JPH09314022A - 基板回転保持装置及び回転式基板処理装置 - Google Patents

基板回転保持装置及び回転式基板処理装置

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JPH09314022A
JPH09314022A JP12826996A JP12826996A JPH09314022A JP H09314022 A JPH09314022 A JP H09314022A JP 12826996 A JP12826996 A JP 12826996A JP 12826996 A JP12826996 A JP 12826996A JP H09314022 A JPH09314022 A JP H09314022A
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JP
Japan
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substrate
holding
cup
holding device
annular
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JP12826996A
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English (en)
Inventor
Manabu Yabe
学 矢部
Takao Hashimoto
孝男 橋本
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 カップ内部で基板Wを保持して回転させる装
置において、乱気流による基板表面への影響を抑える。 【解決手段】 この装置は、カップ2a,2b内で基板
Wを水平に保持しつつ回転させる基板回転保持装置であ
り、上部に基板Wを水平姿勢で保持する回転自在な底板
7及び支持部材8と、円環部材10とを有している。円
環部材10は、底板7の外周側に底板7とともに回転す
るように設けられ、カップ2aの内壁面に向かって水平
方向に延びる環状の平坦面10aを有している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、カップ内で基板を
水平に保持しつつ回転させる基板回転保持装置及びそれ
を備えた回転式基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】スピンコータ等の回転式基板処理装置
は、基板を回転しつつ保持する基板回転保持装置と、保
持された基板に処理液を供給する処理液供給手段とを有
している。基板回転保持装置は、カップ内に設けられ、
一般的に基板裏面を真空吸着して基板を水平に保持し、
回転させるようになっている。このような真空吸着によ
り基板を保持するタイプの装置では、カップの内壁面が
基板外周部に近づくようにカップを構成している。すな
わち、カップの内壁面と基板外周部との隙間が少なくな
るようにしている。このようにカップ内壁面と基板外周
部との隙間を狭くすることで、基板を回転し処理してい
る際に、隙間部分での気流の速度が速くなり、カップ内
部から処理液のミストが基板表面に巻き上がるのを防止
することができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前述のように、基板を
回転させると、それに伴って旋回気流が発生する。そし
て、ミスト巻き上げ防止のために基板外周部がカップ内
壁面に接近していると、旋回気流のうちの基板外周部の
上部の気流はカップ内壁面と干渉してその速度が減速さ
れる。このような理由によって、基板表面上で乱気流が
発生し、基板表面が部分的に乾燥がすすんだり、あるい
は逆に乾燥が遅れたりする場合がある。このため、基板
表面に処理液の塗布ムラが生じてしまうという問題が発
生する。
【0004】また、真空吸着による保持以外に、基板の
外周端部を保持部材によって保持する構成も考えられる
が、このような構成の場合も、前述の真空吸着の場合と
同様な問題が発生する。特に真空吸着を用いない場合
は、保持部材等の回転する部分が大きいので、それだけ
旋回気流も強く広範囲に発生し、カップ内壁との接近で
引き起こされる乱気流もより大きなものとなってしま
う。
【0005】本発明の課題は、カップ内部で基板を保持
して回転させる装置において、乱気流による基板表面へ
の影響を抑えることにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る基板回転
保持装置は、カップ内で基板を水平に保持しつつ回転さ
せる装置であり、基板を水平姿勢で保持する回転自在な
基板保持部と、円環部とを有している。円環部は、基板
保持部の外周側に基板保持部とともに回転するよう設け
られ、カップの内壁面に向かって水平方向に延びる環状
の平坦面を有している。
【0007】この装置では、基板保持部に基板が水平姿
勢で保持される。基板は回転しながら処理されるが、基
板の回転とともに、基板保持部の外周側に設けられた円
環部が回転する。円環部はカップ内壁面に向かって延び
る平坦面を有しているので、カップ内のミストが巻き上
がって基板表面に付着するのを抑えることができる。ま
た、基板及び円環部が回転することによって旋回気流が
発生するが、カップ内壁面に接近した部分では気流に乱
れが生じる。しかし、カップ内壁面に接近しているのは
円環部であり、基板ではない。基板はこの乱気流が発生
する部分と隔たっているので、乱気流が基板に与える影
響を少なくできる。このため、基板表面の塗布ムラを抑
えることができる。
【0008】請求項2に係る基板回転保持装置は、請求
項1の装置において、円環部の平坦面は、基板保持部に
保持された基板表面とほぼ同じ高さであり、例えば平坦
面の方が基板表面より数ミリ低くなるようにする。これ
により、カップ内のミストの巻き上げをより効果的に抑
えることができる。請求項3に係る基板回転保持装置
は、請求項1又は2の装置において、円環部は平板状に
形成されている。円環部が平板状であるので、回転によ
って生じる旋回気流は比較的弱くなる。
【0009】請求項4に係る基板回転保持装置は、請求
項1から3のいずれかの装置において、基板保持部は、
基板の裏面中央部を真空吸着により吸着する真空チャッ
ク部を有している。この装置では、回転部分が比較的小
型化されるので、回転によって生じる気流の影響をより
少なくできる。請求項5に係る基板処理装置は、請求項
1から4のいずれかに記載の基板回転保持装置と、基板
保持部に保持された基板上に処理液を供給する処理液供
給手段とを備えている。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の回転式基板処理装置の一
実施形態を図1に示している。図1に示す装置はスピン
コータであり、このスピンコータは、基板を水平姿勢で
保持する基板回転保持装置1と、基板回転保持装置1の
周囲に配置された上カップ2a及び下カップ2bからな
るカップ2と、基板回転保持装置1に保持された基板上
に処理液を供給する処理液供給ノズル3とを有してい
る。
【0011】基板回転保持装置1は、その下方に設けら
れた電動モータ5により、回転軸6を介して回転させら
れるようになっている。基板回転保持装置1は、回転軸
6の上端部に水平姿勢で固定された底板(基板保持部)
7と、底板7の上面に設けられた環状の支持部材8とを
有している。そして、底板7の外周部において、環状の
支持部材8のさらに外周側には、上カップ2aの内周壁
に向かって延びる環状の円環部材10が固定されてい
る。
【0012】図2に拡大して示すように、支持部材8の
上面は、平坦部8aと、平坦部8aの内周側に形成され
回転軸芯側ほど低くなるように傾斜した傾斜部8bとを
有している。そして、平坦部8aに、円周方向に所定の
間隔を隔てて複数の規制ピン11が設けられている。こ
の複数の規制ピン11は、基板Wの外周端縁に点接触し
て基板Wの水平方向の位置を規制するためのピンであ
る。なお、複数の規制ピン11のうちの所定の2本は、
基板のオリエンテーションフラットの外周端縁に接触
し、基板に回転力を伝達するように構成されている。
【0013】また、円環部材10は、水平な環状の平坦
面10aを有しており、この平坦面10aの高さは、支
持部材8に支持された基板Wの表面よりも数ミリ低くな
っている。また、円環部材10は、その下部に形成され
たフランジ部10bが、底板7を下方から貫通するボル
ト12によって底板7に固定されている。なお、円環部
材10の下面と底板7の上面との間には図示しないスペ
ーサが挿入されており、このスペーサにより両者の間に
隙間が形成されている。
【0014】また、基板回転保持装置1はさらに、図1
及び図2に示すように、底板7を下方から貫通する昇降
自在な複数の基板昇降部材15と、基板昇降部材15を
昇降させるための昇降機構16と、基板昇降部材15の
位置決めを行うための位置決め機構17とを有してい
る。複数の基板昇降部材15は互いにロッド20(図1
参照)によって連結されている。昇降機構16は、2個
のエアシリンダ21と、エアシリンダ21に連結された
昇降ロッド22とを有している。昇降ロッド22の先端
には略C形状の係止部材23が設けられており、基板昇
降部材15の下端に形成されたフランジ部25と係止可
能である。また、位置決め機構17は、図2に示すよう
に、ストッパ部材30と、ストッパ部材30内に設けら
れたストッパピン31と、ストッパピン31を付勢する
スプリング32とを有している。ストッパ部材30には
基板昇降部材15が上下方向に貫通しており、基板昇降
部材15の途中に形成された2つの係止溝15a,15
bに、ストッパピン31の先端が係止可能である。
【0015】これらの基板昇降部材15、昇降機構16
及び位置決め機構17により、基板を、支持部材8によ
り支持する支持位置(図2(a))と、支持部材8から
離間した上方の非支持位置(図2(b))とにわたって
昇降するとともに、それぞれの位置で維持することが可
能である。さらに、図1に示すように、基板回転保持装
置1の下方には、基板Wの受け渡し機構35が設けられ
ている。この受け渡し機構35は、底板7の3カ所に形
成されたピン挿通孔7aを挿通する3本の基板昇降ピン
36と、この基板昇降ピン36を昇降させるための駆動
部(図示せず)とを有している。
【0016】処理液供給ノズル3は、上カップ2aの外
側に設けられ、基板Wの回転中心に相当する供給位置
と、それから離れた待機位置との間で移動可能となって
いる。また、同様に上カップ2aの外側には、基板Wの
外周縁上に相当する供給位置と、それから離れた待機位
置との間で移動可能な溶剤供給ノズル40が設けられて
いる。この溶剤供給ノズル40により、基板Wの表面の
外周縁に洗浄液としての溶剤を供給し、基板外周縁のレ
ジスト液等の処理液を除去できるようになっている。
【0017】また、回転軸6は筒状に構成されており、
その内部には底板7を貫通するように洗浄液ノズル41
が設けられている。次に動作について説明する。基板W
を基板回転保持装置1に載置する場合は、処理液供給ノ
ズル3及び溶剤供給ノズル40をそれぞれ待機位置に移
動させておく。そして、底板7を所定の角度位置で停止
させる。この状態で、基板昇降ピン36を基板受け渡し
位置に上昇させる。
【0018】図示しない基板搬送装置により基板昇降ピ
ン36上に基板Wが載置されると、基板昇降ピン36を
下降させる。このとき、基板昇降部材15は下方の位置
(図2(a))に移動させられており、基板昇降ピン3
6が下降することにより、基板Wは規制ピン11によっ
て位置決めされて支持される。この状態で、処理液供給
ノズル3を供給位置に移動させ、一定量のレジスト液等
の処理液を基板Wの中心部に滴下する。その後、基板回
転保持装置1を高速回転させて処理液を基板Wの全面に
塗布する。
【0019】エッジリンスや洗浄を行う場合は、基板昇
降部材15を図2(b)に示す位置まで上昇させる。そ
して、この状態で基板Wを回転させ、基板Wの外周端縁
の表面に溶剤を供給したり、基板Wの裏面に洗浄液を供
給する。なお、基板昇降部材15は、エアシリンダ21
を短縮あるいは伸長させることにより、係止部材23及
びフランジ部25を介して昇降させられる。
【0020】このような処理を行う際、本実施形態で
は、基板Wが保持されている部分の外周側に、円環部材
10が設けられており、この円環部材10の平坦面10
aが上カップ2aの内周側に延びている。このため、基
板W及び円環部材10が回転すると、上カップ2a内壁
と円環部材10の外周端との間の隙間部分の気流の速度
は速くなり、カップ内のミストの巻き上がりが抑えられ
る。また、基板W等の回転によって旋回気流が生ずる
が、上カップ2a内壁に接近した部分には乱気流が発生
する。しかし、この乱気流が発生する部分は、円環部材
10の平坦面10aの部分であり、基板Wは存在しな
い。すなわち、基板Wの外周部は、円環部材10の分だ
け上カップ2aの内壁から隔たっている。このため、上
カップ2aの内壁に接近した部分で生ずる乱気流の基板
Wへの影響は少なく、基板Wの塗布ムラを抑えることが
できる。
【0021】〔他の実施形態〕 (a)図3に基板を保持する部分の他の実施形態を示
す。図3(a)は処理前及び処理後の状態を、図3
(b)は処理時の状態を示している。この実施形態で
は、前記実施形態の支持部材8に変わって、底板7の外
周部に、複数の回転支持部材50が回転自在に設けられ
ている。そして、そのさらに外周側に、前記実施形態と
ほぼ同様の円環部材10が装着されている。円環部材1
0の平坦面10aは、処理時の基板Wの高さよりも数ミ
リ低い高さに設定されている。
【0022】回転支持部材50は、円柱状の支持部50
aと、支持部50aよりも小径の円柱状の保持部50b
とを有している。支持部50aの下面には回転軸51が
固定されており、回転軸51は底板7を下方に貫通する
とともに、軸受52により底板7に支持されている。ま
た、保持部50bは、支持部50aの上方に支持部50
aと偏心して設けられている。支持部50aと保持部5
0bとはテーパ面によって連結されている。
【0023】回転軸51の下端には、図3及び図4に示
すように、円形の磁石保持部材55が固定されている。
磁石保持部材55の中央部には棒状の永久磁石56が内
蔵されている。一方、底板7の下方には、環状磁石57
が昇降自在に配置されており、図3(a)及び(b)に
示すように、磁石保持部材55から離れた下方の待機位
置と、磁石保持部材55の側面に対向する上方の処理位
置とをとり得るようになっている。
【0024】この実施形態では、基板Wの処理前及び処
理後では、環状磁石57が待機位置に下降している。こ
のとき、環状磁石57が形成する磁力線Bは図3(a)
に示すように、永久磁石56が配置された高さにおい
て、底板7の外周から中心部に向かっている。このた
め、永久磁石56のN極が底板7の中心部に向かう方向
に吸引される。したがって、回転支持部材50の保持部
50bは基板Wから離れる。一方、基板Wを処理する際
には、図3(b)に示すように、環状磁石57を上昇さ
せる。すると、永久磁石56のS極が吸引されるので、
磁石保持部材55及び回転支持部材50が回転する。こ
れにより、保持部50bの外周面が基板Wの外周端縁に
当接し、基板Wが保持される。
【0025】この場合も、前記同様に、基板Wの回転中
において、円環部材10によりカップ内のミストの巻き
上がりが抑えられ、しかも基板Wの外周部はカップから
離れるので、気流の基板Wへの影響を抑えることができ
る。このため、塗布ムラを少なくできる。 (b)図5に示した実施形態は、真空チャック方式の処
理装置である。
【0026】基板回転保持装置の中央部には、基板Wを
真空吸着するための真空チャック60が設けられてお
り、この真空チャック60は回転軸61により回転させ
られるようになっている。真空チャック60の周囲に
は、真空チャック60とともに回転可能な皿状の円環部
材62が設けられている。円環部材62は、その外周部
に円環状の平坦面62aを有しており、この平坦面62
aは図示しないカップの内壁に向かって延び、その高さ
は真空チャック60に吸着された基板Wの高さよりも数
ミリ低くなるように設定されている。なお、円環部材6
2の半径方向中間部には、基板受け渡しピン63が挿通
可能な複数の孔62bが形成されている。
【0027】このような真空チャック方式の処理装置で
は、前記各実施形態に比較して回転部分の半径が大きく
ないので、基板Wの回転に伴って生じる気流の速度が比
較的遅い。したがって気流が基板W表面に与える影響は
比較的少ないが、円環部材62によって基板Wの外周部
がよりカップ内壁面より離れるので、塗布ムラをより少
なくすることが可能となる。 (c)前記各実施形態では、円環部材を底板と別に構成
したが、底板の一部に底板と一体で形成してもよい。
【0028】
【発明の効果】以上のように請求項1及び5に係る基板
回転保持装置及び回転式基板処理装置では、基板保持部
の外周側に円環部が設けられているので、カップ内のミ
ストの巻き上がりを抑えることができ、かつ回転によっ
て生じる気流が基板に与える影響を少なくできる。この
ため、基板表面の塗布ムラを抑えることができる。
【0029】請求項2に係る基板回転保持装置では、円
環部の平坦面を基板表面とほぼ同じ高さにするので、カ
ップ内のミストの巻き上げをより効果的に抑えることが
できる。請求項3に係る基板回転保持装置では、円環部
が平板状であるので、回転によって生じる旋回気流が比
較的弱くなる。
【0030】請求項4に係る基板回転保持装置では、基
板保持部は、基板の裏面中央部を真空吸着するので、回
転部分が比較的小さくなり、回転によって生じる気流の
影響をより少なくできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態による基板処理装置の全体
概略縦断面図。
【図2】図1の拡大部分図。
【図3】本発明の他の実施形態の図2に相当する図。
【図4】前記他の実施形態の要部斜視図。
【図5】本発明のさらに他の実施形態の図2に相当する
図。
【符号の説明】
1 基板回転保持装置 2 カップ 7 底板 8 保持部材 10,62 円環部材 10a,62a 平坦面

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】カップ内で基板を水平に保持しつつ回転さ
    せる基板回転保持装置であって、 前記基板を水平姿勢で保持する回転自在な基板保持部
    と、 前記基板保持部の外周側に前記基板保持部とともに回転
    するよう設けられ、前記カップの内壁面に向かって水平
    方向に延びる環状の平坦面を有する円環部と、を備えた
    基板回転保持装置。
  2. 【請求項2】前記円環部の平坦面は前記基板保持部に保
    持された基板表面とほぼ同じ高さである、請求項1記載
    の基板回転保持装置。
  3. 【請求項3】前記円環部は平板状に形成されている、請
    求項1又は2に記載の基板回転保持装置。
  4. 【請求項4】前記基板保持部は前記基板の裏面中央部を
    真空吸着により吸着する真空チャック部を有している、
    請求項1から3のいずれかに記載の基板回転保持装置。
  5. 【請求項5】請求項1から4のいずれかに記載の基板回
    転保持装置と、 前記基板保持部に保持された基板上に処理液を供給する
    処理液供給手段と、を備えた回転式基板処理装置。
JP12826996A 1996-05-23 1996-05-23 基板回転保持装置及び回転式基板処理装置 Pending JPH09314022A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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