JPH05326757A - Ic socket - Google Patents

Ic socket

Info

Publication number
JPH05326757A
JPH05326757A JP40331690A JP40331690A JPH05326757A JP H05326757 A JPH05326757 A JP H05326757A JP 40331690 A JP40331690 A JP 40331690A JP 40331690 A JP40331690 A JP 40331690A JP H05326757 A JPH05326757 A JP H05326757A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
socket
mold
recess
lead
mold pedestal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP40331690A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideki Wakamatsu
松 秀 樹 若
Yoshito Fukazawa
沢 義 人 深
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Microelectronics Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP40331690A priority Critical patent/JPH05326757A/en
Publication of JPH05326757A publication Critical patent/JPH05326757A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To obtain an IC socket which prevents the leads of a package from being deformed and can be used in common without mounting/dismounting component members by a method wherein a package is positioned on the basis of a mold body guide, and a mold table is made to stop at a prescribed position by a mold table stopping means. CONSTITUTION:An IC socket is equipped with a socket main body 2, contact pins 4, a mold table 6, a mold table stopping member 7, springs 8, and a lead pressing member 10. A recess 2a is provided to the center of the socket, main body 2, and the contact pins 4 are arranged around the recess 2a. A mold body guide 6a is provided to the mold table 6 for positioning a semiconductor package when it is placed on the mold table 6. The mold table 6 is engaged with the socket main body 2 by the springs 8 and displaceable in the depthwise direction of the recess 2a. The mold table stopping member 7 is rotatable to the socket main body 2 and the mold table 6 but not displaceable in the depthwise direction of the recess 2a.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はICソケットに関するも
ので、特にバーインボート及びICテストハンドラのソ
ケットユニットに使用されるものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an IC socket, and more particularly to a socket unit for burn-in board and IC test handler.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のICソケットを第5図に示す。こ
のICソケットはベンドリードタイプの半導体パッケー
ジ、例えばQFP(Quad Flat Package)80に用いられ
るものであって、ソケット基板62に着脱可能なリード
ガイド63が取付けられている。又、ソケット基板62
には複数個のコンタクトピン64と、フレームガイド6
6が設けられている。QFP80を第5図に示すICソ
ケットに挿入して位置決めする場合は、第5図(b)に
示す矢印Aの方向に挿入し、リードガイド63の端面と
QFP80のコーナ側のリード85で位置決めを行って
QFP80のリード85とICソケットのコンタクトピ
ン64とを接触させることによってコンタクトをとる。
2. Description of the Related Art A conventional IC socket is shown in FIG. This IC socket is used in a bend lead type semiconductor package, for example, a QFP (Quad Flat Package) 80, and has a detachable lead guide 63 attached to a socket substrate 62. Also, the socket substrate 62
A plurality of contact pins 64 and a frame guide 6
6 is provided. When the QFP80 is inserted into the IC socket shown in FIG. 5 for positioning, the QFP80 is inserted in the direction of arrow A shown in FIG. 5B, and the end face of the lead guide 63 and the corner side lead 85 of the QFP80 are used for positioning. Then, the lead 85 of the QFP 80 and the contact pin 64 of the IC socket are brought into contact with each other to make a contact.

【0003】一方、ストレートリードタイプのQFP9
0の場合は、第6図に示すようにリードガイド63を取
外して使用する。この場合、QFP90を第6図(b)
に示す矢印Aの方向に挿入して、フレームガイド66と
フレーム95で位置を決めてコンタクトをとる。
On the other hand, a straight lead type QFP9
In the case of 0, the lead guide 63 is removed and used as shown in FIG. In this case, the QFP90 is shown in FIG. 6 (b).
Insert in the direction of the arrow A shown in, and position the frame guide 66 and the frame 95 to make contact.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このような従来のIC
ソケットにおいては、ベンドリードタイプのQFP80
の場合は、このQFP80のコーナ側のリード85とリ
ードガイド63の端面とで位置決めを行っているため、
QFP80のリード85に変形が生じるおそれがあっ
た。又、リードガイド63をソケット基板62に取付け
たり、取外すことによりベンドリードタイプとストレー
トリードタイプのQFPに対して兼用を行っていたが、
リードガイド63を取り外した場合にリードガイド63
を紛失するおそれがあった。又、今後開発される微細ピ
ッチのQFPに対してリードガイドを用いて行うリード
ガイド技法ではリードの機械的強度が更に弱くなるため
リードの変形が一層生じやくすなるという問題がある。
Such a conventional IC
For socket, bend lead type QFP80
In the case of, since the lead 85 on the corner side of the QFP 80 and the end surface of the lead guide 63 are positioned,
The lead 85 of the QFP 80 may be deformed. In addition, the lead guide 63 is attached to or removed from the socket substrate 62 so that the bend lead type and the straight lead type QFP are used in common.
When the lead guide 63 is removed, the lead guide 63
There was a risk of losing. Further, in the lead guide technique which will be developed in the future and which uses a lead guide for a QFP having a fine pitch, there is a problem that the mechanical strength of the lead is further weakened and the lead is more easily deformed.

【0005】本発明は上記問題を考慮してなされたもの
であって、リードが微細ピッチの半導体パッケージに対
してもリードの変形を生じさせないようにするとともに
ベンドリード及びストレートリードタイプの半導体パッ
ケージに対しても共用することのできるICソケットを
提供することを目的とする。
The present invention has been made in consideration of the above problems, and prevents a lead from deforming even in a fine pitch semiconductor package and provides a bend lead and a straight lead type semiconductor package. It is an object of the present invention to provide an IC socket that can also be used in common.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明のICソケット
は、中央部に四角形の凹部が設けられているソケット本
体と、このソケット本体の凹部の周囲に配置される複数
のコンタクトピンと、半導体パッケージのモールドボデ
ィのガイドとなるモールトボディガイドを有し、モール
ドボディが載置されるモールド台座と、このモールド台
座がソケット本体の凹部の深さ方向に変位できるように
モールド台座を支持するバネ手段と、ソケット本体の凹
部の深さ方向の所定の位置にモールド台座を静止させる
ことのできるモールド台座静止手段と、半導体パッケー
ジのリードを押えて対応するコンタクトピンとコンタク
トさせるリード押え手段とを備えていることを特徴とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION An IC socket according to the present invention has a socket body having a rectangular recess in the center, a plurality of contact pins arranged around the recess of the socket body, and a semiconductor package. A mold pedestal having a molded body guide serving as a guide for the mold body, on which the mold body is placed, and a spring means for supporting the mold pedestal so that the mold pedestal can be displaced in the depth direction of the recess of the socket body, A mold pedestal stationary means capable of stationary the mold pedestal at a predetermined position in the depth direction of the recess of the socket body, and a lead pressing means for pressing the lead of the semiconductor package to make contact with a corresponding contact pin. Characterize.

【0007】[0007]

【作用】このように構成された本発明のICソケットに
よれば、モールドボディガイドを基準にして半導体パッ
ケージの位置決めを行うとともに、モールド台座静止手
段を用いてモールド台座を所定の位置に停止させる。こ
れにより、半導体パッケージのリードの変形を防止する
ことができるとともに、ベンドリードタイプ及びストレ
ートリードタイプの半導体パッケージに対して共用する
ことができる。
According to the IC socket of the present invention thus constructed, the semiconductor package is positioned with reference to the mold body guide, and the mold pedestal stopping means is used to stop the mold pedestal at a predetermined position. As a result, the leads of the semiconductor package can be prevented from being deformed, and the leads can be commonly used for bend lead type and straight lead type semiconductor packages.

【0008】[0008]

【実施例】本発明によるICソケットの一実施例を図面
を参照して説明する。図1に、本発明のICソケットの
実施例の断面を示す。この実施例のICソケットはソケ
ット本体2と、複数のコンタクトピン4と、モールド台
座6と、モールド台座静止部材7と、バネ8と、リード
押え部材10とを備えている。ソケット本体2は中央部
に凹部2aが設けられている。そしてこの凹部2aの周
囲には複数のコンタクトピン4が配設されている。この
コンタクトピン4は半導体パッケージ、例えばベンドリ
ードタイプのQFP80のリード85と接触して外部か
ら送出される試験のための電力や制御信号をQFP80
に伝える。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of an IC socket according to the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a cross section of an embodiment of an IC socket of the present invention. The IC socket of this embodiment includes a socket body 2, a plurality of contact pins 4, a mold pedestal 6, a mold pedestal stationary member 7, a spring 8 and a lead pressing member 10. The socket body 2 has a recess 2a at the center. A plurality of contact pins 4 are arranged around the recess 2a. The contact pin 4 comes into contact with a lead 85 of a semiconductor package, for example, a bend lead type QFP 80, and supplies power or a control signal for testing transmitted from the outside to the QFP 80.
Tell.

【0009】モールド台座6は半導体パッケージ、例え
ばQFP80のモールドボディ82を載置するもので、
載置するときの半導体パッケージの位置決めのためのモ
ールドボディガイド6aが縁上に設けられている(図
1、図3参照)。そしてこのモールド台座6はバネ8に
よってソケット本体と係合されるとともにソケット本体
2の凹部2aの深さ方向に変位できるように支持されて
いる。又、モールド台座6の中央部にはモールド台座静
止部材7とかん合するように孔6bが設けられている
(図3参照)。このモールド台座静止部材7はソケット
本体2及びモールド台座6に対して回動可能であるが、
ソケット本体2の凹部2aの深さ方向に対しては変位で
きないようにソケット本体2に取付けられている。
The mold pedestal 6 is for mounting a semiconductor package, for example, the mold body 82 of the QFP 80,
A mold body guide 6a for positioning the semiconductor package when it is placed is provided on the edge (see FIGS. 1 and 3). The mold pedestal 6 is engaged with the socket body by a spring 8 and is supported so as to be displaceable in the depth direction of the recess 2 a of the socket body 2. A hole 6b is provided in the center of the mold pedestal 6 so as to engage with the mold pedestal stationary member 7 (see FIG. 3). The mold pedestal stationary member 7 is rotatable with respect to the socket body 2 and the mold pedestal 6,
It is attached to the socket body 2 so that it cannot be displaced in the depth direction of the recess 2a of the socket body 2.

【0010】通常の状態、すなわちベンドリードタイプ
のQFP80を試験する状態では、図1に示すようにモ
ールド台座6はバネ8のバネ力によってのみ支持されて
いる位置に静止している。そして、ストレートリードタ
イプのQFP90を試験する場合は、半導体パッケージ
を載置しないでモールド台座6を下方、すなわちソケッ
ト本体2の凹部2aの深さ方向に押し、モールド台座静
止部材7を所定の角度だけ回転させることにより図2に
示すようにストレートリードタイプのQFP90を試験
するに適した位置にモールド台座6を静止させる。
In a normal state, that is, a state in which a bend lead type QFP 80 is tested, the mold pedestal 6 is stationary at a position supported only by the spring force of the spring 8, as shown in FIG. When testing the straight lead type QFP 90, the mold pedestal 6 is pushed downward without placing the semiconductor package, that is, in the depth direction of the recess 2 a of the socket body 2, and the mold pedestal stationary member 7 is moved at a predetermined angle. By rotating the mold pedestal 6 at a position suitable for testing the straight lead type QFP 90 as shown in FIG.

【0011】このようなモールド台座6とモールド台座
静止部材7の具体例を各々図3と図4に示す。図1に示
す状態では、モールド台座6の底部に設けられた溝6
f,6g,6hにモールド台座静止部材7の凸部7f,
7g,7hが各々かん合した状態となっている。この状
態でモールド台座6を下方に押し、モールド台座静止部
材7を上から見て時計方向に回転させると、凸部7f,
7g,7hは各々モールド台座6の底部6c,6d,6
eに載った状態となってモールド台座6がバネ8のバネ
力によって下方に移動するのを防止できる。すなわちモ
ールド台座6は図2に示すように、ストレートリードタ
イプのQFP90を試験するに適した位置に静止するこ
とになる。なお、モールド台座静止部材7を回転させる
と、凸部7cとモールド台座6の底部6cの出っ張り部
6c1 とが接触して所定の角度以上回転しないようにな
っている。
Specific examples of the mold pedestal 6 and the mold pedestal stationary member 7 are shown in FIGS. 3 and 4, respectively. In the state shown in FIG. 1, the groove 6 provided at the bottom of the mold pedestal 6
f, 6g, 6h, the convex portion 7f of the mold pedestal stationary member 7,
7g and 7h are in a mated state. When the mold pedestal 6 is pushed downward in this state and the mold pedestal stationary member 7 is rotated clockwise when viewed from above, the convex portions 7f,
7g and 7h are bottoms 6c, 6d and 6 of the mold pedestal 6, respectively.
It is possible to prevent the mold pedestal 6 from moving downward due to the spring force of the spring 8 when it is placed on e. That is, the mold pedestal 6 stands still at a position suitable for testing the straight lead type QFP 90 as shown in FIG. Incidentally, by rotating the mold base stationary member 7 are in contact with ledge portion 6c 1 of the bottom 6c of the protrusions 7c and the mold base 6 so as not to rotate a predetermined angle or more.

【0012】通常の状態でQFP80をモールド台座6
に載置した状態(図1参照)、及びモールド台座6を所
定の位置に静止させてQFP90を載置した状態(図2
参照)においては、いずれも半導体パッケージのリード
85,95はコンタクトピン4と接触せずにリード8
5,95とコンタクトピン4との間に若干の隙間があ
る。このため試験を行う時はリード押え部材10によっ
て上方からリード85,95を押えてリード85,95
とコンタクトピン4とを接触させる必要がある。
In the normal state, the QFP80 is molded into the pedestal 6
(See FIG. 1) and a state in which the QFP 90 is placed with the mold pedestal 6 stationary at a predetermined position (see FIG. 2).
2), the leads 85 and 95 of the semiconductor package do not come into contact with the contact pins 4 and lead 8
There is a slight gap between 5, 95 and the contact pin 4. For this reason, when performing the test, the leads 85, 95 are pressed from above by the lead pressing member 10 and
It is necessary to bring the contact pin 4 into contact with the contact pin 4.

【0013】なお、モールド台座6の縁には外側に向っ
て延びた絶縁部材からなる櫛形の突起部(図示せず)が
設けられており、この櫛形の突起部は隣接しているコン
タクトピン間の接触を防止するため用いられる。
It should be noted that a comb-shaped projection (not shown) made of an insulating member is provided on the edge of the mold pedestal 6 so as to extend outward, and the comb-shaped projection is provided between adjacent contact pins. It is used to prevent contact.

【0014】以上述べたように本実施例によれば半導体
パッケージの位置決めにモールドボディガイドを基準に
して行うため、微細ピッチのリードを有している半導体
パッケージに対してもリードの変形が生じるのを防止で
きるとともに、ストレートリードタイプ及びベンドリー
ドタイプの半導体パッケージに対して部材を取付たり、
取外すことなく共用することができる。
As described above, according to this embodiment, since the mold body guide is used as a reference for positioning the semiconductor package, the lead is deformed even in the semiconductor package having the fine pitch leads. Can be prevented, and members can be attached to straight lead type and bend lead type semiconductor packages,
Can be shared without removing.

【0015】[0015]

【発明の効果】本発明によれば、微細ピッチのリードを
有している半導体パッケージに対してもリードの変形が
生じるのを防止することができるとともに、ベンドリー
ドタイプ及びストレートリードタイプの半導体パッケー
ジに対して部材を取付たり取外すことなく共用すること
ができる。
According to the present invention, it is possible to prevent the deformation of leads even in a semiconductor package having leads with a fine pitch, and at the same time, bend lead type and straight lead type semiconductor packages. It can be shared without attaching or detaching the member.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のICソケットをベンドリードタイプの
半導体パッケージに適用した場合の断面図。
FIG. 1 is a sectional view when an IC socket of the present invention is applied to a bend lead type semiconductor package.

【図2】本発明のICソケットをストレートリードタイ
プの半導体パッケージに適用した場合の断面図。
FIG. 2 is a sectional view when the IC socket of the present invention is applied to a straight lead type semiconductor package.

【図3】本発明にかかるモールド台座の具体例を示す説
明図。
FIG. 3 is an explanatory view showing a specific example of a mold pedestal according to the present invention.

【図4】本発明にかかるモールド台座静止部材を示す説
明図。
FIG. 4 is an explanatory view showing a mold base stationary member according to the present invention.

【図5】従来のICソケットを示す説明図。FIG. 5 is an explanatory view showing a conventional IC socket.

【図6】従来のICソケットを示す説明図。FIG. 6 is an explanatory view showing a conventional IC socket.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 ソケット本体 2a 凸部 4 コンタクトピン 6 モールド台座 6a モールドボディガイド 7 モールド台座静止部材 8 バネ 10 リード押え部材 80 QFP 82 モールドボディ 85 リード 2 Socket body 2a Convex part 4 Contact pin 6 Mold pedestal 6a Mold body guide 7 Mold pedestal stationary member 8 Spring 10 Lead holding member 80 QFP 82 Mold body 85 Lead

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】中央部に四角形の凹部が設けられているソ
ケット本体と、このソケット本体の凹部の周囲に配置さ
れる複数のコンタクトピンと、半導体パッケージのモー
ルドボディのガイドとなるモールトボディガイドを有
し、前記モールドボディが載置されるモールド台座と、
このモールド台座が前記ソケット本体の凹部の深さ方向
に変位できるように前記モールド台座を支持するバネ手
段と、前記ソケット本体の凹部の深さ方向の所定の位置
に前記モールド台座を静止させることのできるモールド
台座静止手段と、前記半導体パッケージのリードを押え
て対応する前記コンタクトピンとコンタクトさせるリー
ド押え手段とを備えていることを特徴とするICソケッ
ト。
1. A socket main body having a rectangular recess in the center, a plurality of contact pins arranged around the recess of the socket main body, and a molded body guide serving as a guide for a mold body of a semiconductor package. And a mold pedestal on which the mold body is placed,
Spring means for supporting the mold pedestal so that the mold pedestal can be displaced in the depth direction of the recess of the socket body; and the mold pedestal being stationary at a predetermined position in the depth direction of the recess of the socket body. An IC socket comprising: a mold pedestal stationary means that can be used; and a lead pressing means that presses a lead of the semiconductor package to make contact with the corresponding contact pin.
JP40331690A 1990-12-18 1990-12-18 Ic socket Withdrawn JPH05326757A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP40331690A JPH05326757A (en) 1990-12-18 1990-12-18 Ic socket

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP40331690A JPH05326757A (en) 1990-12-18 1990-12-18 Ic socket

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05326757A true JPH05326757A (en) 1993-12-10

Family

ID=18513065

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP40331690A Withdrawn JPH05326757A (en) 1990-12-18 1990-12-18 Ic socket

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05326757A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100722643B1 (en) * 1998-04-02 2007-05-28 가부시키가이샤 어드밴티스트 Integrated Circuit Testing Apparatus
KR100810380B1 (en) * 1998-04-01 2008-03-07 가부시키가이샤 어드밴티스트 Integrated circuit testing apparatus
JP2017045560A (en) * 2015-08-25 2017-03-02 株式会社エンプラス Socket for electrical component

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100810380B1 (en) * 1998-04-01 2008-03-07 가부시키가이샤 어드밴티스트 Integrated circuit testing apparatus
KR100722643B1 (en) * 1998-04-02 2007-05-28 가부시키가이샤 어드밴티스트 Integrated Circuit Testing Apparatus
JP2017045560A (en) * 2015-08-25 2017-03-02 株式会社エンプラス Socket for electrical component

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101535229B1 (en) universal test socket and semiconductor package testing apparatus using the same
US5926027A (en) Apparatus and method for testing a device
JPH06308194A (en) Apparatus for integrated circuit device
JPH08227769A (en) Ic socket
US20030016038A1 (en) Programmable test socket
JP2686893B2 (en) Semiconductor chip socket
JPH05326757A (en) Ic socket
KR100968940B1 (en) Structure of aligning electronic parts
JPS63299257A (en) Socket for inspection of ic
JPH06244292A (en) Ic carrier
JP4941169B2 (en) Probe card mechanism
KR100503683B1 (en) A kgd carrier and an ic mounting socket mounting it
KR100316807B1 (en) Carrier Module of Test Handler
JPH10112365A (en) Ic socket
JP2674781B2 (en) Jig connection device and connection means
JP2002343518A (en) Flat pack ic socket
JP2004085238A (en) Connection mechanism in semiconductor integrated circuit
JPH10255942A (en) Ic socket
JP2000266808A (en) Ic carrier and ic socket
JP2606309Y2 (en) IC socket
JPH0845631A (en) Ic socket
JP2642535B2 (en) Gull lead parts testing equipment
JP2003223964A (en) Ic socket
WO2000014833A1 (en) Socket for handler
JP2003098188A (en) Probe device

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19980312