JPH0950643A - 光再生装置 - Google Patents

光再生装置

Info

Publication number
JPH0950643A
JPH0950643A JP8038737A JP3873796A JPH0950643A JP H0950643 A JPH0950643 A JP H0950643A JP 8038737 A JP8038737 A JP 8038737A JP 3873796 A JP3873796 A JP 3873796A JP H0950643 A JPH0950643 A JP H0950643A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
semiconductor laser
correction lens
substrate
objective lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8038737A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3067094B2 (ja
Inventor
Seiji Kajiyama
清治 梶山
Yoichi Tsuchiya
洋一 土屋
Shuichi Ichiura
秀一 市浦
Takeo Toyama
建夫 外山
Katsutoshi Hibino
克俊 日比野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP8038737A priority Critical patent/JP3067094B2/ja
Priority to US08/603,567 priority patent/US5777970A/en
Publication of JPH0950643A publication Critical patent/JPH0950643A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3067094B2 publication Critical patent/JP3067094B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1392—Means for controlling the beam wavefront, e.g. for correction of aberration
    • G11B7/13925—Means for controlling the beam wavefront, e.g. for correction of aberration active, e.g. controlled by electrical or mechanical means
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/127—Lasers; Multiple laser arrays
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1362—Mirrors
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1365—Separate or integrated refractive elements, e.g. wave plates
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1372—Lenses
    • G11B7/1376—Collimator lenses
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B2007/0003—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier
    • G11B2007/0006—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier adapted for scanning different types of carrier, e.g. CD & DVD

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板の厚さが異なる光ディスクD,d の各信号
記録面7a,70aに各々レーザスポットを集光可能な光ピッ
クアップ搭載の再生装置を提供する。 【構成】 レーザ光を対物レンズ6 に導く光学手段を光
ディスクD,d の基板7,70の厚さに応じて切り換え、この
切換後の光学手段と対物レンズ6 との協働によって、光
ディスクD の信号記録面7a、又は、光ディスクd の信号
記録面70a に各々に最適なスポット径のレーザスポット
を集光させる。上記切換は、例えば、第１半導体レーザ
1 と第２半導体レーザ10を備え、第１半導体レーザ1 の
光路に補正レンズ2 を設け、第１半導体レーザ1 の駆動
時には、補正レンズ2 と対物レンズ6 と光ディスクD の
基板7 との協働で実効的な開口数を０．４５にし、ま
た、第２半導体レーザ10の駆動時には、対物レンズ6 と
光ディスクd の基板70との協働で実効的な開口数を０．
６にすることによって実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、基板の厚さが厚い光デ
ィスクと薄い光ディスクの両者を再生できる再生装置に
関する。基板の厚さが厚い光ディスクとは、例えば、
１．２ｍｍ程度の厚さの光ディスクであり、薄い光ディ
スクとは、例えば、０．６ｍｍ程度の厚さの光ディスク
である。また、基板の厚さとは、本明細書では、基板表
面と信号記録面の距離をいうものと定義する。したがっ
て、基板表面と信号記録面の距離が０．６ｍｍ程度の光
ディスクを背中合わせに２枚貼り合わせて、全体の厚さ
を１．２ｍｍ程度とした光ディスクも、本明細書では、
基板の厚さが０．６ｍｍ程度の光ディスクと言う。
【０００２】
【従来の技術】コンパクトディスク（ＣＤ）は、基板の
厚さが１．２ｍｍ程度で、トラックピッチが１．６μｍ
の光ディスクである。本明細書では、ＣＤと同等の記録
密度を標準密度と言う。近年、光ディスクの記録密度を
高めることが望まれるようになっており、近い将来に
は、標準密度の光ディスクであるＣＤと、高密度の光デ
ィスクが併存することが予想される。このため、標準密
度のＣＤと高密度の光ディスクの何れをも再生できる再
生装置が望まれている。
【０００３】高密度の光ディスクを再生する場合には、
信号記録面に集光されるレーザビームのスポット径を
０．９μｍ程度まで絞る必要がある。そのためには、レ
ーザビームの波長を短くしたり、対物レンズの開口数Ｎ
Ａを大きくしたりしなければならない。しかし、対物レ
ンズの開口数ＮＡを大きくすると、コマ収差が開口数Ｎ
Ａの３乗に比例して増大するという事情があるため、レ
ーザビームが光ディスクの基板表面に垂直に入射しない
ときにはコマ収差が大きくなって、再生信号の品質が劣
化するという問題が生ずる。ここで、レーザビームの入
射角を垂直でなくならせる光ディスクの傾斜は、光ディ
スク基板の反り等に起因して発生する。一方、コマ収差
は、光ディスク基板の厚さにも比例するため、光ディス
ク基板の厚さを薄くすることによってコマ収差を減少さ
せ、これにより、光ディスク基板の傾斜に起因するコマ
収差を抑制することが可能である。この事情に基づい
て、光ディスク基板の傾斜に起因するコマ収差を抑制し
つつ対物レンズの開口数ＮＡを大きくしてレーザビーム
のスポット径を０．９μｍ程度まで絞るために、光ディ
スク基板の厚さを薄くすることが検討されたのである。
【０００４】しかるに、光ピックアップの対物レンズ
は、光ディスク基板の厚さとレーザビームの波長を考慮
して設計されている。このため、記録対象又は再生対象
の光ディスクの基板の厚さが、対物レンズの設計に際し
て想定された基板の厚さと異なる場合には波面収差が発
生する。その結果、その光ディスクの信号記録面にレー
ザビームスポットが集光されなくなって、信号の記録及
び再生が不可能になる。例えば、基板の厚さが０．６ｍ
ｍの光ディスク用に設計された対物レンズを搭載する光
ピックアップを用いた場合には、基板の厚さが１．２ｍ
ｍの光ディスクの信号記録面にレーザビームスポットを
集光させることはできず、その光ディスクに信号を記録
したり、または、その光ディスクの記録信号を再生した
りすることはできない。即ち、基板の厚さの異なる２種
類の光ディスクに対しては、各々に適した対物レンズを
搭載する光ピックアップを用意する必要がある。
【０００５】図５は、外周部を適宜に遮蔽することによ
り実効的な開口数ＮＡを変化させる対物レンズを用い、
波長７８０ｎｍのレーザビームを、基板の厚さが１．２
ｍｍの光ディスクに照射した場合に、該光ディスクの信
号記録面に集光されるレーザビームのスポット径（図
中、黒丸印）の測定値と、波面収差（図中、白丸印）の
計算値を示す。この対物レンズは、レーザビームの波長
が６３５ｎｍで、光ディスク基板の厚さが０．６ｍｍの
場合に対応するように設計されたものであり、本来の開
口数ＮＡは、０．６である。図５から判るように、この
場合には、レーザビームのスポット径を１．５μｍまで
絞ることはできない。つまり、ＣＤのような標準密度の
光ディスクの再生に際して要求されるスポット径である
１．５μｍまで、スポット径を絞ることはできない。換
言すれば、高密度で薄い基板の光ディスク用に設計され
た対物レンズを用いた場合には、レーザビームの波長と
対物レンズの開口数ＮＡを、標準密度で厚い基板のＣＤ
に適するように切り換えたとしても、該ＣＤを再生でき
ないことが判る。
【０００６】標準密度で厚い基板のＣＤと、高密度で薄
い基板の光ディスクの両者を再生可能な再生装置は、２
種類の光ピックアップを搭載して光ディスクに応じて切
り換えるように制御することで実現可能である。しか
し、そうすると、コスト高となるばかりでなく、光ピッ
クアップを切り換えるための構成が必要になるため、機
構が複雑化するとともに装置が大型化するという問題が
ある。このため、単一の光ピックアップによって、上述
の２種類の光ディスクの各信号記録面に、各々に適した
スポット径のレーザビームを集光させ得るようにするこ
とが望まれる。
【０００７】このことに関連して、下記のような先行技
術がある。特開平５−３０３７６６号公報には、光ディ
スク基板の厚さに応じて、表面が非球面でパワーの無い
光学素子を平行光束中に挿入させ、又は、平行光束中か
ら退避させることにより、焦点距離を変えることなく、
基板の厚さの相違によって発生する収差を補正する光ピ
ックアップが開示されている。このようにすることで、
この光ピックアップでは、基板の厚さの異なる各光ディ
スクの記録面に各々ビームスポットを集光させている。
特開平６−２１５４０６号公報には、内周部と外周部と
でレーザビームの結像点が異なるように設計した対物レ
ンズを用いることにより、基板の厚さの異なる２種類の
光ディスクの各信号記録面に、各々ビームスポットを集
光させることができる光ピックアップが開示されてい
る。特開平６−２５９８０４号公報には、基板が厚い標
準密度のＣＤの再生用の半導体レーザと、基板が薄い高
密度の光ディスクの記録及び再生用の半導体レーザを備
え、光ディスクに応じて選択された半導体レーザの出力
光を、共通の光学系を通して信号記録面に集光させる装
置が開示されている。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】特開平５−３０３７６
６号公報の装置では、収差補正用の光学素子を光路中に
進退させる機構を光学系に設ける必要があるため、機構
が複雑化して安定性にも問題が生じ、装置も大型化す
る。また、パワーのない光学素子で開口数を低下させる
には遮光が必須となるが、そうすると、光量の減衰を来
す。特開平６−２１５４０６号公報の装置では、所望の
特性の対物レンズを製造することが困難である。また、
レーザパワーの一部のみを記録／再生に利用して残りの
パワーを捨てることになるため、高パワーの半導体レー
ザが必要になるという問題がある。また、エネルギーの
無駄も大きい。特開平６−２５９８０４号公報の装置で
は、一方のレーザの波長と基板厚に合わせて、対物レン
ズを設計しているため、他方のレーザに対しては基板厚
が共通な場合でも球面収差が発生する。また、基板厚が
異なる場合は、さらにコマ収差が拡大して、レーザを所
定の基板上に集光照射することはできない。
【０００９】本発明の目的は、標準密度で厚い基板の光
ディスク（ＣＤ等）と、高密度で薄い基板の光ディスク
（ＳＤ等）の両者を、単一の光ピックアップを用いて再
生できる再生装置を提供することである。また、本発明
の目的は、上述のレンズホルダを上述の光路に確実に進
退させることのできる機構を提供することである。ま
た、本発明の目的は、上述の２種類の光ディスクを単一
の光ピックアップを用いて再生できる再生装置を、光学
系に機械的な可動部分を設けないで実現することであ
る。また、本発明の目的は、光ピックアップに用いられ
る半導体レーザのレーザビームの利用効率を上げること
である。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、光ディスクに
レーザ光を照射して反射レーザ光を光検出器へ導く光学
手段を有する光再生装置であって、光ディスクの基板表
面と信号記録面との距離の異なる複数種類の光ディスク
に各々適合するように前記光学手段を調整する手段を備
え、調整後の光学手段と共通の対物レンズとの協働によ
って当該光ディスクの信号記録面にレーザビームスポッ
トを集光させる光再生装置である。
【００１１】例えば、前記距離が１．１５ｍｍ〜１．２
５ｍｍ等の標準距離の光ディスクと０．５５ｍｍ〜０．
６５ｍｍ等の短距離の光ディスクに各々適合するように
前記調整を行う手段を備えた装置である。例えば、前記
距離が１．１５ｍｍ〜１．２５ｍｍ等の標準距離の光デ
ィスクがセットされている場合にはレーザダイオードと
前記対物レンズとの間の光路に補正レンズを介挿し、前
記距離が０．５５ｍｍ〜０．６５ｍｍ等の短距離の光デ
ィスクがセットされている場合にはレーザダイオードと
前記対物レンズとの間の光路から補正レンズを離脱させ
る装置である。例えば、前記対物レンズは、屈折率ｎo
が１．４〜１．８、前方側表面の曲率半径ｒ1 が１．５
ｍｍ〜３．０ｍｍ、後方側表面の曲率半径ｒ2 が５．０
ｍｍ〜７．０ｍｍの範囲にあり、前記補正レンズは、屈
折率ｎc が１．５〜２．０、前方側表面の曲率半径ｒ3
が６．０ｍｍ〜３２ｍｍ、後方側表面の曲率半径ｒ4 が
４．５ｍｍ〜９５ｍｍの範囲にある、装置である。ま
た、補正レンズの片面または両面が非球面である、装置
である。さらに、前記補正レンズの介挿位置は、前記対
物レンズの前方側４．０ｍｍ〜７．０ｍｍの位置であ
る、又は前記対物レンズの前方側１４ｍｍ〜２２ｍｍの
位置である、装置である。
【００１２】例えば、前記調整手段は、前記補正レンズ
を保持する補正レンズホルダを前記光路に垂直な面内で
回動させることで前記介挿を行う装置である。例えば、
前記調整手段は、前記補正レンズを保持する補正レンズ
ホルダを前記光路に垂直な面内で進退させることで前記
介挿を行う装置である。例えば、前記調整手段は、板バ
ネで構成された補正レンズホルダをバネ力で変位させる
ことで該補正レンズホルダに保持された補正レンズを前
記光路に介挿させる装置である。
【００１３】また、本発明は、光ディスクにレーザ光を
照射するとともに反射レーザ光を光検出器へ導く光学手
段を備えた光再生装置であって、補正レンズを搭載する
補正レンズホルダと、対物レンズを含む前記光学手段を
搭載するとともに移動機構によりディスク半径方向に移
動可能に設けられたピックアップベースと、前記補正レ
ンズを前記ピックアップベースに対してディスク半径方
向に相対変位可能で且つ該相対変位の両端で安定するよ
うに保持する保持機構と、前記ピックアップベースがデ
ィスク半径方向へ移動される際に前記補正レンズホルダ
を移動終端手前の所定位置で指令に応じて係止すること
により前記相対変位を生ぜしめる係止機構と、前記ピッ
クアップベースの移動機構と前記係止機構とを協働さ
せ、基板表面と信号記録面との距離が０．５５ｍｍ〜
０．６５ｍｍ等の短距離の光ディスクがセットされた場
合には前記補正レンズを前記光学手段の光路から離脱し
た状態に設定し、前記距離が１．１５ｍｍ〜１．２５ｍ
ｍ等の標準距離の光ディスクがセットされた場合には前
記補正レンズを前記光学手段の光路に介挿した状態に設
定する制御手段と、を有する光再生装置である。
【００１４】また、本発明は、光ディスクの信号記録面
にレーザビームスポットを集光させるとともに該信号記
録面で反射されるレーザビームを光検出器へ導く光学手
段を備えた光再生装置であって、第１半導体レーザと、
第２半導体レーザと、光ディスクの信号記録面に合焦さ
せるレーザビームを対物レンズに入射する入射光路に第
１半導体レーザの出力ビームを導く第１光学系と、前記
入射光路に第２半導体レーザの出力ビームを導く第２光
学系と、第１光学系又は第２光学系の何れか一方の光路
に介挿されて対物レンズ及び光ディスク基板と光学的に
協働して当該光ディスクの信号記録面にレーザビームス
ポットを集光させる屈折力のある光学素子とを設ける点
にある。
【００１５】また、本発明は、上記発明に於て、前記第
１半導体レーザの出力ビーム波長を第２半導体レーザの
出力ビーム波長より長くすることを更なる特徴とする。
また、本発明は、上記発明に於て、前記第１半導体レー
ザの出力ビーム波長と第２半導体レーザの出力ビーム波
長を略等しくすることを更なる特徴とする。また、本発
明は、上記発明に於て、前記第１半導体レーザの出力ビ
ーム波長を６６５〜８００ｎｍとし、前記第２半導体レ
ーザの出力ビーム波長を６２０〜６９５ｎｍとし、前記
光学素子を第１光学系に介挿した補正レンズとすること
を更なる特徴とする。また、本発明は、上記発明に於
て、前記第１半導体レーザの出力ビーム波長を７６５〜
７９５ｎｍとし、前記第２半導体レーザの出力ビーム波
長を６２０〜６５０ｎｍとすることを更なる特徴とす
る。また、本発明は、上記発明に於て、前記第１半導体
レーザの出力ビーム波長を７６５〜７９５ｍとし、前記
第２半導体レーザの出力ビーム波長を６３５〜６６５ｎ
ｍとすることを更なる特徴とする。また、本発明は、上
記発明に於て、前記第１半導体レーザの出力ビーム波長
と前記第２半導体レーザの出力ビーム波長を６３５〜６
６５ｎｍすることを更なる特徴とする。また、本発明
は、上記発明に於て、前記第１半導体レーザの出力ビー
ム波長と前記第２半導体レーザの出力ビーム波長を６２
０〜６５０ｎｍとすることを更なる特徴とする。
【００１６】また、本発明は、上記発明に於て、基板の
厚さが１．１５ｍｍ〜１．２５ｍｍ等の標準距離の光デ
ィスクがセットされると第１半導体レーザをレーザビー
ム出力用に選択し、基板の厚さが０．５５ｍｍ〜０．６
５ｍｍ等の短距離の光ディスクがセットされると第２半
導体レーザをレーザビーム出力用に選択する手段を付加
することを更なる特徴とする。
【００１７】また、本発明は、上記発明に於て、ポリカ
ーボネート製で基板の厚さが略１．２ｍｍの光ディスク
がセットされたとき、補正レンズと対物レンズと当該光
ディスク基板の協働による実効的な対物レンズの開口数
が０．２５〜０．４５であり、ポリカーボネート製で基
板の厚さが０．５５〜０．６５ｍｍの光ディスクがセッ
トされたとき、対物レンズと当該光ディスク基板の協働
による実効的な対物レンズの開口数が０．５５〜０．６
５することを更なる特徴とする。
【００１８】また、本発明の更なる特徴は、単一の半導
体レーザの出力ビームを反射手段にて選択的に光路変更
するように構成し、この変更される光路中に対物レンズ
と光ディスク基板に協働してレーザビームスポットを集
光させるパワーのある光学素子を設ける点にある。
【００１９】また、本発明は、上記発明に於て、前記半
導体レーザの出力ビーム波長を６３５〜６６５ｎｍとす
ることを更なる特徴とする。また、本発明は、上記発明
に於て、前記半導体レーザの出力ビーム波長を６２０〜
６５０ｎｍとすることを更なる特徴とする。
【００２０】また、本発明では、ポリカーボネート製で
基板の厚さが１．１５〜１．２５ｍｍの高密度光ディス
クがセットされたとき、補正レンズと対物レンズと当該
光ディスク基板の協働による実効的な対物レンズの開口
数が０．５０〜０．５４であり、ポリカーボネート製で
基板の厚さが０．５５〜０．６５ｍｍの光ディスクがセ
ットされたとき、対物レンズと当該光ディスク基板の協
働による実効的な対物レンズの開口数が０．５５〜０．
６５であることを特徴とする。
【００２１】また、本発明は、半導体レーザから出力さ
れるレーザ光を光ディスク基板の信号記録面に集光させ
る光学手段を備えるとともに、該信号記録面で反射され
るレーザ光を光検出器へ導いて検出する手段を備えた光
再生装置であって、前記光学手段が、対物レンズ及び光
ディスク基板と光学的に協働して当該光ディスク基板の
信号記録面にレーザビームスポットを集光させるパワー
の有る光学素子を光路中に有する第１の光路と、前記光
学素子の無い第２の光路を有し、さらに、前記第１の光
路と前記第２の光路を選択する選択手段を有する光再生
装置である。
【００２２】また、本発明は、上記構成に於いて、前記
選択手段が前記第１の光路と前記第２の光路の両端の分
岐位置に各々設けられ、給電オン時には入射光を反射
し、給電オフ時には入射光を透過する液晶パネル板であ
ることを更なる特徴とする。また、本発明は、上記半導
体レーザの出力ビーム波長は６３５〜６６５ｎｍである
ことを更なる特徴とする。また、本発明は、上記半導体
レーザの出力ビーム波長は６２０〜６５０ｎｍであるこ
とを更なる特徴とする。
【００２３】
【実施例】
第１実施例．図１は第１実施例の光ピックアップの光学
系の主要部を示す模式図である。図中、細一点鎖線は第
１半導体レーザ1 から出力されるレーザ光であり、細破
線は第２半導体レーザ10から出力されるレーザ光であ
る。また、図１では、光ディスクD と光ディスクd とい
う２種類の光ディスクが、同じ位置に重ねて描かれてい
る。光ディスクD は、厚さ約１．２ｍｍの光ディスク基
板7 の背面に、信号記録面7aが形成された標準密度の光
ディスクである。光ディスクd は、厚さ約０．６ｍｍの
光ディスク基板70の背面に信号記録面70a が形成された
２枚の光ディスクを背中合わせに貼り合わせて成る高密
度の光ディスクである。なお、信号記録面70a は図中１
本の線によって描かれているが、実際には、貼り合わせ
た２枚の光ディスクの各々に形成されている。
【００２４】第１半導体レーザ1 からは、波長７８０
（±１５）ｎｍのレーザ光が出力される。つまり、厚さ
約１．２ｍｍで標準密度の光ディスクD の再生に適した
レーザ光が出力される。また、第２半導体レーザ10から
は、波長６３５（±１５）ｎｍのレーザ光が出力され
る。つまり、厚さ約０．６ｍｍで高密度の光ディスクd
の再生に適したレーザ光が出力される。
【００２５】第１半導体レーザ1 から出力されたレーザ
光は、カップリングレンズ（補正レンズ）2 で平行ビー
ム又は発散ビームにされ、偏光ビームスプリッタ3 、偏
光ビームスプリッタ4 、（１／４）λ板5 、対物レンズ
6 、厚さ約１．２ｍｍのポリカーボネート製のディスク
基板7 を通って、光ディスクD の信号記録面7aに集光さ
れる。この場合のレーザビームスポット径は、約１．５
（±０．１）μｍである。即ち、標準密度の光ディスク
D の再生に適したスポット径である。また、信号記録面
7aで反射されたレーザ光は、厚さ約１．２ｍｍのディス
ク基板7 を通った後、対物レンズ6 を通ることにより平
行ビームにされ、さらに（１／４）λ板5 を通り、偏光
ビームスプリッタ4 にて反射され、集光レンズ8 によっ
て受光センサ9 の信号検出部に合焦される。
【００２６】前記補正レンズ2 は、第１半導体レーザ1
から出力されるレーザ光を平行ビーム又は発散ビームに
するように機能する。また、前記補正レンズ2 は、対物
レンズ6 及び光ディスクD の基板7 と光学的に共同して
機能して、対物レンズ6 の実効的な開口数ＮＡを約０．
４５にする。０．４５とは、厚さ約１．２ｍｍで標準密
度の光ディスクD の再生に適した開口数である。このよ
うに、前記補正レンズ2 は、レーザ光を集光したり又は
拡散方向に変更したりするレンズとしての光学的なパワ
ーを有しており、且つ、波長７８０（±１５）ｎｍのレ
ーザ光の波面収差を補正する機能を果たしているが、遮
光機能は無い。図６に、カップリングレンズ2 の例を示
す。
【００２７】第２半導体レーザ10から出力されたレーザ
光は、コリメータレンズ11により平行ビームにされ、偏
光ビームスプリッタ3 で反射された後、偏光ビームスプ
リッタ4 、（１／４）λ板5 、対物レンズ6 、厚さ約
０．６ｍｍのポリカーボネート製のディスク基板70を通
り、光ディスクd の信号記録面70a に集光される。この
場合のレーザビームスポット径は約０．９１（±０．
１）μｍである。即ち、高密度の光ディスクd に適した
スポット径である。また、信号記録面70a で反射された
レーザ光は、厚さ約０．６ｍｍのディスク基板70を通
り、対物レンズ6 を通ることにより平行ビームにされ、
さらに（１／４）λ板5 を通り、偏光ビームスプリッタ
4 にて反射された後、集光レンズ8 によって受光センサ
9 の信号検出部に合焦される。
【００２８】対物レンズ6 と光ディスクd の厚さ約０．
６ｍｍのポリカーボネート製の基板70とが光学的に共同
して機能することにより、対物レンズ6 の実効的な開口
数ＮＡは０．６（±０．０２）になる。換言すれば、対
物レンズ6 は、厚さ約０．６ｍｍのポリカーボネート製
の基板70と光学的に共同して機能することにより、その
実効的な開口数ＮＡが０．６になるように設計されてい
る。
【００２９】上記構成の光ピックアップを搭載する再生
装置では、厚さ約１．２ｍｍの光ディスクD がセットさ
れた場合には、第１半導体レーザ1 がレーザ光の出力用
に選択される。また、厚さ約０．６ｍｍの光ディスクd
がセットされた場合には、第２半導体レーザ10がレーザ
光の出力用に選択される。これにより、各光ディスクの
記録信号を再生することが可能となる。
【００３０】上述の説明では、再生専用タイプの光ディ
スクについて述べているが、追記タイプの光ディスクや
書換可能タイプの光ディスクの場合も、図１に示す構成
を再生専用タイプの場合と同様に適用することができ
る。また、書換可能タイプの光ディスクとしては、光磁
気ディスクばかりでなく、相変化タイプの光ディスクの
場合も、図１に示す構成を同様に適用できる。また、従
来より提供されている追記タイプのＣＤ（ＣＤ−Ｒ）で
は、波長７８０ｎｍのレーザビームに対して高反射率が
得られるように膜が設計されているため、図１に示す構
成を備えた再生装置によって良好に再生を行うことがで
きる。
【００３１】図１に示す構成の光ピックアップでは、実
際には、（１／４）λ板5 と対物レンズ6 との間に、光
路を９０°変えるための反射ミラーが設けられている。
この反射ミラーは、半導体レーザ1 又は半導体レーザ10
から（１／４）λ板5 に到る光学系をディスク面と平行
に配置することを目的としており、これにより、光ピッ
クアップのコンパクト化が達成されている。図１では、
未易くするために、この反射ミラーの図示を省略してい
る。なお、この反射ミラーは、（１／４）λ板と兼用す
るプリズムによって構成することもできる。また、図１
に示す構成の光ピックアップでは、偏光ビームスプリッ
タ3,4 を用いているが、これらに代えてハーフミラーを
用いることもできる。
【００３２】また、図１に示す構成の光ピックアップで
は、第１半導体レーザ1 の光路に補正レンズ2 を設け
て、第１半導体レーザ1 からレーザ光を出力した場合の
対物レンズ6 の実効的な開口数ＮＡを約０．４５にする
とともに、補正レンズ2 の無い第２半導体レーザ10から
レーザ光を出力した場合の対物レンズ6 の実効的な開口
数ＮＡを０．６（±０．０２）にしているが、補正レン
ズを第２半導体レーザ10の光路に設けてもよい。つま
り、図１の補正レンズ2 を無くして、該補正レンズ2 と
は光学的な特性が異なる補正レンズを第２半導体レーザ
10と偏光ビームスプリッタ3 との間に設けることによ
り、図１の光ピックアップと同様の機能を実現してもよ
い。
【００３３】次に、図１に示すように、第２半導体レー
ザ10からレーザ光を出力して基板の厚さ約０．６ｍｍの
光ディスクd の信号記録面70a に集光させる場合の実効
的開口数ＮＡが０．６（±０．０２）となるように対物
レンズ6 を設計した光ピックアップに於いて、第２半導
体レーザ10として波長６３５ｎｍ又は６５０ｎｍのレー
ザ光を出力する半導体レーザを選択し、且つ、第１半導
体レーザ1 として波長７８０ｎｍ又は６８０ｎｍ又は６
５０ｎｍ又は６３５ｎｍのレーザ光を出力する半導体レ
ーザを選択して、第１半導体レーザ1 からレーザ光を出
力したときに基板の厚さ約１．２ｍｍの光ディスクD の
信号記録面7aに約１．５μｍの径のレーザビームスポッ
トを集光させる組合せを、図２に即して説明する。
【００３４】前述の第１実施例は、図２の「組合せ２」
に相当する。即ち、第１半導体レーザ1 からは波長７８
０ｎｍのレーザ光が出力され、第２半導体レーザ10から
は波長６３５ｎｍのレーザ光が出力される。第１半導体
レーザ1 からレーザ光が出力される場合の実効的な開口
数ＮＡは０．４５である。即ち、対物レンズ6 と補正レ
ンズ2 と厚さ約１．２ｍｍのディスク基板7 とが共同し
て機能する場合の開口数ＮＡは０．４５である。また、
第２半導体レーザ10から出力される波長６３５ｎｍのレ
ーザ光は、基板の厚さ約０．６ｍｍの光ディスクd の信
号記録面70a に約０．９１μｍのスポット径で集光され
る。
【００３５】「組合せ１」は、「組合せ２」に於いて、
第２半導体レーザ10として波長６５０ｎｍのレーザ光を
出力する半導体レーザを選択した場合である。この場
合、第２半導体レーザ10から出力される波長６５０ｎｍ
のレーザ光は、厚さ約０．６ｍｍのディスク基板70を通
り、約０．９３μｍのスポット径で信号記録面70a に集
光される。
【００３６】「組合せ１」と「組合せ２」の光ピックア
ップによると、書込み可能な光ディスク（ＣＤ−Ｒ）の
再生も可能である。なんとなれば、ＣＤ−Ｒは、図７に
示すように、レーザ波長が短くなるに従って反射率が低
下して、７８０ｎｍより短い波長では十分な再生出力を
得られないが、「組合せ１」と「組合せ２」の光ピック
アップでは、第１半導体レーザ1 として、波長７８０ｎ
ｍのレーザ光を出力する半導体レーザを用いているため
である。
【００３７】「組合せ３」と「組合せ４」では、第１半
導体レーザ1 からは波長６８０ｎｍのレーザ光が出力さ
れ、この場合の実効的開口数ＮＡは０．４である。「組
合せ３」では、第２半導体レーザ10からは波長６５０ｎ
ｍのレーザ光が出力され、このレーザ光は、厚さ約０．
６ｍｍのディスク基板70を通り、信号記録面70a に約
０．９３μｍのスポット径で集光される。「組合せ４」
では、第２半導体レーザ10からは波長６３５ｎｍのレー
ザ光が出力され、このレーザ光は、厚さ約０．６ｍｍの
ディスク基板70を通り、信号記録面70a に約０．９１μ
ｍのスポット径で集光される。
【００３８】「組合せ１」〜「組合せ４」のように、第
１半導体レーザ1 から出力されるレーザ光の波長とし
て、６８０ｎｍ〜８００ｎｍの範囲を選択すると、標準
密度で基板の厚さが１．２ｍｍ程度の光ディスクを再生
し易くなる。
【００３９】「組合せ５」と「組合せ６」では、第１半
導体レーザ1 からは波長６５０ｎｍのレーザ光が出力さ
れ、この場合の実効的開口数ＮＡは０．３７である。
「組合せ５」では、第２半導体レーザ10から波長６５０
ｎｍのレーザ光が出力されて、信号記録面70a に約０．
９３μｍのスポット径で集光される。「組合せ６」で
は、第２半導体レーザ10から波長６３５ｎｍのレーザ光
が出力されて、信号記録面70a に約０．９１μｍのスポ
ット径で集光される。
【００４０】「組合せ７」では、第１半導体レーザ1 か
らは波長６３５ｎｍのレーザ光が出力され、この場合の
実効的開口数ＮＡは０．３６である。また、第２半導体
レーザ10からも波長６３５ｎｍのレーザ光が出力され、
このレーザ光は、信号記録面70a に約０．９１μｍのス
ポット径で集光される。
【００４１】「組合せ１」〜「組合せ７」のように、第
２半導体レーザ1 から出力されるレーザ光の波長とし
て、６３０ｎｍ〜６８０ｎｍの範囲を選択すると、高密
度で基板の厚さが０．６ｍｍ程度の光ディスクを再生し
易くなる。上述の各組合せに於いて、開口数ＮＡの許容
誤差は各々「±０．０２」、スポット径の許容誤差は各
々「±０．１μｍ」、レーザ波長の許容誤差は各々「±
１５ｎｍ」とする。
【００４２】第２実施例．図２から判るように、「組合
せ５」の場合、第１半導体レーザ1 と第２半導体レーザ
10から出力される各レーザ光の波長は６５０ｎｍであ
る。また、「組合せ７」では、各レーザ光の波長は、と
もに６３５ｎｍである。このように、第１半導体レーザ
1 と第２半導体レーザ10とが同一波長のレーザ光を出力
する組合せでは、半導体レーザを共用することができ
る。
【００４３】図３は、半導体レーザを共用した第２実施
例の光ピックアップの光学系の主要部を模式的に示す。
図３に於いて、図１と共通の構成については図１と同じ
符号を付し、その説明は省略もしくは簡略化する。
【００４４】図３の構成では、図１の第２半導体レーザ
10とコリメータレンズ11と偏光ビームスプリッタ3 が設
けられていない。また、補正レンズ2 の前後には、光路
を切り換えるための選択的反射板13と選択的反射板12が
設けられている。さらに、選択的反射板13と選択的反射
板12に対応して、反射板14とコリメータレンズ11と反射
板15とが設けられており、補正レンズ2 を通らない光路
が形成されている。
【００４５】反射板13,12 は、例えば、液晶パネルによ
り構成されるもので、電源を供給された場合には、入射
するレーザ光を反射する。これにより、半導体レーザ1
から出力されたレーザ光は、選択的反射板13、反射板1
4、コリメータレンズ11、反射板15、選択的反射板12の
光路を経て、偏光ビームスプリッタ4 に到る。また、反
射板13,12 は、電源をオフされた場合には、入射するレ
ーザ光を透過する。これにより、半導体レーザ1 から出
力されたレーザ光は、選択的反射板13、補正レンズ2 、
選択的反射板12の光路を経て、偏光ビームスプリッタ4
に到る。
【００４６】つまり、補正レンズ2 を通る光路と通らな
い光路が形成されており、且つ、選択的反射板13,12 へ
の電源のオン／オフにより、何れかの光路を選択可能と
されている。このため、第１実施例の「組合せ５」と
「組合せ７」を、単一の半導体レーザを用いて実現可能
である。換言すれば、標準密度で基板が厚い光ディスク
D と、高密度で基板が薄い光ディスクd を、再生可能で
ある。また、半導体レーザが１個で足りるため、コスト
が安価となる。
【００４７】図３に示す構成の光ピックアップに適用さ
れる例を、「組合せ８」及び「組合せ９」として図４に
示す。即ち、半導体レーザ1 として波長６５０ｎｍのレ
ーザ光を出力する半導体レーザを用いた場合と、半導体
レーザ1 として波長６３５ｎｍのレーザ光を出力する半
導体レーザを用いた場合を示す。なお、これら以外の波
長のレーザ光を用いてもよい。
【００４８】第１実施例と第２実施例の拡張．第１実施
例及び第２実施例で述べた各組合わせは、基板の厚さが
１．２ｍｍで標準密度の光ディスクと、基板の厚さが
０．６ｍｍで高密度の光ディスクを再生する再生装置に
搭載される光ピックアップであるが、この標準密度の光
ディスクに代えて、又は、この標準密度の光ディスクを
含めて、基板の厚さが約１．２ｍｍの高密度の光ディス
クをも再生できるようにすることもできる。
【００４９】そのためには、前述の「組合せ５〜組合せ
９」のように、レーザ光の波長として６５０ｎｍ又は６
３５ｎｍを選択し、対物レンズと厚さ０．６ｍｍの基板
が共同で機能する場合の開口数ＮＡが０．６となるよう
に対物レンズ6 を設計し、さらに、対物レンズと厚さ
１．２ｍｍの基板と補正レンズ2 が共同で機能する場合
の開口数ＮＡが０．５２になるように補正レンズ2 を設
計すればよい。そのようにすることで、基板の厚さ１．
２ｍｍの高密度の光ディスクの信号記録面に、約１．２
μｍのスポット径でレーザビームを集光させることがで
きる。即ち、厚さの異なる２種類の高密度ディスクと、
さらに、場合によっては、標準密度の光ディスクをも再
生できる。本発明は、かかる構成も含む。
【００５０】補正レンズ．次に、図１と図３で用いられ
る補正レンズ2 を、図１４と図１５に即して説明する。
なお、図１４と図１５では、補正レンズは「ｃ」という
符号で示されている。また、光ディスクは「ｂ」という
符号で示され、対物レンズは「ａ」という符号で示され
ている。
【００５１】対物レンズａは、屈折率ｎo が約１．４
９、前方側の表面の概ねの曲率半径ｒ１が１．９９ｍｍ
で、後方側の表面の概ねの曲率半径ｒ２が５．３２ｍｍ
である非球面レンズである。対物レンズａは、平行光が
入射する場合に於いて、光ディスクｂの基板の厚さが
０．６ｍｍのとき、波面収差ｒｍｓは０λである。
【００５２】（ａ）第１の例（図１４・低屈折率）．光
ディスクｂとして、基板の厚さが１．２ｍｍの光ディス
クがセットされる場合には、対物レンズａから５．５ｍ
ｍ前方側（レーザ光源側）の位置に、屈折率ｎc が約
１．５１で、前方側の表面の概ねの曲率半径ｒ３が６．
３７ｍｍ、後方側の表面の概ねの曲率半径ｒ４が４．７
８ｍｍの非球面の補正レンズｃが設けられる。これによ
り、この場合の波面収差ｒｍｓは０．００４λとなる。
即ち、基板の厚さが０．６ｍｍの光ディスク用に設計さ
れた対物レンズａの前方に補正レンズｃを設けることに
より、基板の厚さが１．２ｍｍの光ディスクに適したレ
ーザビームスポットを得ることができる。
【００５３】第１の例の補正レンズｃが光軸に対して約
２°傾くと、図１１に実線で示すように、光ディスクｂ
の基板の厚さが１．２ｍｍのときの波面収差ｒｍｓは
０．０２３λとなる。また、この補正レンズｃが光軸と
垂直な面内方向で０．３ｍｍシフトすると、図１０に実
線で示すように、光ディスクｂの基板の厚さが１．２ｍ
ｍのときの波面収差ｒｍｓは０．０３３λとなる。ま
た、この補正レンズｃが光軸に対して約２°傾き、且
つ、光軸と垂直な面内方向で０．３ｍｍシフトした場合
は、光ディスクｂの基板の厚さが１．２ｍｍのときの波
面収差ｒｍｓは０．０３９λとなる。
【００５４】したがって、再生装置に於いて、例えば、
トラッキング制御が行われる場合のように、補正レンズ
ｃが固定されており、対物レンズａが±０．３ｍｍ変位
する場合でも、基板の厚さが１．２ｍｍの光ディスク
を、第１の例の補正レンズｃを用いることにより、不具
合無く再生できることが判る。
【００５５】（ｂ）第２の例（不図示・低屈折率）．光
ディスクｂとして、基板の厚さが１．２ｍｍの光ディス
クがセットされる場合には、対物レンズａから１８ｍｍ
前方側の位置に、屈折率ｎc が約１．５１で、前方側の
表面（凹面）の概ねの曲率半径ｒ３が４．０ｍｍ、後方
側の表面（凹面）の概ねの曲率半径ｒ４が３．０ｍｍの
非球面の補正レンズｃが設けられる。これにより、この
場合の波面収差ｒｍｓは０．０１８λとなる。即ち、基
板の厚さが０．６ｍｍの光ディスク用に設計された対物
レンズａの前方に補正レンズｃを設けることにより、基
板の厚さが１．２ｍｍの光ディスクに使用可能なレーザ
ビームスポットを得ることができる。
【００５６】第２の例の補正レンズｃが光軸に対して約
２°傾くと、光ディスクｂの基板の厚さが１．２ｍｍの
ときの波面収差ｒｍｓは０．０４５λとなる。また、こ
の補正レンズｃが光軸と垂直な面内方向で０．３ｍｍシ
フトすると、光ディスクｂの基板の厚さが１．２ｍｍの
ときの波面収差ｒｍｓは０．０３１λとなる。さらに、
この補正レンズｃが光軸に対して約２°傾き、且つ、光
軸と垂直な面内方向で０．３ｍｍシフトした場合は、光
ディスクｂの基板の厚さが１．２ｍｍのときの波面収差
ｒｍｓは０．０２８λとなる。
【００５７】したがって、再生装置に於いて、例えば、
トラッキング制御が行われる場合のように、補正レンズ
ｃが固定されており、対物レンズａが±０．３ｍｍ変位
する場合でも、基板の厚さが１．２ｍｍの光ディスク
を、第１の例の補正レンズｃを用いることにより、不具
合無く再生できることが判る。
【００５８】（ｃ）第３の例（図１５・高屈折率）．光
ディスクｂとして、基板の厚さが１．２ｍｍの光ディス
クがセットされる場合には、対物レンズａから５．５ｍ
ｍ前方側（レーザ光源側）の位置に、屈折率ｎc が約
２．０で、前方側の表面の概ねの曲率半径ｒ３が３２ｍ
ｍ、後方側の表面の概ねの曲率半径ｒ４が９１．９ｍｍ
の非球面の補正レンズｃが設けられる。これにより、こ
の場合の波面収差ｒｍｓは０．００６λとなる。即ち、
基板の厚さが０．６ｍｍの光ディスク用に設計された対
物レンズａの前方に補正レンズｃを設けることにより、
基板の厚さが１．２ｍｍの光ディスクに適したレーザビ
ームスポットを得ることができる。
【００５９】第３の例の補正レンズｃが光軸に対して約
２°傾くと、図１１に破線で示すように、光ディスクｂ
の基板の厚さが１．２ｍｍのときの波面収差ｒｍｓは
０．０２３λとなる。また、この補正レンズｃが光軸と
垂直な面内方向で０．３ｍｍシフトすると、図１０に破
線で示すように、光ディスクｂの基板の厚さが１．２ｍ
ｍのときの波面収差ｒｍｓは０．０３３λとなる。ま
た、この補正レンズｃが光軸に対して約２°傾き、且
つ、光軸と垂直な面内方向で０．３ｍｍシフトした場合
は、光ディスクｂの基板の厚さが１．２ｍｍのときの波
面収差ｒｍｓは０．０２１λとなる。
【００６０】したがって、再生装置に於いて、例えば、
トラッキング制御が行われる場合のように、補正レンズ
ｃが固定されており、対物レンズａが±０．３ｍｍ変位
する場合でも、基板の厚さが１．２ｍｍの光ディスク
を、第１の例の補正レンズｃを用いることにより、不具
合無く再生できることが判る。
【００６１】（ｄ）第４の例（不図示・高屈折率）．光
ディスクｂとして、基板の厚さが１．２ｍｍの光ディス
クがセットされる場合には、対物レンズａから１８ｍｍ
前方側の位置に、屈折率ｎc が約２．０で、前方側の表
面（凹面）の概ねの曲率半径ｒ３が３３．５ｍｍ、後方
側の表面（凹面）の概ねの曲率半径ｒ４が４５ｍｍの非
球面の補正レンズｃが設けられる。これにより、この場
合の波面収差ｒｍｓは０．００１λとなる。即ち、基板
の厚さが０．６ｍｍの光ディスク用に設計された対物レ
ンズａの前方に補正レンズｃを設けることにより、基板
の厚さが１．２ｍｍの光ディスクに適したレーザビーム
スポットを得ることができる。
【００６２】第４の例の補正レンズｃが光軸に対して約
２°傾くと、光ディスクｂの基板の厚さが１．２ｍｍの
ときの波面収差ｒｍｓは０．０１９λとなる。また、こ
の補正レンズｃが光軸と垂直な面内方向で０．３ｍｍシ
フトすると、光ディスクｂの基板の厚さが１．２ｍｍの
ときの波面収差ｒｍｓは０．００７λとなる。さらに、
この補正レンズｃが光軸に対して約２°傾き、且つ、光
軸と垂直な面内方向で０．３ｍｍシフトした場合は、光
ディスクｂの基板の厚さが１．２ｍｍのときの波面収差
ｒｍｓは０．０１５λとなる。
【００６３】したがって、再生装置に於いて、例えば、
トラッキング制御が行われる場合のように、補正レンズ
ｃが固定されており、対物レンズａが±０．３ｍｍ変位
する場合でも、基板の厚さが１．２ｍｍの光ディスク
を、第１の例の補正レンズｃを用いることにより、不具
合無く再生できることが判る。
【００６４】以上の４つの例から判るように、補正レン
ズｃが非球面で低屈折率（例１と例２では屈折率１．５
１）のレンズであっても、非球面で高屈折率（例３と例
４では屈折率２．０）のレンズであっても、基板の厚さ
が０．６ｍｍの光ディスク用に設計された対物レンズａ
の前方に上述の如く補正レンズｃを設けることによっ
て、基板の厚さが１．２ｍｍの光ディスクに記録されて
いる信号を良好に再生したり、又は、信号を良好に記録
することができる。
【００６５】対物レンズａの屈折率ｎo が１．４〜１．
８の範囲で、対物レンズａの表面の概ねの曲率半径が、
ｒ１＝１．５ｍｍ〜３．０ｍｍの範囲、且つ、ｒ２＝
５．０ｍｍ〜７．０ｍｍの範囲のとき、基板の厚さが
０．６ｍｍの光ディスクに対して上記と同等の性能を有
することが確認された。また、補正レンズｃの屈折率ｎ
c が約１．５〜２．０の範囲で、補正レンズｃの表面の
概ねの曲率半径が、ｒ３＝４．０ｍｍ〜３４ｍｍの範
囲、且つ、ｒ４＝３．０ｍｍ〜９５ｍｍの範囲のとき、
基板の厚さが１．２ｍｍの光ディスクに対して上記と同
等の性能を有することが確認された。
【００６６】また、補正レンズｃを、対物レンズａの前
方側の４．０ｍｍ〜７．０ｍｍの範囲の位置、又は、対
物レンズａの前方側の１４ｍｍ〜２２ｍｍの範囲の位置
に配置した場合でも、基板の厚さが１．２ｍｍの光ディ
スクに対して上記と同等の性能を有することが、図１２
に示すように確認された。
【００６７】上記補正レンズｃを備えた光ピックアップ
の光学系の一例を図１６に示す。図１６に於いて、基板
の厚さが１．２ｍｍの光ディスクｂを再生する場合に
は、補正レンズｃが図示の位置に進入される。これによ
り、半導体レーザLDから出力されたレーザ光は、回折格
子DGでトラッキング用のサイドビームを生成され、ビー
ムスプリッタBSを経た後、補正レンズｃと対物レンズａ
とにより、光ディスクｂの基板表面から１．２ｍｍの深
さの信号記録面に集光される。
【００６８】また、上記信号記録面で反射されたレーザ
光は、光ディスクｂの１．２ｍｍの厚さの基板、対物レ
ンズａ、補正レンズｃを経て平行光にされた後、コリメ
ータレンズCLにより収束され、ビームスプリッタBSで反
射されて、受光素子PSに合焦されて検出される。
【００６９】また、図１６に於いて、基板の厚さが０．
６ｍｍの光ディスクb を再生する場合には、補正レンズ
ｃが図示の位置から退避される。これにより、半導体レ
ーザLDから出力されたレーザ光は、回折格子DGでトラッ
キング用のサイドビームを生成され、ビームスプリッタ
BSを経た後、対物レンズａにより、光ディスクｂの基板
表面から０．６ｍｍの深さの信号記録面に集光される。
また、上記信号記録面で反射されたレーザ光は、光ディ
スクｂの０．６ｍｍの厚さの基板、対物レンズａを経て
平行光にされた後、コリメータレンズCLにより収束さ
れ、ビームスプリッタBSで反射されて、受光素子PSに合
焦されて検出される。
【００７０】補正レンズの進退機構．次に、図１６に示
す補正レンズｃを、同図に示す位置に進入させ、又は、
退避させる機構を、図８と図９を参照して説明する。
【００７１】図に於いて、ベース160 には２本のガイド
レール161,161 がディスクｂの半径方向に平行に固定さ
れており、この２本のガイドレール161,161 により、ピ
ックアップベース100 が摺動可能に支持されている。ピ
ックアップベース100 内には、通常の光ピックアップに
搭載されている各種の光学部材、光検出器、アクチュエ
ータ等が搭載されている。但し、対物レンズ106 と補正
レンズ102 とは、この機構では、図示の如くピックアッ
プベース100 の外部（上部）に在る。
【００７２】また、上記ベース160 には、ソレノイド15
1 が固定されており、このソレノイド151 の作用棒151a
の端部には係止部材152 が連結されている。係止部材15
2 はベース160 の上に設けられており、且つ、長孔152a
の長さ分だけ変位可能とされている。長孔152aは、前記
ガイドレール161,161 と平行な方向に延びるように係止
部材152 の両端寄りに各々設けられている。係止部材15
2 には、不図示のバネによってソレノイド151 から遠ざ
かる方向に付勢力が付与されている。また、この係止部
材152 の両端部には、各々ディスクｂの内方向へ突出す
るようにして係止部152b,152c が設けられている。この
係止部152b,152c は、下記補正レンズホルダ120 の被係
止部120aを係止するための突出部である。
【００７３】対物レンズ106 を支持する対物レンズホル
ダ110 と上記ピックアップベース100 との間には、補正
レンズ102 を支持する補正レンズホルダ120 が、光軸L
と直交するように設けられている。この補正レンズホル
ダ120 には、係止部152b,152c に対応する被係止部120a
が、ディスクｂのトラック接線方向に平行で外方向へ突
出するように設けられている。また、この補正レンズホ
ルダ120 の両端寄りの位置には、各々孔120b,120c が設
けられている。これらの孔120b,120c は、各々ガイドレ
ール161,161 と平行な方向に延び、且つ、両端に凹み部
を有する。各孔120b,120c には、ピックアップベース10
0 の上面から突設されたピン100b,100cが各々挿通され
ている。上述の如く各孔120b,120c の両端部には各々凹
み部が設けられているため、各孔120b,120c に挿通され
た各ピン100b,100c は、各々何れかの端部の凹み部に嵌
まり込むことにより、その位置に安定的に係止される。
【００７４】かかる構成の機構の動作を説明する。ソレ
ノイド151 がオフされている状態では、係止部材152 は
不図示のバネの付勢力で、図８（ａ）のように、ディス
クｂの外周（図８で右）寄りの位置に在る。この状態
で、ピックアップベース100 がディスクｂの最内周に向
けて移動されると、ピックアップベース100 が最内周位
置に到る手前の所定位置で、補正レンズホルダ120 の被
係止部120aが係止部材152 の内側の係止部152cにより係
止され、補正レンズホルダ120 の移動は該位置で停止さ
れる。一方、ピックアップベース100 はディスクｂの最
内周位置まで移動される。即ち、補正レンズホルダ120
が、ピックアップベース100 に対して、相対的にディス
クｂの外周寄りへ変位する。このため、それまで補正レ
ンズホルダ120 の孔120b,120c 内で図８（ｂ）の如くデ
ィスクｂの外周寄りの凹み部に在ったピン100b,100c
が、各々孔120b,120c 内でディスクｂの内周側へ相対移
動して、図８（ａ）の如く孔120b,120c のディスク外周
寄りの凹み部に嵌まり込む。
【００７５】このように、補正レンズホルダ120 がピッ
クアップベース100 に対してディスクｂの外周寄りへ相
対変位する結果、補正レンズホルダ120 に支持されてい
る補正レンズ102 は、図８（ｂ）の位置（補正レンズ10
2 が光軸L に介挿されている位置）から、図８（ａ）の
位置（補正レンズ102 が光軸L から離脱した位置）へ移
動する。図１６の構成の場合であれば、基板の厚さが
１．２ｍｍの光ディスク用の位置から、基板の厚さが
０．６ｍｍの光ディスク用の位置へ移動する。
【００７６】ソレノイド151 がオンされると、係止部材
152 は電磁力により吸引されて図８（ｂ）の位置（ディ
スクｂの内周寄りの位置）へ移動される。この状態で、
ピックアップベース100 がディスクｂの外内周に向けて
移動されると、ピックアップベース100 が最外周位置に
到る手前の所定位置で、補正レンズホルダ120 の被係止
部120aが係止部材152 の外側の係止部152bにより係止さ
れ、補正レンズホルダ120 の移動は該位置で停止され
る。一方、ピックアップベース100 はディスクｂの最外
周位置まで移動される。即ち、補正レンズホルダ120 が
ピックアップベース100 に対して相対的にディスクｂの
内周寄りへ変位する。このため、それまで補正レンズホ
ルダ120 の各孔120b,120c 内で図８（ａ）の如くディス
クｂの内周寄りの凹み部に在ったピン100b,100c が、各
々孔120b,120c 内でディスクｂの外周側へ相対移動し
て、図８の（ｂ）の如く孔120b,120c のディスク内周寄
りの凹み部に嵌まり込む。
【００７７】このように、補正レンズホルダ120 がピッ
クアップベース100 に対してディスクｂの内周寄りへ相
対変位する結果、補正レンズホルダ120 に支持されてい
る補正レンズ102 は、図８（ａ）の位置（補正レンズ10
2 が光軸L から離脱している位置）から、図８（ｂ）の
位置（補正レンズ102 が光軸L に介挿された位置）へ移
動する。例えば、前述の第１の実施例でいえば、０．６
ｍｍ厚の光ディスク用の位置から、１．２ｍｍ厚の光デ
ィスク用の位置へ移動する。
【００７８】このように、図８と図９に示す例では、補
正レンズｃを光路内に進入／退避させるための主要機構
を、ピックアップベース100 ではなく、ベース160 側に
設けている。即ち、ソレノイド151 と係止部材152 をベ
ース160 側に設けている。このため、ピックアップベー
ス100 の搭載量を減らすことができる。つまり、ピック
アップベース100 側には、補正レンズホルダ120 を搭載
すれば足りる。このため、補正レンズｃの進退のための
機構を簡易化できる。また、ピックアップベース100 の
移動機構も軽量化できる。
【００７９】次に、図８と図９とは異なる機構を、図１
３を参照して説明する。図１３の各例では、補正レンズ
を、符号「202 」によって示す。
【００８０】図１３（ａ）では、支点211 を中心に回動
される補正レンズホルダ221 が用いられている。この補
正レンズホルダ221 を回動させるための駆動力は、モー
タとベルトのリンク機構ばかりでなく、図１３（ｂ）の
ように、電磁石212 を用いた機構で実現することもでき
る。
【００８１】また、図１３（ｃ）では、ピックアップベ
ース200 に対して補正レンズホルダ222 を摺動可能に構
成することで、補正レンズ202 を光路に進入させ、又
は、退避させるための機構を実現している。この補正レ
ンズホルダ222 を摺動させるための駆動力は、モータや
ベルトのリンク機構ばかりでなく、図１３（ｄ）のよう
に、電磁石213 を用いた機構で実現してもよい。なお、
補正レンズホルダ222 の摺動範囲は、補正レンズホルダ
222 の長孔222aと、該長孔222aに挿通されているピック
アップベース200 側のピン200aとによって規制されてい
る。
【００８２】また、図１３（ｅ）では、板バネ223 によ
って補正レンズ202 を保持して、この板バネ223 により
補正レンズ202 を平行移動可能に構成することで、該補
正レンズ202 を光路に進入させ、又は、退避させるため
の機構を実現している。なお、板バネ223 は、光ピック
アップのアクチュエータの駆動に使用されているものと
同じ構造である。
【００８３】
【発明の効果】本発明によると、基板の厚さの異なる光
ディスクの各信号記録面に各々ビームスポットを十分に
集光でき、レーザパワーの利用効率も良い。また、２個
の半導体レーザの何れかを出力用に選択するか、共通の
半導体レーザの光路を選択的に変更することで上記の機
能を果たせるため、光学系内に可動部分を設ける必要が
無く、安定性も優れている。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１実施例の光ピックアップの光学系を示す模
式図。
【図２】第１実施例の組み合わせ例を示す図。
【図３】第２実施例の光ピックアップの光学系を示す模
式図。
【図４】第２実施例の組み合わせ例を示す図。
【図５】高密度再生用ピックアップの実効開口数に対す
るスポット径と波面収差特性を示す図。
【図６】カップリングレンズの形状説明図。
【図７】ＣＤ−Ｒの反射率の特性図。
【図８】補正レンズホルダをピックアップベースに対し
て相対変位させることで補正レンズを光路に進入／退避
させる機構の上面図で、（ａ）は介挿状態、（ｂ）は離
脱状態を示す。
【図９】補正レンズホルダをピックアップベースに対し
て相対変位させることで補正レンズを光路に進入／退避
させる機構の分解斜視図。
【図１０】補正レンズの光軸垂直方向の取付位置誤差と
波面収差の関係を示す特性図。
【図１１】補正レンズの傾きと波面収差の関係を示す特
性図。
【図１２】補正レンズの光軸方向の取付位置誤差と波面
収差の関係を示す特性図。
【図１３】補正レンズを光路に介挿／離脱させる機構の
概念例を示す説明図。
【図１４】補正レンズ、対物レンズ、ディスク厚の設計
例を示す説明図。
【図１５】補正レンズ、対物レンズ、ディスク厚の設計
例を示す説明図。
【図１６】補正レンズを光路に対して着脱する第３実施
例の光ピックアップの光学系を示す模式図。
【符号の説明】
２ 補正レンズ ｃ 補正レンズ １０２ 補正レンズ ６ 対物レンズ ａ 対物レンズ １０６ 対物レンズ １００ ピックアップベース １５１ ソレノイド １５２ 係止板 １６１ ガイドレール １６０ ベース
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (31)優先権主張番号 特願平7−157033 (32)優先日 平７(1995)５月30日 (33)優先権主張国 日本（ＪＰ） (72)発明者 外山 建夫 大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 日比野 克俊 大阪府守口市京阪本通２丁目５番５号 三 洋電機株式会社内

Claims (30)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 光ディスクにレーザ光を照射するととも
    に光ディスクで反射されたレーザ光を光検出器へ導く光
    学手段を有する光再生装置であって、 光ディスクの基板表面と信号記録面との距離の異なる複
    数種類の光ディスクに各々適合するように前記光学手段
    を調整する手段を備え、 調整後の光学手段と共通の対物レンズとの協働によって
    当該光ディスクの信号記録面にレーザビームスポットを
    集光させる光再生装置。
  2. 【請求項２】 請求項１に於いて、 前記調整手段は、前記距離が標準距離の光ディスクと前
    記距離が短距離の光ディスクに各々適合するように前記
    調整を行う、光再生装置。
  3. 【請求項３】 請求項２に於いて、 前記標準距離は１．１５ｍｍ〜１．２５ｍｍであり、前
    記短距離は０．５５ｍｍ〜０．６５ｍｍである、 光再生装置。
  4. 【請求項４】 請求項２に於いて、 前記調整手段は、前記距離が標準距離の光ディスクの場
    合にはレーザダイオードと前記対物レンズとの間の光路
    に補正レンズを介挿し、前記距離が短距離の光ディスク
    の場合には上記補正レンズを上記光路から除去すること
    により前記調整を行う、光再生装置。
  5. 【請求項５】 請求項４に於いて、 前記標準距離は１．１５ｍｍ〜１．２５ｍｍであり、前
    記短距離は０．５５ｍｍ〜０．６５ｍｍである、 光再生装置。
  6. 【請求項６】 請求項４、請求項５に於いて、 前記対物レンズは、屈折率ｎo が１．４〜１．８、前方
    側表面の曲率半径ｒ1が１．５ｍｍ〜３．０ｍｍ、後方
    側表面の曲率半径ｒ2 が５．０ｍｍ〜７．０ｍｍの範囲
    にあり、 前記補正レンズは、屈折率ｎc が１．５〜２．０、前方
    側表面の曲率半径ｒ3が４．０ｍｍ〜３４ｍｍ、後方側
    表面の曲率半径ｒ4 が３．０ｍｍ〜９５ｍｍの範囲にあ
    る、 光再生装置。
  7. 【請求項７】 請求項６に於いて、 前記補正レンズの介挿位置は、前記対物レンズの前方側
    ４．０ｍｍ〜７．０ｍｍの位置である、光再生装置。
  8. 【請求項８】 請求項６に於いて、 前記補正レンズの介挿位置は、前記対物レンズの前方側
    １４ｍｍ〜２２ｍｍの位置である、光再生装置。
  9. 【請求項９】 請求項６に於いて、 前記補正レンズの片面または両面が非球面であることを
    特徴とする、 光再生装置。
  10. 【請求項１０】 請求項４〜請求項９の何れかに於い
    て、 前記調整手段は、前記補正レンズを保持する補正レンズ
    ホルダを前記光路に垂直な面内で回動させることで前記
    介挿を行う、光再生装置。
  11. 【請求項１１】 請求項４〜請求項９の何れかに於い
    て、 前記調整手段は、前記補正レンズを保持する補正レンズ
    ホルダを前記光路に垂直な面内で進退させることで前記
    介挿を行う、光再生装置。
  12. 【請求項１２】 請求項４〜請求項９の何れかに於い
    て、 前記調整手段は、板バネで構成された補正レンズホルダ
    をバネ力で変位させることで該補正レンズホルダに保持
    された補正レンズを前記光路に介挿させる、光再生装
    置。
  13. 【請求項１３】 光ディスクにレーザ光を照射するとと
    もに光ディスクで反射されたレーザ光を光検出器へ導く
    光学手段を備えた光再生装置であって、 補正レンズを搭載する補正レンズホルダと、 対物レンズを含む前記光学手段を搭載するとともに移動
    機構によりディスク半径方向に移動可能に設けられたピ
    ックアップベースと、 前記補正レンズを前記ピックアップベースに対してディ
    スク半径方向に相対変位可能で且つ該相対変位の両端で
    安定するように保持する保持機構と、 前記ピックアップベースがディスク半径方向へ移動され
    る際に前記補正レンズホルダを移動終端手前の所定位置
    で指令に応じて係止することにより前記相対変位を生ぜ
    しめる係止機構と、 前記ピックアップベースの移動機構と前記係止機構とを
    協働させ、基板表面と信号記録面との距離が短距離の光
    ディスクがセットされた場合には前記補正レンズを前記
    光学手段の光路から離脱した状態に設定し、前記距離が
    標準距離の光ディスクがセットされた場合には前記補正
    レンズを前記光学手段の光路に介挿した状態に設定する
    制御手段と、 を有する光再生装置。
  14. 【請求項１４】 請求項１３に於いて、 前記標準距離は１．１５ｍｍ〜１．２５ｍｍであり、前
    記短距離は０．５５ｍｍ〜０．６５ｍｍである、 光再生装置。
  15. 【請求項１５】 光ディスク基板の信号記録面にレーザ
    ビームスポットを集光させるとともに該信号記録面で反
    射されるレーザビームを光検出器へ導く光学手段を備え
    た光再生装置であって、 第１半導体レーザと、 第２半導体レーザと、 光ディスクの信号記録面に集光させるレーザビームを対
    物レンズに入射する入射光路に前記第１半導体レーザの
    出力ビームを導く第１光学系と、 前記入射光路に前記第２半導体レーザの出力ビームを導
    く第２光学系と、 前記第１光学系又は前記第２光学系の何れか一方の光路
    に介挿されて前記対物レンズ及び光ディスク基板と光学
    的に協働して当該光ディスク基板の信号記録面にレーザ
    ビームスポットを集光させる屈折力のある光学素子と、 を有する光再生装置。
  16. 【請求項１６】 請求項１５に於いて、 前記第１半導体レーザの出力ビーム波長は前記第２半導
    体レーザの出力ビーム波長より長いことを特徴とする光
    再生装置。
  17. 【請求項１７】 請求項１５に於いて、 前記第１半導体レーザの出力ビーム波長と前記第２半導
    体レーザの出力ビーム波長は略等しいことを特徴とする
    光再生装置。
  18. 【請求項１８】 請求項１５に於いて、 前記第１半導体レーザの出力ビーム波長は６６５〜８０
    ０ｎｍであり、 前記第２半導体レーザの出力ビーム波長は６２０〜６９
    ５ｎｍであり、 前記光学素子は前記第１光学系に介挿された補正レンズ
    である、 光再生装置。
  19. 【請求項１９】 請求項１８に於いて、 前記第１半導体レーザの出力ビーム波長は７６５〜７９
    ５ｎｍであり、 前記第２半導体レーザの出力ビーム波長は６２０〜６５
    ０ｎｍである、 光再生装置。
  20. 【請求項２０】 請求項１８に於いて、 前記第１半導体レーザの出力ビーム波長は７６５〜７９
    ５ｎｍであり、 前記第２半導体レーザの出力ビーム波長は６３５〜６６
    ５ｎｍである、 光再生装置。
  21. 【請求項２１】 請求項１７に於いて、 前記第１半導体レーザの出力ビーム波長と前記第２半導
    体レーザの出力ビーム波長は略６５０ｎｍである、 光再生装置。
  22. 【請求項２２】 請求項１７に於いて、 前記第１半導体レーザの出力ビーム波長と前記第２半導
    体レーザの出力ビーム波長は略６３５ｎｍである、 光再生装置。
  23. 【請求項２３】 請求項１５に於いて、 基板の厚さが標準厚の光ディスクがセットされると前記
    第１半導体レーザをレーザビーム出力用に選択し、基板
    の厚さが薄型の光ディスクがセットされると前記第２半
    導体レーザをレーザビーム出力用に選択する手段、 を有する光再生装置。
  24. 【請求項２４】 請求項２３に於いて、 前記標準厚は１．１５ｍｍ〜１．２５ｍｍであり、前記
    薄型は０．５５ｍｍ〜０．６５ｍｍである、 光再生装置。
  25. 【請求項２５】 請求項１５に於いて、 ポリカーボネート製で基板の厚さが略１．２ｍｍの光デ
    ィスク基板がセットされたとき、補正レンズと対物レン
    ズと当該光ディスク基板の協働による実効的な対物レン
    ズの開口数が０．２５〜０．４５であり、 ポリカーボネート製で基板の厚さが略０．６ｍｍの光デ
    ィスク基板がセットされたとき、対物レンズと当該光デ
    ィスク基板の協働による実効的な対物レンズの開口数が
    ０．５５〜０．６５である、 光再生装置。
  26. 【請求項２６】 請求項１５に於いて、 ポリカーボネート製で基板の厚さが略１．２ｍｍの高密
    度光ディスク基板がセットされたとき、補正レンズと対
    物レンズと当該光ディスク基板の協働による実効的な対
    物レンズの開口数が０．５０〜０．５４であり、 ポリカーボネート製で基板の厚さが略０．６ｍｍの光デ
    ィスク基板がセットされたとき、対物レンズと当該光デ
    ィスク基板の協働による実効的な対物レンズの開口数が
    ０．５５〜０．６５である、 光再生装置。
  27. 【請求項２７】 半導体レーザから出力されるレーザ光
    を光ディスク基板の信号記録面に集光させる光学手段を
    備えるとともに、該信号記録面で反射されるレーザ光を
    光検出器へ導いて検出する手段を備えた光再生装置であ
    って、 前記光学手段は、 対物レンズ及び光ディスク基板と光学的に協働して当該
    光ディスク基板の信号記録面にレーザビームスポットを
    集光させるパワーの有る光学素子を光路中に有する第１
    の光路と、 前記光学素子の無い第２の光路を有し、さらに、 前記第１の光路と前記第２の光路を選択する選択手段、 を有する光再生装置。
  28. 【請求項２８】 請求項２７に於いて、 前記選択手段は、前記第１の光路と前記第２の光路の両
    端の分岐位置に各々設けられ、給電オン時には入射光を
    反射し、給電オフ時には入射光を透過する液晶パネル板
    である、 光再生装置。
  29. 【請求項２９】 請求項２７、又は請求項２８に於い
    て、 前記半導体レーザの出力ビーム波長は６３５〜６６５ｎ
    ｍである、 光再生装置。
  30. 【請求項３０】 請求項２７、又は請求項２８に於い
    て、 前記半導体レーザの出力ビーム波長は６２０〜６５０ｎ
    ｍである、 光再生装置。
JP8038737A 1995-02-22 1996-01-31 光再生装置 Expired - Fee Related JP3067094B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8038737A JP3067094B2 (ja) 1995-02-22 1996-01-31 光再生装置
US08/603,567 US5777970A (en) 1995-02-22 1996-02-21 Optical disk readout apparatus

Applications Claiming Priority (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5798395 1995-02-22
JP12058995 1995-04-23
JP13872995 1995-05-14
JP7-57983 1995-05-30
JP15703395 1995-05-30
JP7-120589 1995-05-30
JP7-157033 1995-05-30
JP7-138729 1995-05-30
JP8038737A JP3067094B2 (ja) 1995-02-22 1996-01-31 光再生装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0950643A true JPH0950643A (ja) 1997-02-18
JP3067094B2 JP3067094B2 (ja) 2000-07-17

Family

ID=27521964

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8038737A Expired - Fee Related JP3067094B2 (ja) 1995-02-22 1996-01-31 光再生装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5777970A (ja)
JP (1) JP3067094B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10321961A (ja) * 1997-05-21 1998-12-04 Sharp Corp 半導体レーザ装置
JP2006228369A (ja) * 2005-02-21 2006-08-31 Asahi Glass Co Ltd 光ヘッド装置
WO2009144804A1 (ja) * 2008-05-29 2009-12-03 パイオニア株式会社 光学素子駆動装置及び光記録再生装置

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10177741A (ja) * 1996-12-13 1998-06-30 Hitachi Ltd 光ヘッドおよび光ディスク装置
US5986994A (en) * 1996-12-16 1999-11-16 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Light pickup of thin type
JPH10312574A (ja) * 1997-05-09 1998-11-24 Ricoh Co Ltd 光ディスク装置
KR100255243B1 (ko) * 1997-11-19 2000-05-01 윤종용 광기록매체들에 호환가능한 광픽업
US6088322A (en) * 1998-05-07 2000-07-11 Broome; Barry G. Single objective lens for use with CD or DVD optical disks
US6064529A (en) * 1998-07-02 2000-05-16 Optiteck, Inc. Spherical aberration correction using flying lens and method
JP2000132859A (ja) * 1998-10-23 2000-05-12 Fujitsu Ltd 光記憶装置及び光ピックアップ
ATE216119T1 (de) * 1999-01-22 2002-04-15 Konishiroku Photo Ind Optische abtastvorrichtung und verfahren zur informationsaufzeichnung und informationswiedergabe
US6163415A (en) * 1999-04-02 2000-12-19 Siros Technologies, Inc. Loading and unloading a flying lens
WO2005083536A1 (de) * 2004-02-10 2005-09-09 Carl Zeiss Smt Ag Programmgesteuertes nc-datengenerierungsverfahren mit korrekturdaten
TWI329869B (en) * 2004-11-05 2010-09-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Semiconductor laser assembly and optical pickup device using the same

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2534782B2 (ja) * 1989-11-10 1996-09-18 株式会社東芝 半導体装置
JP2573392B2 (ja) * 1990-03-30 1997-01-22 株式会社東芝 半導体記憶装置
NL9002841A (nl) * 1990-12-21 1992-07-16 Philips Nv Werkwijze en inrichting voor het langs optische weg inschrijven, uitlezen, en wissen van een meervlaks registratiedrager, en registratiedrager geschikt voor deze werkwijze en inrichting.
JP2532818B2 (ja) * 1993-02-01 1996-09-11 松下電器産業株式会社 対物レンズおよび光ヘッド装置
US5499231A (en) * 1994-11-15 1996-03-12 International Business Machines Corporation Optical disk drive with multiple data layer disk and system for focusing the optical beam
KR100200837B1 (ko) * 1995-01-24 1999-06-15 윤종용 다층 기록막을 갖는 광디스크를 위한 광픽업

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10321961A (ja) * 1997-05-21 1998-12-04 Sharp Corp 半導体レーザ装置
JP2006228369A (ja) * 2005-02-21 2006-08-31 Asahi Glass Co Ltd 光ヘッド装置
WO2009144804A1 (ja) * 2008-05-29 2009-12-03 パイオニア株式会社 光学素子駆動装置及び光記録再生装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3067094B2 (ja) 2000-07-17
US5777970A (en) 1998-07-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1688937B1 (en) Optical pickup apparatus which is compatible with multiple types of media
EP1688938B1 (en) Optical pickup which is compatible with multiple types of media
JP3067094B2 (ja) 光再生装置
WO2000055849A1 (en) Convergent device, optical head, optical information recording/reproducing and optical information recording/reproducing method
EP0777219A1 (en) Optical head apparatus
KR100294235B1 (ko) 광학적 가변조리개를 사용한 광픽업
US7505390B2 (en) Compatible optical pickup
EP1760705B1 (en) Compatible optical pickup and optical recording and/or reproducing apparatus employing the same
JP2559011B2 (ja) 光ヘッド
US7233562B2 (en) Optical pickup device
US20060227677A1 (en) Aberration detection device and optical pickup device provided with same
US6400670B1 (en) Device for the writing and/or reading of optical recording media of various structures
KR100426355B1 (ko) 광경로차 조절수단이 구비된 광픽업 장치
KR20060047830A (ko) 광픽업, 광디스크 장치 및 광학 배율 조정 방법
JPH10308031A (ja) 光ピックアップ装置
JPH1027373A (ja) 光ヘッドおよび光ディスク装置
US8493831B2 (en) Compatible optical pickup and optical recording and/or reproducing apparatus employing the same
JPH10208267A (ja) 光ヘッドおよび光ディスク装置
JP3670091B2 (ja) 光ピックアップ
US20020048249A1 (en) Optical pickup apparatus restricting aberration and optical disc apparatus using the same
JPH09265639A (ja) 光学ピックアップ装置
JP3521893B2 (ja) 光ピックアップ装置
JP2990067B2 (ja) 光学式情報記録再生装置
JPH10247338A (ja) 光ピックアップ装置
JPH1196581A (ja) 対物レンズ及び光ピックアップ

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080519

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090519

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees