムの検査装置および検査方法 |
| JPWO2020017429A1 (ja) * | 2018-07-18 | 2021-08-02 | 株式会社小糸製作所 | センサシステムの検査装置および検査方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7126146B2 (en) | Device and method for detecting the edge of a recording material | |
| US5729793A (en) | Dust adhesion prevention system for image scanning system | |
| US7113619B1 (en) | Image reading method, image reading apparatus and method of discriminating defect of image data | |
| JPH0961293A (ja) | 光学装置のゴミ検出装置 | |
| JP3621528B2 (ja) | 画像記録方法 | |
| US6972877B1 (en) | Image reading apparatus | |
| US6583896B1 (en) | Image reading apparatus and image reading method | |
| JP2008129247A (ja) | 光照射装置、画像読取装置および画像形成装置 | |
| JPH0980343A (ja) | 画像走査装置のゴミ付着防止装置 | |
| US6295079B1 (en) | Scanning optical unit | |
| US6172737B1 (en) | Image recording apparatus | |
| JP2007140232A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP2003344955A (ja) | 画像読取装置 | |
| JPH0926551A (ja) | 画像走査装置のゴミ侵入防止装置 | |
| JPH0688999A (ja) | オフセット印刷版材などの感光材料の露光及び現像装置 | |
| JP3784946B2 (ja) | 画像読取装置用キャリア | |
| JP2005322956A (ja) | 画像読取装置 | |
| JP3566592B2 (ja) | 画像読取装置 | |
| JP4838993B2 (ja) | 画像読取装置および複写装置 | |
| JP3590214B2 (ja) | 感光材料搬送装置 | |
| JP3641738B2 (ja) | フィルムキャリア、フィルムスキャナ及び投影焼付装置 | |
| JP2000162528A (ja) | 画像露光装置 | |
| JP3159778B2 (ja) | 画像読取装置の光学ユニット | |
| JP2000083136A (ja) | 画像読取装置及び画像読取方法 | |
| JPH0690328A (ja) | 画像読取装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20021105 |