JPH09147360A - 光デイスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は光デイスク装置に関し、発光手段から
出力される光束強度のばらつきを容易に調整し得るよう
にする。 【解決手段】予め用意された基準光束強度が実際に得ら
れる設定値と対応表内にある基準光束強度が得られると
されている設定値との比を求め、求めた比を対応表内の
各設定値に掛け合わせることにより設定値と光束強度の
対応関係のずれを補正する制御手段（８）を設けるよう
にしたことにより、従来のように対応表内の各設定値を
全て書き換えなくても、発光手段や駆動手段のばらつき
によつて発生する設定値と光束強度の対応関係のずれを
容易に補正し得、光束強度のばらつきを容易に調整し得
る。かくするにつき発光手段から出力される光束強度の
ばらつきを容易に調整し得る光デイスク装置を実現し得
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【目次】以下の順序で本発明を説明する。 発明の属する技術分野 従来の技術（図７） 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段 発明の実施の形態 （１）光デイスク装置の全体構成（図１及び図２） （２）レーザパワーの補正（図３〜図５） （３）動作及び効果 （４）他の実施例（図６） 発明の効果

【０００２】

【発明の属する技術分野】本発明は光デイスク装置に関
し、例えば光磁気デイスクに対して情報を記録する光デ
イスク装置に適用して好適なものである。

【０００３】

【従来の技術】従来、この種の光デイスク装置において
は、光磁気デイスク上に情報を記録する場合、光磁気デ
イスクの記録部分に対して磁界をかけると共に、書き込
みデータに応じて光ピツクアツプ内のレーザダイオード
の駆動電流を変化させることによつて光磁気デイスク上
に照射するレーザ光を当該書き込みデータに応じて変化
させ、これによつてデータを記録するようになされてい
る。

【０００４】また最近ではゾーニング記録方式というも
のが考え出され、光磁気デイスク上の記録位置に応じて
記録条件を変えるようなこともこの種の光デイスク装置
では行われている。このゾーニング記録方式は、図７に
示すように、光磁気デイスク５のデータ記録エリアをデ
イスク内周側から外周側に亘つて複数のゾーンに分割
し、各ゾーン内のトラツクでは同一のクロツク周波数で
データを記録するが、異なるゾーン間ではクロツク周波
数を変化させるものである。このようなゾーニング記録
方式を採用する理由は、記録時、デイスク回転速度を一
定にすると（すなわちＣＡＶ方式で回転制御すると）、
外周側の方がエリア的には広いにも係わらずデイスク速
度が速くなるため、内周側よりも外周側の方が記録密度
が低下してしまうからである。従つて光デイスク装置で
は、このようなゾーニング記録方式を適用することによ
り、内周側のゾーンと外周側のゾーンとで記録密度を等
しくし、全体としての記録密度を向上するようになされ
ている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで上述のような
ゾーニング記録方式を適用した場合には、ゾーン毎にレ
ーザ光の強度（以下、これをレーザパワーと呼ぶ）を細
かく変える必要がある。これはクロツク周波数によつて
最適なレーザパワーが異なるからである。このためこの
ような光デイスク装置では、ゾーンとレーザパワーの対
応関係を表すゾーン・レーザパワーテーブルをＤＳＰ
（Digtal Signal Processor ）回路内に備えており、そ
のゾーン・レーザパワーテーブルに応じてゾーン毎にレ
ーザパワーを切り換え、これによつて最適なレーザパワ
ーで記録を行うようになされている。

【０００６】このゾーン・レーザパワーテーブルは、実
際には、レーザパワーそのものではなく、レーザダイオ
ードを駆動するＡＬＰＣ（Auto Laser Power Control）
回路に対して設定するレジスタ値によつて表されてい
る。すなわちゾーンＺ_A に対してレーザパワーＰ_A で記
録するようになされている場合、まずゾーン・レーザパ
ワーテーブルからゾーンＺ_A におけるレジスタ値Ｒ_A を
読み出し、そのレジスタ値Ｒ_A をＡＬＰＣ回路に与えて
所望のレーザパワーＰ_A を得るようにしている。

【０００７】ところが実際には、レーザダイオードやＡ
ＬＰＣ回路等にばらつきがあり、上述のように読み出し
てきたレジスタ値をＡＬＰＣ回路に設定したとしても所
望のレーザパワーが得られないことがある。従来のよう
にレーザパワーを細かく設定しない場合には、このレー
ザパワーのばらつきは差ほど問題にならなかつたが、上
述のようにレーザパワーを細かく設定する場合には、こ
のレーザパワーのばらつきが問題になつてしまう。具体
的には、最適なレーザパワーで記録されないため書き込
みエラー等が発生してしまう。

【０００８】これを解決するため従来の場合には、所望
のレーザパワーが得られないような装置については、ゾ
ーン・レーザパワーテーブルのレジスタ値を、必要なレ
ーザパワーが得られるような値に書き換えるようなこと
がなされていた。但し、実際には、ＤＳＰ回路内のゾー
ン・レーザパワーテーブルのレジスタ値を直接的に書き
換えるのではなく、書き換えるレジスタ値をパラメータ
ブロツクとしてメモリに持たせおき、電源投入時にＤＳ
Ｐ回路内で置き換え処理を行わせている。

【０００９】ところで最近では、デイスクの記録密度が
向上する傾向にあり、これに伴つてゾーン数も増える傾
向にある。このため上述のようなゾーン・レーザパワー
テーブルの大きさ自体が大きくなる傾向にある。また光
デイスク装置としては、各記録密度に対応し得る必要が
あるため、各記録密度毎のゾーン・レーザパワーテーブ
ルを備えておく必要がある。このような状況において、
所望のレーザパワーが得られない装置について上述のよ
うな調整を行うと、パラメータブロツクとして持たせる
データ量が莫大になり、メモリ容量が莫大に増えてしま
うといつた問題が起きる。またメモリ容量が莫大に増え
るだけではなく、その調整作業そのものに係る時間が増
え、調整に手間が係つてしまうといつた問題も起きる。
このように上述のような調整方法には欠点があり、解決
策としては未だ不十分なところがある。

【００１０】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、発光手段から出力される光束強度のばらつきを容易
に調整し得る光デイスク装置を提案しようとするもので
ある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、予め用意された基準光束強度が実
際に得られる設定値と対応表内にある基準光束強度が得
られるとされている設定値との比を求め、求めた比を対
応表内の各設定値に掛け合わせることにより設定値と光
束強度の対応関係のずれを補正し、所望の光束強度が実
際に得られるように調整する制御手段を設けるようにし
た。このような制御手段を設けたことにより、従来のよ
うに対応表内の各設定値を全て書き換えなくても、発光
手段や駆動手段のばらつきによつて発生する設定値と光
束強度の対応関係のずれを容易に補正し得、光束強度の
ばらつきを容易に調整し得る。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。

【００１３】（１）光デイスク装置の全体構成 図１において、１は全体として本発明を適用した光デイ
スク装置を示し、光学ユニツト２及びスピンドルモータ
３を駆動することによつてホストコンピユータ４から供
給されるデータを光磁気デイスク５に記録したり、或い
はホストコンピユータ４からのデータ消去命令に応じて
光磁気デイスク５に記録されているデータを消去した
り、或いはホストコンピユータ４からの読み出し命令に
応じて光磁気デイスク５に記録されているデータを読み
出したりする。なお、データ消去は全て「０」又は
「１」のデータを記録することによつて磁化の向きを揃
えることであり、データ記録と動作的には同じである。
そのためここでは、その詳細説明は省略する。

【００１４】まず記録系について説明する。記録時、外
部のホストコンピユータ４からは、書き込むデータＤ１
と共に制御信号Ｓ１及びＳ２が供給される。このデータ
Ｄ１と制御信号Ｓ１及びＳ２はそれぞれ光デイスク装置
１内のインターフエイス回路６に入力される。インター
フエイス回路６は各信号を分離し、データＤ１をデータ
発生回路７に供給すると共に、書き込みに関する２つの
制御信号Ｓ１及びＳ２のうち制御信号Ｓ１をデータ発生
回路７に、制御信号Ｓ２をＤＳＰ（Digital Signal Pro
cessor）回路８にそれぞれ供給する。

【００１５】データ発生回路７は、制御信号Ｓ１に基づ
いて、データＤ１からシリアルデータの書き込みデータ
Ｄ_W を生成すると共に、書き込みクロツクＣＬＫ_W を生
成し、それらを光学ユニツト２のＡＬＰＣ（Auto Laser
Power Control）回路９に供給する。一方、ＤＳＰ回路
８は、制御信号Ｓ２に基づいて、データ発生回路７、Ａ
ＬＰＣ回路９、ＤＳＥＰ（Data Separator）回路１０及
び磁界発生回路１１に対してそれぞれ制御信号Ｓ３、Ｓ
４、Ｓ５及びＳ６を送出し、これによつて各回路を記録
状態に制御する。

【００１６】磁界発生回路１１は制御信号Ｓ６に応じて
磁界を発生し、その磁界を光磁気デイスク５の記録を行
う部分に対して印加する。ＡＬＰＣ回路９は書き込みデ
ータＤ_W に基づいて光ピツクアツプ１２に内蔵されたレ
ーザダイオード（ＬＤ）１３の駆動電流を変化させるこ
とにより光磁気デイスク５に照射するレーザ光を当該書
き込みデータＤ_W に応じて変化させる。これにより書き
込みデータＤ_W に応じて磁化反転した記録パターンが光
磁気デイスク５に記録されて行く。このとき光デイスク
装置１では、光磁気デイスク５からの反射光をフオトデ
イテクタ（ＰＤ）１５によつて受光し、所望のレーザパ
ワーが得られているか監視するようになされている。

【００１７】ここでこの光デイスク装置１ではゾーニン
グ記録方式が適用されており、記録時（消去時も含
む）、書き込みクロツクＣＬＫ_W やレーザパワーをゾー
ンに応じて変えるようになされている。例えばレーザパ
ワーについては、ＤＳＰ回路８内に記憶されているゾー
ン・レーザパワーテーブルに基づいて制御する。この場
合、ＤＳＰ回路８が内部のゾーン・レーザパワーテーブ
ルから対応するゾーンのレジスタ値を読み出し、その読
み出したレジスタ値をＡＬＰＣ回路９に供給してレーザ
パワーを制御する。その際、ＤＳＰ回路８はレーザパワ
ーのずれを考慮した補正をレジスタ値に施すと共に、光
磁気デイスク５近傍に設けられているサーミスタ（Ｔ
Ｈ）１４から得た光磁気デイスク５の温度に応じてレジ
スタ値に温度補正を施し、それらの補正を施したレジス
タ値をＡＬＰＣ回路９に供給する。これを受けたＡＬＰ
Ｃ回路９はレジスタ値に基づいてレーザダイオード１３
から出力されるレーザ光のパワーを制御する。これによ
り最適なレーザパワーで記録することができる。

【００１８】ここでレーザダイオード１３から出力され
るレーザ光のパワー特性を図２に示す。この図２から分
かるように、この光デイスク装置１では、レーザ光のパ
ワーを断続的に変える、いわゆるパルス発光によつてデ
ータ記録を行う。例えば「１、０、０、０、０、０、
１」というデータを記録する場合、データ記録の前段階
ではまずプリヒートと呼ばれるレベルで発光し、データ
記録の初期段階ではサブピークと呼ばれるレベルまで発
光レベルを上げる。そしてデータ記録の途中ではメイン
ピークと呼ばれるサブピークよりも若干高い発光レベル
を断続的に繰り返し、データ記録の終了段階ではプリヒ
ート以下に発光レベルを一旦下げた後、プリヒートに発
光レベルを戻して記録を終える。このようなパルス発光
によつて記録する理由は、記録途中で温度が上がり過ぎ
て記録パターンの幅が拡がつてしまうことを回避するた
めである。

【００１９】なお、上述のゾーン・レーザパワーテーブ
ルに格納されているレジスタ値は、この図２におけるメ
インピークのレベルを表しているデータである。またメ
インピークレベルをＭとすると、サブピークレベルＳ
は、次式、

【数１】 に示すように、メインピークレベルＭのα倍（例えばα
＝0.9 程度）で表される。またプリヒートレベルＰは、
次式、

【数２】 に示すように、メインピークレベルＭのβ倍（例えばβ
＝0.1 程度）で表される。

【００２０】次に再生系について説明する。外部のホス
トコンピユータ４から読み出しに関する制御信号Ｓ１及
びＳ２が供給されると、光デイスク装置１は光磁気デイ
スク５に記録されている記録パターンを読み出し、その
結果得たデータを読み出しデータとしてホストコンピユ
ータ４に渡す。この場合、まずホストコンピユータ４か
らの制御信号Ｓ１及びＳ２はそれぞれ光デイスク装置１
のインターフエイス回路６に入力される。インターフエ
イス回路６は制御信号Ｓ１及びＳ２のうち制御信号Ｓ１
をデータ発生回路７に供給し、制御信号Ｓ２をＤＳＰ回
路８に供給する。

【００２１】ＤＳＰ回路８は、制御信号Ｓ２に基づい
て、データ発生回路７、ＡＬＰＣ回路９、ＤＳＥＰ回路
１０及び磁界発生回路１１に対してそれぞれ制御信号Ｓ
３、Ｓ４、Ｓ５及びＳ６を送出し、これによつて各回路
を読み出し状態に制御する。ＡＬＰＣ回路９は、ＤＳＰ
回路８から受けた制御信号Ｓ４に基づいて、レーザダイ
オード１３の駆動電流を制御し、レーザダイオード１３
から読み出し用のレーザ光を出力させる。レーザダイオ
ード１３から出力されたレーザ光は記録パターンに沿つ
て照射される。その反射光は記録パターンの磁化反転に
応じて偏光面が回転しており、光ピツクアツプ１２に内
蔵されたフオトデイテクタ１５によつて検出される。

【００２２】フオトデイテクタ１５は反射光を電気信号
に変換することにより記録されているデータに応じた電
流信号Ｓ７を発生し、その電流信号Ｓ７を電流電圧変換
回路１６に供給する。電流電圧変換回路１６は供給され
た電流信号Ｓ７を電圧信号Ｓ８に変換し、その電圧信号
Ｓ８をＤＳＥＰ回路１０に供給する。すなわち電流変化
によつて表されているデータを電圧変化によつて表し、
その結果得た電圧信号Ｓ８をＤＳＥＰ回路１０に供給す
る。

【００２３】ＤＳＥＰ回路１０は電圧信号Ｓ８から読み
出しデータＤ_R を抽出すると共に、読み出しクロツクＣ
ＬＫ_R を再生し、その読み出しデータＤ_R と読み出しク
ロツクＣＬＫ_R をデータ発生回路７に供給する。データ
発生回路７はこれを受けてホストコンピユータ４に渡す
データＤ１を生成する。このデータＤ１はインターフエ
イス回路６を介してホストコンピユータ４に送出され
る。

【００２４】なお、ＣＰＵ（Central Processing Unit
）１７はインターフエイス回路６やＤＳＰ回路８等を
制御するものであり、光デイスク装置１の記録動作や再
生動作等、動作全体を制御するものである。またＣＰＵ
１７は、電源投入時、メモリ１８に格納されているＤＳ
Ｐメインコードやレーザパワーの補正に用いるデータを
読み出してＤＳＰ回路８に供給する。

【００２５】（２）レーザパワーの補正 ここでレーザパワーのずれ補正の原理を説明する。まず
ＡＬＰＣ回路９に供給されるレジスタ値とレーザパワー
の対応関係は、通常、図３に示す特性直線Ａのようにな
つている。すなわちレジスタ値とレーザパワーは１対１
で対応し、レジスタ値が増えればレーザパワーが増える
関係にある。ＤＳＰ回路８内のゾーン・レーザパワーテ
ーブルは、通常、この特性直線Ａに基づいたレジスタ値
で形成されている。例えばゾーンＺ_S においてはレーザ
パワーＰ_S で記録する必要がある場合には、ゾーンＺ_S
のところにレジスタ値Ｒ_S が格納されている。

【００２６】ところが実際には、ＡＬＰＣ回路９やレー
ザダイオード１３にばらつきがあるため、装置によつて
はレジスタ値とレーザパワーの対応関係が、図３に示す
特性直線Ｂのようになつたり、或いは図３に示す特性直
線Ｃのようになつたりして本来の対応関係である特性直
線Ａとずれてしまうことがある（すなわちレジスタ値と
レーザパワーの対応関係を表す特性直線の傾きが本来の
傾きに対してずれてしまうことがある）。例えば特性直
線Ｂのような対応関係にある装置では、レジスタ値Ｒ_S
をＡＬＰＣ回路９に設定したとしても、実際に出力され
るレーザパワーはＰ_S1になる。また特性直線Ｃのような
対応関係にある装置では、レジスタ値Ｒ_S をＡＬＰＣ回
路９に設定したとしても、実際に出力されるレーザパワ
ーはＰ_S2になる。このような装置では所望のレーザパワ
ーが得られないため、書き込みエラー等が発生する。そ
のため従来の場合には、特性直線Ｂ或いは特性直線Ｃの
対応関係にある装置では、特性直線Ｂ或いは特性直線Ｃ
に基づいたレジスタ値でゾーン・レーザパワーテーブル
を全て書き換えていた。

【００２７】これに対してこの実施例の場合には、数値
処理によつてレジスタ値に補正を施し、これによつて所
望のレーザパワーを得るようにしている。具体的に説明
すると、製造時、まず基準となるレーザパワーＰ_S を実
際に出力するレジスタ値を求め、そのレジスタ値Ｒ_S ′
をメモリ１８に格納しておく。例えば特性直線Ｂの対応
関係にある装置ではレジスタ値Ｒ_S1をレジスタ値Ｒ_S ′
として記憶し、特性直線Ｃの対応関係にある装置ではレ
ジスタ値Ｒ_S2をレジスタ値Ｒ_S ′として記憶しておく。

【００２８】そして本来レーザパワーＰ_S を出力すると
されている基準のレジスタ値Ｒ_S と実際にレーザパワー
Ｐ_S を出力するレジスタ値Ｒ_S ′とのレジスタ比ｒ（＝
Ｒ_S′／Ｒ_S ）を電源投入時に求め、この求めたレジス
タ比ｒをゾーン・レーザパワーテーブルから読み出しき
たレジスタ値に掛け合わせてレザーパワーのずれを補正
する。そして記録時や消去時には、その補正を施したレ
ジスタ値をＡＬＰＣ回路９に与えて所望のレーザパワー
を得るようにする。

【００２９】このような数値処理によつてレーザパワー
のばらつきを調整するようにしたことにより、調整に係
る手間を省くことができる。なぜならこの場合には、実
際にレーザパワーＰ_S を出力するレジスタ値を求めてメ
モリに記憶しておくだけで済み、従来のようにゾーン・
レーザパワーテーブルを全て書き換える必要がないから
である。またメモリに記憶しておくデータとして１つだ
けになるため、従来のようにメモリ容量が莫大になつて
しまうようなことはない。

【００３０】ここで実際の調整手順を図４及び図５に示
すフローチヤートを用いて説明する。まず製造時には、
図４に示すフローチヤートを実行する。すなわちステツ
プＳＰ１から入つてステツプＳＰ２において、まず基準
レーザパワーＰ_S を実際に出力するレジスタ値Ｒ_S ′を
測定によつて求める。次にステツプＳＰ３において、そ
の求めたレジスタ値Ｒ_S ′が所定の規格内に入つている
か否かを判定する。その結果、規格外であればレーザパ
ワーの補正対象外と判断してステツプＳＰ４に進み、Ｎ
Ｇ品として修理部門等でその装置を修理する。一方、規
格内であればステツプＳＰ５に進み、その求めたレジス
タ値Ｒ_S ′をメモリ１８のパラメータブロツクエリアに
格納した後、ステツプＳＰ６に進んで調整処理を終了す
る。

【００３１】これに対して運用時には、図５に示すフロ
ーチヤートを実行してレーザパワーの補正を行う。すな
わちステツプＳＰ１０から入つてステツプＳＰ１１にお
いてユーザによつて電源が投入されると、続くステツプ
ＳＰ１２に進む。ステツプＳＰ１２では、まずメモリ１
８にあるＤＳＰメインコード（ゾーン・レーザパワーテ
ーブルやＤＳＰ回路８のプログラムコード等）を読み出
してＤＳＰ回路８にダウンロードする。次にステツプＳ
Ｐ１３では、メモリ１８にあるパラメータブロツクエリ
アの中身（すなわちレジスタ値Ｒ_S ′）を読み出してＤ
ＳＰ回路８にダウンロードする。

【００３２】次のステツプＳＰ１４では、セルフチエツ
ク動作を行つてレジスタ比ｒを求める。すなわちゾーン
・レーザパワーテーブルから基準レーザパワーＰ_S を出
力するとされているレジスタ値Ｒ_S を読み出し、その読
み出したレジスタ値Ｒ_S と実際に基準レーザパワーＰ_S
を出力するレジスタ値Ｒ_S ′とのレジスタ比ｒ（＝
Ｒ_S ′／Ｒ_S ）を求める。

【００３３】次にステツプＳＰ１５において記録又は消
去のコマンドを受け取ると、続くステツプＳＰ１６に進
み、まず温度補正が必要か否かを判定する。その結果、
温度補正が必要と判定された場合には、ステツプＳＰ１
７に進む。ステツプＳＰ１７では、記録又は消去に際し
てゾーン・レーザパワーテーブルから読み出したレジス
タ値Ｒに対して温度補正を施す。次のステツプＳＰ１８
では、温度補正を施したレジスタ値Ｒ_T に対して先程求
めたレジスタ比ｒを掛け、これによつてレーザパワーの
ずれを補正したメインピークのレジスタ値を求める。

【００３４】次にステツプＳＰ１９では、求めたメイン
ピークのレジスタ値に定数α及びβを掛け、サブピーク
及びプリヒートのレジスタ値をそれぞれ求める。次のス
テツプＳＰ２０では、その求めたメインピーク、サブピ
ーク及びプリヒートのレジスタ値をＡＬＰＣ回路９に渡
してレーザパワーを制御する。この処理が終了すると、
続くステツプＳＰ２１に進んで調整処理を終了する。

【００３５】なお、ゾーンが切り換わる場合には、再び
ゾーン・レーザパワーテーブルから対応するレジスタ値
Ｒを読み出し、レジスタ比ｒを掛け合わせて同様の処理
を繰り返す。また上述のように温度補正する理由は、光
磁気デイスク５の温度によつて最適なレーザパワーが異
なるからである。この場合、温度補正の方法としては、
基準温度に対して温度が上昇すればレジスタ値を下げ、
基準温度に対して温度が下降すればレジスタ値を上げる
といつたようにレジスタ値にオフセツトを与える温度補
正を行う。因みに、ゾーン・レーザパワーテーブルに格
納されているレジスタ値はこの基準温度におけるレジス
タ値である。

【００３６】これに対してステツプＳＰ１６において温
度補正不要と判定された場合には、ステツプＳＰ２２に
進む。ステツプＳＰ２２では、記録又は消去に際してゾ
ーン・レーザパワーテーブルから読み出したレジスタ値
Ｒに先程求めたレジスタ比ｒを掛け、これによつてレー
ザパワーのずれを補正したメインピークのレジスタ値を
求める。次にステツプＳＰ２３では、求めたメインピー
クのレジスタ値に定数α及びβを掛け、サブピーク及び
プリヒートのレジスタ値をそれぞれ求める。次にステツ
プＳＰ２４では、その求めたメインピーク、サブピーク
及びプリヒートのレジスタ値をＡＬＰＣ回路９に渡して
レーザパワーを制御する。この処理が終了すると、続く
ステツプＳＰ２５に進んで調整処理を終了する。なお、
ステツプＳＰ２２以降のルートでも、ゾーンが切り換わ
る場合には、再びゾーン・レーザパワーテーブルから対
応するレジスタ値Ｒを読み出し、レジスタ比ｒを掛け合
わせて同様の処理を繰り返す。

【００３７】このようにしてこの光デイスク装置１で
は、レジスタ比ｒをゾーン・レーザパワーテーブルから
読み出したレジスタ値Ｒに掛け合わせることによりレー
ザパワーのずれを調整するようになされている。

【００３８】（３）動作及び効果 以上の構成において、この光デイスク装置１では、レー
ザパワーのずれを従来のように書き換えによつて行うの
ではなく、数値処理によつて補正する。まず製造時に、
基準となるレーザーパワーＰ_S を実際に出力するレジス
タ値Ｒ_S ′を求め、その求めたレジスタ値Ｒ_S ′をメモ
リ１８に格納しておく。そして運用時には、そのレジス
タ値Ｒ_S ′を読み出すと共に、ゾーン・レーザパワーテ
ーブルから基準レーザパワーＰ_S を出力するとされてい
るレジスタ値Ｒ_S を読み出し、レジスタ比ｒ（＝Ｒ_S ′
／Ｒ_S ）を求める。そして求めたレジスタ比ｒをゾーン
・レーザパワーテーブルの各レジスタ値Ｒに掛け合わせ
て補正を行う（但し、実際の掛け合わせは、記録や消去
に際してゾーン・レーザパワーテーブルからレジスタ値
Ｒを読み出したときに行う）。そして数値補正したレジ
スタ値をＡＬＰＣ回路９に渡すことにより、この光デイ
スク装置１ではレーザパワーのずれを補正し、パワーの
ばらつきを調整する。

【００３９】このようにして光デイスク装置１では、製
造時に基準パワーを実際に出力するレジスタ値Ｒ_S ′を
求めておき、運用時にそのレジスタ値Ｒ_S ′と基準パワ
ーを出力するとされているレジスタ値Ｒ_S とのレジスタ
比ｒを求め、その求めたレジスタ比を各レジスタ値Ｒに
掛け合わせる。これによりレジスタ値とレーザパワーの
対応関係のずれを補正し、レーザパワーのばらつきを調
整する。

【００４０】この光デイスク装置１では、レジスタ値Ｒ
_S ′だけをメモリ１８に格納しておけば良いので、従来
のように書き換えのためのデータを全て持たせた場合に
比べてメモリ容量を格段に削減することができる。また
この光デイスク装置１では、レジスタ値Ｒ_S ′だけを求
めれば良いので、従来のように書き換えのためのデータ
を全て求めた場合に比べて調整の手間を格段に削減で
き、調整を容易にすることができる。またこの光デイス
ク装置１では、ゾーン数の増加に応じてゾーンテーブル
が大きくなつたり、或いは記録密度に応じてゾーンテー
ブル自体が増えたとしても、レジスタ値Ｒ_S ′さえ記憶
しておけば容易に対応し得る。

【００４１】以上の構成によれば、製造時に求めた基準
パワーを実際に出力するレジスタ値Ｒ_S ′と基準パワー
を出力するとされているレジスタ値Ｒ_S とのレジスタ比
ｒを求め、当該レジスタ比ｒをゾーン・レーザパワーテ
ーブルの各レジスタ値Ｒに掛け合わせることによつてレ
ジスタ値とレーザパワーの対応関係のずれを補正し、所
望のレーザパワーが得られるように調整するＤＳＰ回路
８を設けるようにしたことにより、従来に比して容易に
レーザパワーのばらつきを調整することができる。

【００４２】（４）他の実施例 なお上述の実施例においては、レーザパワーとレジスタ
の関係が原点を通るものと仮定したが（図３参照）、レ
ーザパワーのずれにオフセツトがあるため原点を通らな
いような場合には、基準パワーを２つ設けるようにすれ
ば上述の場合と同様にレーザパワーのずれを補正するこ
とができる。例えば図６に示すように、傾きが変わるだ
けではなく、オフセツトによつて原点も通らなくなつた
ような場合には、例えば基準パワーを「Ｐ_S 」と「０」
に決め、その基準パワーを実際に出力するレジスタ値を
製造時に求めておき、レーザパワーのずれを補正する場
合には、そのレジスタ値を基にオフセツト量を考慮した
上でレジスタ比を求めて補正をすれば良い。

【００４３】また上述の実施例においては、サーミスタ
１４によつて光磁気デイスク５の温度を検出した場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず、例えば温度セ
ンサ等によつて温度を検出するようにしても良い。

【００４４】さらに上述の実施例においては、レーザダ
イオード１３によつてレーザ光を発生した場合について
述べたが、本発明はこれに限らず、その他の発光手段を
用いるようにしても良い。

【００４５】また上述の実施例においては、ＡＬＰＣ回
路９によつてレーザダイオード１３を駆動した場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、発光手段を駆動
するものであればその他の駆動手段を用いるようにして
も良い。

【００４６】さらに上述の実施例においては、ＤＳＰ回
路８によつてレーザパワーのずれを補正した場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、光磁気デイスクの
位置と光束強度の対応表から所定の設定値を読み出して
駆動手段に設定することにより発光手段から出力される
光束強度を対応表に応じて制御するものであつて、かつ
予め用意された基準光束強度が実際に得られる設定値と
対応表内にある基準光束強度が得られるとされている設
定値との比を求め、求めた比を対応表内の各設定値に掛
け合わせることにより設定値と光束強度の対応関係のず
れを補正し、所望の光束強度が実際に得られるように調
整する制御手段を設けるようにすれば上述の場合と同様
の効果を得ることができる。

【００４７】また上述の実施例においては、光磁気デイ
スク５に対してデータ記録又はデータ消去を行う光デイ
スク装置１に本発明を適用した場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、相変化型の光デイスクに対して
データ記録又はデータ消去を行う光デイスク装置に本発
明を適用しても上述の場合と同様の効果を得ることがで
きる。要は、レーザ光等の光束を光デイスクに照射して
データ記録又はデータ消去を行う光デイスク装置に広く
適用し得る。

【００４８】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、予め用意
された基準光束強度が実際に得られる設定値と対応表内
にある基準光束強度が得られるとされている設定値との
比を求め、求めた比を対応表内の各設定値に掛け合わせ
ることにより設定値と光束強度の対応関係のずれを補正
し、所望の光束強度が実際に得られるように調整する制
御手段を設けるようにしたことにより、従来のように対
応表内の各設定値を全て書き換えなくても、発光手段や
駆動手段のばらつきによつて発生する設定値と光束強度
の対応関係のずれを容易に補正し得、光束強度のばらつ
きを容易に調整し得る。かくするにつき発光手段から出
力される光束強度のばらつきを容易に調整し得る光デイ
スク装置を実現し得る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例による光デイスク装置の構成
を示すブロツク図である。

【図２】記録時の発光動作の説明に供する略線図であ
る。

【図３】レーザパワーとレジスタ値の対応関係を示す特
性直線図である。

【図４】製造時の調整手順の説明に供するフローチヤー
トである。

【図５】運用時の調整手順の説明に供するフローチヤー
トである。

【図６】レーザパワーのずれにオフセツトがある場合の
説明に供する特性直線図である。

【図７】ゾーニング記録方式の説明に供する略線図であ
る。

【符号の説明】

１……光デイスク装置、２……光学ユニツト、３……ス
ピンドルモータ、４……ホストコンピユータ、５……光
磁気デイスク、６……インターフエイス回路、８……Ｄ
ＳＰ回路、９……ＡＬＰＣ回路、１２……光ピツクアツ
プ、１３……レーザダイオード、１４……サーミスタ、
１５……フオトデイテクタ、１７……ＣＰＵ、１８……
メモリ。

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】所定の光束を出力する発光手段と、上記発
   光手段を駆動する駆動手段と、上記駆動手段に対して設
   定する設定値によつて表された光デイスクの位置と光束
   強度の対応表から所定の設定値を読み出して上記駆動手
   段に設定することにより上記発光手段から出力される上
   記光束の光束強度を上記対応表に応じて制御する制御手
   段とを有し、上記制御手段により所望強度の光束を上記
   光デイスクに照射してデータ記録及び又はデータ消去を
   行う光デイスク装置において、 上記制御手段は、 予め用意された基準光束強度が実際に得られる上記設定
   値と上記対応表内にある基準光束強度が得られるとされ
   ている上記設定値との比を求め、求めた比を上記対応表
   内の各設定値に掛け合わせることにより上記設定値と上
   記光束強度の対応関係のずれを補正し、所望の光束強度
   が実際に得られるように調整することを特徴とする光デ
   イスク装置。
2. 【請求項２】上記基準光束強度が実際に得られる設定値
   は、製造時に予め測定され、所定の記憶手段に記憶され
   ていることを特徴とする請求項１に記載の光デイスク装
   置。
3. 【請求項３】上記設定値と上記光束強度の対応関係のず
   れがオフセツトを持つていない場合には上記基準光束強
   度を１つに設定し、上記設定値と上記光束強度の対応関
   係のずれがオフセツトを持つている場合には上記基準光
   束強度を２つに設定することを特徴とする請求項１に記
   載の光デイスク装置。
4. 【請求項４】上記制御手段は、上記光デイスクの温度に
   応じて上記設定値にオフセツトを与えることにより温度
   に応じた補正も行うことを特徴とする請求項１に記載の
   光デイスク装置。
5. 【請求項５】上記対応表は、ゾーニング記録におけるゾ
   ーンと光束強度の対応表であることを特徴とする請求項
   １に記載の光デイスク装置。