JPH0933245A - 散乱断面積測定装置 - Google Patents
散乱断面積測定装置Info
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- JPH0933245A JPH0933245A JP7189349A JP18934995A JPH0933245A JP H0933245 A JPH0933245 A JP H0933245A JP 7189349 A JP7189349 A JP 7189349A JP 18934995 A JP18934995 A JP 18934995A JP H0933245 A JPH0933245 A JP H0933245A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の方法は被測定体を２軸方向に回転させ
る必要があり、大形、大重量の被測定体では散乱断面積
が測定できないという課題があった。 【解決手段】 被測定体を乗せて設定角度以上に回転が
可能な支持回転機構と、支持回転機構から測定波長で決
まる距離以上離れて被測定体に対して上下方向に移動す
る上下移動機構と、上下移動機構に取り付けた送受信器
を備え、送受信器を用いて被測定体との角度と高さ方向
で形成された測定面へのフレネル変換に基づく散乱界値
を所定の円筒面範囲で積算して得られる反射源分布を、
被測定体相当の範囲で積算して遠方の散乱断面積を得る
ようにした。また更に、上下移動機構に換えて同等機構
を、また支持回転機構を固定支持機構として上下移動機
構側を対応して回転機構または相当機構とした。
る必要があり、大形、大重量の被測定体では散乱断面積
が測定できないという課題があった。 【解決手段】 被測定体を乗せて設定角度以上に回転が
可能な支持回転機構と、支持回転機構から測定波長で決
まる距離以上離れて被測定体に対して上下方向に移動す
る上下移動機構と、上下移動機構に取り付けた送受信器
を備え、送受信器を用いて被測定体との角度と高さ方向
で形成された測定面へのフレネル変換に基づく散乱界値
を所定の円筒面範囲で積算して得られる反射源分布を、
被測定体相当の範囲で積算して遠方の散乱断面積を得る
ようにした。また更に、上下移動機構に換えて同等機構
を、また支持回転機構を固定支持機構として上下移動機
構側を対応して回転機構または相当機構とした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、被測定物内ある
いは上記被測定物の近傍でのフレネル領域の散乱界測定
値を用いた散乱断面積測定装置に関するものである。
いは上記被測定物の近傍でのフレネル領域の散乱界測定
値を用いた散乱断面積測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の散乱断面積測定方法として、D.G.
FALCONERが文献１（IEEE Trans. Antennas Propagat.,v
ol.AP-36,pp.822-829,June 1988 ）で、球面部分領域の
フレネル領域の散乱界から遠方散乱断面積を求める方法
を提案している。この手法について説明する。上記文献
１における測定のための構成を図１０に示す。ここで、
ＸＹＺ座標系の原点近傍の被測定物のＸおよびＹ方向の
最大径をＤ、Ｚ方向の最大径をＨ、測定に用いる電波の
波長をλ、波数をｋ、被測定物への入射電界をＥi とす
る。この座標系において、原点から距離Ｒ離れたＺ軸近
傍のαおよびβの走査角で定義される球面部分領域の散
乱電界を測定する。この際、αおよびβの範囲は文献１
中に述べられていることから次の式（１）から式（５）
で示される範囲を測定すれば十分である。
FALCONERが文献１（IEEE Trans. Antennas Propagat.,v
ol.AP-36,pp.822-829,June 1988 ）で、球面部分領域の
フレネル領域の散乱界から遠方散乱断面積を求める方法
を提案している。この手法について説明する。上記文献
１における測定のための構成を図１０に示す。ここで、
ＸＹＺ座標系の原点近傍の被測定物のＸおよびＹ方向の
最大径をＤ、Ｚ方向の最大径をＨ、測定に用いる電波の
波長をλ、波数をｋ、被測定物への入射電界をＥi とす
る。この座標系において、原点から距離Ｒ離れたＺ軸近
傍のαおよびβの走査角で定義される球面部分領域の散
乱電界を測定する。この際、αおよびβの範囲は文献１
中に述べられていることから次の式（１）から式（５）
で示される範囲を測定すれば十分である。
【０００３】
【数１】
【０００４】式（１）から式（５）を満たす範囲のαお
よびβの位置における散乱電界Ｅs（Ｒ，α，β）から
ＸＹ平面上における等価的な反射源分布Ｏe （ｘ，ｙ）
は文献１の式（２１）より次の式（６）で求められる。
更にこの等価的な反射源分布Ｏe （ｘ，ｙ）を用いるこ
とで、無限遠での散乱電界Ｅs （∞，α，β）は、文献
１の式（２０）より次の式（７）で求められる。
よびβの位置における散乱電界Ｅs（Ｒ，α，β）から
ＸＹ平面上における等価的な反射源分布Ｏe （ｘ，ｙ）
は文献１の式（２１）より次の式（６）で求められる。
更にこの等価的な反射源分布Ｏe （ｘ，ｙ）を用いるこ
とで、無限遠での散乱電界Ｅs （∞，α，β）は、文献
１の式（２０）より次の式（７）で求められる。
【０００５】
【数２】
【０００６】遠方での散乱断面積σは、式（７）で求め
られた無限遠での散乱電界Ｅs （∞，α，β）および被
測定物への入射電界Ｅi を用い次式で求められる。
られた無限遠での散乱電界Ｅs （∞，α，β）および被
測定物への入射電界Ｅi を用い次式で求められる。
【０００７】
【数３】
【０００８】以上より、フレネル領域の球面部分領域の
散乱電界から遠方での散乱断面積を求めることができ
る。この方法に基づいた実施例を図１１に示す。被測定
物１は２軸回転機構部３によりアジマスαおよびエレベ
ーションβの２方向に回転され、このα、βを式（１）
〜（５）の範囲に対応させて変化し、固定された送信機
５および受信機６によりフレネル領域の散乱界を測定す
る。この測定系より、被測定物１内あるいは被測定物１
の近傍に中心をもつ球面部分領域のフレネル領域の散乱
界を測定し、遠方の散乱断面積を求めることができる。
散乱電界から遠方での散乱断面積を求めることができ
る。この方法に基づいた実施例を図１１に示す。被測定
物１は２軸回転機構部３によりアジマスαおよびエレベ
ーションβの２方向に回転され、このα、βを式（１）
〜（５）の範囲に対応させて変化し、固定された送信機
５および受信機６によりフレネル領域の散乱界を測定す
る。この測定系より、被測定物１内あるいは被測定物１
の近傍に中心をもつ球面部分領域のフレネル領域の散乱
界を測定し、遠方の散乱断面積を求めることができる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】従来の散乱断面積測定
方法では、被測定物をα、β方向の２軸で回転する必要
がある。一方、回転機構部の構造から大きさおよび重量
に厳しい制限があるため、これらの制限外の大きい被測
定物は散乱断面積を測定できないという課題があった。
方法では、被測定物をα、β方向の２軸で回転する必要
がある。一方、回転機構部の構造から大きさおよび重量
に厳しい制限があるため、これらの制限外の大きい被測
定物は散乱断面積を測定できないという課題があった。
【００１０】
【課題を解決するための手段】この発明に係る散乱断面
積測定装置は、被測定体を乗せて設定角度以上に回転が
可能な、また必要に応じて上下動する支持回転機構と、
この支持回転機構から測定波長で決まる必要距離以上離
れて被測定体に対して相対的に上下方向に移動する上下
移動機構と、この上下移動機構に取り付けた測定波長を
用いる送受信器を備え、送受信器を用いて被測定体との
角度と高さ方向で形成された測定面へのフレネル変換に
基づく散乱界値を所定の円筒面範囲で積算して得られる
反射源分布を、被測定体相当の範囲で積算して遠方の散
乱断面積を得るようにした。また更に、上下移動機構に
換えて同等機構を、また支持回転機構を固定支持機構と
して上下移動機構側を対応して回転機構または相当機構
とした。また更に、測定のための送受信器搭載部分を被
測定体に対して任意の距離が設定可能な距離可変上下移
動機構とし、被測定体との距離を変えて反射源分布を求
め、得られた反射源分布の平均値から被測定体相当の範
囲で積算して遠方の散乱断面積を得るようにした。また
更に、被測定体と送受信器搭載部分間に電波吸収体を敷
いて反射源分布を求め、得られた反射源分布を被測定体
相当の範囲で積算して遠方の散乱断面積を得るようにし
た。
積測定装置は、被測定体を乗せて設定角度以上に回転が
可能な、また必要に応じて上下動する支持回転機構と、
この支持回転機構から測定波長で決まる必要距離以上離
れて被測定体に対して相対的に上下方向に移動する上下
移動機構と、この上下移動機構に取り付けた測定波長を
用いる送受信器を備え、送受信器を用いて被測定体との
角度と高さ方向で形成された測定面へのフレネル変換に
基づく散乱界値を所定の円筒面範囲で積算して得られる
反射源分布を、被測定体相当の範囲で積算して遠方の散
乱断面積を得るようにした。また更に、上下移動機構に
換えて同等機構を、また支持回転機構を固定支持機構と
して上下移動機構側を対応して回転機構または相当機構
とした。また更に、測定のための送受信器搭載部分を被
測定体に対して任意の距離が設定可能な距離可変上下移
動機構とし、被測定体との距離を変えて反射源分布を求
め、得られた反射源分布の平均値から被測定体相当の範
囲で積算して遠方の散乱断面積を得るようにした。また
更に、被測定体と送受信器搭載部分間に電波吸収体を敷
いて反射源分布を求め、得られた反射源分布を被測定体
相当の範囲で積算して遠方の散乱断面積を得るようにし
た。
【００１１】
実施の形態１．本発明では課題を解決するため、被測定
体を乗せる支持回転体を２軸の回転ではなく、１回転ま
たは相当、つまりまたは支持回転せずに支持するのみと
して測定側で１軸回転する構造とし、この構造で断面積
が求まるように散乱界の反射源分布と、それから散乱断
面積が求められる座標系を採用した。図１はこの発明の
散乱断面積測定に係る概念の説明図である。図における
ＸＹＺ座標系の原点Ｏの近傍に被測定物１があり、この
ＸおよびＹ方向の最大径をＤ、Ｚ方向の最大径をＨ、送
受信点ＰをＸＺ面に射影した点をＰ’、原点ＯとＰ’の
距離をρ、Ｚ軸の正の方向に原点Ｏから距離ρ離れた位
置をＯ’、φ＝∠Ｐ’ＯＯ’、θ＝∠ＰＯＰ’とする。
送受信位置Ｐ（ρ，φ，θ）はＸＹＺ座標系で、（ρｓ
ｉｎφ，ρｔａｎθ，ρｃｏｓφ）で表され、ρを一定
とし、走査角をφ、θとする円筒面部分領域の散乱電界
を測定し、遠方散乱断面積を求める。ここで、測定波長
をλ、波数をｋとすると、測定する範囲は次に示す式
（９）から式（１５）を満たすＺ軸近傍でよい。
体を乗せる支持回転体を２軸の回転ではなく、１回転ま
たは相当、つまりまたは支持回転せずに支持するのみと
して測定側で１軸回転する構造とし、この構造で断面積
が求まるように散乱界の反射源分布と、それから散乱断
面積が求められる座標系を採用した。図１はこの発明の
散乱断面積測定に係る概念の説明図である。図における
ＸＹＺ座標系の原点Ｏの近傍に被測定物１があり、この
ＸおよびＹ方向の最大径をＤ、Ｚ方向の最大径をＨ、送
受信点ＰをＸＺ面に射影した点をＰ’、原点ＯとＰ’の
距離をρ、Ｚ軸の正の方向に原点Ｏから距離ρ離れた位
置をＯ’、φ＝∠Ｐ’ＯＯ’、θ＝∠ＰＯＰ’とする。
送受信位置Ｐ（ρ，φ，θ）はＸＹＺ座標系で、（ρｓ
ｉｎφ，ρｔａｎθ，ρｃｏｓφ）で表され、ρを一定
とし、走査角をφ、θとする円筒面部分領域の散乱電界
を測定し、遠方散乱断面積を求める。ここで、測定波長
をλ、波数をｋとすると、測定する範囲は次に示す式
（９）から式（１５）を満たすＺ軸近傍でよい。
【００１２】
【数４】
【００１３】被測定物への入射電界をＥi とし、式
（９）から式（１５）を満たす位置における散乱電界Ｅ
s （ρ，φ，θ）からＸＹ平面上における等価的な反射
源分布Ｏe （ｘ，ｙ）は次の式（１６）で求められる。
この等価的な反射源分布Ｏe （ｘ，ｙ）を用いること
で、無限遠での散乱電界Ｅs （∞，φ，θ）は次の式
（１７）で求められる。更に、遠方での散乱断面積σは
この式（１７）でもとめたＥs （∞，φ，θ）および被
測定物への入射電界Ｅi より次の式（１８）でもとめら
れる。
（９）から式（１５）を満たす位置における散乱電界Ｅ
s （ρ，φ，θ）からＸＹ平面上における等価的な反射
源分布Ｏe （ｘ，ｙ）は次の式（１６）で求められる。
この等価的な反射源分布Ｏe （ｘ，ｙ）を用いること
で、無限遠での散乱電界Ｅs （∞，φ，θ）は次の式
（１７）で求められる。更に、遠方での散乱断面積σは
この式（１７）でもとめたＥs （∞，φ，θ）および被
測定物への入射電界Ｅi より次の式（１８）でもとめら
れる。
【００１４】
【数５】
【００１５】これら式（１６）、（１７）と、従来の式
（６）、（７）を比較すると、（１６）式は係数として
ｅｘｐ（−ｉｋρｔａｎ2 θ）がかかり、（１７）式は
２ｉｋρに対してｉｋρｔａｎ2 θの項の付加されてい
ることが判る。これらの項が従来の曲面座標系から図１
の円筒座標系での近似計算で変更になった部分である。
以上より、式（９）から式（１５）を満たすフレネル領
域の円筒面部分領域の散乱電界を測定し、式（１６）か
ら式（１８）に従い、遠方散乱断面積を測定することが
できる。
（６）、（７）を比較すると、（１６）式は係数として
ｅｘｐ（−ｉｋρｔａｎ2 θ）がかかり、（１７）式は
２ｉｋρに対してｉｋρｔａｎ2 θの項の付加されてい
ることが判る。これらの項が従来の曲面座標系から図１
の円筒座標系での近似計算で変更になった部分である。
以上より、式（９）から式（１５）を満たすフレネル領
域の円筒面部分領域の散乱電界を測定し、式（１６）か
ら式（１８）に従い、遠方散乱断面積を測定することが
できる。
【００１６】図２は実施の形態１の具体的な散乱断面積
測定装置の構成図である。図において、１は被測定物、
２は被測定物支持台、４は回転機構部支持台、５は送信
機、６は受信機、７は送受信機支持台、８は１軸回転機
構部、９は上下移動機構部である。被測定物１は１軸回
転機構部８上に設置された被測定物支持台２上に置か
れ、水平方向に回転する。送信機５および受信機６は上
下移動機構部９に設置され、上下に移動する。このと
き、式（９）から式（１５）を満たすθの最大値をθma
x 、被測定物と送受信位置までの距離をρとし、２ρｔ
ａｎθmax の距離を上下に移動する。この実施例は、回
転機構部として１軸制御のみの回転機構部で構成されて
おり、従来例に比べて、大きさの制限が緩和され、より
大きい被測定物の遠方散乱断面積が求められる。
測定装置の構成図である。図において、１は被測定物、
２は被測定物支持台、４は回転機構部支持台、５は送信
機、６は受信機、７は送受信機支持台、８は１軸回転機
構部、９は上下移動機構部である。被測定物１は１軸回
転機構部８上に設置された被測定物支持台２上に置か
れ、水平方向に回転する。送信機５および受信機６は上
下移動機構部９に設置され、上下に移動する。このと
き、式（９）から式（１５）を満たすθの最大値をθma
x 、被測定物と送受信位置までの距離をρとし、２ρｔ
ａｎθmax の距離を上下に移動する。この実施例は、回
転機構部として１軸制御のみの回転機構部で構成されて
おり、従来例に比べて、大きさの制限が緩和され、より
大きい被測定物の遠方散乱断面積が求められる。
【００１７】次にこの測定装置を使用した遠方散乱断面
積の測定方法について説明する。まず、被測定物１が静
止した状態で、送信機５および受信機６を上下に連続的
あるいは断続的に移動させながら散乱界を測定する。即
ち、式（１６）を求めるため、まず上下方向に動かすこ
とでｙ方向、つまりρｔａｎθ方向にディスクリートで
測定したものを加算して積分相当とする。次に被測定物
１をある角度だけ回転させ静止させる。つまりφ方向に
Δφだけ変化させる。この状態で上下方向に動かすこと
で、ｙ方向の加算をする。こうしてφ方向にΔφだけ変
化させてｙ方向の加算値を得てゆく手順を重ねること
で、θ方向とは異なるφ方向の積分相当の結果が得られ
る。こうして散乱界ＥS が求まり、式（１６）に基づい
て被測定体の最大座標範囲程度の反射源分布が求まる。
従って、式（１７）に基づき上記得られた等価的な反射
源分布０e （ｘ，ｙ）を用い、被測定体の最大座標範囲
程度の２重成分相当のｘ，ｙ方向に加算して散乱界が求
められ、更に式（１８）により、遠方散乱断面積を測定
できる。
積の測定方法について説明する。まず、被測定物１が静
止した状態で、送信機５および受信機６を上下に連続的
あるいは断続的に移動させながら散乱界を測定する。即
ち、式（１６）を求めるため、まず上下方向に動かすこ
とでｙ方向、つまりρｔａｎθ方向にディスクリートで
測定したものを加算して積分相当とする。次に被測定物
１をある角度だけ回転させ静止させる。つまりφ方向に
Δφだけ変化させる。この状態で上下方向に動かすこと
で、ｙ方向の加算をする。こうしてφ方向にΔφだけ変
化させてｙ方向の加算値を得てゆく手順を重ねること
で、θ方向とは異なるφ方向の積分相当の結果が得られ
る。こうして散乱界ＥS が求まり、式（１６）に基づい
て被測定体の最大座標範囲程度の反射源分布が求まる。
従って、式（１７）に基づき上記得られた等価的な反射
源分布０e （ｘ，ｙ）を用い、被測定体の最大座標範囲
程度の２重成分相当のｘ，ｙ方向に加算して散乱界が求
められ、更に式（１８）により、遠方散乱断面積を測定
できる。
【００１８】この測定系における遠方散乱断面積の測定
方法として、被測定物１を回転させながら送信機５およ
び受信機６を上下に連続的あるいは断続的に移動させな
がら散乱断面積を測定する方法も考えられる。
方法として、被測定物１を回転させながら送信機５およ
び受信機６を上下に連続的あるいは断続的に移動させな
がら散乱断面積を測定する方法も考えられる。
【００１９】実施の形態２．図３は実施の形態２におけ
る散乱断面積測定装置の構成図である。図において、１
は被測定物、２は被測定物支持台、４は回転機構部支持
台、５ａは送信機１、５ｂは送信機２、５ｃは送信機
ｎ、６ａは受信機１、６ｂは受信機２、６ｃは受信機
ｎ、７は送受信機支持台、８は１軸回転機構部、９は上
下移動機構部である。被測定物１は１軸回転機構部８上
に設置された被測定物支持台２上に置かれ、水平方向に
回転する。送信機５ａ、５ｂ、５ｃおよび受信機６ａ、
６ｂ、６ｃは送受信機支持台７の上下方向に１つ以上
（１〜ｎ）設置されている。このとき、式（９）から式
（１５）を満たすθの最大値θmax 、被測定物の大きさ
Ｄ、測定波長λより、ＸＹ平面上における等価的な反射
源分布Ｏe （ｘ，ｙ）の分解能はλ／（４ｔａｎθmax
）であり、送受信機の数ｎは次式を満たすように決定
される。
る散乱断面積測定装置の構成図である。図において、１
は被測定物、２は被測定物支持台、４は回転機構部支持
台、５ａは送信機１、５ｂは送信機２、５ｃは送信機
ｎ、６ａは受信機１、６ｂは受信機２、６ｃは受信機
ｎ、７は送受信機支持台、８は１軸回転機構部、９は上
下移動機構部である。被測定物１は１軸回転機構部８上
に設置された被測定物支持台２上に置かれ、水平方向に
回転する。送信機５ａ、５ｂ、５ｃおよび受信機６ａ、
６ｂ、６ｃは送受信機支持台７の上下方向に１つ以上
（１〜ｎ）設置されている。このとき、式（９）から式
（１５）を満たすθの最大値θmax 、被測定物の大きさ
Ｄ、測定波長λより、ＸＹ平面上における等価的な反射
源分布Ｏe （ｘ，ｙ）の分解能はλ／（４ｔａｎθmax
）であり、送受信機の数ｎは次式を満たすように決定
される。
【００２０】
【数６】
【００２１】この例は、回転機構部として１軸制御のみ
の回転機構部で構成されており、大きさの制限が緩和さ
れ、より大きい被測定物の遠方散乱断面積が求められ
る。
の回転機構部で構成されており、大きさの制限が緩和さ
れ、より大きい被測定物の遠方散乱断面積が求められ
る。
【００２２】次にこの測定系における遠方散乱断面積の
測定方法について説明する。被測定物１を回転させなが
ら送受信機支持台７の上下方向に設置された送受信機
（１〜ｎ）で散乱界を測定する。円筒面部分領域のフレ
ネル領域の散乱界を測定でき、従って遠方散乱断面積を
測定できる。この実施の形態は送受信機の組を複数必要
とするが、実施の形態１と比べて送受信機を移動する必
要がないため、より短い時間で散乱断面積を測定でき
る。
測定方法について説明する。被測定物１を回転させなが
ら送受信機支持台７の上下方向に設置された送受信機
（１〜ｎ）で散乱界を測定する。円筒面部分領域のフレ
ネル領域の散乱界を測定でき、従って遠方散乱断面積を
測定できる。この実施の形態は送受信機の組を複数必要
とするが、実施の形態１と比べて送受信機を移動する必
要がないため、より短い時間で散乱断面積を測定でき
る。
【００２３】実施の形態３．図４は実施の形態３におけ
る散乱断面積測定装置の構成図である。図において、１
は被測定物、２は被測定物支持台、５は送信機、６は受
信機、７は送受信機支持台、９は上下移動機構部、１０
は送受信機支持台移動部、１１は移動用レールである。
被測定物１は固定された被測定物支持台２上に置かれ
る。送信機５および受信機６は上下移動機構部９に設置
され、上下に移動する。また、上下移動機構部９が設置
されている送受信機支持台７は、上記被測定物１内ある
いは上記被測定物１の近傍に中心軸をもつ円弧上を移動
用レール１１に沿って移動する。ここで数（９）から式
（１５）を満たすφの最大値をφmax とすると、−φma
x 〜＋φmax に相当する距離を送受信機支持台７が移動
する。この実施の形態は、被測定物１を回転させる回転
機構部が不要なため、従来例および実施の形態２、３に
比べて、更に大きさの制限が緩和され、より大きい被測
定物の遠方散乱断面積が求められる。
る散乱断面積測定装置の構成図である。図において、１
は被測定物、２は被測定物支持台、５は送信機、６は受
信機、７は送受信機支持台、９は上下移動機構部、１０
は送受信機支持台移動部、１１は移動用レールである。
被測定物１は固定された被測定物支持台２上に置かれ
る。送信機５および受信機６は上下移動機構部９に設置
され、上下に移動する。また、上下移動機構部９が設置
されている送受信機支持台７は、上記被測定物１内ある
いは上記被測定物１の近傍に中心軸をもつ円弧上を移動
用レール１１に沿って移動する。ここで数（９）から式
（１５）を満たすφの最大値をφmax とすると、−φma
x 〜＋φmax に相当する距離を送受信機支持台７が移動
する。この実施の形態は、被測定物１を回転させる回転
機構部が不要なため、従来例および実施の形態２、３に
比べて、更に大きさの制限が緩和され、より大きい被測
定物の遠方散乱断面積が求められる。
【００２４】次にこの測定系における遠方散乱断面積の
測定方法について説明する。被測定物１を被測定物支持
台２上に設置した後、まず、送受信機支持台７が静止し
た状態で送信機５および受信機６を上下に連続的あるい
は断続的に移動し、散乱界を測定する。次に送受信機支
持台７をある距離だけ移動させ静止させる。この２つの
手順を繰り返すことにより、円筒面部分領域のフレネル
領域の散乱界が測定でき、従って遠方散乱断面積が測定
できる。
測定方法について説明する。被測定物１を被測定物支持
台２上に設置した後、まず、送受信機支持台７が静止し
た状態で送信機５および受信機６を上下に連続的あるい
は断続的に移動し、散乱界を測定する。次に送受信機支
持台７をある距離だけ移動させ静止させる。この２つの
手順を繰り返すことにより、円筒面部分領域のフレネル
領域の散乱界が測定でき、従って遠方散乱断面積が測定
できる。
【００２５】この測定系における遠方散乱断面積の測定
方法として、送受信機支持台７が移動している状態で、
送信機５および受信機６を上下に連続的あるいは断続的
に移動させながら散乱断面積を測定する方法も考えられ
る。
方法として、送受信機支持台７が移動している状態で、
送信機５および受信機６を上下に連続的あるいは断続的
に移動させながら散乱断面積を測定する方法も考えられ
る。
【００２６】実施の形態４．図５は実施の形態４におけ
る散乱断面積測定装置の構成図であり、実施の形態２と
実施の形態３を組み合わせたものである。図において、
１は被測定物、２は被測定物支持台、５ａは送信機１、
５ｂは送信機２、５ｃは送信機ｎ、６ａは受信機１、６
ｂは受信機２、６ｃは受信機ｎ、７は送受信機支持台、
１０は送受信機支持台移動部、１１は移動用レールであ
る。被測定物１は固定された被測定物支持台２上に置か
れる。送信機５ａ、５ｂ、５ｃおよび受信機６ａ、６
ｂ、６ｃは送受信機支持台７の上下方向に１つ以上（１
〜ｎ）設置されている。また、送受信機支持台７は上記
被測定物１内あるいは上記被測定物１の近傍に中心軸を
もつ円弧上を移動用レール１１に沿って移動することが
できる。この実施の形態は、実施の形態２と実施の形態
３の特徴を併せ持っている。
る散乱断面積測定装置の構成図であり、実施の形態２と
実施の形態３を組み合わせたものである。図において、
１は被測定物、２は被測定物支持台、５ａは送信機１、
５ｂは送信機２、５ｃは送信機ｎ、６ａは受信機１、６
ｂは受信機２、６ｃは受信機ｎ、７は送受信機支持台、
１０は送受信機支持台移動部、１１は移動用レールであ
る。被測定物１は固定された被測定物支持台２上に置か
れる。送信機５ａ、５ｂ、５ｃおよび受信機６ａ、６
ｂ、６ｃは送受信機支持台７の上下方向に１つ以上（１
〜ｎ）設置されている。また、送受信機支持台７は上記
被測定物１内あるいは上記被測定物１の近傍に中心軸を
もつ円弧上を移動用レール１１に沿って移動することが
できる。この実施の形態は、実施の形態２と実施の形態
３の特徴を併せ持っている。
【００２７】次にこの測定系における遠方散乱断面積の
測定方法について説明する。被測定物１を被測定物支持
台２上に設置した後、送受信機支持台７の上下方向に設
置された送受信機（１〜ｎ）で散乱界を測定する。円筒
面部分領域のフレネル領域の散乱界を測定し、従って遠
方散乱断面積を測定する。
測定方法について説明する。被測定物１を被測定物支持
台２上に設置した後、送受信機支持台７の上下方向に設
置された送受信機（１〜ｎ）で散乱界を測定する。円筒
面部分領域のフレネル領域の散乱界を測定し、従って遠
方散乱断面積を測定する。
【００２８】実施の形態５．図６は実施の形態５におけ
る散乱断面積測定装置の構成図であり、実施の形態２の
思想をφの角度方向に適用したものである。図におい
て、１は被測定物、２は被測定物支持台、５ａは送信機
１、５ｂは送信機２、５ｃは送信機ｎ、６ａは受信機
１、６ｂは受信機２、６ｃは受信機ｎ、７は送受信機支
持台、９は上下移動機構部である。被測定物１は固定さ
れた被測定物支持台２上に置かれる。送信機５ａ、５
ｂ、５ｃおよび受信機６ａ、６ｂ、６ｃは上記被測定物
１内あるいは上記被測定物１の近傍に中心軸をもつ円弧
上の上下移動機構部９に１つ以上（１〜ｎ）設置されて
おり、これらの送受信機は同時に上下方向に移動するこ
とができる。この場合のｎの数も、実施の形態２での式
（１９）相当の分解能で決まる。この実施の形態も、実
施の形態２と同等の特徴がある。
る散乱断面積測定装置の構成図であり、実施の形態２の
思想をφの角度方向に適用したものである。図におい
て、１は被測定物、２は被測定物支持台、５ａは送信機
１、５ｂは送信機２、５ｃは送信機ｎ、６ａは受信機
１、６ｂは受信機２、６ｃは受信機ｎ、７は送受信機支
持台、９は上下移動機構部である。被測定物１は固定さ
れた被測定物支持台２上に置かれる。送信機５ａ、５
ｂ、５ｃおよび受信機６ａ、６ｂ、６ｃは上記被測定物
１内あるいは上記被測定物１の近傍に中心軸をもつ円弧
上の上下移動機構部９に１つ以上（１〜ｎ）設置されて
おり、これらの送受信機は同時に上下方向に移動するこ
とができる。この場合のｎの数も、実施の形態２での式
（１９）相当の分解能で決まる。この実施の形態も、実
施の形態２と同等の特徴がある。
【００２９】次にこの測定系における遠方散乱断面積の
測定方法について説明する。被測定物１を被測定物支持
台２上に設置した後、円弧上に配列された送受信機（１
〜ｎ）が上下に移動しながら散乱界を測定する。円筒面
部分領域のフレネル領域の散乱界を測定し、従って遠方
散乱断面積を測定する。
測定方法について説明する。被測定物１を被測定物支持
台２上に設置した後、円弧上に配列された送受信機（１
〜ｎ）が上下に移動しながら散乱界を測定する。円筒面
部分領域のフレネル領域の散乱界を測定し、従って遠方
散乱断面積を測定する。
【００３０】実施の形態６．図７は実施の形態６におけ
る散乱断面積測定装置の構成図であり、実施の形態２と
実施の形態５を組み合わせたものである。図において、
１は被測定物、２は被測定物支持台、５ａａは送信機１
１、５ａｂは送信機１２、５ａｃは送信機１ｎ、５ｂａ
は送信機２１、５ｂｂは送信機２２、５ｃａは送信機ｎ
１、５ｃｂは送信機ｎｎ、６ａａは受信機１１、６ａｂ
は受信機１２、６ａｃは受信機１ｎ、６ｂａは受信機２
１、６ｂｂは受信機２２、６ｃａは受信機ｎ１、６ｃｂ
は受信機ｎｎ、７は送受信機支持台である。被測定物１
は固定された被測定物支持台２上に置かれる。送信機５
ａａ〜５ｃｂおよび受信機６ａａ〜６ｃｂは、上記被測
定物１内あるいは上記被測定物１の近傍に中心軸をもつ
円筒面上に１つ以上（１１〜ｎｎ）配列され、送受信機
支持台７に設置されている。この実施の形態は、実施の
形態２と実施の形態５の特徴を併せ持ち、送受信機数は
最も多くいるが、短時間測定が可能である。
る散乱断面積測定装置の構成図であり、実施の形態２と
実施の形態５を組み合わせたものである。図において、
１は被測定物、２は被測定物支持台、５ａａは送信機１
１、５ａｂは送信機１２、５ａｃは送信機１ｎ、５ｂａ
は送信機２１、５ｂｂは送信機２２、５ｃａは送信機ｎ
１、５ｃｂは送信機ｎｎ、６ａａは受信機１１、６ａｂ
は受信機１２、６ａｃは受信機１ｎ、６ｂａは受信機２
１、６ｂｂは受信機２２、６ｃａは受信機ｎ１、６ｃｂ
は受信機ｎｎ、７は送受信機支持台である。被測定物１
は固定された被測定物支持台２上に置かれる。送信機５
ａａ〜５ｃｂおよび受信機６ａａ〜６ｃｂは、上記被測
定物１内あるいは上記被測定物１の近傍に中心軸をもつ
円筒面上に１つ以上（１１〜ｎｎ）配列され、送受信機
支持台７に設置されている。この実施の形態は、実施の
形態２と実施の形態５の特徴を併せ持ち、送受信機数は
最も多くいるが、短時間測定が可能である。
【００３１】次にこの測定系における遠方散乱断面積の
測定方法について説明する。被測定物１を被測定物支持
台２上に設置した後、円筒面上に２次元に配列された送
受信機（１１〜ｎｎ）を用いＸ，Ｙ方向に走査して散乱
界を測定する。他の実施の形態と同様、円筒面部分領域
のフレネル領域の散乱界を測定し、従って遠方散乱断面
積を測定する。
測定方法について説明する。被測定物１を被測定物支持
台２上に設置した後、円筒面上に２次元に配列された送
受信機（１１〜ｎｎ）を用いＸ，Ｙ方向に走査して散乱
界を測定する。他の実施の形態と同様、円筒面部分領域
のフレネル領域の散乱界を測定し、従って遠方散乱断面
積を測定する。
【００３２】本実施の形態における円筒面上に２次元に
配列された送受信機（１１〜ｎｎ）と実施の形態などで
示した１軸回転機構あるいは実施の形態３などで示した
円弧上を移動する機構と併用することにより、本実施の
形態よりも送受信機の数を減らし、かつ実施の形態１な
いし５よりも測定時間を短くする測定方法も考えられ
る。
配列された送受信機（１１〜ｎｎ）と実施の形態などで
示した１軸回転機構あるいは実施の形態３などで示した
円弧上を移動する機構と併用することにより、本実施の
形態よりも送受信機の数を減らし、かつ実施の形態１な
いし５よりも測定時間を短くする測定方法も考えられ
る。
【００３３】実施の形態７．実施の形態７は先の実施形
態と併用する測定方法である。先に述べた実施の形態で
は、地面の反射波などがない理想的な状況を想定してい
るが、実際には測定される散乱界には被測定物からの直
接の散乱波の他に、誤差要因となる地面からの反射波な
ども含めて測定される。ここに、被測定物と送受信位置
までの距離ρをｎ回変えて測定することにより、これら
の誤差要因を低減する方法を説明する。ρ＝ρl（ｌ＝
１，・・，ｎ）)のときの散乱電界Ｅl s（ρl ，φ，
θ）は、被測定物からの直接の散乱波Ｅl sd （ρl ，
φ，θ）と地面などからのマルチパス波Ｅl sr （ρl ，
φ，θ）の和で表される。
態と併用する測定方法である。先に述べた実施の形態で
は、地面の反射波などがない理想的な状況を想定してい
るが、実際には測定される散乱界には被測定物からの直
接の散乱波の他に、誤差要因となる地面からの反射波な
ども含めて測定される。ここに、被測定物と送受信位置
までの距離ρをｎ回変えて測定することにより、これら
の誤差要因を低減する方法を説明する。ρ＝ρl（ｌ＝
１，・・，ｎ）)のときの散乱電界Ｅl s（ρl ，φ，
θ）は、被測定物からの直接の散乱波Ｅl sd （ρl ，
φ，θ）と地面などからのマルチパス波Ｅl sr （ρl ，
φ，θ）の和で表される。
【００３４】
【数７】
【００３５】このとき、Ｅl s（ρl ，φ，θ）、Ｅl sd
（ρl ，φ，θ）、Ｅl sr （ρl ，φ，θ）を式（１
６）で変換したものを、それぞれＯe l（ｘ，ｙ）、Ｏed
l （ｘ，ｙ）、 Ｏer l （ｘ，ｙ）とすると次の式（２
１）が成り立つ。ここで、Ｏed l （ｘ，ｙ）は散乱体か
らの直接の散乱波から求められた反射源分布なので、す
べて等しい。Ｏed l （ｘ，ｙ）＝Ｏed（ｘ，ｙ）（ｌ＝
１，・・，ｎ）とし、ｎ個のＯe l（ｘ，ｙ）を平均した
ものをＯe a（ｘ，ｙ）とすると、式（２２）が成り立
つ。
（ρl ，φ，θ）、Ｅl sr （ρl ，φ，θ）を式（１
６）で変換したものを、それぞれＯe l（ｘ，ｙ）、Ｏed
l （ｘ，ｙ）、 Ｏer l （ｘ，ｙ）とすると次の式（２
１）が成り立つ。ここで、Ｏed l （ｘ，ｙ）は散乱体か
らの直接の散乱波から求められた反射源分布なので、す
べて等しい。Ｏed l （ｘ，ｙ）＝Ｏed（ｘ，ｙ）（ｌ＝
１，・・，ｎ）とし、ｎ個のＯe l（ｘ，ｙ）を平均した
ものをＯe a（ｘ，ｙ）とすると、式（２２）が成り立
つ。
【００３６】
【数８】
【００３７】ここで、式（１６）は、被測定物による直
接の散乱波に対して反射源分布を求める式であり、Ｏer
l （ｘ，ｙ）のような地面からの反射波などを変換した
ものは距離ｌによって位相が異なるため、ΣＯer l
（ｘ，ｙ）の各項どうし打ち消しあい、近似的に次の式
（２３）が成り立つ。
接の散乱波に対して反射源分布を求める式であり、Ｏer
l （ｘ，ｙ）のような地面からの反射波などを変換した
ものは距離ｌによって位相が異なるため、ΣＯer l
（ｘ，ｙ）の各項どうし打ち消しあい、近似的に次の式
（２３）が成り立つ。
【００３８】
【数９】
【００３９】従って、ρ＝ρl のときの散乱電界Ｅ
l s（ρl ，φ，θ）から求めたＯe l（ｘ，ｙ）よりも、
ｎ個のＯe l（ｘ，ｙ）を平均したＯe a（ｘ，ｙ）の方
が、理想的な反射源分布Ｏed（ｘ，ｙ）に近く、地面の
反射などのマルチパスの影響を低減し、高精度に散乱断
面積を求めることができる。
l s（ρl ，φ，θ）から求めたＯe l（ｘ，ｙ）よりも、
ｎ個のＯe l（ｘ，ｙ）を平均したＯe a（ｘ，ｙ）の方
が、理想的な反射源分布Ｏed（ｘ，ｙ）に近く、地面の
反射などのマルチパスの影響を低減し、高精度に散乱断
面積を求めることができる。
【００４０】図８は実施の形態１において上記の多点で
の距離ｌを変える散乱断面積測定装置の構成図である。
図において、１は被測定物、２は被測定物支持台、４は
回転機構支持部、５は送信機、６は受信機、７は送受信
機支持台、９は上下移動機構部、１０は送受信機支持台
移動部、１１は移動用レールである。送信機５および受
信機６は送受信機支持台７に設置され、上記被測定物１
内あるいは上記被測定物１の近傍を中心とし、径方向に
設置されている移動用レール１１上を移動する。このと
き、式（９）を満たす複数の距離で測定を行い、上記方
法に従うと、高精度に散乱断面積が求められる。
の距離ｌを変える散乱断面積測定装置の構成図である。
図において、１は被測定物、２は被測定物支持台、４は
回転機構支持部、５は送信機、６は受信機、７は送受信
機支持台、９は上下移動機構部、１０は送受信機支持台
移動部、１１は移動用レールである。送信機５および受
信機６は送受信機支持台７に設置され、上記被測定物１
内あるいは上記被測定物１の近傍を中心とし、径方向に
設置されている移動用レール１１上を移動する。このと
き、式（９）を満たす複数の距離で測定を行い、上記方
法に従うと、高精度に散乱断面積が求められる。
【００４１】例えば、マルチパスの影響が３０％程度あ
るとき、６回の異なる距離での測定を行うと、式（２
１）、式（２２）により、マルチパスの影響を５％程度
に押さえられる。
るとき、６回の異なる距離での測定を行うと、式（２
１）、式（２２）により、マルチパスの影響を５％程度
に押さえられる。
【００４２】実施の形態８．実施の形態８は先の実施の
形態と併用する測定方法である。実際に測定される散乱
界には被測定物からの直接の散乱波の他に、誤差要因と
なる地面からの反射なども含めて測定される。地面上に
電波吸収体を設置することで、この地面からの反射の影
響を低減できる。被測定物からの直接の散乱波をＥ
sd（ρ，φ，θ）、電波吸収体がないときの地面からの
反射波をＥsr（ρ，φ，θ）、電波吸収体の反射係数を
Ｒとすると、測定される散乱電界Ｅs（ρ，φ，θ）は
次の式（２４）で表される。
形態と併用する測定方法である。実際に測定される散乱
界には被測定物からの直接の散乱波の他に、誤差要因と
なる地面からの反射なども含めて測定される。地面上に
電波吸収体を設置することで、この地面からの反射の影
響を低減できる。被測定物からの直接の散乱波をＥ
sd（ρ，φ，θ）、電波吸収体がないときの地面からの
反射波をＥsr（ρ，φ，θ）、電波吸収体の反射係数を
Ｒとすると、測定される散乱電界Ｅs（ρ，φ，θ）は
次の式（２４）で表される。
【００４３】
【数１０】
【００４４】例えば、電波吸収体の反射係数Ｒを０．１
とすると、地面からの反射波を１０％に低減できること
が分かる。従って、電波吸収体を設置することにより測
定される散乱電界は被測定物からの直接の散乱波Ｅ
sd（ρ，φ，θ）に近づくため、より高精度に散乱断面
積を測定できる。
とすると、地面からの反射波を１０％に低減できること
が分かる。従って、電波吸収体を設置することにより測
定される散乱電界は被測定物からの直接の散乱波Ｅ
sd（ρ，φ，θ）に近づくため、より高精度に散乱断面
積を測定できる。
【００４５】図９は実施の形態１に本実施の形態の電波
吸収体を併用した散乱断面積測定装置の構成図である。
図において、１は被測定物、２は被測定物支持台、４は
回転機構支持部、５は送信機、６は受信機、７は送受信
機支持台、９は上下移動機構部、１２は電波吸収体であ
る。被測定物１と送信機５および受信機６間の床あるい
は大地上に電波吸収体１２を設置することで、床あるい
は大地の反射の影響を押さえて、より高精度に遠方の散
乱断面積を決定する。
吸収体を併用した散乱断面積測定装置の構成図である。
図において、１は被測定物、２は被測定物支持台、４は
回転機構支持部、５は送信機、６は受信機、７は送受信
機支持台、９は上下移動機構部、１２は電波吸収体であ
る。被測定物１と送信機５および受信機６間の床あるい
は大地上に電波吸収体１２を設置することで、床あるい
は大地の反射の影響を押さえて、より高精度に遠方の散
乱断面積を決定する。
【００４６】
【発明の効果】上述のようにこの発明によれば、被測定
物の近傍散乱界デ−タから被測定物の散乱断面積を測定
する散乱断面積測定方法において、座標系を変えて被測
定物内あるいは上記被測定物の近傍に中心軸をもつ円筒
面部分領域の散乱界の測定値を用い、遠方の散乱断面積
を決定する。この円筒面部分領域の散乱界の測定値は、
被測定物を固定あるいは１軸制御のみの回転機構部から
なる測定系で実現するため、測定系を簡略化できるとい
う効果がある。また、従来例に比べて、大きさの制限を
緩和することができ、より大きい被測定物の遠方散乱断
面積を求めることができるという効果がある。
物の近傍散乱界デ−タから被測定物の散乱断面積を測定
する散乱断面積測定方法において、座標系を変えて被測
定物内あるいは上記被測定物の近傍に中心軸をもつ円筒
面部分領域の散乱界の測定値を用い、遠方の散乱断面積
を決定する。この円筒面部分領域の散乱界の測定値は、
被測定物を固定あるいは１軸制御のみの回転機構部から
なる測定系で実現するため、測定系を簡略化できるとい
う効果がある。また、従来例に比べて、大きさの制限を
緩和することができ、より大きい被測定物の遠方散乱断
面積を求めることができるという効果がある。
【図１】 この発明の散乱断面積測定装置の概念説明図
である。
である。
【図２】 この発明の実施の形態１の散乱断面積測定装
置の構成図である。
置の構成図である。
【図３】 この発明の実施の形態２の散乱断面積測定装
置の構成図である。
置の構成図である。
【図４】 この発明の実施の形態３の散乱断面積測定装
置の構成図である。
置の構成図である。
【図５】 この発明の実施の形態４の散乱断面積測定装
置の構成図である。
置の構成図である。
【図６】 この発明の実施の形態５の散乱断面積測定装
置の構成図である。
置の構成図である。
【図７】 この発明の実施の形態６の散乱断面積測定装
置の構成図である。
置の構成図である。
【図８】 この発明の実施の形態７の散乱断面積測定装
置の構成図である。
置の構成図である。
【図９】 この発明の実施の形態９の散乱断面積測定装
置の構成図である。
置の構成図である。
【図１０】 従来の散乱断面積測定装置の概念説明図で
ある。
ある。
【図１１】 従来の散乱断面積測定装置の構成図であ
る。
る。
１ 被測定物、２ 被測定物支持台、３ ２軸回転機構
部、４ 回転機構部支持台、５ 送信機、６ 受信機、
５ａ 送信機１、５ｂ 送信機２、５ｃ 送信機ｎ、６
ａ 受信機１、６ｂ 受信機２、６ｃ 受信機ｎ、５ａ
ａ 送信機１１、５ａｂ 送信機１２、５ａｃ 送信機
１ｎ、５ｂａ 送信機２１、５ｂｂ 送信機２２、５ｃ
ａ 送信機ｎ１、５ｃｂ 送信機ｎｎ、６ａａ 受信機
１１、６ａｂ 受信機１２、６ａｃ 受信機１ｎ、６ｂ
ａ 受信機２１、６ｂｂ 受信機２２、６ｃａ 受信機
ｎ１、６ｃｂ 受信機ｎｎ、７ 送受信機支持台、８
１軸回転機構部、９ 上下移動機構部、１０ 送受信機
支持台移動部、１１ 移動用レール、１２ 電波吸収
体。
部、４ 回転機構部支持台、５ 送信機、６ 受信機、
５ａ 送信機１、５ｂ 送信機２、５ｃ 送信機ｎ、６
ａ 受信機１、６ｂ 受信機２、６ｃ 受信機ｎ、５ａ
ａ 送信機１１、５ａｂ 送信機１２、５ａｃ 送信機
１ｎ、５ｂａ 送信機２１、５ｂｂ 送信機２２、５ｃ
ａ 送信機ｎ１、５ｃｂ 送信機ｎｎ、６ａａ 受信機
１１、６ａｂ 受信機１２、６ａｃ 受信機１ｎ、６ｂ
ａ 受信機２１、６ｂｂ 受信機２２、６ｃａ 受信機
ｎ１、６ｃｂ 受信機ｎｎ、７ 送受信機支持台、８
１軸回転機構部、９ 上下移動機構部、１０ 送受信機
支持台移動部、１１ 移動用レール、１２ 電波吸収
体。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 柳沢 基 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 砂原 米彦 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三 菱電機株式会社内
Claims (8)
- 【請求項１】 被測定体を乗せて設定角度以上に回転が
可能な、また必要に応じて上下動する支持回転機構と、 上記支持回転機構から測定波長で決まる必要距離以上離
れ、上記被測定体に対して相対的に上下方向に移動する
上下移動機構と、 上記上下移動機構に取り付けた上記測定波長を用いる送
受信器を備え、 上記送受信器を用いて被測定体との角度と高さ方向で形
成された測定面へのフレネル変換に基づく散乱界値を所
定の円筒面範囲で積算して得られる反射源分布を、上記
被測定体相当の範囲で積算して遠方の散乱断面積を得る
散乱断面積測定装置。 - 【請求項２】 基本構成における上下移動機構に換えて
同等位置に、上下方向に複数の送受信器用測定端子の組
を設けた送受信器支持機構を備えたことを特徴とする請
求項１記載の散乱断面積測定装置。 - 【請求項３】 基本構成における支持回転機構に換え
て、角度は固定の固定支持機構とし、また基本構成にお
ける上下移動機構を、被測定体に対して設定角度以上に
回転可能な回転上下移動機構としたことを特徴とする請
求項１記載の散乱断面積測定装置。 - 【請求項４】 また更に、回転上下移動機構に換えて、
上下機構をなくして上下方向に複数の送受信器用測定端
子の組を設け、かつ被測定体に対して設定角度回転可能
な送受信器支持回転機構としたことを特徴とする請求項
３記載の散乱断面積測定装置。 - 【請求項５】 また更に、回転上下移動機構に換えて、
角度方向には移動せずに被測定体に対して円弧状で該円
弧面に複数の送受信器用測定端子の組を設けた円弧状上
下移動機構としたことを特徴とする請求項３記載の散乱
断面積測定装置。 - 【請求項６】 また更に、回転上下移動機構に換えて、
角度方向上下方向共に移動せずに固定で、被測定体に対
して円筒状で該円筒面に複数の送受信器用測定端子の組
を設けた円筒面送受信器支持機構としたことを特徴とす
る請求項３記載の散乱断面積測定装置。 - 【請求項７】 また基本構成において、上下移動機構相
当を被測定体に対して任意の距離が設定可能な距離可変
上下移動機構とし、上記被測定体との距離を変えて反射
源分布を求め、該得られた反射源分布の平均値から被測
定体相当の範囲で積算して遠方の散乱断面積を得るよう
にしたことを特徴とする請求項１ないし請求項３記載の
散乱断面積測定装置。 - 【請求項８】 また基本構成に更に、被測定体と上下移
動機構相当間に電波吸収体を敷き、該状態で反射源分布
を求め、該得られた反射源分布を被測定体相当の範囲で
積算して遠方の散乱断面積を得るようにしたことを特徴
とする請求項１ないし請求項３記載の散乱断面積測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18934995A JP3218167B2 (ja) | 1995-07-25 | 1995-07-25 | 散乱断面積測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18934995A JP3218167B2 (ja) | 1995-07-25 | 1995-07-25 | 散乱断面積測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0933245A true JPH0933245A (ja) | 1997-02-07 |
| JP3218167B2 JP3218167B2 (ja) | 2001-10-15 |
Family
ID=16239850
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18934995A Expired - Lifetime JP3218167B2 (ja) | 1995-07-25 | 1995-07-25 | 散乱断面積測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3218167B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008241689A (ja) * | 2007-03-01 | 2008-10-09 | Mitsubishi Electric Corp | レーダ断面積測定方法およびレーダ断面積測定装置 |
| JP2009276187A (ja) * | 2008-05-14 | 2009-11-26 | Mitsubishi Electric Corp | レーダ断面積測定方法および測定装置 |
| JP2010019727A (ja) * | 2008-07-11 | 2010-01-28 | Mitsubishi Electric Corp | レーダ断面積の測定装置及び方法並びにレーダ断面積の測定プログラム |
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1995
- 1995-07-25 JP JP18934995A patent/JP3218167B2/ja not_active Expired - Lifetime
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