JP2003223964A - Ic socket - Google Patents

Ic socket

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JP2003223964A
JP2003223964A JP2002022365A JP2002022365A JP2003223964A JP 2003223964 A JP2003223964 A JP 2003223964A JP 2002022365 A JP2002022365 A JP 2002022365A JP 2002022365 A JP2002022365 A JP 2002022365A JP 2003223964 A JP2003223964 A JP 2003223964A
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JP
Japan
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socket
positioning
positioning pin
test board
socket body
Prior art date
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Pending
Application number
JP2002022365A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasumasa Ota
泰正 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yamaichi Electronics Co Ltd
Original Assignee
Yamaichi Electronics Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Yamaichi Electronics Co Ltd filed Critical Yamaichi Electronics Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an IC socket in which the socket main body can be fixed and retained firmly and accurately positioned without any backlash to a test board and a printed-circuit board, and in which loading characteristics are improved by making the head part of a positioning pin as conical, hemispherical or spherical to make a mechanism vertically movable. <P>SOLUTION: In the IC socket having the socket main body, a plurality of Y-shaped or probe pin-shaped contacts arranged at the socket main body and a cover for pressing IC package, this has a positioning means for the purpose of accurately positioning in mounting the socket main body on the test board or printed-circuit board. <P>COPYRIGHT: (C)2003,JPO

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ソケット本体をテ
ストボードまたはプリント板に取付ける際に正確に位置
決めするための位置決め手段を有するICソケットに係
わるもので、特に、円錐形状または球形状の位置決めピ
ンを有する位置決め手段を具えたICソケットに関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an IC socket having a positioning means for accurately positioning the socket body when mounting it on a test board or a printed board, and more particularly to a conical or spherical positioning pin. The present invention relates to an IC socket including a positioning means having

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、電気部品としてのIC素子を有す
るICパッケージにおいては、ICパッケージの各種テ
ストのために、ソケット本体をテストボードやプリント
板に取付けて成るICソケットに、ICパッケージが装
着される高周波テストソケット等のICソケットが知ら
れている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in an IC package having an IC element as an electric component, the IC package is mounted on an IC socket formed by attaching a socket body to a test board or a printed board for various tests of the IC package. IC sockets such as high-frequency test sockets are known.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来のこのようなIC
ソケットの一例が図3に示されており、同図は、従来に
おけるICソケットをテストボードに取付ける時の中央
縦断面図で、半分が示されている。
A conventional IC as described above.
An example of the socket is shown in FIG. 3, which is a central longitudinal cross-sectional view when the conventional IC socket is attached to the test board, half of which is shown.

【0004】図示されるように、従来におけるICソケ
ット100は、ソケット本体101と、このソケット本
体101に配列され弾性押圧部材105によって押圧さ
れた複数個のY字形またはプローブピン形のコンタクト
102と、ソケット本体101に配置された台座104
のICパッケージ載置部106に装着されたICパッケ
ージ110を押圧するICパッケージ押えカバー103
と、ソケット本体101をテストボード107またはプ
リント板に取付ける際に位置決めするための位置決めピ
ン108とを具え、テストボード107のスルーホール
109に位置決めピン108を通して位置決めするよう
に構成されている。
As shown in the figure, a conventional IC socket 100 includes a socket body 101 and a plurality of Y-shaped or probe pin-shaped contacts 102 arranged on the socket body 101 and pressed by an elastic pressing member 105. Pedestal 104 arranged on the socket body 101
IC package holding cover 103 for pressing the IC package 110 mounted on the IC package mounting portion 106 of
And a positioning pin 108 for positioning when the socket body 101 is attached to the test board 107 or a printed board, and the positioning pin 108 is positioned through the through hole 109 of the test board 107.

【0005】このような従来のICソケット100は、
絶縁性の材料で作られたソケット本体101内に配置さ
れた複数個のコンタクト102とを有しており、これら
コンタクト102をゴム等の弾性部材105を介してホ
ルダー112を固着用ねじ113によって取付けられて
いる。
Such a conventional IC socket 100 is
It has a plurality of contacts 102 arranged in a socket body 101 made of an insulating material, and these contacts 102 are attached to a holder 112 by fixing screws 113 via an elastic member 105 such as rubber. Has been.

【0006】コンタクト102は、例えばほぼY字形に
弾性金属板から型押し型抜き等のプレス加工によって作
られ、上方側が左右に分かれてアーム状の接触部114
を形成しており、下方の端部が突出されて端子部115
として形成されており、ゴム等のような弾性部材105
によって押圧されており、テストボード107やプリン
ト板の電極パッド部116と接触される。
The contact 102 is formed, for example, in a substantially Y shape from an elastic metal plate by press working such as stamping and die cutting, and the upper side is divided into left and right parts and an arm-shaped contact portion 114.
And the lower end is projected to form the terminal portion 115.
Elastic member 105 such as rubber or the like.
It is pressed by and is brought into contact with the test board 107 and the electrode pad portion 116 of the printed board.

【0007】従って、このようなICソケット100に
おいてテスト等のために、例えば、図示されるように、
ソケット本体101をテストボード107またはプリン
ト板に取付ける場合には、位置決めするための位置決め
ピン108をテストボード107のスルーホール109
に差し込んて位置決めして取付けて、ねじ等によって固
着している。
Therefore, for such a test as the IC socket 100, for example, as shown in the figure,
When the socket body 101 is attached to the test board 107 or the printed board, the positioning pin 108 for positioning is provided in the through hole 109 of the test board 107.
It is inserted, positioned and attached, and fixed with screws or the like.

【0008】しかしながら、このような従来のICソケ
ット100においては、位置決めピン108とテストボ
ード107のスルーホール109との精度によって、位
置決めピン108とスルーホール109との間に隙間が
あるために、ソケット本体101に対してテストボード
107が矢印で示されるように横方向に動いてしまっ
て、コンタクト102の接触部114とテストボード1
07の電極パッド部116との間にずれが生じて、正確
に位置決めが行なわれず、接触不具合等が生じる等の問
題が見られる。
However, in such a conventional IC socket 100, there is a gap between the positioning pin 108 and the through hole 109 due to the accuracy of the positioning pin 108 and the through hole 109 of the test board 107. The test board 107 has moved laterally as shown by the arrow with respect to the main body 101, and the contact portion 114 of the contact 102 and the test board 1
There is a problem that a gap occurs between the electrode 07 and the electrode pad portion 116, positioning is not accurately performed, and a contact failure or the like occurs.

【0009】従って、本発明の目的は、先に述べた従来
における問題を解決するために、位置決めピンの頭部を
円錐形や球形または半球形状として上下方向に可動する
機構とすることによって、ソケット本体をテストボード
やプリント板に何等がたつき無く、しっかりと正確に位
置決めして固持できる装着性の向上された高周波テスト
ソケットのようなICソケットを提供することにある。
Therefore, in order to solve the above-mentioned problems in the prior art, the object of the present invention is to make the head of the positioning pin a conical shape, a spherical shape, or a hemispherical shape so as to be movable in the vertical direction. An object of the present invention is to provide an IC socket such as a high-frequency test socket in which the main body can be firmly and accurately positioned and firmly fixed to a test board or a printed board without any rattling, and which has improved mountability.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明のICソケットは、ソケット本体と、該ソ
ケット本体に配列された複数個のY字形またはプローブ
ピン形のコンタクトと、ICパッケージ押えカバーとを
有するICソケットにおいて、前記ソケット本体をテス
トボードまたはプリント板に取付ける際に正確に位置決
めするための位置決め手段を有することを特徴とする。
To achieve the above object, an IC socket of the present invention comprises a socket body, a plurality of Y-shaped or probe pin-shaped contacts arranged in the socket body, and an IC. An IC socket having a package pressing cover is characterized by having positioning means for accurately positioning the socket body when mounting the socket body on a test board or a printed board.

【0011】また、本発明のICソケットは、前記位置
決め手段が位置決めピンを有し、該位置決めピンが、前
記ソケット本体に上下動可能に装着され、弾性部材とし
てのばね部材によって押圧されていることを特徴とす
る。
In the IC socket of the present invention, the positioning means has a positioning pin, and the positioning pin is vertically movably mounted on the socket body and is pressed by a spring member as an elastic member. Is characterized by.

【0012】さらに、本発明のICソケットは、前記位
置決めピンが、頭部が円錐形状をなし、前記ばね部材に
よって押圧されていることを特徴とする。
Further, the IC socket of the present invention is characterized in that the positioning pin has a conical head portion and is pressed by the spring member.

【0013】さらにまた、本発明のICソケットは、前
記位置決めピンが、頭部が半球状または球形状をなし、
前記ばね部材によって押圧されていることを特徴とす
る。
Furthermore, in the IC socket of the present invention, the positioning pin has a hemispherical or spherical head portion,
It is characterized in that it is pressed by the spring member.

【0014】本発明のICソケットは、前記コンタクト
が、弾性押圧部材によって押圧されて前記テストボード
またはプリントボードに接触される押圧力が作用される
ことを特徴とする。
The IC socket of the present invention is characterized in that the contact is pressed by an elastic pressing member to exert a pressing force for contacting the test board or the printed board.

【0015】本発明のその他の目的や特徴および利点
は、添付図面に示される本発明のICソケットの実施形
態についての以下の詳細な説明から明らかになろう。
Other objects, features and advantages of the present invention will be apparent from the following detailed description of the embodiments of the IC socket of the present invention shown in the accompanying drawings.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】(実施例1)本発明におけるIC
ソケットの実施例1が図1に示されており、中央縦断面
図の半分が示されている。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION (Example 1) IC according to the present invention
Embodiment 1 of the socket is shown in FIG. 1, with half of the central longitudinal section shown.

【0017】図示されるように、本発明の実施例1にお
けるICソケット1は、ソケット本体2と、このソケッ
ト本体2に配列されていて弾性押圧部材4によって押圧
された複数個のY字形またはプローブピン形のコンタク
ト3と、ソケット本体2に配置された台座6のICパッ
ケージ載置部7に装着されたICパッケージ10を押圧
するICパッケージ押えカバー5と、ソケット本体2を
テストボード8またはプリント板に取付ける際に位置決
めするための位置決め手段9とを有している。本発明に
おけるこの位置決め手段9は、位置決めピン12と、位
置決めピン12を押圧するばね部材13とを有してお
り、テストボード8のスルーホール14に位置決めピン
12の頭部を係合させて位置決めするように構成されて
いる。
As shown in the drawings, the IC socket 1 according to the first embodiment of the present invention includes a socket body 2 and a plurality of Y-shaped or probes arranged in the socket body 2 and pressed by an elastic pressing member 4. The pin-shaped contact 3, the IC package holding cover 5 that presses the IC package 10 mounted on the IC package mounting portion 7 of the pedestal 6 arranged in the socket body 2, and the socket body 2 to the test board 8 or the printed board. It has a positioning means 9 for positioning it when it is mounted on. The positioning means 9 in the present invention has a positioning pin 12 and a spring member 13 for pressing the positioning pin 12, and the head of the positioning pin 12 is engaged with the through hole 14 of the test board 8 for positioning. Is configured to.

【0018】このような本発明のICソケット1は、絶
縁性の材料で作られたソケット本体2内に配置された複
数個のコンタクト3を有しており、これらコンタクト3
は、ゴム等の弾性押圧部材4を介してホルダー15が固
着用ねじ16によって取付けられることによって保持さ
れている。
The IC socket 1 of the present invention as described above has a plurality of contacts 3 arranged in a socket body 2 made of an insulating material.
The holder 15 is held by being attached by a fixing screw 16 via an elastic pressing member 4 such as rubber.

【0019】コンタクト3は、例えばほぼY字形に弾性
金属板材料から型押しや型抜き等のプレス加工によって
作られ、上方側が左右に分かれたアーム状の一対の接触
部18を形成しており、下方の端部が突出されて端子部
19として形成されていて、ゴム等のような弾性押圧部
材4によって押圧されており、テストボード8やプリン
ト板の電極パッド部17と接触される。
The contact 3 is formed, for example, in a substantially Y shape from an elastic metal plate material by pressing such as embossing and die cutting, and forms a pair of arm-shaped contact portions 18 whose upper side is divided into left and right, The lower end is projected and formed as a terminal portion 19, is pressed by an elastic pressing member 4 such as rubber, and is brought into contact with the test board 8 and the electrode pad portion 17 of the printed board.

【0020】さらに、本発明のICソケット1におい
て、位置決め手段9は、コイルスプリングのようなばね
部材13によって弾性的に押圧された位置決めピン12
を有しており、ソケット本体2に設けられた下向きに開
口して、上部が閉鎖されている穴内に、図示で上下方向
に移動可能に装着されていて、ばね部材13によって押
圧されている。本実施例では、この位置決めピン12の
頭部が図示される如く円錐形状に作られている。
Further, in the IC socket 1 of the present invention, the positioning means 9 includes the positioning pin 12 elastically pressed by the spring member 13 such as a coil spring.
It is mounted so as to be movable in the vertical direction in the drawing and is pressed by the spring member 13 in a hole that is opened downward in the socket body 2 and that is closed at the top. In the present embodiment, the head of the positioning pin 12 is formed in a conical shape as shown.

【0021】従って、このようなICソケット1におい
てテスト等のために、例えば、図示されるように、ソケ
ット本体2をテストボード8またはプリント板に取付け
る場合には、位置決めするための位置決め手段9として
の位置決めピン12が、テストボード8のスルーホール
14の孔口部分に係合されることによって位置決めされ
て、次いで、ソケット本体2がテストボード8に適宜な
取付けねじ等によって固着される。
Therefore, when the socket body 2 is attached to the test board 8 or the printed board as shown in the figure for the purpose of testing the IC socket 1 as described above, it serves as the positioning means 9 for positioning. The positioning pin 12 is positioned by engaging with the hole opening portion of the through hole 14 of the test board 8, and then the socket body 2 is fixed to the test board 8 by an appropriate mounting screw or the like.

【0022】この場合に、位置決め手段9の位置決めピ
ン12は、円錐形状の頭部がスルーホール14の孔口部
分にぴったりと当接されて係合されるために、何等がた
つきが無く、しっかりと正確に位置決めピン12が位置
決めされて取付けられる。
In this case, since the conical head of the positioning pin 12 of the positioning means 9 is brought into close contact with the hole opening portion of the through hole 14 and engaged therewith, there is no rattling. The positioning pin 12 is firmly and accurately positioned and mounted.

【0023】(実施例2)図2は、本発明におけるIC
ソケットの実施例2を示すもので、中央縦断面図の半分
が示されている。
(Embodiment 2) FIG. 2 shows an IC according to the present invention.
The Example 2 of a socket is shown and the half of a center longitudinal cross-sectional view is shown.

【0024】図示されるように、本発明の実施例2にお
けるICソケット20は、上述の実施例1におけるもの
と実質的な構成が同じであり、位置決め手段における位
置決めピンの頭部の形状だけが上記実施例と異なってお
り、本実施例では位置決めピンの頭部が半球状をなして
いる。
As shown in the figure, the IC socket 20 according to the second embodiment of the present invention has substantially the same structure as that of the above-mentioned first embodiment, and only the shape of the head of the positioning pin in the positioning means is different. Unlike the above embodiment, the head of the positioning pin is hemispherical in this embodiment.

【0025】すなわち、本発明の実施例2におけるIC
ソケット20は、ソケット本体22と、このソケット本
体22に配列され弾性押圧部材24によって押圧された
複数個のY字形またはプローブピン形のコンタクト23
と、ソケット本体22に配置された台座26のICパッ
ケージ載置部27に装着されたICパッケージ10を押
圧するICパッケージ押えカバー25と、ソケット本体
22をテストボード28またはプリント板に取付ける際
に位置決めするための位置決め手段29とを有してい
る。
That is, the IC according to the second embodiment of the present invention.
The socket 20 includes a socket body 22 and a plurality of Y-shaped or probe pin-shaped contacts 23 arranged on the socket body 22 and pressed by an elastic pressing member 24.
And an IC package holding cover 25 for pressing the IC package 10 mounted on the IC package mounting portion 27 of the pedestal 26 arranged in the socket body 22, and positioning when the socket body 22 is attached to the test board 28 or a printed board. Positioning means 29 for

【0026】本発明のこの実施例2におけるこのような
位置決め手段29は、位置決めピン32と、位置決めピ
ン12を押圧するばね部材33とを有しており、テスト
ボード28のスルーホール34に位置決めピン32の頭
部を係合させて位置決めするように構成されている。
The positioning means 29 according to the second embodiment of the present invention has a positioning pin 32 and a spring member 33 for pressing the positioning pin 12, and the positioning pin is provided in the through hole 34 of the test board 28. It is configured to engage and position 32 heads.

【0027】このような本発明のICソケット20は、
絶縁性の材料で作られたソケット本体22内に配置され
た複数個のコンタクト23を有しており、これらコンタ
クト23は、ゴム等の弾性押圧部材24を介してホルダ
ー35が固着用ねじ36によって取付けられることによ
って保持されている。
The IC socket 20 of the present invention as described above is
It has a plurality of contacts 23 arranged in a socket body 22 made of an insulating material, and these contacts 23 are held by a holder 35 by a fixing screw 36 via an elastic pressing member 24 such as rubber. It is held by being attached.

【0028】コンタクト23は、実施例1のコンタクト
と同様に弾性金属板材料から型押しや型抜き等のプレス
加工によって作られ、上方側にアーム状の一対の接触部
38が形成されており、下方の端部が突出した端子部3
9として形成されていて、ゴム等の弾性押圧部材24に
よって押圧されており、テストボード28やプリント板
の電極パッド部37と接触されるようになっている。
The contact 23 is made of an elastic metal plate material by press working such as stamping and stamping, similarly to the contact of the first embodiment, and has a pair of arm-shaped contact portions 38 formed on the upper side, Terminal part 3 with lower end protruding
It is formed as 9, and is pressed by an elastic pressing member 24 such as rubber, and comes into contact with the test board 28 and the electrode pad portion 37 of the printed board.

【0029】さらに、本発明の、この実施例2のICソ
ケット20において、位置決め手段29は、コイルスプ
リングのようなばね部材33によって弾性的に押圧され
た位置決めピン32を有しており、ソケット本体22に
設けられた下向きに開口し、上部が閉鎖されている穴内
に、図示で上下方向に移動可能に装着されていて、ばね
部材33によって押圧されている。また、本実施例で
は、この位置決めピン32の頭部が図示されるように半
球状に作られている。なお、このような位置決めピン3
2の頭部は図示のような半球状に限られず、球状でも良
く、さらにまた、水平方向の横断面形状が円形状であれ
ば、繭形のような長円球状でも他の形状でも良く、円形
のスルーホール34の孔口にぴったりと良好に係合する
形状であるならば、いずれの形状でも良いことは勿論で
ある。従って、このような位置決めピン32の頭部の形
状を、半球状や球状の他に、正三角形状や正四角形状等
の正多角形状に形成することもできる。
Further, in the IC socket 20 of the second embodiment of the present invention, the positioning means 29 has a positioning pin 32 elastically pressed by a spring member 33 such as a coil spring, and the socket body A hole that is open downward and is closed at the top is provided in 22 so as to be movable in the vertical direction in the figure, and is pressed by a spring member 33. Further, in this embodiment, the head of the positioning pin 32 is formed in a hemispherical shape as shown in the drawing. In addition, such a positioning pin 3
The head of 2 is not limited to the hemispherical shape as shown, but may be spherical, and if the horizontal cross-sectional shape is circular, it may be oval-shaped like a cocoon or any other shape. It goes without saying that any shape may be used as long as it has a shape that fits snugly and satisfactorily into the opening of the circular through hole 34. Therefore, the shape of the head of the positioning pin 32 can be formed in a regular polygonal shape such as a regular triangle shape or a regular square shape in addition to the hemispherical shape and the spherical shape.

【0030】従って、このようなICソケット20にお
いてテスト等のために、例えば、図示されるように、ソ
ケット本体22をテストボード28やプリント板に取付
ける場合には、上記実施例1の場合と同様に、位置決め
するための位置決め手段29としての位置決めピン32
が、テストボード28のスルーホール34の孔口部分に
係合されることによって位置決めされ、その後、ソケッ
ト本体22がテストボード28に取付けねじ等によって
固着される。
Therefore, when the socket body 22 is attached to a test board 28 or a printed board as shown in the figure for the purpose of a test or the like in such an IC socket 20, the same as in the case of the first embodiment. A positioning pin 32 as a positioning means 29 for positioning
Is positioned by being engaged with the hole opening portion of the through hole 34 of the test board 28, and then the socket body 22 is fixed to the test board 28 with a mounting screw or the like.

【0031】この場合に、位置決め手段29の位置決め
ピン32は、半球形状の頭部がスルーホール34の孔口
部分にぴったりと当接されて係合されるために、何等が
たつきが無く、しっかりと正確に位置決めピン32が係
合されて位置決めされ、取付けられる。
In this case, since the hemispherical head of the positioning pin 32 of the positioning means 29 is brought into close contact with the hole opening portion of the through hole 34 to be engaged therewith, there is no rattling. Firmly and accurately the locating pins 32 are engaged, positioned and mounted.

【0032】[0032]

【発明の効果】以上に説明したように、本発明の請求項
1に記載のICソケットは、ソケット本体と、該ソケッ
ト本体に配列された複数個のY字形またはプローブピン
形のコンタクトと、ICパッケージ押えカバーとを有す
るICソケットにおいて、前記ソケット本体をテストボ
ードまたはプリント板に取付ける際に正確に位置決めす
るための位置決め手段を有するので、位置決め手段を、
頭部が円錐形状や半球形状または球状等の適宜な形状の
位置決めピンとして、テストボードのスルーホールの孔
口部分にぴったりと当接されて係合されるために、何等
がたつきが無く、しっかりと正確に位置決めピンが係合
されて位置決めされ、取付けることができる。
As described above, the IC socket according to claim 1 of the present invention includes a socket body, a plurality of Y-shaped or probe pin-shaped contacts arranged in the socket body, and an IC. An IC socket having a package pressing cover has a positioning means for accurately positioning when mounting the socket body on a test board or a printed board.
Since the head is a positioning pin of an appropriate shape such as a conical shape, a hemispherical shape, or a spherical shape, it is brought into close contact with the hole portion of the through hole of the test board to be engaged, so that there is no rattling. Firmly and accurately the locating pins are engaged and positioned for mounting.

【0033】本発明の請求項2記載のICソケットは、
前記位置決め手段が位置決めピンを有し、該位置決めピ
ンが、前記ソケット本体に上下動可能に装着され、弾性
部材としてのばね部材によって押圧されているので、位
置決めピンが上下方向に移動でき、ばね部材によって適
切に押圧されて対応するテストボード等のスルーホール
のような孔に良好に係合できて正確に、がたつき無く位
置決めすることができる。
The IC socket according to claim 2 of the present invention is
Since the positioning means has a positioning pin, and the positioning pin is mounted on the socket body so as to be vertically movable and is pressed by a spring member as an elastic member, the positioning pin can be moved in the vertical direction, and the spring member By appropriately pressing, it is possible to satisfactorily engage with a hole such as a through hole of a corresponding test board or the like, and it is possible to position accurately and without rattling.

【0034】本発明の請求項3記載のICソケットは、
前記位置決めピンが、円錐形状をなし、前記ばね部材に
よって押圧されているので、位置決めピンの頭部がテス
トボードやプリント板等のスルーホールの孔口にぴった
りと隙間無く、何等のがたつきも無く係合されて正確に
位置決めすることができ、装着性が向上される。
The IC socket according to claim 3 of the present invention is
Since the positioning pin has a conical shape and is pressed by the spring member, the head of the positioning pin fits exactly into the hole of the through hole of the test board, the printed board, or the like, and there is no rattling. It can be accurately engaged without being engaged, and the wearability is improved.

【0035】本発明の請求項4記載のICソケットは、
前記位置決めピンが、半球状または球形状をなし、前記
ばね部材によって押圧されているので、位置決めピンの
頭部がテストボードやプリント板等のスルーホールの孔
口にぴったりと隙間無く、何等のがたつきも無く係合さ
れて正確に位置決めすることができ、かつ簡単に製作す
ることもできる。
The IC socket according to claim 4 of the present invention is
Since the positioning pin has a hemispherical shape or a spherical shape and is pressed by the spring member, the head of the positioning pin fits perfectly into the through hole of the through hole of the test board, the printed board, or the like without any gap. It can be engaged accurately without any rattling and can be accurately positioned, and can be easily manufactured.

【0036】本発明の請求項5に記載のICソケット
は、前記コンタクトが、弾性押圧部材によって押圧され
て前記テストボードまたはプリントボードに接触される
押圧力が作用されるので、押圧作用される接触力がコン
タクトとテストボードに対して良好に作用されてコンタ
クトが良好に電極パッド部と面接触することができると
共に、しっかりと固持することができる。
In the IC socket according to the fifth aspect of the present invention, since the contact is pressed by the elastic pressing member to contact the test board or the print board, the contact is pressed. The force is well applied to the contact and the test board so that the contact can make good surface contact with the electrode pad portion and can be firmly held.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のICソケットの実施例1における中央
縦断面図で、半分が示されている。
FIG. 1 is a central longitudinal sectional view of an IC socket according to a first embodiment of the present invention, half of which is shown.

【図2】本発明のICソケットの実施例2における中央
縦断面図で、半分が示されている。
FIG. 2 is a central longitudinal sectional view of an IC socket according to a second embodiment of the present invention, half of which is shown.

【図3】従来のICソケットにおける位置決めピンを示
す中央縦断面図で、半分が示されている。
FIG. 3 is a central longitudinal sectional view showing a positioning pin in a conventional IC socket, half of which is shown.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ICソケット 2 ソケット本体 3 コンタクト 4 弾性押圧部材 5 押えカバー 6 台座 7 ICパッケージ載置部 8 テストボード 9 位置決め手段 10 ICパッケージ 11 ICリード 12 位置決めピン 13 ばね部材 14 スルーホール 15 ホルダー 16 固着用ねじ 17 電極パッド部 18 接触部 19 端子部 20 ICソケット 22 ソケット本体 23 コンタクト 24 弾性押圧部材 25 押えカバー 26 台座 27 ICパッケージ載置部 28 テストボード 29 位置決め手段 30 ICパッケージ 31 ICリード 32 位置決めピン 33 ばね部材 34 スルーホール 35 ホルダー 36 固着用ねじ 37 電極パッド部 38 接触部 39 端子部 1 IC socket 2 socket body 3 contacts 4 Elastic pressing member 5 Presser cover 6 pedestals 7 IC package mount 8 test board 9 Positioning means 10 IC package 11 IC lead 12 Positioning pin 13 Spring member 14 through holes 15 holder 16 Fixing screw 17 Electrode pad 18 Contact part 19 Terminal part 20 IC socket 22 Socket body 23 contacts 24 Elastic pressing member 25 Presser cover 26 pedestal 27 IC package mount 28 test boards 29 Positioning means 30 IC package 31 IC lead 32 Positioning pin 33 Spring member 34 through hole 35 holder 36 Fixing screw 37 Electrode pad 38 Contact part 39 terminal

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ソケット本体と、該ソケット本体に配列
された複数個のY字形またはプローブピン形のコンタク
トと、ICパッケージ押えカバーとを有するICソケッ
トにおいて、 前記ソケット本体をテストボードまたはプリント板に取
付ける際に正確に位置決めするための位置決め手段を有
することを特徴とするICソケット。
1. An IC socket having a socket body, a plurality of Y-shaped or probe pin-shaped contacts arranged in the socket body, and an IC package holding cover, wherein the socket body is a test board or a printed board. An IC socket characterized by having positioning means for accurately positioning when mounting.
【請求項2】 前記位置決め手段は、位置決めピンを有
し、該位置決めピンは、前記ソケット本体に上下動可能
に装着され、弾性部材としてのばね部材によって押圧さ
れていることを特徴とする請求項1記載のICソケッ
ト。
2. The positioning means has a positioning pin, and the positioning pin is mounted on the socket body so as to be vertically movable and is pressed by a spring member as an elastic member. IC socket described in 1.
【請求項3】 前記位置決めピンは、頭部が円錐形状を
なし、前記ばね部材によって押圧されていることを特徴
とする請求項2記載のICソケット。
3. The IC socket according to claim 2, wherein the positioning pin has a conical head portion and is pressed by the spring member.
【請求項4】 前記位置決めピンは、頭部が半球状また
は球形状をなし、前記ばね部材によって押圧されている
ことを特徴とする請求項2に記載のICソケット。
4. The IC socket according to claim 2, wherein a head of the positioning pin has a hemispherical shape or a spherical shape, and is pressed by the spring member.
【請求項5】 前記コンタクトは、弾性押圧部材によっ
て押圧されて前記前記テストボードまたはプリントボー
ドに接触される押圧力が作用されることを特徴とする請
求項1に記載のICソケット。
5. The IC socket according to claim 1, wherein the contact is pressed by an elastic pressing member to exert a pressing force for contacting the test board or the printed board.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009047512A (en) * 2007-08-17 2009-03-05 Koyo Technos:Kk Inspection jig and inspection apparatus
KR20140101461A (en) * 2013-02-07 2014-08-20 (주)테크윙 Pushing apparatus for test handler

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009047512A (en) * 2007-08-17 2009-03-05 Koyo Technos:Kk Inspection jig and inspection apparatus
KR20140101461A (en) * 2013-02-07 2014-08-20 (주)테크윙 Pushing apparatus for test handler
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