JPH09326555A - 接合装置 - Google Patents

接合装置

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JPH09326555A
JPH09326555A JP14270196A JP14270196A JPH09326555A JP H09326555 A JPH09326555 A JP H09326555A JP 14270196 A JP14270196 A JP 14270196A JP 14270196 A JP14270196 A JP 14270196A JP H09326555 A JPH09326555 A JP H09326555A
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JP
Japan
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resistor
temperature
current
heater tool
transfer member
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Pending
Application number
JP14270196A
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English (en)
Inventor
Atsushi Ito
厚 伊藤
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Nippon Avionics Co Ltd
Original Assignee
Nippon Avionics Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nippon Avionics Co Ltd filed Critical Nippon Avionics Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 熱電対の寿命や応答遅れに関わる問題を解消
する。 【解決手段】 ヒータツール11の抵抗体にはトランス
2を介して交流電流が供給される。電流検出器3はトラ
ンス2の2次側に流れる電流を検出し、電圧検出器4は
ツール11の端子電圧を検出する。温度換算回路5は、
検出された電流、電圧からツール11の抵抗体の抵抗値
を算出して、これを温度値に換算する。制御回路7は、
この温度値に基づき抵抗体の温度が予め設定された温度
になるようにサイリスタ1を位相制御する。これによ
り、熱電対を使うことなくツール11の温度制御を行う
ことができるので、熱電対の応答や寿命に関わる問題を
解消することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被接合物を加圧し
ながら加熱するヒータツールを用いてリフロソルダリン
グや熱圧着等を行う接合装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、被接合物を局部的に加熱する
ことによって厚膜、薄膜基板等へのリード線の熱圧着
や、プリント基板へのICリード等のリフロソルダリン
グなどを行う接合装置があり、この接合装置で用いられ
る局部加熱法の1方式としてパルスヒート法がある。
【0003】パルスヒート法は、Mo等の高抵抗材料か
らなるヒータツールによって被接合物を加圧しながら、
このヒータツールにパルス状の大電流を流して、そこで
発生するジュール熱により被接合物を溶融させて接合を
得るものである。このような接合装置では、ヒータツー
ルの先端に取り付けられた熱電対によってヒータツール
の温度を検出し、この温度が予め設定された温度になる
ようにヒータツールに供給する電流を制御していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】以上のように従来の接
合装置では、ヒータツールに取り付けた熱電対の信号を
フィードバックすることによってツールの温度を制御し
ていたが、熱電対の寿命が短いという問題点があり、ま
た熱電対による温度測定に時間遅れが存在するため制御
に誤差が生じてしまうという問題点があった。本発明
は、上記課題を解決するためになされたもので、熱電対
の寿命や応答遅れを考慮する必要がない接合装置を提供
することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、熱伝導性及び
耐熱性が高い絶縁材料によって形成され下面が被接合物
との接触面となる伝熱部材、この伝熱部材の上に形成さ
れた通電されることにより発熱する抵抗体からなるヒー
タツールと、このヒータツールの抵抗体に流れる電流を
検出する電流検出手段と、抵抗体の端子電圧を検出する
電圧検出手段と、検出された電流、電圧から抵抗体の抵
抗値を算出して、これを温度値に換算する温度換算手段
と、この温度換算手段で得られた温度値に基づき、抵抗
体の温度が予め設定された温度になるように抵抗体に与
える電流を制御する給電手段とを有するものである。こ
のように抵抗体に通電することによりこれが発熱し、こ
の熱が伝熱部材を介して被接合物に伝導される。そし
て、温度換算手段が電流検出手段、電圧検出手段で検出
された電流、電圧から抵抗体の抵抗値を算出して温度値
に換算し、給電手段が温度換算手段で得られた温度値に
基づいて抵抗体に与える電流を制御することにより、抵
抗体の温度が予め設定された温度になるように制御され
る。
【0006】
【発明の実施の形態】図1は本発明の第1の実施の形態
を示す接合装置のブロック図、図2はこの接合装置で用
いるヒータツールの斜視図、図3はヒータツールによっ
て半導体素子の半田付けを行っている状態を示す断面図
である。サイリスタ1は、制御信号に応じて入力交流電
圧をスイッチングし、トランス2は、サイリスタ1の出
力を低電圧、大電流に変換してヒータツール11に供給
する。ホール電流検出器3は、電流に比例して発生する
磁束を検出することによりトランス2の2次側に流れる
電流を検出し、電圧検出器4は、ヒータツール11の後
述する抵抗体に印加される電圧を検出する。
【0007】温度換算回路5は、検出された電流及び電
圧からヒータツール11の抵抗体の抵抗値を算出して、
これを温度値に換算し、制御回路7は、この温度値に基
づいた制御信号を出力してサイリスタ1をオン/オフさ
せ、ヒータツール11の抵抗体に流れる電流を制御す
る。そして、サイリスタ1、トランス2、設定スイッチ
6、制御回路7が給電手段を構成している。
【0008】ヒータツール11は、図2に示すように、
角筒状に形成されたヒートシンク12と、このヒートシ
ンク12の下側の開口端面に抵抗体13を介して結合さ
せた伝熱部材14とから構成される。ヒートシンク12
は、高熱伝導率、高耐熱性および高硬度の絶縁材料、例
えばALN(窒化アルミニウム)などのセラミックによ
って一体に形成される。このヒートシンク12の中空部
12aは、ワーク(例えばLSI等の半導体素子のパッ
ケージ部分)の逃げとしての役割をもつ。
【0009】また、ヒートシンク12には上側の互いに
対向する2側部に側方へ突出するフランジ12bが設け
られ、このフランジ12bには加圧装置用連結ボルト
(図示せず)が挿通する丸穴12dが設けられている。
このヒートシンク12に連結する図示しない加圧装置
は、ヒートシンク12の上端面(上側の開口端面)12
cの全域に密接する。
【0010】抵抗体13は、通電されることにより発熱
する材料、例えばプラチナを主材料としてこれにバイン
ダなどを混合させたペースト状のものを伝熱部材14の
上面に印刷してから焼成することによって形成される。
なお、本実施の形態では、ペースト状のものを焼成して
形成しているが、箔状に形成してヒートシンク12およ
び伝熱部材14に接着剤で接着する構成を採ってもよ
く、箔状に形成する場合にはニクロム箔を使用すること
が考えられる。また、この抵抗体13には、トランス2
との間の接続のための端子13a、13bが側方に突出
するように一体に設けられている。
【0011】下面が平坦な伝熱部材14は、ヒートシン
ク12と同じ材料からなり、ヒートシンク12の下側の
開口端面と同じ形状に形成される。そして、抵抗体13
を接着剤15(図3)によってヒートシンク12の下面
に接着することにより、ヒートシンク12に接着剤層お
よび抵抗体13を介して結合している。つまり、抵抗体
13と伝熱部材14は、上方から見てヒートシンク12
の下側の開口端面と略同じ形状、すなわちロ字状となっ
ている。
【0012】次に、このような接合装置の動作を説明す
る。例えば、4方にリードが多数突出するLSI等の半
導体素子のリード18をプリント配線板16のパッド1
7に半田付けするには、まず半田がプリコートされたプ
リント配線板16のパッド17に半導体素子のリード1
8を重ね、続いて加圧装置を駆動して、図3に示すよう
にヒータツール11によりリード18を上方から圧接す
る。この押圧時には、伝熱部材14の全域にわたって略
均等にヒートシンク12側から押圧力が伝達されるか
ら、伝熱部材14の下面での圧力分布が略均等になる。
【0013】リード18を加圧するヒータツール11の
加圧力が設定値に達すると、制御回路7が動作を開始し
て制御信号を出力する。これにより、サイリスタ1がオ
ンし、図示しない商用交流電源からの交流電圧(AC1
00Vまたは200V)がトランス2に印加され、ヒー
タツール11の抵抗体13に電流が流れる。こうして、
抵抗体13の温度が上昇する。抵抗体13の熱は伝熱部
材14の全域に略均等に伝導され、この伝熱部材14を
介してリード18へ伝導されるから、伝熱部材14の下
面の温度分布も略均等になる。
【0014】トランス2の2次側を流れる電流、すなわ
ちヒータツール11の抵抗体13に流れる電流は、電流
検出器3で検出される。また、抵抗体13に印加される
電圧は、端子13a、13bに接続された電圧検出器4
で検出される。次に、温度換算回路5は、電流検出器
3、電圧検出器4によって検出された電流I、電圧Vか
らオームの法則(V=I×R)によって抵抗体13の抵
抗値Rを算出し、この抵抗値Rを次式に基づいて温度T
に換算する。 R=ρ×{1+α×(T−T25)}×(L/A) ・・・(1)
【0015】式(1)において、ρは抵抗体13を構成
する材料の抵抗率、αは抵抗体13を構成する材料の温
度係数、T25は基準温度(ここでは、25℃)、Lは抵
抗体13の長さ、Aは抵抗体13の断面積である。な
お、本実施の形態では、後述する位相制御により抵抗体
13に供給する電流を交流電圧の半周期ごとに制御する
が、温度換算回路5が抵抗値Rを算出するのは、各半周
期においてピーク電流値が得られた時点である。
【0016】続いて、制御回路7は、温度換算回路5に
よって得られた温度と設定スイッチ6によって予め設定
された設定温度に基づき、抵抗体13の温度が設定温度
になるように制御信号でサイリスタ2を位相制御する。
図4はトランス2に供給される電流(実線部)の波形図
であり、斜線部は供給される電力を示す。制御回路7
は、抵抗体13の温度が上昇して設定温度に近づくにつ
れて、導通角θを図4に示すように次第に小さくして抵
抗体13に供給する電流を減らしていくことにより、抵
抗体13の温度を設定温度に保つ。
【0017】こうして、抵抗体13の熱がリード18に
伝導されてパッド17側の半田が溶融し、パッド17と
リード18が接合される。最後に、制御回路7は、抵抗
体13の温度が設定温度に対して一定の範囲内に入って
から設定時間が経過した後に、制御信号により抵抗体1
3への電流供給を停止させて加熱を終了する。
【0018】加熱終了後、押圧状態のまま抵抗体13へ
の通電を絶つと、抵抗体13、伝熱部材14および半田
付け部分の熱は、ヒートシンク12側に伝導されて放散
され、半田が凝固する。半田が凝固した後、加圧装置に
よりヒータツール11を半導体素子から上方へ移動させ
ることによって、半田付け工程が終了する。以上のよう
に本実施の形態では、熱電対を使うことなく、ヒータツ
ール11の温度制御を行うことができるので、熱電対の
応答や寿命に関わる問題を解消することができる。
【0019】また、本実施の形態のヒータツール11に
よれば、押圧時の押圧力は、ヒートシンク12の上端面
12cからヒートシンク12の軸線方向に沿って抵抗体
13を介して伝熱部材14に伝達され、この伝熱部材1
4からリード18に伝達されるため、抵抗体13にはこ
れを加圧装置に連結するためのブラケットなどを形成し
なくてよい。このため、抵抗体13を必要な発熱量が得
られる最小限度の体積となるように形成することがで
き、これに給電する給電用ケーブルとして従来より断面
積の小さいものが使用できる。
【0020】しかも、半田付け時には抵抗体13とリー
ド18との間に伝熱部材14が介在するので、抵抗体1
3の材料を選択するに当たって半田濡れ性を考慮しなく
てよいから、材料の選択範囲が拡がり、より抵抗値の大
きい材料を選択できる。また、伝熱部材14を設けるこ
とにより、本実施の形態のような抵抗値算出による温度
制御を実現することができる。すなわち、抵抗体のみが
存在する従来のヒータツールでは、付着したフラックス
等を除去するためにツールを研磨しなければならず、ツ
ールの形状が変化(式(1)におけるL、Aが変化)し
てしまうので、抵抗値算出が困難となるからである。
【0021】また、このヒータツール11によれば、通
電された抵抗体13が発する熱は伝熱部材14の全域に
略均等に伝導され、この伝熱部材14を介してリード1
8へ伝導されるから、伝熱部材14の下面の温度分布が
略均等になる。さらに、押圧時には伝熱部材14の全域
にわたって略均等にヒートシンク12側から押圧力が伝
達されるから、伝熱部材14の下面での圧力分布が略均
等になる。その上、リード18に接触する伝熱部材14
を絶縁体によって形成しているため、抵抗体13からリ
ード18へ電流が漏れることがなく、しかも、この伝熱
部材14を硬度の高い材料によって形成しているため、
リード18が接触することによる摩耗が少ない。
【0022】なお、本実施の形態ではヒートシンク1
2、抵抗体13及び伝熱部材14を平面視ロ字状に形成
する例を説明したが、これらの平面形状はこれに限定さ
れるものではない。これらは、平面視長方形状、すなわ
ち板状に形成したり、平面視において非対称となるよう
な形状に形成することもできる。図2で示すように平面
視ロ字状に形成すると、中空部分に半導体素子を真空吸
着するためのノズルや、半導体素子を位置決めするため
の位置決め機構などを臨ませることができる。
【0023】また、抵抗体13および伝熱部材14は、
必ずしもヒートシンク12の開口端面と同じ形状に形成
しなくてもよく、抵抗体13のみを同じ形状に形成し、
伝熱部材14は抵抗体13より幅が狭くなるかあるいは
広くなるように形成することもできる。また、伝熱部分
の面積を大きくとるために、抵抗体13の一部が伝熱部
材14に埋没する構造を採ることもできる。
【0024】さらに、ヒートシンク12および伝熱部材
14を形成する材料は、窒化アルミニウムに限定される
ことはなく、同様の特性をもつものであれば、どのよう
なものでもよい。なお、ヒートシンク12と伝熱部材1
4とを同じ材料で形成しなくてもよいことはいうまでも
ない。
【0025】さらにまた、本発明に係る接合装置は、上
述したように半導体素子を半田付けするために用いる他
に、異方性導電膜、ACF(Anisotronic Conductive F
ilm)などの貼着物を熱圧着するときや、COB(Chip
On Board),COG(ChipOn Glass)などでチップ直接
実装を行うために用いてもよい。
【0026】また、本実施の形態では、単相交流式溶接
電源に本発明を適用した場合について説明したが、本発
明はこれに限らず、商用電流を整流して直流にし、この
直流をインバータにより所定周波数のパルス状高周波交
流に変換し、この高周波交流を溶接トランスに通した後
に整流器に通して再び直流にし、この直流を溶接電極を
介して被溶接材に供給するようにしたいわゆるインバー
タ式溶接電源等、クローズ・ループ構成の溶接電源に適
用しても同様の効果を得ることができる。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば、温度換算手段が検出さ
れた電流、電圧から抵抗体の抵抗値を算出して温度値に
換算し、給電手段がこの温度値に基づいて抵抗体に与え
る電流を制御することにより、ヒータツールの温度が予
め設定された温度になるように制御されるので、熱電対
を使うことなくヒータツールの温度制御を行うことがで
き、熱電対の応答や寿命に関わる問題を解消することが
できる。また、本発明のような抵抗値算出によれば、こ
の抵抗値からヒータツールの発熱量を算出することがで
きる。よって、ワークに接触していないときの発熱量と
ワークを加熱しているときの発熱量との差を求めること
により、ワークに与えられた熱量の算出が可能であり、
これによりワークの温度を推定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施の形態を示す接合装置の
ブロック図である。
【図2】 図1の接合装置で用いるヒータツールの斜視
図である。
【図3】 図2のヒータツールによって半導体素子の半
田付けを行っている状態を示す断面図である。
【図4】 トランスに供給される電流の波形図である。
【符号の説明】
1…サイリスタ、2…トランス、3…電流検出器、4…
電圧検出器、5…温度換算回路、6…設定スイッチ、7
…制御回路、11…ヒータツール、12…ヒートシン
ク、13…抵抗体、14…伝熱部材。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 熱伝導性及び耐熱性が高い絶縁材料によ
    って形成され下面が被接合物との接触面となる伝熱部
    材、この伝熱部材の上に形成された通電されることによ
    り発熱する抵抗体からなるヒータツールと、 このヒータツールの抵抗体に流れる電流を検出する電流
    検出手段と、 前記抵抗体の端子電圧を検出する電圧検出手段と、 検出された電流、電圧から前記抵抗体の抵抗値を算出し
    て、これを温度値に換算する温度換算手段と、 この温度換算手段で得られた温度値に基づき、前記抵抗
    体の温度が予め設定された温度になるように抵抗体に与
    える電流を制御する給電手段とを有することを特徴とす
    る接合装置。
JP14270196A 1996-06-05 1996-06-05 接合装置 Pending JPH09326555A (ja)

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JP14270196A JPH09326555A (ja) 1996-06-05 1996-06-05 接合装置

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JP14270196A JPH09326555A (ja) 1996-06-05 1996-06-05 接合装置

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JP14270196A Pending JPH09326555A (ja) 1996-06-05 1996-06-05 接合装置

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JP (1) JPH09326555A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014529826A (ja) * 2011-08-30 2014-11-13 ワトロウ エレクトリック マニュファクチュアリング カンパニー サーマルアレイ制御システムおよび方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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