JPH095392A - Jig for inspecting circuit board - Google Patents
Jig for inspecting circuit boardInfo
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- JPH095392A JPH095392A JP7151721A JP15172195A JPH095392A JP H095392 A JPH095392 A JP H095392A JP 7151721 A JP7151721 A JP 7151721A JP 15172195 A JP15172195 A JP 15172195A JP H095392 A JPH095392 A JP H095392A
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- centripetal
- circuit board
- bearing hole
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、被検査基板に実装した
ソケットの各ピン端子と、回路基板検査装置の検査回路
との電気的接続を介する回路基板検査用のジグに関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a jig for inspecting a circuit board through electrical connection between each pin terminal of a socket mounted on a board to be inspected and an inspection circuit of a circuit board inspection apparatus.
【0002】[0002]
【従来の技術】バーンインボードは半導体チップの検査
基板の一つであり、一枚の基板でできるだけ数多くのチ
ップを検査できるように、数十個ときには百個以上もの
同じ規格のICソケットが縦横に実装されている。バー
ンインボードを用いた検査の態様からして一般的に各I
Cソケットの各ピンに接続された素子は全て等しく、回
路の構造も極めて簡素であるが、該バーンインボードの
出荷検査は、そのバーンインボードに実装されたICソ
ケットの全てのピンに繋る回路をチェックしなければ成
らず極めて煩雑で、製造期間の多くがその出荷検査にあ
てられる実情にあった。しかも、今日では数百本ものピ
ンを有する半導体チップ(LSI)が続出し、手作業の
検査では処理し切れない現状にあった。而して、このよ
うな検査は、例えば特開平5−346447号公報のよ
うなコンピュータを用いた検査装置によって行われるに
至り、それによって検査時間は大幅に短縮されることと
なった。2. Description of the Related Art A burn-in board is one of the inspection boards for semiconductor chips. In order to inspect as many chips as possible on a single board, several tens of IC sockets of hundreds or more of the same standard are arranged vertically and horizontally. It is implemented. From the aspect of inspection using a burn-in board, each I
The elements connected to each pin of the C socket are all the same, and the circuit structure is also very simple. However, the shipping inspection of the burn-in board requires the circuit connected to all the pins of the IC socket mounted on the burn-in board. It had to be checked, and it was extremely complicated, and most of the manufacturing period was devoted to the shipping inspection. Moreover, today, semiconductor chips (LSIs) having hundreds of pins continue to be present, and it is impossible to process them by manual inspection. Thus, such an inspection has come to be performed by an inspection device using a computer as disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 5-346447, whereby the inspection time is shortened significantly.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
検査装置は、ICソケットとプローブとの接続を人が行
っていたために、検査中における手先の揺れによって接
触状態が不均一となり、ピン端子に付着した酸化膜の存
在も相俟って接触不良によるエラーの発生頻度が極めて
高いのみならず、プローブを握る作業者の手に力がこも
るとプローブやICソケットのピンが変形する場合もあ
った。又、プローブの自動挿入を採用した自動検査装置
も紹介されたことによって、均等な力でICソケットに
挿入されるに至ったものの、そのジグの構造から接触不
良の少ない良好な実績を得るには至っていない。However, in the conventional inspection apparatus, since the person connects the IC socket and the probe to each other, the contact state becomes non-uniform due to the shaking of the hand during the inspection, and the adhesion to the pin terminals occurs. Due to the presence of the oxide film, the error frequency due to poor contact is extremely high, and the probe or the pin of the IC socket may be deformed when the force of the operator holding the probe is too strong. In addition, the introduction of an automatic inspection device that employs automatic probe insertion has led to the insertion of the probe into the IC socket with a uniform force. I haven't arrived.
【0004】本発明は上記実情に鑑みてなされたもの
で、検査装置の自動化に適した接触不良の少ない回路基
板検査用のジグの提供を目的とする。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a jig for inspecting a circuit board, which is suitable for automating an inspection apparatus and which has few contact defects.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明による回路基板検査用のジグは、自動挿入装置の可動
ベースに固定され上下に貫通するすり鉢状の軸受孔を有
するブッシュと、軸受孔に嵌まる上広がりのテーパー部
を有し水平振動発生手段を付設して成る求心体より構成
され、軸受孔の周縁に下向きに付勢した状態で求心体を
懸架し、ブッシュに対する求心体の水平方向の回転を制
限すべくカム溝とそれに沿って摺動するカムフォロアの
いずれか一方を求心体に設けると共に他方をブッシュに
設け、求心体の先部に、コンタクト端子が所定ソケット
のピン端子の配置と同様に配設され各コンタクト端子を
回路基板検査回路へ電気的に接続したプローブを着脱可
能に支持したことを特徴とする。前記求心体は、モータ
ーの回転軸に偏芯ウエートを固着して成る水平振動発生
手段と、前記ブッシュの軸受孔に嵌まる上広がりのテー
パー部を有する求心シャフトとを、ベアリングを介して
離脱不能に且つ同軸的に連結して構成しても良いし、下
向きに付勢した求心体の自然振動に対する非共鳴周波数
にて振動する水平振動発生手段を用いても良い。A jig for inspecting a circuit board according to the present invention, which solves the above problems, comprises a bush having a mortar-shaped bearing hole which is fixed to a movable base of an automatic insertion device and vertically penetrates the bearing base, and a bearing hole. It is composed of a centripetal body with an upwardly expanding taper part fitted with a horizontal vibration generating means. One of the cam groove and the cam follower that slides along the cam groove to limit the rotation in the same direction is provided on the centripetal body and the other is provided on the bush, and the contact terminal is located at the tip of the centripetal body. A probe which is arranged in the same manner as the above and electrically connects each contact terminal to the circuit board inspection circuit is detachably supported. The centripetal body cannot detach a horizontal vibration generating means formed by fixing an eccentric weight to a rotating shaft of a motor and a centripetal shaft having an upwardly wide tapered portion fitted in a bearing hole of the bush through a bearing. And may be coaxially connected, or horizontal vibration generating means may be used that vibrates at a non-resonant frequency with respect to the natural vibration of the centripetal body urged downward.
【0006】[0006]
【作用】ブッシュにすり鉢状の軸受孔を設け、下向きに
付勢した求心体にテーパー部を形成することによって、
定常状態において常に求心体が軸受孔の中心から真下を
指す構造となり、カム溝とカムフォロアの関係によって
プローブの向きをほぼ固定する。又、水平方向の振動を
発生することによってソケットにプローブを装着する際
の微細なずれを修正すると共に、ソケットのピン端子表
面の異物や酸化膜を除去し、自動挿入装置の可動ベース
に固定されたブッシュに対してほぼフリーな状態にある
求心体に自励発振させることにより、自動挿入装置自体
の振動を軽減する。更に、水平振動発生手段の振動周波
数として、下向きに付勢した求心体の自然振動に対する
非共鳴周波数を選択することによって求心体の振動を安
定させる。[Operation] By forming a mortar-shaped bearing hole in the bush and forming a taper portion in the centripetal body urged downward,
In a steady state, the centripetal always points directly below the center of the bearing hole, and the orientation of the probe is almost fixed by the relationship between the cam groove and the cam follower. Also, by generating horizontal vibration, fine displacement when mounting the probe in the socket is corrected, and foreign matter and oxide film on the pin terminal surface of the socket are removed and fixed to the movable base of the automatic insertion device. The vibration of the automatic insertion device itself is reduced by causing the centripetal body, which is almost free from the bush, to self-oscillate. Further, as the vibration frequency of the horizontal vibration generating means, a non-resonant frequency with respect to the natural vibration of the centripetal body biased downward is selected to stabilize the vibration of the centripetal body.
【0007】[0007]
【実施例】以下、本発明による回路基板検査用のジグの
一例を図面に基づき詳細に説明する。本実施例は、被検
査回路基板に実装してあるICソケットに装着するため
のプローブ9を支持する求心体5と、該求心体5を可動
範囲を限定した状態で支持するブッシュ2と、該ブッシ
ュ2を自動挿入装置の可動ベースに固定するために介在
するフレーム15より構成される。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An example of a jig for inspecting a circuit board according to the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. In this embodiment, a centripetal body 5 that supports a probe 9 to be mounted on an IC socket mounted on a circuit board to be inspected, a bush 2 that supports the centripetal body 5 in a state where a movable range is limited, and It is composed of a frame 15 interposed to fix the bush 2 to the movable base of the automatic insertion device.
【0008】フレーム15は、ジグの構成要素を支持す
る土台にあたると同時に、自動検査装置にあっては、I
Cソケットへプローブ9を自動的に挿入すべく縦横或い
は上下へ機械的に移動する可動ベースへ直接的に固着さ
れるものである。本実施例のフレーム15は、上下に貫
通する支持孔16を設けた金属製の平板で、その平板の
一辺より補強板17を垂設したものである。一方、ブッ
シュ2は、中心にすり鉢状の軸受孔1を有し、周面中央
部にフランジ部18を一体的に周設して成る。フランジ
部18の下面は、フレーム15にブッシュ2を固定する
際の支持面としての機能を果たし得るように、その軸受
孔1はフランジ部18の下面に対して垂直に穿設してあ
る。The frame 15 serves as a base for supporting the components of the jig and, at the same time, in an automatic inspection device,
In order to automatically insert the probe 9 into the C socket, the probe 9 is directly fixed to a movable base which is mechanically moved vertically or horizontally or vertically. The frame 15 of the present embodiment is a metal flat plate provided with a support hole 16 penetrating vertically, and a reinforcing plate 17 is hung from one side of the flat plate. On the other hand, the bush 2 has a mortar-shaped bearing hole 1 at the center, and a flange 18 is integrally provided around the center of the peripheral surface. The lower surface of the flange portion 18 has its bearing hole 1 formed perpendicularly to the lower surface of the flange portion 18 so that it can function as a support surface when fixing the bush 2 to the frame 15.
【0009】フレーム15とブッシュ2は、支持孔16
にブッシュ2の下部が嵌まり且つフレーム15の上面と
フランジ部18の下面が密着した状態でビス止めされ
る。フランジ部18の上面には一対の軸承部19,19
がブッシュ2の軸受孔1に対して対称的に固着され、各
軸承部19,19にはブッシュの軸受孔1に対して放射
方向を指すボルトをもってカムフォロア7,7を回転自
在に支持してある。The frame 15 and the bush 2 are provided with support holes 16
The lower part of the bush 2 is fitted in the upper part of the bush 2, and the upper surface of the frame 15 and the lower surface of the flange portion 18 are in close contact with each other with screws. A pair of bearing parts 19, 19 are provided on the upper surface of the flange part 18.
Are symmetrically fixed to the bearing hole 1 of the bush 2, and the cam followers 7, 7 are rotatably supported by the bearings 19, 19 with bolts pointing in the radial direction with respect to the bearing hole 1 of the bush. .
【0010】求心体5は、水平振動発信手段4と求心シ
ャフト13と連結部材20とで構成される。The centripetal body 5 comprises a horizontal vibration transmitting means 4, a centripetal shaft 13 and a connecting member 20.
【0011】求心シャフト13は、その大部分が棒状の
回転体状を呈し、下部より中間部にかけて断面積が最も
小さい円柱状を成し、中間部から上部にかけては上広が
りのテーパー部3が形成されている。テーパー部3の上
部には、求心シャフト13の回転を制限するリング状の
カム部21が一体的に形成されて、その中央部には上へ
開口する凹部22を設け、縁部には上下に貫通する一対
のカム溝6,6が前記カムフォロア7,7の直径とほぼ
等しい幅をもって凹部22に対して対称的に形成されて
いる。各カム溝6,6の幅や奥行きは、カムフォロア
7,7が摺動する際に適度なクリアランスが生じる程度
に設定することが望ましい。適度なクリアランスとは、
例えば、IC等のピン配置と同様にコンタクト端子8を
配設したプローブ9を使用する場合には、IC等のピン
ピッチとほぼ等しい振れがプローブ9のコンタクト端子
8の部分で縦横方向或いは回転方向へ生じる程度のもの
である。Most of the centripetal shaft 13 is in the form of a rod-shaped rotating body, has a cylindrical shape with the smallest cross-sectional area from the lower portion to the middle portion, and forms a tapered portion 3 that widens upward from the middle portion to the upper portion. Has been done. A ring-shaped cam portion 21 that restricts rotation of the centripetal shaft 13 is integrally formed on the upper portion of the taper portion 3, and a concave portion 22 that opens upward is provided in the center portion thereof, and an upward and downward concave portion 22 is provided at the edge portion. A pair of penetrating cam grooves 6, 6 are formed symmetrically with respect to the recess 22 with a width substantially equal to the diameter of the cam followers 7, 7. It is desirable that the width and depth of each cam groove 6, 6 be set so that an appropriate clearance is generated when the cam followers 7, 7 slide. What is a proper clearance?
For example, when using the probe 9 in which the contact terminals 8 are arranged similarly to the pin arrangement of the IC or the like, a deflection substantially equal to the pin pitch of the IC or the like is generated in the vertical and horizontal directions or the rotation direction at the contact terminal 8 portion of the probe 9. It is something that occurs.
【0012】連結部材20は、求心シャフト13の下部
とプローブ9との間に着脱自在に介在し、ブッシュ2及
びテーパー部3の形状等で決まる求心シャフト13の運
動をプローブ9へ伝達する役割を果たすと共に、ブッシ
ュ2に対して求心体5を下向きに付勢するスプリング2
3の力点となる。連結部材20は、装着するスプリング
23の外径とほぼ等しい断面サイズの円柱状を呈し、前
記力点となる連結部材20の上部周縁には、スプリング
23の一端が嵌まる環状の切欠部を有する。該連結部材
20の上面中央には、求心シャフト13の下部が嵌まる
上穴24が形成され、下面中央にはプローブ9のロッド
25が嵌まる下穴26が形成され、連結部材20の上部
及び下部にそれぞれ上下各穴24,26に連通する捩子
孔を水平に形成し、その捩子孔と螺合する止捩子をもっ
て求心シャフト13やプローブ9と連結する。The connecting member 20 is detachably interposed between the lower portion of the centripetal shaft 13 and the probe 9 and has a role of transmitting the motion of the centripetal shaft 13 to the probe 9 which is determined by the shapes of the bush 2 and the tapered portion 3. A spring 2 that fulfills and biases the centripetal body 5 downward with respect to the bush 2.
It becomes the emphasis point of 3. The connecting member 20 has a columnar shape with a cross-sectional size substantially equal to the outer diameter of the spring 23 to be mounted, and has an annular notch at the upper peripheral edge of the connecting member 20, which serves as the force point, into which one end of the spring 23 fits. An upper hole 24 into which the lower portion of the centripetal shaft 13 is fitted is formed in the center of the upper surface of the connecting member 20, and a lower hole 26 into which the rod 25 of the probe 9 is fitted is formed in the lower surface center. A screw hole communicating with the upper and lower holes 24 and 26 is horizontally formed in the lower portion, and a set screw screwed into the screw hole is connected to the centripetal shaft 13 and the probe 9.
【0013】前記スプリング23の力点に対する支点は
フレーム15の下面である。フレーム15の下面には、
スプリング23の一端が嵌まる切欠部等は設けてない
が、前記支持孔16に嵌まるブッシュ2の下部の直径を
スプリング23の内径にほぼ等しく設定し、フレーム1
5の上面とフランジ部18の下面が密着した状態で、ブ
ッシュ2の下端がフレーム15の下面より突出するよう
にすれば、その突出部とスプリング23とが嵌合し、ス
プリング23の位置が安定することとなる。The fulcrum for the force point of the spring 23 is the lower surface of the frame 15. On the lower surface of the frame 15,
Although the notch or the like for fitting one end of the spring 23 is not provided, the diameter of the lower portion of the bush 2 fitted in the support hole 16 is set to be substantially equal to the inner diameter of the spring 23, and the frame 1
If the lower end of the bush 2 is projected from the lower surface of the frame 15 in a state where the upper surface of 5 and the lower surface of the flange portion 18 are in close contact with each other, the protruding portion and the spring 23 are fitted, and the position of the spring 23 is stable. Will be done.
【0014】本発明は、以上に説明した求心体5の本体
たるものへ、更に水平振動発生手段4を設けたものであ
る。本実施例の水平振動発生手段4は、モーター10の
回転軸11にバランスが偏った負荷27を取付けたもの
である。モーター10は、求心シャフト13のカム部2
1の上面に4本の支柱28を立設し、その上端に設置し
た座板29の上に回転軸11を下へ向け且つその回転軸
11の延長線と求心シャフト13の中心軸とが一致する
ように固定する。According to the present invention, the main body of the centripetal body 5 described above is further provided with the horizontal vibration generating means 4. The horizontal vibration generating means 4 of the present embodiment is one in which a load 27 having an imbalanced balance is attached to the rotating shaft 11 of the motor 10. The motor 10 includes the cam portion 2 of the centripetal shaft 13.
1. Four pillars 28 are erected on the upper surface of 1, and the rotary shaft 11 is directed downward on a seat plate 29 installed at the upper end of the pillar 28. The extension line of the rotary shaft 11 and the central axis of the centripetal shaft 13 coincide with each other. To fix it.
【0015】負荷27は、モーター10の回転軸11と
ともに回転する連結シャフト30の中間部に鍔部31を
円盤状に周設し、その鍔部31に一部切欠した円盤状の
偏芯ウエート12をビス止めしたものである。連結シャ
フト30の上部と下部は各々中間部より一段小径な細部
が形成され、上部の細部はモーター10の回転軸11に
繋がる連結具32と結合し、下部の細部には2列にベア
リング14,14が装着され中間部と細部との境にある
段部と、連結シャフト30の下端面にビス止めされた止
板33とでベアリング14,14の回転に遊びが生じな
いように挟持されている。The load 27 has a disk-shaped eccentric weight 12 in which a flange 31 is provided around the intermediate portion of a connecting shaft 30 that rotates together with the rotating shaft 11 of the motor 10, and the flange 31 is partially cut away. It is the one with screws. The upper part and the lower part of the connecting shaft 30 are each formed with a smaller diameter than the middle part, and the upper part is connected to the connecting member 32 connected to the rotary shaft 11 of the motor 10, and the lower part is divided into two rows of bearings 14, The bearing 14 is attached by a step portion at the boundary between the middle portion and the details and a stop plate 33 screwed to the lower end surface of the connecting shaft 30 so that there is no play in the rotation of the bearings 14, 14. .
【0016】ベアリング14,14が装着された連結シ
ャフト30の下部は、求心シャフト13のカム部21の
上面中央に穿設された凹部22に嵌挿される。凹部22
は上部が広く下部が狭い2段穴となっており、上部と下
部の中心は、モーター10の回転軸11の延長線上に位
置する。凹部22の小径部は止板33を固定したビスの
収容部であり、大径部はベアリング14,14を収納す
る部分となっている。よって、大径部の直径はベアリン
グ14の外径と等しく設定し、深さはベアリング14の
2列分の厚みより僅かに大きく設定する。カム部21の
上面にリング状の蓋材34をビス止めすることによっ
て、蓋材14中央の孔の縁に沿って突設された貫入部3
5が連結シャフト30の下部に装着されたベアリング1
4の上縁を押圧し、しかもベアリング14の下縁は凹部
22内壁の段部に当接しているために、凹部22に嵌挿
された連結シャフト30の下部は離脱不能となる。The lower portion of the connecting shaft 30 on which the bearings 14, 14 are mounted is fitted into a recess 22 formed in the center of the upper surface of the cam portion 21 of the centripetal shaft 13. Recess 22
Has a two-step hole with a wide upper portion and a narrow lower portion, and the centers of the upper and lower portions are located on an extension line of the rotating shaft 11 of the motor 10. The small diameter portion of the concave portion 22 is a housing portion for a screw to which the stop plate 33 is fixed, and the large diameter portion is a portion for housing the bearings 14, 14. Therefore, the diameter of the large diameter portion is set to be equal to the outer diameter of the bearing 14, and the depth thereof is set to be slightly larger than the thickness of the two rows of the bearing 14. By inserting a ring-shaped lid member 34 onto the upper surface of the cam portion 21 with a screw, the penetrating portion 3 provided along the edge of the hole in the center of the lid member 14
5 is a bearing 1 attached to the lower part of the connecting shaft 30
4, the lower edge of the bearing 14 is in contact with the step of the inner wall of the recess 22. Therefore, the lower portion of the connecting shaft 30 fitted in the recess 22 cannot be removed.
【0017】こうして水平振動発生手段4と求心シャフ
ト13と連結部材20は一体となってブッシュ2の軸受
孔1に懸架され、前記スプリング23の復元力により状
態の安定が保たれる。Thus, the horizontal vibration generating means 4, the centripetal shaft 13 and the connecting member 20 are integrally suspended in the bearing hole 1 of the bush 2, and the restoring force of the spring 23 keeps the state stable.
【0018】前記スプリング23の適性なバネ定数は、
求心体5の上部と下部との重量バランス等に応じて異な
るが、使用スプリング23のバネ定数を選定する際に
は、スプリング23が押し縮められる際に加わる圧力に
よってソケットのピン端子を破損しない上限と、ジグの
移動によって求心体5が不必要にぐらつくことなく、ぐ
らついたとしても求心体5を瞬時に定位置へ復帰させ得
る下限の範囲で設定しなければならない。尚、ソケット
に配設されたピン端子の面は、全て同じ高さに位置する
とは限らず、多少のばらつきは必ず生じるので、全ての
ピン端子にそれぞれコンタクト端子8を接触させるに
は、スプリング23はソケットのピン端子又はプローブ
9のコンタクト端子8のいずれか一方よりも強い弾性を
持つ必要がある。前記スプリング23と同じ効果を奏し
得るものとしてはゴムや弾性樹脂が存在する。それらを
円筒状に成形して成る弾性部材を使用するなど多様な選
択が可能である。An appropriate spring constant of the spring 23 is
Although it depends on the weight balance between the upper and lower parts of the centripetal body 5, when selecting the spring constant of the spring 23 to be used, the upper limit that does not damage the pin terminals of the socket by the pressure applied when the spring 23 is compressed Then, the centripetal body 5 does not wobble unnecessarily due to the movement of the jig, and even if the centripetal body 5 wobbles, the centripetal body 5 must be set within a lower limit range that can be instantly returned to the fixed position. It should be noted that the surfaces of the pin terminals arranged in the socket are not all located at the same height, and some variations inevitably occur. Therefore, in order to bring the contact terminals 8 into contact with all the pin terminals, the spring 23 Must have greater elasticity than either the pin terminal of the socket or the contact terminal 8 of the probe 9. Rubber and elastic resin are present as the same effects as the spring 23. Various selections are possible such as using an elastic member formed by molding them into a cylindrical shape.
【0019】又、水平振動発生手段4の振動周波数(1
秒あたりのモーターの回転数)として、求心体5に対し
その自然振動と等しい周波数で周期的に力を加える値を
設定すると、水平振動発生手段4の振動と求心体5の振
れが共鳴増幅し正常にコンタクトを取ることが困難とな
る場合があるので、モーター10の回転を調節して非共
鳴周波数の振動を発生させるか、バネ定数、求心シャフ
ト13の長さ、偏芯ウエート12の重量を変化させるな
どして振動周波数との共鳴が生じない自然振動が生じる
ようにすることが望ましい。The vibration frequency of the horizontal vibration generating means 4 (1
As the number of rotations of the motor per second), when a value is set to periodically apply a force to the centripetal body 5 at a frequency equal to its natural vibration, the vibration of the horizontal vibration generating means 4 and the vibration of the centripetal body 5 are resonantly amplified. Since it may be difficult to make a normal contact, it is necessary to adjust the rotation of the motor 10 to generate vibration at a non-resonant frequency, or to adjust the spring constant, the length of the centripetal shaft 13, and the weight of the eccentric weight 12. It is desirable to change it so that natural vibration that does not cause resonance with the vibration frequency occurs.
【0020】本実施例は以上のごとく構成され、自動挿
入装置の可動ベースに固定されたジグによってプローブ
9は、被検査回路基板に実装されたICソケットへ好適
に装着され、ICソケットの各ピン端子に接続された回
路の検査を順次行っていく。ICソケットへのプローブ
9の装着は水平振動発生手段4で微振動を発生しつつ行
うので、ICソケットの実装状態において縦横或いは回
転方向のずれが多少生じていたとしてもピン端子の位置
へコンタクト端子8が好適に誘導され、接触した際には
両者が擦れ合って異物や酸化膜を剥離する効果も生じ
る。両者が接触した後所定時間を経過すると振動は停止
し、付勢部材の弾性によって各ピン端子と各コンタクト
端子8は確実に接触しその状態が保持される。The present embodiment is constructed as described above, and the probe 9 is suitably attached to the IC socket mounted on the circuit board to be inspected by the jig fixed to the movable base of the automatic insertion device, and each pin of the IC socket is attached. The circuits connected to the terminals are inspected one after another. The probe 9 is mounted on the IC socket while the horizontal vibration generating means 4 is generating minute vibrations. Therefore, even if there is some misalignment in the vertical and horizontal directions or the rotational direction in the mounted state of the IC socket, the contact terminal is brought to the position of the pin terminal. 8 is preferably induced, and when they come into contact with each other, they also rub against each other to remove foreign matter and an oxide film. The vibration stops when a predetermined time has elapsed after the two contact, and the elasticity of the biasing member ensures that the pin terminals and the contact terminals 8 are in contact with each other and the state is maintained.
【0021】又、水平振動発生手段4と求心シャフト1
3との間に確実に位置固定したベアリング14を介在し
たことによって、回転する負荷27の両端に良質な軸受
けが形成され、負荷27の回転振れが防止されると共に
回転が滑らかとなり、水平振動発生手段4を含めて一体
となった求心体5の、重心移動のみによる均一な振動が
発生する。Further, the horizontal vibration generating means 4 and the centripetal shaft 1
By interposing the bearing 14 which is securely fixed in position with the No. 3 bearing, high-quality bearings are formed at both ends of the rotating load 27, the rotational runout of the load 27 is prevented, and the rotation is smooth, and horizontal vibration is generated. The uniform centripetal body 5 including the means 4 generates uniform vibration only by moving the center of gravity.
【0022】[0022]
【発明の効果】以上のごとく本発明による回路基板検査
用のジグ使用すれば、定常状態において自動挿入装置の
可動ベースに対するプローブの位置や姿勢が安定し、更
に水平振動が加わって位置や姿勢が微調整される。同時
にピン端子当接面の異物等が除去されることによって接
触不良が大きく減少し、再検査の頻度が少なくなること
で検査時間のより一掃の削減、ひいては短納期の実現に
寄与するものである。また、多様なソケットやコネクタ
等に接続するプローブを使用することによって、多様な
回路基板の検査に使用することができる。As described above, when the jig for inspecting a circuit board according to the present invention is used, the position and the posture of the probe with respect to the movable base of the automatic insertion device are stable in a steady state, and further the horizontal vibration is applied to the position and the posture. Fine-tuned. At the same time, foreign matter on the contact surface of the pin terminal is removed, which greatly reduces contact defects and reduces the frequency of re-inspection, which contributes to a shorter cleaning time for inspections and a shorter delivery time. . Further, by using a probe connected to various sockets, connectors, etc., it can be used for inspection of various circuit boards.
【図1】本発明による回路基板検査用のジグの一例を示
す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a jig for inspecting a circuit board according to the present invention.
【図2】前記ジグの側面図である。FIG. 2 is a side view of the jig.
【図3】前記ジグに用いたブッシュの平面図である。FIG. 3 is a plan view of a bush used for the jig.
【図4】前記ブッシュのA−A矢視断面図である。FIG. 4 is a sectional view of the bush taken along the line AA.
【図5】前記ジグに用いた偏芯ウエートの平面図であ
る。FIG. 5 is a plan view of an eccentric weight used for the jig.
【図6】前記偏芯ウエートのB−B矢視断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view of the eccentric weight taken along the line BB.
【図7】前記ジグに用いたプローブの下から見た平面図
である。FIG. 7 is a plan view of the probe used for the jig as seen from below.
【図8】前記プローブの要部断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view of a main part of the probe.
【図9】本発明による回路基板検査用ジグを使用する検
査の実施態様例を示す斜視図である。FIG. 9 is a perspective view showing an embodiment example of an inspection using a jig for inspecting a circuit board according to the present invention.
1 軸受孔 2 ブッシュ 3 テーパー部 4 水平振動発生手段 5 求心体 6 カム溝 7 カムフォロア 8 コンタクト端子 9 プローブ 10 モーター 11 回転軸 12 偏芯ウエート 13 求心シャフト 14 ベアリング 1 Bearing hole 2 Bushing 3 Tapered part 4 Horizontal vibration generating means 5 Centripetal body 6 Cam groove 7 Cam follower 8 Contact terminal 9 Probe 10 Motor 11 Rotating shaft 12 Eccentric weight 13 Centripetal shaft 14 Bearing
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 井上 義弘 富山県上新川郡大山町下番30番地 立山マ シン株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page (72) Inventor Yoshihiro Inoue, Tateyama Machine Co., Ltd., No. 30 Oyama-cho, Kamishinkawa-gun, Toyama Prefecture
Claims (3)
下に貫通するすり鉢状の軸受孔(1)を有するブッシュ
(2)と、軸受孔(1)に嵌まる上広がりのテーパー部
(3)を有し水平振動発生手段(4)を付設して成る求
心体(5)より構成され、前記軸受孔(1)の周縁に下
向きに付勢した状態で求心体(5)を懸架し、ブッシュ
(2)に対する求心体(5)の水平方向の回転を制限す
べくカム溝(6)とそれに沿って摺動するカムフォロア
(7)のいずれか一方を求心体(5)に設けると共に他
方をブッシュ(2)に設け、求心体(5)の先部に、コ
ンタクト端子(8)が所定ソケットのピン端子の配置と
同様に配設され各コンタクト端子(8)を回路基板検査
回路へ電気的に接続したプローブ(9)を着脱可能に支
持したことを特徴とする回路基板検査用のジグ。1. A bush (2) having a mortar-shaped bearing hole (1) which is fixed to a movable base of an automatic insertion device and penetrates vertically, and a taper portion (3) which widens upward to fit in the bearing hole (1). A centripetal body (5) having a horizontal vibration generating means (4) attached thereto, and the centripetal body (5) is suspended in a state of being urged downward to the peripheral edge of the bearing hole (1) to form a bush. One of the cam groove (6) and the cam follower (7) sliding along the cam groove (6) is provided on the centripetal body (5) to limit the horizontal rotation of the centripetal body (5) with respect to (2), and the other is bushed. The contact terminal (8) is provided on the tip of the centripetal body (5) in the same manner as the arrangement of the pin terminals of the predetermined socket, and each contact terminal (8) is electrically connected to the circuit board inspection circuit. Characterized in that the connected probe (9) is detachably supported A jig for circuit board inspection.
の回転軸(11)に偏芯ウエート(12)を固着して成
る水平振動発生手段(4)と、前記ブッシュ(2)の軸
受孔(1)に嵌まる上広がりのテーパー部(3)を有す
る求心シャフト(13)とを、ベアリング(14)を介
して離脱不能に且つ同軸的に連結して成ることを特徴と
する請求項1記載の回路基板検査用のジグ。2. The centripetal body (5) is a motor (10).
A horizontal vibration generating means (4) formed by fixing an eccentric weight (12) to the rotating shaft (11) of the above, and an upwardly expanding taper portion (3) fitted in the bearing hole (1) of the bush (2). The jig for circuit board inspection according to claim 1, wherein the centripetal shaft (13) has a non-detachable coaxial connection with a bearing (14).
動に対する非共鳴周波数にて振動する水平振動発生手段
(4)を用いたことを特徴とする請求項1又は2記載の
回路基板検査用のジグ。3. The circuit board according to claim 1, wherein horizontal vibration generating means (4) vibrating at a non-resonant frequency with respect to the natural vibration of the centripetal body (5) biased downward. Inspection jig.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7151721A JP2977467B2 (en) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | Jig for circuit board inspection |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7151721A JP2977467B2 (en) | 1995-06-19 | 1995-06-19 | Jig for circuit board inspection |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH095392A true JPH095392A (en) | 1997-01-10 |
JP2977467B2 JP2977467B2 (en) | 1999-11-15 |
Family
ID=15524839
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
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JP (1) | JP2977467B2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021065702A1 (en) * | 2019-10-04 | 2021-04-08 | 株式会社村田製作所 | Probe |
CN116643147A (en) * | 2023-05-26 | 2023-08-25 | 深圳市奇易创新科技有限公司 | Welding detector for mobile power supply cell circuit board |
-
1995
- 1995-06-19 JP JP7151721A patent/JP2977467B2/en not_active Expired - Fee Related
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---|---|---|---|---|
WO2021065702A1 (en) * | 2019-10-04 | 2021-04-08 | 株式会社村田製作所 | Probe |
JPWO2021065702A1 (en) * | 2019-10-04 | 2021-04-08 | ||
CN116643147A (en) * | 2023-05-26 | 2023-08-25 | 深圳市奇易创新科技有限公司 | Welding detector for mobile power supply cell circuit board |
CN116643147B (en) * | 2023-05-26 | 2024-05-07 | 深圳市奇易创新科技有限公司 | Welding detector for mobile power supply cell circuit board |
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Publication number | Publication date |
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JP2977467B2 (en) | 1999-11-15 |
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