JPH0937277A - 画像補正装置 - Google Patents
画像補正装置Info
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- JPH0937277A JPH0937277A JP17847995A JP17847995A JPH0937277A JP H0937277 A JPH0937277 A JP H0937277A JP 17847995 A JP17847995 A JP 17847995A JP 17847995 A JP17847995 A JP 17847995A JP H0937277 A JPH0937277 A JP H0937277A
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 プロジェクションテレビの幾何学歪みやミス
コンバ−ゼンスなどの画像歪みの自動調整を短時間で高
精度に行える画像補正装置を実現すること。 【構成】 画像を表示するスクリーン7の外周部に、複
数の光検出素子からなる光検出部8〜15を設ける。ま
たテストパターン発生回路1によりテストパターンを発
生し、光検出部8〜15で受光する。受光信号からテス
トパーンの表示位置を位置算出部17で検出し、位置対
称性検出部18により画像歪みの対称性を検出し、画面
中心部の歪みを予測する。誤差算出部19は位置対称性
検出部18の出力から画像歪み誤差を算出し、この誤差
値に基づいて補正信号発生回路20が補正信号を作成
し、コンバーゼンス補正回路21及び偏向回路22に与
える。このような構成によれば、高精度に画像歪みが検
出でき、通常の画面を表示しながらでも短時間に自動調
整を行うことができる。
コンバ−ゼンスなどの画像歪みの自動調整を短時間で高
精度に行える画像補正装置を実現すること。 【構成】 画像を表示するスクリーン7の外周部に、複
数の光検出素子からなる光検出部8〜15を設ける。ま
たテストパターン発生回路1によりテストパターンを発
生し、光検出部8〜15で受光する。受光信号からテス
トパーンの表示位置を位置算出部17で検出し、位置対
称性検出部18により画像歪みの対称性を検出し、画面
中心部の歪みを予測する。誤差算出部19は位置対称性
検出部18の出力から画像歪み誤差を算出し、この誤差
値に基づいて補正信号発生回路20が補正信号を作成
し、コンバーゼンス補正回路21及び偏向回路22に与
える。このような構成によれば、高精度に画像歪みが検
出でき、通常の画面を表示しながらでも短時間に自動調
整を行うことができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、カラ−テレビジョン受
像機の画像歪みを補正する装置に関し、スクリーンでの
3原色の位置ずれを検出する位置検出装置と、幾何学歪
みやミスコンバ−ゼンスなどの画像歪みを自動的に行う
画像補正装置に関するものである。
像機の画像歪みを補正する装置に関し、スクリーンでの
3原色の位置ずれを検出する位置検出装置と、幾何学歪
みやミスコンバ−ゼンスなどの画像歪みを自動的に行う
画像補正装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、3原色を発光する投射管を用い
てスクリーンに映像を拡大投射する投射型ディスプレイ
において、3原色投射管のスクリーンに対する集中角
や、投射型ディスプレイのスクリーンに対する投射角な
どの光学的条件により、画像の投射歪である幾何学歪や
ミスコンバーゼンスが生じる。
てスクリーンに映像を拡大投射する投射型ディスプレイ
において、3原色投射管のスクリーンに対する集中角
や、投射型ディスプレイのスクリーンに対する投射角な
どの光学的条件により、画像の投射歪である幾何学歪や
ミスコンバーゼンスが生じる。
【0003】投写型ディスプレイでは幾何学歪やコンバ
ーゼンスの調整が非常に複雑であり、手動では調整時間
がかかるため、自動的に調整を行う方法として、特公平
6−32486号公報、特許登録1685724号の自
動コンバーゼンス補正方式が提案されている。
ーゼンスの調整が非常に複雑であり、手動では調整時間
がかかるため、自動的に調整を行う方法として、特公平
6−32486号公報、特許登録1685724号の自
動コンバーゼンス補正方式が提案されている。
【0004】またコンバ−ゼンス調整後、受像機の電気
的・材質的・機構的変動や地磁気などの影響により発生
するコンバ−ゼンスドリフトを自動的に調整する方法と
して、特開平4−282993号公報、特公平6−93
93号公報、特公平6−5960号公報、米国特許48
57998号公報、特開昭63−48987号公報の位
置検出装置や画像補正装置が提案されている。コンバー
ゼンスドリフトは、投射管のネックチャ−ジ、ガンセン
タ−ドリフト等や、各駆動出力回路のドリフト、コンバ
−ゼンスヨ−クや偏向ヨークの材質的な感度変動、また
地磁気や輸送などの機構的変動などが組み合わさったも
のである。
的・材質的・機構的変動や地磁気などの影響により発生
するコンバ−ゼンスドリフトを自動的に調整する方法と
して、特開平4−282993号公報、特公平6−93
93号公報、特公平6−5960号公報、米国特許48
57998号公報、特開昭63−48987号公報の位
置検出装置や画像補正装置が提案されている。コンバー
ゼンスドリフトは、投射管のネックチャ−ジ、ガンセン
タ−ドリフト等や、各駆動出力回路のドリフト、コンバ
−ゼンスヨ−クや偏向ヨークの材質的な感度変動、また
地磁気や輸送などの機構的変動などが組み合わさったも
のである。
【0005】図29にコンバーゼンスドリフトを自動調
整する従来の画像補正装置(特開平4−282993
「コンバーゼンス自動補正装置」)の基本構成を示す。
以下、本発明の動作について説明する。図29に示すよ
うに、コンバーゼンスずれを検出する光電センサ206
はスクリーンの後方に上下に配置してあり、反射鏡20
4にて反射された映像のうち画面領域を上下に外れる非
表示映像がスクリーン205の上下の枠の背後に配置し
た反射鏡207にて反射されたのち、光電センサ206
にて受光される。ここでは、光電センサ206にて一定
の径をもった円形スポットが受光されるよう、装置本体
201内に設けられたコンバーゼンス自動補正装置20
8が、円形スポットを型取ったコンバーゼンス補正パタ
ーンを映像信号のオーバースキャン領域に重畳して各投
写管203に印加する。光電センサは、図31に示した
ように縦横4個ずつ碁盤の目に沿って並べられた16個
の光電変換素子S1〜S16を、抵抗回路網とともに左
右上下計4個の出力端子Xa,Xb, Ya, Yb に結線したもの
であり、16個の光電変換素子S1〜S16は、図32
に示すようなマトリクス回路を構成している。光電セン
サ206から得られる4個の電流値 Ixa, Ixb, Iya, Iy
b は内部で電流−電圧変換された後、図30に示すコン
バーゼンス自動補正装置208内の検出回路に送り込ま
れる。検出回路209は、各光電センサ206に対応し
て設けられており、ここで光電センサ206の各出力電
流比に応じて円形スポットの照射点が特定される。すな
わち2個の検出回路209からはコンバーゼンス補正パ
ターンの照射点データとして、それぞれ座標(Xa, Y
a)、(Xb, Yb)が出力される。こうして検出回路20
9にて得られたコンバーゼンス補正パターンの照射点デ
ータは、それぞれ対応する比較回路210に供給され、
基準値メモリ211に格納されている基準値となる照射
点データ(Xao, Yao)、(Xbo, Ybo)と比較される。こ
の比較は、照射点データを基準となる照射点データから
減算することにより行われ、画面の上下で水平方向と垂
直方向にそれぞれどれだけコンバーゼンスずれが生じて
いるかが求められる。すなわち、画面上部におけるコン
バーゼンスずれXat, Yatは、それぞれ Xat = Xa - Xao Yat = Ya - Yao として計測される。同様にまた、画面下部におけるコン
バーゼンスずれXbt, Ybtは、それぞれ、 Xbt = Xb - Xbo Ybt = Yb - Ybo として計測される。なお、基準となる照射点データは、
デジタルコンバーゼンス回路212を使って初期調整を
施した直後に、緑色投写用の投写管203から投写され
たコンバーゼンス補正パターンの位置データ(Xao, Ya
o)、(Xbo, Ybo)をAD変換して基準値メモリ211
に取り込むことによって得られたものである。以上のよ
うに算出されたコンバーゼンスずれから、静コンバーゼ
ンスずれは、画面上下のコンバーゼンスずれの和平均と
して得られ、動コンバーゼンスずれは、スクリーン上下
のコンバーゼンスずれの差平均として得られる。演算回
路219では、水平方向と垂直方向のコンバーゼンスず
れの和平均をとり、 ( Xat + Xbt ) / 2 ( Yat + Ybt ) / 2 をそれぞれ水平方向と垂直方向の静コンバーゼンスずれ
を示すデータとして算出する一方、水平方向と垂直方向
のコンバーゼンスずれの差平均をとり、 ( Xat - Xbt ) / 2 ( Yat - Ybt ) / 2 をそれぞれ水平方向と垂直方向の動コンバーゼンスずれ
を示すデータとして算出する。こうして得られたコンバ
ーゼンスずれを示す4個のデータは、赤、緑、青の各投
写管203ごとに演算回路219に続くホールド回路2
20に保持される。このホールド回路220が保持する
コンバーゼンスずれデータのうち、静コンバーゼンスず
れに関するデータ( Xat + Xbt ) / 2、( Yat + Ybt ) /
2 はそれぞれ加算器221、222においてデジタル
コンバーゼンス回路212から与えられる初期コンバー
ゼンス補正信号に加算され、コンバーゼンス補正回路2
23に供給される。一方また、動コンバーゼンスずれに
関するデータ( Xat - Xbt )/ 2、( Yat - Ybt ) / 2
は、動コンバーゼンス補正波形発生回路224に供給さ
れ、ここで画面サイズにあわせた動コンバーゼンス補正
波形に変換された後、それぞれ加算器225、226に
おいてデジタルコンバーゼンス補正回路212から与え
られる動コンバーゼンス補正信号に加算され、コンバー
ゼンス補正回路223に供給される。コンバーゼンス補
正回路は、水平方向と垂直方向に分けて与えられる静コ
ンバーゼンス補正信号と動コンバーゼンス補正信号にも
とづいてコンバーゼンス補正信号を発生し、各投写管2
03のコンバーゼンスヨークに対し、コンバーゼンス補
正信号に応じた電流を通電してコンバーゼンスの自動補
正を行う。
整する従来の画像補正装置(特開平4−282993
「コンバーゼンス自動補正装置」)の基本構成を示す。
以下、本発明の動作について説明する。図29に示すよ
うに、コンバーゼンスずれを検出する光電センサ206
はスクリーンの後方に上下に配置してあり、反射鏡20
4にて反射された映像のうち画面領域を上下に外れる非
表示映像がスクリーン205の上下の枠の背後に配置し
た反射鏡207にて反射されたのち、光電センサ206
にて受光される。ここでは、光電センサ206にて一定
の径をもった円形スポットが受光されるよう、装置本体
201内に設けられたコンバーゼンス自動補正装置20
8が、円形スポットを型取ったコンバーゼンス補正パタ
ーンを映像信号のオーバースキャン領域に重畳して各投
写管203に印加する。光電センサは、図31に示した
ように縦横4個ずつ碁盤の目に沿って並べられた16個
の光電変換素子S1〜S16を、抵抗回路網とともに左
右上下計4個の出力端子Xa,Xb, Ya, Yb に結線したもの
であり、16個の光電変換素子S1〜S16は、図32
に示すようなマトリクス回路を構成している。光電セン
サ206から得られる4個の電流値 Ixa, Ixb, Iya, Iy
b は内部で電流−電圧変換された後、図30に示すコン
バーゼンス自動補正装置208内の検出回路に送り込ま
れる。検出回路209は、各光電センサ206に対応し
て設けられており、ここで光電センサ206の各出力電
流比に応じて円形スポットの照射点が特定される。すな
わち2個の検出回路209からはコンバーゼンス補正パ
ターンの照射点データとして、それぞれ座標(Xa, Y
a)、(Xb, Yb)が出力される。こうして検出回路20
9にて得られたコンバーゼンス補正パターンの照射点デ
ータは、それぞれ対応する比較回路210に供給され、
基準値メモリ211に格納されている基準値となる照射
点データ(Xao, Yao)、(Xbo, Ybo)と比較される。こ
の比較は、照射点データを基準となる照射点データから
減算することにより行われ、画面の上下で水平方向と垂
直方向にそれぞれどれだけコンバーゼンスずれが生じて
いるかが求められる。すなわち、画面上部におけるコン
バーゼンスずれXat, Yatは、それぞれ Xat = Xa - Xao Yat = Ya - Yao として計測される。同様にまた、画面下部におけるコン
バーゼンスずれXbt, Ybtは、それぞれ、 Xbt = Xb - Xbo Ybt = Yb - Ybo として計測される。なお、基準となる照射点データは、
デジタルコンバーゼンス回路212を使って初期調整を
施した直後に、緑色投写用の投写管203から投写され
たコンバーゼンス補正パターンの位置データ(Xao, Ya
o)、(Xbo, Ybo)をAD変換して基準値メモリ211
に取り込むことによって得られたものである。以上のよ
うに算出されたコンバーゼンスずれから、静コンバーゼ
ンスずれは、画面上下のコンバーゼンスずれの和平均と
して得られ、動コンバーゼンスずれは、スクリーン上下
のコンバーゼンスずれの差平均として得られる。演算回
路219では、水平方向と垂直方向のコンバーゼンスず
れの和平均をとり、 ( Xat + Xbt ) / 2 ( Yat + Ybt ) / 2 をそれぞれ水平方向と垂直方向の静コンバーゼンスずれ
を示すデータとして算出する一方、水平方向と垂直方向
のコンバーゼンスずれの差平均をとり、 ( Xat - Xbt ) / 2 ( Yat - Ybt ) / 2 をそれぞれ水平方向と垂直方向の動コンバーゼンスずれ
を示すデータとして算出する。こうして得られたコンバ
ーゼンスずれを示す4個のデータは、赤、緑、青の各投
写管203ごとに演算回路219に続くホールド回路2
20に保持される。このホールド回路220が保持する
コンバーゼンスずれデータのうち、静コンバーゼンスず
れに関するデータ( Xat + Xbt ) / 2、( Yat + Ybt ) /
2 はそれぞれ加算器221、222においてデジタル
コンバーゼンス回路212から与えられる初期コンバー
ゼンス補正信号に加算され、コンバーゼンス補正回路2
23に供給される。一方また、動コンバーゼンスずれに
関するデータ( Xat - Xbt )/ 2、( Yat - Ybt ) / 2
は、動コンバーゼンス補正波形発生回路224に供給さ
れ、ここで画面サイズにあわせた動コンバーゼンス補正
波形に変換された後、それぞれ加算器225、226に
おいてデジタルコンバーゼンス補正回路212から与え
られる動コンバーゼンス補正信号に加算され、コンバー
ゼンス補正回路223に供給される。コンバーゼンス補
正回路は、水平方向と垂直方向に分けて与えられる静コ
ンバーゼンス補正信号と動コンバーゼンス補正信号にも
とづいてコンバーゼンス補正信号を発生し、各投写管2
03のコンバーゼンスヨークに対し、コンバーゼンス補
正信号に応じた電流を通電してコンバーゼンスの自動補
正を行う。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】特開平4−28299
3号公報「コンバーゼンス自動補正装置」のような構成
では、画面の外周部上下に設けた光電センサにより、そ
れぞれ検出したコンバーゼンスずれの和平均から静コン
バーゼンスずれを、差平均から動コンバーゼンスずれを
検出するため、画面中心の情報を使用していないため、
例えば、弓形歪みのように画面の上下のコンバーゼンス
は変化せず、画面中心部分が歪む場合に正確な補正を行
うことができないという課題を有していた。
3号公報「コンバーゼンス自動補正装置」のような構成
では、画面の外周部上下に設けた光電センサにより、そ
れぞれ検出したコンバーゼンスずれの和平均から静コン
バーゼンスずれを、差平均から動コンバーゼンスずれを
検出するため、画面中心の情報を使用していないため、
例えば、弓形歪みのように画面の上下のコンバーゼンス
は変化せず、画面中心部分が歪む場合に正確な補正を行
うことができないという課題を有していた。
【0007】本発明はこのような従来の課題点に鑑みて
なされたものであって、投写型のカラーディスプレイ装
置において、画面外周部に配置した光検出部を用いて調
整用パターン画面外周部での絶対座標から画面中心部の
歪みを予測することにより、映像を表示しながら常時あ
るいは随時、幾何学歪みやミスコンバーゼンスなどの画
像歪みの自動調整を高速、高精度に行うことのできる画
像補正装置を提供することを目的とする。
なされたものであって、投写型のカラーディスプレイ装
置において、画面外周部に配置した光検出部を用いて調
整用パターン画面外周部での絶対座標から画面中心部の
歪みを予測することにより、映像を表示しながら常時あ
るいは随時、幾何学歪みやミスコンバーゼンスなどの画
像歪みの自動調整を高速、高精度に行うことのできる画
像補正装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本願の請求項1の発明
は、表示装置の表示画面の外周部において、表示画面上
の中心で交差する水平、垂直軸上と、表示画面の4隅の
所定の位置に配置された複数の光検出手段と、画像歪み
調整用のテストパターンを光検出手段の近傍に発生する
テストパターン発生手段と、光検出手段の出力からテス
トパターンの画面上での表示位置を算出する位置算出手
段と、位置算出手段の出力から、画像歪みの水平、垂直
軸に関する対称性を検出する位置対称性検出手段と、位
置対称性検出手段の出力から、画像歪み誤差を算出する
誤差算出手段と、誤差算出手段の出力から補正信号を作
成し、表示装置に供給する補正信号作成手段とを具備す
ることを特徴とするものである。
は、表示装置の表示画面の外周部において、表示画面上
の中心で交差する水平、垂直軸上と、表示画面の4隅の
所定の位置に配置された複数の光検出手段と、画像歪み
調整用のテストパターンを光検出手段の近傍に発生する
テストパターン発生手段と、光検出手段の出力からテス
トパターンの画面上での表示位置を算出する位置算出手
段と、位置算出手段の出力から、画像歪みの水平、垂直
軸に関する対称性を検出する位置対称性検出手段と、位
置対称性検出手段の出力から、画像歪み誤差を算出する
誤差算出手段と、誤差算出手段の出力から補正信号を作
成し、表示装置に供給する補正信号作成手段とを具備す
ることを特徴とするものである。
【0009】本願の請求項5の発明は、表示装置の表示
画面の外周部において、表示画面上の中心で交差する水
平、垂直軸上と、表示画面の四隅の所定の位置に配置さ
れた複数の光検出手段と、画像歪み調整用のテストパタ
ーンを光検出手段の近傍に発生するテストパターン発生
手段と、光検出手段の出力からテストパターンの画面上
での表示位置を算出する位置算出手段と、位置算出手段
の出力から、画像歪みの水平、垂直軸に関する対称性を
検出する位置対称性検出手段と、位置対称性検出手段の
出力から、画像歪みの補正手順を設定し、その手順に基
づいて画像歪み誤差を算出する誤差算出手段と、前記誤
差算出手段の出力から画像歪みの補正信号を作成し、表
示装置に供給する補正信号作成手段と、位置対称性検出
手段の出力をもとに幾何学歪みやコンバーゼンスの補正
手順を設定する補正手順設定手段とを具備することを特
徴とするものである。
画面の外周部において、表示画面上の中心で交差する水
平、垂直軸上と、表示画面の四隅の所定の位置に配置さ
れた複数の光検出手段と、画像歪み調整用のテストパタ
ーンを光検出手段の近傍に発生するテストパターン発生
手段と、光検出手段の出力からテストパターンの画面上
での表示位置を算出する位置算出手段と、位置算出手段
の出力から、画像歪みの水平、垂直軸に関する対称性を
検出する位置対称性検出手段と、位置対称性検出手段の
出力から、画像歪みの補正手順を設定し、その手順に基
づいて画像歪み誤差を算出する誤差算出手段と、前記誤
差算出手段の出力から画像歪みの補正信号を作成し、表
示装置に供給する補正信号作成手段と、位置対称性検出
手段の出力をもとに幾何学歪みやコンバーゼンスの補正
手順を設定する補正手順設定手段とを具備することを特
徴とするものである。
【0010】本願の請求項9の発明は、表示装置の表示
画面の外周部において、表示画面上の中心で交差する水
平、垂直軸上と、表示画面の四隅の所定の位置に配置さ
れた複数の光検出手段と、画像歪み調整用のテストパタ
ーンを光検出手段の近傍に発生するテストパターン発生
手段と、テストパターンの画面上での表示位置を制御す
る表示位置制御手段と、光検出手段の出力と、表示位置
制御手段の制御量からテストパターンの表示位置を算出
する表示位置算出手段と、位置算出手段の出力から、画
像歪みの水平、垂直軸に関する対称性を検出する位置対
称性検出手段と、位置対称性検出手段の出力から、幾何
学歪みやコンバーゼンス誤差を算出する誤差算出手段
と、誤差算出手段の出力から補正信号を作成し、表示装
置に供給する補正信号作成手段を備え、表示位置制御手
段が、水平、垂直軸に関して対称な位置に配置された一
組の光検出手段が検出できるように、テストパターンの
表示位置を順次制御することを特徴とするものである。
画面の外周部において、表示画面上の中心で交差する水
平、垂直軸上と、表示画面の四隅の所定の位置に配置さ
れた複数の光検出手段と、画像歪み調整用のテストパタ
ーンを光検出手段の近傍に発生するテストパターン発生
手段と、テストパターンの画面上での表示位置を制御す
る表示位置制御手段と、光検出手段の出力と、表示位置
制御手段の制御量からテストパターンの表示位置を算出
する表示位置算出手段と、位置算出手段の出力から、画
像歪みの水平、垂直軸に関する対称性を検出する位置対
称性検出手段と、位置対称性検出手段の出力から、幾何
学歪みやコンバーゼンス誤差を算出する誤差算出手段
と、誤差算出手段の出力から補正信号を作成し、表示装
置に供給する補正信号作成手段を備え、表示位置制御手
段が、水平、垂直軸に関して対称な位置に配置された一
組の光検出手段が検出できるように、テストパターンの
表示位置を順次制御することを特徴とするものである。
【0011】本願の請求項11の発明は、表示装置の表
示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の光検出
手段と、画像歪み調整用のテストパターンを光検出手段
の近傍に発生するテストパターン発生手段と、光検出手
段の出力からテストパターンの画面上での表示位置を算
出する表示位置算出手段と、表示位置算出手段の出力か
ら画像歪み誤差を算出する誤差算出手段と、画像歪み誤
差が許容範囲を越えた場合のみ画像歪みの補正信号を作
成、更新しする補正信号作成手段を備えたことを特徴と
するものである。
示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の光検出
手段と、画像歪み調整用のテストパターンを光検出手段
の近傍に発生するテストパターン発生手段と、光検出手
段の出力からテストパターンの画面上での表示位置を算
出する表示位置算出手段と、表示位置算出手段の出力か
ら画像歪み誤差を算出する誤差算出手段と、画像歪み誤
差が許容範囲を越えた場合のみ画像歪みの補正信号を作
成、更新しする補正信号作成手段を備えたことを特徴と
するものである。
【0012】
【作用】このような特徴を有する本願の請求項1〜4の
発明によれば、表示画面の外周部の所定の位置に配置さ
れた複数の光検出手段により調整用テストパターンの表
示位置を算出する。さらに、算出した表示位置から画像
歪みの対称性を検出し、画面中心部の歪みを予測するこ
とによって、通常の映像を表示しながら高精度に画像歪
みの補正を行える。
発明によれば、表示画面の外周部の所定の位置に配置さ
れた複数の光検出手段により調整用テストパターンの表
示位置を算出する。さらに、算出した表示位置から画像
歪みの対称性を検出し、画面中心部の歪みを予測するこ
とによって、通常の映像を表示しながら高精度に画像歪
みの補正を行える。
【0013】また本願の請求項5〜8の発明によれば、
表示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の光検
出手段により調整用のテストパターンの表示位置を算出
する。さらに、算出した表示位置から、画像歪みの対称
性を検出し、画像歪みの補正手順を設定することによ
り、通常の映像を表示しながら画像歪みの補正を高速に
行える。
表示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の光検
出手段により調整用のテストパターンの表示位置を算出
する。さらに、算出した表示位置から、画像歪みの対称
性を検出し、画像歪みの補正手順を設定することによ
り、通常の映像を表示しながら画像歪みの補正を高速に
行える。
【0014】また本願の請求項9〜10の発明によれ
ば、表示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の
光検出手段と、調整用テストパターンの表示位置を制御
する表示位置制御手段により、表示画面の水平、垂直軸
に関して対称な位置に配置された一組の光検出手段が検
出できるように、テストパターンの表示位置を順次制御
することによって、テストパターンが画像歪みやミスコ
ンバーゼンスにより光検出手段により検出できない場合
においても、高速、高精度に画像歪みの補正を行える。
ば、表示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の
光検出手段と、調整用テストパターンの表示位置を制御
する表示位置制御手段により、表示画面の水平、垂直軸
に関して対称な位置に配置された一組の光検出手段が検
出できるように、テストパターンの表示位置を順次制御
することによって、テストパターンが画像歪みやミスコ
ンバーゼンスにより光検出手段により検出できない場合
においても、高速、高精度に画像歪みの補正を行える。
【0015】また本願の請求項11〜16の発明によれ
ば、表示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の
光検出部により調整用のテストパターンの表示位置を算
出し、画像歪み誤差を求める。さらに求めた誤差が許容
範囲を超えた場合のみ画像歪みの補正信号を作成、更新
し、表示装置に供給することにより、通常の映像を表示
しながら高精度に画像歪みやコンバーゼンスを効率よ
く、誤動作なく行える。さらに、フィードバック応答を
緩やかに制御することにより、表示画面上での補正動作
を目立ちにくくすることができる。
ば、表示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の
光検出部により調整用のテストパターンの表示位置を算
出し、画像歪み誤差を求める。さらに求めた誤差が許容
範囲を超えた場合のみ画像歪みの補正信号を作成、更新
し、表示装置に供給することにより、通常の映像を表示
しながら高精度に画像歪みやコンバーゼンスを効率よ
く、誤動作なく行える。さらに、フィードバック応答を
緩やかに制御することにより、表示画面上での補正動作
を目立ちにくくすることができる。
【0016】
【実施例】本発明の第1の実施例における画像補正装置
について図面を参照しつつ説明する。図1は画像補正装
置を含む一体型ビデオプロジェクタ(投写型ディスプレ
イ)の全体構成を示すブロック図である。図2は、投写
型ディスプレイの構成を示す側面図である。図1、図2
に示すように、投写型ディスプレイはR(赤)、G
(緑)、B(青)のCRT4と投写レンズ5とを含む拡
大投写装置25、ミラー6、スクリーン7、自動調整装
置27、位置検出装置26を含んで構成される。
について図面を参照しつつ説明する。図1は画像補正装
置を含む一体型ビデオプロジェクタ(投写型ディスプレ
イ)の全体構成を示すブロック図である。図2は、投写
型ディスプレイの構成を示す側面図である。図1、図2
に示すように、投写型ディスプレイはR(赤)、G
(緑)、B(青)のCRT4と投写レンズ5とを含む拡
大投写装置25、ミラー6、スクリーン7、自動調整装
置27、位置検出装置26を含んで構成される。
【0017】位置検出装置26とは、拡大投写装置25
によって投写されたR、G、Bの画像の位置ずれを検出
する装置である。以下に示す各実施例では、位置算出装
置は画像の幾何学歪みやミスコンバーゼンスなどの画像
歪みの自動調整に必要なテストパターンの位置を検出す
る。ここでテストパターンの位置は、図1に示すよう
に、スクリーン7の中心部で交差する水平(x)、垂直(y)
座標系を基準に検出する。
によって投写されたR、G、Bの画像の位置ずれを検出
する装置である。以下に示す各実施例では、位置算出装
置は画像の幾何学歪みやミスコンバーゼンスなどの画像
歪みの自動調整に必要なテストパターンの位置を検出す
る。ここでテストパターンの位置は、図1に示すよう
に、スクリーン7の中心部で交差する水平(x)、垂直(y)
座標系を基準に検出する。
【0018】図1において、テストパターン発生回路1
は画像歪み調整用のテストパターンを発生する回路であ
り、その出力は切換回路2に与えられる。切換回路2は
外部から入力される映像信号とテストパターンの信号を
切り換える回路であり、その出力は映像回路3に与えら
れる。映像回路3は入力された信号に対して各種の処理
を行い、R,B,GのCRT4を駆動する回路である。
3つのレンズ5は夫々のCRT4に表示された画像を、
図2に示すようにミラー6を介してスクリーン7に拡大
投射するレンズである。光検出部8〜15はスクリーン
7の外周部の所定位置に配置され、表示されたテストパ
ターンの信号レベルを検出する装置である。ここで、光
検出部8〜15はスクリーン7の外周部に8つ配置され
ているが、これ以外の数でもよい。図1のマルチプレク
サ16は光検出部8〜15の出力信号を入力し、処理す
べき信号を選択する回路である。位置算出部17はマル
チプレクサ16の出力信号を処理してテストパターンの
表示位置を算出する回路である。このように光検出部8
〜15、マルチプレクサ16、位置算出部17は、スク
リーン7上の光検出部8〜15上に映出されたテストパ
ターンの表示位置を検出する位置検出装置26を構成し
ている。位置対称性検出部18は、位置算出部17の出
力から、前述のスクリーン7の水平(x)、垂直(y)軸に関
する画像歪みの対称性を検出する。誤差算出部19は位
置算出部17の出力から、画像歪みの誤差量を算出する
回路である。補正信号発生回路は、誤差算出部19の出
力をもとに画像歪み補正用の補正信号を発生する回路で
あり、その出力はコンバーゼンス補正回路21と、偏向
回路22とに供給される。ここで、テストパターン発生
回路1、位置対称性検出部18、誤差算出部19、補正
信号発生回路20は、画像歪みを自動調整する自動調整
装置27を構成している。コンバーゼンス補正回路21
はコンバーゼンスヨーク(以下、CYという)23にコ
ンバーゼンス補正用の制御信号を出力する回路である。
偏向回路22は偏向ヨーク(以下、DYという)24に
偏向制御と偏向補正用の制御信号を出力する回路であ
る。このように、拡大投写装置25は、切換回路2、映
像回路3、CY23、DY24とを装着したCRT4、
投写レンズ5、コンバーゼンス補正回路21、偏向回路
22等により構成される。
は画像歪み調整用のテストパターンを発生する回路であ
り、その出力は切換回路2に与えられる。切換回路2は
外部から入力される映像信号とテストパターンの信号を
切り換える回路であり、その出力は映像回路3に与えら
れる。映像回路3は入力された信号に対して各種の処理
を行い、R,B,GのCRT4を駆動する回路である。
3つのレンズ5は夫々のCRT4に表示された画像を、
図2に示すようにミラー6を介してスクリーン7に拡大
投射するレンズである。光検出部8〜15はスクリーン
7の外周部の所定位置に配置され、表示されたテストパ
ターンの信号レベルを検出する装置である。ここで、光
検出部8〜15はスクリーン7の外周部に8つ配置され
ているが、これ以外の数でもよい。図1のマルチプレク
サ16は光検出部8〜15の出力信号を入力し、処理す
べき信号を選択する回路である。位置算出部17はマル
チプレクサ16の出力信号を処理してテストパターンの
表示位置を算出する回路である。このように光検出部8
〜15、マルチプレクサ16、位置算出部17は、スク
リーン7上の光検出部8〜15上に映出されたテストパ
ターンの表示位置を検出する位置検出装置26を構成し
ている。位置対称性検出部18は、位置算出部17の出
力から、前述のスクリーン7の水平(x)、垂直(y)軸に関
する画像歪みの対称性を検出する。誤差算出部19は位
置算出部17の出力から、画像歪みの誤差量を算出する
回路である。補正信号発生回路は、誤差算出部19の出
力をもとに画像歪み補正用の補正信号を発生する回路で
あり、その出力はコンバーゼンス補正回路21と、偏向
回路22とに供給される。ここで、テストパターン発生
回路1、位置対称性検出部18、誤差算出部19、補正
信号発生回路20は、画像歪みを自動調整する自動調整
装置27を構成している。コンバーゼンス補正回路21
はコンバーゼンスヨーク(以下、CYという)23にコ
ンバーゼンス補正用の制御信号を出力する回路である。
偏向回路22は偏向ヨーク(以下、DYという)24に
偏向制御と偏向補正用の制御信号を出力する回路であ
る。このように、拡大投写装置25は、切換回路2、映
像回路3、CY23、DY24とを装着したCRT4、
投写レンズ5、コンバーゼンス補正回路21、偏向回路
22等により構成される。
【0019】さて図2において、拡大投写装置25から
の画像光はミラー6で反射され、透過型のスクリーン7
に拡大投写される。拡大投写装置25とスクリーン7の
間に設けられたミラー6は、一体型ビデオプロジェクタ
28のセットの奥行きを短くするための光学反射手段で
ある。自動調整装置27は前述したように、スクリーン
7上に配置した光検出部8〜15上に、画像歪み調整用
のテストパターンを映出して、この光検出部の検出信号
からテストパターンのスクリーン上での表示位置を検出
して、拡大投写装置25の画像歪みの自動調整を行うも
のである。
の画像光はミラー6で反射され、透過型のスクリーン7
に拡大投写される。拡大投写装置25とスクリーン7の
間に設けられたミラー6は、一体型ビデオプロジェクタ
28のセットの奥行きを短くするための光学反射手段で
ある。自動調整装置27は前述したように、スクリーン
7上に配置した光検出部8〜15上に、画像歪み調整用
のテストパターンを映出して、この光検出部の検出信号
からテストパターンのスクリーン上での表示位置を検出
して、拡大投写装置25の画像歪みの自動調整を行うも
のである。
【0020】このようにプロジェクタに設けられた本実
施例の画像補正装置の動作の概要を説明する。まず、表
示されたテストパターンの輝度レベルをスクリーン7の
外周部の所定の位置に配置された光検出部8〜15によ
り検出した検出信号から位置算出部17により、テスト
パターンのスクリーン上での表示位置を算出し、さらに
求められたテストパターンの位置座標から、画像歪みの
水平(x)、垂直(y)軸に関する対称性を位置対称性検出部
18により検出することにより、スクリーン中心部の歪
みを予測する。続いて、予測されたスクリーン中心部の
歪みから、誤差算出部19により、画像歪み誤差を算出
し、誤差量に応じた補正信号を補正信号発生回路20に
より、コンバーゼンス補正回路21、偏向回路22に供
給することにより画像歪みやコンバーゼンスの自動調整
を行う。
施例の画像補正装置の動作の概要を説明する。まず、表
示されたテストパターンの輝度レベルをスクリーン7の
外周部の所定の位置に配置された光検出部8〜15によ
り検出した検出信号から位置算出部17により、テスト
パターンのスクリーン上での表示位置を算出し、さらに
求められたテストパターンの位置座標から、画像歪みの
水平(x)、垂直(y)軸に関する対称性を位置対称性検出部
18により検出することにより、スクリーン中心部の歪
みを予測する。続いて、予測されたスクリーン中心部の
歪みから、誤差算出部19により、画像歪み誤差を算出
し、誤差量に応じた補正信号を補正信号発生回路20に
より、コンバーゼンス補正回路21、偏向回路22に供
給することにより画像歪みやコンバーゼンスの自動調整
を行う。
【0021】ここで本実施例のテストパターンの位置座
標検出の動作を詳しく説明する。まず、表示画面外周部
の所定位置に配置された光検出部8〜15と位置検出装
置26について図3を用いて説明する。図3の光検出素
子30、31はスクリーン7の中心で交差する水平(x
方向)、垂直軸(y方向)に対して斜めに配置されたフ
ォトダイオードやフォトトランジスタである。スクリー
ンの水平(x)、垂直(y)軸は、拡大投写装置の水平走査方
向、垂直走査方向に一致する。本実施例において、説明
を簡単にするため2個の光検出素子を使用しているが、
光検出素子の個数は2個以上であれば有効である。ま
た、光検出部8のみについて示しているが、他の光検出
部も同様の構成である。図4は位置算出部の詳細な構成
図である。本図において、32、33はマルチプレクサ
16により選択された光検出部の各光検出素子の出力を
直流信号に変換するピークホールド回路、34、35は
ピークホールド回路32、33の出力をディジタルデー
タに変換するA/D変換器、36、37はA/D変換器
34、35の出力に係数をかける係数ROM、38は係
数ROM36、37の出力を加算する第1の加算器、3
9はA/D変換器34、35の出力を加算する第2の加
算器、40は第1の加算器38の出力を第2の加算器3
9出力で除算する除算器である。
標検出の動作を詳しく説明する。まず、表示画面外周部
の所定位置に配置された光検出部8〜15と位置検出装
置26について図3を用いて説明する。図3の光検出素
子30、31はスクリーン7の中心で交差する水平(x
方向)、垂直軸(y方向)に対して斜めに配置されたフ
ォトダイオードやフォトトランジスタである。スクリー
ンの水平(x)、垂直(y)軸は、拡大投写装置の水平走査方
向、垂直走査方向に一致する。本実施例において、説明
を簡単にするため2個の光検出素子を使用しているが、
光検出素子の個数は2個以上であれば有効である。ま
た、光検出部8のみについて示しているが、他の光検出
部も同様の構成である。図4は位置算出部の詳細な構成
図である。本図において、32、33はマルチプレクサ
16により選択された光検出部の各光検出素子の出力を
直流信号に変換するピークホールド回路、34、35は
ピークホールド回路32、33の出力をディジタルデー
タに変換するA/D変換器、36、37はA/D変換器
34、35の出力に係数をかける係数ROM、38は係
数ROM36、37の出力を加算する第1の加算器、3
9はA/D変換器34、35の出力を加算する第2の加
算器、40は第1の加算器38の出力を第2の加算器3
9出力で除算する除算器である。
【0022】次に本実施例のテストパターンの表示位置
の算出動作について説明する。まず本実施例において使
用するテストパターンについて説明する。テストパター
ン発生回路1は図5(a)に示すように、有効画面外の
オーバースキャン領域の所定の位置に、たとえば本図の
40、41に示すように表示装置の水平方向x及び垂直
方向yに対して、図5(b)に示すように輝度レベルが
cos2特性、あるいはガウス特性を示すような、クロスハ
ッチパターンを順次発生する。テストパターン発生回路
1の構成図を図6に示す。図6において、45は水平同
期信号をリセット信号とし、一体型ビデオプロジェクタ
のシステムクロック(例えば 4fsc = 14.32MHz )をカウ
ントする水平アドレスカウンタ、46は垂直同期信号を
リセット信号とし、水平同期信号をカウントする垂直ア
ドレスカウンタ、47は、水平アドレスカウンタ45の
アドレス出力と、RAM49に記憶されたテストパター
ンの水平方向の表示位置を示すアドレス値とを比較し、
一致した場合にHIGHレベルの信号を出力する第1の
比較器、48は垂直アドレスカウンタ46のアドレス出
力と、RAM50に記憶されたテストパターンの垂直方
向の表示位置を示すアドレス値とを比較し、一致した場
合にHIGHレベルの信号を出力する比較する第2の比
較器、51は第1と第2の比較器の出力のORをとるOR回
路である。前述したcos2特性、あるいはガウス特性は、
テストパターン発生回路1が出力する2値のクロスハッ
チパターンを電気的、光学的な低域通過フィルタに通す
ことにより得ることができる。また、テストパターンを
本実施例のようにオーバースキャン領域に表示している
ため、通常の画像を表示しながら、画像歪みやコンバー
ゼンスの調整を行うことができる。説明において、輝度
レベルがcos2特性のテストパターンを用いるが、テスト
パターンは輝度レベルにピークが存在するようなパター
ンであれば、例えば図5(c)に示すような輝度レベル
が線形山形のようなパターンについても有効である。
の算出動作について説明する。まず本実施例において使
用するテストパターンについて説明する。テストパター
ン発生回路1は図5(a)に示すように、有効画面外の
オーバースキャン領域の所定の位置に、たとえば本図の
40、41に示すように表示装置の水平方向x及び垂直
方向yに対して、図5(b)に示すように輝度レベルが
cos2特性、あるいはガウス特性を示すような、クロスハ
ッチパターンを順次発生する。テストパターン発生回路
1の構成図を図6に示す。図6において、45は水平同
期信号をリセット信号とし、一体型ビデオプロジェクタ
のシステムクロック(例えば 4fsc = 14.32MHz )をカウ
ントする水平アドレスカウンタ、46は垂直同期信号を
リセット信号とし、水平同期信号をカウントする垂直ア
ドレスカウンタ、47は、水平アドレスカウンタ45の
アドレス出力と、RAM49に記憶されたテストパター
ンの水平方向の表示位置を示すアドレス値とを比較し、
一致した場合にHIGHレベルの信号を出力する第1の
比較器、48は垂直アドレスカウンタ46のアドレス出
力と、RAM50に記憶されたテストパターンの垂直方
向の表示位置を示すアドレス値とを比較し、一致した場
合にHIGHレベルの信号を出力する比較する第2の比
較器、51は第1と第2の比較器の出力のORをとるOR回
路である。前述したcos2特性、あるいはガウス特性は、
テストパターン発生回路1が出力する2値のクロスハッ
チパターンを電気的、光学的な低域通過フィルタに通す
ことにより得ることができる。また、テストパターンを
本実施例のようにオーバースキャン領域に表示している
ため、通常の画像を表示しながら、画像歪みやコンバー
ゼンスの調整を行うことができる。説明において、輝度
レベルがcos2特性のテストパターンを用いるが、テスト
パターンは輝度レベルにピークが存在するようなパター
ンであれば、例えば図5(c)に示すような輝度レベル
が線形山形のようなパターンについても有効である。
【0023】次に表示位置の算出処理について説明す
る。テストパターンの表示位置の算出は、図5(a)に
示すように、スクリーン外周部の所定の位置に配置され
た光検出部8〜15に対応する水平方向テストパターン
41と垂直方向テストパターン42の交点を注目点とし
てその表示位置を算出することにより、画像歪みや、ミ
スコンバーゼンスを検出する。本処理では、図7に示す
ようなテストパターンの重心位置をその表示位置として
算出する。テストパターンの表示位置の算出手順は、マ
ルチプレクサ16で選択された光検出部8〜15につい
て、水平方向x、垂直方向yのテストパターン41、4
2を表示画面に順次映出することにより行うが、同様の
処理であるので、ここでは、光検出部8における水平方
向のテストパターンの表示位置算出処理についてのみ説
明する。
る。テストパターンの表示位置の算出は、図5(a)に
示すように、スクリーン外周部の所定の位置に配置され
た光検出部8〜15に対応する水平方向テストパターン
41と垂直方向テストパターン42の交点を注目点とし
てその表示位置を算出することにより、画像歪みや、ミ
スコンバーゼンスを検出する。本処理では、図7に示す
ようなテストパターンの重心位置をその表示位置として
算出する。テストパターンの表示位置の算出手順は、マ
ルチプレクサ16で選択された光検出部8〜15につい
て、水平方向x、垂直方向yのテストパターン41、4
2を表示画面に順次映出することにより行うが、同様の
処理であるので、ここでは、光検出部8における水平方
向のテストパターンの表示位置算出処理についてのみ説
明する。
【0024】まず、光検出部8の各光検出素子30、3
1に対してスクリーン上の座標を、例えば Xn, Xn+1 の
ように割り当て、この値を光検出素子30、31にそれ
ぞれ対応する係数ROM36、37にそれぞれ記憶す
る。光検出素子30、31に割り当てられる座標は、例
えば、光検出部8の位置がスクリーン中心部を原点とし
て( X0, Y0 )と表されるならば、水平方向の素子の間隔
を2Dとして、( Xn, Xn+1) = ( X0 - D, X0 + D )とな
る。なお、垂直方向も同様である。また、図示はしない
が、同様に、スクリーン7の外周部に配置された光検出
部9〜15の各光検出素子に対して一意に割り当てる。
ここでピークホールドされA/D変換された光検出素子
30、31の出力がそれぞれ Zn, Zn+1 であるとする
と、係数ROM36、37から出力される信号はそれぞ
れ、Xn・Zn, Xn+1・Zn+1 となる。さらにこれらを第1
の加算器38により加算し、その出力として Xn・Zn +
Xn+1・Zn+1 を得る。一方、第2の加算器39により光
検出素子30、31の出力の和Zn + Zn+1 を求める。こ
れら、第1の加算器38の出力 Xn・Zn + Xn+1・Zn+1
を第2の加算器39の出力 Zn + Zn+1 を除算器40に
より除算することにより、テストパターンの表示位置 X
を近似計算する。表示位置の算出処理を(1)式に示
す。
1に対してスクリーン上の座標を、例えば Xn, Xn+1 の
ように割り当て、この値を光検出素子30、31にそれ
ぞれ対応する係数ROM36、37にそれぞれ記憶す
る。光検出素子30、31に割り当てられる座標は、例
えば、光検出部8の位置がスクリーン中心部を原点とし
て( X0, Y0 )と表されるならば、水平方向の素子の間隔
を2Dとして、( Xn, Xn+1) = ( X0 - D, X0 + D )とな
る。なお、垂直方向も同様である。また、図示はしない
が、同様に、スクリーン7の外周部に配置された光検出
部9〜15の各光検出素子に対して一意に割り当てる。
ここでピークホールドされA/D変換された光検出素子
30、31の出力がそれぞれ Zn, Zn+1 であるとする
と、係数ROM36、37から出力される信号はそれぞ
れ、Xn・Zn, Xn+1・Zn+1 となる。さらにこれらを第1
の加算器38により加算し、その出力として Xn・Zn +
Xn+1・Zn+1 を得る。一方、第2の加算器39により光
検出素子30、31の出力の和Zn + Zn+1 を求める。こ
れら、第1の加算器38の出力 Xn・Zn + Xn+1・Zn+1
を第2の加算器39の出力 Zn + Zn+1 を除算器40に
より除算することにより、テストパターンの表示位置 X
を近似計算する。表示位置の算出処理を(1)式に示
す。
【0025】 X = ( Xn・Zn + Xn+1・Zn+1 ) / ( Zn + Zn+1 ) = Xn・Zn / ( Zn + Zn+1 ) + Xn+1・Zn+1 / ( Zn + Zn+1 )・・・(1) 上式の Zn / ( Zn + Zn+1 ) と Zn+1 / ( Zn + Zn+1 )
部分は光検出素子30、31のそれぞれの出力比を示し
ている。この出力比を光検出素子30、31に割り当て
られた表示画面上の座標 Xn, Xn+1 で重み付け加算する
ことによりテストパターンの表示位置を算出する。図7
に示すようにテストパターンに対する光検出素子30、
31の出力比が1:1であったとすると、上式によりテ
ストパターンの表示画面上での表示位置は ( Xn + Xn+1
) / 2 と求められ、テストパターンは、光検出素子3
0と31の中点に位置することわかる。テストパターン
幅と光検出素子間隔との関係は、少なくとも2個の光検
出素子上にテストパターン信号が存在すればよい。
部分は光検出素子30、31のそれぞれの出力比を示し
ている。この出力比を光検出素子30、31に割り当て
られた表示画面上の座標 Xn, Xn+1 で重み付け加算する
ことによりテストパターンの表示位置を算出する。図7
に示すようにテストパターンに対する光検出素子30、
31の出力比が1:1であったとすると、上式によりテ
ストパターンの表示画面上での表示位置は ( Xn + Xn+1
) / 2 と求められ、テストパターンは、光検出素子3
0と31の中点に位置することわかる。テストパターン
幅と光検出素子間隔との関係は、少なくとも2個の光検
出素子上にテストパターン信号が存在すればよい。
【0026】同様に垂直方向についてもテストパターン
の表示位置の算出を行い、水平方向、垂直方向のテスト
パターンの表示位置を算出する。さらにこれらの処理を
画面外周部の光検出部8〜15について同様に行い、画
面外周部の調整点に対応したRGBそれぞれのテストパ
ターンの表示位置を算出する。
の表示位置の算出を行い、水平方向、垂直方向のテスト
パターンの表示位置を算出する。さらにこれらの処理を
画面外周部の光検出部8〜15について同様に行い、画
面外周部の調整点に対応したRGBそれぞれのテストパ
ターンの表示位置を算出する。
【0027】次に、位置対称性検出部18により、算出
したテストパターンの表示位置から画像歪みの水平
(x)、垂直(y)軸に関する対称性を検出し、スクリーン中
心部での歪みを予測する方法について図8、図9を用い
て説明する。図8は、投写歪みや地磁気の影響により生
じる画像歪みを示している。実際は、これらの歪みが合
成された形で生じる。図8からわかるように、画像歪み
により画面中心部にずれが生じるのは、画面全体のDC
的なずれであるスタティックと、弓形状の歪みが生じた
場合のみである。ここで、弓形歪みは、この図では、垂
直軸に関して非対称となることがわかる。以上のことか
ら、弓形形歪み成分とスタティック成分を算出すれば、
スクリーン中心部でのずれを予測することができること
がわかる。弓型歪み成分は、スクリーンの水平(x)、垂
直(y)軸に関して非対称となるため、スクリーンの水平
(x)、垂直(y)軸に関する高次の画像歪みの対称性から算
出する。以下、この方法について説明する。図9は、弓
形歪みとスタティック歪みが生じた場合のテストパター
ンを示している。スクリーン7の外周部に配置された光
検出部8〜15により検出できないスクリーン中心部の
ずれXSを算出する。ここでは、水平方向に生じた弓形歪
みとスタティック歪みについて説明を行うが、垂直方向
についても同様にして算出することができる。前述した
ように、光検出部8〜15に対応するテストパターンの
注目点の表示位置がスクリーンの座標系を用いて算出さ
れる。この算出された位置座標をもとに、図9の点線L
1と注目点58の距離DX1と、点線L2と注目点59の距
離DX2を高次の歪み成分としてまず算出する。算出方法
は、注目点55、58、60の検出された表示位置をそ
れぞれ( X1, Y1 ), ( X4, Y4 ), ( X6, Y6 ) 、注目点
57、59、62の表示位置をそれぞれ ( X3, Y3 ),
( X5, Y5 ), ( X8, Y8 ) とすれば、以下の式(2)
(3)により D1, D2 が算出できる。 DX1 = sqrt( (X1-X4)2 + (Y1-Y4)2 - ( k(X1-X4) + m(Y1-Y4) )2 ) …(2) ただし、k = (X6-X1) / sqrt( (X6-X1)2 + (Y6-Y1)2 ) m = (Y6-Y1) / sqrt( (X6-X1)2 + (Y6-Y1)2 ) DX2 = sqrt( (X3-X5)2 + (Y3-Y5)2 - ( k(X3-X5) + m(Y3-Y5) )2 ) …(3) ただし、k = (X8-X3) / sqrt( (X8-X3)2 + (Y8-Y3)2 ) m = (Y8-Y3) / sqrt( (X8-X3)2 + (Y8-Y3)2 ) 次に、算出した高次の歪み成分D1, D2の平均値を以下の
式(4)により求めることにより、歪み成分の非対称性
すなわち弓形歪み成分XBを算出する。 XB = ( DX1 + DX2 ) / 2 …(4) また、垂直方向の弓形歪み成分YBは以下の式から算出で
きる。 YB = ( DY1 + DY2 ) / 2 …(5) ただし、 DY1 = sqrt( (Y1-Y2)2 + (X1-X2)2 - ( k(Y1-Y2) + m(X1-X2) )2 ) …(6) ただし、k = (Y3-Y1) / sqrt( (Y3-Y1)2 + (X3-X1)2 ) m = (X3-X1) / sqrt( (Y3-Y1)2 + (X3-X1)2 ) DY2 = sqrt( (X6-X7)2 + (Y6-Y7)2 - ( k(X6-X7) + m(Y6-Y7) )2 ) …(7) ただし、k = (X8-X6) / sqrt( (X8-X6)2 + (Y8-Y6)2 ) m = (Y8-Y6) / sqrt( (X8-X6)2 + (Y8-Y6)2 ) である。
したテストパターンの表示位置から画像歪みの水平
(x)、垂直(y)軸に関する対称性を検出し、スクリーン中
心部での歪みを予測する方法について図8、図9を用い
て説明する。図8は、投写歪みや地磁気の影響により生
じる画像歪みを示している。実際は、これらの歪みが合
成された形で生じる。図8からわかるように、画像歪み
により画面中心部にずれが生じるのは、画面全体のDC
的なずれであるスタティックと、弓形状の歪みが生じた
場合のみである。ここで、弓形歪みは、この図では、垂
直軸に関して非対称となることがわかる。以上のことか
ら、弓形形歪み成分とスタティック成分を算出すれば、
スクリーン中心部でのずれを予測することができること
がわかる。弓型歪み成分は、スクリーンの水平(x)、垂
直(y)軸に関して非対称となるため、スクリーンの水平
(x)、垂直(y)軸に関する高次の画像歪みの対称性から算
出する。以下、この方法について説明する。図9は、弓
形歪みとスタティック歪みが生じた場合のテストパター
ンを示している。スクリーン7の外周部に配置された光
検出部8〜15により検出できないスクリーン中心部の
ずれXSを算出する。ここでは、水平方向に生じた弓形歪
みとスタティック歪みについて説明を行うが、垂直方向
についても同様にして算出することができる。前述した
ように、光検出部8〜15に対応するテストパターンの
注目点の表示位置がスクリーンの座標系を用いて算出さ
れる。この算出された位置座標をもとに、図9の点線L
1と注目点58の距離DX1と、点線L2と注目点59の距
離DX2を高次の歪み成分としてまず算出する。算出方法
は、注目点55、58、60の検出された表示位置をそ
れぞれ( X1, Y1 ), ( X4, Y4 ), ( X6, Y6 ) 、注目点
57、59、62の表示位置をそれぞれ ( X3, Y3 ),
( X5, Y5 ), ( X8, Y8 ) とすれば、以下の式(2)
(3)により D1, D2 が算出できる。 DX1 = sqrt( (X1-X4)2 + (Y1-Y4)2 - ( k(X1-X4) + m(Y1-Y4) )2 ) …(2) ただし、k = (X6-X1) / sqrt( (X6-X1)2 + (Y6-Y1)2 ) m = (Y6-Y1) / sqrt( (X6-X1)2 + (Y6-Y1)2 ) DX2 = sqrt( (X3-X5)2 + (Y3-Y5)2 - ( k(X3-X5) + m(Y3-Y5) )2 ) …(3) ただし、k = (X8-X3) / sqrt( (X8-X3)2 + (Y8-Y3)2 ) m = (Y8-Y3) / sqrt( (X8-X3)2 + (Y8-Y3)2 ) 次に、算出した高次の歪み成分D1, D2の平均値を以下の
式(4)により求めることにより、歪み成分の非対称性
すなわち弓形歪み成分XBを算出する。 XB = ( DX1 + DX2 ) / 2 …(4) また、垂直方向の弓形歪み成分YBは以下の式から算出で
きる。 YB = ( DY1 + DY2 ) / 2 …(5) ただし、 DY1 = sqrt( (Y1-Y2)2 + (X1-X2)2 - ( k(Y1-Y2) + m(X1-X2) )2 ) …(6) ただし、k = (Y3-Y1) / sqrt( (Y3-Y1)2 + (X3-X1)2 ) m = (X3-X1) / sqrt( (Y3-Y1)2 + (X3-X1)2 ) DY2 = sqrt( (X6-X7)2 + (Y6-Y7)2 - ( k(X6-X7) + m(Y6-Y7) )2 ) …(7) ただし、k = (X8-X6) / sqrt( (X8-X6)2 + (Y8-Y6)2 ) m = (Y8-Y6) / sqrt( (X8-X6)2 + (Y8-Y6)2 ) である。
【0028】ここでは、スクリーンの左右3つずつのテ
ストパターンの表示位置から、上式により画像歪みの対
称性を算出しているが、最小二乗法を適用することによ
り高次の歪み成分を検出してもよい。
ストパターンの表示位置から、上式により画像歪みの対
称性を算出しているが、最小二乗法を適用することによ
り高次の歪み成分を検出してもよい。
【0029】また、水平方向のスタティック成分XSは、
注目点56、61の表示位置( X2,Y2), ( X7, Y7 )と式
(4)で算出した弓形歪み成分XBから、以下の式(8)
により算出できる。 XS = ( X2 + X7 ) / 2 + XB …(8) 式(8)により、スクリーン中心部の歪み成分XSを算出
することができる。
注目点56、61の表示位置( X2,Y2), ( X7, Y7 )と式
(4)で算出した弓形歪み成分XBから、以下の式(8)
により算出できる。 XS = ( X2 + X7 ) / 2 + XB …(8) 式(8)により、スクリーン中心部の歪み成分XSを算出
することができる。
【0030】同様に垂直方向のスタティック成分YSは、
注目点58、59の表示位置( X4,Y4 ), ( X5, Y5 ) と
式(5)により算出した垂直方向の弓形歪み成分 YB か
ら YS = ( Y4 + Y5 ) / 2 + YB …(9) として算出することができる。
注目点58、59の表示位置( X4,Y4 ), ( X5, Y5 ) と
式(5)により算出した垂直方向の弓形歪み成分 YB か
ら YS = ( Y4 + Y5 ) / 2 + YB …(9) として算出することができる。
【0031】次に、誤差算出部19による画像歪み誤差
について説明する。各画像歪みの誤差成分は、画像歪み
の対称性とテストパターンの注目点の表示位置とを用い
て、以下の各式から計算できる。 (スタティック成分) 水平方向: XS = ( X2 + X7 ) / 2 + XB …(10) 垂直方向: YS = ( Y4 + Y5 ) / 2 + YB …(11) (スキュー成分) 水平方向: ( X2 - X7 ) / 2 + XB …(12) 垂直方向: ( Y4 - Y5 ) / 2 + YB …(13) (リニアリティ成分) 水平方向: 2 * XS - ( X4 + X5 ) …(14) 垂直方向: 2 * YS - ( Y2 + Y7 ) …(15) (サイズ成分) 水平方向: ( X4 - X5 ) …(16) 垂直方向: ( Y2 - Y7 ) …(17) (キーストーン成分) 水平方向: ( X1 - X4 ) - ( X3 - X5 ) …(18) 垂直方向: ( Y1 - Y2 ) - ( Y6 - Y7 ) …(19) (ピンクッション成分) 水平方向: ( DX1 - DX2 ) / 2 …(20) 垂直方向: ( DY1 - DY2 ) / 2 …(21) (弓形成分) 水平方向: XB …(22) 垂直方向: YB …(23) ここで、DX1, DX2, DY1, DY2, XB, YB, XS, YS は前述
の式(2)〜(7)により算出される。次にミスコンバ
ーゼンス誤差の算出であるが、これは、あらかじめ検出
した、例えば緑(G)のテストパターンの表示位置を基
準とし、これと赤(R)、青(B)のテストパターンの
表示位置を、スクリーン上の各注目点においてそれぞれ
比較することによりコンバーゼンス誤差を算出する。
について説明する。各画像歪みの誤差成分は、画像歪み
の対称性とテストパターンの注目点の表示位置とを用い
て、以下の各式から計算できる。 (スタティック成分) 水平方向: XS = ( X2 + X7 ) / 2 + XB …(10) 垂直方向: YS = ( Y4 + Y5 ) / 2 + YB …(11) (スキュー成分) 水平方向: ( X2 - X7 ) / 2 + XB …(12) 垂直方向: ( Y4 - Y5 ) / 2 + YB …(13) (リニアリティ成分) 水平方向: 2 * XS - ( X4 + X5 ) …(14) 垂直方向: 2 * YS - ( Y2 + Y7 ) …(15) (サイズ成分) 水平方向: ( X4 - X5 ) …(16) 垂直方向: ( Y2 - Y7 ) …(17) (キーストーン成分) 水平方向: ( X1 - X4 ) - ( X3 - X5 ) …(18) 垂直方向: ( Y1 - Y2 ) - ( Y6 - Y7 ) …(19) (ピンクッション成分) 水平方向: ( DX1 - DX2 ) / 2 …(20) 垂直方向: ( DY1 - DY2 ) / 2 …(21) (弓形成分) 水平方向: XB …(22) 垂直方向: YB …(23) ここで、DX1, DX2, DY1, DY2, XB, YB, XS, YS は前述
の式(2)〜(7)により算出される。次にミスコンバ
ーゼンス誤差の算出であるが、これは、あらかじめ検出
した、例えば緑(G)のテストパターンの表示位置を基
準とし、これと赤(R)、青(B)のテストパターンの
表示位置を、スクリーン上の各注目点においてそれぞれ
比較することによりコンバーゼンス誤差を算出する。
【0032】次に補正信号発生の動作について図10〜
図15を用いて説明する。図10は補正信号発生回路2
0の具体的な構成を示すブロック図である。図10にお
いて、水平同期信号と垂直同期信号は夫々補正波形発生
回路72の入力端子70、71に供給される。補正波形
発生回路72は例えば複数のミラー積分回路で構成さ
れ、図11、図12に示す幾何学歪やコンバーゼンス補
正に最低必要な12種類の基本波形(WF1〜WF1
2)を発生している。補正波形発生回路72は入力同期
信号に同期した補正波形を乗算型D/A変換器(乗算型
D/A)73〜84の基準電位端子に与える。一方、誤
差算出部19の補正データはシリアルデータ作成回路8
5に供給される。シリアルデータ作成回路85では、誤
差算出部19からの制御信号に基づき図13に示すよう
なシリアル信号が作成される。図13(a)に示すよう
に、シリアル信号にはアドレス信号(A3〜A0)とデ
ータ信号(D7〜D0)が多重されている。このアドレ
ス信号Aにより乗算型D/A変換器73〜84の選択を
行い、その後データ信号Dにより補正波形の振幅制御が
行われる。乗算型D/A変換器73〜84のクロック信
号とロード信号を図13(b)、(c)に夫々示す。乗
算型D/A変換器73〜84では図13(c)のロード
信号がLOWで、かつ図13(b)のクロック信号がポ
ジティブエッジでデータ入力するように設定されてい
る。図13に示した3つのシリアル信号は乗算型D/A
変換器73〜84の入力端子に供給され、補正波形発生
回路72からの12種類の基本補正波形(WF1〜WF
12)の極性と振幅が制御され、幾何学歪やミスコンバ
ーゼンスが補正される。
図15を用いて説明する。図10は補正信号発生回路2
0の具体的な構成を示すブロック図である。図10にお
いて、水平同期信号と垂直同期信号は夫々補正波形発生
回路72の入力端子70、71に供給される。補正波形
発生回路72は例えば複数のミラー積分回路で構成さ
れ、図11、図12に示す幾何学歪やコンバーゼンス補
正に最低必要な12種類の基本波形(WF1〜WF1
2)を発生している。補正波形発生回路72は入力同期
信号に同期した補正波形を乗算型D/A変換器(乗算型
D/A)73〜84の基準電位端子に与える。一方、誤
差算出部19の補正データはシリアルデータ作成回路8
5に供給される。シリアルデータ作成回路85では、誤
差算出部19からの制御信号に基づき図13に示すよう
なシリアル信号が作成される。図13(a)に示すよう
に、シリアル信号にはアドレス信号(A3〜A0)とデ
ータ信号(D7〜D0)が多重されている。このアドレ
ス信号Aにより乗算型D/A変換器73〜84の選択を
行い、その後データ信号Dにより補正波形の振幅制御が
行われる。乗算型D/A変換器73〜84のクロック信
号とロード信号を図13(b)、(c)に夫々示す。乗
算型D/A変換器73〜84では図13(c)のロード
信号がLOWで、かつ図13(b)のクロック信号がポ
ジティブエッジでデータ入力するように設定されてい
る。図13に示した3つのシリアル信号は乗算型D/A
変換器73〜84の入力端子に供給され、補正波形発生
回路72からの12種類の基本補正波形(WF1〜WF
12)の極性と振幅が制御され、幾何学歪やミスコンバ
ーゼンスが補正される。
【0033】図14、図15にアナログ方式の補正波形
と補正変化の関係を示す。これらの図から、テストパタ
ーンの外周部8点と中心部の表示位置を求めることによ
り図14、図15の補正波形を用いて自動的に画像歪み
を補正することができることがわかる。
と補正変化の関係を示す。これらの図から、テストパタ
ーンの外周部8点と中心部の表示位置を求めることによ
り図14、図15の補正波形を用いて自動的に画像歪み
を補正することができることがわかる。
【0034】このように、本実施例によれば、表示画面
の外周部の所定の位置に配置された複数の光検出手段に
より算出した調整用テストパターンの表示位置から、画
像歪みの対称性を検出し、画面中心部の歪みを予測する
ことによって、通常の映像を表示しながら高精度に画像
歪み補正を行うことができる。なお、本実施例におい
て、テストパターンの表示位置の算出は、水平、垂直走
査方向に対して斜めに配列した光検出素子により行った
が、図16に示すような構成でもよい。また、位置算出
をハードウェアを用いて行ったが、ソフトウェアでも同
様の処理が可能である。また、例えば図17(a)に示
すように外周部8箇所の光検出部8〜15の各光検出素
子90〜97の負荷抵抗98を共通とすることにより、
検出信号を図17(b)に示すように、垂直走査周期内
で時分割処理で多重することにより、1系統のピークホ
ールド回路やA/Dで行うことも可能である。
の外周部の所定の位置に配置された複数の光検出手段に
より算出した調整用テストパターンの表示位置から、画
像歪みの対称性を検出し、画面中心部の歪みを予測する
ことによって、通常の映像を表示しながら高精度に画像
歪み補正を行うことができる。なお、本実施例におい
て、テストパターンの表示位置の算出は、水平、垂直走
査方向に対して斜めに配列した光検出素子により行った
が、図16に示すような構成でもよい。また、位置算出
をハードウェアを用いて行ったが、ソフトウェアでも同
様の処理が可能である。また、例えば図17(a)に示
すように外周部8箇所の光検出部8〜15の各光検出素
子90〜97の負荷抵抗98を共通とすることにより、
検出信号を図17(b)に示すように、垂直走査周期内
で時分割処理で多重することにより、1系統のピークホ
ールド回路やA/Dで行うことも可能である。
【0035】次に、本発明の第2の実施例における画像
補正装置について図面を参照しつつ説明する。図18は
画像補正装置を含む一体型ビデオプロジェクタ(投写型
ディスプレイ)の全体構成を示すブロック図である。本
図において第1の実施例と同一部分は同一の符号を付け
詳細な説明は省略する。図18において、位置対称性検
出部18は、位置算出部17の出力から、前述のスクリ
ーン7の水平(x)、垂直(y)軸に関する画像歪みの対称性
を検出する。誤差算出部100は、位置対称性検出部1
8の出力から、画像歪みの補正手順を設定し、画像歪み
誤差を算出する。補正信号発生回路は、誤差算出部10
0の出力をもとに画像歪み誤差補正用の補正信号を発生
する回路であり、その出力はコンバーゼンス補正回路2
1と、偏向回路22とに供給される。ここで、テストパ
ターン発生回路1、位置対称性検出部18、誤差算出部
19、補正信号発生回路20は、画像歪みを自動調整す
る自動調整装置101を構成している。
補正装置について図面を参照しつつ説明する。図18は
画像補正装置を含む一体型ビデオプロジェクタ(投写型
ディスプレイ)の全体構成を示すブロック図である。本
図において第1の実施例と同一部分は同一の符号を付け
詳細な説明は省略する。図18において、位置対称性検
出部18は、位置算出部17の出力から、前述のスクリ
ーン7の水平(x)、垂直(y)軸に関する画像歪みの対称性
を検出する。誤差算出部100は、位置対称性検出部1
8の出力から、画像歪みの補正手順を設定し、画像歪み
誤差を算出する。補正信号発生回路は、誤差算出部10
0の出力をもとに画像歪み誤差補正用の補正信号を発生
する回路であり、その出力はコンバーゼンス補正回路2
1と、偏向回路22とに供給される。ここで、テストパ
ターン発生回路1、位置対称性検出部18、誤差算出部
19、補正信号発生回路20は、画像歪みを自動調整す
る自動調整装置101を構成している。
【0036】このようにプロジェクタに設けられた本実
施例の画像補正装置の動作を説明する。まず、表示され
たテストパターンの輝度レベルをスクリーン7の外周部
の所定の位置に配置された光検出部8〜15により検出
した検出信号から位置算出部17により、テストパター
ンのスクリーン上での表示位置を算出し、さらに求めら
れたテストパターンの位置座標から、画像歪みの水平
(x)、垂直(y)軸に関する対称性を位置対称性検出部18
により検出することにより、スクリーン中心部の歪みを
予測する。続いて、誤差算出部100により、予測され
た中心部の歪みに応じて最適な画像歪みの補正手順を設
定し、その手順に応じて画像歪み誤差を算出する。さら
に誤差量に応じた補正信号を補正信号発生回路20によ
り、コンバーゼンス補正回路21、偏向回路22に供給
することにより画像歪みの自動調整を行う。
施例の画像補正装置の動作を説明する。まず、表示され
たテストパターンの輝度レベルをスクリーン7の外周部
の所定の位置に配置された光検出部8〜15により検出
した検出信号から位置算出部17により、テストパター
ンのスクリーン上での表示位置を算出し、さらに求めら
れたテストパターンの位置座標から、画像歪みの水平
(x)、垂直(y)軸に関する対称性を位置対称性検出部18
により検出することにより、スクリーン中心部の歪みを
予測する。続いて、誤差算出部100により、予測され
た中心部の歪みに応じて最適な画像歪みの補正手順を設
定し、その手順に応じて画像歪み誤差を算出する。さら
に誤差量に応じた補正信号を補正信号発生回路20によ
り、コンバーゼンス補正回路21、偏向回路22に供給
することにより画像歪みの自動調整を行う。
【0037】拡大投写装置25、テストパターン発生回
路1、位置対称性検出部18及び位置検出装置26の動
作は第1の実施例と同様であるので詳細な説明は省略す
る。
路1、位置対称性検出部18及び位置検出装置26の動
作は第1の実施例と同様であるので詳細な説明は省略す
る。
【0038】誤差算出部100による画像歪み誤差の最
適な補正手順設定について説明する。説明には図19の
フローチャートを用いる。画像歪み第1の実施例の図8
で説明したようなスタティック、スキュー、リニアリテ
ィ、サイズ、キーストーン、ピンクション、及び弓形歪
みがある。補正手順の設定は、まず第1の実施例におい
て説明したように、テストパターンを表示し(図19の
F1)、対称性検出部18により、画像歪みの水平(x)、
垂直(y)軸に関する対称性を検出する(図19のF2)。
対称性の算出方法は第1の実施例と同様であるので詳細
な説明は省略する。ここで、もし画像歪みの非対称性、
すなわち弓形歪みが検出された場合、第1の実施例にお
いて説明したように、スクリーン中心部を正確に補正す
るためには、弓形歪みを補正した後、スタティック成分
を補正する必要がある(図19のF4)。そこで、誤差算
出部100は、画像歪みの対称性から弓形歪み誤差を算
出して補正信号発生回路20に供給し、弓形歪みの補正
を行う。次に、スタティック誤差を算出して補正信号発
生回路20に供給し、スタティック補正を行う(図19
のF3)。さらに、その後、スキュー、リニアリティ、サ
イズ、キーストーン、ピンクッションの補正を行う。こ
れらの補正順序はスクリーンの水平(x)、垂直(y)軸に関
する情報しか必要のないスキュー、リニアリティ、サイ
ズを一組としてまず、それらの誤差を算出、補正し(図
19のF5)、その後、スクリーン周辺部4隅の情報が必
要なキーストーン、ピンクッション誤差の算出、補正を
行う(図19のF6)。図19のF2の処理において、画像
歪みの非対称性が検出されなかった場合は、スタティッ
ク誤差の算出、補正を最初に行い(図19のF4)、その
後スキュー、リニアリティ、サイズ、キーストーン、ピ
ンクッション誤差の算出、補正を行う。この補正順序
は、図19のF5, F6と同様である。以上説明した画像歪
み補正を赤(R)、緑(G)、青(B)に対して行った
後、例えばあらかじめ検出した緑(G)のテストパター
ンの表示位置を基準とし、この位置に赤(R)と青
(B)のテストパターンを重ね合わすコンバーゼンス補
正を行って(図19のF7)、調整が終了する。
適な補正手順設定について説明する。説明には図19の
フローチャートを用いる。画像歪み第1の実施例の図8
で説明したようなスタティック、スキュー、リニアリテ
ィ、サイズ、キーストーン、ピンクション、及び弓形歪
みがある。補正手順の設定は、まず第1の実施例におい
て説明したように、テストパターンを表示し(図19の
F1)、対称性検出部18により、画像歪みの水平(x)、
垂直(y)軸に関する対称性を検出する(図19のF2)。
対称性の算出方法は第1の実施例と同様であるので詳細
な説明は省略する。ここで、もし画像歪みの非対称性、
すなわち弓形歪みが検出された場合、第1の実施例にお
いて説明したように、スクリーン中心部を正確に補正す
るためには、弓形歪みを補正した後、スタティック成分
を補正する必要がある(図19のF4)。そこで、誤差算
出部100は、画像歪みの対称性から弓形歪み誤差を算
出して補正信号発生回路20に供給し、弓形歪みの補正
を行う。次に、スタティック誤差を算出して補正信号発
生回路20に供給し、スタティック補正を行う(図19
のF3)。さらに、その後、スキュー、リニアリティ、サ
イズ、キーストーン、ピンクッションの補正を行う。こ
れらの補正順序はスクリーンの水平(x)、垂直(y)軸に関
する情報しか必要のないスキュー、リニアリティ、サイ
ズを一組としてまず、それらの誤差を算出、補正し(図
19のF5)、その後、スクリーン周辺部4隅の情報が必
要なキーストーン、ピンクッション誤差の算出、補正を
行う(図19のF6)。図19のF2の処理において、画像
歪みの非対称性が検出されなかった場合は、スタティッ
ク誤差の算出、補正を最初に行い(図19のF4)、その
後スキュー、リニアリティ、サイズ、キーストーン、ピ
ンクッション誤差の算出、補正を行う。この補正順序
は、図19のF5, F6と同様である。以上説明した画像歪
み補正を赤(R)、緑(G)、青(B)に対して行った
後、例えばあらかじめ検出した緑(G)のテストパター
ンの表示位置を基準とし、この位置に赤(R)と青
(B)のテストパターンを重ね合わすコンバーゼンス補
正を行って(図19のF7)、調整が終了する。
【0039】以上説明したように本実施例によれば、表
示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の光検出
手段により調整用のテストパターンの表示位置を算出す
る。さらに、算出した表示位置から、表示画面の外周部
の所定の位置に配置された複数の光検出手段により画像
歪みの対称性を検出し、画像歪みの最適な補正手順を設
定することにより、通常の映像を表示しながら画像歪み
補正を高速に行える。
示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の光検出
手段により調整用のテストパターンの表示位置を算出す
る。さらに、算出した表示位置から、表示画面の外周部
の所定の位置に配置された複数の光検出手段により画像
歪みの対称性を検出し、画像歪みの最適な補正手順を設
定することにより、通常の映像を表示しながら画像歪み
補正を高速に行える。
【0040】次に、本発明の第3の実施例における画像
補正装置について図面を参照しつつ説明する。図20は
画像補正装置を含む一体型ビデオプロジェクタ(投写型
ディスプレイ)の全体構成を示すブロック図である。本
図において第1、第2の実施例と同一部分は同一の符号
を付け詳細な説明は省略する。図20において、テスト
パターン発生回路1は幾何学歪やコンバーゼンス調整用
のテストパターンを発生する回路であり、その出力は切
換回路2に与えられる。表示位置制御部105は、前記
テストパターンのスクリーン7上での表示位置を制御す
る。切換回路2により外部入力の映像信号と表示位置を
制御されたテストパターン信号とを切り換えた信号はス
クリーン7上に映出される。位置対称性検出部18は、
位置算出部17の出力から、前述のスクリーン7の水平
(x)、垂直(y)軸に関する画像歪みの対称性を検出する。
誤差算出部19は位置算出部17と、位置対称性検出部
18の出力から画像歪み誤差量を算出する回路である。
補正信号発生回路は、誤差算出部19の出力をもとに画
像歪み誤差補正用の補正信号を発生する回路であり、そ
の出力はコンバーゼンス補正回路21と、偏向回路22
とに供給される。ここで、テストパターン発生回路1、
表示位置制御部105、位置対称性検出部18、誤差算
出部19、補正信号発生回路20は、画像歪みを自動調
整する自動調整装置106を構成している。
補正装置について図面を参照しつつ説明する。図20は
画像補正装置を含む一体型ビデオプロジェクタ(投写型
ディスプレイ)の全体構成を示すブロック図である。本
図において第1、第2の実施例と同一部分は同一の符号
を付け詳細な説明は省略する。図20において、テスト
パターン発生回路1は幾何学歪やコンバーゼンス調整用
のテストパターンを発生する回路であり、その出力は切
換回路2に与えられる。表示位置制御部105は、前記
テストパターンのスクリーン7上での表示位置を制御す
る。切換回路2により外部入力の映像信号と表示位置を
制御されたテストパターン信号とを切り換えた信号はス
クリーン7上に映出される。位置対称性検出部18は、
位置算出部17の出力から、前述のスクリーン7の水平
(x)、垂直(y)軸に関する画像歪みの対称性を検出する。
誤差算出部19は位置算出部17と、位置対称性検出部
18の出力から画像歪み誤差量を算出する回路である。
補正信号発生回路は、誤差算出部19の出力をもとに画
像歪み誤差補正用の補正信号を発生する回路であり、そ
の出力はコンバーゼンス補正回路21と、偏向回路22
とに供給される。ここで、テストパターン発生回路1、
表示位置制御部105、位置対称性検出部18、誤差算
出部19、補正信号発生回路20は、画像歪みを自動調
整する自動調整装置106を構成している。
【0041】このようにプロジェクタに設けられた本実
施例の画像補正装置の動作の概要を説明する。まず、ス
クリーンに表示されたテストパターンが光検出部8〜1
5により検出できない場合、テストパターンの表示位置
制御部105により、テストパターンの表示位置を制御
することにより、光検出部8〜15で検出できる位置ま
でテストパターンを移動させる(この動作を以下テスト
パターンのサーチと呼ぶ)。続いて、検出した検出信号
から位置算出部17により、テストパターンのスクリー
ン上での表示位置を算出し、さらに求められたテストパ
ターンの位置座標から、画像歪みの水平(x)、垂直(y)軸
に関する対称性を位置対称性検出部18により検出する
ことにより、スクリーン中心部の歪みを予測する。続い
て、予測されたスクリーン中心部の歪みから、誤差算出
部19により、画像歪み誤差を算出し、誤差量に応じた
補正信号を補正信号発生回路20により、コンバーゼン
ス補正回路21、偏向回路22に供給することにより画
像歪みの自動調整を行う。
施例の画像補正装置の動作の概要を説明する。まず、ス
クリーンに表示されたテストパターンが光検出部8〜1
5により検出できない場合、テストパターンの表示位置
制御部105により、テストパターンの表示位置を制御
することにより、光検出部8〜15で検出できる位置ま
でテストパターンを移動させる(この動作を以下テスト
パターンのサーチと呼ぶ)。続いて、検出した検出信号
から位置算出部17により、テストパターンのスクリー
ン上での表示位置を算出し、さらに求められたテストパ
ターンの位置座標から、画像歪みの水平(x)、垂直(y)軸
に関する対称性を位置対称性検出部18により検出する
ことにより、スクリーン中心部の歪みを予測する。続い
て、予測されたスクリーン中心部の歪みから、誤差算出
部19により、画像歪み誤差を算出し、誤差量に応じた
補正信号を補正信号発生回路20により、コンバーゼン
ス補正回路21、偏向回路22に供給することにより画
像歪みの自動調整を行う。
【0042】拡大投写装置25の動作は第1の実施例と
同様であるので詳細な説明は省略する。図21は、テス
トパターンの表示位置制御部105及びテストパターン
発生回路1の構成図である。ここで、テストパターン発
生回路1の基本構成と動作は第1の実施例と同様である
ので詳細な説明は省略する。テストパターンの表示位置
制御部105は、テストパターンの表示位置を設定する
表示位置設定部108と、テストパターン発生回路1の
RAM49、50に記憶された表示位置の設定値を書き
換えるメモリ制御部107から構成される。位置算出部
17及び位置対称性検出部18の出力をもとにテストパ
ターンの表示位置を表示位置設定部108により変化さ
せることによりテストパターンのサーチを行う。
同様であるので詳細な説明は省略する。図21は、テス
トパターンの表示位置制御部105及びテストパターン
発生回路1の構成図である。ここで、テストパターン発
生回路1の基本構成と動作は第1の実施例と同様である
ので詳細な説明は省略する。テストパターンの表示位置
制御部105は、テストパターンの表示位置を設定する
表示位置設定部108と、テストパターン発生回路1の
RAM49、50に記憶された表示位置の設定値を書き
換えるメモリ制御部107から構成される。位置算出部
17及び位置対称性検出部18の出力をもとにテストパ
ターンの表示位置を表示位置設定部108により変化さ
せることによりテストパターンのサーチを行う。
【0043】次にテストパターンのサーチを用いた表示
位置算出の具体的な動作について説明する。まず、例え
ば図22に示すように、画面外周部に設けられた光検出
部8〜15で検出できる位置にテストパターン41、4
2が存在しない場合、テストパターンを光検出部8〜1
5で検出できる位置に移動させるテストパターンサーチ
を行う必要がある。テストパターンの表示位置はサーチ
によるテストパターンの移動量から求めることができ
る。テストパターンを光検出部8〜15で検出できる位
置に移動するテストパターンサーチについて説明する。
テストパターンサーチの動作は光検出部8〜15で同様
であるので、ここでは光検出部8についてのみ説明す
る。テストパターンのサーチは図23に示すように、光
検出部8にテストパターン41が照射されていない場
合、表示位置制御部105により、光検出部8の検出領
域よりやや小さい移動間隔で、例えば図23に示した番
号のような順序でテストパターンを光検出部で検出でき
る位置までテストパターンを移動させる。テストパター
ンが検出できるまでのテストパターンの移動回数を N
(図23においては N = 3 ) 、テストパターンの移動
間隔を M 、テストパターンが検出できた時点での、テ
ストパターンの光検出部での検出位置を X0 とすれば、
テストパターンの表示位置 X は(24)式で算出でき
る。
位置算出の具体的な動作について説明する。まず、例え
ば図22に示すように、画面外周部に設けられた光検出
部8〜15で検出できる位置にテストパターン41、4
2が存在しない場合、テストパターンを光検出部8〜1
5で検出できる位置に移動させるテストパターンサーチ
を行う必要がある。テストパターンの表示位置はサーチ
によるテストパターンの移動量から求めることができ
る。テストパターンを光検出部8〜15で検出できる位
置に移動するテストパターンサーチについて説明する。
テストパターンサーチの動作は光検出部8〜15で同様
であるので、ここでは光検出部8についてのみ説明す
る。テストパターンのサーチは図23に示すように、光
検出部8にテストパターン41が照射されていない場
合、表示位置制御部105により、光検出部8の検出領
域よりやや小さい移動間隔で、例えば図23に示した番
号のような順序でテストパターンを光検出部で検出でき
る位置までテストパターンを移動させる。テストパター
ンが検出できるまでのテストパターンの移動回数を N
(図23においては N = 3 ) 、テストパターンの移動
間隔を M 、テストパターンが検出できた時点での、テ
ストパターンの光検出部での検出位置を X0 とすれば、
テストパターンの表示位置 X は(24)式で算出でき
る。
【0044】 X = X0 + M * ( 1 + [ N / 2 ] ) …(24) ただし、[ N / 2 ]は N を2で割ったときの整数部であ
る。
る。
【0045】ここで、光検出部でのテストパターンの位
置算出処理は第1の実施例と同様であるので説明は省略
する。また、図23では水平方向のテストパターン41
のサーチについて説明したが、垂直方向でも同様の処理
である。
置算出処理は第1の実施例と同様であるので説明は省略
する。また、図23では水平方向のテストパターン41
のサーチについて説明したが、垂直方向でも同様の処理
である。
【0046】次に、スクリーン7外周部の光検出部8〜
15に対するテストパターンのサーチ手順について図2
4を用いて説明する。サーチ手順は、例えば光検出部1
1と12や光検出部9と14のように、スクリーン水平
(x)、垂直(y)軸に関して対称な位置に配置された光検出
部を一組として同時にサーチすることにより全体のサー
チを高速化する。説明の簡単のため、ここでは水平方向
のみのテストパターンサーチについて説明するが、垂直
方向のサーチについても同様の処理で可能である。
15に対するテストパターンのサーチ手順について図2
4を用いて説明する。サーチ手順は、例えば光検出部1
1と12や光検出部9と14のように、スクリーン水平
(x)、垂直(y)軸に関して対称な位置に配置された光検出
部を一組として同時にサーチすることにより全体のサー
チを高速化する。説明の簡単のため、ここでは水平方向
のみのテストパターンサーチについて説明するが、垂直
方向のサーチについても同様の処理で可能である。
【0047】まず、スクリーン水平軸に位置する光検出
部11と12の一組についてサーチを行う。まず、先に
説明したようにテストパターンの表示位置をスクリーン
水平方向の+、−方向(紙面上では左右方向)に振りな
がら、光検出部11あるいは12において検出できる位
置までテストパターンを移動させる。光検出部11ある
いは12においてテストパターンが検出された場合、先
に述べたような方法により、テストパターンの移動量か
ら検出した光検出部に対応するテストパターンの注目点
58の表示位置X1を算出する(図24(b)の黒丸で示
す。また、ここで光検出部11が先にテストパターンを
検出したとする。図24の白丸はサーチ前のテストパタ
ーンの位置を示している。)。続いて、テストパターン
を検出した光検出部11と対称な位置に配置された光検
出部12でテストパターンを検出できるまでサーチを行
い、光検出部12に対応するテストパターンの注目点5
9の表示位置X2を算出する(図14(c)の黒丸)。例
えば、注目点58のサーチに要するテストパターンの移
動回数がN回、注目点59のサーチに要する回数がM回
それぞれ必要であるとすれば、スクリーン7の水平
(x)、垂直(y)軸に関して対称な光検出部11、12の一
組を連続でサーチすることにより、トータルのサーチ回
数は、光検出部11、12に対して必要なサーチ回数の
多い方となり(例えばM<NであればN回)、光検出部
11、12に対してそれぞれ単独にサーチする場合のト
ータル(M+N)回よりも少なくなる。
部11と12の一組についてサーチを行う。まず、先に
説明したようにテストパターンの表示位置をスクリーン
水平方向の+、−方向(紙面上では左右方向)に振りな
がら、光検出部11あるいは12において検出できる位
置までテストパターンを移動させる。光検出部11ある
いは12においてテストパターンが検出された場合、先
に述べたような方法により、テストパターンの移動量か
ら検出した光検出部に対応するテストパターンの注目点
58の表示位置X1を算出する(図24(b)の黒丸で示
す。また、ここで光検出部11が先にテストパターンを
検出したとする。図24の白丸はサーチ前のテストパタ
ーンの位置を示している。)。続いて、テストパターン
を検出した光検出部11と対称な位置に配置された光検
出部12でテストパターンを検出できるまでサーチを行
い、光検出部12に対応するテストパターンの注目点5
9の表示位置X2を算出する(図14(c)の黒丸)。例
えば、注目点58のサーチに要するテストパターンの移
動回数がN回、注目点59のサーチに要する回数がM回
それぞれ必要であるとすれば、スクリーン7の水平
(x)、垂直(y)軸に関して対称な光検出部11、12の一
組を連続でサーチすることにより、トータルのサーチ回
数は、光検出部11、12に対して必要なサーチ回数の
多い方となり(例えばM<NであればN回)、光検出部
11、12に対してそれぞれ単独にサーチする場合のト
ータル(M+N)回よりも少なくなる。
【0048】このように、スクリーン7の水平(x)、垂
直(y)軸に関して対称な光検出部の一組を連続でサーチ
することにより、トータルのサーチ回数を減らすことに
より、テストパターンの位置検出に必要な時間を短縮で
き、画像歪みの調整時間を短縮できる。
直(y)軸に関して対称な光検出部の一組を連続でサーチ
することにより、トータルのサーチ回数を減らすことに
より、テストパターンの位置検出に必要な時間を短縮で
き、画像歪みの調整時間を短縮できる。
【0049】次に、光検出部8と10、光検出部13と
15の組についてそれぞれ前述したような方法によりテ
ストパターンのサーチを行い、注目点55、57、6
0、62の表示位置X3, X4, X5, X6を算出する。以上の
ように、サーチを行うことにより、テストパターンの所
定の各注目点の水平方向の表示位置を算出することがで
きる。垂直方向の表示位置も同様の方法により算出でき
る。
15の組についてそれぞれ前述したような方法によりテ
ストパターンのサーチを行い、注目点55、57、6
0、62の表示位置X3, X4, X5, X6を算出する。以上の
ように、サーチを行うことにより、テストパターンの所
定の各注目点の水平方向の表示位置を算出することがで
きる。垂直方向の表示位置も同様の方法により算出でき
る。
【0050】次に、テストパターンのサーチにより算出
したテストパターンの表示位置から、画像歪みの対称性
を検出することによってスクリーン7中心部の歪みを予
測し、高精度に画像歪みの自動調整を行うが、画像歪み
の対称性検出、画像歪み誤差算出、補正信号発生の動作
は、第1の実施例と同様であるので詳細な説明は省略す
る。
したテストパターンの表示位置から、画像歪みの対称性
を検出することによってスクリーン7中心部の歪みを予
測し、高精度に画像歪みの自動調整を行うが、画像歪み
の対称性検出、画像歪み誤差算出、補正信号発生の動作
は、第1の実施例と同様であるので詳細な説明は省略す
る。
【0051】以上説明したように、本実施例によれば、
スクリーン7の水平(x)、垂直(y)軸に関して対称な光検
出部の一組に対応するテストパターンの注目点を連続で
サーチすることにより、トータルのサーチ回数を減らす
ことにより、テストパターンの位置検出に必要な時間を
短縮でき、画像歪みの調整時間を短縮できる。
スクリーン7の水平(x)、垂直(y)軸に関して対称な光検
出部の一組に対応するテストパターンの注目点を連続で
サーチすることにより、トータルのサーチ回数を減らす
ことにより、テストパターンの位置検出に必要な時間を
短縮でき、画像歪みの調整時間を短縮できる。
【0052】さらに、サーチにより求めたテストパター
ンの表示位置から、画像歪みの対称性を検出することに
よってスクリーン中心部の歪みを予測し、高精度の画像
歪みの自動調整を行うことができる。
ンの表示位置から、画像歪みの対称性を検出することに
よってスクリーン中心部の歪みを予測し、高精度の画像
歪みの自動調整を行うことができる。
【0053】次に、本発明の第4の実施例における画像
補正装置について図面を参照しつつ説明する。図25は
画像補正装置を含む一体型ビデオプロジェクタ(投写型
ディスプレイ)の全体構成を示すブロック図である。本
図において第1〜第3の実施例と同一部分は同一の符号
を付け詳細な説明は省略する。図25において、位置対
称性検出部18は、位置算出部17の出力から、前述の
スクリーン7の水平(x)、垂直(y)軸に関する画像歪みの
対称性を検出する。誤差算出部19は、位置対称性検出
部18の出力から画像歪み誤差量を算出する回路であ
る。補正信号発生制御部110は誤差算出部19の出力
をモニターし、誤差値がある許容範囲を超えた場合に後
述する補正信号発生回路20に誤差データを供給すると
ともにその時の誤差データを保持する。補正信号発生回
路は、補正信号発生制御部110の出力をもとに画像歪
み誤差補正用の補正信号を発生する回路であり、その出
力はコンバーゼンス補正回路21と、偏向回路22とに
供給される。ここで、テストパターン発生回路1、位置
対称性検出部18、誤差算出部19、補正信号発生回路
20は、画像歪みを自動調整する自動調整装置111を
構成している。
補正装置について図面を参照しつつ説明する。図25は
画像補正装置を含む一体型ビデオプロジェクタ(投写型
ディスプレイ)の全体構成を示すブロック図である。本
図において第1〜第3の実施例と同一部分は同一の符号
を付け詳細な説明は省略する。図25において、位置対
称性検出部18は、位置算出部17の出力から、前述の
スクリーン7の水平(x)、垂直(y)軸に関する画像歪みの
対称性を検出する。誤差算出部19は、位置対称性検出
部18の出力から画像歪み誤差量を算出する回路であ
る。補正信号発生制御部110は誤差算出部19の出力
をモニターし、誤差値がある許容範囲を超えた場合に後
述する補正信号発生回路20に誤差データを供給すると
ともにその時の誤差データを保持する。補正信号発生回
路は、補正信号発生制御部110の出力をもとに画像歪
み誤差補正用の補正信号を発生する回路であり、その出
力はコンバーゼンス補正回路21と、偏向回路22とに
供給される。ここで、テストパターン発生回路1、位置
対称性検出部18、誤差算出部19、補正信号発生回路
20は、画像歪みを自動調整する自動調整装置111を
構成している。
【0054】このようにプロジェクタに設けられた本実
施例の画像補正装置の動作の概要を説明する。まず、表
示されたテストパターンの輝度レベルをスクリーン7の
外周部の所定の位置に配置された光検出部8〜15によ
り検出した検出信号から位置算出部17により、テスト
パターンのスクリーン上での表示位置を算出し、さらに
求められたテストパターンの位置座標から、画像歪みの
水平(x)、垂直(y)軸に関する対称性を位置対称性検出部
18により検出することにより、スクリーン中心部の歪
みを予測する。続いて、求められたテストパターンの位
置座標と、予測されたスクリーン中心部の歪みから、誤
差算出部19により、画像歪みの誤差を算出し、補正信
号発生制御部110により誤差がある許容値を超えた場
合、補正信号発生回路20に誤差データを供給し、補正
信号発生回路20はコンバーゼンス補正回路21、偏向
回路22に補正信号を供給する。本実施例では、補正信
号発生制御部110により、自動調整のフィードバック
ループの ON / OFFの制御を行う。
施例の画像補正装置の動作の概要を説明する。まず、表
示されたテストパターンの輝度レベルをスクリーン7の
外周部の所定の位置に配置された光検出部8〜15によ
り検出した検出信号から位置算出部17により、テスト
パターンのスクリーン上での表示位置を算出し、さらに
求められたテストパターンの位置座標から、画像歪みの
水平(x)、垂直(y)軸に関する対称性を位置対称性検出部
18により検出することにより、スクリーン中心部の歪
みを予測する。続いて、求められたテストパターンの位
置座標と、予測されたスクリーン中心部の歪みから、誤
差算出部19により、画像歪みの誤差を算出し、補正信
号発生制御部110により誤差がある許容値を超えた場
合、補正信号発生回路20に誤差データを供給し、補正
信号発生回路20はコンバーゼンス補正回路21、偏向
回路22に補正信号を供給する。本実施例では、補正信
号発生制御部110により、自動調整のフィードバック
ループの ON / OFFの制御を行う。
【0055】テストパターン発生回路1、拡大投写装置
25、位置検出装置26、位置対称性検出部18、誤差
算出部19、補正信号発生回路20の動作は第1の実施
例と同様であるので詳細な説明は、省略する。
25、位置検出装置26、位置対称性検出部18、誤差
算出部19、補正信号発生回路20の動作は第1の実施
例と同様であるので詳細な説明は、省略する。
【0056】補正信号発生制御部110の動作を図26
を用いて説明する。図26は補正信号発生制御部110
の詳細な構成図である。図26において112は、誤差
算出部19の出力する画像歪み誤差を数回サンプリング
し、その中間値をとる中間値論理部、113は画像歪み
誤差の許容値を記憶したROM、114は中間値論値部
112の出力と、ROM113の内容を比較し、中間値
が第1のROM113に記憶した誤差の許容値を超えた
場合、その誤差データを、RAM115に書き込む比較
部である。出力制御部116はRAM115に保存され
た補正データを読み出し、補正信号発生回路20に供給
する誤差データを制御する出力制御部である。以下、補
正信号発生制御部110の動作を説明する。画像歪みの
自動調整時に、中間値論理部には、誤差算出部19によ
り算出されたテストパターンの画像歪み成分やコンバー
ゼンス誤差が供給される。ここで、誤差算出部19、位
置検出装置26及び位置対称性検出部18により数回誤
差を算出する。中間値論理部112は、数回算出した誤
差データの中間値を算出する。ここで中間値の算出は、
誤差算出部19の出力する画像歪み誤差の各成分に対し
それぞれ行う。中間値は入力した誤差値のサンプリング
数をNとすれば、入力サンプリングデータ列を並び変
え、最小値からデータの大きくなる方向の ( N + 1 ) /
2 番目のデータを取れば得ることができる。例えば、中
間値論理部19に入力される画像歪み誤差のデータが図
27(a)の黒丸117〜121に示すようなものであ
ったとする。ここで、図27(a)の黒丸119は、例
えば、大きなノイズや、1体型プロジェクタセットの振
動などが原因の、誤差が他のデータに比べ極端に大きく
なる孤立点である。このインパルス的な孤立点119を
用いると、誤差が極端に大きいと判断してしまい調整ミ
スを生じる。そこで、孤立点119を除去するため、図
27(b)に示すように、入力データ系列116〜12
1を昇順に並び替えたデータ系列の最初から、( N + 1
) /2 番目の中間値データ118を画像歪み誤差のデー
タとして採用する。次に、求めた誤差の中間値と、RO
M113に記憶した誤差の許容値を、画像歪み誤差の各
成分についてそれぞれ比較し、誤差の中間値が許容値を
超えた場合のみその誤差データを後段のRAM115に
書き込む。さらにRAM115の内容を出力制御部11
6により読み出して補正信号発生回路20に供給し、画
像歪みの自動調整のフィードバックループをONにする。
誤差が許容値を超えない状態では、自動調整のフィード
バックループはOFFであり、補正信号発生部に補正デー
タは前回更新されたものが供給されている。ここでフィ
ードバックループON/OFFの動作を図28を用いて詳しく
説明する。図28は、温度ドリフト等の要因によって、
時間が経つにつれ画像歪み誤差が徐々に大きくなってい
く場合の補正の様子を示している。図28(a)、
(b)は、フィードバック制御による画像歪み誤差の補
正を急激に行う場合、(c)、(d)は画像歪み誤差の
補正を緩やかに行う場合の、画像歪み誤差と、補正信号
の様子を示している。図28(a)に示すように、画像
歪み誤差が許容範囲を超えた場合に、矢印で示したタイ
ミングでフィードバック制御を急激に行う場合、出力制
御部116は、ループON時にRAM115に記憶された
誤差データを読み出し、そのまま後段の補正信号発生回
路20に供給する。その時、補正信号は、図28(b)
に示すように、ループOFF時では、フィードバック制御
時の値を保持し、ステップ上に変化する。このように、
フィードバック制御を急激に行う場合は、表示装置の画
面上でみると、画像の表示位置が急激に変化するため、
TV画像等の通常の映像を表示しながら補正を行う場
合、その補正動作が目立ちやすい。そこでこのような場
合は、図28(c)、(d)に示すように緩やかなフィ
ードバック制御を行う。この時、出力制御部116によ
り、補正信号発生部20に供給する誤差データを0か
ら、RAM115に記憶された値まで徐々に大きくして
いくことにより、補正信号を、図28(d)に示すよう
に、緩やかに大きくしていく。こうすることにより、画
像歪み誤差は図28(c)に示すように緩やかに変化
し、表示画面上での補正動作が目立ちにくくなる。さら
に、映像信号のシーンチェンジを検出し、シーンが変化
するときに、前述のような緩やかな制御を徐々に行うこ
とにより、補正動作をさらに目立ちにくくすることがで
きる。補正信号発生回路20の動作は、第1の実施例と
同様であるので詳細な説明は省略する。なお、本実施例
では、誤差算出部19の出力をモニターしながらフィー
ドバックループのON/OFFの制御を行ったが、この制御
は、位置算出部17の出力をモニターし、その出力を誤
差算出部19に供給することによっても実現できる。
を用いて説明する。図26は補正信号発生制御部110
の詳細な構成図である。図26において112は、誤差
算出部19の出力する画像歪み誤差を数回サンプリング
し、その中間値をとる中間値論理部、113は画像歪み
誤差の許容値を記憶したROM、114は中間値論値部
112の出力と、ROM113の内容を比較し、中間値
が第1のROM113に記憶した誤差の許容値を超えた
場合、その誤差データを、RAM115に書き込む比較
部である。出力制御部116はRAM115に保存され
た補正データを読み出し、補正信号発生回路20に供給
する誤差データを制御する出力制御部である。以下、補
正信号発生制御部110の動作を説明する。画像歪みの
自動調整時に、中間値論理部には、誤差算出部19によ
り算出されたテストパターンの画像歪み成分やコンバー
ゼンス誤差が供給される。ここで、誤差算出部19、位
置検出装置26及び位置対称性検出部18により数回誤
差を算出する。中間値論理部112は、数回算出した誤
差データの中間値を算出する。ここで中間値の算出は、
誤差算出部19の出力する画像歪み誤差の各成分に対し
それぞれ行う。中間値は入力した誤差値のサンプリング
数をNとすれば、入力サンプリングデータ列を並び変
え、最小値からデータの大きくなる方向の ( N + 1 ) /
2 番目のデータを取れば得ることができる。例えば、中
間値論理部19に入力される画像歪み誤差のデータが図
27(a)の黒丸117〜121に示すようなものであ
ったとする。ここで、図27(a)の黒丸119は、例
えば、大きなノイズや、1体型プロジェクタセットの振
動などが原因の、誤差が他のデータに比べ極端に大きく
なる孤立点である。このインパルス的な孤立点119を
用いると、誤差が極端に大きいと判断してしまい調整ミ
スを生じる。そこで、孤立点119を除去するため、図
27(b)に示すように、入力データ系列116〜12
1を昇順に並び替えたデータ系列の最初から、( N + 1
) /2 番目の中間値データ118を画像歪み誤差のデー
タとして採用する。次に、求めた誤差の中間値と、RO
M113に記憶した誤差の許容値を、画像歪み誤差の各
成分についてそれぞれ比較し、誤差の中間値が許容値を
超えた場合のみその誤差データを後段のRAM115に
書き込む。さらにRAM115の内容を出力制御部11
6により読み出して補正信号発生回路20に供給し、画
像歪みの自動調整のフィードバックループをONにする。
誤差が許容値を超えない状態では、自動調整のフィード
バックループはOFFであり、補正信号発生部に補正デー
タは前回更新されたものが供給されている。ここでフィ
ードバックループON/OFFの動作を図28を用いて詳しく
説明する。図28は、温度ドリフト等の要因によって、
時間が経つにつれ画像歪み誤差が徐々に大きくなってい
く場合の補正の様子を示している。図28(a)、
(b)は、フィードバック制御による画像歪み誤差の補
正を急激に行う場合、(c)、(d)は画像歪み誤差の
補正を緩やかに行う場合の、画像歪み誤差と、補正信号
の様子を示している。図28(a)に示すように、画像
歪み誤差が許容範囲を超えた場合に、矢印で示したタイ
ミングでフィードバック制御を急激に行う場合、出力制
御部116は、ループON時にRAM115に記憶された
誤差データを読み出し、そのまま後段の補正信号発生回
路20に供給する。その時、補正信号は、図28(b)
に示すように、ループOFF時では、フィードバック制御
時の値を保持し、ステップ上に変化する。このように、
フィードバック制御を急激に行う場合は、表示装置の画
面上でみると、画像の表示位置が急激に変化するため、
TV画像等の通常の映像を表示しながら補正を行う場
合、その補正動作が目立ちやすい。そこでこのような場
合は、図28(c)、(d)に示すように緩やかなフィ
ードバック制御を行う。この時、出力制御部116によ
り、補正信号発生部20に供給する誤差データを0か
ら、RAM115に記憶された値まで徐々に大きくして
いくことにより、補正信号を、図28(d)に示すよう
に、緩やかに大きくしていく。こうすることにより、画
像歪み誤差は図28(c)に示すように緩やかに変化
し、表示画面上での補正動作が目立ちにくくなる。さら
に、映像信号のシーンチェンジを検出し、シーンが変化
するときに、前述のような緩やかな制御を徐々に行うこ
とにより、補正動作をさらに目立ちにくくすることがで
きる。補正信号発生回路20の動作は、第1の実施例と
同様であるので詳細な説明は省略する。なお、本実施例
では、誤差算出部19の出力をモニターしながらフィー
ドバックループのON/OFFの制御を行ったが、この制御
は、位置算出部17の出力をモニターし、その出力を誤
差算出部19に供給することによっても実現できる。
【0057】以上説明したように本実施例によれば、画
像歪み誤差を複数回算出したデータの中間値が誤差の許
容値を超えた場合のみ自動調整のフィードバックループ
をONすることにより、例えば、通常の画面を表示しなが
ら常時あるいは随時自動調整を行う場合、ノイズや、プ
ロジェクタセットが振動したりした場合の影響による誤
動作を少なくすることができ、誤差が生じた時のみ自動
調整のループがONになるので、例えばある時間間隔を決
めて調整を行う随時調整の場合に比べ、高精度で効率よ
く自動調整を行うことができる。さらに、フィードバッ
ク応答を緩やかに制御することにより、表示画面上での
補正動作を目立ちにくくすることができる。
像歪み誤差を複数回算出したデータの中間値が誤差の許
容値を超えた場合のみ自動調整のフィードバックループ
をONすることにより、例えば、通常の画面を表示しなが
ら常時あるいは随時自動調整を行う場合、ノイズや、プ
ロジェクタセットが振動したりした場合の影響による誤
動作を少なくすることができ、誤差が生じた時のみ自動
調整のループがONになるので、例えばある時間間隔を決
めて調整を行う随時調整の場合に比べ、高精度で効率よ
く自動調整を行うことができる。さらに、フィードバッ
ク応答を緩やかに制御することにより、表示画面上での
補正動作を目立ちにくくすることができる。
【0058】
【発明の効果】以上のように、本願の請求項1〜4の発
明によれば、表示画面の外周部の所定の位置に配置され
た複数の光検出手段により調整用テストパターンの表示
位置を算出する。さらに、算出した表示位置から画像歪
みの対称性を検出し、画面中心部の歪みを予測すること
によって、通常の映像を表示しながら高精度に画像歪み
補正を行える。
明によれば、表示画面の外周部の所定の位置に配置され
た複数の光検出手段により調整用テストパターンの表示
位置を算出する。さらに、算出した表示位置から画像歪
みの対称性を検出し、画面中心部の歪みを予測すること
によって、通常の映像を表示しながら高精度に画像歪み
補正を行える。
【0059】また本願の請求項5〜8の発明によれば、
表示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の光検
出手段により調整用のテストパターンの表示位置を算出
する。さらに、算出した表示位置から、表示画面の外周
部の所定の位置に配置された複数の光検出手段により画
像歪みの対称性を検出し、画像歪みの補正手順を設定す
ることにより、通常の映像を表示しながら画像歪み補正
を高速に行える。
表示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の光検
出手段により調整用のテストパターンの表示位置を算出
する。さらに、算出した表示位置から、表示画面の外周
部の所定の位置に配置された複数の光検出手段により画
像歪みの対称性を検出し、画像歪みの補正手順を設定す
ることにより、通常の映像を表示しながら画像歪み補正
を高速に行える。
【0060】また本願の請求項9〜10の発明によれ
ば、表示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の
光検出手段と、調整用テストパターンの表示位置を制御
する表示位置制御手段により、テストパターンを表示画
面の水平(x)、垂直(y)軸に関して対称な位置に配置され
た一組の光検出手段が検出できるように、テストパター
ンの表示位置を順次制御することによって、テストパタ
ーンが画像歪みやミスコンバーゼンスにより光検出手段
により検出できない場合においても、高速、高精度に画
像歪み補正を行える。
ば、表示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の
光検出手段と、調整用テストパターンの表示位置を制御
する表示位置制御手段により、テストパターンを表示画
面の水平(x)、垂直(y)軸に関して対称な位置に配置され
た一組の光検出手段が検出できるように、テストパター
ンの表示位置を順次制御することによって、テストパタ
ーンが画像歪みやミスコンバーゼンスにより光検出手段
により検出できない場合においても、高速、高精度に画
像歪み補正を行える。
【0061】また本願の請求項11〜16の発明によれ
ば、表示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の
光検出部により調整用のテストパターンの表示位置を算
出し、画像歪み誤差を求める。さらに求めた誤差が許容
範囲を超えた場合のみ画像歪みの補正信号を作成し、表
示装置に供給することにより、通常の映像を表示しなが
ら高精度に画像歪みを効率よく、誤動作なく行える。
ば、表示画面の外周部の所定の位置に配置された複数の
光検出部により調整用のテストパターンの表示位置を算
出し、画像歪み誤差を求める。さらに求めた誤差が許容
範囲を超えた場合のみ画像歪みの補正信号を作成し、表
示装置に供給することにより、通常の映像を表示しなが
ら高精度に画像歪みを効率よく、誤動作なく行える。
【0062】さらに、フィードバック制御を緩やかに行
うことにより、表示画面上での補正動作を目立ちにくく
することができる。
うことにより、表示画面上での補正動作を目立ちにくく
することができる。
【図1】本発明の第1の実施例の画像補正装置を含む投
写型ディスプレイの構成図
写型ディスプレイの構成図
【図2】本発明の各実施例における投写型ディスプレイ
の内部構成図
の内部構成図
【図3】各実施例における光検出部の構成図
【図4】各実施例における位置検出部の構成図
【図5】各実施例における位置検出装置の動作説明図
【図6】各実施例におけるテストパターン発生回路の構
成図
成図
【図7】各実施例における位置検出装置の動作説明図
【図8】各実施例における画像歪みの説明図
【図9】各実施例における位置対称性検出の動作説明図
【図10】各実施例における補正信号発生回路の構成図
【図11】各実施例における補正信号発生回路の補正波
形図(その1)
形図(その1)
【図12】各実施例における補正信号発生回路の補正波
形図(その2)
形図(その2)
【図13】各実施例における補正信号発生回路の動作波
形図
形図
【図14】各実施例における画像歪み補正波形図(その
1)
1)
【図15】各実施例における画像歪み補正波形図(その
1)
1)
【図16】本発明の光検出素子の構成図
【図17】本発明の光検出部の構成図
【図18】本発明の第2の実施例の画像補正装置を含む
投写型ディスプレイの構成図
投写型ディスプレイの構成図
【図19】同実施例の補正手順設のフローチャート
【図20】本発明の第3の実施例の画像補正装置を含む
投写型ディスプレイの構成図
投写型ディスプレイの構成図
【図21】同実施例のテストパターンの表示位置制御部
の構成図
の構成図
【図22】同実施例のテストパターンサーチの動作説明
図(その1)
図(その1)
【図23】同実施例のテストパターンサーチの動作説明
図(その2)
図(その2)
【図24】同実施例のテストパターンサーチ手順の動作
説明図
説明図
【図25】本発明の第4の実施例の画像補正装置を含む
投写型ディスプレイの構成図
投写型ディスプレイの構成図
【図26】同実施例の補正信号発生部の構成図
【図27】同実施例の中間値算出の動作説明図
【図28】同実施例のフィードバック制御の動作説明図
【図29】従来の画像補正装置の構成図
【図30】従来のコンバーゼンス自動補正装置の構成図
【図31】従来の光電センサの構成図
【図32】従来の光検出回路の構成図
【図33】従来の補正動作説明図(その1)
【図34】従来の補正動作説明図(その2)
1 テストパターン発生回路 2 切換回路 3 映像回路 4 CRT 5 レンズ 6 ミラー 7 スクリーン 8〜15 光検出部 16 マルチプレクサ 17 位置算出部 18 位置対称性検出部 19 誤差算出部 20 補正信号発生回路 21 コンバーゼンス補正回路 22 偏向回路 23 コンバーゼンスヨーク(CY) 24 偏向ヨーク(DY) 25 拡大投写装置 26 位置検出装置 27、101、106、111 自動調整装置 30、31 光検出素子 32、33 ピークホールド回路 34、35 A/D 36、37 ROM 38、39 加算機 40 除算器 41 水平方向テストパターン 42 垂直方向テストパターン 45 水平アドレスカウンタ 46 垂直アドレスカウンタ 47、48 比較部 49、50 RAM 51 OR回路 55〜62 補正におけるテストパターンの注目点 70、71 補正波形発生回路の入力端子 72 補正波形発生回路 73〜84 乗算型D/A WF1〜WF12 補正波形 90〜97 光検出素子 98 負荷抵抗 S90〜S97 光検出信号 100 補正手順設定部 105 表示位置制御部 107 メモリ制御部 108 表示位置設定部 110 補正信号発生制御部 112 中間値論理部 113 ROM 114 比較部 115 RAM 116 出力制御部 117〜121 誤差データ系列
Claims (16)
- 【請求項1】表示装置の表示画面の外周部において、前
記表示画面上の中心で交差する水平、垂直軸上と、前記
表示画面の4隅の所定の位置に配置された複数の光検出
手段と、画像歪み調整用のテストパターンを、前記光検
出手段の近傍に発生するテストパターン発生手段と、前
記光検出手段で受光した信号から前記テストパターンの
表示位置を算出する位置算出手段と、前記位置算出手段
の出力から水平、垂直軸に関する画像歪みの対称性を検
出する位置対称性検出手段と、前記位置対称性検出手段
の出力から画像歪み誤差を算出する誤差算出手段と、前
記誤差算出手段の出力から画像歪みの補正信号を作成す
る補正信号作成手段を備えたことを特徴とする画像補正
装置。 - 【請求項2】前記位置対称性検出手段は、水平、垂直軸
に関する高次の幾何学歪みの対称性を検出し、前記表示
画面の中心の歪みを予測することを特徴とする請求項1
記載の画像補正装置。 - 【請求項3】前記光検出手段と位置算出手段は、フォト
トランジスタやフォトダイオードなどの複数の光検出素
子を水平、垂直軸に対して斜めに配列して構成され、各
光検出素子に対して表示画面上の水平、垂直座標を割り
当て、各光検出素子の各出力比を前記割り当てた座標で
重みづけ加算することにより、前記テストパターンの表
示位置を算出することを特徴とする請求項1記載の画像
補正装置。 - 【請求項4】前記テストパターン発生手段は、山形対称
の輝度特性を有し、前記表示画面に対し水平及び垂直方
向のクロスハッチ信号を時分割に発生することを特徴と
する請求項1記載の画像補正装置。 - 【請求項5】表示装置の表示画面の外周部において、前
記表示画面上の中心で交差する水平、垂直軸上と、前記
表示画面の四隅の所定の位置に配置された複数の光検出
手段と、画像歪み調整用のテストパターンを、前記光検
出手段の近傍に発生するテストパターン発生手段と、前
記光検出手段で受光した信号から前記テストパターンの
表示位置を算出する位置算出手段と、前記位置算出手段
の出力から水平、垂直軸に関する画像歪みの対称性を検
出する位置対称性検出手段と、前記位置対称性検出手段
の出力から画像歪みの補正手順を設定し、その手順に基
づいて画像歪み誤差を算出する誤差算出手段と、前記誤
差算出手段の出力から画像歪みの補正信号を作成する補
正信号作成手段を備えたことを特徴とする画像補正装
置。 - 【請求項6】前記誤差算出手段は、水平、垂直軸に関す
る画像歪みの対称性を検出した信号に基づき、非対称の
場合は画像歪みの補正の後にスタティック補正を行い、
また対称の場合はスタティック補正後に画像歪み補正を
行うように補正手順を設定して誤差を算出することを特
徴とする請求項5記載の画像補正装置。 - 【請求項7】前記誤差算出手段は、水平、垂直軸に関し
て最も非対称な画像歪み成分から補正するように補正手
順を設定して誤差を算出することを特徴とする請求項5
記載の画像補正装置。 - 【請求項8】前記位置対称性検出手段は、水平、垂直軸
に関する画像歪みの対称性を検出し、表示画面の中心の
歪みを予測することを特徴とする請求項5記載の画像補
正装置。 - 【請求項9】表示装置の表示画面の外周部において、前
記表示画面上の中心で交差する水平、垂直軸上と、前記
表示画面の四隅の所定の位置に配置された複数の光検出
手段と、画像歪み調整用のテストパターンを、前記光検
出手段の近傍に発生するテストパターン発生手段と、前
記テストパターンの表示位置を制御する表示位置制御手
段と、前記光検出手段で受光した信号の移動量から前記
テストパターンの表示位置を算出する位置算出手段と、
前記位置算出手段の出力から水平、垂直軸に関する画像
歪みの対称性を検出する位置対称性検出手段と、前記位
置対称性検出手段の出力から画像歪み誤差を算出する誤
差算出手段と、前記誤差算出手段の出力から画像歪みの
補正信号を作成する補正信号作成手段を備え、前記表示
位置制御手段が水平、垂直軸に関して対称な位置に配置
された一組の前記光検出手段で検出できるように、前記
テストパターンの表示位置を順次制御することを特徴と
する画像補正装置。 - 【請求項10】前記位置対称性検出手段は、水平、垂直
軸に関する高次の幾何学歪みの対称性を検出し、表示画
面の中心の歪みを予測することを特徴とする請求項9記
載の画像補正装置。 - 【請求項11】表示装置の表示画面の外周部の所定の位
置に配置された複数の光検出手段と、画像歪み調整用の
テストパターンを、前記光検出手段の近傍に発生するテ
ストパターン発生手段と、前記光検出手段で受光した信
号から前記テストパターンの表示位置を算出する位置算
出手段と、前記位置算出手段の出力から画像歪み誤差を
算出する誤差算出手段と、前記誤差算出手段からの画像
歪み誤差量が許容範囲を超えた場合のみ画像歪みの補正
信号を作成、更新する補正信号作成手段を備えたことを
特徴とする画像補正装置。 - 【請求項12】前記補正信号作成手段は、画像歪み誤差
を数回サンプリングした値の中間値を取り、中間値が誤
差の許容範囲を超えた時のみ補正信号を作成することを
特徴とする請求項11記載の画像補正装置。 - 【請求項13】前記補正信号作成手段は、画像歪み誤差
を数回サンプリングした値の平均値を取り、平均値が誤
差の許容範囲を超えた時のみ補正信号を作成することを
特徴とする請求項11記載の画像補正装置。 - 【請求項14】前期補正信号作成手段は、画像歪み誤差
が許容範囲を超えた場合、画像歪み誤差を補正するま
で、補正信号を徐々に大きくしていくことを特徴とする
請求項11記載の画像補正装置。 - 【請求項15】前記光検出手段と位置算出手段は、フォ
トトランジスタやフォトダイオードなどの複数の光検出
素子を水平、垂直軸に対して斜めに配列して構成され、
各光検出素子に対して表示画面上の水平、垂直座標を割
り当て、各光検出素子の各出力比を前記割り当てた座標
で重みづけ加算することにより、前記テストパターンの
表示位置を算出することを特徴とする請求項11記載の
画像補正装置。 - 【請求項16】前記テストパターン発生手段は、山形対
称の輝度特性を有し、前記表示画面に対し水平及び垂直
方向のクロスハッチ信号を、前記表示装置の有効画面外
に、時分割に発生することを特徴とする請求項11記載
の画像補正装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17847995A JPH0937277A (ja) | 1995-07-14 | 1995-07-14 | 画像補正装置 |
EP95114687A EP0703714A3 (en) | 1994-09-20 | 1995-09-19 | Image display position detection device and image correction device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17847995A JPH0937277A (ja) | 1995-07-14 | 1995-07-14 | 画像補正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0937277A true JPH0937277A (ja) | 1997-02-07 |
Family
ID=16049209
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17847995A Pending JPH0937277A (ja) | 1994-09-20 | 1995-07-14 | 画像補正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0937277A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001128187A (ja) * | 1999-09-30 | 2001-05-11 | Thomson Licensing Sa | ディジタルコンバーゼンス画像 |
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US6750921B1 (en) | 1999-06-30 | 2004-06-15 | Thomson Licensing S.A. | Projection video display with photo transistor sensors |
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JP2010130048A (ja) * | 2008-11-25 | 2010-06-10 | Sony Corp | 画像信号処理装置、画像信号処理方法および画像投射装置 |
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-
1995
- 1995-07-14 JP JP17847995A patent/JPH0937277A/ja active Pending
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US8411134B2 (en) | 2008-11-25 | 2013-04-02 | Sony Corporation | Image signal processing apparatus, image signal processing method, and image projection apparatus |
JP2012109989A (ja) * | 2011-12-20 | 2012-06-07 | Seiko Epson Corp | プロジェクタ及びプロジェクタの制御方法 |
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