JPH09251483A - セルライブラリ作成方法 - Google Patents
セルライブラリ作成方法Info
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- JPH09251483A JPH09251483A JP8061320A JP6132096A JPH09251483A JP H09251483 A JPH09251483 A JP H09251483A JP 8061320 A JP8061320 A JP 8061320A JP 6132096 A JP6132096 A JP 6132096A JP H09251483 A JPH09251483 A JP H09251483A
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
-
- G—PHYSICS
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318583—Design for test
- G01R31/318591—Tools
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Abstract
を含む論理回路の論理シミュレーションを行うととも
に、作成すべき真理値表モデルを簡略化し、セル設計者
の負荷を軽減する。 【解決手段】真理値表モデル50にエッジ信号があるた
めに、メモリが追加された真理値表モデル50Aが生成
される。立ち上がりのエッジ信号によって出力がHに変
化しているため、変化前のレベル信号「L」と変化後の
レベル信号「H」との2つの入力論理に変換される。こ
の場合、変化前のレベル信号「L」に対して、メモリに
は真理値表モデル50の出力である「H」が設定され、
出力には「不変」が設定される。変化後のレベル信号
「H」に対して、メモリには「不変」が設定され、出力
にはメモリの値である「H」が設定される。
Description
論理設計に使用される種々のセルのデータを格納したセ
ルライブラリの作成方法に関する。
用される種々のセルには、使用する素子及び素子間を接
続するネット情報で表現したネット記述モデルと、当該
セルの機能を入力信号及び出力信号のパターンで表現し
た真理値表モデルとがある。
ュレーションを実行することにより、論理回路全体の動
作が期待値と一致するかどうかの検証が行われる。従っ
て、論理回路が真理値表モデルのセルを含んで設計され
ている場合には、真理値表モデルは論理シミュレーショ
ン装置が扱えない信号表現を含まないものにする必要が
ある。
号の表現にはレベル信号以外に、信号値の変化を示すエ
ッジ信号での表現がある。このエッジ信号での表現は記
憶機能を持つフリップフロップに対応する真理値表モデ
ルにおいて使用される。
表モデルの表現には、新たな入力信号値に対して少なく
とも1つの出力ピンの信号値が前の出力値を参照する表
現もある。
回路を構成するセルの入力信号として0,1,X(0又
は1)の信号値のレベル信号しか扱うことができない。
そのため、セルの設計者は真理値表モデルのエッジ信号
の表現をレベル信号の表現に書き換えなければならな
い。この際、メモリ機能も追加しなければならない。
する真理値表モデルについては、前の出力を保持するた
めのメモリを明確に示した真理値表モデルに書き換えな
ければならない。
えには手間を要するとともに、書き換えは人手で行われ
るため、書き換えられた真理値表モデルに人為的なミス
が発生するおそれがあった。
を解決するためになされたものであって、その目的は、
エッジ信号で表現された真理値表モデルをレベル信号で
表現された真理値表モデルに変換してセルライブラリを
作成し、エッジ信号で表現された真理値表モデルのセル
を含む論理回路の論理シミュレーションを行うことにあ
る。
を削除できるようにして、作成すべき真理値表モデルを
簡略化し、セル設計者の負荷を軽減することにある。
号及び出力信号のパターンで表現された真理値表モデル
からなるセルを入力し、入力信号に表されたエッジ信号
を含むパターンについてメモリを追加し、前記エッジ信
号を含むパターンを2つのレベル信号入力のパターンに
展開し、真理値表モデルにおけるすべてのパターンをレ
ベル信号入力のパターンにした後にデータベース化する
ようにした。
を展開しレベル信号入力のみの真理値表モデルを作成し
た上でデータベース化することによってエッジ信号を扱
えない論理シミュレーション装置でも、エッジ信号を持
つ真理値表モデルをシミュレーションすることができ
る。また、メモリの追加によって前の出力値を保持する
ためのメモリを真理値表モデルから省略することがで
き、また、エッジ信号の展開により入力する真理値表モ
デルに直接エッジ信号を表現できるようになり、セル設
計者の負荷を軽減できる。
一形態を図1〜図22に従って説明する。図1は論理シ
ミュレーションシステムを示し、同システムはセルライ
ブラリ作成装置1、ライブラリファイル7、ユーザー回
路作成装置8、回路データファイル9、信号データファ
イル10及び論理シミュレーション装置11を備える。
開装置2、ネット記述展開装置3、及びデータベース作
成装置4を備える。真理値表展開装置2は種々のセルと
しての真理値表モデル5を入力し、データベース作成装
置4が扱うことのできる表現の真理値表モデルに変換す
る。真理値表モデルとは当該セルの機能を入力信号及び
出力信号のパターンで表現したものであり、例えば図5
〜図7に示す真理値表モデル40,41,42がある。
(図には明示されていない)を有するセルであり、入力
ピンCKの信号値に信号値の変化を示すエッジ信号が使
用されている。図6の真理値表モデル41もメモリ機能
(図には明示されていない)を有するセルであり、入力
ピンCKの信号値にエッジ信号が使用されている。図7
の真理値表モデル42もメモリ機能(図には明示されて
いない)を有するセルであり、新たな入力信号値に対し
て出力ピンQの信号値が前の出力値を参照している。
てのネット記述モデル6を入力し、データベース作成装
置4が扱うことのできる表現のネット記述モデルに変換
する。ネット記述モデルとは使用する素子及び素子間を
接続するネット情報で表現したものである。
置2によって変換された真理値表モデルとネット記述展
開装置3によって変換されたネット記述モデルとを入力
してデータベース化し、ライブラリファイル7にセルラ
イブラリとして登録する。
回路データ(ユーザーによって作成されたネットリス
ト)に基づいてライブラリファイル7から指定されてい
るセルのデータを読み混んでセルレイアウトを行うとと
もに、セル間配線を行って回路データを作成する。作成
されたユーザー回路データは回路ファイル9に登録され
る。
は、回路データファイル9からユーザー回路データを読
み込むとともに、信号データファイル10からテストパ
ターンデータを読み込む。読み込んだユーザー回路デー
タに真理値表モデルが使用されている場合には論理シミ
ュレーション装置11はライブラリファイル7から当該
真理値表モデルを読み込む。論理シミュレーション装置
11はこれらのデータに基づいて論理シミュレーション
を行うことによって、ユーザー回路の動作が期待値と一
致するかどうかを検証する。
る。図2に示すように、真理値表展開装置2は、真理値
表入力部21、エッジ入力判定部22、第1のメモリ追
加部23、有効エッジ分離部24、無効エッジ分離部2
5、レベル合成部26、自出力参照判定部27、第2の
メモリ追加部28、真理値表作成部29、及び省略記述
展開部30を備える。
力し、その入力した真理値表モデルを図12に示す内部
表現パターン55に従って変換する。図12の内部表現
パターン55において、A,B,Cは入力ピンを示し、
Mはメモリを示し、Qは出力ピンを示す。0,1,Xは
信号値(レベル)を示す。Xは0又は1である。*は
0,1,Xの任意の信号値を示す。[01]はエッジ信
号の表現を示し、括弧内の左側が変化前の信号値であ
り、右側が変化後の信号値である。=は出力変化なしを
示す。(B)は括弧内のピンの信号値を示し、(@B)
は括弧内のピンの信号値を反転した信号値を示す。
にエッジ入力を持つ真理値表モデルを入力する処理31
を行う。第1のメモリ追加部23はエッジ入力判定部2
1によって真理値表モデルにエッジ信号があると判定さ
れると、図3に示すようにメモリを追加する処理を行
う。この場合、原則として出力ピン1つに対して1つの
メモリを追加する。
に基づいて出力の信号値が変化する有効エッジの場合、
図3に示すようにエッジ信号を変化前のレベル信号と変
化後のレベル信号との2つの入力論理に変換する有効エ
ッジの分離処理33を行い、有効エッジ変換論理33A
を作成する。
の変換原理を示す。まず、真理値表モデル50にエッジ
信号があるために、メモリ追加部23によってメモリが
追加された真理値表モデル50Aが作成される。立ち上
がりのエッジ信号によって出力がHに変化しているた
め、有効エッジ分離部24によって、変化前のレベル信
号「L」と変化後のレベル信号「H」との2つの入力論
理に変換される。この場合、変化前のレベル信号「L」
に対して、メモリには真理値表モデル50の出力である
「H」が設定され、出力には「不変」が設定される。変
化後のレベル信号「H」に対して、メモリには「不変」
が設定され、出力にはメモリの値である「H」が設定さ
れる。
合の変換原理を示す。まず、真理値表モデル53にエッ
ジ信号があるために、メモリ追加部23によってメモリ
が追加された真理値表モデル53Aが作成される。この
場合、出力1と出力2との2つの出力ピンがあるが、出
力1,2は共に入力を参照しているため、メモリは1つ
のみ追加される。立ち上がりのエッジ信号によって出力
が入力の値に変化しているため、有効エッジ分離部24
によって、変化前のレベル信号「L」と変化後のレベル
信号「H」との2つの入力論理に変換される。この場
合、変化前のレベル信号「L」に対して、メモリには真
理値表モデル53の出力である「入力」が設定され、出
力には「不変」が設定される。変化後のレベル信号
「H」に対して、メモリには「不変」が設定され、出力
にはメモリの値である「入力」が設定される。
に基づいて出力の信号値が変化しない無効エッジの場
合、図3に示すようにエッジ信号を変化前のレベル信号
と変化後のレベル信号との2つの入力論理に変換する無
効エッジの分離処理34を行い、無効エッジ変換論理3
4Aを作成する。
の変換原理を示す。まず、真理値表モデル51にエッジ
信号があるために、メモリ追加部23によってメモリが
追加された真理値表モデル51Aが作成される。立ち下
がりのエッジ信号によって出力が不変であるため、無効
エッジ分離部25によって、変化前のレベル信号「H」
と変化後のレベル信号「L」との2つの入力論理に変換
される。この場合、変化前のレベル信号「H」に対し
て、メモリには真理値表モデル51の出力である「不
変」が設定され、出力には「不変」が設定される。変化
後のレベル信号「L」に対して、メモリには「不変」が
設定され、出力にはメモリの値である「不変」が設定さ
れる。
効エッジ変換論理33Aと無効エッジ変換論理34Aと
をこの順で合成するレベル信号の合成処理35を行い、
レベル入力のみの真理値表35Aを作成する。
に自出力値の参照を持つ真理値表モデルを入力する処理
36を行う。第2のメモリ追加部28は、図4に示すよ
うにメモリを追加する処理を行う。この場合、原則とし
て出力ピン1つに対して1つのメモリを追加する。
メモリ追加による真理値表変換処理38を行い、メモリ
追加後の真理値表38Aを作成する。図10は真理値表
作成部29の変換原理を示す。まず、真理値表モデル5
2の出力に自出力値の参照を持つために、メモリ追加部
28によってメモリが追加された真理値表モデル52A
が作成される。真理値表作成部29によって、真理値表
モデル52Aのメモリ及び出力にはメモリの値が設定さ
れる。
号の無効エッジに該当する出力不変のパターン群を生成
する。さて、図5に示す真理値表モデル40が真理値表
展開装置2に入力されると、この真理値表モデル40は
図12に示す内部表現パターン55に従って、図13に
示す真理値表モデル56に変換される。真理値表モデル
56の3つ目のパターン56A及び4つ目のパターン5
6Bには有効エッジがあるため、図14に示すように入
力側及び出力側にメモリMqが追加されたパターン群5
7が生成される。
信号「0」の入力論理57A1と、変化後のレベル信号
「1」の入力論理57A2との2つの入力論理に変換さ
れる。入力論理57A1においてメモリMqの変化前の
値については全ての信号値*が対象となるように設定さ
れ、メモリMqの変化後の値については出力Qに出力さ
れるべき値(この場合0)を設定する。入力論理57A
2においてメモリMqの変化後の値を出力Qに出力する
ことにより、有効エッジの分離ができる。
信号「1」の入力論理57B1と、変化後のレベル信号
「0」の入力論理57B2との2つの入力論理に変換さ
れる。入力論理57B1においてメモリMqの変化前の
値については全ての信号値*が対象となるように設定さ
れ、メモリMqの変化後の値については出力Qに出力さ
れるべき値(この場合1)を設定する。入力論理57B
2においてメモリMqの変化後の値を出力Qに出力する
ことにより、有効エッジの分離ができる。
が行われるときには、入力ピンPR,CLは固定的な値
であることが分かるため、図15に示すように省略され
たエッジ信号の無効エッジに該当する出力不変のパター
ン群58が生成される。これは本形態において省略パタ
ーンの出力はXを設定するルールを持っているためであ
り、エッジの省略部分のパターンである。
のエッジを含まない2つのパターンと、図14に示すパ
ターン群57と図15に示す出力不変パターン群58と
をこの順を以て合成することにより、図16に示す真理
値表モデル59が作成される。
して論理シミュレーション装置11に入力することによ
って、エッジ信号を持つ真理値表モデルをシミュレーシ
ョンすることができる。
図12に示す内部表現パターン55に従って変換した真
理値表モデル60を示す。真理値表モデル60のパター
ンには有効エッジがあるため、図18に示すように入力
側及び出力側にメモリMsが追加されたパターン群61
が生成される。パターン群61は、変化前のレベル信号
「0」の入力論理61A1と、変化後のレベル信号
「1」の入力論理61A2との2つの入力論理からな
る。入力論理61A1においてメモリMsの変化前の値
については全ての信号値*が対象となるように設定さ
れ、メモリMsの変化後の値については出力EQに出力
されるべき値(この場合S)を設定する。入力論理61
A2においてメモリMsの変化後の値を出力EQに出力
し、メモリMsの変化後の値を反転した値を出力XQに
出力することにより、有効エッジの分離ができる。
ジ信号の無効エッジに該当する出力不変のパターン群6
2が生成される。図18に示すパターン群61と図19
に示す出力不変パターン群62とをこの順を以て合成す
ることにより、図20に示す真理値表モデル63が作成
される。
も関わらず、2つの出力の信号値が同じ入力の信号値に
よって決まるため、追加するメモリが1つで済み、メモ
リの増加を抑制できる。
図12に示す内部表現パターン55に従って変換した真
理値表モデル65を示す。真理値表モデル65のパター
ンには自出力値の参照があるため、図22に示すように
入力側及び出力側にメモリMqが追加された真理値表モ
デル66が作成される。各パターンにおいてメモリMq
の変化前の値については全ての信号値*が対象となるよ
うに設定され、出力Q及びメモリMqの変化後の値には
メモリMqの変化前の値が設定される。
して論理シミュレーション装置11に入力することによ
って、自出力値を参照する真理値表モデルをシミュレー
ションすることができる。
の自動追加によって前の出力値を保持するためのメモリ
を真理値表モデルから省略することができ、また、エッ
ジ信号き展開により入力する真理値表モデルに直接エッ
ジ信号を表現できるようになり、セル設計者の負荷を軽
減できる。
入力のみの真理値表モデルを作成した上でデータベース
化することによってエッジ信号を扱えない論理シミュレ
ーション装置でも、エッジ信号を持つ真理値表モデルを
シミュレーションすることができる。
テムの構成図
ク図
ロー図
図
表モデル
表モデル
表モデル
Claims (2)
- 【請求項1】 機能が入力信号及び出力信号のパターン
で表現された真理値表モデルからなるセルを入力し、入
力信号に表されたエッジ信号を含むパターンについてメ
モリを追加し、前記エッジ信号を含むパターンを2つの
レベル信号入力のパターンに展開し、真理値表モデルに
おけるすべてのパターンをレベル信号入力のパターンに
した後にデータベース化するようにしたセルライブラリ
作成方法。 - 【請求項2】 機能が入力信号及び出力信号のパターン
で表現された真理値表モデルからなるセルを入力し、新
たな入力信号値に対して少なくとも1つの出力信号値が
前の出力値を参照するパターンについてメモリを追加し
た後にデータベース化するようにしたセルライブラリ作
成方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8061320A JPH09251483A (ja) | 1996-03-18 | 1996-03-18 | セルライブラリ作成方法 |
US08/811,529 US6035112A (en) | 1996-03-18 | 1997-03-04 | Cell library generating method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8061320A JPH09251483A (ja) | 1996-03-18 | 1996-03-18 | セルライブラリ作成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09251483A true JPH09251483A (ja) | 1997-09-22 |
Family
ID=13167739
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8061320A Pending JPH09251483A (ja) | 1996-03-18 | 1996-03-18 | セルライブラリ作成方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6035112A (ja) |
JP (1) | JPH09251483A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8069026B2 (en) | 2007-02-13 | 2011-11-29 | Fujitsu Limited | Clock gating analyzing apparatus, clock gating analyzing method, and computer product |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2384877B (en) * | 2002-02-01 | 2004-12-15 | Micron Technology Inc | System and method for generating high-quality libraries |
CN101526967B (zh) * | 2008-03-07 | 2011-08-03 | 北京芯慧同用微电子技术有限责任公司 | 一种标准单元库的设计方法和装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5416719A (en) * | 1992-12-17 | 1995-05-16 | Vlsi Technology, Inc. | Computerized generation of truth tables for sequential and combinatorial cells |
-
1996
- 1996-03-18 JP JP8061320A patent/JPH09251483A/ja active Pending
-
1997
- 1997-03-04 US US08/811,529 patent/US6035112A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8069026B2 (en) | 2007-02-13 | 2011-11-29 | Fujitsu Limited | Clock gating analyzing apparatus, clock gating analyzing method, and computer product |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6035112A (en) | 2000-03-07 |
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