JPH0933419A - 半濁物測定方法及び装置 - Google Patents
半濁物測定方法及び装置Info
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- JPH0933419A JPH0933419A JP7181679A JP18167995A JPH0933419A JP H0933419 A JPH0933419 A JP H0933419A JP 7181679 A JP7181679 A JP 7181679A JP 18167995 A JP18167995 A JP 18167995A JP H0933419 A JPH0933419 A JP H0933419A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 半濁物の流量、密度が簡単に測定できる半濁
物測技術を提供する。 【解決手段】 半濁物ＳＰ中の所定位置に測定光を照射
する照射手段９と、半濁物ＳＰ中を透過し又は半濁物Ｓ
Ｐにより反射された測定光を受光して検出信号を生成す
る受光手段１と、受光手段１からの検出信号を変換係数
に基づいて密度データ又は流量データに変換する変換手
段４、５と、変換手段４、５により変換された密度デー
タ又は流量データを表示する表示手段６と、を備え、変
換係数は、予め基本密度又は基本流量の半濁物ＳＰ中を
透過し又は半濁物ＳＰにより反射された測定光を受光す
ることにより生成される検出信号の値と基本密度又は基
本流量とに基づいて算出する。空中等の霧の流量の他、
半濁状態の気体、液体、固体等の密度を測定できる。
物測技術を提供する。 【解決手段】 半濁物ＳＰ中の所定位置に測定光を照射
する照射手段９と、半濁物ＳＰ中を透過し又は半濁物Ｓ
Ｐにより反射された測定光を受光して検出信号を生成す
る受光手段１と、受光手段１からの検出信号を変換係数
に基づいて密度データ又は流量データに変換する変換手
段４、５と、変換手段４、５により変換された密度デー
タ又は流量データを表示する表示手段６と、を備え、変
換係数は、予め基本密度又は基本流量の半濁物ＳＰ中を
透過し又は半濁物ＳＰにより反射された測定光を受光す
ることにより生成される検出信号の値と基本密度又は基
本流量とに基づいて算出する。空中等の霧の流量の他、
半濁状態の気体、液体、固体等の密度を測定できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、霧、煙、コロイド
状体等の半濁物の密度若しくは流量を測定する技術に関
する。
状体等の半濁物の密度若しくは流量を測定する技術に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来、液体等の密度を測定する方法とし
て、予め密度や質量の判っている標準物と被測定物との
質量差から被測定物の密度を測定していた。流体の被測
定物の流量を測定するものとしては、被測定物を容器に
より測定する方法、質量を測り流量に換算する測定方
法、ノズルに被測定物を通過させ圧力をパラメータとし
て流量を測定する方法等が用いられていた。
て、予め密度や質量の判っている標準物と被測定物との
質量差から被測定物の密度を測定していた。流体の被測
定物の流量を測定するものとしては、被測定物を容器に
より測定する方法、質量を測り流量に換算する測定方
法、ノズルに被測定物を通過させ圧力をパラメータとし
て流量を測定する方法等が用いられていた。
【０００３】内部に微細粒子の混じるコロイド状の物体
を測定する技術としては、レーザ光が流れの中の微小粒
子によって散乱するときドップラー効果により周波数が
変化することを利用したレーザ流速計があった。
を測定する技術としては、レーザ光が流れの中の微小粒
子によって散乱するときドップラー効果により周波数が
変化することを利用したレーザ流速計があった。
【０００４】なお、本発明でいう半濁物とは、液体、固
体、気体のいずれかであって、レーザビーム等により透
過光又は反射光が得られる程度の懸濁状態を維持する物
質をいい、例えば、固体としては内部に微粒子を含む石
英やガラス状の半透明物体、液体としては雲母や粘土等
が混じった半濁状態の流体やコロイド状体、気体として
はノズル等から噴射される霧状体、水蒸気、煙等の微細
粒子を含むものを意味する。
体、気体のいずれかであって、レーザビーム等により透
過光又は反射光が得られる程度の懸濁状態を維持する物
質をいい、例えば、固体としては内部に微粒子を含む石
英やガラス状の半透明物体、液体としては雲母や粘土等
が混じった半濁状態の流体やコロイド状体、気体として
はノズル等から噴射される霧状体、水蒸気、煙等の微細
粒子を含むものを意味する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、内部に微細粒
子が存在している物質であって、その微細粒子が単位体
積当たりどのくらい存在しているかを示す密度や、微細
粒子を含む当該物質が噴出されている場合に、その噴出
物の流れに悪影響を与えないでその密度、流量を簡便に
測定することができなかった。特に、ノズル等から空気
中に散布された霧状の液体の流量を知りたい場合に、従
来では噴出後の霧状体の流量を知ることができなかっ
た。
子が存在している物質であって、その微細粒子が単位体
積当たりどのくらい存在しているかを示す密度や、微細
粒子を含む当該物質が噴出されている場合に、その噴出
物の流れに悪影響を与えないでその密度、流量を簡便に
測定することができなかった。特に、ノズル等から空気
中に散布された霧状の液体の流量を知りたい場合に、従
来では噴出後の霧状体の流量を知ることができなかっ
た。
【０００６】そこで、本発明は、半濁物の流量、密度が
簡単に測定できる半濁物測定方法及び装置を提供するこ
とを課題とする。
簡単に測定できる半濁物測定方法及び装置を提供するこ
とを課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１に記載の発明は、基本密度又は基本流量を
維持する半濁物を透過し又は半濁物により反射された測
定光を受光することにより生成される検出信号の値と基
本密度又は基本流量とに基づいて予め変換係数を算出す
る初期設定工程と、半濁物中を透過し又は半濁物により
反射された測定光を受光して検出信号を生成する検出工
程と、変換係数に基づいて検出信号を半濁物の密度デー
タ又は流量データに変換する変換工程と、密度データ又
は流量データを表示する表示工程と、を備えて構成され
る。
に、請求項１に記載の発明は、基本密度又は基本流量を
維持する半濁物を透過し又は半濁物により反射された測
定光を受光することにより生成される検出信号の値と基
本密度又は基本流量とに基づいて予め変換係数を算出す
る初期設定工程と、半濁物中を透過し又は半濁物により
反射された測定光を受光して検出信号を生成する検出工
程と、変換係数に基づいて検出信号を半濁物の密度デー
タ又は流量データに変換する変換工程と、密度データ又
は流量データを表示する表示工程と、を備えて構成され
る。
【０００８】請求項２に記載の発明は、基本密度又は基
本流量を維持する半濁物を透過し又は半濁物により反射
された測定光を受光することにより生成される検出信号
の値と基本密度又は基本流量とに基づいて予め変換係数
を算出する初期設定工程と、半濁物中を透過し又は半濁
物により反射された測定光を受光して検出信号を生成す
る検出工程と、サンプルタイミング毎に得られる検出信
号を表示手段の応答速度に対応する周期毎に平均化し検
出信号の微分値を算出する微分値算出工程と、変換係数
に基づいて検出信号の微分値を半濁物の密度データ又は
流量データの微分値に変換する変換工程と、密度データ
又は流量データの微分値を表示する表示工程と、を備え
て構成される。
本流量を維持する半濁物を透過し又は半濁物により反射
された測定光を受光することにより生成される検出信号
の値と基本密度又は基本流量とに基づいて予め変換係数
を算出する初期設定工程と、半濁物中を透過し又は半濁
物により反射された測定光を受光して検出信号を生成す
る検出工程と、サンプルタイミング毎に得られる検出信
号を表示手段の応答速度に対応する周期毎に平均化し検
出信号の微分値を算出する微分値算出工程と、変換係数
に基づいて検出信号の微分値を半濁物の密度データ又は
流量データの微分値に変換する変換工程と、密度データ
又は流量データの微分値を表示する表示工程と、を備え
て構成される。
【０００９】請求項３に記載の発明は、基本密度又は基
本流量を維持する半濁物を透過し又は半濁物により反射
された測定光を受光することにより生成される検出信号
の値と基本密度又は基本流量とに基づいて予め変換係数
を算出する初期設定工程と、半濁物中を透過し又は半濁
物により反射された測定光を受光して検出信号を生成す
る検出工程と、サンプルタイミング毎に得られる検出信
号を半濁物の密度又は流量が微変動する周期を越える長
期周期毎に平均化し検出信号の積分値を算出する積分値
算出工程と、変換係数に基づいて検出信号の積分値を半
濁物の密度データ又は流量データの平均値に変換する変
換工程と、密度データ又は流量データの平均値を表示す
る表示工程と、を備えて構成される。
本流量を維持する半濁物を透過し又は半濁物により反射
された測定光を受光することにより生成される検出信号
の値と基本密度又は基本流量とに基づいて予め変換係数
を算出する初期設定工程と、半濁物中を透過し又は半濁
物により反射された測定光を受光して検出信号を生成す
る検出工程と、サンプルタイミング毎に得られる検出信
号を半濁物の密度又は流量が微変動する周期を越える長
期周期毎に平均化し検出信号の積分値を算出する積分値
算出工程と、変換係数に基づいて検出信号の積分値を半
濁物の密度データ又は流量データの平均値に変換する変
換工程と、密度データ又は流量データの平均値を表示す
る表示工程と、を備えて構成される。
【００１０】請求項４に記載の発明は、請求項１乃至請
求項３に記載の半濁物測定方法において、密度データ又
は流量データＱは、検出信号の電圧値Ｖに対し、 Ｑ＝Ｋ／Ｖ＋α （Ｋ≠０、Ｖ≠０、αは所定の定
数） なる関係式で変換され、変換係数はＫを求めるものであ
る。
求項３に記載の半濁物測定方法において、密度データ又
は流量データＱは、検出信号の電圧値Ｖに対し、 Ｑ＝Ｋ／Ｖ＋α （Ｋ≠０、Ｖ≠０、αは所定の定
数） なる関係式で変換され、変換係数はＫを求めるものであ
る。
【００１１】請求項５に記載の発明は、半濁物中の所定
位置に測定光を照射する照射手段と、半濁物中を透過し
又は半濁物により反射された測定光を受光して検出信号
を生成する受光手段と、所定の変換係数に基づいて受光
手段からの検出信号を密度データ又は流量データに変換
する変換手段と、変換手段により変換された密度データ
又は流量データを表示する表示手段と、を備え、変換係
数は、予め基本密度又は基本流量の半濁物中を透過し又
は半濁物により反射された測定光を受光することにより
生成される検出信号の値と基本密度又は基本流量とに基
づいて算出する。
位置に測定光を照射する照射手段と、半濁物中を透過し
又は半濁物により反射された測定光を受光して検出信号
を生成する受光手段と、所定の変換係数に基づいて受光
手段からの検出信号を密度データ又は流量データに変換
する変換手段と、変換手段により変換された密度データ
又は流量データを表示する表示手段と、を備え、変換係
数は、予め基本密度又は基本流量の半濁物中を透過し又
は半濁物により反射された測定光を受光することにより
生成される検出信号の値と基本密度又は基本流量とに基
づいて算出する。
【００１２】請求項６に記載の発明は、半濁物中の所定
位置に測定光を照射する照射手段と、半濁物中を透過し
又は半濁物により反射された測定光を受光して検出信号
を生成する受光手段と、サンプルタイミング毎に得られ
る検出信号を表示手段の応答速度に対応する周期毎に平
均化し検出信号の微分値を算出する微分値算出手段と、
所定の変換係数に基づいて検出信号の微分値を半濁物の
密度データ又は流量データの微分値に変換する変換手段
と、密度データ又は流量データの微分値を表示する表示
手段と、を備え、変換係数は、予め基本密度又は基本流
量を維持する半濁物中を透過し又は半濁物により反射さ
れた測定光を受光することにより生成される検出信号の
値と基本密度又は基本流量とに基づいて算出する。
位置に測定光を照射する照射手段と、半濁物中を透過し
又は半濁物により反射された測定光を受光して検出信号
を生成する受光手段と、サンプルタイミング毎に得られ
る検出信号を表示手段の応答速度に対応する周期毎に平
均化し検出信号の微分値を算出する微分値算出手段と、
所定の変換係数に基づいて検出信号の微分値を半濁物の
密度データ又は流量データの微分値に変換する変換手段
と、密度データ又は流量データの微分値を表示する表示
手段と、を備え、変換係数は、予め基本密度又は基本流
量を維持する半濁物中を透過し又は半濁物により反射さ
れた測定光を受光することにより生成される検出信号の
値と基本密度又は基本流量とに基づいて算出する。
【００１３】請求項７に記載の発明は、半濁物中の所定
位置に測定光を照射する照射手段と、半濁物中を透過し
又は半濁物により反射された測定光を受光して検出信号
を生成する受光手段と、サンプルタイミング毎に得られ
る検出信号を半濁物の密度又は流量が微変動する周期を
越える長期周期毎に平均化し検出信号の積分値を算出す
る積分値算出手段と、変換係数に基づいて検出信号の積
分値を密度データ又は流量データの平均値に変換する変
換手段と、密度データ又は流量データの平均値を表示す
る表示手段と、を備え、変換係数は、予め基本密度又は
基本流量を維持する半濁物中を透過し又は半濁物により
反射された測定光を受光することにより生成される検出
信号の値と基本密度又は基本流量とに基づいて算出す
る。
位置に測定光を照射する照射手段と、半濁物中を透過し
又は半濁物により反射された測定光を受光して検出信号
を生成する受光手段と、サンプルタイミング毎に得られ
る検出信号を半濁物の密度又は流量が微変動する周期を
越える長期周期毎に平均化し検出信号の積分値を算出す
る積分値算出手段と、変換係数に基づいて検出信号の積
分値を密度データ又は流量データの平均値に変換する変
換手段と、密度データ又は流量データの平均値を表示す
る表示手段と、を備え、変換係数は、予め基本密度又は
基本流量を維持する半濁物中を透過し又は半濁物により
反射された測定光を受光することにより生成される検出
信号の値と基本密度又は基本流量とに基づいて算出す
る。
【００１４】請求項８に記載の発明は、請求項５乃至請
求項７に記載の半濁物測定装置において、密度データ又
は流量データＱは、検出信号の電圧値Ｖに対し、 Ｑ＝Ｋ／Ｖ＋α （Ｋ≠０、Ｖ≠０、αは所定の定
数） なる関係式で変換され、変換係数はＫを求めるものであ
る。
求項７に記載の半濁物測定装置において、密度データ又
は流量データＱは、検出信号の電圧値Ｖに対し、 Ｑ＝Ｋ／Ｖ＋α （Ｋ≠０、Ｖ≠０、αは所定の定
数） なる関係式で変換され、変換係数はＫを求めるものであ
る。
【００１５】
【作用】請求項１及び請求項５に記載の発明によれば、
初期設定により、予め半濁物（ノズルから噴射される霧
状体等）に照射された光の透過光又は反射光を測定する
ことにより、半濁物の基本密度当たり又は基本流量当た
りの変換係数が得られる。変換係数が得られたなら、実
際の検出時において、測定対象となる半濁物の透過光又
は反射光である測定光から検出信号を生成し、変換係数
に基づいて検出信号を半濁物の密度データ又は流量デー
タに変換することにより、密度データ又は流量データが
表示される。
初期設定により、予め半濁物（ノズルから噴射される霧
状体等）に照射された光の透過光又は反射光を測定する
ことにより、半濁物の基本密度当たり又は基本流量当た
りの変換係数が得られる。変換係数が得られたなら、実
際の検出時において、測定対象となる半濁物の透過光又
は反射光である測定光から検出信号を生成し、変換係数
に基づいて検出信号を半濁物の密度データ又は流量デー
タに変換することにより、密度データ又は流量データが
表示される。
【００１６】請求項２又は請求項６に記載の発明によれ
ば、検出時に得られた検出信号は、表示手段の応答速度
に対応した周期（短周期となる。）毎に平均化した検出
信号の値、すなわち微分値に変換される。この微分値を
表示することは、半濁物の密度又は流量の安定度、均一
度を表示することになる。
ば、検出時に得られた検出信号は、表示手段の応答速度
に対応した周期（短周期となる。）毎に平均化した検出
信号の値、すなわち微分値に変換される。この微分値を
表示することは、半濁物の密度又は流量の安定度、均一
度を表示することになる。
【００１７】請求項３又は請求項７に記載の発明によれ
ば、検出時に得られた検出信号は、長期周期毎に平均化
された値、すなわち積分値に変換される。その積分値を
表示することは、半濁物の密度又は流量を示すことにな
る。
ば、検出時に得られた検出信号は、長期周期毎に平均化
された値、すなわち積分値に変換される。その積分値を
表示することは、半濁物の密度又は流量を示すことにな
る。
【００１８】請求項４又は請求項８に記載の発明によれ
ば、密度データ又は流量データＱは、検出信号の電圧値
Ｖの逆数に比例し、比例定数は変換係数により規定され
る。
ば、密度データ又は流量データＱは、検出信号の電圧値
Ｖの逆数に比例し、比例定数は変換係数により規定され
る。
【００１９】
【発明の実施の形態】本発明の半濁物測定方法及び装置
に係る好適な実施の形態を図面を参照して説明する。（Ｉ）第１形態 本発明の実施の第１形態は、測定すべき半濁物としてノ
ズル等から噴射されている霧状の噴射物（消毒液、ペン
キ剤等：以下「霧状体」という。）を測定対象とした測
定装置に関する。 構成の説明 図１に本発明の第１形態における半濁物測定装置の構成
を示す。
に係る好適な実施の形態を図面を参照して説明する。（Ｉ）第１形態 本発明の実施の第１形態は、測定すべき半濁物としてノ
ズル等から噴射されている霧状の噴射物（消毒液、ペン
キ剤等：以下「霧状体」という。）を測定対象とした測
定装置に関する。 構成の説明 図１に本発明の第１形態における半濁物測定装置の構成
を示す。
【００２０】図１に示すように、第１形態の半濁物測定
装置１０１において、電源８はレーザＬＥＤ９を駆動す
るための電力を供給する。レーザＬＥＤ９は電源８から
供給される電力により所定の透過用光線である照射光を
発生する。ＬＥＤとしては、近赤外線の発光を行う光源
が透過光を用いる場合に好ましい。
装置１０１において、電源８はレーザＬＥＤ９を駆動す
るための電力を供給する。レーザＬＥＤ９は電源８から
供給される電力により所定の透過用光線である照射光を
発生する。ＬＥＤとしては、近赤外線の発光を行う光源
が透過光を用いる場合に好ましい。
【００２１】スリットＳはレーザＬＥＤ９から発せられ
た照射光を通過させる。なお、一定面積を有するスリッ
トＳ（光の窓）を通過した光を照射光Ｌとする。受光部
１は半濁物ＳＰ中を透過した照射光Ｌを受光し、電気信
号たる検査信号に変換する。Ａ／Ｄ変換器２は、受光部
１より供給される検出信号Ｄをデジタル信号に変換す
る。
た照射光を通過させる。なお、一定面積を有するスリッ
トＳ（光の窓）を通過した光を照射光Ｌとする。受光部
１は半濁物ＳＰ中を透過した照射光Ｌを受光し、電気信
号たる検査信号に変換する。Ａ／Ｄ変換器２は、受光部
１より供給される検出信号Ｄをデジタル信号に変換す
る。
【００２２】ＣＰＵ３は微分値算出手段、積分値算出手
段及び変換手段として動作し、積分回路４と変換回路５
とを備える。積分回路４は、リアルタイムで入力される
検出信号Ｄを所定数のサンプル数で積分し、一定周期に
おける平均値を算出する。この平均を行う回数は任意に
設定できる。
段及び変換手段として動作し、積分回路４と変換回路５
とを備える。積分回路４は、リアルタイムで入力される
検出信号Ｄを所定数のサンプル数で積分し、一定周期に
おける平均値を算出する。この平均を行う回数は任意に
設定できる。
【００２３】変換回路５は、平均化された検出信号Ｄを
所定の変換式に従って密度データ又は流量データに変換
する。ディスプレイ６はＣＰＵ３で演算されたデータを
表示する。入力部７はユーザにより、必要なモード設定
等をＣＰＵ３に命令するために用いられる。 動作の説明 次に動作を説明する。 i) 照射光と霧状体との位置関係 図３に、第１形態の半濁物測定装置１０１を用いた実際
の測定の様子を示す。
所定の変換式に従って密度データ又は流量データに変換
する。ディスプレイ６はＣＰＵ３で演算されたデータを
表示する。入力部７はユーザにより、必要なモード設定
等をＣＰＵ３に命令するために用いられる。 動作の説明 次に動作を説明する。 i) 照射光と霧状体との位置関係 図３に、第１形態の半濁物測定装置１０１を用いた実際
の測定の様子を示す。
【００２４】被検査対象たる霧状体を測定する場合に
は、図３（Ａ）に示すように、半濁物測定装置１０１は
霧状体Ｇ中の所定の位置に照射光Ｌを照射し、噴霧状態
を測定する。ノズルと照射光が通過するスリットとの位
置関係は、図３（Ｂ）のようになる。同図（Ｂ）に示す
ように、霧状体Ｇはノズルから遠ざかるに連れて徐々に
密度を下げる。そのため、ノズル１０と照射光Ｌとの位
置関係を一定にして測定する必要がある。スリットＳの
ピッチＳｘとスリット幅Ｓｙは一定のものとする。ノズ
ルの噴射口から照射光Ｌ（スリットＳ）までの距離Ｘ
も、一定の値にして測定することに留意する。
は、図３（Ａ）に示すように、半濁物測定装置１０１は
霧状体Ｇ中の所定の位置に照射光Ｌを照射し、噴霧状態
を測定する。ノズルと照射光が通過するスリットとの位
置関係は、図３（Ｂ）のようになる。同図（Ｂ）に示す
ように、霧状体Ｇはノズルから遠ざかるに連れて徐々に
密度を下げる。そのため、ノズル１０と照射光Ｌとの位
置関係を一定にして測定する必要がある。スリットＳの
ピッチＳｘとスリット幅Ｓｙは一定のものとする。ノズ
ルの噴射口から照射光Ｌ（スリットＳ）までの距離Ｘ
も、一定の値にして測定することに留意する。
【００２５】霧状体Ｇでは、ノズル口から一定の距離に
おける霧の密度変化は、そのまま、霧状体中の被噴射物
の微粒子の数の変化に略比例する。霧状体中の霧の微粒
子の一単位が一定の体積を有すると仮定すると、霧の密
度の変化は被噴射物の流量の変化に略比例すると考えら
れる。 ii) 初期値の設定 図３（Ｃ）にノズルの霧状体測定における初期値の測定
方法例を示す。
おける霧の密度変化は、そのまま、霧状体中の被噴射物
の微粒子の数の変化に略比例する。霧状体中の霧の微粒
子の一単位が一定の体積を有すると仮定すると、霧の密
度の変化は被噴射物の流量の変化に略比例すると考えら
れる。 ii) 初期値の設定 図３（Ｃ）にノズルの霧状体測定における初期値の測定
方法例を示す。
【００２６】同図（Ｃ）に示すように、ノズル１０から
噴射される霧状体Ｇを遮蔽板で一定時間堰止める。その
期間における流量をシリンダ１２で受け、空中に放出さ
れた実際の流量測定する。霧状体では、流量の増大に反
比例して透過光の強度が減衰すると仮定すると、受光部
１の検出信号Ｄの値をＶとした場合、霧状体の単位時間
当たりの流量Ｑは、 Ｑ＝Ｋ／Ｖ＋α …（１） で示されると考えられる。なお、αは初期状体で生ずる
測定値のずれ（オフセット）である。
噴射される霧状体Ｇを遮蔽板で一定時間堰止める。その
期間における流量をシリンダ１２で受け、空中に放出さ
れた実際の流量測定する。霧状体では、流量の増大に反
比例して透過光の強度が減衰すると仮定すると、受光部
１の検出信号Ｄの値をＶとした場合、霧状体の単位時間
当たりの流量Ｑは、 Ｑ＝Ｋ／Ｖ＋α …（１） で示されると考えられる。なお、αは初期状体で生ずる
測定値のずれ（オフセット）である。
【００２７】式（１）より、測定する一定期間をｔ0 、
一定期間ｔ0 当たりの霧状体の流量をＬ、そのとき得ら
れる検出信号をＶ0 とすると、 Ｌ＝Ｋ・ｔ0 ／Ｖ0 ＋α という関係が成り立ち、 ∴Ｋ＝（Ｌ−α）・Ｖ0 ／ｔ0 …（２） というように係数Ｋが求められる。
一定期間ｔ0 当たりの霧状体の流量をＬ、そのとき得ら
れる検出信号をＶ0 とすると、 Ｌ＝Ｋ・ｔ0 ／Ｖ0 ＋α という関係が成り立ち、 ∴Ｋ＝（Ｌ−α）・Ｖ0 ／ｔ0 …（２） というように係数Ｋが求められる。
【００２８】実際の測定中においては、式（２）の係数
を用いて、ある時間に得られる検出信号Ｖｘに対し、そ
のときの単位時間当たりの流量Ｑは、 Ｑ＝Ｋ／Ｖｘ＋α ＝（Ｌ−α）・Ｖ0 ／（ｔ0 ・Ｖｘ） …（３） として求められる。よって、シリンダ１２により測定で
きた流量Ｌと測定時間ｔ 0 が判れば、初期値の設定が行
える。
を用いて、ある時間に得られる検出信号Ｖｘに対し、そ
のときの単位時間当たりの流量Ｑは、 Ｑ＝Ｋ／Ｖｘ＋α ＝（Ｌ−α）・Ｖ0 ／（ｔ0 ・Ｖｘ） …（３） として求められる。よって、シリンダ１２により測定で
きた流量Ｌと測定時間ｔ 0 が判れば、初期値の設定が行
える。
【００２９】なお、前記したように、流量Ｑは霧状体中
の単位体積当たりの被噴射物の霧状粒子の数に比例する
と考えられる。よって、Ｑは霧状粒子の密度（個／単位
体積）にも比例関係を有するとも考えられる。iii) 測定動作 次に、実際の測定動作の流れを、図２のフローチャート
に基づいて説明する。
の単位体積当たりの被噴射物の霧状粒子の数に比例する
と考えられる。よって、Ｑは霧状粒子の密度（個／単位
体積）にも比例関係を有するとも考えられる。iii) 測定動作 次に、実際の測定動作の流れを、図２のフローチャート
に基づいて説明する。
【００３０】ステップＳ１において、ユーザは、所定の
方法で一定時間ｔ0 当たりの噴射量Ｌを測定する。ユー
ザは、これを入力部７を用いてＣＰＵ３に設定する。Ｃ
ＰＵ３は、設定された初期データに基づいて式（２）に
従って式（１）における係数Ｋを求め、算出した係数Ｋ
を変換回路５に設定する。
方法で一定時間ｔ0 当たりの噴射量Ｌを測定する。ユー
ザは、これを入力部７を用いてＣＰＵ３に設定する。Ｃ
ＰＵ３は、設定された初期データに基づいて式（２）に
従って式（１）における係数Ｋを求め、算出した係数Ｋ
を変換回路５に設定する。
【００３１】ステップＳ２において実際の測定が始めら
れると（ＹＥＳ）、まず、ＣＰＵ３は内部のカウンタ変
数ｎをリセットする（ステップＳ３）。次に、図１に図
示しない発振器等から供給されるサンプリングタイミン
グ信号による割り込みを待ち（ステップＳ４）、サンプ
リングタイミング時（ステップＳ４：ＹＥＳ）、受光部
１から供給されＡ／Ｄ変換された検出信号Ｖｘを入力す
る（ステップＳ５）。
れると（ＹＥＳ）、まず、ＣＰＵ３は内部のカウンタ変
数ｎをリセットする（ステップＳ３）。次に、図１に図
示しない発振器等から供給されるサンプリングタイミン
グ信号による割り込みを待ち（ステップＳ４）、サンプ
リングタイミング時（ステップＳ４：ＹＥＳ）、受光部
１から供給されＡ／Ｄ変換された検出信号Ｖｘを入力す
る（ステップＳ５）。
【００３２】ステップＳ６において、前回までの検出信
号の値の累計値Ｖn-1 （ｎはサンプリング回数を示
す。）に現在入力されている検出信号Ｖｘを加算する。
最初のサンプリングタイミングではＶn （＝Ｖ1 ）は検
出信号Ｖｘそのものである。
号の値の累計値Ｖn-1 （ｎはサンプリング回数を示
す。）に現在入力されている検出信号Ｖｘを加算する。
最初のサンプリングタイミングではＶn （＝Ｖ1 ）は検
出信号Ｖｘそのものである。
【００３３】ステップＳ７では、カウンタｎをインクリ
メントする。ステップＳ８において、カウンタ値ｎが規
定の数Ｍに達したか否かを検査し、達していない場合
（ＮＯ）はステップＳ４からＳ７の処理を繰り返す。
メントする。ステップＳ８において、カウンタ値ｎが規
定の数Ｍに達したか否かを検査し、達していない場合
（ＮＯ）はステップＳ４からＳ７の処理を繰り返す。
【００３４】カウンタｎの値が規定数Ｍに達した場合
（ステップＳ８：ＹＥＳ）、平均値を算出する。則ち、 平均値＝Ｖn （＝ＶM ）／Ｍ の演算を行う（ステップＳ９）。ステップＳ４からステ
ップＳ９までの処理は種として積分回路４が行う。
（ステップＳ８：ＹＥＳ）、平均値を算出する。則ち、 平均値＝Ｖn （＝ＶM ）／Ｍ の演算を行う（ステップＳ９）。ステップＳ４からステ
ップＳ９までの処理は種として積分回路４が行う。
【００３５】ステップＳ１０において、変換回路５は、
算出された平均値を式（３）に代入して、流量データＱ
に変換する。ＣＰＵ３は流量データＱをメモリ等に記憶
して（ステップＳ１１）、ディスプレイ６に流量データ
を表示する（ステップＳ１２）。
算出された平均値を式（３）に代入して、流量データＱ
に変換する。ＣＰＵ３は流量データＱをメモリ等に記憶
して（ステップＳ１１）、ディスプレイ６に流量データ
を表示する（ステップＳ１２）。
【００３６】測定が続けられる限り（ステップＳ１３：
ＹＥＳ）ステップＳ３からステップＳ１２の処理を繰り
返して、表示する流量データを更新し続ける。操作部７
よりユーザが終了を指定すると（ステップＳ１３：Ｎ
Ｏ）測定を終了する。iv) 積分回数による測定値の意味 図２のステップＳ８において、平均化を行う回数Ｍは任
意に設定できるが、その回数を少ない数で行うか、長い
周期で行うかによって出力されるデータの示す意味が変
わってくる。
ＹＥＳ）ステップＳ３からステップＳ１２の処理を繰り
返して、表示する流量データを更新し続ける。操作部７
よりユーザが終了を指定すると（ステップＳ１３：Ｎ
Ｏ）測定を終了する。iv) 積分回数による測定値の意味 図２のステップＳ８において、平均化を行う回数Ｍは任
意に設定できるが、その回数を少ない数で行うか、長い
周期で行うかによって出力されるデータの示す意味が変
わってくる。
【００３７】ステップＳ９からステップＳ１２に示す測
定値の更新処理が短い周期で行われる場合（例えば、サ
ンプリング周期が１／１０００〔sec 〕のとき６４サン
プルの積算を行う周期（＝１秒間に１５回程度））、測
定される流量データは、力状体の微変動を繰り返し表示
する。この測定データの変動率は、被測定物たる半濁物
ＳＰ、則ち、霧状体Ｇの噴霧状態を示している。通常、
ノズル等から噴射される霧状体は圧縮空気の圧力、供給
液体量等により噴霧状態が悪化する場合がある。霧状体
が悪化するということは、霧状体に気泡等が生じ、ノズ
ルからスムースに被噴射物が噴射されない結果、霧状体
の均一性が保たれていないことを示す。
定値の更新処理が短い周期で行われる場合（例えば、サ
ンプリング周期が１／１０００〔sec 〕のとき６４サン
プルの積算を行う周期（＝１秒間に１５回程度））、測
定される流量データは、力状体の微変動を繰り返し表示
する。この測定データの変動率は、被測定物たる半濁物
ＳＰ、則ち、霧状体Ｇの噴霧状態を示している。通常、
ノズル等から噴射される霧状体は圧縮空気の圧力、供給
液体量等により噴霧状態が悪化する場合がある。霧状体
が悪化するということは、霧状体に気泡等が生じ、ノズ
ルからスムースに被噴射物が噴射されない結果、霧状体
の均一性が保たれていないことを示す。
【００３８】従って、測定データの変動率をモニタする
ことにより、出力されている霧状体の状態を定量的に知
ることができる。この短い周期による測定値更新処理は
検出信号の変動率を問題にするため、微分処理を行って
いるとも考えることができる。
ことにより、出力されている霧状体の状態を定量的に知
ることができる。この短い周期による測定値更新処理は
検出信号の変動率を問題にするため、微分処理を行って
いるとも考えることができる。
【００３９】上記更新処理の周期の限界値は、ディスプ
レイ６が頻繁な表示データの更新に対して追従できる速
度により定まる。なお、変動率のみを知りたい場合はス
テップＳ１０における変換処理を行う必要がなく、検出
信号の短い周期における積算結果を表示するようにして
もよい。
レイ６が頻繁な表示データの更新に対して追従できる速
度により定まる。なお、変動率のみを知りたい場合はス
テップＳ１０における変換処理を行う必要がなく、検出
信号の短い周期における積算結果を表示するようにして
もよい。
【００４０】また、上記とは反対に測定値の更新処理が
長い周期で行われる場合（例えば、サンプリング周期が
１／１０００〔sec 〕のとき、８１９２回の積算を行う
周期（＝８秒間に１回程度））、測定される流量データ
は微変動を平均化（累積、積分）しているため現在噴射
されている霧状体の流量を示す。本形態の目的である全
体的な流量の測定は、長周期による積分と更新処理が必
要とされる。 形態の効果 上記のように第１形態によれば、上記短い周期による測
定値の変動と長い周期による流量データの双方をモニタ
することにより、ノズルから噴射された霧状体につい
て、流量や密度を容易に測定できる。また、検出信号を
積算する回数を少なく、短い周期でデータの更新を行う
ことにより、霧の状態を測定することもできる。本形態
は、特に、ペンキ、消毒液等を吹き付け作業を行う際
に、吹き付け中の霧の量を観測する必要がある場合に適
する。（ＩＩ）第２形態 本発明の第２形態では、被測定対象たる半濁物として、
蒸気、煙等の微小粒子を空間に均一に含んだ気体を考え
る。本形態は、第１形態で述べた霧状体と同様、空間中
の微粒子を測定するので、第１形態と同様の考え方が適
用できる。
長い周期で行われる場合（例えば、サンプリング周期が
１／１０００〔sec 〕のとき、８１９２回の積算を行う
周期（＝８秒間に１回程度））、測定される流量データ
は微変動を平均化（累積、積分）しているため現在噴射
されている霧状体の流量を示す。本形態の目的である全
体的な流量の測定は、長周期による積分と更新処理が必
要とされる。 形態の効果 上記のように第１形態によれば、上記短い周期による測
定値の変動と長い周期による流量データの双方をモニタ
することにより、ノズルから噴射された霧状体につい
て、流量や密度を容易に測定できる。また、検出信号を
積算する回数を少なく、短い周期でデータの更新を行う
ことにより、霧の状態を測定することもできる。本形態
は、特に、ペンキ、消毒液等を吹き付け作業を行う際
に、吹き付け中の霧の量を観測する必要がある場合に適
する。（ＩＩ）第２形態 本発明の第２形態では、被測定対象たる半濁物として、
蒸気、煙等の微小粒子を空間に均一に含んだ気体を考え
る。本形態は、第１形態で述べた霧状体と同様、空間中
の微粒子を測定するので、第１形態と同様の考え方が適
用できる。
【００４１】第２形態の半濁物測定装置１０２の構成
は、第１形態で示した半濁物測定装置１０２の構成と同
一のものである。但し、変換回路５に設定される変換係
数が異なる。
は、第１形態で示した半濁物測定装置１０２の構成と同
一のものである。但し、変換回路５に設定される変換係
数が異なる。
【００４２】次に動作を説明する。図４に本形態におけ
る測定の様子を示す。同図（Ａ）に示すように、本形態
の半濁物測定装置１０２は、半濁物として水蒸気、煙等
の微粒子を含む気体Ｍ2 を測定する。気密室１６には外
部より供給される気体Ｍ2 が充填され、気密室内部には
ほぼ均一の密度で気体Ｍ2 が広がっている。なお、気密
室は初期値を正確に測るために必要であり、実際の測定
は外気中で行ってもよい。
る測定の様子を示す。同図（Ａ）に示すように、本形態
の半濁物測定装置１０２は、半濁物として水蒸気、煙等
の微粒子を含む気体Ｍ2 を測定する。気密室１６には外
部より供給される気体Ｍ2 が充填され、気密室内部には
ほぼ均一の密度で気体Ｍ2 が広がっている。なお、気密
室は初期値を正確に測るために必要であり、実際の測定
は外気中で行ってもよい。
【００４３】初期測定（同図（Ｂ））において、一定密
度（密度ｄ2 とする。）の気体Ｍ2（標準気体ＳＭ2 ）
を気密室に充満させ、そのときの受光部１からの検出信
号の大きさＶ2 を測定する。
度（密度ｄ2 とする。）の気体Ｍ2（標準気体ＳＭ2 ）
を気密室に充満させ、そのときの受光部１からの検出信
号の大きさＶ2 を測定する。
【００４４】ところで、前述のように、式（１）におけ
る流量Ｑは、単位体積当たりに存在する微粒子自体の
数、則ち微粒子の密度と比例する。そのため、密度をｄ
とすると、式（１）はオフセット分をゼロとすると、 ｄ＝Ｋ’／Ｖ …（４） と変形できる。よって、密度と検出信号のレベルが判る
と係数Ｋ’が判る。
る流量Ｑは、単位体積当たりに存在する微粒子自体の
数、則ち微粒子の密度と比例する。そのため、密度をｄ
とすると、式（１）はオフセット分をゼロとすると、 ｄ＝Ｋ’／Ｖ …（４） と変形できる。よって、密度と検出信号のレベルが判る
と係数Ｋ’が判る。
【００４５】本形態では、密度ｄ2 時に、検出信号がＶ
2 であるから Ｋ’＝ｄ2 ・Ｖ2 ｄ＝ｄ2 ・Ｖ2 ／Ｖ …（５） となる。初期測定により式（５）で求めた係数Ｋを変換
回路５に設定すれば、図４（Ａ）に示す実際の測定時
に、気体Ｍ2 中に存在する微粒子の密度を測定できる。
2 であるから Ｋ’＝ｄ2 ・Ｖ2 ｄ＝ｄ2 ・Ｖ2 ／Ｖ …（５） となる。初期測定により式（５）で求めた係数Ｋを変換
回路５に設定すれば、図４（Ａ）に示す実際の測定時
に、気体Ｍ2 中に存在する微粒子の密度を測定できる。
【００４６】半濁物測定装置１０２の具体的な動作は、
第１形態で説明した図２に示すフローチャートに従う。
本形態においても、積算回数の考え方も本形態に適用で
きるので、少ないサンプリング回数で積算を繰り返して
表示する構成にすればよい。則ち、図２のフローチャー
トのステップＳ８にて、積算するカウント最大数Ｍを短
周期（例えば、１／１０００〔sec 〕のサンプリングタ
イミングで６４回毎）と設定することで、蒸気や煙の揺
らぎの程度を測定することができる。
第１形態で説明した図２に示すフローチャートに従う。
本形態においても、積算回数の考え方も本形態に適用で
きるので、少ないサンプリング回数で積算を繰り返して
表示する構成にすればよい。則ち、図２のフローチャー
トのステップＳ８にて、積算するカウント最大数Ｍを短
周期（例えば、１／１０００〔sec 〕のサンプリングタ
イミングで６４回毎）と設定することで、蒸気や煙の揺
らぎの程度を測定することができる。
【００４７】上記のように、第２形態によれば、蒸気や
煙等の密度及び密度の変化状態の測定を簡単に行うこと
ができる。（ＩＩＩ）第３形態 本発明の第３形態は、被測定対象として半濁状態の固体
を測定する。
煙等の密度及び密度の変化状態の測定を簡単に行うこと
ができる。（ＩＩＩ）第３形態 本発明の第３形態は、被測定対象として半濁状態の固体
を測定する。
【００４８】第３形態の半濁物測定装置１０３の構成
は、第１形態の構成と同様である。但し、変換回路５に
行う初期設定が異なる。次に動作を説明する。
は、第１形態の構成と同様である。但し、変換回路５に
行う初期設定が異なる。次に動作を説明する。
【００４９】図５に第３形態における測定の様子を示
す。同図（Ａ）に示すように、実際の測定時、半濁物測
定装置１０３は透過光Ｌを半濁状態の固定Ｍ3 に照射
し、透過光を検出する。このように、本形態では固体の
半濁状態をも測ることが可能であるが、固体Ｍ3 の厚み
により透過率に変化が生ずるので、初期測定で使用した
標準試料ＳＭ3 と同等の厚さを持った物質を被測定物と
しなければならない。
す。同図（Ａ）に示すように、実際の測定時、半濁物測
定装置１０３は透過光Ｌを半濁状態の固定Ｍ3 に照射
し、透過光を検出する。このように、本形態では固体の
半濁状態をも測ることが可能であるが、固体Ｍ3 の厚み
により透過率に変化が生ずるので、初期測定で使用した
標準試料ＳＭ3 と同等の厚さを持った物質を被測定物と
しなければならない。
【００５０】第３形態における初期測定（同図（Ｂ）参
照）は、半濁物測定装置１０３が、内部の微粒子の密度
が予め判っている標準固体ＳＭ3 を測定することにより
行う。本形態においても、第２形態における式（５）の
考え方が適用できる。則ち、標準固体ＳＭ3 の密度をｄ
3 とし、これを測定したときの検出信号のレベルをＶ 3
とすると、オフセット成分をゼロとする場合、 ｄ＝ｄ3 ・Ｖ3 ／Ｖ …（６） として固体Ｍ3 の密度が測定できる。
照）は、半濁物測定装置１０３が、内部の微粒子の密度
が予め判っている標準固体ＳＭ3 を測定することにより
行う。本形態においても、第２形態における式（５）の
考え方が適用できる。則ち、標準固体ＳＭ3 の密度をｄ
3 とし、これを測定したときの検出信号のレベルをＶ 3
とすると、オフセット成分をゼロとする場合、 ｄ＝ｄ3 ・Ｖ3 ／Ｖ …（６） として固体Ｍ3 の密度が測定できる。
【００５１】半濁物測定装置１０３における具体的な動
作は、第１形態で説明した図２に示すフローチャートに
従う。上記の如く第３形態によれば、固体中に存在する
微粒子の密度を測定することができる。（ＩＶ）第４形態 本発明の第４形態は、被測定対象として半濁状態の液体
を測定する。
作は、第１形態で説明した図２に示すフローチャートに
従う。上記の如く第３形態によれば、固体中に存在する
微粒子の密度を測定することができる。（ＩＶ）第４形態 本発明の第４形態は、被測定対象として半濁状態の液体
を測定する。
【００５２】第４形態の半濁物測定装置１０４の構成
は、第１形態の構成と同様である。但し、変換回路５に
行う初期設定が異なる。図６に、第４形態の半濁物測定
装置における測定の様子である。
は、第１形態の構成と同様である。但し、変換回路５に
行う初期設定が異なる。図６に、第４形態の半濁物測定
装置における測定の様子である。
【００５３】実際の測定時（同図（Ａ）参照）では、ダ
クト１８等の中を流れる半濁状態の被測定物である液体
Ｍ4 に照射光を照射し、この透過光を検出する。液体は
流れていても流れていなくてもかわまない。
クト１８等の中を流れる半濁状態の被測定物である液体
Ｍ4 に照射光を照射し、この透過光を検出する。液体は
流れていても流れていなくてもかわまない。
【００５４】初期測定では（同図（Ｂ）参照）、第２形
態、第３形態の密度の測定の考え方を適用できる。則
ち、微粒子の密度が予め判っている（ｄ4 とする。）標
準液体ＳＭ4 をダクト１８の中に流す。この標準液体Ｓ
Ｍ4 を半濁物測定装置１０４で測定して得られた検出信
号をＶ4 とする。
態、第３形態の密度の測定の考え方を適用できる。則
ち、微粒子の密度が予め判っている（ｄ4 とする。）標
準液体ＳＭ4 をダクト１８の中に流す。この標準液体Ｓ
Ｍ4 を半濁物測定装置１０４で測定して得られた検出信
号をＶ4 とする。
【００５５】式（５）を変形して、求める密度の式は、
オフセット成分をゼロとすると、 ｄ＝ｄ4 ・Ｖ4 ／Ｖ …（７） となる。
オフセット成分をゼロとすると、 ｄ＝ｄ4 ・Ｖ4 ／Ｖ …（７） となる。
【００５６】本形態では、液体の微粒子の密度が測定で
きるほか、第１形態の短い周期の積算の考え方を適用し
て、液体の密度の変化の様子を検出できる。則ち、図２
のフローチャートのステップＳ８にて、積算するカウン
ト最大数Ｍを短周期（例えば、１／１０００〔sec 〕の
サンプリングタイミングで６４回毎）と設定すること
で、ダクト１８内部を流れる液体の濁り方の変動を感知
できる。
きるほか、第１形態の短い周期の積算の考え方を適用し
て、液体の密度の変化の様子を検出できる。則ち、図２
のフローチャートのステップＳ８にて、積算するカウン
ト最大数Ｍを短周期（例えば、１／１０００〔sec 〕の
サンプリングタイミングで６４回毎）と設定すること
で、ダクト１８内部を流れる液体の濁り方の変動を感知
できる。
【００５７】上記の如く第４形態によれば、半濁物とし
て液体の密度を測定できる他、液体の濁り方の変化を定
量的に検出できる。その他の変形例 本発明の上記形態に限らず種々の変形が可能である。
て液体の密度を測定できる他、液体の濁り方の変化を定
量的に検出できる。その他の変形例 本発明の上記形態に限らず種々の変形が可能である。
【００５８】例えば、上記形態では霧状体、均一の気
体、固体、液体を被測定物としたが、被測定物の透過率
が物質の密度に相関して変化するような被測定媒体であ
れば、上記各形態の構成のまま、初期測定のやり直しの
みで適用できる。
体、固体、液体を被測定物としたが、被測定物の透過率
が物質の密度に相関して変化するような被測定媒体であ
れば、上記各形態の構成のまま、初期測定のやり直しの
みで適用できる。
【００５９】また、上記形態では透過光を利用して被測
定物の密度・流量の検出を行っていたが、被測定物から
の反射光を用いることもできる。半濁物による透過光へ
の影響は、反射光にも同様の影響を与えるからである。
定物の密度・流量の検出を行っていたが、被測定物から
の反射光を用いることもできる。半濁物による透過光へ
の影響は、反射光にも同様の影響を与えるからである。
【００６０】但し、この場合、流量Ｑと検出信号Ｖｘと
の関係は Ｑ＝Ｋ’・Ｖｘ＋α（Ｋ’≠０） の関係となる。噴霧量と反射量は略比例すると考えられ
るからである。
の関係は Ｑ＝Ｋ’・Ｖｘ＋α（Ｋ’≠０） の関係となる。噴霧量と反射量は略比例すると考えられ
るからである。
【００６１】
【発明の効果】請求項１乃至請求項８に記載の発明によ
れば、半濁物を透過又は半濁物により反射した照射光を
検出し、検出した検出信号から流量又は密度に変換する
ので、半濁物の任意の位置での流量又は密度を測定する
ことができる。
れば、半濁物を透過又は半濁物により反射した照射光を
検出し、検出した検出信号から流量又は密度に変換する
ので、半濁物の任意の位置での流量又は密度を測定する
ことができる。
【００６２】請求項２又は請求項６に記載の発明によれ
ば、検出信号を短い周期で積算し微分した信号を得るの
で、半濁物の密度又は流量の変化を検出し、半濁物の均
一度を定量的に観察できる。
ば、検出信号を短い周期で積算し微分した信号を得るの
で、半濁物の密度又は流量の変化を検出し、半濁物の均
一度を定量的に観察できる。
【００６３】請求項３又は請求項７に記載の発明によれ
ば、検出信号を長い周期で積算し、積分した信号につい
て流量又は密度に変換するので、安定した流量又は密度
を検出できる。
ば、検出信号を長い周期で積算し、積分した信号につい
て流量又は密度に変換するので、安定した流量又は密度
を検出できる。
【００６４】請求項４又は請求項８に記載の発明によれ
ば、密度データ又は流量データは、所定の関係式で変換
されるので、受光する光の変化を簡単に正確に流量又は
密度データに変換できる。
ば、密度データ又は流量データは、所定の関係式で変換
されるので、受光する光の変化を簡単に正確に流量又は
密度データに変換できる。
【図１】実施形態の半濁物測定装置のブロック図であ
る。
る。
【図２】実施形態の半濁物測定測定の動作を説明するフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図３】第１形態における測定の様子である。
【図４】第２形態における測定の様子である。
【図５】第３形態における測定の様子である。
【図６】第４形態における測定の様子である。
Ｓ…スリット Ｇ…霧状体 Ｍ…被測定体（噴射物、気体（蒸気・煙等）、固体、流
体） ＳＭ…気体
体） ＳＭ…気体
Claims (8)
- 【請求項１】 基本密度又は基本流量を維持する半濁物
を透過し又は前記半濁物により反射された測定光を受光
することにより生成される検出信号の値と前記基本密度
又は基本流量とに基づいて予め変換係数を算出する初期
設定工程と、 前記半濁物中を透過し又は前記半濁物により反射された
測定光を受光して検出信号を生成する検出工程と、 前記変換係数に基づいて前記検出信号の値を前記半濁物
の密度データ又は流量データに変換する変換工程と、 前記密度データ又は流量データを表示する表示工程と、 を備えたことを特徴とする半濁物測定方法。 - 【請求項２】 基本密度又は基本流量を維持する半濁物
を透過し又は前記半濁物により反射された測定光を受光
することにより生成される検出信号の値と前記基本密度
又は基本流量とに基づいて予め変換係数を算出する初期
設定工程と、 前記半濁物中を透過し又は前記半濁物により反射された
測定光を受光して検出信号を生成する検出工程と、 サンプルタイミング毎に得られる前記検出信号を表示手
段の応答速度に対応する周期毎に平均化し前記検出信号
の微分値を算出する微分値算出工程と、 前記変換係数に基づいて前記検出信号の微分値を前記半
濁物の密度データ又は流量データの微分値に変換する変
換工程と、 前記密度データ又は流量データの微分値を表示する前記
表示工程と、 を備えたことを特徴とする半濁物測定方法。 - 【請求項３】 基本密度又は基本流量を維持する半濁物
を透過し又は前記半濁物により反射された測定光を受光
することにより生成される検出信号の値と前記基本密度
又は基本流量とに基づいて予め変換係数を算出する初期
設定工程と、 前記半濁物中を透過し又は前記半濁物により反射された
測定光を受光して検出信号を生成する検出工程と、 サンプルタイミング毎に得られる前記検出信号を前記半
濁物の密度又は流量が微変動する周期を越える長期周期
毎に平均化し前記検出信号の積分値を算出する積分値算
出工程と、 前記変換係数に基づいて前記検出信号の積分値を前記半
濁物の密度データ又は流量データの平均値に変換する変
換工程と、 前記密度データ又は流量データの平均値を表示する表示
工程と、 を備えたことを特徴とする半濁物測定方法。 - 【請求項４】 請求項１乃至請求項３に記載の半濁物測
定方法において、 前記密度データ又は流量データＱは、検出信号の電圧値
Ｖに対し、 Ｑ＝Ｋ／Ｖ＋α （Ｋ≠０、Ｖ≠０、αは所定の定数） なる関係式で変換され、前記変換係数はＫを求めるもの
であることを特徴とする半濁物測定方法。 - 【請求項５】 半濁物中の所定位置に測定光を照射する
照射手段と、 前記半濁物中を透過し又は前記半濁物により反射された
前記測定光を受光して検出信号を生成する受光手段と、 所定の変換係数に基づいて前記受光手段からの検出信号
を密度データ又は流量データに変換する変換手段と、 前記変換手段により変換された密度データ又は流量デー
タを表示する表示手段と、を備え、 前記変換係数は、予め基本密度又は基本流量の半濁物中
を透過し又は前記半濁物により反射された測定光を受光
することにより生成される前記検出信号の値と前記基本
密度又は基本流量とに基づいて算出することを特徴とす
る半濁物測定装置。 - 【請求項６】 半濁物中の所定位置に測定光を照射する
照射手段と、 前記半濁物中を透過し又は前記半濁物により反射された
前記測定光を受光して検出信号を生成する受光手段と、 サンプルタイミング毎に得られる前記検出信号を表示手
段の応答速度に対応する周期毎に平均化し検出信号の微
分値を算出する微分値算出手段と、 所定の変換係数に基づいて前記検出信号の微分値を前記
半濁物の密度データ又は流量データの微分値に変換する
変換手段と、 前記密度データ又は流量データの微分値を表示する前記
表示手段と、を備え、 前記変換係数は、予め基本密度又は基本流量を維持する
半濁物中を透過し又は前記当該半濁物により反射された
測定光を受光することにより生成される前記検出信号の
値と前記基本密度又は基本流量とに基づいて算出するこ
とを特徴とする半濁物測定装置。 - 【請求項７】 半濁物中の所定位置に測定光を照射する
照射手段と、 前記半濁物中を透過し又は前記半濁物により反射された
前記測定光を受光して検出信号を生成する受光手段と、 サンプルタイミング毎に得られる前記検出信号を前記半
濁物の密度又は流量が微変動する周期を越える長期周期
毎に平均化し検出信号の積分値を算出する積分値算出手
段と、 所定の変換係数に基づいて前記検出信号の積分値を密度
データ又は流量データの平均値に変換する変換手段と、 前記密度データ又は流量データの平均値を表示する表示
手段と、を備え、 前記変換係数は、予め基本密度又は基本流量を維持する
半濁物中を透過し又は当該半濁物により反射された測定
光を受光することにより生成される検出信号の値と前記
基本密度又は基本流量とに基づいて算出することを特徴
とする半濁物測定装置。 - 【請求項８】 請求項５乃至請求項７に記載の半濁物測
定装置において、 前記密度データ又は流量データＱは、検出信号の電圧値
Ｖに対し、 Ｑ＝Ｋ／Ｖ＋α （Ｋ≠０、Ｖ≠０、αは所定の定
数） なる関係式で変換され、前記変換係数はＫを求めるもの
であることを特徴とする半濁物測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7181679A JPH0933419A (ja) | 1995-07-18 | 1995-07-18 | 半濁物測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7181679A JPH0933419A (ja) | 1995-07-18 | 1995-07-18 | 半濁物測定方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0933419A true JPH0933419A (ja) | 1997-02-07 |
Family
ID=16104982
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7181679A Pending JPH0933419A (ja) | 1995-07-18 | 1995-07-18 | 半濁物測定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0933419A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014528584A (ja) * | 2011-10-06 | 2014-10-27 | ノードソン コーポレーションＮｏｒｄｓｏｎ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ | 粉体流検出 |
| WO2023095290A1 (ja) * | 2021-11-26 | 2023-06-01 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | ミスト流量測定装置、超音波霧化システム及びミスト流量測定方法 |
| WO2023095291A1 (ja) * | 2021-11-26 | 2023-06-01 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | ミスト流量測定装置 |
-
1995
- 1995-07-18 JP JP7181679A patent/JPH0933419A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014528584A (ja) * | 2011-10-06 | 2014-10-27 | ノードソン コーポレーションＮｏｒｄｓｏｎ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ | 粉体流検出 |
| WO2023095290A1 (ja) * | 2021-11-26 | 2023-06-01 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | ミスト流量測定装置、超音波霧化システム及びミスト流量測定方法 |
| WO2023095291A1 (ja) * | 2021-11-26 | 2023-06-01 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | ミスト流量測定装置 |
| JP7309308B1 (ja) * | 2021-11-26 | 2023-07-18 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | ミスト流量測定装置 |
| JP7309307B1 (ja) * | 2021-11-26 | 2023-07-18 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | ミスト流量測定装置、超音波霧化システム及びミスト流量測定方法 |
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