JPH09204355A - メモリ読出し方法及びメモリ制御装置 - Google Patents

メモリ読出し方法及びメモリ制御装置

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JPH09204355A
JPH09204355A JP3014496A JP3014496A JPH09204355A JP H09204355 A JPH09204355 A JP H09204355A JP 3014496 A JP3014496 A JP 3014496A JP 3014496 A JP3014496 A JP 3014496A JP H09204355 A JPH09204355 A JP H09204355A
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修一 菊地
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誠二 平賀
Tsutomu Sugawara
勉 菅原
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数個の半導体メモリの同一の記憶番地にそ
れぞれ格納されているデータを短い時間で読み出し、メ
モリシステムの性能向上をはかる。 【解決手段】 コントローラ10は、たとえば8ビット
幅の内部バスFD0 〜7と、全フラッシュ・メモリFM0
〜FMn に共通な各1本の制御線すなわちコマンド・
ラッチ・イネーブル制御線FCLE、アドレス・ラッチ
・イネーブル制御線FALE、ライト・プロテクト制御
線XFWP、ライト・イネーブル制御線XFWE- およ
びビジー線XFBSY- と、各々のフラッシュ・メモリ
FM0 〜FMn に個別的に割り当てられた各(n+1)
本の制御線すなわちチップ・イネーブル制御線XFCE
0-〜XFCEn-およびリード(出力)・イネーブル制御
線XFRE0-〜XFREn-とを介して、各フラッシュ・
メモリFM0 〜FMn に接続されている。内部バスFD
0 〜7 は、コントローラ10と各フラッシュ・メモリF
M0 〜FMn 間のコマンド、アドレスおよびデータの伝
送に兼用される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0010】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数個の半導体メ
モリを含むメモリシステムに係り、特にそれら複数個の
半導体メモリの同一の記憶番地にそれぞれ格納されてい
るデータを読み出すための方法および制御装置に関す
る。
【0020】
【従来の技術】近年、ハード・ディスクやフロッピー・
ディスク等の磁気メモリに置き換わる半導体メモリとし
て、フラッシュ・メモリ(フラッシュEEPROM)が
注目されている。フラッシュ・メモリは、不揮発性で消
費電力が少なく電気的に書き換え可能な半導体メモリで
あり、軽量小型で耐震性が良いため、携帯機器等への用
途が拡大している。
【0030】一般に、フラッシュ・メモリを外部記憶装
置に用いるコンピュータ・システムでは、フラッシュ・
メモリ専用のコントローラがあてがわれる。ホストコン
ピュータ(たとえばパソコン)はこのコントローラに対
してデータの書込みや読出しを指示すればよい。コント
ローラは、ホストからの指示(コマンド)を受けてフラ
ッシュ・メモリに対してデータの書込みや読出しを直接
制御し、さらにはフラッシュ・メモリに特有の一括消去
等のメモリ管理を行う。
【0040】図7に、従来のこの種コンピュータ・シス
テムの一例を示す。このシステムにおいて、1つのコン
トローラ100および複数個のNAND型フラッシュ・
メモリFM0 〜FMn の各チップは一枚のカード102
上に搭載されている。カード102がホストコンピュー
タ104のカード・スロットに装着され、コントローラ
100はホストコンピュータ104に所定規格のインタ
フェースたとえばPCMCIA−ATAまたはIDEイ
ンタフェース106で接続される。
【0050】カード102上で、コントローラ100
は、たとえば8ビット幅の内部バスFD0 〜7 と、全フ
ラッシュ・メモリFM0 〜FMn に共通な各1本の制御
線FCLE、FALE、XFWP、XFWE- 、XFR
- およびXFBSY- と、各々のフラッシュ・メモリ
FM0 〜FMn に個別的に割り当てられた(n+1)本
の制御線XFCE0-〜XFCEn-とを介して、各フラッ
シュ・メモリFM0 〜FMn に接続されている。
【0060】ここで、上記の共通制御線のうち、FCL
Eはコマンド・ラッチ・イネーブル制御線、FALEは
アドレス・ラッチ・イネーブル制御線、XFWPはライ
ト・プロテクト制御線、XFWE- はライト・イネーブ
ル制御線、XFRE- はリード・イネーブル制御線、X
FBSY- はビジー線である。また、個別的制御線XF
CE0-〜XFCEn-はチップ・イネーブル制御線であ
る。
【0070】次に、図8のタイミングチャートを参照し
て、このフラッシュ・ディスク・システムにおいてコン
トローラ100が個々のフラッシュ・メモリFMi (i
=0〜n)からデータを読み出すときの動作を説明す
る。
【0080】読出し動作の全時間TR を通じて、コント
ローラ100はチップ・イネーブル制御信号XFCEi-
をアクティブ(Lレベル)に保持し、当該フラッシュ・
メモリFMi をチップ・イネーブル(動作可能)状態に
保つ。
【0090】先ず、コントローラ100は、コマンド・
ラッチ・イネーブル制御信号FCLEをアクティブ(H
レベル)にして、バスFD0 〜7 上に所定コードの読出
しコマンドCMR を送出すると同時に、ライト・イネー
ブル制御信号XFWE- をアクティブ(Lレベル)とす
る。このコントローラ100側からのコマンド書込み操
作に応動して、当該フラッシュ・メモリFMi は、該読
出しコマンドCMR を取り込む。
【0100】次に、コントローラ100は、アドレス・
ラッチ・イネーブル制御信号FALEをアクティブ(H
レベル)にして、バスFD0 〜7 上に所定ビット数の読
出しアドレスADR を3回に分割して送出し、その都度
ライト・イネーブル制御信号XFWE- をアクティブ状
態(Lレベル)とする。このコントローラ100からの
アドレス書込み操作に応動して、当該フラッシュ・メモ
リFMi は、該アドレスADR を取り込んで、メモリ内
の読出し動作を開始する。
【0110】すなわち、フラッシュ・メモリFMi は、
入力した該読出しコマンドCMR および読出しアドレス
ADR をデコードし、該読出しアドレスADR で指定さ
れる記憶番地または領域よりデータを読み出し、読み出
したデータを所定の出力ポートまたはバッファにセット
する。このメモリ内の読出し動作には一定の時間tRBを
要するため、フラッシュ・メモリFMi はこの処理時間
tRBの間ビジー信号XFBSY- をアクティブ(Lレベ
ル)に保持して、コントローラ100に待機させる。
【0120】そして、フラッシュ・メモリFMi 内の読
出し動作が終了してビジー状態が解除されると(XFB
SY- がHレベルに戻ると)、コントローラ100はフ
ラッシュ・メモリFMi の出力ポートから読出しデータ
を取り込む動作を開始する。
【0130】一般にフラッシュ・メモリにおいてデータ
はあるかたまりで書込み/読出しされる。データの読出
しのためにコントローラ100より当該フラッシュ・メ
モリFMi に与えられる読出しアドレスADR は、読出
し元となる記憶番地または領域の読出し開始位置を指定
するアドレス(先頭アドレス)である。しかして、コン
トローラ100は、リード・イネーブル制御信号XFR
- を繰り返しアクティブ(Lレベル)にして、フラッ
シュ・メモリFMi の出力ポートから1バイトずつデー
タをバスFD0 〜7 を介して取り込むことで、読出しア
ドレスADR で指定したフラッシュ・メモリFMi 内の
所望の記憶領域からひとかたまりのデータDATAR を
読み出す。
【0140】
【発明が解決しようとする課題】図9に示すように、こ
の種フラッシュ・メモリは、チップ内のメモリアレイが
複数個たとえば512個のブロックBL0 〜BL511 に
分割され、各ブロックBLj (j=0〜511)は複数
個たとえば16個のページまたはセクタPG0 〜PG15
に分割されている。通常、プログラミング(書込み)や
読出しはページ単位で行われ、消去はブロック単位で行
われる。
【0150】各ページPGk (k=0〜15)は、所定
容量たとえば512パイトのデータ領域と、所定容量た
とえば16バイトの冗長部とからなる。データ領域が本
来のデータ格納領域である。冗長部は幾つかのフィール
ドに区切られ、その中に「変換テーブルアドレス」領域
が設けられている。この「変換テーブルアドレス」領域
には、ホストコンピュータ104からのデータが当該セ
クタに書き込まれる度毎にその書込みに用いられた論理
アドレスが格納される。
【0160】ホストコンピュータ104側からすればフ
ラッシュ・ディスクの記憶領域を一定のメモリ空間また
はI/O空間と見立てて、論理アドレスでメモリアクセ
スを行うものの、カード102内ではコントローラ10
0がブロック単位で分散的に記憶領域を管理し、物理ア
ドレスでメモリアクセスを行うようにしている。このた
め、論理アドレスと物理アドレスとを対応づけるアドレ
ス変換テーブルがコントローラ100内蔵のテーブルメ
モリ(SRAM)に形成される。また、現在データが入
っていない空き状態のブロックを登録しておくための空
きブロック・テーブルも同テーブルメモリに形成され
る。
【0170】電源投入直後またはリセット解除直後に、
コントローラ100はアドレス変換テーブルおよび空き
ブロック・テーブルの初期化を行う。こののテーブル初
期化のために、コントローラ100は、カード102内
の全ページにそれぞれ現在割り付けられている論理アド
レスを収集する処理を行う。上記のように、各ページP
Gk の冗長部には前回の書込みに用いられた論理アドレ
ス(変換テーブルアドレス)が格納(保存)されてい
る。この論理アドレスの上位アドレス部つまり論理ブロ
ックアドレスは、1ブロックBLj 内の全てのページP
G0 〜PG15に共通している。したがって、各ブロック
BLj の代表ページ(普通は先頭ページPG0 )の冗長
部に蓄積されているデータを読み出せばよく、その中の
論理ブロックアドレスを抽出することで、当該ブロック
BLj 内の全ページPG0 〜PG15のそれぞれの論理ア
ドレスを割り出すことができる。
【0180】通常は、最初に全フラッシュ・メモリFM
0 〜FMn のそれぞれの第1ブロックBL0 の先頭ペー
ジPG0 の冗長部のデータを順次読み出し、次に全フラ
ッシュ・メモリFM0 〜FMn のそれぞれの第2ブロッ
クBL1 の先頭ページPG0の冗長部のデータを順次読
み出し、次に全フラッシュ・メモリFM0 〜FMn のそ
れぞれの第3ブロックBL2 の先頭ページPG0 の冗長
部のデータを順次読み出す。以下、後続のブロックBL
3 ,BL4 ,…についても同様の読出し動作を繰り返
す。
【0190】従来のこの種フラッシュ・ディスク・シス
テムでは、1つのフラッシュ・メモリFMi の第Nブロ
ックBLN の先頭ページPG0 の冗長部よりデータを読
み出す動作を、上記した図8のタイミングで行う。その
場合、第4フェーズでコントローラ100は、16サ
イクルを費やしてフラッシュ・メモリFMi の出力ポー
トから16バイトのデータDATAR を取り込むことに
なる。そして、全フラッシュ・メモリFM0 〜FMn の
それぞれの第NブロックBLN-1 の先頭ページPG0 の
冗長部からデータを順次読み出すために、図8の読出し
サイクルTR をフラッシュ・メモリの総数に等しい回数
つまり(n+1)回繰り返していた。
【0200】上記のように、この種フラッシュ・メモリ
においては、1回の読出し動作が1つのメモリFMi
に対する読出しコマンドの書込み(供給)、1つのメ
モリFMi に対する読出しアドレスの書込み(供給)、
メモリFMi 内のデータ読出しおよびメモリFMi
からコントローラ100へのデータの転送(取込み)の
4つのフェーズからなり、この中でも第3のフェーズ
の所要時間が長く、1回の読出しサイクルTR の大部分
を占めている。
【0210】従来のフラッシュ・ディスク・システムで
は、コントローラ100がカード102内の全フラッシ
ュ・メモリFM0 〜FMn の同一の記憶番地をアクセス
するに際して、メモリチップの総数に等しい回数だけ読
出しサイクルTR を繰り返す結果、全読出し時間は相当
に長びき、ひいては初期化の所要時間が長くなり、メモ
リシステムの性能を低下させる一因となっていた。
【0220】本発明は、かかる従来技術の問題点を解決
するものであり、複数個の半導体メモリの同一の記憶番
地にそれぞれ格納されているデータを短い時間で読み出
し、メモリシステムの性能向上をはかるメモリ読出し方
法およびメモリ制御装置を提供することを目的とする。
【0230】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のうち請求項1記載の発明は、複数個の半
導体メモリの同一の記憶番地にそれぞれ格納されている
データをメモリ制御手段が共通のバスを介して読み出す
ためのメモリ読出し方法において、前記メモリ制御手段
が前記バスを介して前記複数個の半導体メモリに同一の
読出し用コマンドを同時に与える第1のステップと、前
記第1のステップに続けて前記メモリ制御手段が前記バ
スを介して前記複数個の半導体メモリに前記記憶番地を
指定する同一のアドレスを同時に与える第2のステップ
と、前記第1および第2のステップでそれぞれ与えられ
た前記コマンドおよび前記アドレスに応答して前記複数
個の半導体メモリが所定時間内に前記アドレスで指定さ
れた前記記憶番地よりデータを読み出してそれぞれの出
力ポートにセットする第3のステップと、前記所定時間
の経過後に前記メモリ制御手段が前記複数個の半導体メ
モリのそれぞれの出力ポートにセットされている前記読
出しデータを前記バスを介して順次個別的に取り込む第
4のステップとを有することを特徴とする。
【0240】また、請求項2記載の発明は、請求項1記
載の方法において、前記第3のステップの間、前記複数
個の半導体メモリがそれぞれのビジー状態を知らせる所
定の信号を前記メモリ制御手段に与えることを特徴とす
る。
【0250】また、請求項3記載の発明は、所定のタイ
ミングで与えられた読出し用コマンドおよびアドレスに
応答して所定時間内に前記アドレスで指定された記憶番
地よりデータを読み出して出力ポートにセットするよう
に構成された複数個の半導体メモリに共通のバスを介し
て接続されたメモリ制御装置において、前記複数個の半
導体メモリに前記バスを介して前記読出し用コマンドを
同時に与えるためのコマンド供給手段と、前記複数個の
半導体メモリに前記バスを介して所望のアドレスを同時
に与えるためのアドレス供給手段と、前記所定時間の経
過後に前記複数個の半導体メモリのそれぞれの出力ポー
トにセットされている前記読出しデータを前記バスを介
して順次個別的に取り込むデータ取込み手段と、前記コ
マンドの供給開始から前記読出しデータの取込み完了ま
での全読出し動作時間を通じて前記複数個の半導体メモ
リの各々をチップ・イネーブル状態に保持するチップ・
イネーブル制御手段とを具備することを特徴とする。
【0260】また、請求項4記載の発明は、請求項3記
載の発明の構成のうち、前記コマンド供給手段は、前記
バス上に送出した前記読出し用コマンドを前記複数個の
半導体メモリにコマンドとして識別させるための共通の
コマンド・ラッチ・イネーブル制御線と、前記バス上の
前記読出し用コマンドを前記複数個の半導体メモリに同
時に取り込ませるための共通のライト・イネーブル制御
線とを含むことを特徴とする。
【0270】また、請求項5記載の発明は、請求項3記
載の発明の構成のうち、前記アドレス供給手段は、前記
バス上に送出した前記アドレスを前記複数個の半導体メ
モリにアドレスとして識別させるための共通のアドレス
・ラッチ・イネーブル制御線と、前記バス上の前記アド
レスを前記複数個の半導体メモリに同時に取り込ませる
ための共通のライト・イネーブル制御線とを含むことを
特徴とする。
【0280】また、請求項6記載の発明は、請求項3記
載の発明の構成のうち、前記データ取込み手段は、前記
複数個の半導体メモリの各々を個別的に出力イネーブル
状態にするための複数の個別的な出力イネーブル制御線
を含むことを特徴とする。
【0290】
【発明の実施の形態】以下、図1〜図6を参照して本発
明の実施例を説明する。
【0300】図1は、本発明の一実施例によるフラッシ
ュ・ディスク・システムの構成を示す。このシステムに
おいて、1つのコントローラ10および複数個(n+1
個)のNAND型フラッシュ・メモリFM0 〜FMn の
各チップは一枚のカード(フラッシュ・ディスク・カー
ド)12上に搭載されている。カード12がホストコン
ピュータ14のカード・スロットに装着され、コントロ
ーラ10はホストコンピュータ14に所定規格のインタ
フェースたとえばPCMCIA−ATAまたはIDEイ
ンタフェース16で接続される。
【0310】カード12上で、コントローラ10は、た
とえば8ビット幅の内部バスFD0〜7 と、全てのフラ
ッシュ・メモリFM0 〜FMn に共通な各1本の制御線
FCLE、FALE、XFWP、XFWE- およびXF
BSY- と、各々のフラッシュ・メモリFM0 〜FMn
に個別的に割り当てられた各(n+1)本の制御線XF
CE0-〜XFCEn-、XFRE0-〜XFREn-とを介し
て、各フラッシュ・メモリFM0 〜FMn に接続されて
いる。
【0320】内部バスFD0 〜7 は、コントローラ10
と各フラッシュ・メモリFM0 〜FMn 間のコマンド、
アドレスおよびデータの伝送に兼用される。上記共通制
御線のうち、FCLEは、バスFD0 〜7 上のコマンド
コードをフラッシュ・メモリFM0 〜FMn にコマンド
として識別させるためのコマンド・ラッチ・イネーブル
制御線である。FALEは、バスFD0 〜7 上のアドレ
スコードをフラッシュ・メモリFM0 〜FMn にアドレ
スとして識別させるためのアドレス・ラッチ・イネーブ
ル制御線である。XFWPは、フラッシュ・メモリFM
0 〜FMn に書込みを強制的に禁止させるライト・プロ
テクト制御線である。XFWE- は、バスFD0 〜7 上
のコードまたはデータを各フラッシュ・メモリFM0 〜
FMn に取り込ませるためのライト・イネーブル制御線
である。XFBSY- は、フラッシュ・メモリFM0 〜
FMn が各々のビジー状態をコントローラ10に知らせ
るためのビジー線である。
【0330】また、上記個別的制御線のうち、XFCE
0-〜XFCEn-は、各フラッシュ・メモリFM0 〜FM
n を個別的または独立的にチップ・イネーブル状態(動
作可能状態)にするためのチップ・イネーブル制御線で
ある。また、XFRE0-〜XFREn-は、各フラッシュ
・メモリFM0 〜FMn の出力ポートからバスFD0〜7
上に個別的または独立的に読出しデータを出力させる
ためのリード(出力)・イネーブル制御線である。
【0340】図2に、コントローラ10の内部の機能的
構成をブロック図で示す。コントローラ10は、本体イ
ンタフェース部20、リセット処理部22、アドレス変
換部24、コマンド処理部26、フラッシュ・テーブル
制御部28、フラッシュ・コマンド発生部30、エラー
制御部32およびフラッシュ・インタフェース部34を
有している。
【0350】本体インタフェース部20は、ホストコン
ピュータ14から直接書込み/読出し可能な種々のレジ
スタを内蔵しており、ホスト14のバスに所定規格のイ
ンタフェースたとえばPCMCIA−ATAまたはID
Eインタフェースで接続される。
【0360】このホストインタフェースにおいて、ホス
ト14から本体インタフェース部20内の各レジスタを
選択するために、アドレス信号A0 〜10と制御信号XC
E1〜2 が用いられる。アドレスマップのメモリ空間と
I/O空間の選択に、XREGが用いられる。メモリ空
間の書込み/読出しには制御信号XWE- /XOE-
用いられ、I/O空間の書込み/読出しには制御信号X
IOWR- /XIORD- が用いられる。本体インタフ
ェース部20からホスト14に対しては、割込み要求信
号XIREQ- 、入力アクノリッジ信号XINPACK
- 等が発せられる。本体インタフェース部20には、ホ
スト14からのコマンドをデコードする回路も含まれて
いる。
【0370】リセット処理部22は、外部からのリセッ
ト信号たとえばXPONRSTに応動してコントローラ
10内の各部をリセット状態にする処理のほか、リセッ
ト解除後の初期化の処理を制御する。
【0380】アドレス変換部24は、ホスト14側が指
定してくるCHS(シリンダ・ヘッド・セクタ)モード
の論理アドレスをフラッシュ・ディスク内のLBA(論
理ブロック・アドレス)モードの論理アドレスに変換す
る。
【0390】コマンド処理部26は、本体インタフェー
ス部20でデコードされたホスト14からのコマンドを
実行するため、コントローラ10内の各部を制御する。
【0400】フラッシュ・テーブル制御部28は、リセ
ット処理部22やコマンド処理部26等からの要求によ
り、アドレス変換テーブルおよび空きブロック・テーブ
ルの初期化ないし作成を行うとともに、ホスト14から
のコマンドに応動してテーブルの検索ないし更新を行
う。フラッシュ・テーブル制御部28には、たとえばS
RAMからなる揮発性のテーブル・メモリが設けられ、
このメモリ上にアドレス変換テーブルおよび空きブロッ
ク・テーブルが構築される。
【0410】フラッシュ・コマンド発生部30は、フラ
ッシュ・テーブル制御部28やコマンド処理部26等か
らの要求により、フラッシュ・メモリFM0 〜FMn に
対するコマンドコードおよびアドレス信号を発生する。
【0420】エラー制御部32は、書込み/読出し時の
ECC(Error Checking and Correction )処理を実行
する。
【0430】フラッシュ・インタフェース部34は、上
記の共通バスFD0 〜7 および各種制御線(FCLE、
FALE等)を介してフラッシュ・メモリFM0 〜FM
n とデータおよび信号をやりとりする入出力ポートであ
り、共通バスFD0 〜7 上でコマンド、アドレスおよび
データを異なるタイミングで多重化するタイミング制御
機能を有している。
【0440】図3に、各フラッシュ・メモリFMi (i
=0〜n)の内部の構成例を示す。
【0450】図3において、フラッシュ・メモリ・アレ
イ40は、マトリクス状に配置された多数のメモリ・セ
ルから構成されている。たとえば、図9のように1チッ
プのフラッシュ・メモリFMi が512個のブロックB
L0 〜BL511 を有し、各ブロックBLj (j=0〜5
11)は16個のページまたはページPG0 〜PG15か
らなり、各ページPGk (k=0〜15)が512バイ
トのデータ領域と16バイトの冗長部とからなる場合、
メモリ・アレイ40は8192(16×512)行×5
28(512+16)列のメモリ・セルから構成され、
32メガバイトの記憶容量を有する。
【0460】フラッシュ・メモリ・アレイ40は、ペー
ジレジスタ42およびゲート回路44を介して1ページ
(528バイト)容量のI/Oバッファ46に電気的に
接続されており、メモリ・アレイ40とI/Oバッファ
46との間でページ単位の並列的なデータ転送が行われ
るようになっている。このフラッシュ・メモリFMiで
は、I/Oバッファ42が実質上の出力ポートを構成す
る。
【0470】バスFD0 〜7 上のコマンド、アドレスま
たはデータは、クローバル・バッファ48を介してそれ
ぞれコマンド・レジスタ50、X,Yアドレス・バッフ
ァ52,54およびI/Oバッファ46にラッチされ
る。
【0480】コマンド・レジスタ50は、入力したコマ
ンドをデコードした上でアドレス・バッファ52,54
ないしアドレス・デコーダ56,58およびI/Oバッ
ファ46を制御する。
【0490】Xアドレス・バッファ52は行アドレスA
DX を取り込み、Xアドレス・デコーダ56はこの行ア
ドレスADX をデコードしてアレイ40内の指定(選
択)された行(ページ)をアクティブにする。Yアドレ
ス・バッファ54は、列アドレスADY を取り込み、Y
アドレス・デコーダ58はこの列アドレスADY をデコ
ードしてアレイ40内の指定(選択)された列のデータ
を転送するようゲート回路44を制御する。
【0500】制御回路60は、コントローラ10からの
制御信号FCLE、FALE、FWP、XFCEi-、X
FWE- 、XFREi-を入力し、各制御信号に応動して
各部を制御する。出力ドライバ62は、I/Oバッファ
46にセットされている読出しデータをバスFD0 〜7
上に送出する際にバスラインを駆動する。
【0510】次に、図4のタイミングチャートにつき、
本実施例においてコントローラ10が個々のフラッシュ
・メモリFMi にデータを書き込むときの動作を説明す
る。一般に、フラッシュ・メモリFMi に対するデータ
の書込みはページ単位で行われる。
【0520】書込みサイクルTW の全期間を通じて、コ
ントローラ10はチップ・イネーブル制御信号XFCE
i-をアクティブ(Lレベル)に保持し、当該フラッシュ
・メモリFMi をチップ・イネーブル(動作可能)状態
に保つ。
【0530】先ず、コントローラ10は、コマンド・ラ
ッチ・イネーブル制御信号FCLEをアクティブ(Hレ
ベル)にして、バスFD0 〜7 上に所定コードのデータ
入力コマンドCMS を送出すると同時に、ライト・イネ
ーブル制御信号XFWE- をアクティブ(Lレベル)と
する。このコントローラ10側からのコマンド書込み操
作に応動して、当該フラッシュ・メモリFMi はバスF
D0 〜7 上の該データ入力コマンドCMS を取り込んで
コマンド・レジスタ50にラッチする。
【0540】次に、コントローラ10は、アドレス・ラ
ッチ・イネーブル制御信号FALEをアクティブ(Hレ
ベル)にして、バスFD0 〜7 上に所定ビット数の書込
みアドレスADW を3回に分割して送出し、その都度ラ
イト・イネーブル制御信号XFWE- をアクティブ状態
(Lレベル)とする。
【0550】このコントローラ10からのアドレス書込
み操作に応動して、当該フラッシュ・メモリFMi はバ
スFD0 〜7 上の該書込みアドレスADW を取り込んで
アドレス・バッファ52,54にラッチする。この書込
みアドレスADW は、当該フラッシュ・メモリFMi 内
で書込み先となる記憶番地または領域の書込み開始位置
を指定するアドレス(先頭アドレス)である。
【0560】次に、コントローラ10は、コマンド・ラ
ッチ・イネーブル制御信号FCLEおよびアドレス・ラ
ッチ・イネーブル制御信号FALEをそれぞれ非アクテ
ィブ(Lレベル)にした状態で、バスFD0 〜7 上に1
バイトずつ書込みデータDATAW を送出し、その都度
ライト・イネーブル制御信号XFWE- をアクティブ状
態(Lレベル)とする。フラッシュ・メモリFMi は、
ライト・イネーブル制御信号XFWE- に応動してバス
FD0 〜7 上のデータDATAW を1バイトずつ取り込
んでI/Oバッファ46に格納する。
【0570】次に、コントローラ10は、再びコマンド
・ラッチ・イネーブル制御信号FCLEをアクティブ
(Hレベル)にして、バスFD0 〜7 上に所定コードの
プログラム・コマンドCMP を送出すると同時に、ライ
ト・イネーブル制御信号XFWE- をアクティブ(Lレ
ベル)とする。このコントローラ10からのコマンド書
込み操作に応動して、フラッシュ・メモリFMi はバス
FD0 〜7 上の該プログラム・コマンドCMP を取り込
んでコマンド・レジスタ50にラッチし、プログラミン
グ動作を開始する。
【0580】すなわち、フラッシュ・メモリFMi は、
該プログラム・コマンドCMP をデコードし、該書込み
アドレスADW で指定されるフラッシュ・メモリ・アレ
イ40内の記憶番地または領域に、I/Oバッファ46
に取り込まれているデータDATAW を書き込む。この
メモリ内のデータ書込み動作には一定の時間tWBを要
し、フラッシュ・メモリFMi はこの処理時間tWBの間
ビジー信号XFBSY-をアクティブ(Lレベル)に保
持する。そして、メモリ内の書込み動作が終了した時
に、ビジー信号XFBSY- を非アクティブ(Hレベ
ル)に戻す。これで、フラッシュ・メモリFMi に対す
る1回のデータ書込みが完了する。
【0590】次に、図5のタイミングチャートにつき、
本実施例においてコントローラ10が各フラッシュ・メ
モリFMi の任意の記憶番地からデータを読み出すとき
の通常の動作を説明する。
【0600】この通常の読出し動作は、従来のフラッシ
ュ・ディスク・システム(図7)における読出しの動作
(図8)とほとんど同じである。ただし、従来のシステ
ムでは、全てのフラッシュ・メモリFM0 〜FMn に対
して共通の1本のリード(出力)・イネーブル制御信号
(制御線)XFRE- が用いられるのに対して、本実施
例のシステムでは、個々のフラッシュ・メモリFMi に
対して個別的に割り当てられた複数本のリード(出力)
・イネーブル制御信号(制御線)XFRE0-〜XFRE
n-が用いられる点に、違いがある。
【0610】次に、本実施例のフラッシュ・ディスク・
システムにおいて、コントローラ10がアドレス変換テ
ーブルおよび空きブロック・テーブルの初期化のために
全てのフラッシュ・メモリFM0 〜FMn の同一の記憶
番地(冗長部)からデータを一斉に読み出すときの動作
を説明する。
【0620】本実施例のフラッシュ・ディスク・システ
ムでは、電源投入直後またはリセット解除直後に、コン
トローラ10内でアドレス変換テーブルおよび空きブロ
ック・テーブルが初期化される。これらのテーブルの初
期化のために、コントローラ10は、全てのフラッシュ
・メモリFM0 〜FMn 内の各ブロックBL0 〜BL51
1 の先頭ページPG0 の冗長部に蓄積または保存されて
いるデータ(その中に「変換テーブルアドレス」のフィ
ールドがある)を読み出す。
【0630】このために、最初に全フラッシュ・メモリ
FM0 〜FMn のそれぞれの第1ブロックBL0 の先頭
ページPG0 の冗長部のデータを順次読み出し、次いで
全フラッシュ・メモリFM0 〜FMn のそれぞれの第2
ブロックBL1 の先頭ページPG0 の冗長部のデータを
順次読み出し、次いで全フラッシュ・メモリFM0 〜F
Mn のそれぞれの第3ブロックBL2 の先頭ページPG
0 の冗長部のデータを順次読み出す。以下、後続のブロ
ックBL3 ,BL4 ,…についても同様の読出し動作を
繰り返す。
【0640】ここで、図6のタイミングチャートにつ
き、本システムでコントローラ10がフラッシュ・メモ
リFM0 〜FMn 内の任意の第(j+1)ブロックBL
j の先頭ページPG0 の冗長部から一斉にデータを読み
出すときの動作を説明する。
【0650】この一斉読出しサイクルTSRの全期間R を
通じて、コントローラ10は、全てのチップ・イネーブ
ル制御信号XFCE0-〜XFCEn-をアクティブ(Lレ
ベル)に保持し、全てのフラッシュ・メモリFM0 〜F
Mn をチップ・イネーブル状態に保つ。
【0660】先ず、コントローラ10は、コマンド・ラ
ッチ・イネーブル制御信号FCLEをアクティブ(Hレ
ベル)にして、バスFD0 〜7 上に所定コードの読出し
コマンドCMR を送出すると同時に、ライト・イネーブ
ル制御信号XFWE- をアクティブ(Lレベル)とす
る。このコントローラ10からのコマンド書込み操作に
応動して、全てのフラッシュ・メモリFM0 〜FMn が
バスFD0 〜7 上から該読出しコマンドCMR を同時に
取り込んで、各々のコマンド・レジスタ50にラッチす
る。
【0670】次に、コントローラ10は、アドレス・ラ
ッチ・イネーブル制御信号FALEをアクティブ(Hレ
ベル)にして、バスFD0 〜7 上に所定ビット数の読出
しアドレスADR を3回に分割して送出し、その都度ラ
イト・イネーブル制御信号XFWE- をアクティブ状態
(Lレベル)とする。この読出しアドレスADR は、読
出し元となる記憶番地または領域の読出し開始位置を指
定するアドレス(先頭アドレス)、つまり各フラッシュ
・メモリFM0 〜FMn 内の第(j+1)ブロックBL
j の先頭ページPG0 の冗長部の先頭位置を指定するア
ドレスである。
【0680】このコントローラ10からのアドレス書込
み操作に応動して、全てのフラッシュ・メモリFM0 〜
FMn がバスFD0 〜7 上から該読出しアドレスADR
を同時に取り込んで、一斉にメモリ内の読出し動作を開
始する。
【0690】すなわち、全てのフラッシュ・メモリFM
0 〜FMn が、入力した該読出しコマンドCMR および
読出しアドレスADR をデコードし、読出しアドレスA
DRで指定されるフラッシュ・メモリ・アレイ40内の
記憶領域(ページ冗長部)より16バイト分のデータD
ATA0R〜DATAnRを読み出し、読み出したデータD
ATA0R〜DATAnRをI/Oバッファ46に転送(セ
ット)する。このメモリ内の読出し動作には一定の時間
tRBを要するため、各々のフラッシュ・メモリFM0 〜
FMn はこの処理時間tRBの間ビジー信号XFBSY-
をアクティブ(Lレベル)に保持する。
【0700】そして、全フラッシュ・メモリFM0 〜F
Mn 内の読出し動作がほぼ同時に終了してビジー状態が
一斉に解除されると(XFBSY- がHレベルに戻る
と)、コントローラ10は各々のフラッシュ・メモリF
M0 〜FMn のI/Oバッファ46にセットされている
読出しデータDATA0R〜DATAnRの取込みまたは回
収に取り掛かる。
【0710】この読出しデータの回収はたとえば次のよ
うにして行う。先ず、第1のフラッシュ・メモリFM0
に割り当てられているリード(出力)・イネーブル制御
信号XFRE0-のみを一定周期で繰り返し(16回)ア
クティブ(Lレベル)にすることにより、第1のフラッ
シュ・メモリFM0 のI/Oバッファ46より1バイト
ずつ(合計で16バイトの)読出しデータDATA0Rを
バスFD0 〜7 を介して取り込む。
【0720】次に、第2のフラッシュ・メモリFM1 に
対するリード(出力)・イネーブル制御信号XFRE1-
のみを一定周期で繰り返し(16回)アクティブ(Lレ
ベル)にすることにより、第2のフラッシュ・メモリF
M1 のI/Oバッファ46より1バイトずつ(合計で1
6バイトの)読出しデータDATA1RをバスFD0 〜7
を介して取り込む。
【0730】後続のフラッシュ・メモリFM2 ,FM3
,…についても上記と同様な操作を繰り返し、最後に
第(n+1)のフラッシュ・メモリFMn に対するリー
ド(出力)・イネーブル制御信号XFREn-のみを一定
周期で繰り返し(16回)アクティブ(Lレベル)にす
ることにより、このフラッシュ・メモリFMn のI/O
バッファ46より1バイトずつ(合計で16バイトの)
読出しデータDATAnRをバスFD0 〜7 を介して取り
込む。なお、コントローラ10にフラッシュ・メモリF
M0 〜FMn の読出しデータDATA0R〜DATAnRが
取り込まれる順序は、任意に設定することができる。
【0740】上記のようにして、1回の読出しサイクル
TSRで、全てのフラッシュ・メモリFM0 〜FMn 内の
任意の第(j+1)ブロックBLj の先頭ページPG0
の冗長部から一斉にデータを読み出すことができる。
【0750】アドレス変換テーブルおよび空きブロック
・テーブルの初期化においては、読出しアドレスADW
を逐次更新して上記のような読出しサイクルTSRを所定
回数(1メモリ内のブロックの総数に等しい回数:この
例では512回)繰り返すことになる。実際には、ブロ
ック内の確認検査のため、各ブロックBLj の先頭ペー
ジPG0 だけでなく、末尾ページPG15の冗長部のデー
タをも読み出すことがある。したがって、その場合は、
上記の読出しサイクルTSRを2倍(1024回)繰り返
すことになる。
【0760】本実施例のフラッシュ・ディスク・システ
ムにおいて全てのフラッシュ・メモリFM0 〜FMn の
同一の記憶番地または領域からデータを一斉に読み出す
ための読出しサイクルTSRは、全てのメモリFM0 〜
FMn に対する読出しコマンドの書込み(供給)、全
てのメモリFM0 〜FMn に対する読出しアドレスの書
込み(供給)、全てのメモリFM0 〜FMn における
データの読出し、および-0〜-n各々のメモリFM0
〜FMn からコントローラ10への順次個別的(択一
的)な読出しデータの転送(取込み)の4つのフェーズ
からなり、これらのフェーズのうち第1、第2および第
3のフェーズ,,は全てのメモリFM0 〜FMn
について共通(同時)に行われる。
【0770】したがって、これら共通(同時)フェーズ
,,の所要時間をTF とすると、従来のシステム
(図7)と比較して、ほぼTF ×nの時間が短縮(節
減)されることになる。ここで、nはメモリFM0 〜F
Mn の総数(n+1)から1を減じた数である。これら
共通フェーズの所要時間TF (特にフェーズの所要時
間)は比較的長いうえ、一般のフラッシュ・ディスク・
システムでは1つのコントローラに10個(チップ)程
度のフラッシュ・メモリが接続されるため、本実施例に
おける時間短縮効果は極めて大きい。しかも、アドレス
変換テーブルおよび空きブロック・テーブルの初期化で
は、上記のように読出しサイクルTSRが多数回(512
回あるいは1024回)繰り返される。したがって、初
期化の所要時間が大幅に短縮され、システム性能が著し
く向上する。
【0780】上記実施例におけるフラッシュ・ディスク
・システムの構成、特にフラッシュ・メモリFMi 内部
の構成やコントローラ10内部の構成は一例であり、本
発明は1つのコントローラまたはCPUに共通のバスを
介して複数個のフラッシュ・メモリを接続する任意のメ
モリシステムに適用可能である。また、フラッシュ・メ
モリと同等の読出し動作を行う他の半導体メモリであっ
ても可能である。
【0790】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のメモリ読
出し方法またはメモリ制御装置によれば、コントローラ
が複数個の半導体メモリの同一の記憶番地または領域に
それぞれ蓄積されているデータを共通のバスを介して読
み出すに際して、読出し用コマンドおよび読出しアドレ
スの供給ないしメモリ内のデータ読出しの動作を全ての
メモリについて共通(同時)に行い、読出しデータの取
込みだけを各メモリについて順次個別的に行うようにし
たので、全読出し時間を大幅に短縮し、メモリシステム
の性能を大きく向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例によるフラッシュ・ディスク
・システムの構成を示すブロック図である。
【図2】実施例におけるコントローラの内部の機能的構
成を示すブロック図である。
【図3】実施例におけるフラッシュ・メモリの内部の構
成例を示す。
【図4】実施例においてコントローラが個々のフラッシ
ュ・メモリにデータを書き込むときの動作を示すタイミ
ング図である。
【図5】実施例においてコントローラが個々のフラッシ
ュ・メモリからデータを読み出すときの動作を示すタイ
ミング図である。
【図6】実施例においてコントローラが全てのフラッシ
ュ・メモリの同一の記憶領域からデータを一斉に読み出
すときの動作を示すタイミング図である。
【図7】従来のフラッシュ・ディスク・システムの構成
を示すブロック図である。
【図8】従来のシステムにおいてコントローラが個々の
フラッシュ・メモリからデータを読み出すときの動作を
示すタイミング図である。
【図9】一般的なフラッシュ・メモリ内の記憶領域のフ
ォーマットを示す図である。
【符号の説明】
10 コントローラ 12 フラッシュ・ディスク・カード 14 ホストコンピュータ 20 本体インタフェース部 22 リセット処理部 24 アドレス変換部 26 コマンド処理部 28 フラッシュ・テーブル制御部 30 フラッシュ・コマンド発生部 34 フラッシュ・インタフェース部 FM0 〜FMn フラッシュ・メモリ FD0 〜7 内部(共通)バス FCLE コマンド・ラッチ・イネーブル制御線 FALE アドレス・ラッチ・イネーブル制御線 XFBSY- ビジー線 XFWE- ライト・イネーブル制御線 XFCE0-〜XFCEn- チップ・イネーブル制御線 XFRE0-〜XFREn- リード(出力)・イネーブ
ル制御線

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数個の半導体メモリの同一の記憶番地
    にそれぞれ格納されているデータをメモリ制御手段が共
    通のバスを介して読み出すためのメモリ読出し方法にお
    いて、 前記メモリ制御手段が前記バスを介して前記複数個の半
    導体メモリに同一の読出し用コマンドを同時に与える第
    1のステップと、 前記第1のステップに続けて前記メモリ制御手段が前記
    バスを介して前記複数個の半導体メモリに前記記憶番地
    を指定する同一のアドレスを同時に与える第2のステッ
    プと、 前記第1および第2のステップでそれぞれ与えられた前
    記コマンドおよび前記アドレスに応答して前記複数個の
    半導体メモリが所定時間内に前記アドレスで指定された
    前記記憶番地よりデータを読み出してそれぞれの出力ポ
    ートにセットする第3のステップと、 前記所定時間の経過後に前記メモリ制御手段が前記複数
    個の半導体メモリのそれぞれの出力ポートにセットされ
    ている前記読出しデータを前記バスを介して順次個別的
    に取り込む第4のステップとを有することを特徴とする
    メモリ読出し方法。
  2. 【請求項2】 前記第3のステップの間、前記複数個の
    半導体メモリがそれぞれのビジー状態を知らせる所定の
    信号を前記メモリ制御手段に与える請求項1に記載のメ
    モリ読出し方法。
  3. 【請求項3】 所定のタイミングで与えられた読出し用
    コマンドおよびアドレスに応答して所定時間内に前記ア
    ドレスで指定された記憶番地よりデータを読み出して出
    力ポートにセットするように構成された複数個の半導体
    メモリに共通のバスを介して接続されたメモリ制御装置
    において、 前記複数個の半導体メモリに前記バスを介して前記読出
    し用コマンドを同時に与えるためのコマンド供給手段
    と、 前記複数個の半導体メモリに前記バスを介して所望のア
    ドレスを同時に与えるためのアドレス供給手段と、 前記所定時間の経過後に前記複数個の半導体メモリのそ
    れぞれの出力ポートにセットされている前記読出しデー
    タを前記バスを介して順次個別的に取り込むデータ取込
    み手段と、 前記コマンドの供給開始から前記読出しデータの取込み
    完了までの全読出し動作時間を通じて前記複数個の半導
    体メモリの各々をチップ・イネーブル状態に保持するチ
    ップ・イネーブル制御手段とを具備することを特徴とす
    るメモリ制御装置。
  4. 【請求項4】 前記コマンド供給手段は、前記バス上に
    送出した前記読出し用コマンドを前記複数個の半導体メ
    モリにコマンドとして識別させるための共通のコマンド
    ・ラッチ・イネーブル制御線と、前記バス上の前記読出
    し用コマンドを前記複数個の半導体メモリに同時に取り
    込ませるための共通のライト・イネーブル制御線とを含
    むことを特徴とする請求項3に記載のメモリ制御装置。
  5. 【請求項5】 前記アドレス供給手段は、前記バス上に
    送出した前記アドレスを前記複数個の半導体メモリにア
    ドレスとして識別させるための共通のアドレス・ラッチ
    ・イネーブル制御線と、前記バス上の前記アドレスを前
    記複数個の半導体メモリに同時に取り込ませるための共
    通のライト・イネーブル制御線とを含むことを特徴とす
    る請求項3に記載のメモリ制御装置。
  6. 【請求項6】 前記データ取込み手段は、前記複数個の
    半導体メモリの各々を個別的に出力イネーブル状態にす
    るための複数の個別的な出力イネーブル制御線を含むこ
    とを特徴とする請求項3に記載のメモリ制御装置。
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