JPH09312033A - 光ピックアップ - Google Patents

光ピックアップ

Info

Publication number
JPH09312033A
JPH09312033A JP8128015A JP12801596A JPH09312033A JP H09312033 A JPH09312033 A JP H09312033A JP 8128015 A JP8128015 A JP 8128015A JP 12801596 A JP12801596 A JP 12801596A JP H09312033 A JPH09312033 A JP H09312033A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical pickup
photodetector
diffraction grating
housing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8128015A
Other languages
English (en)
Inventor
Koki Kojima
光喜 小島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP8128015A priority Critical patent/JPH09312033A/ja
Publication of JPH09312033A publication Critical patent/JPH09312033A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来のレーザ光の放出と検出手段を有する光
ピックアップは、ホログラムの1次回折光を用いて反射
光を検出するために信号光強度が小さくなる。 【解決手段】 レーザ光を出射する半導体レーザー1
と、半導体レーザ1の光を分離する光分離素子と、半導
体レーザ1の光を反射する反射ミラー3と、半導体レー
ザ1の光の偏光状態を変更する1/4波長板4と、光デ
ィスクからの光を光検出器6に導く複数領域からなる回
折格子5と、前記ディスクからの光を検出する複数の受
光素子で構成される光検出器6からなり、前記半導体レ
ーザ1と光検出器6がハウジングされ、前記ハウジング
上に前記光分離素子と反射ミラー3が平行に配置され、
前記1/4波長板を前記光分離素子の光出射面に設けて
一体に構成したレーザ光放出と検出手段を有する光学素
子。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクに記録
し又は光ディスクを再生することが可能な光情報機器に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】以下に従来の光ピックアップにおけるレ
ーザ光の出射手段と検出手段とを有する光ピックアップ
について説明する。図7は従来の光学素子である。
【0003】図7において、レーザ光を出射する半導体
レーザ21と、半導体レーザの光を3ビームに分割する
回折格子22と光ディスクからの光を検出器に導く2つ
の領域からなるホログラム23と、光ディスクからの光
を検出する5分割受光素子の光検出器24からなり、半
導体レーザ21と光検出器24がハウジングされ、ハウ
ジング上にホログラム23を光出射面に作成したカバー
ガラス25を接着固定することにより一体に構成してい
る。
【0004】半導体レーザ21から出射した光は、回折
格子22により3ビームに分割され、ホログラム23を
透過して光学素子から出射され、以降の光学部品により
光ディスクに到達する。3ビームはホログラム23の2
つの領域でそれぞれ回折され、5分割受光素子の光検出
器24に導かれ受光される。本光ピックアップにおい
て、フォーカス検出は公知のフーコー法により、またト
ラック検出は公知の3ビーム法により検出される。
【0005】また図8により従来の光ピックアップにつ
いて説明する。図8において、半導体レーザ31からの
光はハーフミラー32で反射され、コリメーターレンズ
33により平行光にして、立ち上げミラー34で反射さ
れた後、対物レンズ35により光ディスク36上に集光
される。光ディスク36からの反射光は再び対物レンズ
35で集められ、立ち上げミラー34で反射されコリメ
ーターレンズ33を透過する。コリメーターレンズ33
を透過した光はハーフミラー32で屈折された後、検出
レンズ37を通り、光検出器38にて受光される。本光
ピックアップにおいて、フォーカス検出は公知の非点収
差法により、またトラック検出は公知の位相差法により
検出される。このため、光検出器38は複数の受光素子
から構成されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来のレーザ光の出射
手段と検出手段を有する光ピックアップでは、光ピック
アップから光ディスクに集光させる出射光がホログラム
を透過し、また光ディスクからの反射光を検出するため
にホログラムの1次回折光を用いているため信号光強度
が小さくなる。
【0007】また従来の光ピックアップでは、光学部品
を光ディスクリートで構成しており、また半導体レーザ
とハーフミラーと受光素子の配置がフォーカスエラーの
引き込み範囲で決定されており、ピックアップの小型化
が困難である。
【0008】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、レーザ光の放出、検出手段を有する光ピックアップ
を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の光学素子は、レ
ーザ光を出射する半導体レーザと、半導体レーザの光を
分離する光分離素子と半導体レーザの光を反射する反射
ミラーと、半導体レーザの光の偏光状態を変換する1/
4波長板と光ディスクからの光を光検出器に導く複数の
領域からなる回折格子と、光ディスクからの光を検出す
る複数の受光素子で構成される光検出器からなり、半導
体レーザと光検出器がハウジングされ、ハウジング上に
光分離素子と反射ミラーが平行に配置され、1/4波長
板が光分離素子の光出射面に設けて一体に構成したレー
ザ光の出射手段と検出手段とを有する光ピックアップで
あり、光ピックアップの小型化が実現できる。
【0010】また本光ピックアップの出射光は前記回折
格子を通過しないとともに前記回折格子の透過光(0次
回折光)を用いた信号検出方式により十分な信号光強度
を確保できる。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1及び請求項3か
ら5に記載の発明は、レーザ光を出射する半導体レーザ
と、ディスクからの反射光を検出するため複数の受光素
子で構成される光検出器と、半導体レーザと光検出器と
を載置した基板部材と、半導体レーザと光検出器と基板
部材とを封止しレーザ光が透過する部分を有するハウジ
ングと、ハウジングに配置され、レーザ光の偏向面に応
じて透過し又は反射する光分離素子と、ハウジングに配
置され、反射面が光分離素子の分離面と平行に配置され
たレーザ光を反射する反射ミラーと、光分離素子の光出
射面に配置され、レーザ光の偏光状態を変更する1/4
波長板と、ディスクからの反射光を光検出器に導くため
の複数の領域を有する回折格子とを有し、ハウジングと
光分離素子と反射ミラーと1/4波長板と回折格子とが
一体に構成されていることを特徴とする光ピックアップ
であって、信号強度が大きく小型化に構成した光ピック
アップを提供することができる。
【0012】また、本発明の請求項2から5に記載の発
明は、レーザ光を出射する半導体レーザと、ディスクか
らの反射光を検出するため複数の受光素子で構成される
光検出器と、半導体レーザと光検出器とを載置した基板
部材と、半導体レーザと光検出器と基板部材とを封止し
レーザ光が透過する部分を有するハウジングと、ハウジ
ングに配置され、レーザ光を透過し又は反射するハーフ
ミラーと、ハウジングに配置され、反射面が光分離素子
の分離面と平行に配置されたレーザ光を反射する反射ミ
ラーと、ディスクからの反射光を光検出器に導くための
複数の領域を有する回折格子とを有し、ハウジングとハ
ーフミラーと反射ミラーと回折格子とが一体に構成され
ていることを特徴とする光ピックアップであって、信号
強度が大きく小型化にしかも安価に構成した光ピックア
ップを提供することができる。
【0013】さらにまた、本発明の請求項6から9に記
載の発明は、請求項1に記載の発明の回折格子を形成す
る位置を様々に応用したものである。そして請求項10
に記載の発明は、請求項1又は2に記載の光ピックアッ
プを利用した光ディスク装置である。
【0014】(実施の形態1)図1は本発明における光
ピックアップの要部構成図を示す。レーザ光を出射する
半導体レーザ1と、半導体レーザの光を分離する偏光ビ
ームスプリッタ2と半導体レーザ1の光を反射するミラ
ー3と、半導体レーザ光の直線偏光状態を円偏光に変換
する1/4波長板4と光ディスクからの反射光を検出器
6に導く2つの領域よりなる回折格子5と、光ディスク
からの光を検出する中心の垂直線が光の光軸と一致する
ように配置され、分割線が光ディスクのトラック方向と
平行および直交する田の字型の4分割受光素子6-A(図
3参照)と4分割受光素子の側に分離して配置される少
なくとも2以上の分割受光素子6-B(図3参照)とを1
枚のヒートシンク上に形成した光検出器6から構成され
る。
【0015】これらの構成要素は、半導体レーザ1と光
検出器6がハウジングされ、ハウジング上で中心が半導
体レーザ1の光軸と一致するように配置された偏光ビー
ムスプリッタ2と、偏光ビームスプリッタ2と平行でか
つ反射光が受光素子に垂直に入射するようにミラー3が
配置され、1/4波長板4を光学軸が半導体レーザ1の
偏光方向に対して45度傾けて偏光ビームスプリッタ2
の光出射面に設け、回折格子5を偏光ビームスプリッタ
2の反射ミラー面で光が反射される方向の対向する面に
設けた構造を有し、一体に構成している。
【0016】なお、回折格子5はミラー3側または偏光
ビームスプリッタ2側のいずれに形成されてもよい。
【0017】また、光検出器6により得られる電流信号
を電圧信号に変換する回路を内蔵してもよい。
【0018】また、偏光ビームスプリッタ2の代わりに
ハーフミラーあるいはハーフプリズムを使用してもよ
く、1/4波長板4を設けなくてもよい。
【0019】半導体レーザ1からの光は偏光ビームスプ
リッタ2を透過し1/4波長板4により半導体レーザ光
の直線偏光が円偏光に変換され本光学素子から出射さ
れ、以降の光学部品を通り光ディスクに到達する。光デ
ィスクからの反射光は再び1/4波長板4を透過するこ
とで本光ピックアップに入射する。1/4波長板4を透
過した入射光は、半導体レーザ1からの出射光の直線偏
光と直交する直線偏光に変換され偏光ビームスプリッタ
2で反射した後、回折格子5に入射する。回折格子5の
透過光(0次回折光)は、反射ミラー3で反射された後
田の字型の4分割受光素子6-Aに到達する。
【0020】一方回折格子5の1次回折光は、反射ミラ
ー3で反射された後田の字型の4分割受光素子6-Aの側
に分離して配置される分割受光素子6-Bに導かれ受光さ
れる。ここで図2は回折格子5の形状を示し、図3は光
検出器6の構成を示し田の字型の4分割受光素子6-A
と、分離して配置される受光素子6-Bが2分割の場合を
示す。回折格子5は2領域からなり、領域1あるいは領
域2からの1次回折光は、合焦時は2分割受光素子6-B
の中心分割線上に集光し、光ディスクが遠ざかる時は2
分割受光素子6-Bの中心から受光素子E側に移動し、逆
に光ディスクが近づく時は受光素子F側に移動する。
【0021】以上の動作において、RF信号は田の字型の
4分割受光素子6-Aで検出される電流出力を電圧信号に
変換した総和より検出し、トラッキングエラー信号は田
の字型の4分割受光素子6-Aの対角の受光素子のそれぞ
れの和電圧信号(A+C)、(B+D)をそれぞれコンパレータ
ーでディジタル波形に変換し、それらの位相差に応じた
パルスを積分回路を通してアナログ波形に変換すること
で検出する。またフォーカスエラー信号は2分割受光素
子6-Bの差信号により検出する。
【0022】(実施の形態2)図4は本発明における第
2の実施の形態における光ピックアップの要部構成図を
示す。図4(a)においてレーザ光を出射する半導体レ
ーザ1と、半導体レーザの光を分離する偏光ビームスプ
リッタ2と半導体レーザ1の光を反射する反射ミラー3
と、半導体レーザ1の光の直線偏光状態を円偏光に変換
する1/4波長板4と光ディスクからの光を検出器に導
く2領域よりなる回折格子5と、光ディスクからの光を
検出する中心の垂直線が光の光軸と一致するように配置
され、分割線が光ディスクのトラック方向と平行および
直交する田の字型の4分割受光素子6-Aと4分割受光素
子6-Aの側に分離して配置される少なくとも2つ以上に
分割されている受光素子6-Bよりなる光検出器6から構
成される。
【0023】これ等の構成要素は半導体レーザ1と光検
出器6がハウジングされ、ハウジング上で中心が半導体
レーザ1の光軸と一致するように配置された偏光ビーム
スプリッタ2と偏光ビームスプリッタ2と平行に反射ミ
ラー3が配置され、1/4波長板4を光学軸が半導体レ
ーザ1の偏光方向に対して45度傾けて偏光ビームスプ
リッタ2の光出射面に設け、回折格子5をハウジング面
と接する反射ミラー3の下面に設けた構造を有し、一体
に構成している。
【0024】なお、回折格子5は、ミラー3側または、
ハウジング(例えば、キャンに設けられたガラス窓)側
のいずれに形成されてもよい。特にハウジング側に形成
した場合は、偏光ビームスプリッタ2とミラー3とを一
体に形成することができる。また、図4(b)において
光検出器6により得られる電流信号を電圧信号に変換す
る回路を内蔵してもよく、また偏光ビームスプリッタ2
と反射ミラー3の配置を入れ替えた構造にしてもよい。
さらに偏光ビームスプリッタ2の代わりにハーフミラー
あるいはハーフプリズムを使用してもよく、1/4波長
板4を設けなくてもよい。
【0025】半導体レーザ1からの光は偏光ビームスプ
リッタ2を透過し1/4波長板4により半導体レーザ1
の光の直線偏光が円偏光に変換され本光ピックアップか
ら出射され、後述する光学経路を通り光ディスクに到達
する。光ディスクからの反射光は再び1/4波長板4を
透過することで本光ピックアップに入射する。1/4波
長板4を透過した入射光は、半導体レーザ1からの出射
光の直線偏光と直交する直線偏光に変換され偏光ビーム
スプリッタ2で反射し、さらに反射ミラー3で反射され
た後回折格子5に入射する。回折格子5の透過光(0次
回折光)は、田の字型の4分割受光素子6-Aに到達す
る。一方回折格子5の1次回折光は、田の字型の4分割
受光素子6-Aの側に分離して配置される分割受光素子6
-Bに導かれ受光される。
【0026】以下実施の形態1と同様にして信号を検出
する。また、図4(c)に示すように、反射型回折格子
40をミラー3の斜面に形成してもよい。特にこの場合
偏光ビームスプリッタ2とミラーとを一体に形成するこ
とでコストダウンとなる。
【0027】(実施の形態3)次に、第3の実施の形態
を図5を用いて説明する。図5は本発明の光ピックアッ
プ8と立ち上げミラー9と2つの対物レンズ10,11
により構成される光ピックアップの全体図である。図中
一方の対物レンズ10はCD光ディスクの情報を読み取
るためで、もう一方の対物レンズ11はSD光ディスク
の情報を読み取るためであり、光ディスクに応じて機械
的に切り換えられる。本発明の光ピックアップから出射
されたレーザ光は立ち上げミラー9で反射された後、読
み取る光ディスクに応じて対物レンズ10あるいは対物
レンズ11により光ディスク12に集光される。光ディ
スク12からの反射光は再び対物レンズ10あるいは対
物レンズ11を透過し、立ち上げミラー9で反射された
後、光ピックアップ8に入射する。光ピックアップ8に
入射した光は実施の形態1で説明した動作と同様にして
光ディスク12からの信号を読み取ることができる。
【0028】(実施の形態4)次に、第4の実施の形態
を図6を用いて説明する。図6は本発明の光ピックアッ
プ13とコリメーターレンズ14と立ち上げ反射ミラー
15と2つの対物レンズ16,17により構成される光
ピックアップである。図中一方の対物レンズ16はCD
光ディスクの情報を読み取るためで、もう一方の対物レ
ンズ17はSD光ディスクの情報を読み取るためであ
り、光ディスクに応じて機械的に切り換えられる。本光
学素子13から出射されたレーザ光はコリメーターレン
ズ14により平行光に変換された後、立ち上げミラー1
5で反射され読み取る光ディスクに応じて対物レンズ1
6あるいは対物レンズ17により光ディスク18に集光
される。光ディスク18からの反射光は再び対物レンズ
16あるいは対物レンズ17を透過し、立ち上げミラー
15で反射された後、コリメーターレンズ14を透過し
光学素子13に入射する。光学素子13に入射した光は
(実施の形態1)で説明した動作により光ディスク18
からの信号を読み取ることができる。なお1/4波長板
を光学素子13に設けない場合は、光学素子と対物レン
ズの途中に1/4波長板を挿入してもよい。
【0029】また、以上のように構成された光ピックア
ップを光ディスク装置に利用することにより、動作の安
定した光ディスク装置を提供することができる。
【0030】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、RF信号
とトラッキングエラー信号とを、0次回折光を用いて検
出するので小型で十分な信号強度を確保できる光ピック
アップを提供することが可能になる。そして動作の安定
した光ディスク装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における光ピックアップの要部構成図
【図2】本発明における回折格子の形状を示す図
【図3】本発明における光検出器の構成を示す図
【図4】本発明における光ピックアップの要部構成図
【図5】本発明における光ピックアップによる光ピック
アップの全体構成図
【図6】本発明における光学素子による光ピックアップ
の全体構成図
【図7】従来の光学素子の構成図
【図8】従来の光ピックアップの構成図
【符号の説明】
1、21、31 半導体レーザ 2 偏光ビームスプリッタ 3 反射ミラー 4 1/4波長板 5、22 回折格子 6、24、38 光検出器 8、13 光ピックアップ 9、15、34 立ち上げミラー 10、11、16、17、35 対物レンズ 12、18、36 光ディスク 14、33 コリメーターレンズ 23 ホログラム 25 カバーガラス 32 ハーフミラー 37 検出レンズ 40 反射形回折格子

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ディスク状の記録媒体に情報を記録し、又
    は情報を再生する光ピックアップであって、 レーザ光を出射する半導体レーザと、 ディスクからの反射光を検出するため複数の受光素子で
    構成される光検出器と、 前記半導体レーザと光検出器とを載置した基板部材と、 前記半導体レーザと光検出器と基板部材とを封止しレー
    ザ光が透過する部分を有するハウジングと、 前記ハウジングに配置され、レーザ光の偏向面に応じて
    透過し又は反射する光分離素子と、 前記ハウジングに配置され、反射面が前記光分離素子の
    分離面と平行に配置されたレーザ光を反射する反射ミラ
    ーと、 前記光分離素子の光出射面に配置され、レーザ光の偏光
    状態を変更する1/4波長板と、 ディスクからの反射光を前記光検出器に導くための複数
    の領域を有する回折格子とを有し、 前記ハウジングと前記光分離素子と前記反射ミラーと前
    記1/4波長板と前記回折格子とが一体に構成されてい
    ることを特徴とする光ピックアップ。
  2. 【請求項2】ディスク状の記録媒体に情報を記録し、又
    は情報を再生する光ピックアップであって、 レーザ光を出射する半導体レーザと、 ディスクからの反射光を検出するため複数の受光素子で
    構成される光検出器と、 前記半導体レーザと光検出器とを載置した基板部材と、 前記半導体レーザと光検出器と基板部材とを封止しレー
    ザ光が透過する部分を有するハウジングと、 前記ハウジングに配置され、レーザ光を透過し又は反射
    するハーフミラーと、 前記ハウジングに配置され、反射面が前記光分離素子の
    分離面と平行に配置されたレーザ光を反射する反射ミラ
    ーと、 ディスクからの反射光を前記光検出器に導くための複数
    の領域を有する回折格子とを有し、 前記ハウジングと前記ハーフミラーと前記反射ミラーと
    前記回折格子とが一体に構成されていることを特徴とす
    る光ピックアップ。
  3. 【請求項3】前記回折格子は2つの領域を有することを
    特徴とする請求項1または請求項2記載の光ピックアッ
    プ。
  4. 【請求項4】前記光検出器は、その検出面がディスクか
    らの反射光の光軸と垂直を成すように配置され田の字型
    に4分割された受光素子と、前記4分割された受光素子
    から所要の距離だけ離隔した位置に配置され二の字型に
    少なくとも2分割された受光素子とを有し、1枚のヒー
    トシンクに配置されたことを特徴とする請求項1または
    請求項2記載の光ピックアップ。
  5. 【請求項5】前記光検出器は、前記回折格子の0次回折
    光を前記4分割された受光素子で検出し、前記回折格子
    の1次回折光を前記2分割された受光素子で検出するこ
    とを特徴とする請求項4記載の光ピックアップ。
  6. 【請求項6】前記回折格子は前記光分離素子と前記反射
    ミラーとの接合面であって前記反射ミラーの側に形成し
    たことを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ。
  7. 【請求項7】前記回折格子は前記光分離素子と前記反射
    ミラーとの接合面であって前記光分離素子の側に形成し
    たことを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ。
  8. 【請求項8】前記回折格子は前記反射ミラーと前記ハウ
    ジングとの接合面であって前記反射ミラーの側に形成し
    たことを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ。
  9. 【請求項9】前記回折格子は前記反射ミラーと前記ハウ
    ジングとの接合面であって前記ハウジングの側に形成し
    たことを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ。
  10. 【請求項10】請求項1又は請求項2に記載の光ピック
    アップを有する光ディスク装置。
JP8128015A 1996-05-23 1996-05-23 光ピックアップ Pending JPH09312033A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8128015A JPH09312033A (ja) 1996-05-23 1996-05-23 光ピックアップ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8128015A JPH09312033A (ja) 1996-05-23 1996-05-23 光ピックアップ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09312033A true JPH09312033A (ja) 1997-12-02

Family

ID=14974382

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8128015A Pending JPH09312033A (ja) 1996-05-23 1996-05-23 光ピックアップ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09312033A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7002893B2 (en) 2000-03-09 2006-02-21 Sharp Kabushiki Kaisha Optical head with passive temperature compensation
CN109672082A (zh) * 2019-01-23 2019-04-23 南京华捷艾米软件科技有限公司 一种内置监测出射激光功率的激光模组及其监测方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7002893B2 (en) 2000-03-09 2006-02-21 Sharp Kabushiki Kaisha Optical head with passive temperature compensation
CN109672082A (zh) * 2019-01-23 2019-04-23 南京华捷艾米软件科技有限公司 一种内置监测出射激光功率的激光模组及其监测方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3155287B2 (ja) 光情報記録再生装置
JP2001244542A (ja) 半導体レーザ装置および光ピックアップ装置
JP2000030288A (ja) 光ピックアップ素子
US6400666B1 (en) Optical pickup device
US5570334A (en) Optical pickup with a double refraction polarizing plate to split light beams into two polarized beams
JP3520675B2 (ja) 光ピックアップ
JPH09312033A (ja) 光ピックアップ
JP3489816B2 (ja) 光ピックアップ装置
JPH08287511A (ja) 光ピックアップ装置及び光検出装置
KR0127519B1 (ko) 광픽업장치
EP0534373A2 (en) Optical pickup device
JP2636245B2 (ja) 光磁気記憶用光ヘッド
JPS6123575B2 (ja)
KR100211819B1 (ko) 광 픽업 장치
JP3366527B2 (ja) 光学ヘッド装置
JP3162167B2 (ja) 光ヘッド
KR100211820B1 (ko) 광 픽업 장치
KR960006094B1 (ko) 광픽업장치
JP2000076690A (ja) 光学ヘッド装置
KR0130607B1 (ko) 광자기디스크재생시스템의 광픽업장치
JPH11110782A (ja) 半導体レーザ装置
KR200335121Y1 (ko) 웨이브 가이드형 광픽업 장치
JP3384485B2 (ja) 光ヘッド、光学記録再生装置、および光学ユニット
KR100711345B1 (ko) 더블 레이어 수광소자 및 이를 이용한 광픽업장치
KR19980058055A (ko) 광 픽업 장치