JPH0954157A - 距離測定装置 - Google Patents

距離測定装置

Info

Publication number
JPH0954157A
JPH0954157A JP7228576A JP22857695A JPH0954157A JP H0954157 A JPH0954157 A JP H0954157A JP 7228576 A JP7228576 A JP 7228576A JP 22857695 A JP22857695 A JP 22857695A JP H0954157 A JPH0954157 A JP H0954157A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
digital signal
arithmetic
signal
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7228576A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaaki Yabe
雅明 矢部
Masahiro Oishi
政裕 大石
Yasutaka Katayama
康隆 片山
Takeshige Saito
武重 斉藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP7228576A priority Critical patent/JPH0954157A/ja
Publication of JPH0954157A publication Critical patent/JPH0954157A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】 [目的] 本発明は、パルス方式の距離測定装置に係わ
り、特に、測定データを標準偏差、平均偏差等の統計処
理を施してデータの選別を行い、更に、損失されたデー
タを相加平均公式又はラグランジュの補間公式等により
補間することのできる距離測定装置を提供することを目
的とする。 [構成] 本発明は、測定対象物からの反射光を受光
し、電気信号の受信パルスに変換し、AD変換手段が、
タイミング信号により被測定周波数信号をAD変換して
デジタル信号データとし、記憶手段が、デジタル信号デ
ータを記憶し、第1の演算処理手段が、記憶手段に記憶
されたデジタル信号データを標準偏差等を利用した統計
的処理により選別を行い、第2の演算処理手段が、記憶
手段に記憶されたデジタル信号データをフーリエ変換し
て位相差を検出し、距離を測定することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、パルス方式の距離
測定装置に係わり、特に、測定データを標準偏差、平均
偏差等の統計処理を施してデータの選別を行い、更に、
損失されたデータを相加平均公式又はラグランジュの補
間公式等により補間することのできる距離測定装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のパルス方式の光波距離計は、周期
的に測定対象物や反射プリズムに対して、パルスレーザ
ーを照射させ、その反射光を受光することにより測定対
象物等までの距離を測定している。
【0003】この測定は、粗測定と精測定とからなって
おり、粗測定は、カウンターによる内部参照光のカウン
ト値と、外部測定光のカウント値との差を求めることに
より、10mの精度で測定を行うことができ、更に、以
下に詳述する精測定と組み合わせることにより、距離の
測定を正確に行うことができる。
【0004】まず、従来のパルス方式の光波距離計の光
学的構成を図7に基づいて説明する。
【0005】図7に示す様に本従来例の光波距離計は、
レーザダイオード1と、コンデンサレンズ2と、コンデ
ンサレンズ3と、一対の分割プリズム41、42と、光
路切り替えチョッパ5と、内部光路6と、APD71
と、遅延用光ファイバー8と、プリズム9と、対物レン
ズ10から構成されている。そして、コーナキューブ1
1は、光波距離計本体から離れた位置に配置される測定
対象物に該当するものであり、光パルスを反射する機能
を有している。
【0006】レーザダイオード1とコンデンサレンズ2
1、22と発光側光ファイバー81と分割プリズム41
とプリズム9と対物レンズ10とが光学手段に該当す
る。
【0007】レーザダイオード1は光源部に該当するも
ので、本従来例のレーザダイオード1はパルスレーザダ
イオードが採用されており、比較的大きなピークパワー
を持ち、デューティ比が0.01%程度のパルス波を発
生させることができる。光路切り替えチョッパ5は光束
を切り替えるものである。受光素子7は受光手段に該当
するものであり、レーザダイオード1から発射されたパ
ルス光線を受光できる素子であれば足りる。
【0008】遅延用光ファイバー8は光学的遅延手段の
1つであり、遅延用光ファイバー8には、モード分散を
防止するためにGIファイバを採用することが望まし
い。
【0009】分割プリズム41は、第1のハーフミラー
411と第2のハーフミラー412とから構成されてお
り、分割プリズム42は、第1のハーフミラー421と
第2のハーフミラー422とからなっている。レーザダ
イオード1側と分割プリズム41の間は、発光側光ファ
イバー81と遅延用光ファイバー8で結ばれている。更
に分割プリズム42と受光素子7側との間は、受光側光
ファイバー82で結ばれている。なお本従来例では、発
光側光ファイバー81の一部が、遅延用光ファイバー8
を兼ねる様な構成となっている。
【0010】発光パルスがレーザダイオード1から発射
されると、コンデンサレンズ21、22により発光側光
ファイバー81の入力端81aに結合される。発光側光
ファイバー81は、遅延用光ファイバー8と連設されて
いるので、光パルスは、遅延用光ファイバー8内を進行
し、分割プリズム41に送られる。分割プリズム41の
第1のハーフミラー411を透過したパルス列は、光路
切り替えチョッパ5を介して、外部測距光路に射出可能
となっている。分割プリズム41の第1のハーフミラー
411で反射され、更に第2のハーフミラー412で反
射されたパルスは、光路切り替えチョッパ5を介して、
内部測距光路6に射出可能となっている。光路切り替え
チョッパ5は、内部測距光路6と外部測距光路を切り替
えるためのものである。従って、光路切り替えチョッパ
5が外部測距光路を選択した場合には、光パルスはプリ
ズム9で反射された後、対物レンズ10により外部に射
出される。
【0011】対物レンズ10から射出されたパルスは、
コーナキューブ11で反射され、再び対物レンズ10で
受光されプリズム9に送られる。受光されたパルス列
は、プリズム9で反射されて分割プリズム42に送ら
れ、分割プリズム42の第1のハーフミラー421を透
過した受信パルス光は、受光側光ファイバー82の受光
端82aに結合される。
【0012】なお光路切り替えチョッパ5が内部測距光
路6を選択した場合には、発光パルスは、内部測距光路
6を通って分割プリズム42に送られる。そして光パル
スは、分割プリズム42に内蔵された第1のハーフミラ
ー421と第2のハーフミラー422で反射され、受光
側光ファイバー82の受光端82aに結合される様にな
っている。
【0013】そして受光側光ファイバー82の射出端8
2bから射出された光パルスは、コンデンサレンズ3
1、32によりAPD71に結合する様になっており、
受光素子7で電流パルスに変換される様になっている。
【0014】次に本従来技術の電気回路の構成を詳細に
説明する。
【0015】図8に示す様に本従来技術は、水晶発信器
100と第1の分周器110とシンセサイザー120と
第2の分周器130とレーザダイオード1とレーザダイ
オードドライバー150とAPD71とアンプ160と
波形整形回路170とカウンタ180とピークホールド
回路190とレベル判定回路200と、バンドパスフィ
ルタ210とサンプルホールド(S/H)220と位相
測定装置10000とから構成されている。また位相測
定装置10000は、ADコンバータ300とメモリ4
00とCPU500とから構成されている。
【0016】水晶発振器100は基準信号発生手段の1
つであり、基準信号fSを発生させている。この基準信
号は、第1の分周器110とシンセサイザー120とバ
ンドパスフィルタ210とカウンタ180とに供給され
ている。第1の分周器110に供給された基準信号は、
第1の分周器110で1/(n−1)に分周されてシン
セサイザー120に送られる。シンセサイザー120
は、第1の分周器110から供給された信号をn倍し、
第2の分周器130に送出する様になっている。第2の
分周器130は、シンセサイザー120から供給された
信号を1/mに分周して測定信号fM を作っている。な
お、第1の分周器110、第2の分周器130、シンセ
サイザ120の出力信号は、2値化の信号である。
【0017】そしてレーザダイオードドライバー150
は、第2の分周器130の出力信号である測定信号fM
に従って、レーザダイオード1をパルス的に駆動するも
のである。
【0018】なお第2の分周器130の出力信号である
測定信号fM は、CPU500とカウンタ180とピー
クホールド190にも供給されている。測定信号fM
は、CPU500に対して発光確認信号となり、カウン
タ180及びピークホールド190に対してはリセット
信号の基準となる。
【0019】レーザーダイオード1から発射された光パ
ルスは、光学系を通過しAPD71で受光される。この
APD71は受光素子7の1つであり、pn接合に深い
バイアスを加えてナダレ増倍を誘起させ、利得を得るこ
とのできるダイオードである。APD71は、内部参照
光路を通った光パルスと、外部測距光路を通った光パル
スを受光する。APD71により光パルスは、電流パル
ス列の電気信号に変換され、アンプ160に送られる。
【0020】アンプ160は、APD71から入力され
た信号を増幅するものであり、アンプ160の出力信号
は、波形整形回路170により二値化のディジタルデー
タに変換され、カウンタ180とサンプルホールド(S
/H)220とADコンバータ300とに送られる。
【0021】水晶発振器100からバンドパスフィルタ
210に送られたfS は正弦波となり、サンプルホール
ド回路220に送られる。サンプルホールド回路220
は、この正弦波を波形整形回路170の信号によりサン
プルホールドする。そしてホールドされた値は、ADコ
ンバータ300に送出されAD変換され、変換されたデ
ジタルデータは予め定められたメモリ400に記憶され
る様になっている。
【0023】またアンプ160からピークホールド回路
190に送られた信号は、ピークホールド回路190に
ピークホールドされ、パルス光の波高値に応じたDCレ
ベル信号となり、レベル判定回路200に送られる。レ
ベル判定回路200はピークホールド回路190からの
信号を受け、受光パルス列の光量がAPD71、アンプ
160が適正に動作する範囲であるか否かを判定し、そ
の結果をCPU500に送る様になっている。CPU5
00は、レベル判定回路200からの信号を受け、受光
パルス列の光量が適正値である場合のみ、ADコンバー
タ300からのデータを採用する様になっている。
【0024】次に、fS = 15MHz、n=101、
m=5000 とした場合の位相関係を説明することに
する。
【0025】mダッシュ、fM 、fL の値及びその位相
関係は、(n−1)について求めれば、「数2」により
【0026】
【数5】
【0027】となる。
【0028】さらにパルス列の周波数fM は、「数1」
より、
【0029】
【数6】
【0030】となり、この時、受信されるパルス列の周
波数fM と、バンドパスフィルタ210からの正弦波の
周波数fS の位相関係は、「数3」より
【0031】
【数7】
【0032】となり、「数7」の値づつずれて、発光パ
ルスが101回で再び同一の位相関係となる。この周波
数は、「数4」より、
【0033】
【数8】
【0034】となる。
【0035】即ち、水晶発振器100から送出された1
5MHzを、バンドパスフィルタ210に通して得られ
た正弦波と、レーザダイオード1の発光周波数3030
Hzとは、少しずつずれている。このため、受信タイミ
ング信号とバンドパスフィルタ210に通して得られた
正弦波との位相関係も同様に少しずつずれている。
【0036】各発光パルス列と、バンドパスフィルタ2
10に通して得られた正弦波正弦波信号との位相関係
は、101回で1周期となる位相関係になっており、1
02回目の発光パルス列は、1回目と同じ位相関係とな
る様になっている。このため、サンプルホールド(S/
H)220の出力信号は、
【0037】 f=3030Hz/101 =30Hz
【0038】で1周期となる。
【0039】この様子を図9に基づいて詳細に説明する
こととする。図9(a)は、バンドパスフィルタ210
からの正弦波信号の周波数fS に対して、周波数fM
パルス列の位相ずれの順序を示したものである。図9
(b)は、バンドパスフィルタ210からの正弦波信号
の周波数fS と、受信されるパルス列の周波数fM との
関係を示し、更に、サンプルホールド回路220から出
力される周波数fL の段階状波形を示すものである。
【0040】以上の様に、サンプルホールド回路220
から出力される波形は、周波数fLで繰り返し、n個の
ホールド値から構成される。従ってメモリ400は、n
個以上の記憶容量が必要となる。このメモリ400は各
発光パルス毎に、CPU500によりアドレスがインク
リメントされる様に構成されており、AD変換されたデ
ータが、CPU500を介して順次メモリ400上に記
憶される。
【0041】メモリ400とCPU500とからなる演
算処理手段5000は、加算手段の機能も伴っており、
記憶されたメモリ400上の任意のアドレスのデータと
AD変換されたデータを加算し、再びメモリ400上に
記憶させることができる。そしてn+1回目以降のデー
タは1周期目と同じ位相関係になるので、レベル判定回
路200の判断が適正であれば、前回の周期のデータと
加算し、後に平均化処理を施すことにより、AD変換デ
ータの精度を向上させることができる。
【0042】即ち、サンプルホールド(S/H)220
の出力信号は、30Hzで1周期となり正弦波とならな
いが、AD変換後にメモリ400に記憶する段階で並べ
替えを実行することにより、正弦波状となるAD変換デ
ータを作ることができる。換言すれば、受信信号の周期
の1/nでない場合には、前記メモリ手段の各アドレス
のデータを並びかえることにより、受信信号の相似のデ
ータを再現することができる。
【0043】更に102回目以降の以降の発光パルス列
によるサンプルホールド及びAD変換されたデータは、
30Hzの2周期目以降のデータとなるため、レベル判
定回路200の判定結果が適正であれば前回までの周期
のデータと加算し、後にデータの平均化処理を行ってA
D変換データの精度を高めることができる。
【0044】次にメモリ400に記憶されたデータか
ら、位相を計算する方法を説明する。メモリ400に記
憶されているデータは、図9(b)のfL の波形の横軸
がメモリ400のアドレスに相当しており、fL の波形
の縦軸が、そのアドレス上のデータ値が相当する様にな
っている。
【0045】図9(b)のfL の波形は、バンドパスフ
ィルタ210からの正弦波から得られたものであり、こ
の正弦波fS に対する周波数fM のパルス列の位相ず
れ順序も既知であるから、メモリ400のアドレスを並
べ変えることにより、正弦波を復元することができる。
この復元された正弦波は、図10に示す様になってお
り、正弦波波形の位相θ0 は、正弦波波形の各データを
0(i) とした時、
【0046】
【数9】
【0047】
【数10】
【0048】
【数11】
【0049】として、求めることができる。(但し、i
=1〜n)
【0050】この演算は、サンプルホールド回路220
から出力される周波数fL の波形から、フーリエ変換の
手法により、fL の波形の基本波成分の位相を求めたこ
とに相当する。
【0051】以上の演算をメモリ400とCPU500
により実行することができる。従って位相測定装置10
000は、ADコンバータ300とメモリ400とCP
U500とから構成されていることになる。
【0052】以上の様に実行されるレーザダイオード1
の発光から、AD変換されたデータのメモリ400への
格納までの処理を、外部測距光路と内部参照光路につい
て行う。そして内部参照光路によるAD変換データと、
外部測距光路のAD変換データとの、2つの波形の位相
差φが光路差に相当することになる。
【0053】即ち、外部測距光路の位相をθ0 とし、内
部参照光路の位相をθ1 とすれば、光波距離計から被測
定物であるコーナーキューブまでの距離は、
【0054】
【数12】
【0055】となる。但し、Cは光速である。
【0056】この様にして求めた精密測定距離Lは、水
晶発振器100の基準周波数fS の時間軸を拡大して、
その位相をフーリエ変換により求めたものである。従っ
て、
【0057】(C/fS)*(1/2)
【0058】を1周期とする距離を内挿したものであ
る。従って、fS が15MHzとすると、1周期が10
mとなる。
【0059】また粗測定距離についても、外部測距光路
におけるカウンタ180のカウンター値から10mの精
度で求めることができる。即ち、水晶発振器100の基
準周波数fS をカウンタ180が、第2の分周器130
の信号から波形整形回路170の信号までの間、カウン
トするものである。そしてカウント値はCPU500に
送られ、外部測距光路のカウント値と内部参照光路のカ
ウント値の差から粗測定距離を求めることができる。
【0060】そして粗測定距離と精密測定距離を組み合
わせることにより、光波距離計から測定対象物までの実
際の距離を求めることができる。これらの動作を行う構
成が第2の演算処理手段である距離測定手段に該当する
ものである。
【0061】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
のパルス方式の光波距離計は、測定距離の到達限界付近
で、反射光の受光が困難となり、サンプルホールドする
ための測距データが不足したり、測定データの偏差が大
きくなり、このためメモリ上に記憶蓄積される蓄積デー
タが一定とならず、データのばらつきや損失が多くなる
という問題点があった。
【0062】そして、ばらつきのある測定データにフー
リエ変換を施すと、ばらつきのあるデータがそのまま演
算処理され、フーリエ変換後では誤差の除去が不可能と
なり、測定誤差が生じてしまうという問題点があった。
【0063】更に測定データの損失がある場合には、や
むを得ず損失データを0データとして補間してフーリエ
変換の演算処理がなされるが、0データの部分の重みの
偏りによるデータの偏りが発生してしまう。そして、こ
のデータの偏りにより位相誤差が生じ、最終的な測定誤
差に影響を与えるという深刻な問題点があった。
【0063】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題に鑑み
案出されたもので、パルス的に発光する光源部と、この
光源部からの光を測定対象物に対して送出するための光
学手段と、この測定対象物からの反射光を受光し、電気
信号の受信パルスに変換するための受光手段と、この受
光手段で変換された被測定周波数信号に対して、この受
信信号と同期が異なり、n回に一度同期するタイミング
信号を発生させるためのタイミング信号発生手段と、こ
のタイミング信号により前記被測定周波数信号をAD変
換してデジタル信号データを得るためのAD変換手段
と、このデジタル信号データを記憶するための記憶手段
と、この記憶手段に記憶された前記デジタル信号データ
を統計的処理し、選別を行うための第1の演算処理手段
と、前記記憶手段に記憶されたデジタル信号データをフ
ーリエ変換して位相差を検出し、距離を測定するための
第2の演算処理手段とから構成されている。
【0064】また本発明の第1の演算処理手段は、デー
タ選別演算部を含んでおり、データ選別演算部が、デジ
タル信号データの標準偏差を演算し、この標準偏差に基
づいて前記デジタル信号データの選別を行うこともでき
る。
【0065】更に本発明の第1の演算処理手段は、デー
タ選別演算部を含んでおり、データ選別演算部が、デジ
タル信号データの標準偏差を演算し、この平均偏差に基
づいて前記デジタル信号データの選別を行うこともでき
る。
【0066】そして本発明は、パルス的に発光する光源
部と、この光源部からの光を測定対象物に対して送出す
るための光学手段と、この測定対象物からの反射光を受
光し、電気信号の受信パルスに変換するための受光手段
と、この受光手段で変換された被測定周波数信号に対し
て、この受信信号と同期が異なり、n回に一度同期する
タイミング信号を発生させるためのタイミング信号発生
手段と、このタイミング信号により前記被測定周波数信
号をAD変換してデジタル信号データを得るためのAD
変換手段と、このデジタル信号データを記憶するための
記憶手段と、この記憶手段に記憶された前記デジタル信
号データの内、損失したデータを補間するための演算を
行うための第1の演算処理手段と、前記記憶手段に記憶
されたデジタル信号データをフーリエ変換して位相差を
検出し、距離を測定するための第2の演算処理手段とか
ら構成されている。
【0067】また本発明の第1の演算処理手段は、デー
タ補間演算部を含んでおり、データ補間演算部が、相加
平均公式の演算を行うことにより、失われたデータを補
間することもできる。
【0068】そして本発明の第1の演算処理手段は、デ
ータ補間演算部を含んでおり、データ補間演算部が、ラ
グランジュの補間公式による演算を行うことにより、失
われたデータを補間することもできる。
【0069】更に本発明は、パルス的に発光する光源部
と、この光源部からの光を測定対象物に対して送出する
ための光学手段と、この測定対象物からの反射光を受光
し、電気信号の受信パルスに変換するための受光手段
と、この受光手段で変換された被測定周波数信号に対し
て、この受信信号と同期が異なり、n回に一度同期する
タイミング信号を発生させるためのタイミング信号発生
手段と、このタイミング信号により前記被測定周波数信
号をAD変換してデジタル信号データを得るためのAD
変換手段と、このデジタル信号データを記憶するための
記憶手段と、この記憶手段に記憶された前記デジタル信
号データを統計的処理し、選別を行うと共に、前記デジ
タル信号データの内、損失したデータを補間するための
演算を行うための第1の演算処理手段と、前記記憶手段
に記憶されたデジタル信号データをフーリエ変換して位
相差を検出し、距離を測定するための第2の演算処理手
段とから構成されている。
【0070】また本発明の第1の演算処理手段は、デー
タ選別演算部とデータ補間演算部とから構成されてお
り、データ選別演算部は、デジタル信号データの標準偏
差又は平均偏差を演算することにより選別を行う様にな
っており、データ補間演算部は、相加平均公式又はラグ
ランジュの補間公式により、失われたデータを補間する
こともできる。
【0071】そして本発明は、第1の演算処理手段と第
2の演算処理手段とを一体に構成することもできる。
【0072】
【発明の実施の形態】以上の様に構成された本発明は、
光源部がパルス的に発光し、光学手段が光源部からの光
を測定対象物に対して送出し、受光手段が、測定対象物
からの反射光を受光し、電気信号の受信パルスに変換
し、タイミング信号発生手段が、受光手段で変換された
被測定周波数信号に対して、この受信信号と同期が異な
り、n回に一度同期するタイミング信号を発生させ、A
D変換手段が、タイミング信号により被測定周波数信号
をAD変換してデジタル信号データとし、記憶手段が、
デジタル信号データを記憶し、第1の演算処理手段が、
記憶手段に記憶されたデジタル信号データを統計的処理
して選別を行い、第2の演算処理手段が、記憶手段に記
憶されたデジタル信号データをフーリエ変換して位相差
を検出し、距離を測定する様になっている。
【0073】また本発明の第1の演算処理手段は、デー
タ選別演算部を含んでおり、データ選別演算部が、デジ
タル信号データの標準偏差を演算し、標準偏差に基づい
てデジタル信号データの選別を行う様になっている。
【0074】更に本発明の第1の演算処理手段は、デー
タ選別演算部を含んでおり、データ選別演算部が、デジ
タル信号データの標準偏差を演算し、平均偏差に基づい
てデジタル信号データの選別を行う様になっている。
【0075】そして本発明は、第1の演算処理手段が、
記憶手段に記憶されたデジタル信号データの内、損失し
たデータを補間するための演算を行い、第2の演算処理
手段が、記憶手段に記憶されたデジタル信号データをフ
ーリエ変換して位相差を検出し、距離を測定する様にな
っている。
【0076】また本発明の第1の演算処理手段は、デー
タ補間演算部を含んでおり、データ補間演算部が、相加
平均公式による演算を行うことにより、失われたデータ
を補間する様になっている。
【0077】そして本発明の第1の演算処理手段は、デ
ータ補間演算部を含んでおり、データ補間演算部が、ラ
グランジュの補間公式による演算を行うことにより、失
われたデータを補間する様になっている。
【0078】更に本発明は、第1の演算処理手段が、記
憶手段に記憶されたデジタル信号データを統計的処理し
て選別を行うと共に、デジタル信号データの内、損失し
たデータを補間するための演算を行い、第2の演算処理
手段が、記憶手段に記憶されたデジタル信号データをフ
ーリエ変換して位相差を検出し、距離を測定する様にな
っている。
【0079】また本発明の第1の演算処理手段は、デー
タ選別演算部とデータ補間演算部とから構成されてお
り、データ選別演算部は、デジタル信号データの標準偏
差又は平均偏差を演算することにより選別を行い、デー
タ補間演算部は、相加平均公式又はラグランジュの補間
公式により、失われたデータを補間する様になってい
る。
【0080】そして本発明は、第1の演算処理手段と第
2の演算処理手段とを一体に構成することもできる。
【0081】「原理」
【0082】まず、本発明の原理を説明する。
【0083】測定データのバラツキによる計測誤差を除
去するためには、測定データの中からバラツキのある測
定データを取り除く必要がある。そして、取り除かれた
バラツキのあるデータや、損失したままのデータは、何
らかの手段により補間する必要がある。
【0084】本発明は、バラツキのある測定データから
精度の高いデータを選択すると共に、損失したデータが
ある場合には、損失部分を補間する様になっている。こ
こで選択され、又は補間されたデータは、再びメモリに
記憶された後、補正された測定データとしてフーリエ変
換する様になっている。
【0085】測定データの選別としては、測定データに
おける母集団の平均及び分散(平方偏差)から概算値を
算出し、これを最確値として測定データを選択し、フー
リエ変換に用いる様になっている。即ち、概算値を最頻
値(モード、並み数)とし、最も多数の要素を取る変量
の値を最確値とする。
【0086】また、粗測定が全体的にバラツキを有する
場合には、最確値が真値から離れてしまう場合が考えら
れるので、予めデータ選別の検定幅を設定し、この検定
幅の中から選別する様になっている。
【0087】更に、測定データが少ない場合も考えられ
るので、データ数を選別するか否かの下限を定めてい
る。
【0088】「第1の原理」
【0089】まず、粗測定と精測定の1周期分の各点の
対応を明確化する。例えば、1周期に対して100ポイ
ントの各点を定め、粗測定のセット数の同じ部分から各
々のデータの平均値E(X)と標準偏差S(X)を求め
る。
【0090】ここで、確率変数をX{xi|n=0、
1、2・・・・・}すれば、平均値E(X)は、
【0091】 E(X)=シグマ(xi/n) ・・・・・ 第1式
【0092】であり、
【0093】標準偏差S(X)は、
【0094】 S(X)=(シグマ(xi−E(X))20.5/n ・・・・・ 第2式
【0095】となる。なお、シグマは総和記号であり、
第1式及び第2式では、i=1〜nの総和である。
【0096】また、分散(平方偏差)をV(X)とすれ
ば、
【0097】 V(X)=S(X)2 ・・・・・ 第3式
【0098】となる。
【0099】即ち、平均値E(X)を第1式から求め、
標準偏差S(X)を第2式から求め、分散(平方偏差)
V(X)を第3式から求めることができる。
【0100】これらの測定データは、一般的にランダム
性を有するので、測定データの分布状態は正規分布と考
えることができる。そして、正規部分の中心から左右に
1シグマ(標準偏差)に等しい幅を取り、この幅から外
れたデータを棄却して、残った確からしい測定値のみを
選択することができる。
【0101】但し、有効とする幅を1シグマ(標準偏
差)とした場合には、有効な幅はデータのばらつきの程
度により変化する。従って、光波距離計の測定限界近辺
では、データのばらつきが大きくなると予想されるた
め、1シグマ(標準偏差)の値も大きくなり、測定デー
タの絞り込みが荒くなって計測誤差を減少させる効果が
低下する。
【0102】そこで、1シグマ(標準偏差)の範囲にも
制限値を設け、シグマ(標準偏差)が制限値以内である
場合に統計処理を行う様にすることができる。
【0103】「第2の原理」
【0104】第1の原理と同様に、測定データの分布状
態が正規分布と仮定すれば、標準偏差に代えて平均偏差
Mdを採用することができる。
【0105】平均偏差Mdは、
【0106】 Md=(シグマ|xi−E(X)|)/n ・・・・・ 第4式
【0107】であり、測定データの分布状態が正規分布
である場合には、標準偏差の代わりに平均偏差Mdを用
いることができる。なお平均偏差Mdは、標準偏差Sの
4/5となる。
【0108】また上記平均偏差Mdは、測定データが正
規分布であると仮定しているので、実際の測定データが
正規分布であるか否かを検定する必要がある。
【0109】ここで、歪度α3は、ヒズミ(SKEWN
ESS)であり、母集団分布の非対象性を示すものであ
る。正規分布である場合には、α3=0となり、α3>0
の場合にはピーク分布が左寄りになり、α3<0の場合
にはピーク分布は右寄りとなる。
【0110】そして、尖度α4は、トガリ(KURTO
SIS)であり、母集団分布の中心に対する集まり具合
を示している。正規分布である場合には、α4=3とな
り、α4>3の場合には正規分布よりも中心に集まって
いる状態を示し、α4<0の場合には、正規分布よりも
中心から離散している状態を示している。
【0111】歪度α3と尖度α4の値が、予め規定した値
に適合しない場合には、その測量データを採用しないこ
ととする。
【0112】次に、損失されたデータの補間について説
明する。
【0113】測距されたデータは、必ずしも測距データ
となるわけでなく、ピークホールド回路により選択され
たデータが計測される測距データとなる。この計測され
る測距データは、サンプリングされてサンプリングデー
タとなり、正弦波の形状で取り出される。ピークホール
ド回路により選択されなかったデータは、サンプリング
データの喪失したデータとなる。
【0114】そこで、損失されたサンプリングデータを
波形の形状部分に応じた公式を採用することにより、デ
ータを補間することができる。
【0115】「第3の原理」
【0116】サンプルホールド信号によって得られた一
連の測定データは、AD変換器によりデジタルデータに
変換されるが、そのデータ群の総数をn個とし、第i番
目のデータが損失している時は、補間されるデータをN
iとすると、
【0117】 Ni=(Ni+1+Ni-1)/2 ・・・・・第5式
【0118】とする。即ち、第(i−1)番目の値と、
第(i+1)番目の値の平均値を第i番目の値として補
間する。
【0119】次に、連続してデータが欠損している場合
を考察する。即ち、実際にデータが欠損する場合には、
連続して複数のデータが欠損する場合が多いからであ
る。
【0120】ここで、Niまでデータが存在し、Ni+1
らNi+aまでa個連続してデータが損失しているとすれ
ば、
【0121】 Ni+1=Ni+((Ni+a−Ni)/(a+1))=(Ni+a+aNi)/(a+ 1)
【0122】 ・・・・・・第6式
【0123】 Ni+2=Ni+2*((Ni+a−Ni)/(a+1)) =(2Ni+a+(a+1)Ni)/(a+1)
【0124】 ・・・・・・第7式
【0125】 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・
【0126】 Ni+a=Ni+a*((Ni+a−Ni)/(a+1)) =(aNi+a+Ni)/(a+1) ・・・・・・第8式
【0127】に示す様な相加平均操作を行うことによ
り、失われたデータを補間することができる。なお、N
i+aは連続して失われたデータの内、最後のデータであ
る。
【0128】そして、図5のAに示す付近では、上記第
5式〜第8式による補間が的確となるが、図5のBに示
す付近では、上記第5式〜第8式による補間では、適切
な補間とはならず、失われたデータを精度よく再現する
ことができない。なぜならば、上記第5式〜第8式が、
相加平均という簡単な直線近似を適用しているからであ
る。
【0129】「第4の原理」
【0130】そこで、相加平均を用いずに、2次曲線近
似を使用して図5のBに示す付近を補間する第4の原理
を説明する。
【0131】ここでは、ラグランジェの補間公式を用い
て、失われたデータの再現を行う方法を例に説明する。
【0132】ラグランジェの補間公式は、差分法を応用
したものであり、下記の様に表される。
【0133】f(x)=(((x−x1)(x−x2)・
・・・・(x−xn))/((x0−x1)(x0−x2
・・・・(x0ーxn)))*f(x0)+(((x−
0)(x−x2)・・・・・(x−xn))/((x1
0)(x1−x2)・・・・(x1ーxn)))*f
(x1)+・・・・・・・・・+(((x−x0)(x−
1)・・・・・(x−xn-1))/((xn−x0)(x
n−x1)・・・・(xnーxn-1)))*f(xn
【0134】ここで、2次のラグランジェの補間公式
は、n=2となるので、
【0135】f(x)=(((x−x1)(x−x2))
/((x0−x1)(x0−x2)))*f(x0)+
(((x−x0)(x−x2))/((x1−x0)(x1
−x2)))*f(x1)+(((x−x0)(x−
1))/((x2−x0)(x2−x1)))*f(x2
【0136】・・・・・・第9式
【0137】となる。
【0138】ここで、具体的に2次のラグランジェの補
間公式を説明する。
【0139】測定関数をsin関数とし、1周期を10
0等分したとすると、
【0140】f(x)=SIN(2*π*x/100)
【0141】となる。但し、振幅は正規化しているもの
とする。
【0142】既知点を x0=15、x1=35、x2
50
【0143】とすれば、
【0144】f(x0)=f(15)=SIN(2*π
*15/100)=0.809017
【0145】f(x1)=f(35)=SIN(2*π
*35/100)=0.809017
【0146】f(x2)=f(50)=SIN(2*π
*50/100)=0
【0147】であるから、f(25)を求めるとする
と、第9式に代入して、
【0148】f(20)=(((25−35)(25−
50))/((15−35)(15−50)))*0.
809017+(((25−15)(25−50))/
((35−15)(35−50)))*0.80901
7+(((25−15)(25−35))/((50−
15)(50−35)))*0 =0.963116
【0149】となる。
【0150】なお、通常の算術平均fmean(x)と比較
すると、
【0151】 fmean(x)=(f(x0)+f(x1)+f(x2))/3 =(f(15)+f(35)+f(50))/3 =(0.809017+0.809017+0)/3 =0.539345
【0152】となる。
【0153】ここで、f(25)の真値を求めると、
【0154】f(25)=SIN(2*π*25/10
0)=1.00
【0155】であるから、2次のラグランジェの補間公
式による誤差量をELAとし、通常の算術平均の誤差量を
MEとすれば、
【0156】 ELA=f(20)−1.00=0.963116−1.00 =−0.036884
【0157】 EME=((f(15)+f(35)+f(50))/3)−1.00 =0.539345−1.00 =−0.460655
【0158】となる。従って、通常の算術平均の誤差量
MEは、2次のラグランジェの補間公式による誤差量E
LAと比較して、約12.5倍も誤差が大きくなってしま
うことが判る。
【0159】そして、使用するコンピューターの有効桁
を10bitとすると、10進数に対応させると、10
進数n桁とすると、
【0160】210=10n
【0161】であるから、
【0162】n=10*LOG2=3.01
【0163】となり、10進数で1桁精度が異なると
は、2進数で3〜4ビット精度が異なることを意味す
る。
【0164】以上の考察から、2次のラグランジェの補
間公式は、通常の算術平均より極めて優れた補間公式で
あると言える。
【0165】なお、ラグランジェの補間公式は、多変数
関数(n次の多項式)であるから、計算過程が複雑化
し、距離測定装置に採用する場合には、演算処理手段に
対して過大負担を掛ける場合がある。従って、演算時間
を短縮させるためには、多項式の次数を大きくしないこ
とが望ましい。
【0166】上述の様な有効桁精度を要求する場合に
は、2次から3次程度のラグランジェの補間公式を使用
すればよい。
【0167】なお補間公式は、ラグランジェの補間公式
に限る事なく、アイトケンの補間公式や、ネブィルの補
間公式等を採用してもよい。
【0168】アイトケンの補間公式やネブィルの補間公
式は、次数を必要精度に応じて可変する際、項数を増大
させるだけでよく、他の部分を大きく書換なくとも済む
という効果がある。
【0169】次に、光波距離計において、補間を行うデ
ータに関しては、
【0170】 f(x)=SIN(ωt+φ) ・・・・・・第10式
【0171】の関係があり、光波距離計ではφを求める
様になっている。
【0172】例えば、対称点が存在する場合には、対称
点を補う方法も考えられる。具体的に説明すると、
【0173】 f(x)=SIN(2*π*x/100+φ) ・・・・・・第11式
【0174】と言う測定関数において、x=25におけ
る測定点が不明であるとすれば、x=50が半周期に相
当するから、25+50であるf(75)を第11式に
代入して求め、得られた値の絶対値を取ることができ
る。
【0175】更に、xが折り返し点を含む4分の1周期
分の測点がある場合には、対称な点に着目することによ
り、置き換え可能な点が最大3箇所存在する。
【0176】例えば、図6のa点に関しては、b、c、
dの三つの対称点が存在する。但し、ここで対称とは、
軸対称、線対称の双方を含むものとする。また、符号に
関しては、合理的な符号とする必要がある。
【0177】更に、測定データから未知数を補間公式等
により求める場合には、最小測定データ数は、サンプリ
ングの定理に従う。従って最小測点数は2ポイントとな
る。しかしながら現実の測定環境では、測点数が少ない
場合は到達限界距離付近であると考えられ、最小測点数
である2ポイントでは、一意的に曲線群を決定すること
は極めて困難である。
【0178】そして、データの連続不存在数に関して
も、測定精度と使用する補間公式から決定される。
【0179】また現実の計算データでは、データ群の各
々のポイントにおいて、S個のデータを使用して、S個
のデータの算術平均を演算し、この算術平均値を各ポイ
ントのデータとすることもできるが、それぞれの各ポイ
ントのデータ数(セット数)が異なるので、データの重
みに差ができる。
【0180】そこで、先の基本波に当て込みを行う際
に、データ数の多い順に優先順位を決定し、特定の場所
のデータに関しては、実際の測定データを用いることな
く、補間公式から得られたデータを使用することによ
り、計算精度を向上させることができる。
【0181】そして、補間公式自体は定められた計算精
度を有しているが、実際に適用されるデータは機械内の
誤差を含む測定誤差を有しており、これらの誤差を含む
データを使用して補間計算を実行した場合には、誤差が
増大する可能性がある。
【0182】そこで、前述した対称点補間と補間公式を
併用して補間演算を行うことにより、測定誤差の影響を
減縮させることができる。これは測定誤差が、対称点補
間により対称位置に配置されることから、全体として誤
差分を相殺することができるからである。
【0183】また、測点に対する関数型が明かであれ
ば、未知関数の補間方法として、予測子ー修正子法(P
redictorーCorrector Metho
d)、即ち、PC法を採用することができる。
【0184】これは、yn+1=yn+h/2(yn+1’+
n’)を用い、yn+1を求め、最初の推定値を修正する
ものである。このため、フィードバック機能が働き、誤
差の累積を防止することができる。
【0185】なお、予測子ー修正子法(PC法)に限ら
ず、ミルン(Milne)の方法等、常微分方程式の数
値解法は、未知の関数f(x)を(具体的には、関数
式)求めるものであるから、未知関数の補間方法として
適用することができる。
【0186】「実施例」
【0187】図1に示す様に本実施例の電気的構成は、
図8に示すパルス方式の光波距離計と略同一な電気的構
成を有しており、水晶発信器100と第1の分周器11
0とシンセサイザー120と第2の分周器130とレー
ザダイオード1とレーザダイオードドライバー150と
APD71とアンプ160と波形整形回路170とカウ
ンタ180とピークホールド回路190とレベル判定回
路200と、バンドパスフィルタ210とサンプルホー
ルド(S/H)220と位相測定装置10000とから
構成されている。また位相測定装置10000は、AD
コンバータ300とメモリ400とCPU500とから
構成されている。
【0188】本実施例のメモリ400とCPU500と
からなる演算処理手段5000が、従来技術と異なって
おり、この改良された演算処理手段5000を説明する
ことにする。
【0189】演算処理手段5000は図2に示す様に、
演算精度を向上させるための数値演算を行うための第1
の演算処理手段5100と、位相差から距離を演算する
ための演算精度を向上させるための第2の演算処理手段
5200とから構成されている。
【0190】第1の演算処理手段5100は、データ選
別演算部5110と、データ補間演算部5120とから
構成されている。
【0191】第2の演算処理手段5200は、従来技術
で説明した位相差から距離を算出する演算を行ってい
る。
【0192】データ選別演算部5110は、測定データ
における母集団の平均及び分散(平方偏差)等を求め、
データの選別を行うためのものである。
【0193】データ補間演算部5120は、損失された
サンプリングデータを波形の形状部分に応じた補間公式
を採用することにより、データの補間を行うものであ
る。
【0194】次に、第1の演算処理手段5100の動作
を図3に基づいて詳細に説明する。図3はデータ選別を
行うためのもので、第1の演算処理手段5100の内、
データ選別演算部5110が実行する。
【0195】まず、第1ステップ(以下、S1と略す
る)で、検定幅等を決定する。即ち、検定幅や、データ
の選別を実行する最低のデータ数等を設定する。
【0196】次にS2では、測定データが検定幅に入っ
ているか、最低データ数を満たしているか否かを判断す
る。条件を満たしている場合にはS3に進み、満たして
いない場合には、選別を実行せず、S7に進んで、デー
タ補間演算部5120によるデータの補間を行う。
【0197】S3では、「第1の原理」で説明した第2
式、第3式に基づいて、標準偏差S(X)、分散V
(X)を算出する。
【0198】そしてS4では、標準偏差S(X)が定め
られた範囲内にあるか否かを判断し、標準偏差S(X)
が定められた範囲内にある場合にはS5に進み、標準偏
差S(X)が定められた範囲内にない場合には、選別を
実行せず、データ補間演算部5120によるデータの補
間を行う。
【0199】S5では、有効とする幅を1シグマ(標準
偏差)とし、1シグマ(標準偏差)内のデータを選択
し、他のデータを棄却する。S6では、S5で選択され
たデータを使用して、第2の演算処理手段5200が距
離を演算する様になっている。
【0200】なおS7で、データ補間演算部5120に
よるデータの補間を行った後、S6に進んで、第2の演
算処理手段5200が距離を演算する様になっている。
【0201】なお図3の実施例では、標準偏差S(X)
を使用しているが、標準偏差S(X)に代えて、「第2
の原理」の第4式として説明した平均偏差Mdを用いる
こともできる。
【0202】次に、図3のS7で示されたデータの補間
について図4に基づいて説明する。図4は、損失された
サンプリングデータを波形の形状部分に応じた補間公式
を採用することにより、データの補間を行うものであ
り、第1の演算処理手段5200の内、データ補間演算
部5120が実行する。
【0203】まずS1では、「第3の原理」の第5式で
説明した相加平均操作により、失われたデータの補間を
行う。
【0204】即ち、サンプルホールド信号によって得ら
れた一連の測定データは、ADコンバータ300により
デジタルデータに変換され、データ補間演算部5120
のメモリ400とCPU500とにより、相加平均演算
が実行される。
【0205】次にS2では、前述した対称点を利用した
補間も実行する。そしてS3に進んで、補間操作を終了
する。
【0206】なお本実施例では、棄却されたデータの補
間に相加平均操作を使用しているが、相加平均操作に代
えて、「第4の原理」で説明したラグランジェの補間公
式を採用することもできる。
【0207】更に、予測子ー修正子法(PC法)や、ミ
ルン(Milne)の方法等、常微分方程式の数値解法
を、未知関数の補間方法として適用することもできる。
【0208】
【発明の効果】以上の様に構成された本発明は、パルス
的に発光する光源部と、この光源部からの光を測定対象
物に対して送出するための光学手段と、この測定対象物
からの反射光を受光し、電気信号の受信パルスに変換す
るための受光手段と、この受光手段で変換された被測定
周波数信号に対して、この受信信号と同期が異なり、n
回に一度同期するタイミング信号を発生させるためのタ
イミング信号発生手段と、このタイミング信号により前
記被測定周波数信号をAD変換してデジタル信号データ
を得るためのAD変換手段と、このデジタル信号データ
を記憶するための記憶手段と、この記憶手段に記憶され
た前記デジタル信号データを統計的処理し、選別を行う
ための第1の演算処理手段と、前記記憶手段に記憶され
たデジタル信号データをフーリエ変換して位相差を検出
し、距離を測定するための第2の演算処理手段とから構
成されているので、粗測定のカウント値より確からしい
測定点を求めて、その測定点を用いて精度の高い精測定
を行うことができるという卓越した効果がある。
【0209】更に本発明は、記憶手段に記憶された前記
デジタル信号データの内、損失したデータを補間するた
めの演算を行うための第1の演算処理手段と、前記記憶
手段に記憶されたデジタル信号データをフーリエ変換し
て位相差を検出し、距離を測定するための第2の演算処
理手段とから構成されているので、失われたデータを誤
差の累積を防止しつつ、補間することができ、精度の高
い距離測定を行うことができるという卓越した効果があ
る。
【0210】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の電気的構成を示す図である。
【図2】本実施例の演算処理手段5000の構成を示す
図である。
【図3】本実施例のデータ選別演算部5110の動作を
説明する図である。
【図4】本実施例のデータ補間演算部5120の動作を
説明する図である。
【図5】データ補間を説明する図である。
【図6】対称点補間を説明する図である。
【図7】従来技術の光学的構成を説明する図である。
【図8】従来技術の電気的構成を説明する図である。
【図9】従来技術を説明する図である。
【図10】従来技術を説明する図である。
【符号の説明】
1 レーザダイオード 2 コンデンサレンズ 3 コンデンサレンズ 41 分割プリズム 42 分割プリズム 5 光路切り替えチョッパ 71 APD 8 遅延用光ファイバー 9 プリズム 10 対物レンズ 11 コーナーキューブ 160 アンプ 170 波形整形回路 180 カウンタ 190 ピークホールド回路 200 レベル判定回路 220 サンプルホールド回路 300 ADコンバータ 400 メモリ 500 CPU 5000 演算処理手段 5100 第1の演算処理手段 5110 データ選別演算部 5120 データ補間演算部 5200 第2の演算処理手段 10000 位相測定装置
【数1】
【数2】
【数3】
【数4】
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成8年1月18日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図2
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】
【手続補正3】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図4
【補正方法】変更
【補正内容】
【図4】
【手続補正4】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図5
【補正方法】変更
【補正内容】
【図5】
【手続補正5】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図6
【補正方法】変更
【補正内容】
【図6】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斉藤 武重 東京都板橋区蓮沼町75番1号 株式会社ト プコン内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パルス的に発光する光源部と、この光源
    部からの光を測定対象物に対して送出するための光学手
    段と、この測定対象物からの反射光を受光し、電気信号
    の受信パルスに変換するための受光手段と、この受光手
    段で変換された被測定周波数信号に対して、この受信信
    号と同期が異なり、n回に一度同期するタイミング信号
    を発生させるためのタイミング信号発生手段と、このタ
    イミング信号により前記被測定周波数信号をAD変換し
    てデジタル信号データを得るためのAD変換手段と、こ
    のデジタル信号データを記憶するための記憶手段と、こ
    の記憶手段に記憶された前記デジタル信号データを統計
    的処理し、選別を行うための第1の演算処理手段と、前
    記記憶手段に記憶されたデジタル信号データをフーリエ
    変換して位相差を検出し、距離を測定するための第2の
    演算処理手段とからなる距離測定装置。
  2. 【請求項2】 第1の演算処理手段には、データ選別演
    算部を含んでおり、データ選別演算部が、デジタル信号
    データの標準偏差を演算し、この標準偏差に基づいて前
    記デジタル信号データの選別を行う請求項1記載の距離
    測定装置。
  3. 【請求項3】 第1の演算処理手段には、データ選別演
    算部を含んでおり、データ選別演算部が、デジタル信号
    データの標準偏差を演算し、この平均偏差に基づいて前
    記デジタル信号データの選別を行う請求項1記載の距離
    測定装置。
  4. 【請求項4】 パルス的に発光する光源部と、この光源
    部からの光を測定対象物に対して送出するための光学手
    段と、この測定対象物からの反射光を受光し、電気信号
    の受信パルスに変換するための受光手段と、この受光手
    段で変換された被測定周波数信号に対して、この受信信
    号と同期が異なり、n回に一度同期するタイミング信号
    を発生させるためのタイミング信号発生手段と、このタ
    イミング信号により前記被測定周波数信号をAD変換し
    てデジタル信号データを得るためのAD変換手段と、こ
    のデジタル信号データを記憶するための記憶手段と、こ
    の記憶手段に記憶された前記デジタル信号データの内、
    損失したデータを補間するための演算を行うための第1
    の演算処理手段と、前記記憶手段に記憶されたデジタル
    信号データをフーリエ変換して位相差を検出し、距離を
    測定するための第2の演算処理手段とからなる距離測定
    装置。 【請求項4】 第1の演算処理手段には、データ補間演
    算部を含んでおり、データ補間演算部が、相加平均公式
    による演算を行うことにより、失われたデータを補間す
    る請求項3記載の距離測定装置。
  5. 【請求項5】 第1の演算処理手段には、データ補間演
    算部を含んでおり、データ補間演算部が、ラグランジュ
    の補間公式による演算を行うことにより、失われたデー
    タを補間する請求項3記載の距離測定装置。
  6. 【請求項6】 パルス的に発光する光源部と、この光源
    部からの光を測定対象物に対して送出するための光学手
    段と、この測定対象物からの反射光を受光し、電気信号
    の受信パルスに変換するための受光手段と、この受光手
    段で変換された被測定周波数信号に対して、この受信信
    号と同期が異なり、n回に一度同期するタイミング信号
    を発生させるためのタイミング信号発生手段と、このタ
    イミング信号により前記被測定周波数信号をAD変換し
    てデジタル信号データを得るためのAD変換手段と、こ
    のデジタル信号データを記憶するための記憶手段と、こ
    の記憶手段に記憶された前記デジタル信号データを統計
    的処理し、選別を行うと共に、前記デジタル信号データ
    の内、損失したデータを補間するための演算を行うため
    の第1の演算処理手段と、前記記憶手段に記憶されたデ
    ジタル信号データをフーリエ変換して位相差を検出し、
    距離を測定するための第2の演算処理手段とからなる距
    離測定装置。
  7. 【請求項7】 第1の演算処理手段は、データ選別演算
    部とデータ補間演算部とから構成されており、データ選
    別演算部は、デジタル信号データの標準偏差又は平均偏
    差を演算することにより選別を行う様になっており、デ
    ータ補間演算部は、相加平均公式又はラグランジュの補
    間公式により、失われたデータを補間する請求項6記載
    の距離測定装置。
  8. 【請求項8】 第1の演算処理手段と第2の演算処理手
    段とが一体に構成されている請求項1〜7記載の距離測
    定装置。
JP7228576A 1995-08-14 1995-08-14 距離測定装置 Pending JPH0954157A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7228576A JPH0954157A (ja) 1995-08-14 1995-08-14 距離測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7228576A JPH0954157A (ja) 1995-08-14 1995-08-14 距離測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0954157A true JPH0954157A (ja) 1997-02-25

Family

ID=16878536

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7228576A Pending JPH0954157A (ja) 1995-08-14 1995-08-14 距離測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0954157A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012021949A (ja) * 2010-07-16 2012-02-02 Topcon Corp 測定装置
JP2012506994A (ja) * 2008-07-15 2012-03-22 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド 映像処理方法
KR20200037148A (ko) * 2017-07-27 2020-04-08 블랙모어 센서스 앤드 애널리틱스, 엘엘씨 광학적 처프형 거리 검출을 위해 사각파 디지털 처프 신호를 사용하기 위한 방법 및 시스템

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012506994A (ja) * 2008-07-15 2012-03-22 サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド 映像処理方法
JP2012021949A (ja) * 2010-07-16 2012-02-02 Topcon Corp 測定装置
KR20200037148A (ko) * 2017-07-27 2020-04-08 블랙모어 센서스 앤드 애널리틱스, 엘엘씨 광학적 처프형 거리 검출을 위해 사각파 디지털 처프 신호를 사용하기 위한 방법 및 시스템
KR20210153766A (ko) * 2017-07-27 2021-12-17 블랙모어 센서스 앤드 애널리틱스, 엘엘씨 광학적 처프형 거리 검출을 위해 사각파 디지털 처프 신호를 사용하기 위한 방법 및 시스템
US11579292B2 (en) 2017-07-27 2023-02-14 Blackmore Sensors & Analytics, Llc Method and system for using square wave digital chirp signal for optical chirped range detection

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9347773B2 (en) Highly accurate distance measurement device
Maatta et al. A high-precision time-to-digital converter for pulsed time-of-flight laser radar applications
EP2198323B1 (en) Time delay estimation
US5619317A (en) Light-wave distance meter based on light pulses
US5289135A (en) Pulse phase difference encoding circuit
US20090235127A1 (en) Time lag measuring device, distance measuring apparatus and distance measuring method
EP1808671B1 (en) Time difference measuring device, measuring method, distance measuring device, and distance measuring method
JP3911575B2 (ja) パルス方式の光波距離計
JP3141120B2 (ja) 位相測定装置及び距離測定装置
JP2940559B2 (ja) 変位検出装置
JPH0954157A (ja) 距離測定装置
JP3089332B2 (ja) 光波距離計
JP3508113B2 (ja) パルス方式の光波距離計
JPH05232229A (ja) パルス信号検出装置及び光波距離計
JP2004264116A (ja) 光波距離計
CN112212783A (zh) 基于动态响应时间测量法的鉴相系统及方法
RU2338212C1 (ru) Способ определения угла сдвига фаз между двумя сигналами, представленными цифровыми отсчетами
JPH04339289A (ja) レーザ測距装置
JPH0820219B2 (ja) 寸法測定装置
RU2099865C1 (ru) Способ измерения временных интервалов
CN116009376A (zh) 进位链计时校准方法、装置、设备及存储介质
CN117968820A (zh) 激光测振仪的振动信号解算方法及系统
JPH0450706A (ja) スペックル測長計及び測長方法
JPH06160196A (ja) 位相測定装置と距離測定装置
JPH10170652A (ja) パルス光時間間隔計測方式およびパルス光時間間隔計測方法

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040601

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040727

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20041102

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20041210