JPH09225768A - 基板保持装置 - Google Patents

基板保持装置

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JPH09225768A
JPH09225768A JP8036197A JP3619796A JPH09225768A JP H09225768 A JPH09225768 A JP H09225768A JP 8036197 A JP8036197 A JP 8036197A JP 3619796 A JP3619796 A JP 3619796A JP H09225768 A JPH09225768 A JP H09225768A
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JP
Japan
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substrate
sealing valve
opening
holding device
main body
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JP8036197A
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English (en)
Inventor
Fujio Komata
冨士夫 小俣
Seiichi Shirai
誠一 白井
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高分子材料等からなる可撓性基板を安定にし
かも平面性良く保持し得る基板保持装置を提供するこ
と。 【解決手段】 概ね平面状で真空吸引溝11が形成され
た基板吸着面12を有する本体部10に、その一端が前
記溝11に連通し、他端が基板吸着面12から見て側方
の面で開口してなる排気経路14に形成された開口部1
5を開閉自在に封止する封止弁20を取り付け、前記吸
着面12に基板100を搭載し、封止弁20を開放した
状態で排気経路14の他端より排気部材30を介して真
空排気し、その後、封止弁20を閉成することにより、
基板100を安定にしかも平面性良く吸着保持すること
を可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高分子材料等から
なる可撓性基板を安定にしかも平面性良く保持する基板
保持装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、情報機器の小型化、携帯化が進み
つつあり、特にディスプレイデバイスは表示能力の拡大
が切望されており、小型、薄形、軽量で表示能力の高い
ディスプレイの実現が待たれている。このような要求に
対し、プラスチック等の高分子材料等からなるフレキシ
ブルな基板上に微細な薄膜デバイスを作製することが重
要となっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、現状の
LSIあるいはディスプレイ用のプロセス装置では、S
i基板やガラス基板等の剛性の高い材料からなる基板が
用いられることを前提に設計されているため、プラスチ
ック等の高分子材料等からなる薄い可撓性基板では剛性
がなく、平面状態を保持したまま取り扱うのは極めて困
難であった。
【0004】例えば、Si基板やガラス基板等では、デ
バイスを作製する面として平坦でかつ平滑な高精度面が
形成されている。また、基板自体を1つの個体として取
り扱うことができ、搬送したり、回転させたりすること
ができる。従って、プロセス装置において、基板の収
納、収納ケースとプロセス処理を施すための作業テーブ
ルである保持具との間の搬送、プロセス処理等の一連の
工程処理を自動化して容易に行うことができる。
【0005】一方、プラスチック等の高分子材料等から
なるフレキシブルな基板は、紙のように薄くて軽い上、
軟質で変形し易いため、基板として用いるには基板自身
だけでは安定性に欠け、保持する下地の影響を受け易い
という欠点がある。さらに、プロセス処理を経た基板は
膜の堆積、熱処理等により変形するため、平面を維持す
ることが難しくなる。このように、Si基板やガラス基
板等のようにデバイス作製に欠くことができない平坦で
かつ平滑な高精度面が容易に得られないという問題があ
り、また、1つの個体として取り扱い、処理することが
難しいという問題があった。
【0006】このようなプラスチック等の高分子材料等
からなるフレキシブルな基板にプロセス処理を施すに
は、Si基板やガラス基板等のように表面の形状精度が
良く、薄くて軽量な他の基板あるいは薄板に接着する等
して、フレキシブルな基板を補強しかつ平坦な面が得ら
れるようにする必要があった。
【0007】特に、パタン転写工程において微細で高精
度な寸法、形状のパタンを得るには焦点を合わせ、ボケ
のない転写をする必要があり、これには表面に凹凸がな
く、平坦な面が得られるような基板の保持をしなければ
ならないが、基板を接着した場合には接着むらをなくし
て平坦な面にする必要があり、また、基板を金属金具等
で押さえて固定する場合には、基板表面から飛び出た形
の固定具を用いることができないという問題があった。
【0008】また、基板を接着した場合には、プロセス
処理後、補強基板からフレキシブルな基板を剥がした
り、基板から接着剤を取る等の作業を必要とし、特に接
着剤が後工程で害を及ぼさないようにしなければならな
いという問題があった。
【0009】さらにまた、これらのプラスチック等の高
分子材料等からなるフレキシブルな基板が扱えるような
プロセス装置を新たに開発するには多大な費用がかか
り、デバイスの製造コストが高くなってしまうという問
題があった。
【0010】本発明の目的は、プラスチック等の高分子
材料等からなる可撓性基板を安定にしかも平面性良く保
持し得る基板保持装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明では、概ね平面状をなしかつ溝もしくは孔が
形成された基板吸着面と、一端が前記溝もしくは孔に連
通し、他端が基板吸着面から見て側方あるいは反対側の
面で開口してなる排気経路とを有する本体部と、該本体
部に取り付けられ、前記排気経路のいずれかの部位に形
成された開口部を開閉自在に封止する封止弁とを備え、
前記基板吸着面に基板を搭載し、封止弁を開放した状態
で排気経路の他端より真空排気し、その後、封止弁を閉
成する基板保持装置を提案する。
【0012】前記構成によれば、真空排気する装置から
切り放した状態においても、基板を基板吸着面上に安定
にしかも平面性良く吸着させた状態で本体部と一体的に
取り扱うことができ、これによって基板のハンドリング
が容易となり、従来のLSI製造装置やディスプレイ製
造装置を用いたプロセスに適用できる。
【0013】
【発明の実施の形態】
(第1の形態)図1乃至図3は本発明の基板保持装置の
第1の実施の形態を示すもので、図1(a) は装置全体の
平面図、図1(b) は基板を保持した状態の図1(a) A−
A線矢視方向の断面図、図2は真空吸引(排気)時のよ
うすを示す要部拡大図、図3は真空封止時のようすを示
す要部拡大図である。
【0014】図中、10は略円板状の本体部であり、そ
の一方の平面部には細くて浅い溝からなる真空吸引溝1
1が複数の同心円状及び十字状に形成され、基板吸着面
12を構成している。また、本体部10の内部には、一
端が小さい穴径の排気穴13を介して前記真空吸引溝1
1と連通し、他端が基板吸着面12から見て側方に当た
る周面で開口してなる排気経路14が設けられている。
なお、ここでは排気穴13を1個のみ設けたが、複数個
設けても良い。また、真空吸引溝11の代わりに排気穴
13を多数設けて基板吸着面を構成しても良い。
【0015】また、20はニードル状の封止弁であり、
前記排気経路14の途中に形成された略円形状の開口部
15に対しその軸方向に移動自在に本体部10に保持さ
れ、該開口部15を開閉自在に封止する如くなってい
る。この封止弁20は常時、コイルバネ21により開口
部15側へ押し付けられるよう付勢されており、他の力
が加わらない状態においては開口部15を閉成・封止す
る。
【0016】また、30は全体略中空円筒状の排気部材
であり、前記排気経路14の他端側にネジ構造(図示せ
ず)により本体部10に対して移動自在、詳細には封止
弁20の移動方向と同一方向に移動自在に取り付けられ
ている。
【0017】この排気部材30の一端31は、図2に示
すように最もネジ込んだ状態で、封止弁20の先端をコ
イルバネ21の押し付け力に抗して移動させ、該封止弁
20を開口部15から離隔して開放する如くなってい
る。この時、排気経路14は排気部材30の内部32と
連通状態となり、他端33に接続用配管(図示せず)を
介して接続される真空排気ポンプ(図示せず)によって
真空排気される。
【0018】なお、図3に示すように、排気部材30の
一端31をある程度抜き出した状態では封止弁20に何
ら力を加えず、封止弁20及びコイルバネ21による開
口部15の封止を許容する。
【0019】また、100は本装置によって吸着・保持
する基板であり、プラスチック等の高分子材料等からな
る、厚さが数10μm〜数100μmの極めて薄い薄膜
の可撓性基板である。
【0020】本装置により基板100を吸着・保持する
には、まず、図1(b) に示すように基板吸着面12上に
基板100を、真空吸引溝11が全て覆われる如く載置
する。次に、図2に示すように排気部材30を本体部1
0に最もネジ込んだ状態として封止弁20を開口部15
から離隔して開放する。この状態で、前述した如く接続
用配管及び真空排気ポンプ(共に図示せず)を用いて真
空排気すると、排気部材30の内部32、排気経路14
及び排気穴13を介して真空吸引溝11内が真空排気さ
れ、その負圧によって基板100は基板吸着面12に吸
着される。
【0021】十分に排気した後、真空排気を続けながら
排気部材30を抜き出してゆくと、排気に伴う吸引力及
びコイルバネ21の復元力により封止弁20が開口部1
5の方へ移動し、図3に示すように排気部材30をその
一端31が封止弁20の先端より離れる位置まで抜き出
すと、封止弁20の先端部の周面が開口部15に当接し
てこれを封止する。
【0022】この状態で接続用配管及び真空排気ポンプ
から切り放しても、封止弁20はコイルバネ21により
開口部15に押し付けられ、封止状態が保たれるので、
基板100を本体部10に吸着・保持した状態を保つこ
とができ、そのまま自由に移動することもでき、LSI
製造装置やディスプレイ製造装置に適用することがで
き、特に微細パターンを形成するのに重要なホトリソグ
ラフィのプロセス工程に対して有用となる。
【0023】封止弁及び開口部の形状や材質は、吸着状
態を長く保つために重要な要素である。封止弁の開口部
と接する部分の形状については、前述したニードル状の
ものの他、球状、テーパー状のものを用いることがで
き、また、対向する開口部の形状についても封止弁の形
状に対応するよう、テーパ状あるいは球面状に形成する
ことができる。
【0024】図4は球状の封止弁20−1とテーパー状
の開口部15−1との組み合わせの例、図5はテーパー
状の封止弁20−2とテーパー状の開口部15−1との
組み合わせの例、図6は球状の封止弁20−1と球状の
開口部15−2との組み合わせの例をそれぞれ示すもの
である。
【0025】また、封止弁の先端をプラスチックやゴム
等の弾性力の富む材料で形成することによって、封止力
をより高めることができる。また、開口部にプラスチッ
クやゴム製のOリングやドーナツ状のパッキング材を挟
むことも有効である。図7にステップ状の封止弁20−
3及び開口部15−3とOリング16とを用いた場合の
例を示す。
【0026】(第2の形態)図8は本発明の基板保持装
置の第2の実施の形態を示すもので、ここでは排気経路
の他端が基板吸着面から見て反対側の面で開口した本体
部を用いた例を示す。即ち、図中、40は本体部であ
り、第1の形態と同様、その一方の平面部には真空吸引
溝41が形成され、基板吸着面42を構成している。ま
た、本体部40の内部には、一端が排気穴43を介して
前記真空吸引溝41と連通し、他端が基板吸着面42か
ら見て反対側の平面部44で開口してなる排気経路45
が設けられている。また、封止弁20は第1の形態と同
様、排気経路45の途中に形成された開口部46に対し
その軸方向に移動自在でかつコイルバネ21により付勢
された状態で本体部40に保持され、該開口部46を開
閉自在に封止する如くなっている。
【0027】また、50は固定台であり、本体部40を
搭載する本体部搭載面51には前記排気経路45の他端
に対応する位置に排気穴52が形成され、また、平面部
44に対応する位置に排気穴53が形成されている。こ
れらの穴は本体部搭載面51から見て側方の面で開口し
てなる排気経路54と連通している。
【0028】また、60は封止弁20を開閉するための
可動機構であり、封止弁20を加圧する加圧板61と、
該加圧板61を固定台50に対して本体部搭載面51と
平行な方向に移動自在に保持する操作レバー62とから
なっている。
【0029】ここで、固定台50の排気穴53は1個し
か設けていないが、複数個設けても良い。また、排気穴
52及び53は同じ排気経路54に繋がっているが、個
別の排気経路を構成しても良い。また、固定台50の排
気経路54は接続用配管(図示せず)を介して接続され
る真空排気ポンプ(図示せず)によって真空排気され
る。
【0030】本装置により基板100を吸着・保持する
には、まず、本体部40を固定台50上に、平面部44
と本体部搭載面51とが接する如く載置する。この際、
可動機構60の加圧板61が排気経路45の他端内に位
置し、その移動方向が封止弁20の移動方向と一致する
ように設定する。この状態で、前述した如く接続用配管
及び真空排気ポンプ(共に図示せず)を用いて真空排気
すると、排気経路54を介して排気穴53内が真空排気
され、その負圧によって本体部40は固定台50上に吸
着・固定される。
【0031】次に、基板吸着面42上に基板100を、
真空吸引溝41が全て覆われる如く載置し、可動機構6
0のレバー62を操作して加圧板61により封止弁20
を開口部46から離隔・開放させると、排気経路54、
排気穴52、排気経路45及び排気穴43を介して真空
吸引溝41内が真空排気され、その負圧によって基板1
00は基板吸着面42に吸着される。
【0032】十分に排気し、基板100を吸着・固定さ
せた後、真空排気を続けながら加圧レバー62を戻して
加圧板61を封止弁20から離すと、封止弁20の周面
が開口部46に当接してこれを封止する。これにより、
基板100を本体部40に吸着させた状態を保つことが
できる。一方、基板100を吸着した本体部40は真空
排気ポンプを停止することにより固定台50から外すこ
とができる。
【0033】このような構成することにより、本体部の
構造をより簡単にすることができる。また、本体部は固
定台に固定されているので、操作が容易となる。
【0034】(第3の形態)これまでの実施の形態で
は、基板100を吸着する基板吸着面は、吸着を安定に
かつ長い時問に亘って持続させるために表面を平滑に加
工しておく必要がある。しかし、通常の機械加工によっ
て得られる表面には加工による微小な凹凸やうねりがあ
り、平滑な表面にするには精密な研磨加工等が必要であ
る。以下、この点を工夫した例について述べる。
【0035】図9は本発明の基板保持装置の第3の実施
の形態を示すもので、ここでは第1の形態において本体
部の基板吸着面に平滑な表面を有する薄板を接着した例
を示す。図9(a) は装置全体の平面図、図9(b) は基板
を保持した状態の図9(a) B−B線矢視方向の断面図で
ある。
【0036】図中、70は高分子材料等からなる薄板で
あり、基板吸着面12上の全面に真空吸引溝11による
真空吸引を可能とするように接着される。即ち、薄板7
0は真空吸引溝11によって分割された基板吸着面12
の各部分に対応したリング状、略扇状及び円形をなした
複数の部材からなっており、真空吸引溝11を塞がない
ように接着される。
【0037】ここで、薄板70としてはポリイミドフィ
ルムのような、本体部10に接着が可能であって、表面
が平滑で薄くかつ弾性を有し、基板100との密着性が
良い材料であれば良い。
【0038】このように構成することにより、通常の機
械加工が施された基板吸着面12の微小な凹凸やうねり
等を薄板70に吸収させることができ、基板100を真
空吸着させた時の密着性が良くなり、真空吸引溝11や
排気穴13の密閉性を高めることができ、基板100と
の気密性が向上する。この結果、通常の機械加工が施さ
れた本体部10を用いても、封止弁20を閉成・封止し
た後、基板100を真空吸着によって保持可能な時間を
長くすることができる。
【0039】(第4の形態)次に、基板吸着面に薄膜を
付着して平滑な表面を構成するようにした例について述
べる。即ち、通常の機械加工が施された本体部の基板吸
着面上の全面に薄膜を付着する。ここで、薄膜としては
本体部に付着が可能であって、基板100との密着性が
良い材料であれば良い。さらに、基板吸着面に付着する
薄膜は厚さが数μm〜数10μmと薄くても十分に平滑
な面を得ることができる。
【0040】この構成では、薄膜の厚さに対し、真空吸
引溝の深さ及び排気穴の穴径が極めて大きいので、真空
排気の際、該薄膜が真空吸引溝や排気穴の内壁に沿って
付着し、この時、基板100と薄膜が付着した真空吸引
溝との間に形成される空間の負圧によって、該基板10
0を吸着する。
【0041】(第5の形態)次に、基板吸着面と基板と
の間に液体を介在させるようにした例について述べる。
即ち、通常の機械加工が施された本体部の基板吸着面全
体に液体を塗り、その上に基板100を載せる。その
後、真空排気を行い、基板100を基板吸着面に吸着さ
せ、本体部と基板100とを密着させる。ここで、半導
体製造プロセスで加熱処理を施さない場合は、液体とし
てエチルアルコール等の沸点の低い有機溶剤を用いるこ
とができる。エチルアルコールの場合、エチルアルコー
ルが蒸発する前に基板100を密着させる。
【0042】このように構成することにより、本体部と
基板100との密着性が高まり、真空吸引溝や排気穴の
密閉性を高めることができる。また、真空排気すると、
基板100を液体だけで本体部に密着させた場合に比
べ、本体部と基板100との密着性が増し、基板100
の平坦度を向上できる。以上のことより、封止弁を閉成
・封止した後、基板100を真空吸着によって保持可能
な時問を長くすることができる。
【0043】なお、これまで本装置が保持する基板とし
ては、可撓性を有するプラスチック等の高分子材料等か
らなる基板について述べたが、Siウエハや石英等のガ
ラス基板、金属基板等についても同様に適用できること
は言うまでもない。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
可撓性を有するプラスチック等の高分子材料等からなる
薄い基板、Siウエハ、石英等のガラス基板、金属基板
等を平面精度の高い状態を保って自由にハンドリングで
きるため、該基板上に微細なデバイスを形成するのに必
要な、従来のLSI製造装置、ディスプレイ製造装置、
パタン形成装置、検査装置等にそのまま適用することが
でき、このことにより、コストを高くすることなく、微
細なデバイスを高精度に該基板上に形成することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基板保持装置の第1の実施の形態を示
す構成図
【図2】図1の装置の真空吸引時のようすを示す要部拡
大図
【図3】図1の装置の真空封止時のようすを示す要部拡
大図
【図4】封止弁の他の例を示す構造図
【図5】封止弁のさらに他の例を示す構造図
【図6】封止弁のさらに他の例を示す構造図
【図7】封止弁のさらに他の例を示す構造図
【図8】本発明の基板保持装置の第2の実施の形態を示
す構成図
【図9】本発明の基板保持装置の第3の実施の形態を示
す構成図
【符号の説明】
10,40…本体部、11,41…真空吸引溝、12,
42…基板吸着面、13,43…排気穴、14,45…
排気経路、15,46…開口部、20…封止弁、21…
コイルバネ、30…排気部材、44…平面部、50…固
定台、51…本体部搭載面、52,53…排気穴、54
…排気経路、60…可動機構、61…加圧板、62…レ
バー、70…薄板、100…基板。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 概ね平面状をなしかつ溝もしくは孔が形
    成された基板吸着面と、一端が前記溝もしくは孔に連通
    し、他端が基板吸着面から見て側方あるいは反対側の面
    で開口してなる排気経路とを有する本体部と、 該本体部に取り付けられ、前記排気経路のいずれかの部
    位に形成された開口部を開閉自在に封止する封止弁とを
    備え、 前記基板吸着面に基板を搭載し、封止弁を開放した状態
    で排気経路の他端より真空排気し、その後、封止弁を閉
    成することを特徴とする基板保持装置。
  2. 【請求項2】 開口部を略円形状に形成するとともに、
    封止弁を該開口部の軸方向に移動自在に支持し、封止弁
    の閉成時の開口部への押し付け力をコイルバネにより発
    生させることを特徴とする請求項1記載の基板保持装
    置。
  3. 【請求項3】 全体略中空円筒状をなし、排気経路の他
    端側にネジ構造により本体部に対して移動自在に取り付
    けられ、その一部により封止弁を開口部への押し付け力
    に抗して移動可能でかつ内部を通して真空排気可能な排
    気部材を備えたことを特徴とする請求項2記載の基板保
    持装置。
  4. 【請求項4】 本体部の基板吸着面から見て反対側の面
    で開口した排気経路の他端に対応する位置を含む複数の
    位置に穴が形成された本体部搭載面と、一端が前記各穴
    に連通し、他端が本体部搭載面から見て側方あるいは反
    対側の面で開口してなる排気経路とを有する固定台と、
    該固定台に対して移動自在に取り付けられ、その一部に
    より封止弁を開口部への押し付け力に抗して移動可能な
    可動機構とを備えたことを特徴とする請求項2記載の基
    板保持装置。
  5. 【請求項5】 封止弁の開口部に当接する部分の形状を
    ニードル状もしくは球状もしくはテーパー状となし、開
    口部の封止弁に当接する部分の形状を前記封止弁の形状
    に対応するようになしたことを特徴とする請求項2乃至
    4いずれか記載の基板保持装置。
  6. 【請求項6】 開口部もしくは封止弁の互いに当接する
    部分の少なくとも一方に緩衝材を設けたことを特徴とす
    る請求項2乃至5いずれか記載の基板保持装置。
  7. 【請求項7】 基板吸着面上に表面が平滑でかつ弾性を
    有する薄板を接着したことを特徴とする請求項1乃至6
    いずれか記載の基板保持装置。
  8. 【請求項8】 基板吸着面に薄膜を付着したことを特徴
    とする請求項1乃至6いずれか記載の基板保持装置。
  9. 【請求項9】 基板吸着面と基板との間に液体を介在さ
    せたことを特徴とする請求項1乃至6いずれか記載の基
    板保持装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002184835A (ja) * 2000-12-13 2002-06-28 Ando Electric Co Ltd 吸着パッド
WO2007114331A1 (ja) * 2006-04-04 2007-10-11 Miraial Co., Ltd. 薄板収納容器
JP2014229828A (ja) * 2013-05-24 2014-12-08 株式会社東京精密 ウェーハ研磨装置

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