JPH0954072A - クロマトグラフのデータ処理装置 - Google Patents
クロマトグラフのデータ処理装置Info
- Publication number
- JPH0954072A JPH0954072A JP7233241A JP23324195A JPH0954072A JP H0954072 A JPH0954072 A JP H0954072A JP 7233241 A JP7233241 A JP 7233241A JP 23324195 A JP23324195 A JP 23324195A JP H0954072 A JPH0954072 A JP H0954072A
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- Japan
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- Pending
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ピークが検出されてもそれがノイズの可能性
の高いものである場合には定量を行なわないようにする
ことによって、求められた定量データの信頼性を高め
る。 【解決手段】 ピーク検出部２はクロマトグラフからの
検出信号について波形処理パラメータに基づいてピーク
を検出し、そのピークの面積、保持時間又はスペクトル
などのデータを求め、データ記憶部４はそのデータを記
憶する。同定部８は条件記憶部６に記憶されているピー
ク同定条件に基づき、ピーク検出部２で求められたピー
クの同定を行ない、Ｓ／Ｎ値算出・比較部１０は同定部
８で同定されたピークについてＳ／Ｎ値を算出し、条件
記憶部６に記憶されている最小Ｓ／Ｎ値と比較する。定
量部１２はＳ／Ｎ値算出・比較部１０で最小Ｓ／Ｎ値よ
り大きいＳ／Ｎ値をもつと判定されたピークについての
みデータ記憶部４に記憶されているデータから定量を行
なう。
の高いものである場合には定量を行なわないようにする
ことによって、求められた定量データの信頼性を高め
る。 【解決手段】 ピーク検出部２はクロマトグラフからの
検出信号について波形処理パラメータに基づいてピーク
を検出し、そのピークの面積、保持時間又はスペクトル
などのデータを求め、データ記憶部４はそのデータを記
憶する。同定部８は条件記憶部６に記憶されているピー
ク同定条件に基づき、ピーク検出部２で求められたピー
クの同定を行ない、Ｓ／Ｎ値算出・比較部１０は同定部
８で同定されたピークについてＳ／Ｎ値を算出し、条件
記憶部６に記憶されている最小Ｓ／Ｎ値と比較する。定
量部１２はＳ／Ｎ値算出・比較部１０で最小Ｓ／Ｎ値よ
り大きいＳ／Ｎ値をもつと判定されたピークについての
みデータ記憶部４に記憶されているデータから定量を行
なう。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はガスクロマトグラ
フ、ガスクロマトグラフ／マススペクトロメータ、高速
液体クロマトグラフなどのクロマト分離分析装置におけ
るデータ処理装置に関するものである。
フ、ガスクロマトグラフ／マススペクトロメータ、高速
液体クロマトグラフなどのクロマト分離分析装置におけ
るデータ処理装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ガスクロマトグラフなどのクロマトグラ
フで未知試料を分析して定量値を得るためには、まず標
準試料を分析して定量したい化合物（ターゲット化合
物）の保持時間や、質量数、スペクトルなどのピーク同
定のための条件を決定する。未知試料の分析に当って、
それらの決定したピーク同定条件をもとにして未知試料
のクロマトグラムのピークを同定する。例えば、保持時
間を使ってピークを同定する場合、標準試料を分析して
ターゲット化合物の保持時間を決定し、その変動範囲を
設定しておき、未知試料のクロマトグラムにおいてその
変動範囲内のピークをターゲット化合物と同定し、その
定量値を求める。
フで未知試料を分析して定量値を得るためには、まず標
準試料を分析して定量したい化合物（ターゲット化合
物）の保持時間や、質量数、スペクトルなどのピーク同
定のための条件を決定する。未知試料の分析に当って、
それらの決定したピーク同定条件をもとにして未知試料
のクロマトグラムのピークを同定する。例えば、保持時
間を使ってピークを同定する場合、標準試料を分析して
ターゲット化合物の保持時間を決定し、その変動範囲を
設定しておき、未知試料のクロマトグラムにおいてその
変動範囲内のピークをターゲット化合物と同定し、その
定量値を求める。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の定量方法では、
ノイズが誤ってピークとして検出され、そのピークがタ
ーゲット化合物のピークであると同定された場合、その
ノイズピークの面積から定量値が求められてしまう。ノ
イズをピークとして検出されないようにするには、クロ
マトグラムの波形処理パラメータのピーク検出感度を低
くすればよいが、その場合には濃度の低いターゲット化
合物のピークが検出されないという不都合が生じる。そ
こで、本発明はピークが検出されてもそれがノイズの可
能性の高いものである場合には定量を行なわないように
することによって、求められた定量データの信頼性を高
めることを目的とするものである。
ノイズが誤ってピークとして検出され、そのピークがタ
ーゲット化合物のピークであると同定された場合、その
ノイズピークの面積から定量値が求められてしまう。ノ
イズをピークとして検出されないようにするには、クロ
マトグラムの波形処理パラメータのピーク検出感度を低
くすればよいが、その場合には濃度の低いターゲット化
合物のピークが検出されないという不都合が生じる。そ
こで、本発明はピークが検出されてもそれがノイズの可
能性の高いものである場合には定量を行なわないように
することによって、求められた定量データの信頼性を高
めることを目的とするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明ではピーク同定後
に同定されたピークのＳ／Ｎ（信号対ノイズの比）値を
計算し、検出下限のＳ／Ｎ値（最小Ｓ／Ｎ値）と比較し
てその検出下限以上のピークについてのみ定量値を求め
るようにする。これによりたとえノイズがピーク検出さ
れターゲット化合物であると同定されてもその定量値が
計算されないことによって信頼性を高める。
に同定されたピークのＳ／Ｎ（信号対ノイズの比）値を
計算し、検出下限のＳ／Ｎ値（最小Ｓ／Ｎ値）と比較し
てその検出下限以上のピークについてのみ定量値を求め
るようにする。これによりたとえノイズがピーク検出さ
れターゲット化合物であると同定されてもその定量値が
計算されないことによって信頼性を高める。
【０００５】本発明のデータ処理装置は、図１に示され
るように、クロマトグラフからの検出信号について波形
処理パラメータに基づいてピークを検出し、そのピーク
の面積、保持時間又はスペクトルなどのデータを求める
ピーク検出部２と、ピーク検出部２で求められたピーク
のデータを記憶するデータ記憶部４と、ピークの保持時
間又はスペクトルなどのピーク同定条件、及び最小Ｓ／
Ｎ値を記憶している条件記憶部６と、条件記憶部６に記
憶されているピーク同定条件に基づき、ピーク検出部２
で求められたピークの同定を行なう同定部８と、同定部
８で同定されたピークについてＳ／Ｎ値を算出し、条件
記憶部６に記憶されている最小Ｓ／Ｎ値と比較するＳ／
Ｎ値算出・比較部１０と、Ｓ／Ｎ値算出・比較部１０で
最小Ｓ／Ｎ値より大きいＳ／Ｎ値をもつと判定されたピ
ークについてのみデータ記憶部４に記憶されているデー
タから定量を行なう定量部１２とを備えている。
るように、クロマトグラフからの検出信号について波形
処理パラメータに基づいてピークを検出し、そのピーク
の面積、保持時間又はスペクトルなどのデータを求める
ピーク検出部２と、ピーク検出部２で求められたピーク
のデータを記憶するデータ記憶部４と、ピークの保持時
間又はスペクトルなどのピーク同定条件、及び最小Ｓ／
Ｎ値を記憶している条件記憶部６と、条件記憶部６に記
憶されているピーク同定条件に基づき、ピーク検出部２
で求められたピークの同定を行なう同定部８と、同定部
８で同定されたピークについてＳ／Ｎ値を算出し、条件
記憶部６に記憶されている最小Ｓ／Ｎ値と比較するＳ／
Ｎ値算出・比較部１０と、Ｓ／Ｎ値算出・比較部１０で
最小Ｓ／Ｎ値より大きいＳ／Ｎ値をもつと判定されたピ
ークについてのみデータ記憶部４に記憶されているデー
タから定量を行なう定量部１２とを備えている。
【０００６】
【発明の実施の形態】図２は一実施例を分析装置ととも
に概略的に表したものである。分析装置２０はガスクロ
マトグラフ（ＧＣ）、液体クロマトグラフ（ＬＣ）、ガ
スクロマトグラフ／マススペクトロメータ（ＧＣ／Ｍ
Ｓ）などのクロマト分離分析装置である。分析装置２０
の検出信号はインターフェースを介してＣＰＵ２２に取
り込まれる。ＣＰＵ２２は取得したクロマトグラムを、
記憶装置２４に記憶されている波形処理パラメータに基
づいて処理し、ピーク検出を行なう。それぞれのピーク
の面積、保持時間、スペクトルなどがＣＰＵ２２で求め
られ、記憶装置２４に記憶される。ＣＰＵ２２ではさら
に、記憶装置２４に記憶されているターゲット化合物の
ピーク同定条件に基づいてターゲット化合物の同定を行
ない、その同定したピークのＳ／Ｎ値を計算し、記憶装
置２４に記憶されている最小Ｓ／Ｎ値との比較を行な
う。同定されたピークのＳ／Ｎ値が最小Ｓ／Ｎ値より大
きい場合にのみそのピークの定量計算を行なってその結
果をプリンタ２６に出力する。しかし、同定されたピー
クのＳ／Ｎ値が最小Ｓ／Ｎ値以下の場合は、そのピーク
の定量計算は行なわない。そのピークはノイズである可
能性が高いからである。キーボード２５は波形処理パラ
メータ、ターゲット化合物のピーク同定条件、最小Ｓ／
Ｎ値などを入力するのに用いられる。
に概略的に表したものである。分析装置２０はガスクロ
マトグラフ（ＧＣ）、液体クロマトグラフ（ＬＣ）、ガ
スクロマトグラフ／マススペクトロメータ（ＧＣ／Ｍ
Ｓ）などのクロマト分離分析装置である。分析装置２０
の検出信号はインターフェースを介してＣＰＵ２２に取
り込まれる。ＣＰＵ２２は取得したクロマトグラムを、
記憶装置２４に記憶されている波形処理パラメータに基
づいて処理し、ピーク検出を行なう。それぞれのピーク
の面積、保持時間、スペクトルなどがＣＰＵ２２で求め
られ、記憶装置２４に記憶される。ＣＰＵ２２ではさら
に、記憶装置２４に記憶されているターゲット化合物の
ピーク同定条件に基づいてターゲット化合物の同定を行
ない、その同定したピークのＳ／Ｎ値を計算し、記憶装
置２４に記憶されている最小Ｓ／Ｎ値との比較を行な
う。同定されたピークのＳ／Ｎ値が最小Ｓ／Ｎ値より大
きい場合にのみそのピークの定量計算を行なってその結
果をプリンタ２６に出力する。しかし、同定されたピー
クのＳ／Ｎ値が最小Ｓ／Ｎ値以下の場合は、そのピーク
の定量計算は行なわない。そのピークはノイズである可
能性が高いからである。キーボード２５は波形処理パラ
メータ、ターゲット化合物のピーク同定条件、最小Ｓ／
Ｎ値などを入力するのに用いられる。
【０００７】ここで、図２と図１の対応関係を示すと、
図１におけるピーク検出部２、同定部８、Ｓ／Ｎ値算出
・比較部１０及び定量部１２はＣＰＵ２２によって実現
され、データ記憶部４及び条件記憶部６は記憶装置２４
により実現され、定量部１２による定量結果の出力はプ
リンタ２６へ出力され、条件記憶部６へのピーク同定条
件や最小Ｓ／Ｎ値の入力はキーボード２８から行なわれ
る。
図１におけるピーク検出部２、同定部８、Ｓ／Ｎ値算出
・比較部１０及び定量部１２はＣＰＵ２２によって実現
され、データ記憶部４及び条件記憶部６は記憶装置２４
により実現され、定量部１２による定量結果の出力はプ
リンタ２６へ出力され、条件記憶部６へのピーク同定条
件や最小Ｓ／Ｎ値の入力はキーボード２８から行なわれ
る。
【０００８】さらに具体的な動作を図３と図４を参照し
て説明する。図３は標準試料を用いてピーク同定条件な
どを入力するための処理手順である。標準試料の分析を
行なうと、クロマトグラムが得られ、そのピーク検出が
行なわれる。そのピーク検出結果に基づいてターゲット
化合物のピーク同定条件、例えば保持時間やスペクトル
が決定されて、その変動範囲とともにキーボード２８か
ら入力されて記憶装置２４に記憶される。またターゲッ
ト化合物ごとに最小Ｓ／Ｎ値も決定され、その値もキー
ボード２８から入力されて記憶装置２４に記憶される。
て説明する。図３は標準試料を用いてピーク同定条件な
どを入力するための処理手順である。標準試料の分析を
行なうと、クロマトグラムが得られ、そのピーク検出が
行なわれる。そのピーク検出結果に基づいてターゲット
化合物のピーク同定条件、例えば保持時間やスペクトル
が決定されて、その変動範囲とともにキーボード２８か
ら入力されて記憶装置２４に記憶される。またターゲッ
ト化合物ごとに最小Ｓ／Ｎ値も決定され、その値もキー
ボード２８から入力されて記憶装置２４に記憶される。
【０００９】図４は未知試料を測定するための手順を表
わしたものである。未知試料の分析を行ない、得られた
クロマトグラムからピーク検出が行なわれ、先の標準試
料の分析で得られて記憶装置２４に記憶されたターゲッ
ト化合物のピーク同定条件に基づいて未知試料のクロマ
トグラムからターゲット化合物のピーク同定が行なわれ
る。次に、同定されたピークのＳ／Ｎ値が計算され、先
の標準試料の測定で求められて記憶装置２４に記憶され
た最小Ｓ／Ｎ値と比較され、最小Ｓ／Ｎ値より大きいピ
ークについてのみターゲット化合物として定量計算が行
なわれ、その結果がレポートとしてプリンタ２６に出力
される。標準試料の分析でターゲット化合物の最小Ｓ／
Ｎ値を求めるために、最も低い濃度の標準試料測定を行
なって決めてもよく、経験側に基づいて一般的な値とし
て与えてもよい。
わしたものである。未知試料の分析を行ない、得られた
クロマトグラムからピーク検出が行なわれ、先の標準試
料の分析で得られて記憶装置２４に記憶されたターゲッ
ト化合物のピーク同定条件に基づいて未知試料のクロマ
トグラムからターゲット化合物のピーク同定が行なわれ
る。次に、同定されたピークのＳ／Ｎ値が計算され、先
の標準試料の測定で求められて記憶装置２４に記憶され
た最小Ｓ／Ｎ値と比較され、最小Ｓ／Ｎ値より大きいピ
ークについてのみターゲット化合物として定量計算が行
なわれ、その結果がレポートとしてプリンタ２６に出力
される。標準試料の分析でターゲット化合物の最小Ｓ／
Ｎ値を求めるために、最も低い濃度の標準試料測定を行
なって決めてもよく、経験側に基づいて一般的な値とし
て与えてもよい。
【００１０】
【発明の効果】本発明では同定されたピークについてＳ
／Ｎ値を算出し、最小Ｓ／Ｎ値より大きいＳ／Ｎ値をも
つピークについてのみ定量を行なうようにしたので、ノ
イズを誤ってターゲット化合物と同定してもその定量は
行なわれず、定量データの信頼性が高まる。また、ノイ
ズを誤ってピークとして同定していないかどうかをクロ
マトグラムを見て確認する作業も不要になる。
／Ｎ値を算出し、最小Ｓ／Ｎ値より大きいＳ／Ｎ値をも
つピークについてのみ定量を行なうようにしたので、ノ
イズを誤ってターゲット化合物と同定してもその定量は
行なわれず、定量データの信頼性が高まる。また、ノイ
ズを誤ってピークとして同定していないかどうかをクロ
マトグラムを見て確認する作業も不要になる。
【図１】本発明を示すブロック図である。
【図２】一実施例を示すブロック図である。
【図３】実施例の動作における標準試料測定を示すフロ
ーチャート図である。
ーチャート図である。
【図４】実施例の動作における未知試料測定を示すフロ
ーチャート図である。
ーチャート図である。
２ ピーク検出部 ４ データ記憶部 ６ 条件記憶部 ８ 同定部 １０ Ｓ／Ｎ値算出・比較部 １２ 定量部
Claims (1)
- 【請求項１】 クロマトグラフからの検出信号について
波形処理パラメータに基づいてピークを検出し、そのピ
ークの面積、保持時間又はスペクトルなどのデータを求
めるピーク検出部２と、 ピーク検出部２で求められたピークのデータを記憶する
データ記憶部４と、 ピークの保持時間又はスペクトルなどのピーク同定条
件、及び最小Ｓ／Ｎ値を記憶している条件記憶部６と、 条件記憶部６に記憶されているピーク同定条件に基づ
き、ピーク検出部２で求められたピークの同定を行なう
同定部８と、 同定部８で同定されたピークについてＳ／Ｎ値を算出
し、条件記憶部６に記憶されている最小Ｓ／Ｎ値と比較
するＳ／Ｎ値算出・比較部１０と、 Ｓ／Ｎ値算出・比較部１０で最小Ｓ／Ｎ値より大きいＳ
／Ｎ値をもつと判定されたピークについてのみデータ記
憶部４に記憶されているデータから定量を行なう定量部
１２と、を備えたことを特徴とするデータ処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7233241A JPH0954072A (ja) | 1995-08-17 | 1995-08-17 | クロマトグラフのデータ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7233241A JPH0954072A (ja) | 1995-08-17 | 1995-08-17 | クロマトグラフのデータ処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0954072A true JPH0954072A (ja) | 1997-02-25 |
Family
ID=16951987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7233241A Pending JPH0954072A (ja) | 1995-08-17 | 1995-08-17 | クロマトグラフのデータ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0954072A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006058110A (ja) * | 2004-08-19 | 2006-03-02 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ用データ処理装置 |
| JP2011058930A (ja) * | 2009-09-09 | 2011-03-24 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ用データ処理装置 |
| JPWO2017168682A1 (ja) * | 2016-03-31 | 2018-11-15 | 株式会社島津製作所 | ピーク検出方法及びデータ処理装置 |
| JP2018205068A (ja) * | 2017-06-01 | 2018-12-27 | 東ソー株式会社 | ベースラインの判定方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04190158A (ja) * | 1990-11-24 | 1992-07-08 | Hitachi Ltd | クロマトグラフによる定量分析方法および装置 |
| JPH06324029A (ja) * | 1993-03-15 | 1994-11-25 | Hitachi Ltd | クロマトグラム解析表示方法及びその装置 |
-
1995
- 1995-08-17 JP JP7233241A patent/JPH0954072A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04190158A (ja) * | 1990-11-24 | 1992-07-08 | Hitachi Ltd | クロマトグラフによる定量分析方法および装置 |
| JPH06324029A (ja) * | 1993-03-15 | 1994-11-25 | Hitachi Ltd | クロマトグラム解析表示方法及びその装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006058110A (ja) * | 2004-08-19 | 2006-03-02 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ用データ処理装置 |
| JP2011058930A (ja) * | 2009-09-09 | 2011-03-24 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ用データ処理装置 |
| JPWO2017168682A1 (ja) * | 2016-03-31 | 2018-11-15 | 株式会社島津製作所 | ピーク検出方法及びデータ処理装置 |
| JP2018205068A (ja) * | 2017-06-01 | 2018-12-27 | 東ソー株式会社 | ベースラインの判定方法 |
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