JPH09243351A - 直角度測定装置 - Google Patents
直角度測定装置Info
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- JPH09243351A JPH09243351A JP4873996A JP4873996A JPH09243351A JP H09243351 A JPH09243351 A JP H09243351A JP 4873996 A JP4873996 A JP 4873996A JP 4873996 A JP4873996 A JP 4873996A JP H09243351 A JPH09243351 A JP H09243351A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 直角度の測定を高精度に、しかも、簡単に行
うことができる直角度測定装置を提供する。 【解決手段】 定盤20の上面を傾斜状とし、この定盤
20の傾斜方向下方側の側面にストッパ60A,60B
を有する第1基準プレート40と、ストッパ60Cおよ
び変位検出器70A〜70Cを有する第2基準プレート
50とをそれぞれ取り付け、定盤20の上面に測定対象
物Wを載置するエアーパッド30A〜30Dを設ける。
測定対象物Wは自重で傾斜方向下方へ移動し、第1の面
W1 がストッパ60A,60Bに、第2の面W2 がスト
ッパ60Cに当接され位置決めされるから、第1および
第2の面W1,W2 の直角度を高精度に測定できる。
うことができる直角度測定装置を提供する。 【解決手段】 定盤20の上面を傾斜状とし、この定盤
20の傾斜方向下方側の側面にストッパ60A,60B
を有する第1基準プレート40と、ストッパ60Cおよ
び変位検出器70A〜70Cを有する第2基準プレート
50とをそれぞれ取り付け、定盤20の上面に測定対象
物Wを載置するエアーパッド30A〜30Dを設ける。
測定対象物Wは自重で傾斜方向下方へ移動し、第1の面
W1 がストッパ60A,60Bに、第2の面W2 がスト
ッパ60Cに当接され位置決めされるから、第1および
第2の面W1,W2 の直角度を高精度に測定できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、測定対象物の第1
の面と第2の面との直角度を測定する直角度測定装置に
関する。
の面と第2の面との直角度を測定する直角度測定装置に
関する。
【0002】
【背景技術】加工部分の形状を測定しようとする場合、
寸法についで角度を測定しなければならないことが多
い。角度を測定する方法にはいろいろな方法があるが、
そのうちでも基準となる直角度を測定したい場合が多
い。従来、直角度を測定する方法としては、専用の測定
装置を用いて測定する方法、あるいは、三次元測定機を
利用して測定する方法などが知られている。
寸法についで角度を測定しなければならないことが多
い。角度を測定する方法にはいろいろな方法があるが、
そのうちでも基準となる直角度を測定したい場合が多
い。従来、直角度を測定する方法としては、専用の測定
装置を用いて測定する方法、あるいは、三次元測定機を
利用して測定する方法などが知られている。
【0003】前者の測定装置を用いて測定する方法とし
て、たとえば、図9に示す方法が知られている。この測
定装置2は、定盤1上に移動可能に設けられかつストッ
パ3Aを有する台本体3と、この台本体3に直角に立設
された支柱4と、この支柱4に沿って昇降可能に設けら
れたスライダ5と、このスライダ5に取り付けられたイ
ンジケータなどの測定器6とを備えた構造である。
て、たとえば、図9に示す方法が知られている。この測
定装置2は、定盤1上に移動可能に設けられかつストッ
パ3Aを有する台本体3と、この台本体3に直角に立設
された支柱4と、この支柱4に沿って昇降可能に設けら
れたスライダ5と、このスライダ5に取り付けられたイ
ンジケータなどの測定器6とを備えた構造である。
【0004】測定にあたっては、測定対象物Wの直角度
を測定しようとする第1および第2の面W1,W2 のう
ち、第1の面W1 をブロックゲージ7を介して定盤1の
上面に載置するとともに、台本体3のストッパ3Aをブ
ロックゲージ7に付き当てて測定装置2と測定対象物W
との間隔を一定に保つ。この状態において、第2の面W
2 に測定器6の測定子6Aを接触させたのち、スライダ
5を支柱4に沿って昇降させながら、測定器6の値を読
み取り、これらの測定値から測定対象物Wの第1および
第2の面W1,W2 の直角度を測定する。
を測定しようとする第1および第2の面W1,W2 のう
ち、第1の面W1 をブロックゲージ7を介して定盤1の
上面に載置するとともに、台本体3のストッパ3Aをブ
ロックゲージ7に付き当てて測定装置2と測定対象物W
との間隔を一定に保つ。この状態において、第2の面W
2 に測定器6の測定子6Aを接触させたのち、スライダ
5を支柱4に沿って昇降させながら、測定器6の値を読
み取り、これらの測定値から測定対象物Wの第1および
第2の面W1,W2 の直角度を測定する。
【0005】後者の三次元測定機を利用して測定する方
法は、図10に示すように、プローブ7を移動させなが
ら、測定対象物Wの第1の面W1 の2測定点A,Bに接
触させてそれらの座標値を読み取るとともに、第2の面
W2 の2測定点C,Dに接触させてそれらの座標値を読
み取り、こののち、2測定点A,Bを結ぶ線分および2
測定点C,Dを結ぶ線分をそれぞれ演算し、この両線分
の角度から測定対象物Wの第1および第2の面W1,W2
の直角度を測定する方法である。
法は、図10に示すように、プローブ7を移動させなが
ら、測定対象物Wの第1の面W1 の2測定点A,Bに接
触させてそれらの座標値を読み取るとともに、第2の面
W2 の2測定点C,Dに接触させてそれらの座標値を読
み取り、こののち、2測定点A,Bを結ぶ線分および2
測定点C,Dを結ぶ線分をそれぞれ演算し、この両線分
の角度から測定対象物Wの第1および第2の面W1,W2
の直角度を測定する方法である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
直角度の測定方法では、測定器6やプローブ7を移動さ
せながら測定していくため、直角度の測定精度が測定器
6やプローブ7の移動機構の真直性に依存し、高精度な
測定が期待できないという欠点がある。とくに、前者の
測定装置2を用いた測定の場合には、測定者が台本体3
を手で把持しながら台本体3を定盤1上を移動させてい
るため、手の熱によって台本体3が熱膨張しやすい。し
かも、ストッパ3Aをブロックゲージ7に付き当てて測
定するようにしているため、付き当て力についても測定
者によってバラツキが生じやすい。すると、付き当て力
によって測定装置2や測定対象物Wの変形度合いもバラ
ツキが生じるため、高精度な測定が期待できなかった。
直角度の測定方法では、測定器6やプローブ7を移動さ
せながら測定していくため、直角度の測定精度が測定器
6やプローブ7の移動機構の真直性に依存し、高精度な
測定が期待できないという欠点がある。とくに、前者の
測定装置2を用いた測定の場合には、測定者が台本体3
を手で把持しながら台本体3を定盤1上を移動させてい
るため、手の熱によって台本体3が熱膨張しやすい。し
かも、ストッパ3Aをブロックゲージ7に付き当てて測
定するようにしているため、付き当て力についても測定
者によってバラツキが生じやすい。すると、付き当て力
によって測定装置2や測定対象物Wの変形度合いもバラ
ツキが生じるため、高精度な測定が期待できなかった。
【0007】ここに、本発明の目的は、このような従来
の欠点を解消し、直角度の測定を高精度に、しかも、簡
単に行うことができる直角度測定装置を提供することに
ある。
の欠点を解消し、直角度の測定を高精度に、しかも、簡
単に行うことができる直角度測定装置を提供することに
ある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の直角度測定装置
は、測定対象物の第1の面と第2の面との直角度を測定
する直角度測定装置であって、上面が傾斜された定盤
と、前記測定対象物を載置しかつ前記定盤上面に向けて
エアーを噴出しながら定盤上面を移動可能なエアーパッ
ドと、このエアーパッドを介して前記測定対象物が自重
で前記定盤上面の傾斜方向下方へ移動してきたとき前記
測定対象物の第1の面および第2の面に当接しその第1
の面を基準に測定対象物を位置決めする複数のストッパ
と、このストッパによって位置決めされた測定対象物の
第2の面の数点に当接しその各点における前記第1の面
と平行な方向における位置を測定する変位検出手段とを
具備したことを特徴とする。
は、測定対象物の第1の面と第2の面との直角度を測定
する直角度測定装置であって、上面が傾斜された定盤
と、前記測定対象物を載置しかつ前記定盤上面に向けて
エアーを噴出しながら定盤上面を移動可能なエアーパッ
ドと、このエアーパッドを介して前記測定対象物が自重
で前記定盤上面の傾斜方向下方へ移動してきたとき前記
測定対象物の第1の面および第2の面に当接しその第1
の面を基準に測定対象物を位置決めする複数のストッパ
と、このストッパによって位置決めされた測定対象物の
第2の面の数点に当接しその各点における前記第1の面
と平行な方向における位置を測定する変位検出手段とを
具備したことを特徴とする。
【0009】測定にあたって、測定対象物をエアーパッ
ドを介して定盤上面に載置する。すると、定盤上面は傾
斜し、かつ、エアーパッドは定盤上面に向けてエアーを
噴出しているから、測定対象物は自重でエアーパッドを
介して定盤上面の傾斜方向下方へ移動していく。する
と、測定対象物の第1の面および第2の面がストッパに
当接され、このストッパによって第1の面を基準に測定
対象物が位置決めされる。この状態において、変位検出
手段によって測定対象物の第2の面の数点において、第
1の面と平行な方向における位置が測定されるから、こ
れらの測定値から測定対象物の直角度を求めることがで
きる。
ドを介して定盤上面に載置する。すると、定盤上面は傾
斜し、かつ、エアーパッドは定盤上面に向けてエアーを
噴出しているから、測定対象物は自重でエアーパッドを
介して定盤上面の傾斜方向下方へ移動していく。する
と、測定対象物の第1の面および第2の面がストッパに
当接され、このストッパによって第1の面を基準に測定
対象物が位置決めされる。この状態において、変位検出
手段によって測定対象物の第2の面の数点において、第
1の面と平行な方向における位置が測定されるから、こ
れらの測定値から測定対象物の直角度を求めることがで
きる。
【0010】従って、測定者が手で測定対象物を押して
測定基準位置まで移動させなくてもよいから、手の熱に
よって測定対象物が熱膨張することもないうえ、測定対
象物を常に一定の力(自重による力)でストッパに当接
させて位置決めすることができるから、高精度な測定が
期待できる。このことは、測定者に測定対象物を移動さ
せるために過大な労力を強いることもないから、簡単か
つ迅速に測定できる。しかも、測定対象物と定盤上面と
は直接接触した状態で移動することがなくなるから、こ
れらに傷などを生じさせない利点がある。
測定基準位置まで移動させなくてもよいから、手の熱に
よって測定対象物が熱膨張することもないうえ、測定対
象物を常に一定の力(自重による力)でストッパに当接
させて位置決めすることができるから、高精度な測定が
期待できる。このことは、測定者に測定対象物を移動さ
せるために過大な労力を強いることもないから、簡単か
つ迅速に測定できる。しかも、測定対象物と定盤上面と
は直接接触した状態で移動することがなくなるから、こ
れらに傷などを生じさせない利点がある。
【0011】以上の構成において、前記定盤は、上面が
傾斜した状態に調整可能な複数の調整脚を備える構成が
好ましい。このようにすれば、調整脚の調整によって定
盤上面の傾斜角を任意に調整することができるから、測
定対象物の重量などに応じて、測定対象物の移動速度
(自重による移動速度)を適度な速度に設定することが
できる。
傾斜した状態に調整可能な複数の調整脚を備える構成が
好ましい。このようにすれば、調整脚の調整によって定
盤上面の傾斜角を任意に調整することができるから、測
定対象物の重量などに応じて、測定対象物の移動速度
(自重による移動速度)を適度な速度に設定することが
できる。
【0012】また、前記ストッパは、先端が先鋭形状で
前記測定対象物の第1の面に当接する2つのストッパ
と、先端が先鋭形状で前記測定対象物の第2の面に当接
する1つのストッパとを含む構成が好ましい。このよう
にすれば、少ない数のストッパによって、測定対象物の
位置決めを正確に行うことができる。
前記測定対象物の第1の面に当接する2つのストッパ
と、先端が先鋭形状で前記測定対象物の第2の面に当接
する1つのストッパとを含む構成が好ましい。このよう
にすれば、少ない数のストッパによって、測定対象物の
位置決めを正確に行うことができる。
【0013】また、前記変位検出手段は、前記位置決め
された測定対象物の第1の面に対して略直交しかつ定盤
上面と略平行な軸方向に沿って所定間隔隔てて配置され
前記測定対象物の第2の面までの距離をそれぞれ測定す
る複数の変位検出器を含む構成が好ましい。このように
すれば、測定対象物がストッパで位置決めされると同時
に、その測定対象物の第1の面に対して略直交しかつ定
盤上面と略平行な軸方向における複数点において、測定
対象物の第2の面までの距離をそれぞれ測定することが
できるから、これらの測定値から直角度を高精度に求め
ることができる。
された測定対象物の第1の面に対して略直交しかつ定盤
上面と略平行な軸方向に沿って所定間隔隔てて配置され
前記測定対象物の第2の面までの距離をそれぞれ測定す
る複数の変位検出器を含む構成が好ましい。このように
すれば、測定対象物がストッパで位置決めされると同時
に、その測定対象物の第1の面に対して略直交しかつ定
盤上面と略平行な軸方向における複数点において、測定
対象物の第2の面までの距離をそれぞれ測定することが
できるから、これらの測定値から直角度を高精度に求め
ることができる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図1
〜図8を参照しながら詳細に説明する。図1は本実施形
態の直角度測定装置を示す斜視図、図8は測定対象物W
をセットした状態の平面図である。これらの図に示すよ
うに、本直角度測定装置は、スタンド10と、このスタ
ンド10上に載置されかつ上面が傾斜状に設置された定
盤20と、測定対象物Wを載置し前記定盤20上に移動
可能に設けられた複数のエアーパッド30A〜30D
と、前記定盤20の傾斜方向下方側の側面に互いに直交
するX,Y軸方向に沿って配置された第1および第2基
準プレート40,50と、これら第1および第2基準プ
レート40,50に配置され前記測定対象物Wが自重で
傾斜方向下方側へ移動してきたとき測定対象物Wの第1
および第2の面W1,W2 に当接しその第1の面W1 を基
準に測定対象物Wを位置決めする複数のストッパ60
A,60B,60Cと、前記第2基準プレート50に配
置され測定対象物Wの第2の面W2 の数点に当接しその
各点における前記第1の面W1 と平行な方向(X軸方
向)における位置を測定するた変位検出手段としての複
数の変位検出器70A〜70Cとを備えている。
〜図8を参照しながら詳細に説明する。図1は本実施形
態の直角度測定装置を示す斜視図、図8は測定対象物W
をセットした状態の平面図である。これらの図に示すよ
うに、本直角度測定装置は、スタンド10と、このスタ
ンド10上に載置されかつ上面が傾斜状に設置された定
盤20と、測定対象物Wを載置し前記定盤20上に移動
可能に設けられた複数のエアーパッド30A〜30D
と、前記定盤20の傾斜方向下方側の側面に互いに直交
するX,Y軸方向に沿って配置された第1および第2基
準プレート40,50と、これら第1および第2基準プ
レート40,50に配置され前記測定対象物Wが自重で
傾斜方向下方側へ移動してきたとき測定対象物Wの第1
および第2の面W1,W2 に当接しその第1の面W1 を基
準に測定対象物Wを位置決めする複数のストッパ60
A,60B,60Cと、前記第2基準プレート50に配
置され測定対象物Wの第2の面W2 の数点に当接しその
各点における前記第1の面W1 と平行な方向(X軸方
向)における位置を測定するた変位検出手段としての複
数の変位検出器70A〜70Cとを備えている。
【0015】前記定盤20は、下面に複数の調整脚21
を備え、その調整脚21の高さ調整によって上面(定盤
20の上面)が前記第1および第2基準プレート40,
50側が低くなるように傾斜状に据え付けられている。
つまり、II方向から見た場合、図2に示すように、第1
基準プレート40側がそれとは反対側に対して低くなる
ように、また、III 方向から見た場合、図3に示すよう
に、第2基準プレート50側がそれとは反対側に対して
低くなるように、スタンド10上に傾斜状に据え付けら
れている。
を備え、その調整脚21の高さ調整によって上面(定盤
20の上面)が前記第1および第2基準プレート40,
50側が低くなるように傾斜状に据え付けられている。
つまり、II方向から見た場合、図2に示すように、第1
基準プレート40側がそれとは反対側に対して低くなる
ように、また、III 方向から見た場合、図3に示すよう
に、第2基準プレート50側がそれとは反対側に対して
低くなるように、スタンド10上に傾斜状に据え付けら
れている。
【0016】前記各エアーパッド30A〜30Dは、図
4に示すように、下面に前記定盤20の上面に向けてエ
アーを噴出する複数のエアー噴出孔31を備え、かつ、
内部にこれらのエアー噴出孔31にエアーを供給するエ
アー供給孔32が形成されている。各エアーパッド30
A〜30Dのエアー供給孔32は、エアー配管33を通
じて互いに連通されているとともに、図示しないコンプ
レッサなどからエアーが供給されている。
4に示すように、下面に前記定盤20の上面に向けてエ
アーを噴出する複数のエアー噴出孔31を備え、かつ、
内部にこれらのエアー噴出孔31にエアーを供給するエ
アー供給孔32が形成されている。各エアーパッド30
A〜30Dのエアー供給孔32は、エアー配管33を通
じて互いに連通されているとともに、図示しないコンプ
レッサなどからエアーが供給されている。
【0017】前記各基準プレート40,50は、図5に
示すように、前記定盤20のX,Y軸方向の側面に上下
方向(Z軸方向)へ位置調整可能に取り付けられてい
る。つまり、基準プレート40,50の下部位置に長孔
41が上下方向に形成され、この長孔41にボルト42
を介して上下方向へ位置調整可能に取り付けられてい
る。また、基準プレート40の上部位置(定盤20の上
面より上方へ突出した部分)には、先端が先鋭状(ここ
では球状)をなした前記ストッパ60A,60BがX軸
方向に所定間隔隔てて取り付けられている。基準プレー
ト50の上部位置(定盤20の上面より上方へ突出した
部分)には、先端が先鋭状(ここでは球状)をなした前
記ストッパ60Cが取り付けられている。
示すように、前記定盤20のX,Y軸方向の側面に上下
方向(Z軸方向)へ位置調整可能に取り付けられてい
る。つまり、基準プレート40,50の下部位置に長孔
41が上下方向に形成され、この長孔41にボルト42
を介して上下方向へ位置調整可能に取り付けられてい
る。また、基準プレート40の上部位置(定盤20の上
面より上方へ突出した部分)には、先端が先鋭状(ここ
では球状)をなした前記ストッパ60A,60BがX軸
方向に所定間隔隔てて取り付けられている。基準プレー
ト50の上部位置(定盤20の上面より上方へ突出した
部分)には、先端が先鋭状(ここでは球状)をなした前
記ストッパ60Cが取り付けられている。
【0018】前記第2基準プレート50の上部位置に
は、図6に示すように、Y軸方向に沿って長孔53が形
成され、この長孔53に前記複数の変位検出器70A〜
70Cが位置調整可能に取り付けられている。つまり、
変位検出器70A〜70Cは、位置決めされた測定対象
物Wの第1の面W1 に対して略直交しかつ定盤20上面
と略平行な軸方向に沿って位置調整可能に取り付けられ
ている。各変位検出器70A〜70Cは、測定定対象物
Wの第2の面W2 までの距離を測定するもので、ここで
は、測定定対象物Wの第2の面W2 に当接する測定子の
軸方向(X軸方向)の変位を電気信号として検出するリ
ニアゲージが用いられている。
は、図6に示すように、Y軸方向に沿って長孔53が形
成され、この長孔53に前記複数の変位検出器70A〜
70Cが位置調整可能に取り付けられている。つまり、
変位検出器70A〜70Cは、位置決めされた測定対象
物Wの第1の面W1 に対して略直交しかつ定盤20上面
と略平行な軸方向に沿って位置調整可能に取り付けられ
ている。各変位検出器70A〜70Cは、測定定対象物
Wの第2の面W2 までの距離を測定するもので、ここで
は、測定定対象物Wの第2の面W2 に当接する測定子の
軸方向(X軸方向)の変位を電気信号として検出するリ
ニアゲージが用いられている。
【0019】次に、本実施形態の作用を説明する。測定
にあたつては、図7に示すように、エアーパッド30A
〜30D上に測定対象物Wを載置する。このとき、各エ
アーパッド30A〜30Dのエアー噴出孔31からは高
圧エアーが定盤20上に向けて噴出され、エアーパッド
30A〜30Dが定盤20の上面より所定量だけ浮上さ
れているから、測定対象物Wはエアーパッド30A〜3
0Dに乗った状態で自重により定盤20の上面を滑りな
がら第1、第2基準プレート40,50側に移動してい
く。
にあたつては、図7に示すように、エアーパッド30A
〜30D上に測定対象物Wを載置する。このとき、各エ
アーパッド30A〜30Dのエアー噴出孔31からは高
圧エアーが定盤20上に向けて噴出され、エアーパッド
30A〜30Dが定盤20の上面より所定量だけ浮上さ
れているから、測定対象物Wはエアーパッド30A〜3
0Dに乗った状態で自重により定盤20の上面を滑りな
がら第1、第2基準プレート40,50側に移動してい
く。
【0020】これにより、図8に示すように、測定対象
物Wの第1の面W1 が第1基準プレート40の2つのス
トッパ60A,60Bに当接され、また、測定対象物W
の第2の面W2 が第2基準プレート50のストッパ60
Cに当接される。つまり、測定対象物Wは第1の面W1
を基準に位置決めされる。この状態において、複数の変
位検出器70A〜70Cの値を読み取ると、これらの測
定値から、測定対象物Wの第1、第2の面W1,W2 の直
角度を求めることができる。
物Wの第1の面W1 が第1基準プレート40の2つのス
トッパ60A,60Bに当接され、また、測定対象物W
の第2の面W2 が第2基準プレート50のストッパ60
Cに当接される。つまり、測定対象物Wは第1の面W1
を基準に位置決めされる。この状態において、複数の変
位検出器70A〜70Cの値を読み取ると、これらの測
定値から、測定対象物Wの第1、第2の面W1,W2 の直
角度を求めることができる。
【0021】なお、図8において、測定対象物Wを表裏
反転し、測定対象物Wの第4の面W 4 をストッパ60C
に当接させた状態において、変位検出器70A〜70C
の値を読み取り、これと第2の面W2 の測定値との差を
求めれば、測定対象物Wの第2の面W2 と第4の面W4
との平行度も求めることができる。同様にして、測定対
象物Wの第1の面W1 と第1の面W3 との平行度も求め
ることができる。
反転し、測定対象物Wの第4の面W 4 をストッパ60C
に当接させた状態において、変位検出器70A〜70C
の値を読み取り、これと第2の面W2 の測定値との差を
求めれば、測定対象物Wの第2の面W2 と第4の面W4
との平行度も求めることができる。同様にして、測定対
象物Wの第1の面W1 と第1の面W3 との平行度も求め
ることができる。
【0022】本実施形態によれば、定盤20の上面が傾
斜状となるように定盤20を設置し、この定盤20の傾
斜方向下方側の側面に2つのストッパ60A,60Bを
有する第1基準プレート40と、1つのストッパ60C
および複数の変位検出器70A〜70Cを有する第2基
準プレート50とをそれぞれ取り付けるとともに、定盤
20の上面に複数のエアーパッド30A〜30Dを移動
可能に設けたので、その複数のエアーパッド30A〜3
0D上に測定対象物Wを載置すると、測定対象物Wは自
重でエアーパッド30A〜30Dを介して定盤20上面
の傾斜方向下方へ移動していき、測定対象物Wの第1の
面W1 および第2の面W2 がストッパ60A,60B,
60Cに当接される。
斜状となるように定盤20を設置し、この定盤20の傾
斜方向下方側の側面に2つのストッパ60A,60Bを
有する第1基準プレート40と、1つのストッパ60C
および複数の変位検出器70A〜70Cを有する第2基
準プレート50とをそれぞれ取り付けるとともに、定盤
20の上面に複数のエアーパッド30A〜30Dを移動
可能に設けたので、その複数のエアーパッド30A〜3
0D上に測定対象物Wを載置すると、測定対象物Wは自
重でエアーパッド30A〜30Dを介して定盤20上面
の傾斜方向下方へ移動していき、測定対象物Wの第1の
面W1 および第2の面W2 がストッパ60A,60B,
60Cに当接される。
【0023】これにより、第1の面W1 を基準に測定対
象物Wが位置決めされるから、この状態において、複数
の変位検出器70A〜70Cの値を読み取れば、これら
の値から測定対象物Wの直角度を求めることができる。
従って、従来の測定方法のように、測定器などが移動し
ながら測定を行うものでないから、直角度を高精度に、
しかも、簡単に測定することができる。
象物Wが位置決めされるから、この状態において、複数
の変位検出器70A〜70Cの値を読み取れば、これら
の値から測定対象物Wの直角度を求めることができる。
従って、従来の測定方法のように、測定器などが移動し
ながら測定を行うものでないから、直角度を高精度に、
しかも、簡単に測定することができる。
【0024】また、測定者が手で測定対象物を押して測
定基準位置まで移動させなくてもよいから、手の熱によ
って測定対象物が熱膨張することもないうえ、測定対象
物を常に一定の力でストッパ60A,60B,60Cに
当接させることができるから、高精度な測定を期待でき
る。このことは、測定者に測定対象物Wを移動させるた
めに過大な労力を強いることもないから、簡単かつ迅速
に測定できる。しかも、測定対象物Wと定盤20上面と
は直接接触した状態で移動することがなくなるから、こ
れらに傷などを生じさせない利点がある。
定基準位置まで移動させなくてもよいから、手の熱によ
って測定対象物が熱膨張することもないうえ、測定対象
物を常に一定の力でストッパ60A,60B,60Cに
当接させることができるから、高精度な測定を期待でき
る。このことは、測定者に測定対象物Wを移動させるた
めに過大な労力を強いることもないから、簡単かつ迅速
に測定できる。しかも、測定対象物Wと定盤20上面と
は直接接触した状態で移動することがなくなるから、こ
れらに傷などを生じさせない利点がある。
【0025】また、各基準プレート40,50に長孔4
1を形成し、この長孔41によって各基準プレート4
0,50を定盤20に対して上下方向へ位置調整可能に
設けたので、ストッパ60A〜60Cの位置や変位検出
器70A〜70Cの高さ位置を測定対象物Wの厚みの変
化に対応させることができる。また、第2基準プレート
50に長孔53を形成し、この長孔53に変位検出器7
0A〜70Cを位置調整可能に取り付けたので、Y軸方
向における測定位置を任意に選択することができる。
1を形成し、この長孔41によって各基準プレート4
0,50を定盤20に対して上下方向へ位置調整可能に
設けたので、ストッパ60A〜60Cの位置や変位検出
器70A〜70Cの高さ位置を測定対象物Wの厚みの変
化に対応させることができる。また、第2基準プレート
50に長孔53を形成し、この長孔53に変位検出器7
0A〜70Cを位置調整可能に取り付けたので、Y軸方
向における測定位置を任意に選択することができる。
【0026】以上の実施形態では、定盤20の上面が傾
斜状になるように、調整脚21を調整したが、定盤20
の上面を下面に対して傾斜状に成形し、その定盤20を
水平状に設置してもよい。また、エアーパッド30A〜
30Dの数は、1〜3つでもよく、さらに、5以上であ
ってもよい。
斜状になるように、調整脚21を調整したが、定盤20
の上面を下面に対して傾斜状に成形し、その定盤20を
水平状に設置してもよい。また、エアーパッド30A〜
30Dの数は、1〜3つでもよく、さらに、5以上であ
ってもよい。
【0027】また、第1、第2基準プレート40,50
の取付位置は、定盤20の側面に限らず、定盤20の上
面でもよい。また、第2基準プレート50に形成した長
孔53をY軸方向に延長し、ストッパ60Cを含めて位
置調整可能に構成してもよい。さらに、第1基準プレー
ト40にも長孔を設け、この長孔を利用してストッパ6
0A,60BをX軸方向へ位置調整可能に構成してもよ
い。
の取付位置は、定盤20の側面に限らず、定盤20の上
面でもよい。また、第2基準プレート50に形成した長
孔53をY軸方向に延長し、ストッパ60Cを含めて位
置調整可能に構成してもよい。さらに、第1基準プレー
ト40にも長孔を設け、この長孔を利用してストッパ6
0A,60BをX軸方向へ位置調整可能に構成してもよ
い。
【0028】また、ストッパの数についても、上記実施
形態で挙げた3つに限らず、2個でもよい。たとえば、
測定対象物Wの第1の面W1 に対しては平面状の当接面
を有する1つのストッパを、第2の面W2 に対しては先
鋭状の当接点を有する1つのストッパを設ければ、合計
2個のストッパでも足りる。また、変位検出器70A〜
70Cとして、リニアゲージを用いたが、これに限ら
ず、インジケータやマイクロメータなどでもよく、さら
に、非接触式検出器であってもよい。数についても、3
つに限らず、2以上であればいくつでもよい。
形態で挙げた3つに限らず、2個でもよい。たとえば、
測定対象物Wの第1の面W1 に対しては平面状の当接面
を有する1つのストッパを、第2の面W2 に対しては先
鋭状の当接点を有する1つのストッパを設ければ、合計
2個のストッパでも足りる。また、変位検出器70A〜
70Cとして、リニアゲージを用いたが、これに限ら
ず、インジケータやマイクロメータなどでもよく、さら
に、非接触式検出器であってもよい。数についても、3
つに限らず、2以上であればいくつでもよい。
【0029】
【発明の効果】本発明の直角度測定装置によれば、従来
の欠点を解消し、直角度の測定を高精度に、しかも、簡
単に行うことができる。
の欠点を解消し、直角度の測定を高精度に、しかも、簡
単に行うことができる。
【図1】本発明の直角度測定装置の一実施形態を示す斜
視図である。
視図である。
【図2】図1のII方向から見た図である。
【図3】図1のIII 方向から見た図である。
【図4】同上実施形態におけるエアーパッドを示す断面
図である。
図である。
【図5】同上実施形態における基準プレートの取り付け
状態を示す図である。
状態を示す図である。
【図6】同上実施形態における第2基準プレートの正面
図である。
図である。
【図7】同上実施形態における測定状態を示す斜視図で
ある。
ある。
【図8】図7の平面図である。
【図9】従来の測定装置による直角度測定の様子を示す
図である。
図である。
【図10】従来の三次元測定機による直角度測定の様子
を示す図である。
を示す図である。
20 定盤 30A〜30D エアーパッド 60A〜60C ストッパ 70A〜70C 変位検出器 W 測定対象物 W1 第1の面 W2 第2の面
Claims (4)
- 【請求項1】 測定対象物の第1の面と第2の面との直
角度を測定する直角度測定装置であって、 上面が傾斜された定盤と、 前記測定対象物を載置しかつ前記定盤上面に向けてエア
ーを噴出しながら定盤上面を移動可能なエアーパッド
と、 このエアーパッドを介して前記測定対象物が自重で前記
定盤上面の傾斜方向下方へ移動してきたとき前記測定対
象物の第1の面および第2の面に当接しその第1の面を
基準に測定対象物を位置決めする複数のストッパと、 このストッパによって位置決めされた測定対象物の第2
の面の数点に当接しその各点における前記第1の面と平
行な方向における位置を測定する変位検出手段とを具備
したことを特徴とする直角度測定装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の直角度測定装置におい
て、前記定盤は、上面が傾斜した状態に調整可能な複数
の調整脚を備えていることを特徴とする直角度測定装
置。 - 【請求項3】 請求項1または請求項2に記載の直角度
測定装置において、前記ストッパは、先端が先鋭形状で
前記測定対象物の第1の面に当接する2つのストッパ
と、先端が先鋭形状で前記測定対象物の第2の面に当接
する1つのストッパとを含むことを特徴とする直角度測
定装置。 - 【請求項4】 請求項3に記載の直角度測定装置におい
て、前記変位検出手段は、前記位置決めされた測定対象
物の第1の面に対して略直交しかつ定盤上面と略平行な
軸方向に沿って所定間隔隔てて配置され前記測定対象物
の第2の面までの距離をそれぞれ測定する複数の変位検
出器を含むことを特徴とする直角度測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4873996A JPH09243351A (ja) | 1996-03-06 | 1996-03-06 | 直角度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4873996A JPH09243351A (ja) | 1996-03-06 | 1996-03-06 | 直角度測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09243351A true JPH09243351A (ja) | 1997-09-19 |
Family
ID=12811666
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4873996A Withdrawn JPH09243351A (ja) | 1996-03-06 | 1996-03-06 | 直角度測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09243351A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1515115A2 (en) * | 2003-09-09 | 2005-03-16 | Mitutoyo Corporation | Form measuring device, form measuring method, form analysis device, form analysis program, and recording medium storing the program |
CN113639672A (zh) * | 2021-08-12 | 2021-11-12 | 宝武集团马钢轨交材料科技有限公司 | 钢坯锯切面角偏自动测量系统及其测量方法 |
CN118463779A (zh) * | 2024-07-15 | 2024-08-09 | 中国机械总院集团宁波智能机床研究院有限公司 | 机床的垂直度和平行度的检测方法及检测装置 |
-
1996
- 1996-03-06 JP JP4873996A patent/JPH09243351A/ja not_active Withdrawn
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1515115A2 (en) * | 2003-09-09 | 2005-03-16 | Mitutoyo Corporation | Form measuring device, form measuring method, form analysis device, form analysis program, and recording medium storing the program |
EP1515115A3 (en) * | 2003-09-09 | 2005-04-13 | Mitutoyo Corporation | Form measuring device, form measuring method, form analysis device, form analysis program, and recording medium storing the program |
EP1742018A2 (en) | 2003-09-09 | 2007-01-10 | Mitutoyo Corporation | Form measuring device, form measuring method, form analysis device, form analysis program and recording medium storing the program |
US7188046B2 (en) | 2003-09-09 | 2007-03-06 | Mitutoyo Corporation | Form measuring device, form measuring method, form analysis device, form analysis program, and recording medium storing the program |
CN100375884C (zh) * | 2003-09-09 | 2008-03-19 | 三丰株式会社 | 形状测定装置和方法、形状解析装置 |
US7483807B2 (en) | 2003-09-09 | 2009-01-27 | Mitutoyo Corporation | Form measuring device, form measuring method, form analysis device, form analysis program, and recording medium storing the program |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030506 |