JPH09311098A - ガスサンプリング装置 - Google Patents

ガスサンプリング装置

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JPH09311098A
JPH09311098A JP15151696A JP15151696A JPH09311098A JP H09311098 A JPH09311098 A JP H09311098A JP 15151696 A JP15151696 A JP 15151696A JP 15151696 A JP15151696 A JP 15151696A JP H09311098 A JPH09311098 A JP H09311098A
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dust
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功 四郎丸
Naohito Shimizu
直仁 清水
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ダストの溜まりを可及的に少なくし、定期点
検を合理的かつ円滑に行うことができるガスサンプリン
グ装置を提供すること。 【解決手段】 ガス採取部2とガス分析装置4とを結ぶ
サンプルガス供給路3に、ガス採取部2によって採取さ
れたサンプルガスSとしての燃焼排ガスG中に含まれる
粉塵や煤塵Dを分離除去するためのサイクロン7を設け
たガスサンプリング装置において、前記サイクロン7の
下部にサイクロン7とエジェクタ14をその排出流路1
4bが垂直状態になるように設け、このエジェクタ7に
エジェクトエアーEAを供給する配管15を設けるとと
もに、エジェクタ7にパージエアーPAを供給する配管
19を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば、ボイラ
ーなどから排出される燃焼排ガスの一部をサンプルガス
としてガス分析装置に供給するためのガスサンプリング
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、石炭を燃焼させるボイラーから
排出される燃焼排ガス中のSO2 、NOX 、CO2 、C
Oなどの成分を連続分析する場合、前記燃焼排ガスの一
部をサンプリングし、これをサンプルガスとしてガス分
析装置に連続的に供給する必要がある。ところで、ボイ
ラーからの燃焼排ガス中には、多量の粉塵や煤塵(以
下、これらを総称してダストという)が混入しており、
ガスサンプリング時にダストを分離除去する必要があ
る。
【0003】図5は、従来のガスサンプリング装置の一
例を示すもので、この図において、41は煙道で、矢印
で示すように燃焼排ガスGが流れている。42はこの煙
道41に挿入配置されるガス採取部としての採取プロー
ブで、この採取プローブ42の後段のサンプルガス供給
路43には、電磁弁44、下部にエジェクタ45を水平
方向に備えたサイクロン46、電磁弁47、冷却器4
8、吸引ポンプ49などを介してガス分析装置50が設
けられている。
【0004】前記エジェクタ45は、その流路が水平に
なるようにサイクロン46の下端部に設けられ、その水
平な一方の側からエジェクタ用エアーEAを供給するた
めのエアー供給管51が接続され、他方の側は排出管5
2に接続されている。また、サンプルガス供給路43の
サイクロン46と電磁弁47との間の点53とエジェク
タ45との間には、電磁弁54を備えた流路55が接続
され、さらに、この流路55の電磁弁54とエジェクタ
45との間の点56には電磁弁57を有し、パージエア
ーPAを供給するための流路58が接続されている。
【0005】上記ガスサンプリング装置においては、測
定時(ガスサンプリング時)には、電磁弁44,47を
開くとともに、電磁弁54,57を閉じ、吸引ポンプ4
9を動作させることにより、煙道41を流れる燃焼排ガ
スGの一部が採取プローブ42を介してサンプルガス供
給路43にサンプルガスとして取り込まれる。このサン
プルガスは、サイクロン46においてダストが分離除去
された後、冷却器48を経てガス分析装置50に供給さ
れる。一方、サイクロン46において分離除去されたダ
ストは、サイクロン46の下方に水平に設けられている
エジェクタ45において、エジェクト用エアーEAによ
りスイープされ、排出管52を経て図示してないダスト
収容部に収容される。
【0006】このように、上記ガスサンプリング装置に
おいては、サンプリング並びにガス分析になんら影響を
及ぼすことなく、つまり、サンプリングや分析を中断し
たり停止することなく、高濃度ダストを含むサンプルガ
スから高濃度ダストを連続的に分離・処理することがで
き、したがって、高速応答のガス分析装置に対しても連
続的にサンプルガスを供給することができる。
【0007】そして、一定の時間連続的に測定を行った
後は、ガスサンプリング(および測定)を停止して、 電磁弁44,47を閉じ、電磁弁54,57を開い
た状態でパージエアーPAを供給して、サイクロン46
内を清掃したり、 電磁弁47を閉じ、電磁弁44,54,57を開い
た状態でパージエアーPAを供給して、プローブ42を
ブローバックしたり、 電磁弁47,54を閉じ、電磁弁44,57を開い
た状態でパージエアーPAを供給して、エジェクタ45
をブローバックするなどして、ガスサンプリング装置内
に溜まっているダストを追い出す(パージする)ように
している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のガスサンプリング装置においては、エジェクタ45
が水平に設けられているため、その内部においてダスト
の詰まりが生じやすく、また、定期点検時において、ブ
ローバックを行う場合、パージエアーPAが圧力損失の
低い方、つまり、採取プローブ42方向に流れ、均一に
ブローバックを行えないといった不都合があった。
【0009】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、その目的は、ダストの溜まりを可及的に少な
くし、定期点検を合理的かつ円滑に行うことができるガ
スサンプリング装置を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明では、ガス採取部とガス分析装置とを結ぶ
サンプルガス供給路に、ガス採取部によって採取された
サンプルガスとしての燃焼排ガス中に含まれる粉塵や煤
塵を分離除去するためのサイクロンを設けたガスサンプ
リング装置において、前記サイクロンの下部に分離され
た粉塵や煤塵を排出するためのエジェクタをその排出流
路が垂直状態になるように設け、このエジェクタにエジ
ェクトエアーを供給する配管を設けるとともに、エジェ
クタにパージエアーを供給する配管を設けるようにして
いる。
【0011】上記構成のガスサンプリング装置において
は、エジェクタを垂直方向に設けているので、エジェク
タにおいてダストが詰まるようなことがなくなる。
【0012】そして、エジェクタにパージエアーを供給
する配管を設けているので、定期点検時においてブロー
バックを行うことができ、ダストの排除を確実に行うこ
とができる。この場合、エジェクタにパージエアーによ
るブローバックの良否を確認するためのブローバックモ
ニター機構を設けてあれば、ブローバックにおけるエア
ー圧の設定や、実施頻度あるいはパージ時間などを合理
的に設定することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、この発明の好ましい実施例
を、図を参照しながら説明する。図1〜図3は、この発
明のガスサンプリング装置の一例を示すもので、まず、
図1において、1は煙道で、矢印で示すように燃焼排ガ
スGが流れている。2はこの煙道1に挿入配置されるガ
ス採取部としての採取プローブで、この採取プローブ2
によって、燃焼排ガスGの一部がサンプルガスSとして
採取される。そして、この採取プローブ2は、サンプル
ガス供給路3を介してガス分析装置4に接続されてい
る。
【0014】前記ガス分析装置4は、詳細には図示して
ないが、ガス分析計、制御・データ処理などを行うマイ
クロコンピュータ、表示部などを備えており、サンプル
ガス供給路3を経て供給されるサンプルガスS中のSO
2 、NOX 、CO2 、COなどの成分のうちの一つまた
は複数を連続的かつ高速応答で分析できるように構成さ
れている。
【0015】前記サンプルガス供給路3は、次のように
構成されている。すなわち、5は採取プローブ2に連な
る冷却管で、サンプルガスSとして採取された燃焼排ガ
スG(以下、サンプルガスSという)を空冷または水冷
方式で所定の温度に冷却するように構成され、二方電磁
弁よりなる開閉弁6が設けられている。
【0016】7は冷却管5の下流側に設けられるサイク
ロン(遠心力集塵装置)で、サンプルガスSからダスト
Dを遠心分離する遠心分離部7aとその下方のダスト沈
降室7bとからなる。
【0017】なお、サイクロンにおいては、ガス中のダ
ストを分離・除去処理する能力は、ガスの流入する入口
の口径、遠心分離部の円筒部の内径や高さ、ガスの流入
速度(前記口径に密接に関連している)などによって、
分離・除去できるダストの粒径の範囲が決定される。例
えば、前記口径を小さくして流入速度を大きくしたり、
あるいは、内径を小さくするほど、より小さいダストを
分離・処理できる。したがって、この実施例におけるサ
イクロン7も、ダストを最良の状態で分離・除去できる
ように構成されている。
【0018】8はサイクロン7の上部側に接続される流
路8で、この流路8には二方電磁弁よりなる開閉弁9、
熱交換器10、吸引ポンプ11がこの順で設けられ、ポ
ンプ11の下流側にガス分析装置4が設けられている。
【0019】12はその下流側が流路8のサイクロン7
と開閉弁9との間に接続されるパージエアー供給路で、
上流側はエアー源(図示してない)に接続され、二方電
磁弁よりなる開閉弁13を備えている。
【0020】14はサイクロン7の下方、より具体的に
は、ダスト沈降室7bの下部に一体的に設けられるダス
ト排出用のエジェクタで、図2および図3に示すよう
に、ベンチュリ部14aによって形成され、ダストを排
出するための排出流路14bが垂直になるように設けら
れている。
【0021】前記エジェクタ14における構成を、図2
および図3をも参照しながら説明すると、15はエジェ
クタ14にエジェクト用エアーEAを供給するためのエ
アー供給路で、その上流側はエアー源(図示してない)
に接続され、その末端のノズル部15aは、エジェクタ
14のベンチュリ部14aに臨むようにして設けられて
いる。16はエジェクタ14の下端に接続される排出管
で、その端部はダスト収容部17に接続されている。
【0022】18はエジェクタ14に設けられるブロー
バック機構で、次のように構成されている。すなわち、
19はエジェクタ14のベンチュリ部14aに対してパ
ージエアーPAを供給するパージエアー供給管、20は
パージ後のエアーを排出するパージエアー排出管で、両
者19,20はベンチュリ部14aを挟んで対向してお
り、一直線状に配置されている。そして、パージエアー
供給管19、パージエアー排出管20にはそれぞれ二方
電磁弁よりなる開閉弁21,22が設けられ、パージエ
アー供給管19の上流側はエアー供給路15に接続さ
れ、パージエアー排出管20の下流側は排出管16に接
続されている。
【0023】23はブローバック機構18によるブロー
バックの良否をモニターするブローバックモニター機構
で、次のように構成される。すなわち、24は端部にレ
ンズまたは光透過部材よりなる窓25を備えるととも
に、他端側に光源26を備えた投光側の光ファイバ、2
7は端部にレンズまたは光透過部材よりなる窓28フォ
トセンサ29を備えた受光側の光ファイバで、両者2
4,27はその窓25,28を互いに対向させて、エジ
ェクタ14のベンチュリ部14aにおける排出流路14
bに臨むように配置されている。そして、両光ファイバ
24,27は、それらの窓25,28を結ぶ線が、図3
に示すように、パージエアー供給管19とパージエアー
排出管20とを結ぶ線と同じ高さ位置において直交する
ようにして設けられている。
【0024】前記光ファイバ24,27としては、耐熱
性、耐腐蝕性を備えるとともに、汚れやダストに対して
強靱な性質を有するものがよい。また、光ファイバ2
4,27の端部の窓25,28は、詳細には図示してな
いが、シール材などを介して設けられている。さらに、
フォトセンサ29の出力は、透過光モニタ信号として、
例えばガス分析装置4に設けられたマイクロコンピュー
タに入力される。
【0025】上述の構成よりなるガスサンプリング装置
の動作について、開閉弁6,9,13,21,22の開
閉タイミングを示す図4を参照しながら説明する。
【0026】まず、測定中の動作ダストについて説明す
る。測定を行う場合は、開閉弁6,9を開き、開閉弁1
3,21,22を閉じ、吸引ポンプ11を動作させる。
そして、エアー供給路15を介してエジェクトエアーE
Aを所定の圧力でエジェクタ14に供給する。
【0027】前記吸引ポンプ11の動作により、採取プ
ローブ2を介して煙道1を流れる燃焼排ガスGの一部が
サンプルガス供給路3の冷却管5に導入され、サンプル
ガスSとなる。このサンプルガスSは、冷却管5におい
て適宜の温度に冷却され、サイクロン7に導入される。
このサイクロン7に導入されたサンプルガスSは、遠心
分離部7aにおいて遠心分離によって、それに含まれる
ダストDが分離・除去され、この分離・除去されたダス
トDはダスト沈降室7bに落下し収容される。
【0028】前記サイクロン7においてダストDが分離
・除去されたサンプルガスSは、流路8を経てガス分析
装置4に至り、ガス分析部に供せられ、これによって、
所定のガス分析が行われる。
【0029】そして、前記サイクロン7においてサンプ
ルガスSから分離・除去されたダストDは、エアー供給
路15の端部のノズル部15aから吹き出されるエジェ
クトエアーEAの気流に乗って下方に強く導かれ、排出
管16を経てダスト収容部17に収容される。
【0030】ガスサンプリング装置は、一定時間連続的
にガス分析(測定)のためのガスサンプリングを行った
後には、ダストパージを行う必要がある。次に、このパ
ージの詳細を、図4をも参照しながら説明する。
【0031】パージを行う場合は、開閉弁13を開き、
開閉弁9を閉じ、吸引ポンプ11を停止する。そして、
開閉弁6,21,22は、開閉弁9を閉じた直後から適
宜のインターバルで開閉を繰り返す。この場合、図4に
示すように、開閉弁21,22は常に同時に開または閉
となるようにし、開閉弁6は開閉弁21,22が開のと
きは閉、閉のときは開になるようにする。いずれの開閉
弁6,21,22も開と閉の時間が10秒となるように
する。
【0032】すなわち、前記開閉弁9を閉じた状態で、
パージエアー供給路12を介して所定圧力のパージエア
ーPAをサイクロン7内に供給し、サイクロン7内部に
付着しているダストDを吹き落とす。この吹き落とされ
たダストDは、ブローバック機構18の開閉弁21,2
2が閉じているときは、開閉弁6が開いているので、冷
却管5および採取プローブ2を介して煙道1に放出され
る。これにより、冷却管5および採取プローブ2がブロ
ーバックされ、これらの部位において所定のダストパー
ジが行われる。
【0033】そして、前記開閉弁21,22が開いてい
るときは、パージエアー供給路19を介して導入される
パージエアーPAによってパージエアー排出管20方向
に吹き飛ばされ、さらに、排出管16を経てダスト収容
部17に収容される。
【0034】上述のように、開閉弁6,21,22にお
いて開閉を交互に繰り返すようにしたのは、サイクロン
7内部やエジェクタ14内部におけるパージエアーPA
の圧力の低下をできるだけ少なくし、バージを効果的に
行なえるようにするためである。
【0035】上記パージは、それほど長く行う必要はな
く、例えば5分程度でよい。
【0036】そして、エジェクタ14には、ブローバッ
クモニター機構23が設けてあるので、前記ブローバッ
ク機構18によるブローバック状態を確認し、その良否
を判別することができる。すなわち、エジェクタ14に
ダストDが多く残留していれば、フォトセンサ29によ
って検出される光源26からの透過光量が小さく、逆
に、残留するダストDが少ないと、前記透過光量は大き
い。したがって、フォトセンサ29において検出される
透過光量に基づいてブローバック機構18によるブロー
バックの良否を判定できるのである。
【0037】そして、前記ブローバックモニター機構2
3によるモニター結果に基づいて、ブローバックにおけ
るエアー圧の設定や、その実施頻度、あるいは、パージ
時間の長さなどなどを合理的に設定することができる。
【0038】この発明は、上述の実施例に限られるもの
ではなく、例えば、エジェクタ14はサイクロン7と必
ずしも一体的に構成されてなくてもよく、両者7,14
が分離できるようにしてあってもよい。
【0039】そして、開閉弁6,21,22の開塀の動
作時間は、任意に設定することができる。また、開閉弁
6の動作タイミングを、開閉弁21,22の動作タイミ
ングと必ずしも合わせる必要はなく、例えば、開閉弁2
1,22が開状態になってから2秒後に閉じ、開閉弁2
1,22が閉状態になってから2秒後に開くようにして
もよい。
【0040】また、ダスト収容部17を設ける代わり
に、排出管16の下端側を煙道1に接続してもよい。
【0041】さらに、ブローバックモニター機構23を
構成する光ファイバー24,25は、ベンチュリ部14
aにおけるダストDの堆積の状態をモニターするもので
あるが、ブローバック機構18を構成するパージエアー
供給管19、パージエアー排出管20に対して、それら
の動作の妨げにならないように配置してあればよく、し
たがって、光ファイバー24,25の端部どうしを結ぶ
線と、パージエアー供給管19とパージエアー排出管2
0とを結ぶ線とが必ずしも直交していなくてもよい。
【0042】そして、この発明は、ボイラーの燃焼排ガ
スのみならず、排ガス中に多量に粉塵等を含むガス(高
ダストガス)のサンプリングに広く適用できることはい
うまでもない。
【0043】
【発明の効果】この発明は、以上のような形態で実施さ
れ、以下のような効果を奏する。
【0044】サンプルガス中のダストを連続的に分離・
除去できるのは勿論こと、サイクロンの下方にエジェク
タを垂直方向に設けているので、エジェクタにおいてダ
ストが詰まるようなことがなくなる。
【0045】そして、エジェクタにパージエアーを供給
する配管を設けているので、定期点検時においてブロー
バックを行うことができ、ダストの排除を確実に行うこ
とができる。
【0046】また、エジェクタにパージエアーによるブ
ローバックの良否を確認するためのブローバックモニタ
ー機構を設けた場合には、ブローバックにおけるエアー
圧の設定や、その実施頻度などを合理的に設定すること
ができる。
【0047】したがって、この発明のガスサンプリング
装置によれば、高速応答のガス分析装置に対しても連続
的にサンプルガスを供給することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明のガスサンプリング装置の構成を概略
的に示す図である。
【図2】サイクロンおよびその周辺の構成の一例を示す
縦断面図である。
【図3】エジェクタおよびその周辺の構成の一例を示す
斜視図である。
【図4】前記ガスサンプリング装置の動作説明のための
タイムチャートである。
【図5】従来技術を説明するための図である。
【符号の説明】
2…ガス採取部、3…サンプルガス供給路、4…ガス分
析装置、7…サイクロン、14…エジェクタ、14b…
排出流路、15…エジェクトエアー供給管、19…パー
ジエアー供給管、23…ブローバックモニター機構、G
…燃焼排ガス、S…サンプルガス、EA…エジェクトエ
アー、PA…パージエアー、D…ダスト(粉塵や煤
塵)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 秋山 重之 京都府京都市南区吉祥院宮の東町2番地 株式会社堀場製作所内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ガス採取部とガス分析装置とを結ぶサン
    プルガス供給路に、ガス採取部によって採取されたサン
    プルガスとしての燃焼排ガス中に含まれる粉塵や煤塵を
    分離除去するためのサイクロンを設けたガスサンプリン
    グ装置において、前記サイクロンの下部に分離された粉
    塵や煤塵を排出するためのエジェクタをその排出流路が
    垂直状態になるように設け、このエジェクタにエジェク
    トエアーを供給する配管を設けるとともに、エジェクタ
    にパージエアーを供給する配管を設けたことを特徴とす
    るガスサンプリング装置。
  2. 【請求項2】 エジェクタにパージエアーによるブロー
    バックの良否を確認するためのブローバックモニター機
    構を設けてなる請求項1に記載のガスサンプリング装
    置。
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