JPH09237866A - Manufacture of dam-barfree lead frame member and dam-barfree lead frame member - Google Patents
Manufacture of dam-barfree lead frame member and dam-barfree lead frame memberInfo
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- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、ダムバーを絶縁性の樹
脂により形成して樹脂封止を行う樹脂封止型半導体装置
用のダムバーフリーリードフレーム部材の製造方法と、
その製造方法により作製されたダムバーフリーリードフ
レーム部材に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a dambar-free lead frame member for a resin-sealed semiconductor device, in which a dambar is formed of an insulating resin and resin-sealed.
The present invention relates to a dam bar free lead frame member manufactured by the manufacturing method.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、電子制御装置等に用いられる樹脂
封止型半導体装置(プラスチック封止型パッケージ)
は、図10に示すような構造をしており、ダムバー付き
のリードフレームを用いて、簡単には、(a)LSI等
の半導体素子をリードフレームのダイパッド部に銀ペー
スト等のダイボンデイング材にて搭載し、ワイヤーボン
デイングにて半導体素子の端子とリードフレームとを電
気的に結線する工程、(b)樹脂を用いて半導体素子と
リードフレームとをモールドプレスにて樹脂封止し、後
に樹脂封止時に生じた封止樹脂のはみ出しである樹脂バ
リをウオータジエットやサンドブラスト等の方法で除去
する工程、(c)更に、リードフレームのアウターリー
ド間に形成されている樹脂のはみ出しを止めるためのダ
ムバーをポンチにて打ち抜き除去する工程、(d)しか
る後にリードフレームのアウターリード部分を金型にて
所定の形状に加工する工程、等を経て製造されていた。2. Description of the Related Art Conventionally, resin-encapsulated semiconductor devices (plastic-encapsulated packages) used in electronic control devices and the like.
10 has a structure as shown in FIG. 10, and using a lead frame with a dam bar, (a) a semiconductor element such as an LSI can be simply used as a die bonding material such as silver paste on the die pad portion of the lead frame. And then electrically connecting the terminals of the semiconductor element to the lead frame by wire bonding, (b) resin-sealing the semiconductor element and the lead frame with a resin, and then resin-sealing. A step of removing resin burrs, which is the protrusion of the sealing resin at the time of stopping, by a method such as water jet or sandblasting, and (c) Furthermore, a dam bar for stopping the protrusion of the resin formed between the outer leads of the lead frame. Punching and removing with a punch, (d) After that, the outer lead part of the lead frame is processed into a predetermined shape with a mold That step, etc. have been produced through a.
【0003】そして、この樹脂封止型半導体装置(プラ
スチック封止型パッケージ)作製に用いられるダムバー
付きのリードフレームは、図9に示すようなものが、一
般的で、半導体素子の電極部と電気的に接続されるイン
ナーリード部901と、外部回路と電気的に接続される
アウターリード部902と、半導体素子を搭載するダイ
パッド部903とモールド金型プレスによる樹脂封止時
に樹脂の流れを止めるためのダムバー904と、半導体
装置組立上必要なフレーム906等により構成されてい
た。このようなダムバー付きリードフレーム900の素
材としては銅合金または42%ニッケル−鉄合金等が用
いられており、ダムバー付きリードフレーム900自体
の作製は、金型プレスによる打ち抜き方法、あるいはフ
オトリソグラフイー技術を用いた腐蝕液によるエッチン
グ方法により行われていた。A lead frame with a dam bar used for manufacturing the resin-sealed semiconductor device (plastic-sealed package) is generally the one shown in FIG. Inner lead portion 901 that is electrically connected, an outer lead portion 902 that is electrically connected to an external circuit, a die pad portion 903 on which a semiconductor element is mounted, and to stop the flow of resin during resin sealing by a mold die press. The dam bar 904 and the frame 906 required for assembling the semiconductor device. As a material of such a lead frame 900 with a dam bar, a copper alloy or a 42% nickel-iron alloy or the like is used, and the lead frame 900 with a dam bar is manufactured by a punching method using a die press or a photolithography technique. This has been performed by an etching method using a corrosive liquid.
【0004】しかしながら、上記リードフレームは、樹
脂封止型半導体装置を製造するに際してのダムバーを設
けた構造であり、これを用い樹脂封止を行った場合、樹
脂バリの発生は必至であった。また、近年、電子機器の
軽薄短小化の時流と半導体素子の高集積化に伴い、樹脂
封止型半導体装置は、小型薄型化かつ電極端子の増大化
が顕著で、その結果、樹脂封止型半導体装置、特にQF
P(Quad Flat Package)及びTQF
P(Thin Quad Flat Package)
等の多ピン化の著しいパッケージでは、電極端子である
アウターリードのピッチが0.65mmピッチから近年
は0.5〜0.3mmピッチまで狭ピッチ化が進行して
いた。このアウターリードの狭ピッチ化によりプラスチ
ック封止型パッケージのダムバーの除去工程が非常に困
難なものとなってきた。つまり、アウターリードの狭ピ
ッチ化により、ダムバー打ち抜き用のポンチも薄肉化し
ていかなければならなくなった為に、ポンチの製造コス
トアップと、ダムバー除去時に生じるポンチの欠けの発
生が煩雑になりポンチ寿命の短命化を引き起こしてい
た。例えば、0.3mmピッチのアウターリードのダム
バーを切断する場合、ポンチ厚みは0.1mm程度の薄
さが必要であり、ポンチの強度は弱くなり、且つ、その
製造も必然的に難しくなる。更に、また、プラスチック
パッケージには樹脂の収縮等の影響によるアウターリー
ドの突出位置がずれる場合があり、ダムバーカット時に
は所定の加工精度が要求されるが、狭ピッチになると、
ダムバーカットの工程で許されるズレの許容量も小さく
なり、ダムバー除去工程での不良発生が大きくなるとい
う問題もあった。このように、パッケージの多ピン、狭
ピッチ化に伴い、種々問題が生じてきており、ポンチに
よるダムバーの除去方法自体が非常に難しいものとなっ
てきた。However, the above lead frame has a structure in which a dam bar is provided when manufacturing a resin-sealed semiconductor device, and when resin sealing is performed using this, resin burr is inevitable. Further, in recent years, along with the trend of light and thin electronic devices and high integration of semiconductor elements, resin-sealed semiconductor devices are remarkably reduced in size and thickness and the number of electrode terminals is increased. Semiconductor device, especially QF
P (Quad Flat Package) and TQF
P (Thin Quad Flat Package)
In such a package with a large number of pins, the pitch of the outer leads, which are electrode terminals, has been narrowed from a pitch of 0.65 mm to a pitch of 0.5 to 0.3 mm in recent years. The narrow pitch of the outer leads has made it very difficult to remove the dam bar of the plastic sealed package. In other words, as the outer lead pitch becomes narrower, the punch for punching the dam bar must also be made thinner, which increases the manufacturing cost of the punch and the occurrence of chipping of the punch that occurs when removing the dam bar. Was causing a shorter life. For example, when cutting the outer lead dam bar having a pitch of 0.3 mm, the punch thickness needs to be as thin as about 0.1 mm, the strength of the punch becomes weak, and the manufacturing thereof is inevitably difficult. Furthermore, the protruding position of the outer lead may be displaced in the plastic package due to the influence of shrinkage of the resin, and a certain processing accuracy is required at the time of dam bar cutting, but when the pitch is narrow,
There is also a problem that the amount of deviation allowed in the dam bar cutting process becomes small, and the occurrence of defects in the dam bar removing process becomes large. As described above, various problems have arisen with the increase in the number of pins and the pitch of the package, and the method itself for removing the dam bar by the punch has become very difficult.
【0005】これらの問題に対応するものとして、ダム
バーフリーのリードフレームを用い、ダムバー部を有機
絶縁樹脂で形成する方法が提案されている。尚、ここで
は、ダムバーのないリードフレームをダムバーフリーリ
ードフレームと言うが、ダムバーレスリードフレームと
言う場合もある。この方法は図5(a)に示すような、
アウターリード512にダムバーの無い金属リードフレ
ームを用い、図5(a)(ロ)に示すようにモールドラ
イン507の周囲に有機絶縁樹脂からなるダムバー52
0を設けるものである。図5(a)においては、絶縁樹
脂の埋め込む位置を分かり易くするため、アウターリー
ド上の薄い残留した絶縁樹脂層や外形の悪化等を省き、
簡略化して示している。図5(b)は、ダムバー付きリ
ードフレームの場合を示した図で、図5(a)に示すダ
ムバーフリーリードフレームとの違いを分かり易くする
為に挙げておく。To cope with these problems, a method has been proposed in which a dam bar portion is formed of an organic insulating resin using a dam bar free lead frame. Here, a lead frame without a dam bar is referred to as a dam bar free lead frame, but may also be referred to as a dam barless lead frame. This method is as shown in FIG.
A metal lead frame without a dam bar is used for the outer lead 512, and a dam bar 52 made of an organic insulating resin is provided around the mold line 507 as shown in FIGS.
0 is provided. In FIG. 5A, in order to make it easy to understand the position where the insulating resin is embedded, the thin residual insulating resin layer on the outer lead and the deterioration of the outer shape are omitted.
It is shown in a simplified manner. FIG. 5B is a diagram showing a case of a lead frame with a dam bar, and is given here for easy understanding of the difference from the dam bar free lead frame shown in FIG. 5A.
【0006】そして、図5(a)に示すダムバー部52
0の形成は、従来、図7に示すような工程で行われてい
た。簡単には、ダムバーフリーリードフレームのパッケ
ージライン(モールドライン)を含む所定の位置にペー
スト状の絶縁樹脂を塗布し、キュア炉(乾燥炉)にて乾
燥した後、プレス金型にてアウターリード間に絶縁樹脂
を埋め込みダムバー部を形成していた。ダムバー形成領
域における各工程の断面図を図8に示し、図7に示す方
法を、更に、詳しく説明する。尚、図8(b1)、図8
(e1)は図8(b)、図8(e)に対応する平面図を
示したものである。図8(a)は、ダムバーをもたない
ダムバーフリーのリードフレームをエッチング加工等に
より外形加工し、所定部分にめっき処理等を施した後
の、パッケージラインを含むリードの断面を示してい
る。以下図8(b)〜図8(e)もこの位置での各工程
の状態を表している。リードフレームのリード702に
ディスペンサにて塗布された絶縁性の樹脂は720
は、図8(b)に示すように、粘性を持ち、塗布された
状態では、リード702間を完全に埋めた状態ではな
い。この状態で、溶剤分を飛ばす乾燥処理を行う。(図
8(c))乾燥後、プレス金型を用い、加熱プレスによ
り、乾燥された絶縁性の樹脂720をリード702間に
押し込み(図8(d))、リード702間を完全に絶縁
性の樹脂にて充満させた状態として、リード702間に
埋め込まれた絶縁性の樹脂702をキュア(硬化)し、
ダムバー部とする。(図8(e))この方法の場合、樹
脂封止の際のダムバーが有機絶縁樹脂720で形成され
ている為、前述のダムバー付きリードフレームを用いた
場合のように、樹脂封止した後にダムバーをポンチで打
ち抜く工程を必要とせず、アウターリードの狭ピッチ化
には非常に有効である。Then, the dam bar portion 52 shown in FIG.
The formation of 0 has conventionally been performed in the process as shown in FIG. Simply put, paste-like insulating resin is applied to predetermined positions including the package line (molding line) of the dam bar-free lead frame, dried in a curing oven (drying oven), and then the outer leads are made with a press die. Insulating resin was embedded between them to form the dam bar portion. A sectional view of each step in the dam bar formation region is shown in FIG. 8, and the method shown in FIG. 7 will be described in more detail. 8 (b1) and FIG.
(E1) is a plan view corresponding to FIGS. 8 (b) and 8 (e). FIG. 8A shows a cross section of a lead including a package line after a dam bar-free lead frame having no dam bar is externally processed by etching or the like and a predetermined portion is plated. . 8B to 8E below also show the state of each process at this position. The insulating resin applied to the lead 702 of the lead frame by the dispenser is 720
8B, as shown in FIG. 8B, the lead 702 is not completely filled with the viscous and coated state. In this state, a drying process for removing the solvent component is performed. (FIG. 8C) After drying, the dried insulating resin 720 is pressed between the leads 702 by hot pressing using a press die (FIG. 8D), and the leads 702 are completely insulated. The resin 702 embedded between the leads 702 is cured (cured) while being filled with the resin of
The dam bar section will be used. (FIG. 8E) In this method, since the dam bar at the time of resin sealing is formed of the organic insulating resin 720, after resin sealing as in the case of using the above-mentioned lead frame with a dam bar. It does not require the step of punching the dam bar with a punch and is very effective for narrowing the outer lead pitch.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】ところが、図7、図8
に示す、ダムバーのないダムバーフリーリードフレーム
を用い、リード間の所定の位置に有機絶縁樹脂からなる
ダムバーを設ける方法においては、ダムバー部が0.5
mm程度と狭くパッケージラインを含む所定の位置にダ
ムバー部を形成することが難しい上に、絶縁樹脂がペー
スト状にあることによる表面張力によりアウターリード
間に納まる際に変形が生じ、ダムバー部の絶縁樹脂の一
部がパッケージラインからはずれ易い。更に、図7、図
8に示す絶縁樹脂720によるダムバーの形成工程にお
いては、ディスペンサーにて塗布された軟化状態にある
絶縁樹脂を、アウターリード間へ充填を目的してプレス
により圧力をかけるが、絶縁樹脂がリード間に埋め込ま
れる際に、アウターリード上に塗布された絶縁樹脂がリ
ード間に入り込む為、ダムバー部を所定の位置に直線性
の良い形状に形成することは難しかった。そしてまた、
プレス後アウターリード上に薄く残存する絶縁樹脂をア
ウターリード間でバラツキなく所定の位置に所定形状に
形成することも難しかった。このように、リード間の所
定の位置に、所定の幅、形状にて絶縁性樹脂からなるダ
ムバー部を設けることが難しく、その対応が求められて
いた。本発明は、このような状況のもと、半導体装置の
多ピン、狭ピッチ化対応するため、ダムバーをもたない
ダムバーフリーリードフレームを用い、絶縁性の樹脂か
らなるダムバーを形成する方法において、上記問題点を
解決できる方法を提供しようとするものである。However, as shown in FIG. 7 and FIG.
In the method of using a dambar-free lead frame having no dambar as shown in FIG. 2 and providing a dambar made of an organic insulating resin at a predetermined position between the leads, the dambar portion is 0.5
It is difficult to form the dam bar part at a predetermined position including the package line as narrow as about mm, and the surface tension due to the insulating resin paste causes deformation when it is housed between the outer leads, resulting in insulation of the dam bar part. A part of the resin is easily removed from the package line. Further, in the step of forming the dam bar with the insulating resin 720 shown in FIGS. 7 and 8, pressure is applied by a press for the purpose of filling the space between the outer leads with the insulating resin in a softened state applied by the dispenser. When the insulating resin is embedded between the leads, the insulating resin applied on the outer leads enters between the leads, so that it is difficult to form the dam bar portion in a predetermined position with a good linearity. and again,
It was also difficult to form the insulating resin thinly left on the outer leads after pressing into a predetermined shape at a predetermined position without variation between the outer leads. As described above, it is difficult to provide the dam bar portion made of the insulating resin with a predetermined width and shape at a predetermined position between the leads, and it is required to cope with the dam bar portion. Under the circumstances, the present invention provides a method of forming a dam bar made of an insulating resin by using a dam bar free lead frame having no dam bar in order to cope with a multi-pin and narrow pitch semiconductor device. It is intended to provide a method capable of solving the above problems.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明のダムバーフリー
リードフレーム部材の製造方法は、ダムバーを絶縁性の
樹脂により形成して樹脂封止を行う樹脂封止型半導体装
置用のダムバーフリーリードフレーム部材の製造方法で
あって、少なくとも、(A)リードフレーム素材からダ
ムバーを持たないリードフレームを外形加工する工程
と、(B)外形加工されたリードフレームの樹脂封止の
際のダムバーに相当する領域にダムバー形成のための絶
縁性の樹脂を塗布することにより、少なくともダムバー
形成領域を埋め込む工程と、(C)ダムバー形成領域に
埋め込まれた絶縁性の樹脂を硬化させる工程と、(D)
硬化された絶縁性の樹脂部をレーザ光を照射して成形す
る成形工程とを有することを特徴とするものである。そ
して、上記塗布される絶縁性の樹脂の粘度が20000
cps以下、8000cps以上であることを特徴とす
るものである。そしてまた、上記レーザ光は、エキシマ
レーザ、炭酸ガスレーザ等の、絶縁性の樹脂を照射する
ことにより照射部分を除去できるレーザ光であることを
特徴とするものである。また、上記における絶縁性の樹
脂へのレーザ光の照射は、絶縁性樹脂の所定の部分に所
定光量が当たるように調整できるマスクを用いたマスキ
ング照射であることを特徴とするものである。本発明の
ダムバーフリーリードフレーム部材は、上記本発明のダ
ムバーフリーリードフレーム部材の製造方法により、作
製されたことを特徴とするものである。尚、既に述べた
ように、ダムバーのないリードフレームを、ここではダ
ムバーフリーリードフレームと言っているが、ダムバー
レスリードフレームと言う場合もある。A method for manufacturing a dam bar-free lead frame member according to the present invention is a dam bar free lead for a resin-sealed semiconductor device in which a dam bar is formed of an insulating resin and resin-sealed. A method of manufacturing a frame member, which is equivalent to at least (A) a step of externally processing a lead frame having no dam bar from a lead frame material and (B) a dam bar at the time of resin-sealing the externally processed lead frame. By applying an insulative resin for forming a dambar to the area to be filled, at least filling the dambar forming area, (C) curing the insulative resin embedded in the dambar forming area, and (D)
And a molding step of molding the cured insulating resin portion by irradiating it with laser light. The viscosity of the insulating resin applied is 20000.
It is characterized by being cps or less and 8000 cps or more. Further, the laser light is a laser light such as an excimer laser or a carbon dioxide gas laser that can remove the irradiated portion by irradiating an insulating resin. Further, the above-mentioned irradiation of the insulating resin with the laser beam is characterized by masking irradiation using a mask that can be adjusted so that a predetermined amount of light hits a predetermined portion of the insulating resin. The dam bar free lead frame member of the present invention is characterized by being manufactured by the method for manufacturing a dam bar free lead frame member of the present invention. As described above, the lead frame having no dam bar is referred to as a dam bar free lead frame here, but may be referred to as a dam barless lead frame.
【0009】[0009]
【作用】本発明のダムバーフリーリードフレーム部材の
製造方法は、このような構成にすることにより、リード
間の所定の位置に、所定の幅、形状にて絶縁性樹脂から
なるダムバー部を設けることを可能とするものである。
具体的には、外形加工されたリードフレームの樹脂封止
の際のダムバーに相当する領域にダムバー形成のための
絶縁性の樹脂を塗布することにより、少なくともダムバ
ー形成領域を埋め込む工程と、ダムバー形成領域に埋め
込まれた絶縁性の樹脂を硬化させる工程と、硬化された
絶縁性の樹脂部をレーザ光を照射して成形する成形工程
とを有することにより、これを達成している。詳しく
は、外形加工されたリードフレームの樹脂封止の際のダ
ムバーに相当する領域に、粘度20000cps以下、
8000cps以上の絶縁性の樹脂を塗布することによ
り、該絶縁性樹脂をリード間に確実に埋め込むことを可
能としている。そして、ダムバー形成領域に埋め込まれ
た絶縁性の樹脂を硬化させ、硬化された絶縁性の樹脂部
を、KrFエキシマレーザ光、炭酸ガスレーザ光を照射
することにより成形することにより、リード間のダムバ
ー部を所定幅に、且つ、所定の形状に形成することを可
能としている。レーザ光の照射による絶縁性樹脂の成形
においては、レーザ光を照射する位置により、その光量
を調整できるマスクを用いたマスキング照射をすること
により、塗布された絶縁性の樹脂がリード上、リード間
で平坦性が確保できなくても、レーザ光の成形によりほ
ぼ平坦とすることを可能とする。尚、このようにして平
坦化されダムバーとなるリード間の絶縁性の樹脂は、リ
ード面より若干(10μm以下)リードの外側に残る程
度とした方が良い。これは、レーザ光の照射が多すぎる
と、ダムバーとなる絶縁性の樹脂が必要以上に除去さ
れ、樹脂封止の際に、ダムバーからの封止用樹脂が漏れ
てしまうためである。これにより、結果的に樹脂封止の
際の樹脂もれも起こりにくいものとしている。また、ア
ウターリード上に薄く残存する絶縁樹脂をリード間でバ
ラツキなく所定の位置に所定形状(略直線状)に形成す
ることも可能で、これにより、結局、各アウターリード
に及ぼす絶縁樹脂の影響のバラツキに起因したパッケー
ジ封止(モールド)後のアウターリードのコプラナリテ
ィー不良やスキュ不良の発生を防止できるものとしてい
る。In the method of manufacturing the dam bar-free lead frame member of the present invention, the dam bar portion made of an insulating resin having a predetermined width and shape is provided at a predetermined position between the leads by adopting such a structure. It makes it possible.
Specifically, a step of filling at least the dam bar forming area by applying an insulating resin for forming the dam bar to the area corresponding to the dam bar at the time of resin sealing of the outer shape processed lead frame, and the dam bar forming step. This is achieved by having a step of curing the insulative resin embedded in the region and a molding step of irradiating the cured insulative resin portion with laser light to form the resin. Specifically, in the area corresponding to the dam bar at the time of resin-molding the lead frame that has been externally processed, the viscosity is 20000 cps or less
By applying an insulating resin of 8000 cps or more, the insulating resin can be surely embedded between the leads. Then, the insulating resin embedded in the dam bar formation region is cured, and the cured insulating resin portion is molded by irradiating with KrF excimer laser light or carbon dioxide gas laser light to form a dam bar portion between the leads. Can be formed to have a predetermined width and a predetermined shape. When molding an insulating resin by laser light irradiation, the applied insulating resin is applied on the leads and between the leads by masking irradiation using a mask that can adjust the amount of light depending on the laser light irradiation position. Even if the flatness cannot be ensured, it becomes possible to make the surface almost flat by shaping the laser beam. It is preferable that the insulating resin between the leads, which are flattened in this way and serve as a dam bar, be slightly left (10 μm or less) outside the leads from the lead surface. This is because if the irradiation of the laser beam is too much, the insulating resin that becomes the dam bar is removed more than necessary, and the sealing resin leaks from the dam bar during resin sealing. As a result, resin leakage is less likely to occur during resin sealing. It is also possible to form the insulating resin that remains thinly on the outer leads in a predetermined shape (substantially rectilinear) at a predetermined position without variation between the leads, which ultimately results in the influence of the insulating resin on each outer lead. It is supposed that it is possible to prevent the coplanarity defect and the skew defect of the outer lead after the package sealing (molding) due to the variation of the above.
【0010】[0010]
【実施例】本発明のダムバーフリーリードフレームの製
造方法の実施例を挙げ、図を用いて説明する。図1
(a)は本実施例のダムバーフリーリードフレームの工
程における、ダムバー形成領域をアウターリード側から
みた断面図を示し、図1(b1)、図1(c1)、図1
(e1)は、それぞれ図1(b)、図1(c)、図1
(e)に対応する平面図を示している。また、図3
(a)は本実施例のダムバーフリーリードフレームの製
造方法に用いられたれダムバーフリーリードフレームの
平面図を示したものであり、図3(b)は、図3(a)
に示すダムバーフリーリードフレームに絶縁性の樹脂を
塗布した状態を示した平面図である。図1、図3中、1
10はダムバーフリーリードフレーム、111はダイパ
ッド、112はインナーリード、113はアウターリー
ド、114はタブ吊りリード、116はフレーム部、1
20は絶縁性の樹脂、120Aはダムバー、121はモ
ールドライン、140はレーザ光である。EXAMPLE An example of a method for manufacturing a dam bar free lead frame of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG.
FIG. 1A is a cross-sectional view of the dam bar formation region viewed from the outer lead side in the process of the dam bar free lead frame of the present embodiment, and FIG. 1B1, FIG. 1C1 and FIG.
(E1) are shown in FIG. 1 (b), FIG. 1 (c), and FIG.
The top view corresponding to (e) is shown. FIG.
FIG. 3A is a plan view of a dam bar free lead frame used in the method for manufacturing the dam bar free lead frame of this embodiment, and FIG. 3B is FIG.
FIG. 6 is a plan view showing a state in which an insulating resin is applied to the dam bar free lead frame shown in FIG. 1 in FIGS. 1 and 3
10 is a dam bar free lead frame, 111 is a die pad, 112 is an inner lead, 113 is an outer lead, 114 is a tab suspension lead, 116 is a frame portion, 1
20 is an insulating resin, 120A is a dam bar, 121 is a mold line, and 140 is a laser beam.
【0011】先ず、図3(a)に示すダムバーのないダ
ムバーフリーリードフレーム110をエッチングにより
作製した。(図1(a)) このダムバーのないダムバーフリーリードフレームをエ
ッチング加工について図6を用い簡単に説明しておく。
先ず、銅合金、42%ニッケル−鉄合金等からなる厚さ
0.1mm〜0.2mm程度の薄板からなるリードフレ
ーム素材610を十分洗浄した(図6(a))後、重ク
ロム酸カリウムを感光剤とした水溶性のカゼインレジス
ト等の感光性フオトレジスト620を該リードフレーム
素材610の両表面に均一に塗布し(図6(b))、所
定のパターンが形成されたマスクを介して高圧水銀灯で
露光し、所定の現像液で該感光性レジストを現像しレジ
ストパターン630を得て、硬膜処理、洗浄処理等を必
要に応じて行った(図6(c))後、塩化第二鉄水溶液
を主たる成分とするエッチング液をスプレイで該薄板を
吹き付け所定の寸法にエッチングし(図6(d))、レ
ジストを剥離、洗浄して作製する。(図6(e))この
後、所定のエリアに銀メッキ等を施し、洗浄、乾燥後、
図7に示す工程や、インナーリード部を固定用の接着剤
付きポリイミドテープ等にてテーピングする工程を経
て、必要に応じて所定の量タブ吊りバーを曲げ加工して
ダイパッド部をダウンセットする。First, a dam bar-free lead frame 110 having no dam bar shown in FIG. 3A was produced by etching. (FIG. 1A) The dam bar-free lead frame having no dam bar will be briefly described with reference to FIG. 6 regarding the etching process.
First, the lead frame material 610 made of a thin plate made of a copper alloy, 42% nickel-iron alloy or the like and having a thickness of about 0.1 mm to 0.2 mm is thoroughly washed (FIG. 6 (a)), and then potassium dichromate is added. A photosensitive photoresist 620 such as a water-soluble casein resist as a photosensitizer is uniformly applied to both surfaces of the lead frame material 610 (FIG. 6 (b)), and a high pressure is applied through a mask having a predetermined pattern. After exposing with a mercury lamp and developing the photosensitive resist with a predetermined developing solution to obtain a resist pattern 630, a film hardening process, a cleaning process and the like are performed as necessary (FIG. 6 (c)), and then a second chloride The thin plate is sprayed with an etching solution containing an iron aqueous solution as a main component to etch the thin plate to a predetermined size (FIG. 6 (d)), and the resist is peeled off and washed to prepare. (FIG. 6 (e)) After that, a predetermined area is plated with silver, washed and dried,
After the step shown in FIG. 7 and the step of taping the inner lead part with a polyimide tape with an adhesive for fixing, etc., a predetermined amount of the tab suspension bar is bent as necessary to down set the die pad part.
【0012】次に、エッチング加工にて得られたダムバ
ーフリーリードフレーム110を用いて、ダムバー形成
領域にディスペンサーにより、絶縁性の樹脂120を塗
布することにより、絶縁性の樹脂を、リード間に空隙が
ないように完全に埋め込んだ(図1(b))。リード表
面上にも、所定の厚さで平坦に絶縁性の樹脂が形成され
る。尚、絶縁性の樹脂としては、粘度15000cps
のエイブルステック社製の熱硬化型ポリイミド(rel
y−imide)を用いた。ディスペンサーとしては、
株式会社武蔵エンジニアリング製のML−808iを用
い、エッチングにて外形加工して得られたダムバーフリ
ーリードフレームを所定の治具ピンにて固定し、あらか
じめ記憶してある絶縁性の樹脂の塗布エリアに塗布し
た。絶縁性の樹脂として、求められる性質は、ディスペ
ンサーによる塗布によって、リード間に絶縁性の樹脂が
完全に充填され、且つ、必要以上に拡がらない粘性を持
つものであり、且つ、熱硬化型のものが好ましい。この
ような粘度としては20000cps以下、8000c
ps以上である。また、塗布方法としては、特にディス
ペンサーによる塗布に限定されないが、塗布によって、
リード間に絶縁性の樹脂が完全に充填され、且つ、必要
以上に拡がらないことが必要である。Next, by using the dam bar-free lead frame 110 obtained by the etching process, the insulating resin 120 is applied to the dam bar forming region by a dispenser, so that the insulating resin is applied between the leads. It was completely embedded so that there were no voids (Fig. 1 (b)). An insulative resin having a predetermined thickness is formed evenly on the surface of the lead. The insulating resin has a viscosity of 15,000 cps.
Able stick thermosetting polyimide (rel
y-imide) was used. As a dispenser,
Using a ML-808i manufactured by Musashi Engineering Co., Ltd., the dam bar free lead frame obtained by external processing by etching is fixed with a predetermined jig pin, and the insulating resin application area is stored in advance. Was applied to. The required properties of the insulating resin are that the insulating resin is completely filled between the leads by application with a dispenser, and the viscosity is such that it does not spread more than necessary. Those are preferable. Such viscosity is 20000cps or less, 8000c
ps or more. The coating method is not particularly limited to coating with a dispenser, but by coating,
It is necessary that the insulating resin is completely filled between the leads and does not spread more than necessary.
【0013】続いて、所定の領域に塗布が完了したダム
バーフリーリードフレームをキュア炉に入れ、硬化させ
た。(図1(c)) 硬化条件は、200°C、20分間である。Subsequently, the dam bar free lead frame, which had been applied to a predetermined area, was placed in a curing oven and cured. (FIG. 1 (c)) The curing conditions are 200 ° C. and 20 minutes.
【0014】次に、KrFレーザ(248nm)光を照
射して(図1(d))、所定の形状に絶縁性の樹脂12
0を成形し、絶縁性の樹脂が所定の幅でリード間に埋め
込まれたダムバー120Aを形成した。(図1(e)) 図1(e)における幅hは、樹脂封止の際の樹脂漏れ等
を考慮して、10μm以下が好ましい。KrFレーザ光
の照射は、図4(a)(イ)に示すようにして行った。
図4中、400はレーザ加工装置、410はレーザ光、
420はマスク、430はレンズ系、110はリードフ
レームである。レーザ光410は、マスク420により
成形された後、レンズ系430により縮小されて、被加
工物に照射される。図4(a)(イ)で用いたマスク
は、所定形状にレーザ光を透過させるためのマスクで、
これに対応した形状の領域がリードフレーム上でレーザ
照射されることとなる。これに対し、絶縁性の樹脂を塗
布した際に、リード上が凸状になり、リード上やリード
間にて絶縁性の樹脂の平坦性が保てず、樹脂封止の際に
問題となるような場合には、図4(a)(ロ)に示すよ
うに、リードフレームのリード形状に合ったピッチでそ
の光の透過量を調整できるマスクを用い、これにより、
絶縁性樹脂をダムバー形成領域に塗布した際の、絶縁性
樹脂の平坦性のバラツキに対応でき、レーザ照射後にほ
ぼ平坦性を確保しても良い。図4(a)(ロ)におけ
る、T1、T2はレーザ光の透過率の異なる領域を示し
ており、マスク410のこの領域を通過した光はそれぞ
れ対応した光量をリードフレーム110面に照射するこ
ととなる。尚、図4(b)(イ)は、絶縁性の樹脂を塗
布した際のダムバー形成領域の状態を示した平面図で、
図4(b)(ロ)は、図4(b)(イ)のB1−B2に
おける断面図である。また、図4(c)(イ)は、レー
ザ加工後のダムバー形成領域の状態を示した平面図で、
図4(c)(ロ)は、図4(c)(イ)のC1−C2に
おける断面図である。Next, a KrF laser (248 nm) light is irradiated (FIG. 1 (d)) to form an insulating resin 12 having a predetermined shape.
0 was molded to form a dam bar 120A in which an insulating resin having a predetermined width was embedded between the leads. (FIG. 1 (e)) The width h in FIG. 1 (e) is preferably 10 μm or less in consideration of resin leakage at the time of resin sealing. Irradiation of the KrF laser light was performed as shown in FIGS.
In FIG. 4, 400 is a laser processing device, 410 is a laser beam,
Reference numeral 420 is a mask, 430 is a lens system, and 110 is a lead frame. The laser light 410 is shaped by the mask 420, reduced by the lens system 430, and applied to the workpiece. The mask used in FIGS. 4A and 4A is a mask for transmitting laser light into a predetermined shape.
A region having a shape corresponding to this is irradiated with laser on the lead frame. On the other hand, when the insulating resin is applied, the leads have a convex shape, and the flatness of the insulating resin cannot be maintained on the leads or between the leads, which causes a problem during resin sealing. In such a case, as shown in FIGS. 4A and 4B, a mask that can adjust the amount of light transmission at a pitch that matches the lead shape of the lead frame is used.
It is possible to deal with the unevenness of the flatness of the insulating resin when the insulating resin is applied to the dam bar forming region, and it is possible to secure the substantially flatness after the laser irradiation. In FIGS. 4A and 4B, T1 and T2 indicate regions having different transmittances of laser light, and the light passing through these regions of the mask 410 irradiates the surface of the lead frame 110 with corresponding light amounts. Becomes 4 (b) (a) is a plan view showing the state of the dam bar formation region when the insulating resin is applied.
4B and 4B are cross-sectional views taken along line B1-B2 of FIGS. 4 (c) and (a) are plan views showing the state of the dam bar formation region after laser processing.
4C and 4B are cross-sectional views taken along line C1-C2 of FIGS.
【0015】レーザ光としてはKrFエキシマレーザを
用いたが、これは、炭酸ガスレーザやYAGレーザに比
べきれいな形状に加工できるためである。エキシマレー
ザは、ポリイミドのようなポリマーに対し、アブレーシ
ョン加工と呼ばれる光化学加工を可能とするからであ
る。即ち、物質の分子同志の結合を非熱的に切り離すこ
とができるのである。最近の研究では、エキシマレーザ
といえども熱的プロセスであり、従来の赤外線レーザで
ある炭酸ガスレーザやYAGレーザよりも除去加工面が
良好なのは、超短パルス、高ピーク出力であるがゆえ
に、素材への熱伝導が無視できる程度に極めて小さいこ
とに起因すると言われる。この為、炭酸ガスレーザで
も、これを短パルス、高ピーク出力化して使用すれば、
熱的ダメージを軽減できるとする見方もある。また、Y
AGレーザの第4高調波は波長が266nmと紫外光で
あることから、YAGレーザの安定性やメンテナンス性
の良好なことに注目し、これをポリイミド等のポリマー
の微細加工に利用することをも試みられている。A KrF excimer laser was used as the laser beam, because it can be processed into a clean shape as compared with a carbon dioxide gas laser or a YAG laser. This is because the excimer laser enables photochemical processing called ablation processing for polymers such as polyimide. That is, it is possible to non-thermally separate the bond between the molecules of the substance. In recent research, even excimer lasers are thermal processes, and the reason why the removal processing surface is better than the conventional infrared lasers such as carbon dioxide lasers and YAG lasers is that ultra-short pulses and high peak output lead to material It is said that this is due to the extremely small thermal conductivity of N. Therefore, even with a carbon dioxide laser, if this is used with a short pulse and high peak output,
There is also a view that it can reduce thermal damage. Also, Y
Since the fourth harmonic of the AG laser is ultraviolet light with a wavelength of 266 nm, attention is paid to the good stability and maintainability of the YAG laser, and it is also possible to use this for fine processing of polymers such as polyimide. Being tried.
【0016】このようにして形成されたリードフレーム
部材は、必要に応じて、メッキ処理が施されたり、ダイ
パッドを所定の高さ下方にシフトさせるダウンセット加
工が施される。The lead frame member thus formed is subjected to plating treatment or down-set processing for shifting the die pad downward by a predetermined height, if necessary.
【0017】次いで、本発明のダムバーフリーリードフ
レーム部材を説明する。図2(a)は実施例のダムバー
フリーリードフレーム部材の平面図で、図2(b)は図
2(a)のA1−A2における断面図であり、図2
(a)は実施例2のダムバーフリーリードフレームのア
ウターリード部に、絶縁性の樹脂をダムバーとして埋め
込んだ状態を示している。尚、図2(a)においても、
分かり易くするため、アウターリード上の薄い残留した
絶縁樹脂層は省き、簡略化して示している。図2中、1
00はリードフレーム部材、110はリードフレーム、
120は絶縁性の樹脂を示している。本実施例のダムバ
ーフリーリードフレーム部材は、上記実施例のリードフ
レーム部材の製造方法により作製されたもので、ダムバ
ーの位置精度は、±50μmの範囲で制御され、且つ、
リード間に埋めるダムバー部の幅の精度も±100μm
の範囲で制御されており、その直線性も確保でき、各リ
ードでのバラツキも小で、結果として、半導体装置の多
ピン化(多端子化)に、十分対応できるものとである。Next, the dam bar free lead frame member of the present invention will be described. 2A is a plan view of the dam bar free lead frame member of the embodiment, FIG. 2B is a sectional view taken along line A1-A2 of FIG.
(A) shows a state in which an insulating resin is embedded as a dam bar in the outer lead portion of the dam bar free lead frame of the second embodiment. In addition, also in FIG.
For the sake of clarity, the thin residual insulating resin layer on the outer leads is omitted and shown in a simplified manner. In FIG. 2, 1
00 is a lead frame member, 110 is a lead frame,
Reference numeral 120 denotes an insulating resin. The dam bar-free lead frame member of the present embodiment is manufactured by the method of manufacturing the lead frame member of the above embodiment, the positional accuracy of the dam bar is controlled within a range of ± 50 μm, and
The accuracy of the width of the dam bar part embedded between the leads is ± 100 μm
The linearity can be secured, the variation in each lead is small, and as a result, it is possible to sufficiently cope with the increase in the number of pins (increased number of terminals) of the semiconductor device.
【0018】リードフレームとしては、銅合金、42合
金(42%ニッケル−鉄合金)等が挙げられるが、これ
に限定はされない。絶縁性の樹脂120としては、前述
のように、ディスペンサーによる塗布によって、リード
間に絶縁性の樹脂が完全に充填され、且つ、必要以上に
拡がらない粘性を持つものであり、且つ、熱硬化型のも
のが好ましい。具体的には、熱硬化型のポリイミドの他
に、熱可塑製ポリイミドが挙げられる。Examples of the lead frame include copper alloy and 42 alloy (42% nickel-iron alloy), but the lead frame is not limited thereto. As described above, the insulating resin 120 is a resin in which the insulating resin is completely filled between the leads by application with a dispenser, and has a viscosity that does not spread more than necessary, and is thermosetting. Molds are preferred. Specifically, in addition to thermosetting polyimide, thermoplastic polyimide may be used.
【0019】[0019]
【発明の効果】本発明のダムバーフリーリードフレーム
は、上記のように、半導体素子の高集積化に伴う、樹脂
封止型半導体装置におけるアウターリードの更なる狭ピ
ッチ化に対応できる樹脂封止型半導体装置の提供を可能
とするものである。詳しくは、本発明のダムバーフリー
リードフレームを用い樹脂封止を行う場合には、ダムバ
ーを形成している絶縁性の樹脂部にて封止用樹脂(モー
ルド樹脂)のバリがでないように形成でき、従来のダム
バー付きのリードフレームを用いた場合のようなバリ除
去工程を必要としないし、図7、図8に示す工程にて作
製された従来のダムバーフリーリードフレームを用いた
場合に発生した樹脂封止の際の樹脂漏れを皆無としてい
る。結局、本発明のダムバーフリーリードフレームを用
い、樹脂封止を行うことにより、品質的に安定した、多
端子化に対応できる樹脂封止型半導体装置の製造を可能
としている。As described above, the dam-bar-free lead frame of the present invention is resin-sealed so that the outer leads of the resin-sealed semiconductor device can be further narrowed in pitch with the high integration of semiconductor elements. It is possible to provide a semiconductor device of the type. Specifically, when the dam bar-free lead frame of the present invention is used for resin encapsulation, it is formed so that the encapsulating resin (mold resin) does not have burrs in the insulating resin portion forming the dam bar. It does not require a burr removal process as in the case of using a conventional lead frame with a dam bar, and when using the conventional dam bar free lead frame manufactured by the process shown in FIGS. 7 and 8. There is no resin leakage when the resin is sealed. After all, by using the dam bar-free lead frame of the present invention to perform resin encapsulation, it is possible to manufacture a resin-encapsulated semiconductor device which is stable in quality and can cope with the increase in the number of terminals.
【図1】実施例のダムバーフリーリードフレーム部材の
製造方法の工程を示した図FIG. 1 is a diagram showing steps of a method for manufacturing a dam bar free lead frame member of an example.
【図2】実施例ダムバーフリーリードフレーム部材を示
した概略図FIG. 2 is a schematic view showing an example dam bar free lead frame member.
【図3】実施例で使用したダムバーフリーリードフレー
ムの概略図FIG. 3 is a schematic diagram of a dam bar-free lead frame used in Examples.
【図4】レーザ光照射による成形を説明するための図FIG. 4 is a diagram for explaining molding by laser light irradiation.
【図5】ダムバーフリーリードフレームのダムバー形成
を説明するための図FIG. 5 is a diagram for explaining formation of a dam bar of a dam bar free lead frame.
【図6】ダムバーフリーリードフレームのエッチングに
よる製造工程を説明するための図。FIG. 6 is a diagram for explaining a manufacturing process by etching a dam bar free lead frame.
【図7】従来のダムバーフリーリードフレーム部材の製
造方法FIG. 7: Method for manufacturing conventional dam bar free lead frame member
【図8】従来のダムバーフリーリードフレーム部材の製
造方法における各工程における要部の断面概略図FIG. 8 is a schematic cross-sectional view of a main part in each step in the conventional method of manufacturing a dam bar free lead frame member.
【図9】従来のダムバー付きリードフレームの図FIG. 9 is a diagram of a conventional lead frame with a dam bar.
【図10】樹脂封止型半導体装置の概略図FIG. 10 is a schematic view of a resin-sealed semiconductor device.
100 ダムバーフリーリードフレーム
部材 110 ダムバーフリーリードフレーム 111 ダイパッド(タブ) 112 インナーリード 113 アウターリード 114 タブ吊りリード 116 フレーム部 120 絶縁性の樹脂の 120A ダムバー 121 モールドライン(パッケージラ
イン) 400 レーザ加工装置 410 レーザ光 420 マスク 430 レンズ系 512 インナーリード 513 アウターリード 514 ダムバー 507 モールドライン(パッケージラ
イン) 520 絶縁性の樹脂によるダムバー 610 リドフレーム素材 620 フオトレジスト 630 レジストパターン 640 アウターリード 700 ダムバーフリーリードフレーム 701 インナーリード 702 アウターリード 704 ダイパッド 710 デイスペンサー 720 有機絶縁樹脂部 730 キュア炉(乾燥炉) 740 プレス金型 900 リードフレーム 901 インナーリード 902 アウターリード 903 ダイパッド 1000 半導体装置 1001 半導体素子 1002 ダイパッド部 1003 インナーリード部 1004 アウターリード部 1005 樹脂部 1006 半導体素子の端子(パッド) 1007 ワイヤ100 Dam Bar Free Lead Frame Member 110 Dam Bar Free Lead Frame 111 Die Pad (Tab) 112 Inner Lead 113 Outer Lead 114 Tab Hanging Lead 116 Frame Part 120 Insulating Resin 120A Dam Bar 121 Mold Line (Package Line) 400 Laser Processing Equipment 410 Laser light 420 Mask 430 Lens system 512 Inner lead 513 Outer lead 514 Dam bar 507 Mold line (package line) 520 Dam bar made of insulating resin 610 Lido frame material 620 Photo resist 630 Resist pattern 640 Outer lead 700 Dam bar Free lead frame 701 Inner lead 702 Outer lead 704 Die pad 710 Dice Spencer 20 Organic Insulation Resin Part 730 Cure Furnace (Drying Furnace) 740 Press Mold 900 Lead Frame 901 Inner Lead 902 Outer Lead 903 Die Pad 1000 Semiconductor Device 1001 Semiconductor Element 1002 Die Pad Part 1003 Inner Lead Part 1004 Outer Lead Part 1005 Resin Part 1006 Semiconductor Element Terminal (pad) 1007 wire
Claims (5)
樹脂封止を行う樹脂封止型半導体装置用のダムバーフリ
ーリードフレーム部材の製造方法であって、少なくと
も、(A)リードフレーム素材からダムバーを持たない
リードフレームを外形加工する工程と、(B)外形加工
されたリードフレームの樹脂封止の際のダムバーに相当
する領域にダムバー形成のための絶縁性の樹脂を塗布す
ることにより、少なくともダムバー形成領域を埋め込む
工程と、(C)ダムバー形成領域に埋め込まれた絶縁性
の樹脂を硬化させる工程と、(D)硬化された絶縁性の
樹脂部をレーザ光を照射して成形する成形工程とを有す
ることを特徴とするダムバーフリーリードフレーム部材
の製造方法。1. A method of manufacturing a dambar-free leadframe member for a resin-sealed semiconductor device, comprising forming a dambar with an insulating resin and sealing the resin, which comprises at least (A) a leadframe material. By the step of externally processing the lead frame having no dam bar, and (B) applying the insulating resin for forming the dam bar to the area corresponding to the dam bar at the time of resin sealing of the externally processed lead frame, At least a step of embedding the dam bar forming area, a step (C) of curing the insulating resin embedded in the dam bar forming area, and a step (D) of molding the cured insulating resin portion by irradiating laser light. A method for manufacturing a dam bar-free lead frame member, comprising:
の粘度が20000cps以下、8000cps以上で
あることを特徴とするダムバーフリーリードフレーム部
材の製造方法。2. A method for manufacturing a dam bar free lead frame member, wherein the applied insulating resin has a viscosity of 20000 cps or less and 8000 cps or more.
エキシマレーザ、炭酸ガスレーザ等の、絶縁性の樹脂を
照射することにより照射部分を除去できるレーザ光であ
ることを特徴とするダムバーフリーリードフレーム部材
の製造方法。3. The laser beam according to claim 1 or 2,
A method of manufacturing a dam bar-free lead frame member, which is a laser beam such as an excimer laser or a carbon dioxide gas laser that can remove an irradiated portion by irradiating an insulating resin.
へのレーザ光の照射は、絶縁性樹脂の所定の部分に所定
光量が当たるように調整できるマスクを用いたマスキン
グ照射であることを特徴とするダムバーフリーリードフ
レーム部材の製造方法。4. The irradiation of the insulating resin with laser light according to claim 1 is masking irradiation using a mask that can be adjusted so that a predetermined amount of light hits a predetermined portion of the insulating resin. A method for manufacturing a dam bar free lead frame member.
リードフレーム部材の製造方法により、作製されたこと
を特徴とするダムバーフリーリードフレーム部材。5. A dam bar free lead frame member manufactured by the method for manufacturing a dam bar free lead frame member according to any one of claims 1 to 4.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8065101A JPH09237866A (en) | 1996-02-28 | 1996-02-28 | Manufacture of dam-barfree lead frame member and dam-barfree lead frame member |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8065101A JPH09237866A (en) | 1996-02-28 | 1996-02-28 | Manufacture of dam-barfree lead frame member and dam-barfree lead frame member |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09237866A true JPH09237866A (en) | 1997-09-09 |
Family
ID=13277189
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8065101A Withdrawn JPH09237866A (en) | 1996-02-28 | 1996-02-28 | Manufacture of dam-barfree lead frame member and dam-barfree lead frame member |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09237866A (en) |
-
1996
- 1996-02-28 JP JP8065101A patent/JPH09237866A/en not_active Withdrawn
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Legal Events
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