JPH09224030A - 伝送品質監視回路 - Google Patents
伝送品質監視回路Info
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- JPH09224030A JPH09224030A JP8028873A JP2887396A JPH09224030A JP H09224030 A JPH09224030 A JP H09224030A JP 8028873 A JP8028873 A JP 8028873A JP 2887396 A JP2887396 A JP 2887396A JP H09224030 A JPH09224030 A JP H09224030A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＣＲＣチェックの結果に対し、簡単なカウン
タと簡易なロジックを用いて、ＡＴＭ処理装置間の伝送
品質を常時検証することを可能にする。 【解決手段】 ＣＲＣチェック部３０１がＣＲＣエラー
を連続して検出した回数（Ｃ1）を計測する連続用カウ
ンタ３０３と所定周期（Ｔ）でＣＲＣエラー数（Ｃ2）
を計測する長時間用カウンタ３０６を併用し、連続用カ
ウンタについて予め定めた規定値（Ｎ1）をＣ1が超過し
たことと、長時間用カウンタについて予め定めた規定値
（Ｎ2）をＣ2が超過したことを常時監視し、セル同期を
判定すると共に、伝送品質劣化、規定外間欠エラー、規
定内間欠エラー、及び正常状態別に伝送品質を常時検証
する。
タと簡易なロジックを用いて、ＡＴＭ処理装置間の伝送
品質を常時検証することを可能にする。 【解決手段】 ＣＲＣチェック部３０１がＣＲＣエラー
を連続して検出した回数（Ｃ1）を計測する連続用カウ
ンタ３０３と所定周期（Ｔ）でＣＲＣエラー数（Ｃ2）
を計測する長時間用カウンタ３０６を併用し、連続用カ
ウンタについて予め定めた規定値（Ｎ1）をＣ1が超過し
たことと、長時間用カウンタについて予め定めた規定値
（Ｎ2）をＣ2が超過したことを常時監視し、セル同期を
判定すると共に、伝送品質劣化、規定外間欠エラー、規
定内間欠エラー、及び正常状態別に伝送品質を常時検証
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、セル同期を判定す
ると共に、伝送品質を常時監視する回路に関し、特に伝
送路上でビットエラー等が間欠的に発生することに起因
する伝送品質劣化を監視する伝送品質監視回路に関す
る。
ると共に、伝送品質を常時監視する回路に関し、特に伝
送路上でビットエラー等が間欠的に発生することに起因
する伝送品質劣化を監視する伝送品質監視回路に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来のＡＴＭ（Asynchronous Transfer
Mode）処理装置の伝送路インタフェース部内のＨＥＣ
（Header Error Control）同期部において、伝送路（Ｓ
ＴＭ：Synchronous Transfer Mode）上の連続するビッ
ト列に対してＣＲＣ（Cyclic Error Control）チェック
を行い、セル同期を判定する（セルの先頭を識別する）
と共に、ビットエラー等に起因してエラーとなったセル
を破棄する。なお、この方法に関しては、例えば「ＪＴ
−Ｉ４３２、広帯域ＩＳＤＮ ユーザ・網インタフェー
ス物理レイヤ仕様、１９９３」に記載されている。図２
は、セル同期状態に関する遷移を表したものである。ハ
ンチング状態でのセル同期処理は、仮定されたヘッダに
対し、ＣＲＣチェックをビット（あるいはバイト）毎に
実施し、ＣＲＣチェックの結果が正しい場合、セルのヘ
ッダが検出されたと判定され、前同期状態に遷移する。
前同期状態では、ＣＲＣチェックが正しいかをセル毎に
行い、連続してδ回正しいと判定した場合、セル同期が
確立したと判定する。セル同期が確立後、伝送路上のビ
ットエラー等に起因して伝送品質が劣化し、ＣＲＣエラ
ーとなった場合、たまたま発生したエラーでセル同期外
れと判定することを回避するため、連続してα回ＣＲＣ
エラーとなることで、セル同期外れと判定する。但し、
ＣＲＣエラーとなったセルは、破棄される。セル同期状
態からハンチング状態に遷移した場合、セル同期が外れ
たことをソフトウェア等に通知する。通知を受けたソフ
トウェアは、伝送路インタフェース部が２重化構成され
ている場合、系変更を実施し、正常な系にて運用を継続
する。しかし、セル同期外れと判定しない場合、系変更
を実施する必要がないため、ＣＲＣエラーになりセルを
破棄した場合においても、当該エラーをソフトウェアに
通知しない。また、ＭＣ（Monitoring Cell）を用い
て、伝送品質を測定する方法がある。図３は、ＭＣを用
いた伝送品質測定方法の概念図である。ＡＴＭ処理装置
２０２内の伝送路インタフェース部２０４とＡＴＭ処理
装置２０３内の伝送路インタフェース部２０５とを接続
する伝送路２０１上の伝送品質を測定するには、ＭＣを
挿入、または抽出する装置をＡＴＭ処理装置２０２，２
０３の伝送路インタフェース部２０４，２０５に配備
し、例えば、伝送路インタフェース部２０４から伝送路
インタフェース部２０５方向の伝送品質を測定する場
合、伝送路インタフェース部２０４から伝送路２０１に
ＭＣを挿入し、伝送路２０１を転送されたＭＣを伝送路
インタフェース部２０５にて伝送路２０１から抽出し
て、ＭＣを測定することにより行う。
Mode）処理装置の伝送路インタフェース部内のＨＥＣ
（Header Error Control）同期部において、伝送路（Ｓ
ＴＭ：Synchronous Transfer Mode）上の連続するビッ
ト列に対してＣＲＣ（Cyclic Error Control）チェック
を行い、セル同期を判定する（セルの先頭を識別する）
と共に、ビットエラー等に起因してエラーとなったセル
を破棄する。なお、この方法に関しては、例えば「ＪＴ
−Ｉ４３２、広帯域ＩＳＤＮ ユーザ・網インタフェー
ス物理レイヤ仕様、１９９３」に記載されている。図２
は、セル同期状態に関する遷移を表したものである。ハ
ンチング状態でのセル同期処理は、仮定されたヘッダに
対し、ＣＲＣチェックをビット（あるいはバイト）毎に
実施し、ＣＲＣチェックの結果が正しい場合、セルのヘ
ッダが検出されたと判定され、前同期状態に遷移する。
前同期状態では、ＣＲＣチェックが正しいかをセル毎に
行い、連続してδ回正しいと判定した場合、セル同期が
確立したと判定する。セル同期が確立後、伝送路上のビ
ットエラー等に起因して伝送品質が劣化し、ＣＲＣエラ
ーとなった場合、たまたま発生したエラーでセル同期外
れと判定することを回避するため、連続してα回ＣＲＣ
エラーとなることで、セル同期外れと判定する。但し、
ＣＲＣエラーとなったセルは、破棄される。セル同期状
態からハンチング状態に遷移した場合、セル同期が外れ
たことをソフトウェア等に通知する。通知を受けたソフ
トウェアは、伝送路インタフェース部が２重化構成され
ている場合、系変更を実施し、正常な系にて運用を継続
する。しかし、セル同期外れと判定しない場合、系変更
を実施する必要がないため、ＣＲＣエラーになりセルを
破棄した場合においても、当該エラーをソフトウェアに
通知しない。また、ＭＣ（Monitoring Cell）を用い
て、伝送品質を測定する方法がある。図３は、ＭＣを用
いた伝送品質測定方法の概念図である。ＡＴＭ処理装置
２０２内の伝送路インタフェース部２０４とＡＴＭ処理
装置２０３内の伝送路インタフェース部２０５とを接続
する伝送路２０１上の伝送品質を測定するには、ＭＣを
挿入、または抽出する装置をＡＴＭ処理装置２０２，２
０３の伝送路インタフェース部２０４，２０５に配備
し、例えば、伝送路インタフェース部２０４から伝送路
インタフェース部２０５方向の伝送品質を測定する場
合、伝送路インタフェース部２０４から伝送路２０１に
ＭＣを挿入し、伝送路２０１を転送されたＭＣを伝送路
インタフェース部２０５にて伝送路２０１から抽出し
て、ＭＣを測定することにより行う。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記のＣＲＣチェック
は、セル同期を確立することが主たる目的であるため、
ＡＴＭ処理装置は、ＣＲＣエラーとなったセルを破棄し
ていることを認識することが困難である。つまり、α回
（通常、α＝６あるいは７の固定）連続してＣＲＣエラ
ーとならないビットエラーが伝送路上で間欠的に発生
し、セルを破棄し伝送品質が劣化していることを認識で
きないと共に、長期間に及ぶ伝送品質を検証することが
できない。また、規定値（α）を必要に応じて変更する
ことができない。更に、ＭＣを用いて、伝送品質を測定
する場合、ＭＣを挿入／抽出する装置が必要になると共
に、測定した結果を格納するメモリが必要になる。ま
た、挿入側で計測したユーザセル数をＭＣに格納し、抽
出側に転送するため、ユーザセルが転送されていない状
態では、ＭＣを用いて伝送品質を測定することができな
い。本発明の目的は、ＣＲＣチェックの結果に対し、簡
単なカウンタと簡易なロジックを用いて、ＡＴＭ処理装
置間の伝送品質を常時検証することを可能にする伝送品
質監視回路を提供することにある。
は、セル同期を確立することが主たる目的であるため、
ＡＴＭ処理装置は、ＣＲＣエラーとなったセルを破棄し
ていることを認識することが困難である。つまり、α回
（通常、α＝６あるいは７の固定）連続してＣＲＣエラ
ーとならないビットエラーが伝送路上で間欠的に発生
し、セルを破棄し伝送品質が劣化していることを認識で
きないと共に、長期間に及ぶ伝送品質を検証することが
できない。また、規定値（α）を必要に応じて変更する
ことができない。更に、ＭＣを用いて、伝送品質を測定
する場合、ＭＣを挿入／抽出する装置が必要になると共
に、測定した結果を格納するメモリが必要になる。ま
た、挿入側で計測したユーザセル数をＭＣに格納し、抽
出側に転送するため、ユーザセルが転送されていない状
態では、ＭＣを用いて伝送品質を測定することができな
い。本発明の目的は、ＣＲＣチェックの結果に対し、簡
単なカウンタと簡易なロジックを用いて、ＡＴＭ処理装
置間の伝送品質を常時検証することを可能にする伝送品
質監視回路を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の伝送品質監視回路は、ＡＴＭ処理装置の伝
送路インタフェース部内のＨＥＣ同期部において、伝送
路上の連続するビット列に対してＣＲＣチェックを行う
ＣＲＣチェック部がＣＲＣエラーを連続して検出した回
数（Ｃ1）を計測する連続用カウンタ（例えば図１の３
０３）と予め定めた周期（Ｔ）でＣＲＣエラー数
（Ｃ2）を計測する長時間用カウンタ（例えば図１の３
０６）を併用し、連続用カウンタについて予め定めた第
１の規定値（Ｎ1）をＣ1が超過したことと、長時間用カ
ウンタについて予め定めた第２の規定値（Ｎ2）をＣ2が
超過したことを常時監視し、セル同期を判定すると共
に、伝送品質劣化、規定外間欠エラー、規定内間欠エラ
ー、及び正常状態別に伝送品質を常時検証することに特
徴がある。また、規定値（Ｎ1，Ｎ2）を必要に応じてプ
ログラマブルに変更することに特徴がある。更に、ソフ
トウェア等の指示でＣ2を読み取り、読み取った結果を
蓄積し、加工する手段を用いることにより、長期間に及
ぶ伝送品質を検証することに特徴がある。従来の技術と
は、連続用カウンタと長時間用カウンタを併用し、両カ
ウンタの計測値を用いて、セル同期を判定すると共に、
伝送品質を検証することが異なる。
め、本発明の伝送品質監視回路は、ＡＴＭ処理装置の伝
送路インタフェース部内のＨＥＣ同期部において、伝送
路上の連続するビット列に対してＣＲＣチェックを行う
ＣＲＣチェック部がＣＲＣエラーを連続して検出した回
数（Ｃ1）を計測する連続用カウンタ（例えば図１の３
０３）と予め定めた周期（Ｔ）でＣＲＣエラー数
（Ｃ2）を計測する長時間用カウンタ（例えば図１の３
０６）を併用し、連続用カウンタについて予め定めた第
１の規定値（Ｎ1）をＣ1が超過したことと、長時間用カ
ウンタについて予め定めた第２の規定値（Ｎ2）をＣ2が
超過したことを常時監視し、セル同期を判定すると共
に、伝送品質劣化、規定外間欠エラー、規定内間欠エラ
ー、及び正常状態別に伝送品質を常時検証することに特
徴がある。また、規定値（Ｎ1，Ｎ2）を必要に応じてプ
ログラマブルに変更することに特徴がある。更に、ソフ
トウェア等の指示でＣ2を読み取り、読み取った結果を
蓄積し、加工する手段を用いることにより、長期間に及
ぶ伝送品質を検証することに特徴がある。従来の技術と
は、連続用カウンタと長時間用カウンタを併用し、両カ
ウンタの計測値を用いて、セル同期を判定すると共に、
伝送品質を検証することが異なる。
【０００５】
【発明の実施の形態】本発明においては、エラー数を連
続用カウンタと長時間用カウンタとの二つのカウンタで
計測した値（Ｃ1，Ｃ2）を用いることにより、Ｃ1がＮ1
を超過した場合、判定機能部はセル同期外れと判定し、
ソフトウェアに通知し、その後、Ｃ2がＮ2を超過した場
合、判定機能部は伝送品質劣化と判定し、一方、Ｔ周期
内にＣ2がＮ2を超過しない場合、判定機能部は伝送品質
を満足する規定内間欠エラーと判定し、また、Ｃ2がＮ2
を超過することのみの場合、判定機能部は伝送品質を満
足しない規定外間欠エラーと判定し、更に、Ｃ1及びＣ2
の両方が規定値を超過しないことにより、判定機能部は
伝送品質が正常であると判定する。更に、ソフトウェア
等の指示でＣ2を読み取り、読み取った値を蓄積し、必
要に応じて積算したＣ2を転送したセル数で割ることに
より、Ｃ2を蓄積した期間に及ぶ伝送品質を検証する。
続用カウンタと長時間用カウンタとの二つのカウンタで
計測した値（Ｃ1，Ｃ2）を用いることにより、Ｃ1がＮ1
を超過した場合、判定機能部はセル同期外れと判定し、
ソフトウェアに通知し、その後、Ｃ2がＮ2を超過した場
合、判定機能部は伝送品質劣化と判定し、一方、Ｔ周期
内にＣ2がＮ2を超過しない場合、判定機能部は伝送品質
を満足する規定内間欠エラーと判定し、また、Ｃ2がＮ2
を超過することのみの場合、判定機能部は伝送品質を満
足しない規定外間欠エラーと判定し、更に、Ｃ1及びＣ2
の両方が規定値を超過しないことにより、判定機能部は
伝送品質が正常であると判定する。更に、ソフトウェア
等の指示でＣ2を読み取り、読み取った値を蓄積し、必
要に応じて積算したＣ2を転送したセル数で割ることに
より、Ｃ2を蓄積した期間に及ぶ伝送品質を検証する。
【０００６】以下、本発明の一実施例を図面により説明
する。 （第１の実施例）図１は、本発明の第１の実施例を示す
ＡＴＭ処理装置の伝送路インタフェース部内のＨＥＣ同
期部のブロック図である。ＨＥＣ同期部には、ＣＲＣチ
ェック部３０１、ＣＲＣ判定部３０２、連続エラー検出
カウンタ部、長時間エラー検出カウンタ部、及び、判定
機能部３１１が配備され、ソフトウェア処理等を行うプ
ロセッサ等の処理系装置３１２に接続される。連続エラ
ー検出カウンタ部には、連続用カウンタ３０３、連続用
比較部３０４、及び、リセット信号送出部３０５が配備
され、長時間エラー検出カウンタ部には、長時間用カウ
ンタ３０６、長時間用比較部３０７、起動部３０８、周
期（Ｔ）監視部３０９、及び、リセット信号送出部３１
０が配備される。ＣＲＣ判定部３０２は、ＣＲＣチェッ
ク部３０１、連続用カウンタ３０３、リセット信号送出
部３０５、及び、長時間用カウンタ３０６に接続され、
連続用比較部３０４は、連続用カウンタ３０３、リセッ
ト信号送出部３０５、及び、判定機能部３１１に接続さ
れる。長時間用カウンタ３０６は、ＣＲＣ判定部３０
２、長時間用比較部３０７、起動部３０８、及び、リセ
ット信号送出部３１０に接続され、長時間用比較部３０
７は、判定機能部３１１に接続され、周期（Ｔ）監視部
３０９は、起動部３０８、及び、リセット信号送出部３
１０に接続され、リセット信号送出部３１０は判定機能
部３１１に接続される。ＣＲＣチェック部３０１は、伝
送路上の連続するビット列からセルとしてＡＴＭ処理装
置に取り込むため、連続するビット列の４ＢｙｔｅのＣ
ＲＣチェックの結果と５Ｂｙｔｅ目の値が一致している
か否かを判定し、その判定結果をＣＲＣ判定部３０２に
通知する機能を有する。ＣＲＣ判定部３０２は、ＣＲＣ
チェック部３０１から通知されたＣＲＣチェックの結果
が正しい場合、リセット信号送出部３０５にリセット指
示を行い、一方当該結果が誤りの場合、連続用カウンタ
３０３及び長時間用カウンタ３０６に計測値（Ｃ1，
Ｃ2）に‘１’を加算することの指示を行う機能を有す
る。連続用カウンタ３０３は、ＣＲＣ判定部３０２から
の加算することの指示によりＣ1に‘１’を加算し、加
算した結果を連続用比較部３０４に通知する機能、及
び、リセット信号送出部３０５からリセット信号を受信
した際、Ｃ1を‘０’クリアする機能を有する。連続用
比較部３０４は、連続用カウンタ３０３から通知された
Ｃ1が予め定めた規定値（Ｎ1）を超過した際にＣ1がＮ1
を超過したことを判定機能部３１１に通知すると共に、
リセット信号送出部３０５にリセット指示を行う機能を
有する。リセット信号送出部３０５は、ＣＲＣ判定部３
０２、あるいは、連続用比較部３０４からリセット指示
を受信した際、連続用カウンタ３０３にリセット信号を
送信する機能を有する。
する。 （第１の実施例）図１は、本発明の第１の実施例を示す
ＡＴＭ処理装置の伝送路インタフェース部内のＨＥＣ同
期部のブロック図である。ＨＥＣ同期部には、ＣＲＣチ
ェック部３０１、ＣＲＣ判定部３０２、連続エラー検出
カウンタ部、長時間エラー検出カウンタ部、及び、判定
機能部３１１が配備され、ソフトウェア処理等を行うプ
ロセッサ等の処理系装置３１２に接続される。連続エラ
ー検出カウンタ部には、連続用カウンタ３０３、連続用
比較部３０４、及び、リセット信号送出部３０５が配備
され、長時間エラー検出カウンタ部には、長時間用カウ
ンタ３０６、長時間用比較部３０７、起動部３０８、周
期（Ｔ）監視部３０９、及び、リセット信号送出部３１
０が配備される。ＣＲＣ判定部３０２は、ＣＲＣチェッ
ク部３０１、連続用カウンタ３０３、リセット信号送出
部３０５、及び、長時間用カウンタ３０６に接続され、
連続用比較部３０４は、連続用カウンタ３０３、リセッ
ト信号送出部３０５、及び、判定機能部３１１に接続さ
れる。長時間用カウンタ３０６は、ＣＲＣ判定部３０
２、長時間用比較部３０７、起動部３０８、及び、リセ
ット信号送出部３１０に接続され、長時間用比較部３０
７は、判定機能部３１１に接続され、周期（Ｔ）監視部
３０９は、起動部３０８、及び、リセット信号送出部３
１０に接続され、リセット信号送出部３１０は判定機能
部３１１に接続される。ＣＲＣチェック部３０１は、伝
送路上の連続するビット列からセルとしてＡＴＭ処理装
置に取り込むため、連続するビット列の４ＢｙｔｅのＣ
ＲＣチェックの結果と５Ｂｙｔｅ目の値が一致している
か否かを判定し、その判定結果をＣＲＣ判定部３０２に
通知する機能を有する。ＣＲＣ判定部３０２は、ＣＲＣ
チェック部３０１から通知されたＣＲＣチェックの結果
が正しい場合、リセット信号送出部３０５にリセット指
示を行い、一方当該結果が誤りの場合、連続用カウンタ
３０３及び長時間用カウンタ３０６に計測値（Ｃ1，
Ｃ2）に‘１’を加算することの指示を行う機能を有す
る。連続用カウンタ３０３は、ＣＲＣ判定部３０２から
の加算することの指示によりＣ1に‘１’を加算し、加
算した結果を連続用比較部３０４に通知する機能、及
び、リセット信号送出部３０５からリセット信号を受信
した際、Ｃ1を‘０’クリアする機能を有する。連続用
比較部３０４は、連続用カウンタ３０３から通知された
Ｃ1が予め定めた規定値（Ｎ1）を超過した際にＣ1がＮ1
を超過したことを判定機能部３１１に通知すると共に、
リセット信号送出部３０５にリセット指示を行う機能を
有する。リセット信号送出部３０５は、ＣＲＣ判定部３
０２、あるいは、連続用比較部３０４からリセット指示
を受信した際、連続用カウンタ３０３にリセット信号を
送信する機能を有する。
【０００７】長時間用カウンタ３０６は、長時間の計測
に用いるカウンタであり、ＣＲＣ判定部３０２からの加
算することの指示によりＣ2に‘１’を加算し、加算し
た結果を長時間用比較部３０７及び起動部３０８に通知
する機能、及び、リセット信号送出部３１０からリセッ
ト信号を受信した際、Ｃ2を‘０’クリアする機能を有
する。長時間用比較部３０７は、長時間用カウンタ３０
６から通知されたＣ2が予め定めた規定値（Ｎ2）を超過
した際にＣ2がＮ2を超過したことを判定機能部３１１に
通知する機能を有する。起動部３０８は、長時間用カウ
ンタ３０６からＣ2＝１を通知された際、周期（Ｔ）監
視部３０９に周期監視を行うことの指示を行う機能を有
する。周期（Ｔ）監視部３０９は、起動部３０８から周
期監視を開始することの指示を受信することにより、周
期（Ｔ）監視を行い、Ｔ経過後にリセット信号を送信出
することの指示をリセット信号送出部３１０に通知す
る。リセット信号送出部３１０は、周期（Ｔ）監視部３
０９からリセット信号を送信することの指示を受信した
際、長時間用カウンタ３０６にリセット信号を送出する
と共に、Ｔ周期が経過したことを通知する周期経過信号
を判定機能部３１１に通知する機能を有する。判定機能
部３１１は、連続用比較部３０４及び長時間用比較部３
０７からの規定値（Ｎ1，Ｎ2）を超過したことの受信、
及び、周期経過信号の受信を用いた伝送品質の判定機能
を有する。判定機能部３１１がＣ1≧Ｎ1を受信した場
合、セル同期外れと判定し、処理系装置３１２にセル同
期外れが発生したことを通知し、その後Ｔ周期内にＣ2
≧Ｎ2を受信することにより、伝送品質劣化と判定し、
当該劣化が原因でセル同期外れとなったことを処理系装
置３１２に通知し、Ｔ周期内にＣ2≧Ｎ2を受信しないこ
とにより、規定内間欠エラーと判定し、当該エラーが原
因でセル同期外れとなったことを通知する。判定機能部
３１１がＣ2≧Ｎ2のみを受信することにより、規定外間
欠エラーと判定し、当該エラーが発生したことを処理系
装置３１２に通知する。
に用いるカウンタであり、ＣＲＣ判定部３０２からの加
算することの指示によりＣ2に‘１’を加算し、加算し
た結果を長時間用比較部３０７及び起動部３０８に通知
する機能、及び、リセット信号送出部３１０からリセッ
ト信号を受信した際、Ｃ2を‘０’クリアする機能を有
する。長時間用比較部３０７は、長時間用カウンタ３０
６から通知されたＣ2が予め定めた規定値（Ｎ2）を超過
した際にＣ2がＮ2を超過したことを判定機能部３１１に
通知する機能を有する。起動部３０８は、長時間用カウ
ンタ３０６からＣ2＝１を通知された際、周期（Ｔ）監
視部３０９に周期監視を行うことの指示を行う機能を有
する。周期（Ｔ）監視部３０９は、起動部３０８から周
期監視を開始することの指示を受信することにより、周
期（Ｔ）監視を行い、Ｔ経過後にリセット信号を送信出
することの指示をリセット信号送出部３１０に通知す
る。リセット信号送出部３１０は、周期（Ｔ）監視部３
０９からリセット信号を送信することの指示を受信した
際、長時間用カウンタ３０６にリセット信号を送出する
と共に、Ｔ周期が経過したことを通知する周期経過信号
を判定機能部３１１に通知する機能を有する。判定機能
部３１１は、連続用比較部３０４及び長時間用比較部３
０７からの規定値（Ｎ1，Ｎ2）を超過したことの受信、
及び、周期経過信号の受信を用いた伝送品質の判定機能
を有する。判定機能部３１１がＣ1≧Ｎ1を受信した場
合、セル同期外れと判定し、処理系装置３１２にセル同
期外れが発生したことを通知し、その後Ｔ周期内にＣ2
≧Ｎ2を受信することにより、伝送品質劣化と判定し、
当該劣化が原因でセル同期外れとなったことを処理系装
置３１２に通知し、Ｔ周期内にＣ2≧Ｎ2を受信しないこ
とにより、規定内間欠エラーと判定し、当該エラーが原
因でセル同期外れとなったことを通知する。判定機能部
３１１がＣ2≧Ｎ2のみを受信することにより、規定外間
欠エラーと判定し、当該エラーが発生したことを処理系
装置３１２に通知する。
【表１】 表１は、以上述べた判定機能部３１１での判定方法をま
とめたものである。本実施例に示すように、連続エラー
検出カウンタ部と長時間エラー検出カウンタ部とを併用
し、ＣＲＣチェックの結果を計測し、両カウンタ部によ
る計測結果の相関をとることにより、セル同期を判定す
ると共に、伝送品質劣化、規定外間欠エラー、規定内間
欠エラー、及び正常状態に分類し伝送品質を検証するこ
とができる。
とめたものである。本実施例に示すように、連続エラー
検出カウンタ部と長時間エラー検出カウンタ部とを併用
し、ＣＲＣチェックの結果を計測し、両カウンタ部によ
る計測結果の相関をとることにより、セル同期を判定す
ると共に、伝送品質劣化、規定外間欠エラー、規定内間
欠エラー、及び正常状態に分類し伝送品質を検証するこ
とができる。
【０００８】（第２の実施例）図４は、図１に示したＨ
ＥＣ同期部に長時間用カウンタ４０１（図１の３０６に
相当）の計測値をプログラマブルに読み取ることを可能
とするため、判定機能部４０２（図１の３１１に相当）
と長時間用カウンタ４０１を接続したＨＥＣ同期部のブ
ロック図である。なお他部の構成は第１の実施例と同様
である。長時間用カウンタ４０１は、予め定めた規定値
（Ｃ2）を読み取るための読み取り信号を受信した際、
その際のＣ2を判定機能部４０２経由でプロセッサ等の
処理系装置４０３（図１の３１２に相当）に通知する機
能を有する。４０２は、プロセッサ等の処理系装置４０
３の指示によりＣ2を読み取るための読み取り信号を４
０１に送信すると共に、４０１からのＣ2読み取り結果
をプロセッサ等の処理系装置４０３に通知する機能を有
する。また周期（Ｔ）に連動してＣ2を読み取り、読み
取った結果をプロセッサ等の処理系装置４０３に通知す
る機能を有する。プロセッサ等の処理系装置４０３は、
必要に応じて随時Ｃ2を読み取る機能、プログラマブル
にＣ2を読み取る機能、判定機能部４０２経由でＣ2を受
信する機能、Ｃ2を蓄積する機能、及び蓄積したＣ2を基
に伝送品質を算出する機能を有する。プロセッサ等の処
理系装置４０３がプログラマブルにＣ2を読み取り、読
み取り結果を蓄積し、必要に応じて蓄積した期間内に転
送されたセル数で割ることにより、プロセッサ等の処理
系装置４０３は当該期間内の伝送品質を算出する。ま
た、判定機能部４０２がＴ周期で読み取ったＣ2を受信
したプロセッサ等の処理系装置４０３は、Ｃ2を蓄積
し、必要に応じて式（１）を求めることにより、蓄積し
た期間内の伝送品質を算出する。
ＥＣ同期部に長時間用カウンタ４０１（図１の３０６に
相当）の計測値をプログラマブルに読み取ることを可能
とするため、判定機能部４０２（図１の３１１に相当）
と長時間用カウンタ４０１を接続したＨＥＣ同期部のブ
ロック図である。なお他部の構成は第１の実施例と同様
である。長時間用カウンタ４０１は、予め定めた規定値
（Ｃ2）を読み取るための読み取り信号を受信した際、
その際のＣ2を判定機能部４０２経由でプロセッサ等の
処理系装置４０３（図１の３１２に相当）に通知する機
能を有する。４０２は、プロセッサ等の処理系装置４０
３の指示によりＣ2を読み取るための読み取り信号を４
０１に送信すると共に、４０１からのＣ2読み取り結果
をプロセッサ等の処理系装置４０３に通知する機能を有
する。また周期（Ｔ）に連動してＣ2を読み取り、読み
取った結果をプロセッサ等の処理系装置４０３に通知す
る機能を有する。プロセッサ等の処理系装置４０３は、
必要に応じて随時Ｃ2を読み取る機能、プログラマブル
にＣ2を読み取る機能、判定機能部４０２経由でＣ2を受
信する機能、Ｃ2を蓄積する機能、及び蓄積したＣ2を基
に伝送品質を算出する機能を有する。プロセッサ等の処
理系装置４０３がプログラマブルにＣ2を読み取り、読
み取り結果を蓄積し、必要に応じて蓄積した期間内に転
送されたセル数で割ることにより、プロセッサ等の処理
系装置４０３は当該期間内の伝送品質を算出する。ま
た、判定機能部４０２がＴ周期で読み取ったＣ2を受信
したプロセッサ等の処理系装置４０３は、Ｃ2を蓄積
し、必要に応じて式（１）を求めることにより、蓄積し
た期間内の伝送品質を算出する。
【数１】 本実施例に示すように、Ｃ2を読み取り、蓄積し、加工
することにより、長期間に及ぶ伝送品質を算出すること
が可能である。
することにより、長期間に及ぶ伝送品質を算出すること
が可能である。
【０００９】（第３の実施例）図５は、図１に示したＨ
ＥＣ同期部に前記規定値（Ｎ1，Ｎ2）を必要に応じて変
更することを可能とするため、判定機能部５０３（図１
の３１１に相当）と連続用比較部５０１（図１の３０４
に相当）、長時間用比較部５０２（図１の３０７に相
当）を接続したＨＥＣ同期部のブロック図である。なお
他部の構成は第１の実施例（あるいは第２の実施例）と
同様である。連続用比較部５０１は、プロセッサ等の処
理系装置５０４（図１の３１２に相当）の指示により判
定機能部５０３経由でＮ1を変更する規定値設定信号を
受信することにより、Ｎ1を変更する機能を有する。長
時間用比較部５０２は、プロセッサ等の処理系装置５０
４の指示により判定機能部５０３経由でＮ2を変更する
規定値設定信号を受信することにより、Ｎ2を変更する
機能を有する。判定機能部５０３は、プロセッサ等の処
理系装置５０４の指示によりＮ1あるいはＮ2を変更する
規定値設定信号を連続用比較部５０１あるいは長時間用
比較部５０２に送出する機能を有する。プロセッサ等の
処理系装置５０４は、必要に応じて、Ｎ1あるいはＮ2を
変更する指示をプロセッサ等の処理系装置５０４に送出
する機能を有する。Ｎ1を変更する場合、プロセッサ等
の処理系装置５０４が新たなＮ1を判定機能部５０３に
通知し、新たなＮ1の通知を受信した判定機能部５０３
は、新たなＮ1を設定するための規定値設定信号を連続
用比較部５０１に送出する。規定値設定信号を受信した
連続用比較部５０１は、当該信号内の新たなＮ1を連続
用比較部５０１内のレジスタ等に設定する。一方、Ｎ2
を変更する場合、プロセッサ等の処理系装置５０４が新
たなＮ2を判定機能部５０３に通知し、新たなＮ2の通知
を受信した判定機能部５０３は、新たなＮ2を設定する
ための規定値設定信号を長時間用比較部５０２に送出す
る。規定値設定信号を受信した長時間用比較部５０２
は、当該信号内の新たなＮ2を長時間用比較部５０２内
のレジスタ等に設定する。本実施例に示すように、ＡＴ
Ｍ処理装置を運用中に、必要に応じて、規定値（Ｎ1，
Ｎ2）を再設定することが可能である。
ＥＣ同期部に前記規定値（Ｎ1，Ｎ2）を必要に応じて変
更することを可能とするため、判定機能部５０３（図１
の３１１に相当）と連続用比較部５０１（図１の３０４
に相当）、長時間用比較部５０２（図１の３０７に相
当）を接続したＨＥＣ同期部のブロック図である。なお
他部の構成は第１の実施例（あるいは第２の実施例）と
同様である。連続用比較部５０１は、プロセッサ等の処
理系装置５０４（図１の３１２に相当）の指示により判
定機能部５０３経由でＮ1を変更する規定値設定信号を
受信することにより、Ｎ1を変更する機能を有する。長
時間用比較部５０２は、プロセッサ等の処理系装置５０
４の指示により判定機能部５０３経由でＮ2を変更する
規定値設定信号を受信することにより、Ｎ2を変更する
機能を有する。判定機能部５０３は、プロセッサ等の処
理系装置５０４の指示によりＮ1あるいはＮ2を変更する
規定値設定信号を連続用比較部５０１あるいは長時間用
比較部５０２に送出する機能を有する。プロセッサ等の
処理系装置５０４は、必要に応じて、Ｎ1あるいはＮ2を
変更する指示をプロセッサ等の処理系装置５０４に送出
する機能を有する。Ｎ1を変更する場合、プロセッサ等
の処理系装置５０４が新たなＮ1を判定機能部５０３に
通知し、新たなＮ1の通知を受信した判定機能部５０３
は、新たなＮ1を設定するための規定値設定信号を連続
用比較部５０１に送出する。規定値設定信号を受信した
連続用比較部５０１は、当該信号内の新たなＮ1を連続
用比較部５０１内のレジスタ等に設定する。一方、Ｎ2
を変更する場合、プロセッサ等の処理系装置５０４が新
たなＮ2を判定機能部５０３に通知し、新たなＮ2の通知
を受信した判定機能部５０３は、新たなＮ2を設定する
ための規定値設定信号を長時間用比較部５０２に送出す
る。規定値設定信号を受信した長時間用比較部５０２
は、当該信号内の新たなＮ2を長時間用比較部５０２内
のレジスタ等に設定する。本実施例に示すように、ＡＴ
Ｍ処理装置を運用中に、必要に応じて、規定値（Ｎ1，
Ｎ2）を再設定することが可能である。
【００１０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
簡単な構成の長時間エラー検出カウンタ部と判定機能部
を新たに設け、連続エラー検出カウンタ部の計測値と長
時間エラー検出カウンタ部の計測値により、セル同期を
判定すると共に、伝送品質劣化、規定外間欠エラー、規
定内間欠エラー、及び正常状態に分類し、伝送品質を常
時検証することが可能である。また、プログラマブルに
長時間用カウンタの計測値を読み取り、蓄積し、加工す
ることにより、長時間に及ぶ伝送品質を算出することが
可能である。更に、ＡＴＭ処理装置を運用中に、規定値
を変更する必要性が生じた場合、規定値をプログラマブ
ルに変更・再設定することが可能である。
簡単な構成の長時間エラー検出カウンタ部と判定機能部
を新たに設け、連続エラー検出カウンタ部の計測値と長
時間エラー検出カウンタ部の計測値により、セル同期を
判定すると共に、伝送品質劣化、規定外間欠エラー、規
定内間欠エラー、及び正常状態に分類し、伝送品質を常
時検証することが可能である。また、プログラマブルに
長時間用カウンタの計測値を読み取り、蓄積し、加工す
ることにより、長時間に及ぶ伝送品質を算出することが
可能である。更に、ＡＴＭ処理装置を運用中に、規定値
を変更する必要性が生じた場合、規定値をプログラマブ
ルに変更・再設定することが可能である。
【図１】本発明の第１の実施例を示すＡＴＭ処理装置の
伝送路インタフェース部内のＨＥＣ同期部のブロック図
である。
伝送路インタフェース部内のＨＥＣ同期部のブロック図
である。
【図２】従来のセル同期状態に関する遷移を表した図で
ある。
ある。
【図３】従来のＭＣを用いた伝送品質測定方法の概念図
である。
である。
【図４】本発明の第２の実施例を示すＡＴＭ処理装置の
伝送路インタフェース部内のＨＥＣ同期部の要部を示す
ブロック図である。
伝送路インタフェース部内のＨＥＣ同期部の要部を示す
ブロック図である。
【図５】本発明の第３の実施例を示すＡＴＭ処理装置の
伝送路インタフェース部内のＨＥＣ同期部の要部を示す
ブロック図である。
伝送路インタフェース部内のＨＥＣ同期部の要部を示す
ブロック図である。
３０１：ＣＲＣチェック部、３０２：ＣＲＣ判定部、３
０３：連続用カウンタ、３０４：連続用比較部、３０
５，３１０：リセット信号送出部、３０６長時間用カウ
ンタ、３０７：長時間用比較部、３０８：起動部、３０
９：周期（Ｔ）監視部、３１１：判定機能部、３１２：
プロセッサ等の処理系装置。
０３：連続用カウンタ、３０４：連続用比較部、３０
５，３１０：リセット信号送出部、３０６長時間用カウ
ンタ、３０７：長時間用比較部、３０８：起動部、３０
９：周期（Ｔ）監視部、３１１：判定機能部、３１２：
プロセッサ等の処理系装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｑ 3/00
Claims (3)
- 【請求項１】 プロセッサを含む処理系装置を備え、セ
ルと呼ばれる固定長のパケット単位にデータを処理する
ＡＴＭ処理装置において、 該ＡＴＭ処理装置の伝送路インタフェース部内のＨＥＣ
同期部には、 伝送路上の連続するビット列からセルとして当該処理装
置に取り込む際にセルの先頭を識別するためのＣＲＣチ
ェックを行い、エラーを検出する手段と、 連続して発生するエラー数を計測する連続用カウンタ、
該連続用カウンタの値と予め定めた第１の規定値とを比
較する連続用比較部、及び該連続用カウンタの値をクリ
アするためのリセット信号送出部を有する連続エラー検
出カウンタ部と、 予め定めた周期内のエラー数を計測する長時間用カウン
タ、該長時間用カウンタの計測周期を監視する周期監視
部、前記予め定めた周期内の長時間用カウンタの値と予
め定めた第２の規定値とを比較する長時間用比較部、及
び長時間用カウンタの値をクリアするためのリセット信
号送出部を有する長時間エラー検出カウンタ部と、 前記連続エラー検出カウンタ部及び長時間エラー検出カ
ウンタ部の検出結果からエラーの内容を判定する判定機
能部と、を備え、 前記ＨＥＣ同期部にて、ＣＲＣチェックを行った結果が
エラーとなった回数に対し、前記連続用カウンタの値が
前記第１の規定値を超過した場合はセル同期外れと判定
し、その後、前記長時間用カウンタの値が前記第２の規
定値を超過した場合には伝送品質劣化と判定し、該長時
間用カウンタの値が該第２の規定値を超過しない場合に
は規定の伝送品質を満足する規定内間欠エラーと判定
し、単に該長時間用カウンタの値が該第２の規定値を超
過する場合には規定の伝送品質を満足しない規定外間欠
エラーと判定し、前記連続用カウンタの値が前記第１の
規定値を超過せず、かつ前記長時間用カウンタの値が前
記第２の規定値を超過しない場合には伝送品質が正常で
あると判定し、前記処理系装置に通知するように構成し
たことを特徴とする伝送品質監視回路。 - 【請求項２】 前記判定機能部と前記長時間用カウンタ
を接続し、 前記処理系装置から該判定機能部を介して該長時間用カ
ウンタの値をプログラマブルに読み取り、読み取った結
果を蓄積、加工し、長期間に及ぶ伝送品質を算出し、検
証するように構成したことを特徴とする請求項１記載の
伝送品質監視回路。 - 【請求項３】 前記判定機能部と前記連続用比較部及び
長時間用比較部とを接続し、 前記ＡＴＭ処理装置の運用中に、前記処理系装置から該
判定機能部を介して前記第１の規定値及び第２の規定値
をプログラマブルに変更・再設定するように構成したこ
とを特徴とする請求項１または２記載の伝送品質監視回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8028873A JPH09224030A (ja) | 1996-02-16 | 1996-02-16 | 伝送品質監視回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8028873A JPH09224030A (ja) | 1996-02-16 | 1996-02-16 | 伝送品質監視回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09224030A true JPH09224030A (ja) | 1997-08-26 |
Family
ID=12260507
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8028873A Pending JPH09224030A (ja) | 1996-02-16 | 1996-02-16 | 伝送品質監視回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09224030A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006311572A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Tektronix Internatl Sales Gmbh | テレコミュニケーション・ネットワークの試験装置及び方法 |
| JP2012204937A (ja) * | 2011-03-24 | 2012-10-22 | Fujitsu Ten Ltd | 通信装置および通信システム |
| US8934351B2 (en) | 2011-03-24 | 2015-01-13 | Fujitsu Ten Limited | Communication apparatus and communication system |
-
1996
- 1996-02-16 JP JP8028873A patent/JPH09224030A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006311572A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Tektronix Internatl Sales Gmbh | テレコミュニケーション・ネットワークの試験装置及び方法 |
| JP2012204937A (ja) * | 2011-03-24 | 2012-10-22 | Fujitsu Ten Ltd | 通信装置および通信システム |
| US8934351B2 (en) | 2011-03-24 | 2015-01-13 | Fujitsu Ten Limited | Communication apparatus and communication system |
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