JPH09201763A - ウェーハ研摩ヘッド - Google Patents
ウェーハ研摩ヘッドInfo
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- JPH09201763A JPH09201763A JP1036997A JP1036997A JPH09201763A JP H09201763 A JPH09201763 A JP H09201763A JP 1036997 A JP1036997 A JP 1036997A JP 1036997 A JP1036997 A JP 1036997A JP H09201763 A JPH09201763 A JP H09201763A
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- Japan
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- retainer
- fluid
- housing
- polishing
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/27—Work carriers
- B24B37/30—Work carriers for single side lapping of plane surfaces
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
ハの周縁部の研摩速度を調節できるように構成されたウ
ェーハ研摩機を提供することにある。 【解決手段】 ハウジングと、該ハウジングに移動可能
に取り付けられたウェーハキャリヤと、ハウジングに移
動可能に取り付けられたウェーハリテーナとを有する半
導体ウェーハを研摩するための研摩ヘッド。第1流体ア
クチュエータがウェーハキャリヤに連結され、ウェーハ
キャリヤをハウジングに対して選択方向に付勢し、第2
流体アクチュエータがウェーハリテーナに連結され、ウ
ェーハリテーナをハウジングに対して第2選択方向に付
勢する。第1および第2流体アクチュエータにはそれぞ
れ第1および第2流体導管が連結され、第1および第2
アクチュエータの流体圧力を互いに独立的に調節でき、
これにより、研摩作業中に、キャリヤに作用する付勢力
に対してリテーナに作用する付勢力を動力学的に調節で
きる。
Description
摩機に使用する研摩ヘッドに関する。
て良く知られており、半導体ウェーハ(1つ以上のフォ
トリソグラフ層を有するものもある)を平面化するのに
慣用的に使用されている。一般に、これらの研摩機は1
つ以上の研摩ヘッドを有しており、各研摩ヘッドはそれ
ぞれの半導体ウェーハを支持しかつウェーハを研摩ヘッ
ドに隣接して位置決めする。研摩ヘッドは研摩パッドに
対して移動され、適当な研摩スラリがウェーハとパッド
との間に導入される。本件出願人に譲渡された1994
年8月9日付の米国特許出願第08/287,658号には、ベル
ト形研摩パッドを使用する1つの研摩機が開示されてい
る。他の研摩機は回転研摩パッドを使用するものであ
り、例えば米国特許第5,329,732 号および第5,329,734
号に開示されている。
により包囲される中央のウェーハキャリヤを有してい
る。ウェーハキャリヤおよびリテーナは、協働して、研
摩作業中にウェーハが研摩ヘッドに対して横方向に移動
することを防止するウェーハ受入れポケットを形成す
る。ウェーハキャリヤおよびウェーハリテーナを、これ
らが研摩ヘッドの残部に対して移動できるように取り付
けること、およびキャリヤおよびリテーナを、研摩パッ
ドの方向に付勢することが提案されている。これがなさ
れると、リテーナおよびキャリヤは、研摩作業中に研摩
ヘッドに対して一定範囲内で浮動できる。非常に重要な
ことは、ウェーハ研摩機がウェーハのほぼ全領域を平面
化できることである。ウェーハの中央部とは異なる速度
でしばしば研摩されるウェーハの周縁部には困難が生じ
る。ウェーハの周縁部の研摩速度がウェーハの中央部の
研摩速度より大きいと、ウェーハの周縁部は、標準フォ
トリソグラフ法に使用するには適しないものとなる。
高い平面度を達成するには、ウェーハの中央部の研摩速
度に対してウェーハの周縁部の研摩速度を調節できるな
らば非常に有効であろう。
ば、半導体ウェーハ用の研摩ヘッドが提供される。この
研摩ヘッドは、ハウジングと、該ハウジングに取り付け
られかつウェーハ支持面を備えたウェーハキャリヤと、
ハウジングに取り付けられかつウェーハをウェーハ支持
面上の所定位置に保持する形状を備えたウェーハリテー
ナとを有する。ハウジングには、ウェーハキャリヤおよ
びウェーハリテーナのうちの少なくとも一方が移動可能
に取り付けられ、研摩作業中に、ウェーハキャリヤとウ
ェーハリテーナとの間に動力学的に調節可能な差動付勢
力を発生させる手段が設けられている。
ェーハキャリヤおよびウェーハリテーナの両方がハウジ
ングに対して移動可能に取り付けられており、これらの
各々が、それぞれの流体アクチュエータにより、研摩パ
ッドに向かって独立的に付勢される。アクチュエータに
導入される加圧流体を別々に制御することにより、リテ
ーナに作用する付勢力を、ウェーハ自体に作用する付勢
力とは実質的に独立して選択できる。リテーナはウェー
ハから半径方向外方に配置されているので、リテーナ
は、ウェーハ自体より前に、研摩パッドと接触する。キ
ャリヤに作用する付勢力に対してリテーナに作用する付
勢力を適当に調節することにより、研摩パッドがウェー
ハの周縁領域の最適研摩を行なうように、コンディショ
ニングすべくリテーナを調節できる。例えば、リテーナ
に作用する付勢力を増大させることにより、ウェーハと
研摩パッドとの間のウェーハの周縁部に導入される研摩
スラリの量を減少できる。リテーナに作用する付勢力を
減少させることにより、ウェーハの周縁部に到達できる
研摩スラリの量を増大させることができる。同様に、コ
ンテナに作用する付勢力に対して保持リングに作用する
付勢力を適正に調節することにより、ウェーハの周縁部
にすぐ近くに隣接する研摩パッドに所望の圧縮度合いを
付与できる。
好ましい実施例を導入した研摩ヘッド10を示す断面図
である。この研摩ヘッド10は、前述の研摩機並びに当
業者が現在知っておりまたは将来知りうる研摩機を含
む、任意の適当な半導体ウェーハ研摩機に取り付けるこ
とができる。研摩ヘッド10は、ハウジング14に堅固
に固定されたスピンドル12を有している。ハウジング
14は、内側ハウジング16および外側ハウジング18
で構成されている。内側ハウジング16は、例えばボル
ト(図示せず)により、スピンドル12に堅固に固定さ
れており、外側ハウジング18は、例えばボルト(図示
せず)により、内側ハウジング16に堅固に固定されて
いる。ハウジング14、18はアルミニウムまたはステ
ンレス鋼で形成できる。
ヤ20およびウェーハリテーナ22を有している。ウェ
ーハキャリヤ20は円形であり、かつ第1環状ダイアフ
ラム24によりハウジング14に対して移動可能に取り
付けられている。キャリヤ20はアルミナ995のよう
なセラミックで形成できる。第1ダイアフラム24はB
UNA材のような弾性材料で形成でき、かつ取付けリン
グ26により、その半径方向内縁部がウェーハキャリヤ
20に、半径方向外縁部が外側ハウジング18に機械的
に取り付けられている。ハウジング14、ウェーハキャ
リヤ20および第1ダイアフラム24は、協働して第1
流体チャンバ28を形成し、該チャンバ28は、第1流
体導管30を介して、調節可能な第1圧力調整器32に
連結されている。第1圧力調整器32は加圧流体源34
に連結されている。
2ダイアフラム36(該ダイアフラム36も環状であ
る)によりハウジング14に対して移動可能に取り付け
られている。リテーナ22は、例えばDELRIN A
F(登録商標)で作ることができる。第2ダイアフラム
36の内周縁部および外周縁部は、取付けリング38に
より外側ハウジング18に固定され、第2ダイアフラム
36の中央部は、取付けリング40によりウェーハリテ
ーナ22に固定されている。第2ダイアフラム36およ
びハウジング14は、協働して第2流体チャンバ42を
形成し、該チャンバ42の一部は、第2ダイアフラム3
6に境界を接している。第2流体チャンバ42は、第2
流体導管44を介して、調節可能な第2圧力調整器46
に連結されている。第2圧力調整器46は、加圧流体源
34および真空源48の両方に連結されている。
0を形成しており、該ウェーハ支持面50は、慣用的な
態様でインサート52を支持している。真空源48とウ
ェーハキャリヤ20との間には、真空導管54が連結さ
れている。真空源48は、ウェーハWをインサート52
上の所定位置に保持するための低圧吸引力を発生させる
のに使用される。ウェーハWがインサート52上に位置
決めされると、ウェーハリテーナ22がウェーハWをほ
ぼ包囲して、ウェーハWと研摩ヘッド10との間の好ま
しくない横方向移動を防止する。第1流体チャンバ2
8、第1流体導管30および第1ダイアフラム24は、
ウェーハキャリヤ20と協働して、第1流体アクチュエ
ータを形成している。調節可能な第1圧力調整器32
は、第1流体チャンバ28内の空気のような流体の圧力
を調整し、研摩機の研摩パッドPに対してウェーハWを
押しつけるための、動力学的に調節可能な付勢力を付与
するのに使用される。この第1流体アクチュエータは、
ウェーハキャリヤ20の上面のほぼ全体に亘って均一に
分散された力を付与し、これにより、ウェーハキャリヤ
20を歪ませる原因ともなる不均一な力を最小にする。
第1ダイアフラム24は、キャリヤ20とハウジング1
4との間の差動(differential movement)を可能にする
点での取付け機能と、第1流体チャンバ28内の加圧流
体をシールする点でのシール機能との両機能を遂行す
る。
42および第2流体導管44は、協働して第2流体アク
チュエータを形成し、該アクチュエータは、ウェーハリ
テーナ22を研摩パッドPに向かって外方に付勢する付
勢力を調節するのに使用される。第2流体アクチュエー
タは環状であり、それにより、均一に分散された付勢力
をウェーハリテーナ22に付与する。第2ダイアフラム
36は次の2つの機能、すなわち、ハウジング14に対
してウェーハリテーナ22を移動可能に取り付ける機
能、および第2流体チャンバ42をシールする機能を遂
行する。第1流体チャンバ28、第1流体導管30およ
び調節可能な第1圧力調整器32が、第2流体チャンバ
42、第2流体導管44および調節可能な第2圧力調整
器46から隔絶されかつ独立しているので、ウェーハの
研摩作業中に、ウェーハリテーナ22に作用する付勢力
に対し、ウェーハキャリヤ20に作用する付勢力を動力
学的態様で調節できる。これにより、ウェーハリテーナ
22により研摩パッドPに加えられるコンディショニン
グ力およびウェーハWの周縁部上への研摩スラリの流れ
を、研摩作業中にリアルタイムに調節できる。
圧力調整器46は、独立制御可能な弁として作動する。
もちろん、調整器32、46については、手動制御形調
整器およびコンピュータ制御形調整器を含む最大限のア
プローチが可能である。流体圧力を調節する他の適当な
手段を用いることができる。図1は使用位置にある研摩
ヘッド10を示し、使用位置では、ウェーハWおよびウ
ェーハリテーナ22の両者が、ハウジング14から離れ
て、研摩パッドPと接触するように付勢される。研摩位
置では、ウェーハキャリヤ20およびウェーハリテーナ
22は、それぞれのダイアフラム24、36により懸架
され、一定の移動範囲内で自由に浮動できる。図2は、
研摩ヘッド10がウェーハ装填位置にあるところを示
す。この位置では、研摩ヘッド10が研摩パッドPから
遠ざけられ、第1流体チャンバ28および第2流体チャ
ンバ42内の加圧流体が、ウェーハキャリヤ20および
ウェーハリテーナ22を最外位置に付勢する。これらの
位置において、ウェーハキャリヤ20およびウェーハリ
テーナ22は、ウェーハ受入れポケット56を形成して
いる。
位置にあるところを示す。この位置では、ウェーハキャ
リヤ20は、図2と同じ位置にある。しかしながら、第
2圧力調整器46(図1)を使用して、第2流体チャン
バ42に真空を供給し、ウェーハリテーナ22をハウジ
ング14の方向に移動させている。これにより、ウェー
ハリテーナ22がウェーハキャリヤ20の内方に移動さ
れ、従って、インサート52が露出され、取出しおよび
交換の準備が整えられる。研摩ヘッド10は、最初に、
ウェーハWを図1に示すようにしてウェーハキャリヤ2
0に取り付けることにより、ウェーハ研摩作業に使用さ
れる。ウェーハは、(フォトリソグラフ層を備えていな
い)裸基板(bare substrate) でもよいし、1つ以上の
フォトリソグラフ層を備えた基板でもよい。次に、研摩
ヘッド10が研摩パッドPに隣接する位置に移動され、
研摩ヘッド10と研摩パッドPとの間に相対運動が与え
られる。この相対運動は、直線運動と回転運動とを任意
に組み合わせることができる。次に、調節可能な圧力調
整器32、46を使用して、ウェーハキャリヤ20(従
ってウェーハW)を研摩パッドPに付勢しかつリテーナ
22を研摩パッドPに付勢する。圧力調整器32、46
を独立的に調節することにより、ウェーハキャリヤ20
に作用する付勢力に対して、ウェーハリテーナ22に作
用する相対付勢力を変える(増大または減少させる)こ
とができる。このようにして、研摩スラリがウェーハW
の周縁部に供給される速度の調節に応じて、研摩パッド
PがウェーハWに接触する前に、研摩パッドPが圧縮さ
れる度合いを調節できる。
体アクチュエータは、キャリヤ20とリテーナ22との
間の動力学的に調節可能な差動付勢力(differential b
iasing)を発生させるための手段として作動する。これ
らの両要素間の差動付勢力を動力学的に調節するのに他
の手段を使用できることに留意すべきである。例えば、
研摩ヘッド10の全体を研摩パッドPに向かって付勢
し、次に、キャリヤ20またはリテーナ22のいずれか
一方を研摩ヘッド10に対して移動可能に取り付け、パ
ッドPに向かって独立的に付勢することができる。この
アプローチを用いるとき、キャリヤ20またはリテーナ
22のいずれか一方をハウジング14に対して堅固に取
り付けることができる。また、ダイアフラム24、36
に代わる他のシールアプローチを使用できる。例えば、
キャリヤ20およびリテーナ22の両方を支持する単一
ダイアフラムを設けることができる。また、上記ダイア
フラムに代えて、摺動シールを備えたベローズまたはピ
ストンを使用できる。図示のダイアフラムは、可動要素
とハウジングとの間の摩擦を最小にすると同時に優れた
シールを形成するため、好ましいものである。
にも実施できる。上記流体アクチュエータに代えて加圧
流体(空気のような加圧ガスが好ましい)を使用する流
体アクチュエータを使用できる。また、或る実施形態で
は、流体アクチュエータに代えて機械ばねのようなアク
チュエータであって、ばね力を調節するための手段を備
えたアクチュエータを使用できる。最後に、上記のよう
に、本発明の研摩ヘッドは、直線運動および回転運動の
両運動を行なう研摩パッドを備えた機械を含む広範囲の
半導体ウェーハ研摩機に使用できる。従って、上記詳細
な説明は限定的なものではなく、例示と考えるべきであ
る。本発明の範囲は、あらゆる均等物を含む特許請求の
範囲の記載により定められる。
ドの断面図であり、研摩ヘッドが研摩位置にあって、半
導体ウェーハおよびウェーハリテーナが研摩パッドと接
触している状態を示すものである。
ャリヤおよびウェーハリテーナが、ウェーハ装填の準備
が整った装填位置にある状態を示すものである。
ャリヤおよびウェーハリテーナが、インサート交換位置
にある状態を示すものである。
Claims (13)
- 【請求項1】 ハウジングと、 該ハウジングに取り付けられたウェーハキャリヤとを有
し、該ウェーハキャリヤがウェーハ支持面を備え、 ハウジングに取り付けられたウェーハリテーナを有し、
該ウェーハリテーナは、ウェーハを前記ウェーハ支持面
上の所定位置に保持する形状を備え、 ウェーハキャリヤおよびウェーハリテーナのうちの少な
くとも一方が、ハウジングに移動可能に取り付けられ、 ウェーハキャリヤとウェーハリテーナとの間に、動力学
的に調節可能な差動付勢力を発生させるための手段を更
に有する、ことを特徴とする半導体ウェーハを研摩する
ための研摩ヘッド。 - 【請求項2】 ハウジングと、 該ハウジングに取り付けられたウェーハキャリヤとを有
し、該ウェーハキャリヤがウェーハ支持面を備え、 ハウジングに取り付けられたウェーハリテーナを有し、
該ウェーハリテーナは、ウェーハを前記ウェーハ支持面
上の所定位置に保持する形状を備え、 ウェーハキャリヤおよびウェーハリテーナのうちの少な
くとも一方が、ハウジングに移動可能に取り付けられ、 ウェーハキャリヤおよびウェーハリテーナのうちの少な
くとも一方のみに付勢力を選択的に加えるべく、前記少
なくとも一方に連結された流体アクチュエータを更に有
し、該流体アクチュエータにより、ウェーハキャリヤお
よびウェーハリテーナに作用する相対付勢力を動力学的
に調節する、ことを特徴とする半導体ウェーハを研摩す
るための研摩ヘッド。 - 【請求項3】 ハウジングと、 該ハウジングに移動可能に取り付けられたウェーハキャ
リヤとを有し、該ウェーハキャリヤがウェーハ支持面を
備え、 ハウジングに移動可能に取り付けられたウェーハリテー
ナを有し、該ウェーハリテーナは、ウェーハを前記ウェ
ーハ支持面上の所定位置に保持する形状を備え、 ウェーハキャリヤをハウジングに対して第1選択方向に
付勢するために、ウェーハキャリヤに連結された第1流
体アクチュエータと、 ウェーハリテーナをハウジングに対して第2選択方向に
付勢するために、ウェーハリテーナに連結された第2流
体アクチュエータと、 第1流体アクチュエータおよび第2流体アクチュエータ
にそれぞれ連結された第1流体導管および第2流体導管
とを更に有し、第2流体アクチュエータの流体圧力に対
して、第1アクチュエータの流体圧力を調節できる、こ
とを特徴とする半導体ウェーハを研摩するための研摩ヘ
ッド。 - 【請求項4】 前記ハウジングに固定されたスピンドル
を更に有し、該スピンドル内には第1流体導管および第
2流体導管が延入している、ことを特徴とする請求項3
に記載の研摩ヘッド。 - 【請求項5】 前記第1流体導管および第2流体導管に
それぞれ連結された第1弁および第2弁を更に有し、該
第1弁および第2弁は独立的に制御できる、ことを特徴
とする請求項4に記載の研摩ヘッド。 - 【請求項6】 前記ウェーハキャリヤは第1ダイアフラ
ムによりハウジングに取り付けられ、前記ウェーハリテ
ーナは第2ダイアフラムによりハウジングに取り付けら
れている、ことを特徴とする請求項3に記載の研摩ヘッ
ド。 - 【請求項7】 前記第1流体アクチュエータおよび第2
流体アクチュエータはそれぞれ第1流体チャンバおよび
第2流体チャンバを備え、該第1流体チャンバおよび第
2流体チャンバはそれぞれ第1流体導管および第2流体
導管に連結され、第1流体チャンバの一部は第1ダイア
フラムにより境界が定められ、第2流体チャンバの一部
は第2ダイアフラムにより境界が定められている、こと
を特徴とする請求項6に記載の研摩ヘッド。 - 【請求項8】 前記第1流体チャンバは円形であり、第
2流体チャンバは環状である、ことを特徴とする請求項
7に記載の研摩ヘッド。 - 【請求項9】 前記ウェーハリテーナは環状である、こ
とを特徴とする請求項8に記載の研摩ヘッド。 - 【請求項10】 前記第1方向および第2方向は互いに
整合している、ことを特徴とする請求項3に記載の研摩
ヘッド。 - 【請求項11】 a)研摩ヘッドのウェーハキャリヤに
半導体ウェーハを取り付けるステップを有し、ウェーハ
の少なくとも一部が、ウェーハリテーナにより包囲さ
れ、 b)或るウェーハ付勢力でウェーハを研摩パッドに付勢
するステップと、 c)或るリテーナ付勢力でウェーハリテーナを研摩パッ
ドに付勢するステップと、 d)ウェーハ付勢力に対してリテーナ付勢力を調節する
ステップとを更に有する、ことを特徴とする半導体ウェ
ーハの研摩を制御する方法。 - 【請求項12】 前記ステップ(b)は研摩ヘッドに第
1加圧流体を供給するステップからなり、ステップ
(c)は研摩ヘッドに第2加圧流体を供給するステップ
からなり、ステップ(d)は第1加圧流体の圧力に対し
て第2加圧流体の圧力を調節するステップからなる、こ
とを特徴とする請求項11に記載の方法。 - 【請求項13】 前記ステップ(d)はウェーハ研摩作
業中に行なわれる、ことを特徴とする請求項11に記載
の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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US59086196A | 1996-01-24 | 1996-01-24 | |
US08/590861 | 1996-01-24 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPH09201763A true JPH09201763A (ja) | 1997-08-05 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP1036997A Pending JPH09201763A (ja) | 1996-01-24 | 1997-01-23 | ウェーハ研摩ヘッド |
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EP (1) | EP0786310B1 (ja) |
JP (1) | JPH09201763A (ja) |
AT (1) | ATE228915T1 (ja) |
DE (1) | DE69717510T2 (ja) |
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