JPH09265900A - 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びこれらの製造方法 - Google Patents

電子放出素子、電子源、画像形成装置及びこれらの製造方法

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JPH09265900A
JPH09265900A JP7802496A JP7802496A JPH09265900A JP H09265900 A JPH09265900 A JP H09265900A JP 7802496 A JP7802496 A JP 7802496A JP 7802496 A JP7802496 A JP 7802496A JP H09265900 A JPH09265900 A JP H09265900A
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emitting device
emitting
thin film
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JP7802496A
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Tatsuya Iwasaki
達哉 岩崎
Takeo Tsukamoto
健夫 塚本
Masaaki Shibata
雅章 柴田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 より電子放出効率を高め、安定で長寿命な電
子放出素子を得ることが困難。 【解決手段】 通電による加熱により、少なくともその
一部に電子放出部5を形成してなる導電性薄膜4と、前
記加熱により反応性気体を分解することで、前記電子放
出部とその近傍に堆積してなる反応生成物999と、を有
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子放出素子、該
電子放出素子を用いた電子源、該電子源を用いた画像形
成装置及びこれらの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、電子放出素子としては大別し
て熱電子放出素子と冷陰極電子放出素子を用いた2種類
のものが知られている。冷陰極電子放出素子には電界放
出型(以下、「FE型」という。)、金属/絶縁層/金
属型(以下、「MIM型」という。)や表面伝導型電子
放出素子等がある。FE型の例としては、W. P. Dyke&
W. W. Dolan、"Field emission"、Advance in Electron P
hysics、8、89(1956)あるいはC.A.Spindt,"PHYSICAL Pr
operties of thin-film fieldemission cathodes with
molybdenium cones",J.Appl.Phys.,47,5248(1976) 等
に開示されたものが知られている。MIM型の例として
はC. A. Me ad、”Operation of Tunnel-Emission Devic
es”、J. Apply. Phys. 、32、646 (1961)等に開示され
たものが知られている。
【0003】表面伝導型電子放出素子型の例としては、
M.I. Elinson、Radio Eng. ElectronPys. 、10、1290,(19
65)等に開示されたものがある。表面伝導型電子放出素
子は、基板上に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行
に電流を流すことにより、電子放出が生ずる現象を利用
するものである。この表面伝導型電子放出素子として
は、前記エリンソン等によるSnO2薄膜を用いたも
の、Au薄膜によるもの[G. Dittmer:"Thin Solid Fil
ms"、9、317(1972)]、In23/SnO2薄膜によるもの
[M. Hartwell and C. G. Fonstad:"IEEE Trans. ED C
onf. "、519(1975)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久
他:真空、第26巻、第1号、22頁(1983)]等が
報告されている。
【0004】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行う前に導電性薄膜を予め通電フ
ォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出部を形
成するのが一般的であった。即ち、通電フォーミングと
は前記導電性薄膜両端に直流電圧あるいは非常にゆっく
りとした昇電圧例えば1V/分程度を印加通電し、導電
性薄膜を局所的に破壊、変形もしくは変質せしめ、電気
的に高抵抗な状態にした電子放出部を形成することであ
る。
【0005】尚、電子放出部は導電性薄膜の一部に亀裂
が発生しその亀裂付近から電子放出が行われると考える
ことができる。前記通電フォーミング処理をした表面伝
導型電子放出素子は、上述導電性薄膜に電圧を印加し、
素子に電流を流すことにより、上述電子放出部より電子
を放出せしめるものである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記の表面伝導型電子
放出素子については、適用した画像形成装置が明るい表
示画像を長期にわたり安定して提供できるよう、更に安
定で長寿命な電子放出特性及び電子放出の効率向上が要
望されている。ここでの効率は、表面伝導型電子放出素
子の一対の素子電極に電圧を印加した際に、両電極間を
流れる電流(以下、「素子電流」という。)と真空中に
放出される電流(以下、「電子放出電流」という。)と
の比で評価されるものであり、素子電流が小さく、放出
電流が大きい電子放出素子が望まれている。安定的に制
御し得る電子放出特性と効率の向上及び長寿命化がなさ
れれば、例えば蛍光体を画像形成部材とする画像形成装
置においては、低電力(低電圧、低電流)で明るい高品
位な画像形成装置、例えばフラットテレビが実現でき
る。
【0007】また、低電力化にともない、画像形成装置
を構成する駆動回路等のロ−コスト化も図れる。しかし
ながら、従来の表面伝導型電子放出素子にあっては、安
定な電子放出特性、寿命及び電子放出効率について、必
ずしも満足のゆくものが得られておらず、これを用いて
高輝度で動作安定性に優れた画像形成装置を提供するの
は極めて難しいというのが実状である。本出願者によっ
て、上述の表面伝導型電子放出素子の特性の向上をはか
るために、フォーミング後、化学的気相成長法により、
電子放出部に金属を主成分とする被膜を被覆することが
行われている(特願平6−181286号)。
【0008】この手法においては、図21に示すよう
に、主に電子放出部及びその正極側の電子照射領域に金
属を主成分とする膜998が選択的に形成される。以下こ
の手法を活性化CVDと呼ぶ。
【0009】さて、表面伝導型放出素子は構造が単純で
製造も容易であることから、大面積にわた多数素子を配
列形成できる利点がある。そこで、この特徴を生かせる
ようないろいろな応用が研究されている。例えば、荷電
ビーム源、表示装置等があげられる。多数の表面伝導型
放出素子を配列形成した例としては、後述する様に、並
列に表面伝導型電子放出素子を配列し、個々の素子の両
端を配線(共通配線とも呼ぶ)で、それぞれ結線した行
を多数行配列した電子源があげられる(例えば、特開昭
64-031332号公報、特開平1-283749,2-257552号公報
等)。
【0010】また、特に表示装置等の画像形成装置にお
いては、近年、液晶を用いた平板型表示装置が、CRT
に替わって、普及してきたが、自発光型でないため、バ
ックライトを持たなければならない等の問題点があり、
自発光型の表示装置の開発が、望まれてきた。自発光型
表示装置としては、表面伝導型放出素子を多数配置した
電子源と電子源より放出された電子によって、可視光を
発光せしめる蛍光体とを組み合わせた表示装置である画
像形成装置が、あげられる(例えば、米国特許第506688
3号)。
【0011】これらを鑑み、本発明の目的は、第1に、
電子放出効率が高く、安定で長寿命な電子放出素子を提
供することにあり、第2に、上記電子放出素子を応用
し、高輝度で動作安定性に優れた電子源及び画像形成装
置およびこれらの製造方法を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
を解決するために鋭意検討を行って成されたものであ
り、下述する構成のものである。
【0013】本発明の第1の電子放出素子は、通電によ
る加熱により、少なくともその一部に電子放出部を形成
してなる導電性薄膜と、前記加熱により反応性気体を分
解することで、前記電子放出部とその近傍に堆積してな
る反応生成物と、を有することを特徴とするものであ
る。
【0014】本発明の第2の電子放出素子は、上記第1
の電子放出素子において、前記反応生成物が前記反応性
気体の中心元素を主成分とすることを特徴とするもので
ある。
【0015】本発明の第3の電子放出素子は、上記第1
又は第2の電子放出素子において、前記反応生成物が前
記導電性薄膜と比して、高融点であることを特徴とする
ものである。
【0016】本発明の第4の電子放出素子は、上記第1
又は第2の電子放出素子において、前記反応生成物が前
記導電性薄膜と比して、低仕事関数であることを特徴と
するものである。
【0017】本発明の第5の電子放出素子は、上記第1
〜第4のいずれかの電子放出素子において、前記反応生
成物の膜厚が50nm以下であることを特徴とするもので
ある。
【0018】本発明の第6の電子放出素子は、上記第1
〜第5のいずれかの電子放出素子において、前記電子放
出素子が表面伝導型電子放出素子であることを特徴とす
るものである。
【0019】本発明の第1の電子放出素子の製造方法
は、導電性薄膜を通電により加熱し、該加熱により、少
なくとも該導電性薄膜の一部に電子放出部を形成する処
理を、反応性気体雰囲気中で行うことを特徴とするもの
である。
【0020】本発明の第2の電子放出素子の製造方法
は、上記第1の電子放出素子の製造方法において、前記
導電性薄膜はその両端部がそれぞれ電極に電気的に接続
され、前記導電性薄膜への通電は両電極間への電圧印加
により行われることを特徴とするものである。
【0021】本発明の第3の電子放出素子の製造方法
は、上記第1又は第2の電子放出素子の製造方法におい
て、前記反応性気体が有機金属化合物であることを特徴
とするものである。
【0022】本発明の第4の電子放出素子の製造方法
は、上記第3の電子放出素子の製造方法において、前記
有機金属化合物がシクロペンタジエニル化合物であるこ
とを特徴とするものである。
【0023】本発明の第5の電子放出素子の製造方法
は、上記第1又は第2の電子放出素子の製造方法におい
て、前記反応性気体がカルボニル化合物であることを特
徴とするものである。
【0024】本発明の第6の電子放出素子の製造方法
は、第1〜第5のいずれかの電子放出素子の製造方法に
おいて、前記電子放出素子が表面伝導型電子放出素子で
あることを特徴とするものである。
【0025】本発明の第1の電子源は、入力信号に応じ
て電子を放出する電子源であって、請求項1〜6のいず
れかの電子放出素子を、基体上に複数個配置してなるも
のである。
【0026】本発明の第2の電子源は、上記第1の電子
源において、基体上に、複数の電子放出素子を一方向に
配置してなる素子列を一列又は2列以上有し、該素子列
の各電子放出素子を駆動するための配線がはしご状に配
されていることを特徴とするものである。
【0027】本発明の第3の電子源は、上記第1の電子
源において、基体上に、複数の電子放出素子を一方向に
配置してなる素子列を2列以上有し、該素子列の各電子
放出素子を駆動するための配線がマトリクス状に配され
ていることを特徴とするものである。
【0028】本発明の第1の画像形成装置は、入力信号
にもとづいて画像を形成する画像形成装置であって、少
なくとも、上記第1〜第3のいずれかの電子源と、該電
子源からの電子線の照射により画像を形成する画像形成
部材とを備えた画像形成装置である。
【0029】本発明の電子源の製造方法は、上記第1〜
第6のいずれかの電子放出素子の製造方法を用いて、同
一基板上に複数の電子放出素子を形成したことを特徴と
するものである。
【0030】本発明の画像形成装置の製造方法は、上記
第1〜6のいずれかの電子放出素子の製造方法を用いた
電子源と、該電子源からの電子線の照射により画像を形
成する画像形成部材とを有してなることを特徴とするも
のである。
【0031】本発明は上記構成の電子放出素子及びその
製造方法によって、上記活性化CVD法と同等もしくはそ
れ以上の効果、すなわち電子放出効率、寿命等の諸特性
の改善を成し得るものである。
【0032】また、活性化CVD法による堆積生成物は電
子放出部の正極側の電子照射領域に堆積するのに対し、
本発明による堆積生成物(反応生成物)は、電子放出部
及びその両側に堆積する傾向が強いという特徴がある。
図20(b)に示すように、活性化CVD法は電子放出
(照射)領域、つまり電子放出部における電子放出点の
周辺のみに堆積するため、時としてフォーミングで形成
された電子放出部の形状によっては、堆積が少ない部分
が生じることがあったが、本発明による製造方法(以下
フォーミング熱CVD法という)は、図20(a)に示す
ように、電子放出部全域にわたり一様に堆積するという
特徴があるため、電子放出量のさらなる増加が成されて
いる。
【0033】
【発明の実施の形態】本発明を適用し得る表面伝導型電
子放出素子の基本的構成には大別して、平面型及び垂直
型の2つがある。
【0034】(平面型表面伝導型電子放出素子)まず、
平面型表面伝導型電子放出素子について説明する。図1
は、本発明の電子放出素子を示す断面図であり、図2
(a)、(b)はそれを模式的に示す平面図、断面図で
ある。図1において、1は基板、2と3は素子電極、4
は導電性薄膜、5は電子放出部、999は反応生成物であ
る。なお素子電極2,3は導電性薄膜の端部を電極とし
て用いることができれば、必ずしも設けなくてもよい。
【0035】基板1としては、石英ガラス,Na等の不
純物含有量を減少したガラス,青板ガラス,青板ガラス
にスパッタ法等により形成したSiO2を積層したガラ
ス基板及びアルミナ等のセラミックス及びSi基板等を用
いることができる。
【0036】対向する素子電極2,3の材料としては、
一般的な導体材料を用いることができる。これは例えば
Ni,Cr,Au,Mo,W,Pt,Ti,Al,C
u,Pd等の金属或は合金及びPd,Ag,Au,Ru
2 ,Pd−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等か
ら構成される印刷導体、In2O3-SnO2等の透明導電体及び
ポリシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択するこ
とができる。
【0037】素子電極間隔L、素子電極長さW、導電性
薄膜4の形状等は、応用される形態等を考慮して設計さ
れる。素子電極間隔Lは、好ましくは、数百nm(ナノ
メートル)から数百μm(マイクロメートル)の範囲と
することができ、より好ましくは、素子電極間に印加す
る電圧等を考慮して数μmから数十μmの範囲とするこ
とができる。素子電極長さWは、電極の抵抗値、電子放
出特性を考慮して、数μmから数百μmの範囲とするこ
とができる。素子電極2、3の膜厚dは、数十nmから
数μmの範囲とすることができる。
【0038】尚、図1に示した構成だけでなく、基板1
上に、導電性薄膜4、対向する素子電極2,3の順に積
層した構成とすることもできる。
【0039】電子放出部5は、導電性薄膜4の一部に形
成された高抵抗の亀裂とその近傍にフォーミング熱CVD
法により堆積した反応生成物999により構成され、導電
性薄膜4の膜厚、膜質、材料及び後述するフォーミング
熱CVD法の手法等に依存したものとなる。電子放出部5
の内部には、0.1nmの数倍から数十nmの範囲の粒径
の導電性微粒子が存在する場合もある。この導電性微粒
子は、導電性薄膜4を構成する材料や反応生成物を構成
する材料の元素の一部、あるいは全ての元素を含有する
ものとなる。また、電子放出部5及びその近傍の導電性
薄膜4には、炭素及び炭素化合物を有することもでき
る。
【0040】導電性薄膜4には、良好な電子放出特性を
得るために、微粒子で構成された微粒子膜を用いるのが
好ましい。その膜厚は,素子電極2,3へのステップカ
バレージ、素子電極2,3間の抵抗値及び後述するフォ
ーミング条件等を考慮して適宜設定されるが、通常は、
0.1nmの数倍から数百nmの範囲とするのが好まし
く、より好ましくは1nmより50nmの範囲とするのが
良い。その抵抗値は、Rsが102〜107Ω/□の値である。
なおRsは、厚さがt、幅がwで長さがlの薄膜の抵抗Rを、
R=Rs(l/w)とおいたときに現れる抵抗値である。
【0041】ここで述べる微粒子膜とは、複数の微粒子
が集合した膜であり、その微細構造は、微粒子が個々に
分散配置した状態あるいは微粒子が互いに隣接、あるい
は重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合し、全体
として島状構造を形成している場合も含む)をとってい
る。微粒子の粒径は、0.1nmの数倍から数百nmの範
囲、好ましくは、1nmから20nmの範囲である。
【0042】なお、本明細書では頻繁に「微粒子」とい
う言葉を用いるので、その意味について説明する。小さ
な粒子を「微粒子」と呼び、これよりも小さなものを
「超微粒子」と呼ぶ。「超微粒子」よりもさらに小さく
原子の数が数百個程度以下のものを「クラスター」と呼
ぶことは広く行われている。しかしながら、それぞれの
境は厳密なものではなく、どの様な性質に注目して分類
するかにより変化する。また「微粒子」と「超微粒子」
を一括して「微粒子」と呼ぶ場合もあり、本明細書中で
の記述はこれに沿ったものである。
【0043】「実験物理学講座14 表面・微粒子」(木
下是雄 編、共立出版 1986年9月1日発行)では次のよ
うに記述されている。「本稿で微粒子と言うときにはそ
の直径がだいたい2〜3μm程度から10nm程度までと
し、特に超微粒子というときは粒径が10nm程度から2
〜3nm程度までを意味することにする。両者を一括し
て単に微粒子と書くこともあってけっして厳密なもので
はなく、だいたいの目安である。粒子を構成する原子の
数が2個から数十〜数百個程度の場合はクラスターと呼
ぶ。」(195ページ 22〜26行目)。
【0044】付言すると、新技術開発事業団の“林・超
微粒子プロジェクト”での「超微粒子」の定義は、粒径
の下限はさらに小さく、次のようなものであった。
【0045】「創造科学技術推進制度の“超微粒子プロ
ジェクト”(1981〜1986)では、粒子の大きさ(径)が
およそ1〜100nmの範囲のものを”超微粒子”(ultra f
ineparticle)と 呼ぶことにした。すると1個の超微粒子
はおよそ100〜108個くらいの原子の集合体ということに
なる。原子の尺度でみれば超微粒子は大〜巨大粒子であ
る。」(「超微粒子-創造科学技術-」林主税、上田良
二、田崎明 編;三田出版 1988年 2ページ1〜4行
目)、「超微粒子よりさらに小さいもの、すなわち原子
が数個〜数百個で構成される1個の粒子は、ふつうクラ
スターと呼ばれる」(同書2ページ12〜13行目)。
【0046】上記のような一般的な呼び方をふまえて、
本明細書において「微粒子」とは多数の原子・分子の集
合体で、粒径の下限は0.1nmの数倍〜1nm程度、上限
は数μm程度のものを指すこととする。
【0047】導電性薄膜4を構成する材料は、Pd,P
t,Ru,Ag,Au,Ti,In,Cu,Cr,F
e,Ni,Zn,Sn,Ta,W,Pb等の金属、Pd
O,SnO2,In23,PbO,Sb23等の酸化
物、Si,Ge等の半導体、カーボン等の中から適宜選
択される。導電性薄膜の材料としては、後述のフォーミ
ング工程を制御良く行い、一様な亀裂を再現性良く形成
することができることが望まれる。亀裂形成およびその
制御には、導電性薄膜の抵抗値、膜厚、膜質などが大き
な寄与をすることから、これらを制御しやすい材料であ
ることが望まれる。また、フォーミング工程に必要な電
力が小さいことも、特に多数の素子を同時にフォーミン
グする必要があるときに重要である。フォーミング電力
は、主として導電性薄膜の材料の物性値(融点、比抵
抗、熱伝導率など)に依存し、融点が高いときにフォー
ミング電力が大きい傾向がある。これらに、薄膜の安定
性なども考慮すると、上記の中でもPd,PdO,N
i,Pt,Au,PbOなどが望ましい。
【0048】反応生成物999を構成する材料は、W,L
a,Pt,Ru,Ir,Ti,Mo,Ta,Mg,B
a,Zr,Cs等の金属、MgO,BaO,Y23,L
23等の酸化物、HfB2,ZrB2,LaB6,Ce
6,YB4,GdB4等の硼化物、TiC,ZrC,H
fC,TaC,SiC,WC等の炭化物、Si,Ge等
の半導体等が挙げられる。
【0049】反応生成物、つまり表面伝導型電子放出素
子の電子放出部に望ましい材料としては、寿命、効率、
安定性などの電子放出特性を向上させる材料であるが、
その材料選択に対して系統だった結論は得られていない
のが現状である。しかし、表面伝導型電子放出素子も他
の熱電子放出素子や電界放出素子などとの関連から、高
電界、イオン衝撃、電子衝撃に耐えうる材料としての高
融点材料や、大きな放出電流が期待できる低仕事関数材
料などが視点となりうることは容易に想像される。他に
も化学的安定性、高電子反射率材料などにも視点を置く
ことできるであろう。また、後述の活性化工程において
さらに電子放出部に炭素及び炭素化合物を堆積すること
も可能であるが、その場合には炭素との密着性に優れる
材料という視点も挙げられる。
【0050】上述のように導電性薄膜として好ましい材
料と、電子放出部として好ましい材料は必ずしも一致し
ないことから、本発明の構成のような電子放出部に反応
生成物を堆積することにより電子放出特性に大きな効果
を示すものである。
【0051】(垂直型表面伝導型電子放出素子)次に、
垂直型表面伝導型電子放出素子について説明する。図2
(c)は、本発明の電子放出素子を適用できる垂直型表
面伝導型電子放出素子の一例を示す模式図である。
【0052】図2(c)においては、図2(a),
(b)に示した部位と同じ部位には図1に付した符号と
同一の符号を付している。21は段さ形成部である。基板
1、素子電極2及び3、導電性薄膜4、電子放出部5
は、前述した平面型表面伝導型電子放出素子の場合と同
様の材料で構成することができる。段さ形成部21は、真
空蒸着法,印刷法,スパッタ法等で形成されたSiO2
等の絶縁性材料で構成することができる。段さ形成部21
の膜厚は、先に述べた平面型表面伝導型電子放出素子の
素子電極間隔Lに対応し、数百nmから数十μmの範囲
とすることができる。この膜厚は、段さ形成部の製造方
法及び素子電極間に印加する電圧等を考慮して設定され
るが、数十nmから数μmの範囲が好ましい。
【0053】導電性薄膜4は、素子電極2及び3と段さ
形成部21作成後に、該素子電極2、3の上に積層され
る。電子放出部5は、図2(c)においては段差形成部
21に形成されているが、作成条件、フォーミング条件等
に依存し、形状、位置ともこれに限られるものでない。
【0054】(製造方法)上述の表面伝導型電子放出素
子の製造方法としては様々な方法があるが、その一例を
図3に模式的に示す。
【0055】以下、図2及び図3を参照しながら製造方
法の一例について説明する。図3においても、図2に示
した部位と同じ部位には図2に付した符号と同一の符号
を付している。
【0056】1) 基板1を洗剤、純水および有機溶剤
等を用いて十分に洗浄し、真空蒸着法、スパッタ法等に
より素子電極材料を堆積後、例えばフォトリソグラフィ
ー技術を用いて基板1上に素子電極2、3を形成する
(図3(a))。
【0057】2) 素子電極2、3を設けた基板1に、
有機金属溶液を塗布して、有機金属薄膜を形成する。有
機金属溶液には、前述の導電性薄膜4の材料の金属を主
元素とする有機金属化合物の溶液を用いることができ
る。有機金属薄膜を加熱焼成処理し、リフトオフ、エッ
チング等によりパターニングし、導電性薄膜4を形成す
る(図3(b))。ここでは、有機金属溶液の塗布法を
挙げて説明したが、導電性薄膜4の形成法はこれに限ら
れるものでなく,真空蒸着法、スパッタ法、化学的気相
堆積法、分散塗布法、ディッピング法、スピンナー法等
を用いることもできる。
【0058】3) つづいて、フォーミング工程を施
す。素子電極2、3間に、不図示の電源を用いて、通電
を行うと、導電性薄膜4の部位に、構造の変化した電子
放出部5が形成される(図3(c))。通電フォーミン
グによれば導電性薄膜4に局所的に破壊、変形もしくは
変質等の構造の変化した部位が形成される。該部位が電
子放出部5を構成する。
【0059】通電フォーミングの電圧波形の例を図4に
示す。電圧波形は、パルス波形が好ましい。これにはパ
ルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に印加する図
4(a)に示した手法とパルス波高値を増加させなが
ら、電圧パルスを印加する図4(b)に示した手法があ
る。
【0060】図4(a)におけるT1及びT2は電圧波形
のパルス幅とパルス間隔である。通常、T1は1マイク
ロ秒〜10ミリ秒、T2は10マイクロ秒〜100 ミリ秒の範
囲で設定される。三角波の波高値(通電フォーミング時
のピーク電圧)は、表面伝導型電子放出素子の形態に応
じて適宜選択される。このような条件のもと、例えば、
数秒から数十分間電圧を印加する。パルス波形は三角波
に限定されるものではなく、矩形波など所望の波形を採
用することができる。
【0061】図4(b)におけるT1及びT2は、図4
(a)に示したのと同様とすることができる。三角波の
波高値(通電フォーミング時のピーク電圧)は、例えば
0.1 Vステップ程度づつ、増加させることができる。
【0062】通電フォーミング処理の終了は、パルス間
隔T2中に、導電性薄膜2を局所的に破壊、変形しない
程度の電圧を印加し、電流を測定して検知することがで
きる。例えば0.1 V程度の電圧印加により流れる素子電
流を測定し、抵抗値を求めて、100kΩ以上の抵抗を示し
た時、通電フォーミングを終了させる。
【0063】従来、フォーミングは真空中、もしくは不
活性ガス中で行われているが、本発明においては、反応
性気体雰囲気中でフォーミング工程を行う。上述のよう
に通電処理を行うとその自己発熱ジュール熱に伴い、図
19に示すように導電性薄膜の温度上昇をおこす。ある
温度以上において反応性ガスは熱分解し、反応生成物の
堆積を進行させつつ、同時進行で薄膜を局所的に破壊せ
しめ、電子放出部を形成する。つまり、電子放出部形成
工程であるフォーミングと化学気相成長による薄膜堆積
を同時進行させる。この手法をフォーミング熱CVD法と
呼ぶことにする。
【0064】フォーミング時の温度上昇は、フォーミン
グ時に消費される電力(これは、導電性薄膜の抵抗率、
融点、膜厚などを主要因とする)や、導電性薄膜の熱電
導率などを主要因として決まるため、反応性ガスの分解
温度に対してこれらを適宜設計することにより、堆積量
を制御することができる。堆積量としては電子放出部表
面が反応生成物で覆われる程度必要とし、膜厚として、
単原子層から50nm以下の範囲とするのが好ましく、よ
り好ましくは30nm以下の範囲とすることがより好まし
い。なお膜厚を50nm以下としたのは、50nmを超える
とリーク電流が増え、電子放出電流が小さくなる場合が
あるからである。
【0065】このフォーミング工程で使用する反応性気
体としては、通常のCVD法に用いられるガスを指し、金
属アルコキシドをはじめとする有機金属化合物や、ハロ
ゲン化合物、カルボニル化合物等をはじめとする無機化
合物が挙げられる。より詳しくは、Al(CH3)3,B(C2H5)3,
Au(CH3)2(C5H7O2),Ir(C3H5)3,Mg(C5H5)2,Y(C5H5)3,Mo(C
5H5)2H2,W(C5H5)2H2,Al(OCH3)3,Mg(OCH3)2,Nb(OCH3)2,Z
r(OC2H5)4,Al(AcAc)3,Ba(AcAc)2,La(DPM)3,Ba(DPM) 等
の有機金属化合物やAlCl3,BCl3,CsF,W(CO)6,WF6,LaCl3,
Cs2CO3,Na2CO3 等の無機化合物が挙げられる。ここで、
AcAcはCH3COCH2COCH3、DPMは(CH3)3CCOCH2COC(CH3)3
略名である。また、これらのガスをとともにH2,O2,N2
るいはAr等の不活性ガスを混合してに用いることもあ
る。
【0066】反応性気体の供給方法の一例について図1
8を用いて概説する。バブラー62内の反応性材料は、そ
の蒸気圧により、配管を介し、反応性気体として真空装
置へと導入される。バブラー及び配管は恒温漕内に配置
され、該材料に対して所望のの蒸気圧が得られる温度に
制御される。また、キャリアガスとしてH2,O2,N2,Ar等
を用いることもできる。
【0067】反応生成物999は、用いた反応性気体の中
心金属を主成分とし、多結晶、単結晶あるいはアモルフ
ァスによる金属、金属化合物、半導体、絶縁体である。
また、生成物のなかには、時に、炭素が混入することも
ある。また、上記のガスを複数混合して使用することに
より、化合物を堆積することも可能である。
【0068】4) フォーミングを終えた素子には、以
下に述べる活性化工程と呼ばれる処理を施すことにより
素子特性の向上が図られることがある。活性化工程と
は、この工程により、素子電流If、放出電流Ieが、著し
く変化する工程である。
【0069】活性化工程は、例えば、有機物質のガスを
含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、パル
スの印加を繰り返すことで行うことができる。この雰囲
気は、例えば油拡散ポンプやロータリーポンプなどを用
いて真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残留する有
機ガスを利用して形成することができる他、イオンポン
プなどにより一旦十分に排気した真空中に適当な有機物
質のガスを導入することによっても得られる。このとき
の好ましい有機物質のガス圧は、前述の応用の形態、真
空容器の形状や、有機物質の種類などにより異なるため
場合に応じ適宜設定される。適当な有機物質としては、
アルカン、アルケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳
香族炭化水素類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン
類、アミン類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の
有機酸類等を挙げることが出来、具体的には、メタン、
エタン、プロパンなどCnH2n+2で表される飽和炭化水
素、エチレン、プロピレンなどCnH2n等の組成式で表さ
れる不飽和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノー
ル、エタノール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒ
ド、アセトン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エ
チルアミン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等
が使用できる。有機ガスの代わりに、先にフォーミング
工程において示した反応性気体の雰囲気下で同様な処理
を施すことも可能である。これは先に述べた活性化CVD
に対応する。これらの処理により、雰囲気中に存在する
有機物質から、炭素あるいは炭素化合物(反応性気体を
用いた場合には反応堆積物)が素子上に堆積し、素子電
流If, 放出電流Ieが、著しく変化するようになる。活性
化工程の終了判定は、素子電流Ifと放出電流Ieを測定し
ながら、適宜行う。なおパルス幅、パルス間隔、パルス
波高値などは適宜設定される。
【0070】炭素及び炭素化合物とは、例えばグラファ
イト(いわいるHOPG ,PG ,GC)を包含する、HOPGはほぼ
完全なグラファイトの結晶構造、PGは結晶粒が20nm程
度で結晶構造がやや乱れたもの、GCは結晶粒が2nm程
度になり結晶構造の乱れがさらに大きくなったものを指
す。)、非晶質カーボン(アモルファスカーボン及び、
アモルファスカーボンと前記グラファイトの微結晶の混
合物を指す)であり、その膜厚は、50nm以下の範囲と
するのが好ましく、30nm以下の範囲とすることがより
好ましい。
【0071】5 ) このような工程を経て得られた電
子放出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この
工程は、真空容器内の有機物質排気する工程である。真
空容器内の圧力は、1.33〜4×10-5Pa以下が好ましく、
さらに1.33×10-6Pa以下が特に好ましい。真空容器を排
気する真空排気装置は、装置から発生するオイルが素子
の特性に影響を与えないように、オイルを使用しないも
のを用いるのが好ましい。具体的には、ソープションポ
ンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げることが出
来る。さらに真空容器内を排気するときには、真空容器
全体を加熱して、真空容器内壁や、電子放出素子に吸着
した有機物質分子を排気しやすくするのが好ましい。こ
のときの加熱条件は、80〜250℃、好ましくは150℃以上
で、できるだけ長時間行うのが望ましいが、特にこの条
件に限るものではなく、真空容器の大きさや形状、電子
放出素子の構成などの諸条件により適宜選ばれる条件に
より行う。このような工程を施すことにより、新たな炭
素あるいは炭素化合物の堆積を抑制できる真空雰囲気が
得られ、結果として素子電流If, 放出電流Ieが安定す
る。
【0072】但し、本工程を行うまでもなく、真空容器
中の有機物質が十分除去されており、素子表面の清浄度
も十分に高い際には、この安定化工程は必ずしも必要で
はない。
【0073】上述した工程を経て得られた本発明を適用
可能な電子放出素子の基本特性について図5、図6を参
照しながら説明する。
【0074】図5は真空処理装置の一例を示す模式図で
あり、この真空処理装置は測定評価装置としての機能を
も兼ね備えている。図5においても、図1に示した部位
と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付して
いる。図5において、55は真空容器であり、56は排気ポ
ンプである。真空容器55内には電子放出素子が配されて
いる。即ち、1は電子放出素子を構成する基体であり、
2及び3は素子電極、4は導電性薄膜、5は電子放出部
である。51 は、電子放出素子に素子電圧Vfを印加す
るための電源、50 は素子電極2・3間の導電性薄膜4
を流れる素子電流Ifを測定するための電流計、54 は
素子の電子放出部より放出される放出電流Ieを捕捉す
るためのアノード電極である。53 はアノード電極54 に
電圧を印加するための高圧電源、52 は素子の電子放出
部5より放出される放出電流Ieを測定するための電流
計である。一例として、アノード電極の電圧を1kV〜
10kVの範囲とし、アノード電極と電子放出素子との
距離Hを2mm〜8mmの範囲として測定を行うことが
できる。
【0075】真空容器55内には、不図示の真空計等の真
空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、所
望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになってい
る。排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロータリーポンプ
からなる通常の高真空装置系と、更にイオンポンプ等か
らなる超高真空装置系とにより構成されている。ここに
示した電子源基板を配した真空処理装置の全体は、不図
示のヒーターにより加熱できる。従って、この真空処理
装置を用いると、前述の通電フォーミング以降の工程も
行うことができる。
【0076】図6は、図5に示した真空処理装置を用い
て測定された放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧V
fの関係を模式的に示した図である。図6においては、
放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著しく小さいの
で、任意単位で示している。なお。縦・横軸ともリニア
スケールである。
【0077】図6からも明らかなように、本発明を適用
可能な表面伝導型電子放出素子は、放出電流Ieに関し
て対する三つの特徴的性質を有する。
【0078】(i) 本素子はある電圧(しきい値電圧
と呼ぶ、図6中のVth)以上の素子電圧を印加すると急
激に放出電流Ieが増加し、一方しきい値電圧Vth以下
では放出電流Ieがほとんど検出されない。つまり、放
出電流Ieに対する明確なしきい値電圧Vthを持った非
線形素子である。
【0079】(ii) 放出電流Ieが素子電圧Vfに単
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制
御できる。
【0080】(iii) アノード電極54 に捕捉される放
出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。つ
まり、アノード電極54 に捕捉される電荷量は、素子電
圧Vfを印加する時間により制御できる。
【0081】以上の説明より理解されるように、本発明
を適用可能な表面伝導型電子放出素子は、入力信号に応
じて、電子放出特性を容易に制御できることになる。こ
の性質を利用すると複数の電子放出素子を配して構成し
た電子源、画像形成装置等、多方面への応用が可能とな
る。
【0082】図6においては、素子電流Ifが素子電圧
Vfに対して単調増加する(以下、「MI特性」とい
う。)例を実線に示した。素子電流Ifが素子電圧Vf
に対して電圧制御型負性抵抗特性(以下、「VCNR特
性」という。)を示す場合もある(不図示)。これら特
性は、前述の工程を制御することで制御できる。
【0083】本発明を適用可能な電子放出素子の応用例
について以下に述べる。本発明を適用可能な表面伝導型
電子放出素子の複数個を基板上に配列し、例えば電子源
あるいは、画像形成装置が構成できる。
【0084】電子放出素子の配列については、種々のも
のが採用できる。一例として、並列に配置した多数の電
子放出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を
多数個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向
(列方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制
御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子から
の電子を制御駆動するはしご状配置のものがある。これ
とは別に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に
複数個配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電
極の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配
された複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配
線に共通に接続するものが挙げられる。このようなもの
は所謂単純マトリクス配置である。まず単純マトリクス
配置について以下に詳述する。
【0085】本発明を適用可能な表面伝導型電子放出素
子については、前述したとおり(i)乃至(iii)の特
性がある。即ち、表面伝導型電子放出素子からの放出電
子は、しきい値電圧以上では、対向する素子電極間に印
加するパルス状電圧の波高値と巾で制御できる。一方、
しきい値電圧以下では、殆ど放出されない。この特性に
よれば、多数の電子放出素子を配置した場合において
も、個々の素子に、パルス状電圧を適宜印加すれれば、
入力信号に応じて、表面伝導型電子放出素子を選択して
電子放出量を制御できる。
【0086】以下この原理に基ずき、本発明を適用可能
な電子放出素子を複数配して得られる電子源基板につい
て、図7を用いて説明する。図7において、71は電子源
基板、72はX方向配線、73はY方向配線である。74は表
面伝導型電子放出素子、75は結線である。尚、表面伝導
型電子放出素74は、前述した平面型あるいは垂直型のど
ちらであってもよい。
【0087】m本のX方向配線72は、DX1 ,DX2 ,・
・・,DXmからなり、真空蒸着法,印刷法,スパッタ法
等を用いて形成された導電性金属等で構成することがで
きる。配線の材料,膜厚,巾は適宜設計される。Y方向
配線73は,DY1 ,DY2,・・・,DYnのn本の配線よ
りなり、X方向配線72と同様に形成される。これらm本
のX方向配線72とn本のY方向配線73との間には、不図
示の層間絶縁層が設けられており、両者を電気的に分離
している(m,nは、共に正の整数)。
【0088】不図示の層間絶縁層は,真空蒸着法,印刷
法,スパッタ法等を用いて形成されたSiO2等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の全面
或は一部に所望の形状で形成され、特に、X方向配線72
とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得るように、膜
厚,材料,製造方法が適宜設定される。X方向配線72と
Y方向配線73は、それぞれ外部端子として引き出されて
いる。
【0089】表面伝導型放出素子74を構成する一対の電
極(不図示)は、m本のX方向配線72とn本のY方向配
線73と導電性金属等からなる結線75によって電気的に接
続されている。
【0090】配線72と配線73を構成する材料、結線75を
構成する材料及び一対の素子電極を構成する材料は、そ
の構成元素の一部あるいは全部が同一であっても、また
それぞれ異なってもよい。これら材料は、例えば前述の
素子電極の材料より適宜選択される。素子電極を構成す
る材料と配線材料が同一である場合には、素子電極に接
続した配線は素子電極ということもできる。
【0091】X方向配線72には、X方向に配列した表面
伝導型放出素子74の行を、選択するための走査信号を印
加する不図示の走査信号印加手段が接続される。一方、
Y方向配線73には、Y方向に配列した表面伝導型放出素
子74の各列を入力信号に応じて、変調するための不図示
の変調信号発生手段が接続される。各電子放出素子に印
加される駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号と
変調信号の差電圧として供給される。
【0092】上記構成においては、単純なマトリクス配
線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とす
ることができる。
【0093】このような単純マトリクス配置の電子源を
用いて構成した画像形成装置について、図8と図9及び
図10を用いて説明する。図8は画像形成装置の表示パ
ネルの一例を示す模式図であり、図9は図8の画像形成
装置に使用される蛍光膜の模式図である。図10はNTS
C 方式のテレビ信号に応じて表示を行なうための駆動回
路の一例を示すブロック図である。
【0094】図8において、71は電子放出素子を複数配
した電子源基板、81は電子源基板71を固定したリアプレ
ート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜84とメタルバッ
ク85等が形成されたフェースプレートである。82は支持
枠であり該支持枠82には、リアプレート81、フェースプ
レート86がフリットガラス等を用いて接続されている。
88は外囲器であり、例えば大気中あるいは窒素中で、40
0 〜500 度の温度範囲で10分以上焼成することで、封着
して構成される。
【0095】74は、図1における電子放出部に相当す
る。72,73は表面伝導型電子放出素子の一対の素子電極
と接続されたX方向配線及びY方向配線である。
【0096】外囲器88は、上述の如く、フェースープレ
ート86,支持枠82,リアプレート81で構成される。リア
プレート81は主に基板71の強度を補強する目的で設けら
れるため、基板71自体で十分な強度を持つ場合は別体
のリアプレート81は不要とすることができる。即ち、基
板71に直接支持枠82を封着し、フェースプレート86、支
持枠82及び基板71で外囲器88を構成しても良い。一方、
フェースープレート86、リアプレート81間に、スペーサ
ーとよばれる不図示の支持体を設置することにより、大
気圧に対して十分な強度をもつ外囲器88を構成すること
もできる。
【0097】図9(a),(b)は蛍光膜を示す模式図
である。蛍光膜84はモノクロームの場合は蛍光体のみか
ら構成することができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍
光体の配列によりブラックストライプあるいはブラック
マトリクスなどと呼ばれる黒色導電材91と蛍光体92とか
ら構成することができる。ブラックストライプ、ブラッ
クマトリクスを設ける目的は、カラー表示の場合、必要
となる三原色蛍光体の各蛍光体92間の塗り分け部を黒く
することで混色等を目立たなくすることと、蛍光膜84に
おける外光反射によるコントラストの低下を抑制するこ
とにある。ブラックストライプの材料としては、通常用
いられている黒鉛を主成分とする材料の他、導電性があ
り、光の透過及び反射が少ない材料を用いることができ
る。
【0098】ガラス基板93に蛍光体を塗布する方法は、
モノクローム、カラーによらず、沈澱法、印刷法等が採
用できる。蛍光膜84の内面側には、通常メタルバック85
が設けられる。メタルバックを設ける目的は、蛍光体の
発光のうち内面側への光をフェースプレート86側へ鏡面
反射させることにより輝度を向上させること、電子ビー
ム加速電圧を印加するための電極として作用させるこ
と、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダメージ
から蛍光体を保護すること等である。メタルバックは、
蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理(通
常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行い、その後A
lを真空蒸着等を用いて堆積させることで作製できる。
【0099】フェースプレート86には、更に蛍光膜84の
導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電極(不
図示)を設けてもよい。
【0100】前述の封着を行う際には、カラーの場合は
各色蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、
十分な位置合わせが不可欠となる。
【0101】図8に示した画像形成装置は、例えば以下
のようにして製造される。外囲器88は、前述の安定化工
程と同様に、適宜加熱しながら、イオンポンプ、ソープ
ションポンプなどのオイルを使用しない排気装置により
不図示の排気管を通じて排気し、1.33×10-5Pa程度の圧
力の有機物質の十分少ない雰囲気にした後、封止が成さ
れる。外囲器88の封止後の真空度を維持するために、ゲ
ッター処理を行なうこともできる。これは、外囲器88の
封止を行う直前あるいは封止後に、抵抗加熱あるいは高
周波加熱等を用いた加熱により、外囲器88内の所定の位
置(不図示)に配置されたゲッターを加熱し、蒸着膜を
形成する処理である。ゲッターは通常Ba等が主成分で
あり、該蒸着膜の吸着作用により、たとえば1.33×10-3
ないしは1.33×10-5Paの圧力を維持するものである。こ
こで、表面伝導型電子放出素子のフォーミング処理以降
の工程は、適宜設定できる。
【0102】次に、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に基づ
いたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例につ
いて、図10を用いて説明する。図10において、101
は画像表示表示パネル、102は走査回路、103 は制御回
路、104はシフトレジスタである。105はラインメモリ、
106は同期信号分離回路、107は変調信号発生器、Vxおよ
びVaは直流電圧源である。
【0103】表示パネル101は、端子Dox1乃至Doxm、端
子Doy1乃至Doyn、及び高圧端子Hvを介して外部の電気回
路と接続している。端子Dox1乃至Doxmには、表示パネル
内に設けられている電子源、即ち、M 行N 列の行列状に
マトリクス配線された表面伝導型電子放出素子群を一行
(N素子) ずつ順次駆動する為の走査信号が印加される。
【0104】端子Dy1乃至Dyn には、前記走査信号によ
り選択された一行の表面伝導型電子放出素子の各素子の
出力電子ビームを制御する為の変調信号が印加される。
高圧端子Hvには、直流電圧源Vaより、例えば10kVの直流
電圧が供給されるが、これは表面伝導型電子放出素子か
ら放出される電子ビームに蛍光体を励起するのに十分な
エネルギーを付与する為の加速電圧である。
【0105】走査回路102について説明する。同回路
は、内部にM 個のスイッチング素子を備えたものである
(図中、S1ないしSmで模式的に示している)。各スイッ
チング素子は、直流電圧源Vxの出力電圧もしくは0V(グ
ランドレベル)のいずれか一方を選択し、表示パネル10
1の端子Dx1 ないしDxm と電気的に接続される。S1 乃至
Smの各スイッチング素子は、制御回路103が出力する制
御信号Tscan に基づいて動作するものであり、例えばFE
T のようなスイッチング素子を組み合わせることにより
構成することができる。
【0106】直流電圧源Vxは、本例の場合には表面伝導
型電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基づ
き走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子放
出しきい値電圧以下となるような一定電圧を出力するよ
う設定されている。
【0107】制御回路103は、外部より入力する画像信
号に基づいて適切な表示が行なわれるように各部の動作
を整合させる機能を有する。制御回路103は、同期信号
分離回路106より送られる同期信号Tsync に基づいて、
各部に対してTscan およびTsftおよびTmryの各制御信号
を発生する。
【0108】同期信号分離回路106は、外部から入力さ
れるNTSC方式のテレビ信号から同期信号成分と輝度信号
成分とを分離する為の回路で、一般的な周波数分離(フ
ィルター)回路等を用いて構成できる。同期信号分離回
路106により分離された同期信号は、垂直同期信号と水
平同期信号より成るが、ここでは説明の便宜上Tsync信
号として図示した。前記テレビ信号から分離された画像
の輝度信号成分は便宜上DATA信号と表した。該DATA信号
はシフトレジスタ104に入力される。
【0109】シフトレジスタ104は、時系列的にシリア
ルに入力される前記DATA信号を、画像の1 ライン毎にシ
リアル/パラレル変換するためのもので、前記制御回路
103より送られる制御信号Tsftに基づいて動作する(即
ち、制御信号Tsftは,シフトレジスタ104のシフトクロ
ックであるということもできる。)。シリアル/パラレ
ル変換された画像1 ライン分(電子放出素子N 素子分の
駆動データに相当)のデータは、Id1 乃至Idn のN 個の
並列信号として前記シフトレジスタ104より出力され
る。
【0110】ラインメモリ105は、画像1 ライン分のデ
ータを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であり、
制御回路103より送られる制御信号Tmryに従って適宜Id1
乃至Idn の内容を記憶する。記憶された内容は、I'd1
乃至I'dnとして出力され、変調信号発生器107に入力さ
れる。 変調信号発生器107は、画像データI'd1乃至I'd
nの各々に応じて表面伝導型電子放出素子の各々を適切
に駆動変調する為の信号源であり、その出力信号は、端
子Doy1乃至Doynを通じて表示パネル101内の表面伝導型
電子放出素子に印加される。
【0111】前述したように、本発明を適用可能な電子
放出素子は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有して
いる。即ち、電子放出には明確なしきい値電圧Vthがあ
り、Vth以上の電圧を印加された時のみ電子放出が生じ
る。電子放出しきい値以上の電圧に対しては、素子への
印加電圧の変化に応じて放出電流も変化する。このこと
から、本素子にパルス状の電圧を印加する場合、例えば
電子放出閾値以下の電圧を印加しても電子放出は生じな
いが、電子放出閾値以上の電圧を印加する場合には電子
ビームが出力される。その際、パルスの波高値Vmを変化
させることにより出力電子ビームの強度を制御すること
が可能である。また、パルスの幅Pwを変化させることに
より出力される電子ビームの電荷の総量を制御すること
が可能である。
【0112】従って、入力信号に応じて、電子放出素子
を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅変調
方式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107 として、一定長さの電圧パルス
を発生し、入力されるデータに応じて適宜パルスの波高
値を変調するような電圧変調方式の回路を用いることが
できる。
【0113】パルス幅変調方式を実施するに際しては、
変調信号発生器107として、一定の波高値の電圧パルス
を発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パルスの
幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用いるこ
とができる。
【0114】シフトレジスタ104やラインメモリ105は、
デジタル信号式のものをもアナログ信号式のものをも採
用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や記憶が
所定の速度で行なわれれば良いからである。
【0115】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化する必
要があるが、これには同期信号分離回路106の出力部にA
/D変換器を設ければ良い。これに関連してラインメモリ
105の出力信号がデジタル信号かアナログ信号かによ
り、変調信号発生器107に用いられる回路が若干異なっ
たものとなる。即ち、デジタル信号を用いた電圧変調方
式の場合、変調信号発生器107には、例えばD/A変換
回路を用い、必要に応じて増幅回路などを付加する。パ
ルス幅変調方式の場合、変調信号発生器107には、例え
ば高速の発振器および発振器の出力する波数を計数する
計数器(カウンタ)及び計数器の出力値と前記メモリの
出力値を比較する比較器(コンパレータ)を組み合せた
回路を用いる。必要に応じて、比較器の出力するパルス
幅変調された変調信号を表面伝導型電子放出素子の駆動
電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加することも
できる。
【0116】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプなどを
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路などを付加することもできる。パルス幅変調方式の
場合には、例えば、電圧制御型発振回路(VCO)を採
用でき、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電
圧まで電圧増幅するための増幅器を付加することもでき
る。
【0117】このような構成をとり得る本発明を適用可
能な画像表示装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dox1乃至Doxm、Doy1乃至Doynを介して電圧を
印加することにより、電子放出が生ずる。高圧端子Hv
を介してメタルバック85、あるいは透明電極(不図示)
に高圧を印加し、電子ビームを加速する。加速された電
子は、蛍光膜84に衝突し、発光が生じて画像が形成され
る。
【0118】ここで述べた画像形成装置の構成は、本発
明を適用可能な画像形成装置の一例であり、本発明の技
術思想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号に
ついては、NTSC方式を挙げたが入力信号はこれに限られ
るものではなく、PAL,SECAM方式など他、これよりも、
多数の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE方式をは
じめとする高品位TV)方式をも採用できる。
【0119】次に、はしご型配置の電子源及び画像形成
装置について図11及び図12を用いて説明する。
【0120】図11は、はしご型配置の電子源の一例を
示す模式図である。図11において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112は電子放出素子111
を接続するための共通配線Dx1〜Dx10 である。電子放
出素子111は、基板110上にX 方向に並列に複数個配され
ている(これを素子行と呼ぶ)。この素子行が複数個配
されて電子源を構成している。各素子行の共通配線間に
駆動電圧を印加することで、各素子行を独立に駆動させ
ることができる。即ち、電子ビームを放出させたい素子
行には、電子放出しきい値以上の電圧を、電子ビームを
放出しない素子行には、電子放出しきい値以下の電圧を
印加する。各素子行間の共通配線Dx2 〜Dx9 は、例え
ばDx2 、Dx3 を同一配線とすることもできる。
【0121】図12は、はしご型配置の電子源を備えた
画像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図で
ある。120 はグリッド電極、121 は電子が通過するため
空孔、122 はD1,D2,・・・,Dm よりなる容器外端子
である。123 はグリッド電極120 と接続されたG1,G
2,・・・,Gnからなる容器外端子、124 は各素子行間
の共通配線を同一配線とした電子源基板である。図12
においては、図8、図11に示した部位と同じ部位に
は、これらの図に付したのと同一の符号を付している。
ここに示した画像形成装置と、図8に示した単純マトリ
クス配置の画像形成装置との大きな違いは、電子源基板
110 とフェースプレート86の間にグリッド電極120 を備
えているか否かである。
【0122】図12においては、基板110 とフェースプ
レート86の間には、グリッド電極120 が設けられてい
る。グリッド電極120 は、表面伝導型放出素子から放出
された電子ビ−ムを変調するためのものであり、はしご
型配置の素子行と直交して設けられたストライプ状の電
極に電子ビ−ムを通過させるため、各素子に対応して1
個ずつ円形の開口121 が設けられている。グリッドの形
状や設置位置は図12に示したものに限定されるもので
はない。例えば、開口としてメッシュ状に多数の通過口
を設けることもでき、グリッドを表面伝導型放出素子の
周囲や近傍に設けることもできる。
【0123】容器外端子122 およびグリッド容器外端子
123 は、不図示の制御回路と電気的に接続されている。
【0124】本例の画像形成装置では、素子行を1列ず
つ順次駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビ−ムの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示すことができる。
【0125】本発明の画像形成装置は、テレビジョン放
送の表示装置、テレビ会議システムやコンピューター等
の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて構成された光
プリンターとしての画像形成装置等としても用いること
ができる。
【0126】
【実施例】以下、具体的な実施例を挙げて本発明を詳し
く説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるもの
ではなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素
の置換や設計変更がなされたものをも包含する。
【0127】[実施例1]本実施例は、フォーミング熱
CVD法を用いWを主成分とする反応生成物を堆積した表面
伝導型電子放出素子の例である。
【0128】本実施例にかかわる表面伝導型電子放出素
子の構成は、図1と同様である。即ち、本実施例にかか
わる表面伝導型電子放出素子は、基板1、素子電極2,
3、導電性薄膜4、反応堆積物999、電子放出部5を備
えている。
【0129】本実施例に係わる表面伝導型電子放出素子
の製造方法を、以下、順を追って、図2及び図3に基づ
いて説明する。図2,図3において、図1と同様に、1
は基板、2と3は素子電極、4は導電性薄膜、5は電子
放出部である。
【0130】工程−a)清浄化した青板ガラス上に厚さ
0.5μmのシリコン酸化膜をスパッタ法で形成した基板
1上に、素子電極2,3と素子電極間ギャップとなるべ
きパターンをホトレジスト(RD−2000N−41
日立化成社製)形成し、真空蒸着法により、厚さ5nm
のTi、厚さ50nmのPtを順次堆積した。ホトレジス
トパターンを有機溶剤で溶解し、Pt/Ti堆積膜をリ
フトオフし、素子電極間隔Lは3μmとし、素子電極の
幅Wを300μm、を有する素子電極2,3を形成した
(図2(a),図3(a))。
【0131】工程−b)次に、電子放出部を形成するた
めの導電性薄膜4を所定の形状にパターニングするため
に、通常良く用いられる蒸着マスクを素子電極上に配置
し、膜厚100nmのCr膜を真空蒸着により堆積・パ
ターニングし、そのうえに有機Pd(ccp4230奥
野製薬(株)社製)をスピンナーにより回転塗布し、3
00℃で10分間の加熱焼成処理をした。また、こうし
て形成された主元素としてPdよりなる微粒子からなる
導電性薄膜4の膜厚は10nm、シート抵抗値は2×1
4Ω/□であった。なおここで述べる微粒子膜とは、
上述したように、複数の微粒子が集合した膜であり、そ
の微細構造として、微粒子が個々に分散配置した状態の
みならず、微粒子が互いに隣接、あるいは、重なり合っ
た状態(島状も含む)の膜をさし、その粒径とは、前記
状態で粒子形状が認識可能な微粒子ついての径をいう。
さらに、Cr膜および焼成後の導電性薄膜4を酸エッチ
ャントによりエッチングして所望のパターンを形成し
た。以上の工程により基板1上に、素子電極2,3、導
電性薄膜4等を形成した(図3(b))。
【0132】工程−c)次に、図18の真空処理装置に
上記工程−bを終えた素子を設置した。図18は真空処
理装置の一例を示す模式図であり、この真空処理装置は
測定評価装置としての機能をも兼ね備えている。図18
においても、図2に示した部位と同じ部位には図2に付
した符号と同一の符号を付している。図18において、
55は真空容器であり、56は排気ポンプである。真空容器
55内には電子放出素子が配されている。即ち、1は電子
放出素子を構成する基体であり、2及び3は素子電極、
4は導電性薄膜である。51は電子放出素子に素子電圧V
fを印加するための電源、50は素子電極2・3間の導電
性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定するための電流計
である。
【0133】これを、ターボポンプにて排気し、2.66×
10-4Paの圧力に達した後、反応性気体としてW(CO)
6を導入し、通電処理によりフォーミングを施した。こ
のときバブラーを温度80℃とし、分圧は2.66×10-2Pa、
基板温度60℃とした。通電処理としては、素子電圧Vf
を印加するための電源51より、素子電極2,3間にそれ
ぞれ、図4(b)に示すような三角波の電圧パルスを印
加した。図4(b)中、T1及びT2は電圧波形のパルス
幅とパルス間隔であり、本実施例ではT1を1ミリ秒、
T2を10ミリ秒とし、矩形波の波高値(フォーミング
時のピーク電圧)は0.1Vステップで昇圧した。また、
フォーミング処理中は、同時に、0.1Vの電圧で、T2間
に抵抗測定パルスを挿入し、抵抗を測定した。尚フォー
ミング処理の終了は、抵抗測定パルスでの測定値が、約
100kΩ以上になった時とし、同時に、素子への電圧の印
加を終了した。典型的な素子のフォーミング電圧VF
は、9.5Vであった。また、比較用の素子として、真空
中2.66×10-4Paにおいて同様フォーミングを行った素子
を用意した。
【0134】工程−d)続いて、フォーミング処理した
素子に活性化処理を施した。本実施例の活性化工程にお
いては、有機物質としてCH4を真空装置内に導入し、分
圧133Paの真空雰囲気を維持し、矩形波電圧パルスを印
加しつつ、時間とともに徐々に活性化電圧Vactを増加さ
せる手法を用いた。このとき、パルス幅T1は1msec、繰
り返し周波数1/T2は100Hzに設定し、活性化電
圧Vactは10Vから18Vまで0.2V/ 1minのレートで
増加させた。
【0135】工程−e)最後に、真空雰囲気を有機物質
のほぼ存在しない、超高真空に移行するため、安定化処
理として、120℃のべーキングを2時間行った。
【0136】(特性評価・比較)上述の工程−aから工
程eで作製した表面伝導型電子放出素子の特性を、図1
8の測定評価装置において測定し、特性評価した。な
お、アノード電極と電子放出素子間の距離を4mm、ア
ノード電極の電位を1kV、電子放出特性測定時の真空
装置内の真空度を1×10-9torrとした。
【0137】測定評価条件は素子電圧Vfを16Vと
し、その時の素子電流If及び放出電流Ieを測定し
た。 If(mA) Ie(μA) 効率(%) フォーミングCVD法 1.0 1.1 0.11 従来法(比較例) 0.8 0.8 0.10 次に、波高値16V、1msecの三角波で測定したと
ころ、図6で示されるような素子電流If、放出電流Ieが
素子電圧Vfに対し単調増加の特性(MI特性)を示し
た。
【0138】次に、経時変化の測定により、寿命を評価
した。このとき、素子電圧は16Vとし、パルス幅は2μ
sec、パルス間隔20msec.の矩形波を用いた。従
来のものは、一定時間駆動した後には40%程度のIeの減
少が見られたが、本実施例の手法を用いた素子において
はIeの減少は20%程度に抑制されていた。
【0139】μ-Auger、EPMA等の分析により、電子
放出部及びその近傍に堆積物としてWの確認がされた。
また、図20(a)のように亀裂長方向に均一に堆積物
が存在することが確認された。
【0140】これらより、フォーミング熱CVD法を用い
ることによって高融点材料であるWを主成分とした反応
生成物を堆積することによって、電子放出量、電子放出
効率、寿命を向上しする効果があることがわかった。
【0141】[実施例2]本実施例は、フォーミング熱
CVD法を用いMgを主成分とする反応生成物を堆積した表
面伝導型電子放出素子の例である。
【0142】本実施例において、フォーミング及び活性
化工程を除いては、実施例1と同様に電子放出素子を作
成した。フォーミング工程(工程−c)において、反応
性気体としてMg(C5H5)2を導入し、通電処理によりフォ
ーミングを施した。このときバブラー温度は60℃とし、
反応性気体の分圧は5.33×10-2Pa、基板温度は30℃とし
た。
【0143】通電処理としては、素子電圧Vfを印加す
るための電源51より、素子電極2,3間にそれぞれ、図
4(b)に示すような三角波の電圧パルスを印加した。
図4(b)中、T1及びT2は電圧波形のパルス幅とパル
ス間隔であり、本実施例ではT1を1ミリ秒、T2を10
ミリ秒とし、矩形波の波高値(フォーミング時のピーク
電圧)は0.1Vステップで昇圧した。また、フォーミン
グ処理中は、同時に、0.1Vの電圧で、T2間に抵抗測定
パルスを挿入し、抵抗を測定した。尚フォーミング処理
の終了は、抵抗測定パルスでの測定値が、約100kΩ以上
になった時とし、同時に、素子への電圧の印加を終了し
た。典型的な素子のフォーミング電圧VFは6.0Vであ
った。
【0144】本実施例においては、フォーミング工程
後、活性化工程は行わずとも、電子放出が確認されたた
め、そのまま特性評価を行った。
【0145】(特性評価・比較)従来の真空中における
フォーミングを施した素子との14Vにおける特性の比
較を以下に示す。また、本実施例においては、本素子、
比較素子ともに活性化工程を行わなかった。 次に、波高値14Vの三角波で測定したところ図6で示
されるような素子電流If,放出電流Ieが素子電圧Vfに
対し単調増加の特性(MI特性)を示した。
【0146】次に、経時変化の測定により、寿命を評価
した。このとき、素子電圧は16Vとし、パルス幅は2μ
sec、パルス間隔20msec.の矩形波を用いた。本
実施例の手法を用いた素子においてはIeの減少は、従来
の活性化を施した素子(例えば、実施例1の比較例)と
同程度であった。
【0147】μ-Auger、EPMA等の分析により、電子
放出部及びその近傍に堆積物としてMgが存在することが
確認された。また、図20(a)のように亀裂長方向に
均一に堆積物が存在することが確認された。
【0148】これらより、フォーミング熱CVD法を用
い、低仕事関数材料であるMgを主成分とした反応生成物
を堆積することによって、電子放出量、電子放出効率、
を向上する効果があることがわかった。 [実施例3]本実施例は、フォーミング熱CVD法を用いL
a及びBを主成分とする反応生成物を堆積した表面伝導型
電子放出素子の例である。本実施例においては、フォー
ミング工程を除いては、実施例2と同様に電子放出素子
を作成した。
【0149】本実施例においてはフォーミング工程(工
程−c)において、反応性気体をとしてLa(DPM)及びB(C
2H5)3を混合、導入し、通電処理によりフォーミングを
施した。このとき基板温度100℃とし、分圧はLa(DPM)を
1.33×10-1Pa、B(C2H5)3を1.33×10-1Paとし、バブラー
温度はそれぞれ150℃、-30℃とした。またH2をキャリア
ガスとして用い、その流量は5sccmとした。
【0150】通電処理としては、素子電圧Vfを印加す
るための電源51より、素子電極2,3間にそれぞれ、矩形
波の電圧パルスを印加した。図4(b)中、T1及びT2
は電圧波形のパルス幅とパルス間隔であり、本実施例で
はT1を1ミリ秒、T2を10ミリ秒とし、矩形波の波高
値(フォーミング時のピーク電圧)は0.1Vステップで
昇圧した。また、フォーミング処理中は、同時に、0.1
Vの電圧で、T2間に抵抗測定パルスを挿入し、抵抗を
測定した。尚フォーミング処理の終了は、抵抗測定パル
スでの測定値が、約100kΩ以上になった時とし、同時
に、素子への電圧の印加を終了した。典型的な素子のフ
ォーミング電圧VFは、9.0Vであった。
【0151】本実施例においては、フォーミング工程
後、活性化工程は行わずとも、電子放出が確認されたた
め、そのまま特性評価を行った。
【0152】(特性評価・比較)以下に、従来の真空中
におけるフォーミングを施した素子との14Vにおける
特性比較を示す。本実施例においては、本素子、比較素
子ともに活性化工程を行わなかった。
【0153】 If(mA) Ie(μA) 効率(%) フォーミングCVD法 1.2 0.6 0.05 従来法(比較例) 0.1 0.005 0.005 これより、 フォーミング熱CVD法を用いることにIe及び
効率の増加がなされたことがわかる。
【0154】次に、波高値14Vの三角波で測定したと
ころ図6で示されるような素子電流If,放出電流Ieが素
子電圧Vfに対しほぼ単調増加の特性(MI 特性)を示
した。
【0155】次に、経時変化の測定により、寿命を評価
した。このとき、素子電圧は16Vとし、パルス幅は2μ
sec、パルス間隔20msec.の矩形波を用いた。従
来のものは、一定時間駆動した後には40%程度のIeの
減少が見られたが、本実施例の手法を用いた素子におい
てはIeの減少は30%程度に抑制されていた。
【0156】μ-Auger、EPMA等の分析により、電子
放出部及びその近傍に堆積物としてLa及びBが存在する
ことが確認された。また、図20(a)のように亀裂長
方向に均一に堆積物が存在することが確認された。
【0157】これらより、フォーミング熱CVD法を用
い、LaとBを主成分とした反応生成物を堆積することに
よってることによって、電子放出量、電子放出効率、寿
命を向上する効果があることがわかった。 [実施例4]本実施例は、多数の表面伝導電子放出素子
を単純マトリクス配置した画像形成装置の例である。ま
た、本実施例はフォーミング工程において、フォーミン
グ熱CVD法を用いMgを主成分とする反応生成物を堆積し
た例である。
【0158】電子放出装置の一部の平面図を図13に示
す。また、図中のA−A’断面図を図14に、製造手順
を図15及び図16に示す。但し、図13、図14,図
15及び図16で、同じ記号を示したものは、同じもの
を示す。ここで71は電子源基板、72は図7のDxmに対応
するX方向配線(下配線とも呼ぶ)、73は図7のDynに
対応するY方向配線(上配線とも呼ぶ)、4は導電性薄
膜、2,3は素子電極、151は層間絶縁層、152は、素子
電極2と下配線72との電気的接続のためのコンタクトホ
ールである。
【0159】次に、製造方法を図15及び図16に基づ
いて工程順に従って具体的に説明する。尚、以下の各工
程a〜hは図15(a)〜(d)及び図16の(a)〜
(d)に対応するものである。
【0160】工程−a)清浄化した青板ガラス上に厚さ
0.5μmのシリコン酸化膜をスパッタ法で形成した基板7
1上に、真空蒸着により厚さ5nmのCr、厚さ600
nmのAuを順次積層した後、ホトレジスト(AZ13
70 ヘキスト社製)をスピンナーにより回転塗布、ベ
ークした後、ホトマスク像を露光、現像して、下配線72
のレジストパターンを形成し、Au/Cr堆積膜をウエ
ットエッチングして、所望の形状の下配線72を形成する
(図15(a))。
【0161】工程−b)次に、厚さ1.0μmのシリコ
ン酸化膜からなる層間絶縁層151をRFスパッタ法によ
り堆積する(図15(b))。
【0162】工程−c)工程−bで堆積したシリコン酸
化膜にコンタクトホール152を形成するためのホトレジ
ストパターンを作り、これをマスクとして層間絶縁層15
1をエッチングしてコンタクトホール152を形成する(図
15(c))。エッチングはCF4とH 2ガスを用いたR
IE(Reactive Ion Etching)法によった。
【0163】工程−d)その後、素子電極2と素子電極
間ギャップGとなるべきパターンをホトレジスト(RD
−2000 N−41 日立化成社製)形成し、真空蒸着
法により、厚さ5nmのTi、厚さ100nmのNiを
順次堆積した。ホトレジストパターンを有機溶剤で溶解
し、Ni/Ti堆積膜をリフトオフし、素子電極間隔L
は3μmとし、素子電極の幅Wを300μm、を有する
素子電極2,3を形成した(図15(d))。
【0164】工程−e)素子電極2,3の上に上配線73
のホトレジストパターンを形成した後、厚さ5nmのT
i、厚さ500nmのAuを順次真空蒸着により堆積
し、リフトオフにより不要の部分を除去して、所望の形
状の上配線73を形成した(図16(a))。
【0165】工程−f)次に、膜厚100nmのCr膜15
3を真空蒸着により堆積・パターニングし、そのうえに
有機Pd(ccp4230奥野製薬(株)社製)をスピ
ンナーにより回転塗布し、300℃で10分間の加熱焼
成処理をした。また、こうして形成された主元素として
Pdよりなる微粒子からなる導電性薄膜4の膜厚は10
nm、シート抵抗値は5×104Ω/□であった(図1
6(b))。なおここで述べる微粒子膜とは、上述した
ように、複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構
造として、微粒子が個々に分散配置した状態のみなら
ず、微粒子が互いに隣接、あるいは、重なり合った状態
(島状も含む)の膜をさし、その粒径とは、前記状態で
粒子形状が認識可能な微粒子ついての径をいう。
【0166】工程−g)Cr膜153および焼成後の導電
性薄膜4を酸エッチャントによりエッチングして所望の
パターンを形成した(図16(c))。
【0167】工程−h)コンタクトホール152部分以外
にレジストを塗布するようなパターンを形成し、真空蒸
着により厚さ5nmのTi、厚さ500nmのAuを順
次堆積した。リフトオフにより不要の部分を除去するこ
とにより、コンタクトホール152を埋め込んだ(図16
(d))。
【0168】以上の工程により絶縁性基板71上に下配線
72、層間絶縁層151、上配線73、素子電極2,3、導電
性薄膜4等を形成した。
【0169】つぎに,以上のようにして作成した電子放
出装置を用いて表示装置を構成した例を、図8と図9を
用いて説明する。
【0170】以上のようにして多数の平面型表面伝導電
子放出素子を作製した電子源基板71をリアプレート81上
に固定した後、基板71の5mm上方に、フェースプレー
ト86(ガラス基板83の内面に蛍光膜84とメタルバック85
が形成されて構成される)を支持枠82を介し配置し、フ
ェースプレート86、支持枠82、リアプレート81の接合部
にフリットガラスを塗布し、大気中あるいは窒素雰囲気
中で400℃ないし500℃で10分以上焼成すること
で封着した(図8)。またリアプレート81への電子源基
板71の固定もフリットガラスで行った。
【0171】図8において、74は電子放出素子、72,73
はそれぞれX方向及びY方向の素子配線である。蛍光膜
84は、モノクロームの場合は蛍光体のみから成るが、本
実施例では蛍光体はストライプ形状を採用し、先にブラ
ックストライプを形成し、その間隙部に各色蛍光体を塗
布し、蛍光膜84を作製した。ブラックストライプの材料
として通常良く用いられている黒鉛を主成分とする材料
を用いた。ガラス基板83に蛍光体を塗布する方法はスラ
リー法を用いた。また、蛍光膜84の内面側には通常メタ
ルバック85が設けられる。メタルバックは、蛍光膜作製
後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理(通常フィルミン
グと呼ばれる)を行い、その後、Alを真空蒸着するこ
とで作製した。フェースプレート86には、更に蛍光膜84
の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電極
(不図示)が設けられる場合もあるが、本実施例では、
メタルバックのみで十分な導電性が得られたので省略し
た。
【0172】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させなくてはいけないた
め、十分な位置合わせを行った。
【0173】以上のようにして完成したガラス容器内の
雰囲気を排気管(図示せず)を通じ真空ポンプにて排気
し、十分な真空度に達した後、Mg(C5H5)2を導入し、容
器外端子Dx1ないしDxmとDy1ないしDynを通じ電子放
出素子74の電極2,3間に電圧を印加し、実施例2と同
様な条件によりフォーミング処理することにより、電子
放出部5を作成した。フォーミング処理の電圧波形は、
図4(b)と同様である。
【0174】本実施例ではT1を1ミリ秒、T2を10ミ
リ秒とした。
【0175】このように作成された電子放出部5は、パ
ラジウム及びマグネシウムの元素を主成分とする微粒子
が分散配置された状態となり、その微粒子の平均粒径は
3nmであった。
【0176】次に、安定化処理としてガラス容器をベー
キングし、1.33×10-5Pa程度の圧力まで排気し、不図示
の排気管をガスバーナーで熱することで溶着し外囲器の
封止を行った。
【0177】最後に封止後の真空度を維持するために、
高周波加熱法でゲッター処理を行った。
【0178】以上のように完成した本発明の画像表示装
置において、各電子放出素子には、容器外端子Dx1ない
しDxm,Dy1ないしDynを通じ、走査信号及び変調信号
を不図示の信号発生手段よりそれぞれ印加することによ
り、電子放出させ、高圧端子Hvを通じ、メタルバック
85、あるいは透明電極(不図示)に数kV以上の高圧を
印加し、電子ビームを加速し、蛍光膜84に衝突させ、励
起・発光させることで画像を表示した。
【0179】本実施例の画像形成装置は極めて高輝度且
つ安定な表示画像の得られる画像形成装置であった。さ
らに、諧調特性およびフルカラー表示に優れたコントラ
ストの高い画像形成装置であった。 [実施例5]図17は,前述の表面伝導型電子放出素子
を用いた表示パネルに、例えばテレビジョン放送を初め
とする種々の画像情報源より提供される画像情報を表示
できるように構成した本発明の画像形成装置の一例を示
す図である。
【0180】図中、200は表示パネル、201は表示
パネルの駆動回路、202はディスプレイコントロー
ラ、203はマルチプレクサ、204はデコーダ、20
5は入出力インターフェース回路、206はCPU、2
07は画像生成回路、208および209および210
は画像メモリインターフェース回路、211は画像入力
インターフェース回路、212および213はTV信号
受信回路、214は入力部である。
【0181】尚、本画像形成装置は、たとえばテレビジ
ョン信号のように、映像情報と音声情報の両方を含む信
号を受信する場合には、当然映像の表示と同時に音声を
再生するものであるが、本発明の特徴と直接関係しない
音声情報の受信、分離、再生、処理、記憶等に関する回
路やスピーカー等については説明を省略する。
【0182】以下、画像信号の流れに沿って各部の機能
を説明する。
【0183】まず、TV信号受信回路213は、たとえ
ば電波や空間光通信などのような無線伝送系を用いて伝
送されるTV信号を受信する為の回路である。
【0184】受信するTV信号の方式は特に限られるも
のではなく、たとえば、NTSC方式、PAL方式、S
ECAM方式等、いずれの方式でもよい。また、これら
より更に多数の走査線よりなるTV信号、例えばMUS
E方式をはじめとするいわゆる高品位TVは、大面積化
や大画素数化に適した前記表示パネルの利点を生かすの
に好適な信号源である。
【0185】TV信号受信回路213で受信されたTV
信号は、デコーダ204に出力される。
【0186】TV信号受信回路212は、たとえば同軸
ケーブルや光ファイバーなどのような有線伝送系を用い
て伝送されるTV信号を受信するための回路である。前
記TV信号受信回路213と同様に、受信するTV信号
の方式は特に限られるものではなく、また本回路で受信
されたTV信号もデコーダ204に出力される。
【0187】画像入力インターフェース回路211は、
たとえばTVカメラや画像読み取りスキャナーなどの画
像入力装置から供給される画像信号を取り込むための回
路で、取り込まれた画像信号はデコーダ204に出力さ
れる。
【0188】画像メモリーインターフェース回路210
は、ビデオテープレコーダー(以下VTRと略す)に記
憶されている画像信号を取り込むための回路で、取り込
まれた画像信号はデコーダ204に出力される。
【0189】画像メモリーインターフェース回路209
は、ビデオディスクに記憶されている画像信号を取り込
むための回路で、取り込まれた画像信号はデコーダ20
4に出力される。
【0190】画像メモリーインターフェース回路208
は、静止画ディスクのように、静止画像データを記憶し
ている装置から画p像信号を取り込むための回路で、取
り込まれた静止画像データはデコーダ204に入力され
る。
【0191】入出力インターフェース回路205は、本
画像形成装置と、外部のコンピュータもしくはコンピュ
ータネットワークもしくはプリンターなどの出力装置と
を接続するための回路である。画像データや文字・図形
情報の入出力を行うのはもちろんのこと、場合によって
は本画像形成装置の備えるCPU206と外部との間で
制御信号や数値データの入出力などを行うことも可能で
ある。
【0192】画像生成回路207は、前記入出力インタ
ーフェース回路205を介して外部から入力される画像
データや文字・図形情報や、あるいはCPU206より
出力される画像データや文字・図形情報にもとずき表示
用画像データを生成するための回路である。本回路の内
部には、たとえば画像データや文字・図形情報を蓄積す
るための書き換え可能メモリーや、文字コードに対応す
る画像パターンが記憶されている読み出し専用メモリー
や、画像処理を行うためのプロセッサーなどをはじめと
して画像の生成に必要な回路が組み込まれている。
【0193】本回路により生成された表示用画像データ
は、デコーダ204に出力されるが、場合によっては前
記入出力インターフェース回路205を介して外部のコ
ンピュータネットワークやプリンターに出力することも
可能である。
【0194】また、CPU206は、主として本画像形
成装置の動作制御や、表示画像の生成や選択や編集に関
わる作業を行う。例えば、マルチプレクサ203に制御
信号を出力し、表示パネルに表示する画像信号を適宜選
択したり組み合わせたりする。その際には表示する画像
信号に応じて表示パネルコントローラ202に対して制
御信号を発生し、画面表示周波数や走査方法(たとえば
インターレースかノンインターレースか)や一画面の走
査線の数など画像形成装置の動作を適宜制御する。ま
た、前記画像生成回路207に対して画像データや文字
・図形情報を直接出力したり、あるいは前記入出力イン
ターフェース回路205を介して外部のコンピュータや
メモリをアクセスして画像データや文字・図形情報を入
力する。
【0195】なお、CPU206は、これ以外の目的の
作業にも関わるものであって良い。例えば、パーソナル
コンピュータやワードプロセッサなどのように、情報を
生成したり処理する機能に直接関わっても良い。あるい
は、前述したように、入出力インターフェース回路20
5を介して外部のコンピュータネットワークと接続し、
たとえば数値計算などの作業を外部機器と協同して行っ
ても良い。
【0196】入力部214は、前記CPU206に使用
者が命令やプログラム、あるいはデータなどを入力する
ためのものであり、例えばキーボードやマウスのほか、
ジョイスティック、バーコードリーダー、音声認識装置
など多様な入力機器を用いることが可能である。
【0197】また、デコーダ204は、前記画像生成回
路207ないしTV信号受信回路213より入力される
種々の画像信号を3原色信号、または輝度信号とI信
号、Q信号に逆変換するための回路である。なお、同図
中に点線で示すように、デコーダ204は内部に画像メ
モリを備えるのが望ましい。これは、たとえばMUSE
方式をはじめとして、逆変換するに際して画像メモリを
必要とするようなテレビ信号を扱うためである。
【0198】画像メモリを備えることにより、静止画の
表示が容易になる、あるいは前記画像生成回路207お
よびCPU206と協同して、画像の間引き、補間、拡
大、縮小、合成をはじめとする画像処理や編集が容易に
行えるようになるという利点が得られる。
【0199】マルチプレクサ203は、前記CPU20
6より入力される制御信号に基づき、表示画像を適宜選
択するものである。すなわち、マルチプレクサ203は
デコーダ204から入力される逆変換された画像信号の
うちから所望の画像信号を選択して駆動回路201に出
力する。その場合には、一画面表示時間内で画像信号を
切り替えて選択することにより、いわゆる多画面テレビ
のように、一画面を複数の領域に分けて領域によって異
なる画像を表示することも可能である。
【0200】表示パネルコントローラ202は、前記C
PU206より入力される制御信号に基づき、駆動回路
201の動作を制御するための回路である。
【0201】表示パネルの基本的な動作に関わるものと
して、たとえば表示パネルの駆動用電源(図示せず)の
動作シーケンスを制御するための信号を駆動回路201
に対して出力する。また、表示パネルの駆動方法に関わ
るものとして、例えば画面表示周波数や走査方法(例え
ばインターレースかノンインターレースか)を制御する
ための信号を駆動回路201に対して出力する。また、
場合によっては表示画像の輝度やコントラストや色調や
シャープネスといった画質の調整に関わる制御信号を駆
動回路201に対して出力する場合もある。
【0202】駆動回路201は、表示パネル200に印
加する駆動信号を発生するための回路であり、前記マル
チプレクサ203から入力される画像信号と、前記表示
パネルコントローラ202より入力される制御信号に基
づいて動作するものである。
【0203】以上、各部の機能を説明したが、図17に
例示した構成により、本画像形成装置においては多様な
画像情報源より入力される画像情報を表示パネル200
に表示することが可能である。すなわち、テレビジョン
放送をはじめとする各種の画像信号は、デコーダ204
において逆変換された後、マルチプレクサ203におい
て適宜選択され、駆動回路201に入力される。
【0204】一方、デイスプレイコントローラ202
は、表示する画像信号に応じて駆動回路201の動作を
制御するための制御信号を発生する。駆動回路201
は、上記画像信号と制御信号に基づいて表示パネル20
0に駆動信号を印加する。これにより、表示パネル20
0において画像が表示される。これらの一連の動作は、
CPU206により統括的に制御される。
【0205】また、本画像形成装置においては、前記デ
コーダ204に内蔵する画像メモリや、画像生成回路2
07および情報の中から選択したものを表示するだけで
なく、表示する画像情報に対して、たとえば拡大、縮
小、回転、移動、エッジ強調、間引き、補間、色変換、
画像の縦横比変換などをはじめとする画像処理や、合
成、消去、接続、入れ換え、はめ込みなどをはじめとす
る画像編集を行うことも可能である。また、本実施例の
説明では特に触れなかったが、上記画像処理や画像編集
と同様に、音声情報に関しても処理や編集を行なうため
の専用回路を設けても良い。
【0206】従って、本画像形成装置は、テレビジョン
放送の表示機器、テレビ会議の端末機器、静止画像およ
び動画像を扱う画像編集機器、コンピュータの端末機
器、ワードプロセッサをはじめとする事務用端末機器、
ゲーム機などの機能を一台で兼ね備えることが可能で、
産業用あるいは民生用として極めて応用範囲が広い。
【0207】なお、図17は、表面伝導型放出素子を電
子ビーム源とする表示パネルを用いた画像形成装置の構
成の一例を示したにすぎず、本発明の画像形成装置がこ
れのみに限定されるものでないことは言うまでもない。
【0208】たとえば、図17の構成要素のうち使用目
的上必要のない機能に関わる回路は省いても差し支えな
い。またこれとは逆に、使用目的によってはさらに構成
要素を追加しても良い。例えば、本画像形成装置をテレ
ビ電話機として応用する場合には、テレビカメラ、音声
マイク、照明機、モデムを含む送受信回路などを構成要
素に追加するのが好適である。
【0209】本画像形成装置においては、とりわけ表面
伝導型電子放出素子を電子源としているので、表示パネ
ルの薄形化が容易であり、画像形成装置の奥行きを小さ
くすることができる。それに加えて、表面伝導型電子放
出素子を電子源とする表示パネルは大画面化が容易で輝
度が高く視野角特性にも優れるため、画像形成装置は臨
場感にあふれ、迫力に富んだ画像を視認性良く表示する
ことが可能である。
【0210】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、フォー
ミング熱CVD法により、電子放出部及びその近傍に反応
生成物を堆積させることにより、導電性薄膜材料とは異
なる性質を有する材料の電子放出部を形成し、その材料
の特徴を生かすことにより、長寿命化、高効率化などの
電子放出特性の向上をさせる効果がある。また、この手
法は活性化CVD法と比しても、さらなる電子放出点の増
加という効果がある。さらにこの手法は、大面積にわた
り複数の電子放出素子を配列した電子源に対しても容易
に適応できる。また、本発明の電子放出素子を応用した
画像形成装置においては、高品位な画像を低消費電力で
提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電子放出素子の一例を示す断面図であ
る。
【図2】平面型表面伝導型電子放出素子及び垂直型表面
伝導型電子放出素子を示す概略的構成図である。
【図3】表面伝導型電子放出素子の製造方法を示す図で
ある。
【図4】フォーミング工程に用いる通電処理の電圧波形
を示す図である。
【図5】本発明に係わる表面伝導型電子放出素子の基本
的な測定評価系の一例を示す概略的構成図である。
【図6】表面伝導型電子放出素子の放出電流ー素子電圧
特性(I-V特性)を示す図である。
【図7】単純マトリックス配置の電子放出装置の概略的
構成図である。
【図8】単純マトリックス配置の電子放出装置を用いた
画像形成装置に用いる表示パネルの概略的構成図であ
る。
【図9】図8の表示パネルにおける蛍光膜を示す図であ
る。
【図10】図8の表示パネルを駆動する駆動回路の一例
を示す図である。
【図11】梯型配置の電子放出装置の概略的構成図であ
る。
【図12】梯型配置の電子放出装置を用いた画像形成装
置に用いる表示パネルの概略的構成図である。
【図13】実施例4における電子放出装置を示す概略的
平面図である。
【図14】図13におけるA-A'断面図である。
【図15】実施例4における電子放出装置の製造手順を
示す図である。
【図16】実施例4における電子放出装置の製造手順を
示す図である。
【図17】実施例5における画像形成装置を示すブロッ
ク図である。
【図18】フォーミング熱CVD法を示す概略的構成図で
ある。
【図19】フォーミング時の導電性薄膜の温度上昇分布
を示す断面図である。
【図20】フォーミング熱CVD法と活性化CVD法による堆
積物の分布を示す概略的平面図である。
【図21】活性化CVD法を用いて作成された表面伝導型
電子放出素子の一例を示す断面図である。
【符号の説明】
1 基板、 2,3 素子電極、 4 導電性薄膜、
5 電子放出部、21 段差形成部材、 44 ガス導入
管、50 素子電流Ifを測定するための電流計、 51 電
源、52 放出電流Ieを測定するための電流計、 53 高
圧電源、54 アノード電極、 55 真空装置、 56 排
気ポンプ、 61 バブラー、62 反応性材料、 63 マ
スフローコントローラー、 71 電子源基板、72 x方
向配線(下配線)、 73 y方向配線(上配線)、74
表面伝導型電子放出素子、 75 結線、 81 リアプレ
ート、82 支持枠、 83 ガラス基板、 84 蛍光膜、
85 メタルバック、86 フェースプレート、 88 外
囲器、 91 黒色導電材、 92 蛍光体、151 層間絶
縁層、 152 コンタクトホール、 153 Cr層、101
表示パネル、 102 走査回路、 103 制御回路、10
4 シフトレジスタ、 105 ラインメモリ、 106 同
期信号分離回路、107 変調信号発生器、 112 共通配
線、 120 グリッド電極、121 空孔、 122 容器外
端子、 123 グリッドに接続された容器外端子、999
反応堆積物。

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 通電による加熱により、少なくともその
    一部に電子放出部を形成してなる導電性薄膜と、 前記加熱により反応性気体を分解することで、前記電子
    放出部とその近傍に堆積してなる反応生成物と、を有す
    ることを特徴とする電子放出素子。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の電子放出素子におい
    て、前記反応生成物が前記反応性気体の中心元素を主成
    分とすることを特徴とする電子放出素子。
  3. 【請求項3】 請求項1又は請求項2に記載の電子放出
    素子において、前記反応生成物が前記導電性薄膜と比し
    て、高融点であることを特徴とする電子放出素子。
  4. 【請求項4】 請求項1又は請求項2に記載の電子放出
    素子において、前記反応生成物が前記導電性薄膜と比し
    て、低仕事関数であることを特徴とする電子放出素子。
  5. 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかの請求項に記載
    の電子放出素子において、前記反応生成物の膜厚が50
    nm以下であることを特徴とする電子放出素子。
  6. 【請求項6】 請求項1〜5のいずれかの請求項に記載
    の電子放出素子において、前記電子放出素子が表面伝導
    型電子放出素子であることを特徴とする電子放出素子。
  7. 【請求項7】 導電性薄膜を通電により加熱し、該加熱
    により、少なくとも該導電性薄膜の一部に電子放出部を
    形成する処理を、反応性気体雰囲気中で行うことを特徴
    とする電子放出素子の製造方法。
  8. 【請求項8】 請求項7に記載の電子放出素子の製造方
    法において、前記導電性薄膜はその両端部がそれぞれ電
    極に電気的に接続され、前記導電性薄膜への通電は両電
    極間への電圧印加により行われることを特徴とする電子
    放出素子の製造方法。
  9. 【請求項9】 請求項7又は請求項8に記載の電子放出
    素子の製造方法において、前記反応性気体が有機金属化
    合物であることを特徴とする電子放出素子の製造方法。
  10. 【請求項10】 請求項9に記載の電子放出素子の製造
    方法において、前記有機金属化合物がシクロペンタジエ
    ニル化合物であることを特徴とする電子放出素子の製造
    方法。
  11. 【請求項11】 請求項7又は請求項8に記載の電子放
    出素子の製造方法において、前記反応性気体がカルボニ
    ル化合物であることを特徴とする電子放出素子の製造方
    法。
  12. 【請求項12】 請求項7〜11のいずれかの請求項に
    記載の電子放出素子の製造方法において、前記電子放出
    素子が表面伝導型電子放出素子であることを特徴とする
    電子放出素子の製造方法。
  13. 【請求項13】 入力信号に応じて電子を放出する電子
    源であって、請求項1〜6のいずれかの電子放出素子
    を、基体上に複数個配置してなる電子源。
  14. 【請求項14】 請求項13に記載の電子源において、
    基体上に、複数の電子放出素子を一方向に配置してなる
    素子列を一列又は2列以上有し、該素子列の各電子放出
    素子を駆動するための配線がはしご状に配されているこ
    とを特徴とする電子源。
  15. 【請求項15】 請求項13に記載の電子源において、
    基体上に、複数の電子放出素子を一方向に配置してなる
    素子列を2列以上有し、該素子列の各電子放出素子を駆
    動するための配線がマトリクス状に配されていることを
    特徴とする電子源。
  16. 【請求項16】 入力信号にもとづいて画像を形成する
    画像形成装置であって、少なくとも、請求項13〜15
    のいずれかの電子源と、該電子源からの電子線の照射に
    より画像を形成する画像形成部材とを備えた画像形成装
    置。
  17. 【請求項17】 請求項7〜12のいずれかの電子放出
    素子の製造方法を用いて、同一基板上に複数の電子放出
    素子を形成したことを特徴とする電子源の製造方法。
  18. 【請求項18】 請求項7〜12のいずれかの電子放出
    素子の製造方法を用いた電子源と、該電子源からの電子
    線の照射により画像を形成する画像形成部材とを有して
    なることを特徴とする画像形成装置の製造方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100709173B1 (ko) * 2004-04-13 2007-04-20 캐논 가부시끼가이샤 화상표시장치 및 그 제조방법
US7264530B2 (en) 2004-02-24 2007-09-04 Canon Kabushiki Kaisha Method of driving electron-emitting device, electron source, and image-forming apparatus

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