JPH0945980A

JPH0945980A - レーザ駆動回路およびそれを有する光ディスク装置

Info

Publication number: JPH0945980A
Application number: JP7193437A
Authority: JP
Inventors: Yukio Sato; 幸雄佐藤
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1995-07-28
Filing date: 1995-07-28
Publication date: 1997-02-14

Abstract

(57)【要約】【課題】レーザパワー調整期間におけるレーザ発光手段
の出力レーザパワーの立ち上がり過度特性を改善する。【解決手段】書き込み、消去モードにおいて、プリフォ
ーマット部期間、スイッチ２０２，２０８をｂ側に接続
して比較器２００の演算増幅器２０５でバッファを構成
し、最終目標値（出力レーザパワーが書き込みパワー等
に調整された際の比較器２００の出力信号レベル）に近
い出力信号レベルでもって能動状態に保持した状態にお
く。ＡＬＰＣ部期間、スイッチ１０７をオン、スイッチ
２０２，２０８をａ側に接続し、スイッチ１０４をｂ側
に接続して比較器２００を通るフィードバックループを
形成し、出力レーザパワーを所定レベルに調整する。プ
リフォーマット部期間、演算増幅器２０５を能動状態に
保持するため、ＡＬＰＣ部期間で比較器２００の出力信
号が発光開始レベルとなって正常なループ応答動作に移
行するまでの遅れ時間を短くできる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、レーザ駆動回路
およびそれを有する光ディスク装置に関する。詳しく
は、レーザパワー調整期間で基準値と出力レーザパワー
検出出力とを比較してレーザ発光手段の駆動電圧を得る
ための演算増幅器の状態を少なくともレーザパワー調整
期間の直前所定期間で能動状態に保持することによっ
て、レーザパワー調整期間におけるレーザ発光手段の出
力レーザパワーの立ち上がり過度特性を改善しようとし
たレーザ駆動回路およびそれを有する光ディスク装置に
係るものである。

【０００２】

【従来の技術】図５は、光磁気ディスク装置（光変調方
式）の光学ヘッドを構成するレーザ発光手段としてのレ
ーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路１００の構成
例を示している。

【０００３】図において、光学ヘッド１５０を構成する
レーザダイオード１５１のアノードは電源端子＋Ｂに接
続され、そのカソードはレーザ駆動回路１００の接続ス
イッチ１０１およびレーザ駆動用のＮＰＮ形トランジス
タ１０２の直列回路を介して接地される。接続スイッチ
１０１には記録データＲＤがオンオフ制御信号として供
給される。これにより、書き込みモードでは、レーザダ
イオード１５１の発光、非発光が記録データＲＤに対応
して変化するため、光磁気ディスク（図示せず）には記
録データＲＤがいわゆる光強度変調でもって記録され
る。なお、接続スイッチ１０１は、読み出しモードや消
去モードではオン状態に固定され、レーザダイオード１
５１が連続して発光するようにされる。

【０００４】また、光学ヘッド１５０にはレーザダイオ
ード１５１より出力されるレーザ光をモニタして出力レ
ーザパワーを検出する光検出器（例えばフォトダイオー
ド）１５２が配設されている。この光検出器１５２の出
力信号はアンプ１５３に供給され、このアンプ１５３の
出力信号としての出力レーザパワー検出出力Ｓ_DPはレー
ザ駆動回路１００を構成するサンプルホールド回路１１
０を介して比較器１２０に供給される。

【０００５】サンプルホールド回路１１０は、以下のよ
うに構成される。すなわち、入力端子１１１は接続スイ
ッチ１１２およびコンデンサ１１３の直列回路を介して
接地され、これら接続スイッチ１１２およびコンデンサ
１１３の接続点は演算増幅器１１４の非反転入力端子に
接続される。この演算増幅器１１４の出力端子はその反
転入力端子に接続され、これにより演算増幅器１１４に
よってバッファアンプが構成される。そして、演算増幅
器１１４の出力端子はサンプルホールド回路１１０の出
力端子１１５に接続される。

【０００６】接続スイッチ１１２は、読み出しモードで
はオン状態に固定される。これにより、出力端子１１５
からは入力端子１１１に供給される出力レーザパワー検
出出力Ｓ_DPがそのまま出力される。また、接続スイッチ
１１２は、書き込みモードおよび消去モードでは、レー
ザダイオード１５１より出力されるレーザ光が光磁気デ
ィスクのアドレス部等を含むプリフォーマット部（ＲＯ
Ｍ領域）に照射される期間（以下、「プリフォーマット
部期間」という）の開始から終了直前まではオン状態と
され、その他の期間はオフ状態とされる。これにより、
サンプルホールド回路１１０では、プリフォーマット部
期間の終了直前における出力レーザパワー検出出力Ｓ_DP
がサンプリングされて次のプリフォーマット部期間の開
始まで保持される。

【０００７】また、比較器１２０は、以下のように構成
される。すなわち、一方の入力端子１２１は抵抗器１２
２およびコンデンサ１２３の直列回路を介して接地さ
れ、これら抵抗器１２２およびコンデンサ１２３の接続
点は演算増幅器１２４の非反転入力端子に接続される。
他方の入力端子１２５は抵抗器１２６を介して演算増幅
器１２４の反転入力端子に接続される。さらに、演算増
幅器１２４の出力端子は抵抗器１２７およびコンデンサ
１２８の並列回路を介してその反転入力端子に接続され
る。そして、演算増幅器１２４の出力端子は比較器１２
０の出力端子１２９に接続される。

【０００８】サンプルホールド回路１１０の出力信号は
比較器１２０の一方の入力端子に供給される。この比較
器１２０の他方の入力端子１２５には、読み出し時の基
準電圧Ｅ_RRが接続スイッチ１０３を介して供給される。
接続スイッチ１０３は、読み出しモード、書き込みモー
ドおよび消去モード、従ってオフモード以外の期間には
オン状態とされる。また、比較器１２０の出力端子１２
９に得られる信号は切換スイッチ１０４のａ側の固定端
子に供給される。

【０００９】また、光学ヘッド１５０のアンプ１５３よ
り出力される出力レーザパワー検出出力Ｓ_DPはレーザ駆
動回路１００を構成する比較器１３０に供給される。比
較器１３０は、以下のように構成される。すなわち、一
方の入力端子１３１は抵抗器１３２およびコンデンサ１
３３の直列回路を介して接地され、これら抵抗器１３２
およびコンデンサ１３３の接続点は演算増幅器１３４の
非反転入力端子に接続される。他方の入力端子１３５は
抵抗器１３６を介して演算増幅器１３４の反転入力端子
に接続される。さらに、演算増幅器１３４の出力端子は
抵抗器１３７およびコンデンサ１３８の並列回路を介し
てその反転入力端子に接続される。そして、演算増幅器
１３４の出力端子は比較器１３０の出力端子１３９に接
続される。

【００１０】比較器１３０は、時定数が異なることを除
いて、上述した比較器１２０と同様に構成される。つま
り、後述するように比較器１２０の出力信号は読み出し
時の駆動電圧として使用されるものであるが、書き込み
モードや消去モードにおいても読み出し区間は毎セクタ
に必ず存在することから、比較器１２０の時定数は比較
的大きく設定されている。

【００１１】これに対して、後述するように比較器１３
０の出力信号は書き込み時や消去時の駆動電圧として使
用されるものであるが、書き込みモードや消去モードに
おいて書き込み区間や消去区間は毎セクタに必ず存在す
るわけではなく、書き込みや消去が行われるセクタ毎に
必要なレベルまで駆動電圧を立ち上げる必要があること
から、比較器１３０の時定数は比較器１２０の時定数に
比べて格段に小さく設定されている。

【００１２】光学ヘッド１５０のアンプ１５３より出力
される出力レーザパワー検出出力Ｓ _DPは比較器１３０の
一方の入力端子１３１に供給される。比較器１３０の他
方の入力端子１３５は抵抗器１０５を介して接地される
と共に、この入力端子１３５には切換スイッチ１０６の
出力信号が接続スイッチ１０７を介して供給される。そ
して、比較器１３０の出力端子１３９に得られる信号は
切換スイッチ１０４のｂ側の固定端子に供給される。切
換スイッチ１０６のＷ側の固定端子には書き込み時の基
準電圧Ｅ_RWが供給され、そのＥ側の固定端子には消去時
の基準電圧Ｅ_REが供給される。この切換スイッチ１０６
は、書き込みモードではＷ側に接続され、消去モードで
はＥ側に接続される。

【００１３】接続スイッチ１０７は、書き込みモードや
消去モードでは、プリフォーマット部期間はオフ状態と
され、レーザ光がプリフォーマット部に続くＡＬＰＣ部
（出力レーザパワーのレベルを制御するためのテスト
部）に照射される期間（以下、「ＡＬＰＣ部期間」とい
う）や、レーザ光がＡＬＰＣ部に続くデータ部（ＭＯ領
域）に照射される期間（以下、「データ部期間」とい
う）はオン状態とされる。これにより、書き込みモード
や消去モードにおいて、比較器１３０の他方の入力端子
１３５には、プリフォーマット部期間は接地電圧が供給
され、ＡＬＰＣ部期間やデータ部期間は基準電圧Ｅ_RWや
Ｅ_REが供給される。また、接続スイッチ１０７は、読み
出しモードではオフ状態に固定される。これにより、読
み出しモードでは、比較器１３０の他方の入力端子１３
５には接地電圧が供給される。

【００１４】また、比較器１３０の出力端子１３９に得
られる信号はサンプルホールド回路１４０を介して切換
スイッチ１０４のｃ側の固定端子に供給される。サンプ
ルホールド回路１４０は、以下のように構成される。す
なわち、入力端子１４１は接続スイッチ１４２およびコ
ンデンサ１４３の直列回路を介して接地され、これら接
続スイッチ１４２およびコンデンサ１４３の接続点は演
算増幅器１４４の非反転入力端子に接続される。この演
算増幅器１４４の出力端子はその反転入力端子に接続さ
れ、これにより演算増幅器１４４によってバッファアン
プが構成される。そして、演算増幅器１４４の出力端子
はサンプルホールド回路１４０の出力端子１４５に接続
される。

【００１５】接続スイッチ１４２は、書き込みモードお
よび消去モードでは、ＡＬＰＣ部期間の終了直前所定期
間でオン状態とされ、その他の期間はオフ状態とされ
る。これにより、サンプルホールド回路１４０では、Ａ
ＬＰＣ部期間の終了直前における比較器１３０の出力信
号がサンプリングされ、少なくともＡＬＰＣ部に続くデ
ータ部をレーザ光が照射する期間保持される。また、接
続スイッチ１４２は、読み出しモードではオフ状態に固
定される。

【００１６】切換スイッチ１０４のｄ側の固定端子は接
地される。そして、読み出しモードでは、切換スイッチ
１０４がａ側に接続されて比較器１２０の出力信号が駆
動電圧としてトランジスタ１０２のベースに供給され
る。また、書き込みモードおよび消去モードでは、プリ
フォーマット部期間は切換スイッチ１０４がａ側に接続
されて比較器１２０の出力信号が駆動電圧としてトラン
ジスタ１０２のベースに供給され、またＡＬＰＣ部期間
は切換スイッチ１０４がｂ側に接続されて比較器１３０
の出力信号が駆動電圧としてトランジスタ１０２のベー
スに供給され、さらにデータ部期間は切換スイッチ１０
４がｃ側に接続されてサンプルホールド回路１４０の出
力信号が駆動電圧としてトランジスタ１０２のベースに
供給される。

【００１７】そして、オフモードでは、切換スイッチ１
０４はｄ側に接続され、トランジスタ１０２はオフ状態
とされる。なお、消去モードでは、データ部期間も切換
スイッチ１０４をｂ側に接続して比較器１３０の出力信
号が駆動電圧としてトランジスタ１０２のベースに供給
されるようにしてもよい。

【００１８】ここで、書き込みモードでデータ部期間
に、比較器１３０の出力信号を駆動電圧として使用せず
にサンプルホールド回路１４０の出力信号を駆動電圧と
して使用するのは、以下の理由からである。すなわち、
書き込み時には上述したようにレーザダイオード１５１
の発光、非発光が記録データＲＤに対応して変化し、比
較器１３０の出力信号に記録データＲＤの影響が現れ
る。そのため、比較器１３０の出力信号を駆動電圧とし
て使用すると、出力レーザパワーが記録データＲＤによ
って影響されて不安定となるからである。

【００１９】図５に示すレーザ駆動回路１００の読み出
しモードにおける動作を説明する。読み出しモードで
は、図６Ｂに示すように接続スイッチ１０３はオン状態
とされ、図６Ｄに示すようにサンプルホールド回路１１
０の接続スイッチ１１２はオン状態とされ、図６Ｆに示
すように切換スイッチ１０４はａ側に接続されるため、
光学ヘッド１５０からの出力レーザパワー検出出力Ｓ_DP
がサンプルホールド回路１１０を介して比較器１２０に
供給されて読み出し時の基準電圧Ｅ_RRと比較され、比較
器１２０の出力信号が切換スイッチ１０４を介してトラ
ンジスタ１０２のベースに駆動電圧として供給される。

【００２０】このように、比較器１２０を通るフィード
バックループが形成されるため、出力レーザパワーは基
準電圧Ｅ_RRに対応したレベル（読み出しパワー）に調整
される。なお、図６Ａは光磁気ディスクの記録フォーマ
ット、図６Ｃは接続スイッチ１０７の状態、図６Ｅはサ
ンプルホールド回路１４０の接続スイッチ１４２の状態
を示している。

【００２１】次に、図５に示すレーザ駆動回路１００の
書き込みモードや消去モードにおける動作について説明
する。プリフォーマット部期間では、図７Ｂに示すよう
に接続スイッチ１０３はオン状態とされ、図７Ｄに示す
ようにサンプルホールド回路１１０の接続スイッチ１１
２はオン状態とされ、図７Ｆに示すように切換スイッチ
１０４はａ側に接続されるため、光学ヘッド１５０から
の出力レーザパワー検出出力Ｓ_DPがサンプルホールド回
路１１０を介して比較器１２０に供給されて読み出し時
の基準電圧Ｅ_RRと比較され、比較器１２０の出力信号が
切換スイッチ１０４を介してトランジスタ１０２のベー
スに駆動電圧として供給される。このように、比較器１
２０を通るフィードバックループが形成されることか
ら、出力レーザパワーは基準電圧Ｅ_RRに対応したレベル
（読み出しパワー）に調整される。

【００２２】そして、図７Ｄに示すように接続スイッチ
１１２はプリフォーマット部期間の終了直前でオフとさ
れるため、その終了直前の出力レーザパワー検出出力Ｓ
_DPがサンプリングされて次のプリフォーマット部期間ま
で保持される。そのため、比較器１２０の出力信号は次
のプリフォーマット部期間までほとんど変化せずに保持
される。よって、次のプリフォーマット部期間となって
切換スイッチ１０４がａ側に切り換えられると、比較器
１２０の出力信号が切換スイッチ１０４を介してトラン
ジスタ１０２のベースに供給されるため、出力レーザパ
ワーは直ちに基準電圧Ｅ_RRに対応したレベル（読み出し
パワー）となる。これにより、プリフォーマット部から
のデータの読み出しが常に良好に行われる。

【００２３】また、ＡＬＰＣ部期間では、図７Ｃに示す
ように接続スイッチ１０７はオン状態とされ、図７Ｆに
示すように切換スイッチ１０４はｂ側に接続されるた
め、光学ヘッド１５０からの出力レーザパワー検出出力
Ｓ_DPが比較器１３０に供給されて書き込み時の基準電圧
Ｅ_RWまたは消去時の基準電圧Ｅ_REと比較され、比較器１
３０の出力信号が切換スイッチ１０４を介してトランジ
スタ１０２のベースに駆動電圧として供給される。この
ように、比較器１３０を通るフィードバックループが形
成されることから、ＡＬＰＣ部期間内で出力レーザパワ
ーは基準電圧Ｅ_RWに対応したレベル（書き込みパワー）
または基準電圧Ｅ_REに対応したレベル（消去パワー）に
調整される。

【００２４】また、図７Ｅに示すようにＡＬＰＣ部期間
の終了直前の所定期間でサンプルホールド回路１４０の
接続スイッチ１４２がオン状態とされるため、ＡＬＰＣ
部期間の終了直前における比較器１３０の出力信号、従
って出力レーザパワーが上述したように書き込みパワー
または消去パワーに調整された際の比較器１３０の出力
信号がサンプリングされて保持される。

【００２５】そして、書き込みモードでは、データ部期
間、図７Ｆに示すように切換スイッチ１０４がｃ側に接
続されるため、サンプルホールド回路１４０の出力信号
が切換スイッチ１０４を介してトランジスタ１０２のベ
ースに駆動電圧として供給される。よって、書き込みモ
ードでは、データ部期間、出力レーザパワーが記録デー
タＲＤに影響されずに基準電圧Ｅ_RWに対応したレベル
（書き込みパワー）にあるため、記録データＲＤがデー
タ部に良好に記録される。

【００２６】また、消去モードでは、データ部期間、図
７Ｆに示すように切換スイッチ１０４がｂ側またはｃ側
に接続されるため、比較器１３０の出力信号またはサン
プルホールド回路１４０の出力信号が切換スイッチ１０
４を介してトランジスタ１０２のベースに供給される。
よって、消去モードでは、データ部期間、出力レーザパ
ワーが基準電圧Ｅ_REに対応したレベル（消去パワー）に
あるため、データ部からのデータの消去が良好に行われ
る。なお、図７Ａは光磁気ディスクの記録フォーマット
を示している。

【００２７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、図５のレー
ザ駆動回路１００では、書き込みモードや消去モードで
は、プリフォーマット部期間、図７Ｃに示すように接続
スイッチ１０７がオフ状態にあるため、比較器１３０の
他方の入力端子１３５には接地電圧が供給され、比較器
１３０の出力信号は図８Ｄに示すように飽和レベル（負
電圧）となっている。この飽和レベルは、出力レーザパ
ワーが書き込みパワーまたは消去パワーに調整された際
の比較器１３０の出力信号のレベル（最終目標値）に対
して大きなレベル差を有している。なお、図８Ａは記録
フォーマット、図８Ｂは出力レーザパワーの基準電圧、
図８Ｃは出力レーザパワー検出出力Ｓ_DPを示している。

【００２８】そして、ＡＬＰＣ部期間では、図７Ｃに示
すように接続スイッチ１０７がオン状態とされて基準電
圧Ｅ_RWまたはＥ_REが比較器１３０の他方の入力端子１３
５に供給され、比較器１３０の出力信号のレベルは、図
８Ｄに示すように飽和レベルから上昇していき発光開始
レベルを通過して最終目標値となる。この場合、発光開
始レベルとなってはじめてフィードバックループが形成
され、出力レーザパワーを書き込みパワーまたは消去パ
ワーに調整する動作、従って比較器１３０の出力信号の
レベルを最終目標値とするためのループ応答動作に移行
する。

【００２９】したがって、図５のレーザ駆動回路１００
は、正常なループ応答動作に移行するまでの遅れ時間が
大きく、レーザダイオード１５１の特性のばらつき、周
囲温度条件等によっては、ＡＬＰＣ部期間内に比較器１
３０の出力信号のレベルが最終目標値に達せず、出力レ
ーザパワーが書き込みパワーまたは消去パワーに十分立
ち上がらないおそれがある。

【００３０】上述したようにＡＬＰＣ部期間の終了直前
の比較器１３０の出力信号がサンプルホールド回路１４
０でサンプリングされて保持され、書き込みモードでは
データ部期間は図７Ｆに示すように切換スイッチ１０４
がｃ側に接続されてサンプルホールド回路１４０の出力
信号がトランジスタ１０２のベースに駆動電圧として供
給される。したがって、上述したようにＡＬＰＣ部期間
内に比較器１３０の出力信号のレベルが最終目標値とな
らない状態で比較器１３０の出力信号がサンプルホール
ド回路１４０でサンプリングされて保持される場合、デ
ータ部期間では出力レーザパワーが書き込み込みパワー
に達せず、データ部への記録データＲＤの記録が良好に
行われなくなるおそれがある。

【００３１】そこで、この発明では、レーザパワー調整
期間におけるレーザ発光手段の出力レーザパワーの立ち
上がりの過度特性を改善することを目的とする。

【００３２】

【課題を解決するための手段】この発明は、レーザパワ
ー調整期間で、基準値とレーザ発光手段の出力レーザパ
ワーの検出出力とを演算増幅器を使用して比較し、その
比較出力を駆動電圧としてレーザ発光手段を駆動するこ
とによって出力レーザパワーを所定レベルに調整するレ
ーザ駆動回路において、少なくともレーザパワー調整期
間の直前所定期間で演算増幅器の状態を能動状態に保持
するものである。

【００３３】また、この発明は、レーザ発光手段を有し
て構成される光学ヘッドを備える光ディスク装置におい
て、レーザ発光手段を駆動するレーザ駆動回路では、レ
ーザパワー調整期間で基準値とレーザ発光手段の出力レ
ーザパワーの検出出力とを演算増幅器を使用して比較
し、その比較出力を駆動電圧としてレーザ発光手段を駆
動することによって出力レーザパワーを所定レベルに調
整すると共に、少なくともレーザパワー調整期間の直前
所定期間で演算増幅器の状態を能動状態に保持するもの
である。

【００３４】レーザパワー調整期間では、基準電圧とレ
ーザ発光手段の出力レーザパワーの検出出力とが演算増
幅器を使用して比較され、その比較出力が駆動電圧とさ
れてレーザ発光手段が駆動される。これにより、フィー
ドバックループが構成され、レーザ発光手段の出力レー
ザパワーが所定レベルとなるように調整される。この場
合、レーザパワー調整期間の直前所定期間で演算増幅器
の状態が能動状態に保持されることから、レーザパワー
調整期間で比較出力が発光開始レベルとなって正常なル
ープ応答動作に移行するまでの遅れ時間は短くなり、出
力レーザパワーが基準電圧に対応した所定レベルとなる
までに要する時間も短くなる。

【００３５】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、この
発明の実施の形態について説明する。図１は、実施の形
態としての光磁気ディスク装置の構成を示している。図
１に示す光磁気ディスク装置は、スピンドルモータ２を
有している。光磁気ディスク１はスピンドルモータ２で
もって角速度一定で回転駆動される。

【００３６】また、図１に示す光磁気ディスク装置は、
書き込み時や消去時に補助磁界を発生するための磁気ヘ
ッド４と、半導体レーザ、対物レンズ、光検出器等から
構成される光学ヘッド５と、この光学ヘッド５のレーザ
ダイオードを駆動するためのレーザ駆動回路６とを有し
ている。磁気ヘッド４と光学ヘッド５はディスク１を挟
むように対向して配設される。

【００３７】レーザ駆動回路６には光学ヘッド５より出
力レーザパワー検出出力Ｓ_DPが供給される。光学ヘッド
５のレーザダイオードより出力されるレーザ光の出力レ
ーザパワーは、検出出力Ｓ_DPに基づいてレーザ駆動回路
６によって制御され、後述するように読み出し時、書き
込み時、消去時にそれぞれ所定レベルに調整される。ま
た、レーザ駆動回路６には記録データＲＤが供給され
る。光学ヘッド５のレーザダイオードは、書き込み時に
は、後述するように記録データＲＤに対応して発光、非
発光が変化するようにレーザ駆動回路６で駆動される。
これにより、ディスク１のデータ部（ＭＯ領域）に記録
データＲＤが光磁気記録されることとなる。

【００３８】また、読み出しモードでは光学ヘッド５よ
りディスク１のデータ部の再生信号（以下、「ＭＯ信
号」という）Ｓ_MOが出力される。また、読み出しモー
ド、書き込みモードおよび消去モードでは、光学ヘッド
５よりディスク１のプリフォーマット部（ＲＯＭ領域）
の再生信号（以下、「ＲＦ信号」という）Ｓ_RFが出力さ
れる。さらに、光学ヘッド５からは従来周知の検出方法
で得られるトラッキングエラー信号Ｅ_Tおよびフォーカ
スエラー信号Ｅ_Fが出力される。

【００３９】また、図１に示す光磁気ディスク装置は、
ＣＰＵ（中央演算処理装置）を備えるサーボ回路７を有
している。サーボ回路７には光学ヘッド５より出力され
るエラー信号Ｅ_T，Ｅ_Fが供給される。サーボ回路７の動
作は後述するシステムコントローラでもって制御され
る。このサーボ回路７によって、トラッキングコイルや
フォーカスコイル、さらには光学ヘッド５をラジアル方
向に移動させるためのリニアモータを含むアクチュエー
タ８が制御され、トラッキングやフォーカスのサーボが
行われ、また光学ヘッド５のラジアル方向への移動が制
御される。

【００４０】また、図１に示す光磁気ディスク装置はＣ
ＰＵを備えるシステムコントローラ（以下、「シスコ
ン」という）１１を有している。シスコン１１はシステ
ム全体を制御するためのものである。なお、図１に示す
光磁気ディスク装置は、シスコン１１を通じてホストコ
ンピュータ（図示せず）に接続される。光学ヘッド５よ
り出力されるＲＦ信号Ｓ_RFよりアドレスデコーダ１２で
得られるアドレスデータＡＤはシスコン１１に供給さ
れ、読み出しモード、書き込みモードまたは消去モード
におけるアクセス制御に利用される。

【００４１】また、図１に示す光磁気ディスク装置は、
データを連続的に入力して離散的に出力あるいはその逆
の動作をさせるために必要なバッファメモリ１４と、Ｅ
ＣＣ（error correction code）エンコーダ／デコーダ
１５と、ディジタルデータの変調や復調を行うためのチ
ャネルエンコーダ／デコーダ１６、光学ヘッド５より出
力されるＭＯ信号Ｓ_MOの周波数特性を補償するためのイ
コライザ回路１７とを有している。

【００４２】バッファメモリ１４はシスコン１１に接続
され、ホストコンピュータからの記録データはシスコン
１１およびバッファメモリ１４を通じてＥＣＣエンコー
ダ／デコーダ１５に供給され、またＥＣＣエンコーダ／
デコーダ１５より出力される再生データはシスコン１１
およびバッファメモリ１４を通じてホストコンピュータ
に供給される。ＥＣＣエンコーダ／デコーダ１５では、
シスコン１１より供給される記録データに対して誤り訂
正符号の付加処理が行われる。また、ＥＣＣエンコーダ
／デコーダ１５には、チャネルエンコーダ／デコーダ１
６で復調処理された再生データが供給され、誤り訂正処
理が行われる。

【００４３】また、チャネルエンコーダ／デコーダ１６
にはＥＣＣエンコーダ／デコーダ１５で誤り訂正符号が
付加された記録データが供給されて変調処理が行われ
る。このチャネルエンコーダ／デコーダ１６で変調処理
された記録データＲＤは上述したようにレーザ駆動回路
６に供給される。また、チャネルエンコーダ／デコーダ
１６にはイコライザ回路１７で周波数特性が補償された
ＭＯ信号（再生データ）Ｓ_MOが供給されて復調処理が行
われる。

【００４４】また、図１に示す光磁気ディスク装置は、
クロック再生回路１８を有している。クロック再生回路
１８にはイコライザ回路１７で周波数特性が補償された
ＭＯ信号（再生データ）Ｓ_MOが供給される。クロック再
生回路１８で再生されるクロックＣＬＫは再生系のシス
テムクロックとして使用される。

【００４５】以上の構成において、書き込みモードで
は、ホストコンピュータからの記録データがシスコン１
１およびバッファメモリ１４を介してＥＣＣエンコーダ
／デコーダ１５に供給されて誤り訂正符号が付加され、
その後にチャネルエンコーダ／デコーダ１６に供給され
て変調処理される。そして、チャネルエンコーダ／デコ
ーダ１６より出力される記録データＲＤがレーザ駆動回
路６に供給される。これにより、光学ヘッド５のレーザ
ダイオードより出力されるレーザ光が記録データＲＤに
応じて光強度変調され、光磁気ディスク１のデータ部
（ＭＯ領域）に記録データＲＤが光磁気記録される。

【００４６】また、読み出しモードでは、光学ヘッド５
より出力されるＭＯ信号Ｓ_MOがイコライザ回路１７で周
波数特性が補償された後にチャネルエンコーダ／デコー
ダ１６に供給されて復調処理され、さらにＥＣＣエンコ
ーダ／デコーダ１５に供給されて誤り訂正処理される。
そして、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ１５より出力され
る再生データはシスコン１１およびバッファメモリ１４
を介してホストコンピュータに供給される。

【００４７】図２は、レーザ駆動回路６の構成を示して
いる。この図２において、図５と対応する部分には同一
符号を付して示している。図において、光学ヘッド５を
構成するレーザダイオード１５１のアノードは電源端子
＋Ｂに接続され、そのカソードはレーザ駆動回路６の接
続スイッチ１０１および駆動用のＮＰＮ形トランジスタ
１０２の直列回路を介して接地される。接続スイッチ１
０１には記録データＲＤがオンオフ制御信号として供給
される。これにより、書き込みモードでは、レーザダイ
オード１５１の発光、非発光が記録データＲＤに対応し
て変化するため、光磁気ディスク１（図１参照）には記
録データＲＤがいわゆる光強度変調でもって記録され
る。なお、接続スイッチ１０１は、読み出しモードや消
去モードではオン状態に固定され、レーザダイオード１
５１が連続して発光するようにされる。

【００４８】また、光学ヘッド５にはレーザダイオード
１５１より出力されるレーザ光をモニタして出力レーザ
パワーを検出する光検出器（例えばフォトダイオード）
１５２が配設されている。この光検出器１５２の出力信
号はアンプ１５３に供給され、このアンプ１５３の出力
信号としての出力レーザパワー検出出力Ｓ_DPはレーザ駆
動回路６を構成するサンプルホールド回路１１０を介し
て比較器１２０に供給される。

【００４９】サンプルホールド回路１１０は、以下のよ
うに構成される。すなわち、入力端子１１１は接続スイ
ッチ１１２およびコンデンサ１１３の直列回路を介して
接地され、これら接続スイッチ１１２およびコンデンサ
１１３の接続点は演算増幅器１１４の非反転入力端子に
接続される。この演算増幅器１１４の出力端子はその反
転入力端子に接続され、これにより演算増幅器１１４に
よってバッファアンプが構成される。そして、演算増幅
器１１４の出力端子はサンプルホールド回路１１０の出
力端子１１５に接続される。

【００５０】接続スイッチ１１２は、読み出しモードで
はオン状態に固定される。これにより、出力端子１１５
からは入力端子１１１に供給される出力レーザパワー検
出出力Ｓ_DPがそのまま出力される。また、接続スイッチ
１１２は、書き込みモードおよび消去モードでは、プリ
フォーマット部期間の開始から終了直前まではオン状態
とされ、その他の期間はオフ状態とされる。これによ
り、サンプルホールド回路１１０では、プリフォーマッ
ト部期間の終了直前における出力レーザパワー検出出力
Ｓ_DPがサンプリングされて次のプリフォーマット部期間
の開始まで保持される。

【００５１】また、比較器１２０は、以下のように構成
される。すなわち、一方の入力端子１２１は抵抗器１２
２およびコンデンサ１２３の直列回路を介して接地さ
れ、これら抵抗器１２２およびコンデンサ１２３の接続
点は演算増幅器１２４の非反転入力端子に接続される。
他方の入力端子１２５は抵抗器１２６を介して演算増幅
器１２４の反転入力端子に接続される。さらに、演算増
幅器１２４の出力端子は抵抗器１２７およびコンデンサ
１２８の並列回路を介してその反転入力端子に接続され
る。そして、演算増幅器１２４の出力端子は比較器１２
０の出力端子１２９に接続される。

【００５２】サンプルホールド回路１１０の出力信号は
比較器１２０の一方の入力端子に供給される。この比較
器１２０の他方の入力端子１２５には、読み出し時の基
準電圧Ｅ_RRが接続スイッチ１０３を介して供給される。
接続スイッチ１０３は、読み出しモード、書き込みモー
ドおよび消去モード、従ってオフモード以外の期間には
オン状態とされる。また、比較器１２０の出力端子１２
９に得られる信号は切換スイッチ１０４のａ側の固定端
子に供給される。

【００５３】また、光学ヘッド５のアンプ１５３より出
力される出力レーザパワー検出出力Ｓ_DPはレーザ駆動回
路６を構成する比較器２００に供給される。比較器２０
０は、以下のように構成される。すなわち、一方の入力
端子２０１は切換スイッチ２０２のａ側の固定端子に接
続される。切換スイッチ２０２のｂ側の固定端子には仮
の駆動電圧Ｑが供給される。この仮の駆動電圧Ｑのレベ
ルは、書き込み時または消去時に、後述するように光学
ヘッド５のレーザダイオード１５１より出力されるレー
ザ光の出力レーザパワーが書き込みパワーまたは消去パ
ワーに調整された際の比較器２００の出力信号のレベル
（最終目標値）に近いレベルに設定される。切換スイッ
チ２０２の可動端子は抵抗器２０３およびコンデンサ２
０４の直列回路を介して接地され、これら抵抗器２０３
およびコンデンサ２０４の接続点は演算増幅器２０５の
非反転入力端子に接続される。

【００５４】比較器２００の他方の入力端子２０６は抵
抗器２０７を介して切換スイッチ２０８のａ側の固定端
子に接続される。切換スイッチ２０８のｂ側の固定端子
には演算増幅器２０５の出力端子が接続される。切換ス
イッチ２０８の可動端子は演算増幅器２０５の反転入力
端子に接続される。また、演算増幅器２０５の出力端子
は抵抗器２０９およびコンデンサ２１０の並列回路を介
してその反転入力端子に接続される。そして、演算増幅
器２０５の出力端子は比較器２００の出力端子２１１に
接続される。

【００５５】切換スイッチ２０２，２０８は、書き込み
モードや消去モードでは、プリフォーマット部期間はｂ
側に接続される。この場合、図３に示すように、演算増
幅器２０５は仮の駆動電圧Ｑと同一の信号を出力する単
なるバッファアンプを構成し、飽和状態に陥ることはな
く、上述した最終目標値に近い出力信号レベルでもって
能動状態を保持する。また、切換スイッチ２０２，２０
８は、書き込みモードや消去モードでは、ＡＬＰＣ部期
間やデータ部期間はａ側に接続される。この場合、比較
器２００は、時定数が異なることを除いて、上述した比
較器１２０と同様の構成となる。

【００５６】後述するように比較器１２０の出力信号は
読み出し時の駆動電圧として使用されるものであるが、
書き込みモードや消去モードにおいても読み出し区間は
毎セクタに必ず存在することから、比較器１２０の時定
数は比較的大きく設定される。これに対して、後述する
ように比較器２００の出力信号は書き込み時や消去時の
駆動電圧として使用されるものであるが、書き込みモー
ドや消去モードにおいて書き込み区間や消去区間は毎セ
クタに必ず存在するわけではなく、書き込みや消去が行
われるセクタ毎に必要なレベルまで駆動電圧を立ち上げ
る必要があることから、比較器２００の時定数は比較器
１２０の時定数に比べて格段に小さく設定される。

【００５７】光学ヘッド５のアンプ１５３より出力され
る出力レーザパワー検出出力Ｓ_DPは比較器２００の一方
の入力端子２０１に供給される。比較器２００の他方の
入力端子２０６には切換スイッチ１０６の出力信号が接
続スイッチ１０７を介して供給される。そして、比較器
２００の出力端子２１１に得られる信号は切換スイッチ
１０４のｂ側の固定端子に供給される。切換スイッチ１
０６のＷ側の固定端子には書き込み時の基準電圧Ｅ_RWが
供給され、そのＥ側の固定端子には消去時の基準電圧Ｅ
_REが供給される。この切換スイッチ１０６は、書き込み
モードではＷ側に接続され、消去モードではＥ側に接続
される。

【００５８】接続スイッチ１０７は、書き込みモードや
消去モードでは、プリフォーマット部期間はオフ状態と
され、ＡＬＰＣ部期間やデータ部期間はオン状態とされ
る。これにより、書き込みモードや消去モードにおい
て、比較器２００の他方の入力端子２０６には、ＡＬＰ
Ｃ部期間やデータ部期間は基準電圧Ｅ_RWやＥ_REが供給さ
れる。また、接続スイッチ１０７は、読み出しモードで
はオフ状態に固定される。

【００５９】また、比較器２００の出力端子２１１に得
られる信号はサンプルホールド回路１４０を介して切換
スイッチ１０４のｃ側の固定端子に供給される。サンプ
ルホールド回路１４０は、以下のように構成される。す
なわち、入力端子１４１は接続スイッチ１４２およびコ
ンデンサ１４３の直列回路を介して接地され、これら接
続スイッチ１４２およびコンデンサ１４３の接続点は演
算増幅器１４４の非反転入力端子に接続される。この演
算増幅器１４４の出力端子はその反転入力端子に接続さ
れ、これにより演算増幅器１４４によってバッファアン
プが構成される。そして、演算増幅器１４４の出力端子
はサンプルホールド回路１４０の出力端子１４５に接続
される。

【００６０】接続スイッチ１４２は、書き込みモードお
よび消去モードでは、ＡＬＰＣ部期間の終了直前所定期
間でオン状態とされ、その他の期間はオフ状態とされ
る。これにより、サンプルホールド回路１４０では、Ａ
ＬＰＣ部期間の終了直前における比較器２００の出力信
号がサンプリングされ、少なくともＡＬＰＣ部に続くデ
ータ部をレーザ光が照射する期間保持される。また、接
続スイッチ１４２は、読み出しモードではオフ状態に固
定される。

【００６１】切換スイッチ１０４のｄ側の固定端子は接
地される。そして、読み出しモードでは、切換スイッチ
１０４がａ側に接続されて比較器１２０の出力信号が駆
動電圧としてトランジスタ１０２のベースに供給され
る。また、書き込みモードおよぼ消去モードでは、プリ
フォーマット部期間は切換スイッチ１０４がａ側に接続
されて比較器１２０の出力信号が駆動電圧としてトラン
ジスタ１０２のベースに供給され、またＡＬＰＣ部期間
は切換スイッチ１０４がｂ側に接続されて比較器２００
の出力信号が駆動電圧としてトランジスタ１０２のベー
スに供給され、さらにデータ部期間は切換スイッチ１０
４がｃ側に接続されてサンプルホールド回路１４０の出
力信号が駆動電圧としてトランジスタ１０２のベースに
供給される。

【００６２】そして、オフモードでは、切換スイッチ１
０４はｄ側に接続され、トランジスタ１０２はオフ状態
とされる。なお、消去モードでは、データ部期間も切換
スイッチ１０４をｂ側に接続して比較器２００の出力信
号が駆動電圧としてトランジスタ１０２のベースに供給
されるようにしてもよい。

【００６３】ここで、書き込みモードでデータ部期間
に、比較器２００の出力信号を駆動電圧として使用せず
にサンプルホールド回路１４０の出力信号を駆動電圧と
して使用するのは、以下の理由からである。すなわち、
書き込み時には上述したようにレーザダイオード１５１
の発光、非発光が記録データＲＤに対応して変化し、比
較器２００の出力信号に記録データＲＤの影響が現れ
る。そのため、比較器２００の出力信号を駆動電圧とし
て使用すると、出力レーザパワーが記録データＲＤによ
って影響されて不安定となるからである。

【００６４】図２に示すレーザ駆動回路６の読み出しモ
ードにおける動作を説明する。読み出しモードでは、図
６Ｂに示すように接続スイッチ１０３はオン状態とさ
れ、図６Ｄに示すようにサンプルホールド回路１１０の
接続スイッチ１１２はオン状態とされ、図６Ｆに示すよ
うに切換スイッチ１０４はａ側に接続されるため、光学
ヘッド５からの出力レーザパワー検出出力Ｓ_DPがサンプ
ルホールド回路１１０を介して比較器１２０に供給され
て読み出し時の基準電圧Ｅ_RRと比較され、比較器１２０
の出力信号が切換スイッチ１０４を介してトランジスタ
１０２のベースに駆動電圧として供給される。このよう
に、比較器１２０を通るフィードバックループが形成さ
れるため、出力レーザパワーは基準電圧Ｅ_RRに対応した
レベル（読み出しパワー）に調整される。

【００６５】次に、図２に示すレーザ駆動回路６の書き
込みモードや消去モードにおける動作について説明す
る。プリフォーマット部期間では、図７Ｂに示すように
接続スイッチ１０３はオン状態とされ、図７Ｄに示すよ
うにサンプルホールド回路１１０の接続スイッチ１１２
はオン状態とされ、図７Ｆに示すように切換スイッチ１
０４はａ側に接続されるため、光学ヘッド５からの出力
レーザパワー検出出力Ｓ _DPがサンプルホールド回路１１
０を介して比較器１２０に供給されて読み出し時の基準
電圧Ｅ_RRと比較され、比較器１２０の出力信号が切換ス
イッチ１０４を介してトランジスタ１０２のベースに駆
動電圧として供給される。このように、比較器１２０を
通るフィードバックループが形成されることから、出力
レーザパワーは基準電圧Ｅ_RRに対応したレベル（読み出
しパワー）に調整される。

【００６６】そして、図７Ｄに示すように接続スイッチ
１１２はプリフォーマット部期間の終了直前でオフとさ
れるため、その終了直前の出力レーザパワー検出出力Ｓ
_DPがサンプリングされて次のプリフォーマット部期間ま
で保持される。そのため、比較器１２０の出力信号は次
のプリフォーマット部期間までほとんど変化せずに保持
される。よって、次のプリフォーマット部期間となって
切換スイッチ１０４がａ側に切り換えられると、比較器
１２０の出力信号が切換スイッチ１０４を介してトラン
ジスタ１０２のベースに供給されるため、出力レーザパ
ワーは直ちに基準電圧Ｅ_RRに対応したレベル（読み出し
パワー）となる。これにより、各セクタのプリフォーマ
ット部からのデータの読み出しが常に良好に行われる。

【００６７】また、プリフォーマット部期間では、図７
Ｇ，Ｈに示すように接続スイッチ２０２，２０８はｂ側
に接続されるため、比較器２００は図３に示す状態とな
り、演算増幅器２０５は飽和状態に陥ることはなく、上
述したように最終目標値（出力レーザパワーが書き込み
パワーまたは消去パワーに調整された際の比較器２００
の出力信号のレベル）に近い出力信号レベルでもって能
動状態を保持した状態におかれる。

【００６８】ＡＬＰＣ部期間では、図７Ｃに示すように
接続スイッチ１０７はオン状態とされ、図７Ｇ，Ｈに示
すように切換スイッチ２０２，２０８がａ側に接続さ
れ、さらに図７Ｆに示すように切換スイッチ１０４はｂ
側に接続されるため、光学ヘッド５からの出力レーザパ
ワー検出出力Ｓ_DPが比較器２００に供給されて書き込み
時の基準電圧Ｅ_RWまたは消去時の基準電圧Ｅ_REと比較さ
れ、比較器２００の出力信号が切換スイッチ１０４を介
してトランジスタ１０２のベースに駆動電圧として供給
される。このように、比較器２００を通るフィードバッ
クループが形成されることから、ＡＬＰＣ部期間内で出
力レーザパワーは基準電圧Ｅ_RWに対応したレベル（書き
込みパワー）または基準電圧Ｅ_REに対応したレベル（消
去パワー）に調整される。

【００６９】また、図７Ｅに示すようにＡＬＰＣ部期間
の終了直前の所定期間でサンプルホールド回路１４０の
接続スイッチ１４２がオン状態とされるため、ＡＬＰＣ
部期間の終了直前における比較器２００の出力信号、従
って出力レーザパワーが上述したように書き込みパワー
または消去パワーに調整された際の出力信号がサンプリ
ングされて保持される。

【００７０】そして、書き込みモードでは、データ部期
間、図７Ｆに示すように切換スイッチ１０４がｃ側に接
続されるため、サンプルホールド回路１４０の出力信号
が切換スイッチ１０４を介してトランジスタ１０２のベ
ースに駆動電圧として供給される。よって、書き込みモ
ードでは、データ部期間、出力レーザパワーが記録デー
タＲＤに影響されずに基準電圧Ｅ_RWに対応したレベル
（書き込みパワー）にあるため、記録データＲＤがデー
タ部に良好に記録される。

【００７１】また、消去モードでは、データ部期間、図
７Ｆに示すように切換スイッチ１０４がｂ側またはｃ側
に接続されるため、比較器２００の出力信号またはサン
プルホールド回路１４０の出力信号が切換スイッチ１０
４を介してトランジスタ１０２のベースに供給される。
よって、消去モードでは、データ部期間、出力レーザパ
ワーが基準電圧Ｅ_REに対応したレベル（消去パワー）に
あるため、データ部からのデータの消去が良好に行われ
る。

【００７２】図２のレーザ駆動回路６では、書き込みモ
ードや消去モードでは、プリフォーマット部期間、比較
器２００の演算増幅器２０５は飽和状態に陥ることはな
く、図３に示すように最終目標値に近い出力信号レベル
でもって能動状態を保持した状態におかれる。そのた
め、ＡＬＰＣ部期間となって基準電圧Ｅ_RWまたはＥ_REが
比較器２００の他方の入力端子２０６に供給される場
合、図４Ｄに示すように比較器２００の出力信号は仮の
駆動電圧Ｑより上昇して発光開始レベルを通過して最終
目標値となる。図４Ａは記録フォーマット、図４Ｂは出
力レーザパワーの基準電圧、図４Ｃは出力レーザパワー
検出出力Ｓ_DPを示している。

【００７３】したがって、比較器２００の出力信号が発
光開始レベルとなって正常なループ応答動作に移行する
までの遅れ時間が従来に比して短くなり（図８参照）、
出力レーザパワーが基準電圧Ｅ_RWやＥ_REに対応した所定
レベルとなるまでに要する時間を短くでき、出力レーザ
パワーの立ち上がり過渡特性を改善できる。これによ
り、レーザダイオード１５１の特性のばらつきや周囲温
度条件等によってＡＬＰＣ部期間内で比較器２００の出
力信号のレベルが最終目標値とならずに出力レーザパワ
ーが書き込みパワーまたは消去パワーに十分立ち上がら
ないという不都合を回避できる。

【００７４】そのため、サンプルホールド回路１４０で
は、比較器２００の出力信号のレベルが最終目標値とな
った状態でこの比較器２００の出力信号がサンプリング
されて保持され、データ部期間では出力レーザパワーが
確実に書き込み込みパワーとなり、データ部への記録デ
ータＲＤの記録が良好に行われることとなる。

【００７５】また、図２のレーザ駆動回路６では、比較
器２００の出力信号が飽和レベルまで振れないため、周
辺のディバイスの耐圧等の点で従来のものと比べて有利
となる。また、上述したように出力レーザパワーの立ち
上がり過渡特性を改善できることから、場合によっては
従来に比べてＡＬＰＣ部を短くできる。

【００７６】なお、上述の実施の形態は、光変調方式の
光磁気ディスク装置に適用したものであるが、この発明
は磁界変調方式の光磁気ディスク装置、さらにはレーザ
パワー調整期間で出力レーザパワーが所定レベルとなる
ように調整する必要があるその他の光ディスク装置に適
用できることは勿論である。また、上述の実施の形態で
は、プリフォーマット部期間の全期間で比較器２００の
演算増幅器２０５が能動状態に保持されるが、少なくと
もＡＬＰＣ部期間の直前所定期間で能動状態に保持され
ていればよい。

【００７７】

【発明の効果】この発明によれば、レーザパワー調整期
間で基準値と出力レーザパワー検出出力とを比較してレ
ーザ発光手段の駆動電圧を得る演算増幅器の状態を少な
くともレーザパワー調整期間の直前所定期間で能動状態
に保持するものであり、レーザパワー調整期間で比較出
力が発光開始レベルとなって正常なループ応答動作に移
行するまでの遅れ時間が短くなり、出力レーザパワーが
基準電圧に対応した所定レベルとなるまでに要する時間
を短くでき、出力レーザパワーの立ち上がり過渡特性を
改善できる。

【００７８】また、レーザパワー調整期間の直前所定期
間で演算増幅器によってバッファアンプを構成して仮の
駆動電圧を入力することで演算増幅器の状態を能動状態
に保持でき、そして仮の駆動電圧をレーザパワー調整期
間における駆動電圧の最終目標値に近いレベルに設定す
ることでレーザパワー調整期間で比較出力が発光開始レ
ベルとなって正常なループ応答動作に移行するまでの遅
れ時間を大幅に短くでき、出力レーザパワーの立ち上が
り過渡特性の改善効果を高めることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施の形態としての光磁気ディスク装置を示す
ブロック図である。

【図２】レーザ駆動回路の構成を示す接続図である。

【図３】書き込み、消去モードのプリフォーマット部期
間における比較器の等価回路を示す接続図である。

【図４】図２の例のＡＬＰＣ部期間の動作を説明するた
めの図である。

【図５】光磁気ディスク装置におけるレーザ駆動回路の
構成例を示す接続図である。

【図６】レーザ駆動回路の読み出しモードの動作を説明
するための図である。

【図７】レーザ駆動回路の書き込みモード、消去モード
の動作を説明するための図である。

【図８】図５の例のＡＬＰＣ部期間の動作を説明するた
めの図である。

【符号の説明】

１光磁気ディスク４磁気ヘッド５光学ヘッド６レーザ駆動回路７サーボ回路１１システムコントローラ１４バッファメモリ１５ＥＣＣエンコーダ／デコーダ１６チャネルエンコーダ／デコーダ１０２レーザ駆動用のＮＰＮ形トランジスタ１１０，１４０サンプルホールド回路１２０，２００比較器２０５演算増幅器

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】レーザパワー調整期間で、基準値とレー
ザ発光手段の出力レーザパワーの検出出力とを演算増幅
器を使用して比較し、その比較出力を駆動電圧として上
記レーザ発光手段を駆動することによって上記出力レー
ザパワーを所定レベルに調整するレーザ駆動回路におい
て、少なくとも上記レーザパワー調整期間の直前所定期間で
上記演算増幅器の状態を能動状態に保持することを特徴
とするレーザ駆動回路。
【請求項２】上記レーザパワー調整期間の直前所定期
間では上記演算増幅器でバッファアンプが構成され、こ
のバッファアンプに上記演算増幅器の状態が能動状態に
保持されるような仮の駆動電圧が入力されることを特徴
とする請求項１に記載のレーザ駆動回路。
【請求項３】上記仮の駆動電圧は、上記レーザパワー
調整期間における上記駆動電圧の最終目標値に近いレベ
ルに設定されることを特徴とする請求項２に記載のレー
ザ駆動回路。
【請求項４】レーザ発光手段を有して構成される光学
ヘッドを備える光ディスク装置において、上記レーザ発光手段を駆動するレーザ駆動回路では、レ
ーザパワー調整期間で、基準値とレーザ発光手段の出力
レーザパワーの検出出力とを演算増幅器を使用して比較
し、その比較出力を駆動電圧として上記レーザ発光手段
を駆動することによって上記出力レーザパワーを所定レ
ベルに調整すると共に、少なくとも上記レーザパワー調
整期間の直前所定期間で上記演算増幅器の状態を能動状
態に保持することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】データを光磁気記録するデータ部の直前
に上記出力レーザパワーのレベルを制御するためのテス
ト部を有する光磁気ディスクを記録媒体として使用し、
上記レーザパワー調整期間が上記テスト部に上記レーザ
発光手段より出力されるレーザ光が照射される期間であ
ることを特徴とする請求項４に記載の光ディスク装置。