JPH09196839A - 冷熱衝撃試験装置 - Google Patents
冷熱衝撃試験装置Info
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- JPH09196839A JPH09196839A JP545096A JP545096A JPH09196839A JP H09196839 A JPH09196839 A JP H09196839A JP 545096 A JP545096 A JP 545096A JP 545096 A JP545096 A JP 545096A JP H09196839 A JPH09196839 A JP H09196839A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 予熱温度、予冷温度及び除霜サイクル数の初
期設定を自動的に行うことができる冷熱衝撃試験装置を
提供する。 【解決手段】 本冷熱衝撃試験装置は、設定手段におけ
る設定の完了を自動検出し、設定手段における設定内容
に応じて、高温試験をする直前の高温室３内の温度であ
る予熱温度、低温試験をする直前の低温室４内の温度で
ある予冷温度、蒸発器の除霜をする回数である除霜サイ
クル数、をそれぞれ自動設定する自動設定手段と、その
自動設定した設定値を外部から変更する変更手段とを有
している。 【効果】 オペレータの負担が軽減され、最適な設定で
かつ効率的な運転が可能となり、ランニングコストも軽
減できる。
期設定を自動的に行うことができる冷熱衝撃試験装置を
提供する。 【解決手段】 本冷熱衝撃試験装置は、設定手段におけ
る設定の完了を自動検出し、設定手段における設定内容
に応じて、高温試験をする直前の高温室３内の温度であ
る予熱温度、低温試験をする直前の低温室４内の温度で
ある予冷温度、蒸発器の除霜をする回数である除霜サイ
クル数、をそれぞれ自動設定する自動設定手段と、その
自動設定した設定値を外部から変更する変更手段とを有
している。 【効果】 オペレータの負担が軽減され、最適な設定で
かつ効率的な運転が可能となり、ランニングコストも軽
減できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品等の被試
験物に対して加熱と冷却とを所望回数繰り返すことによ
って耐久性等の試験を行なう冷熱衝撃試験装置に関し、
特に、予熱温度または予冷温度等の運転データを自動設
定できる冷熱衝撃試験装置に関する。
験物に対して加熱と冷却とを所望回数繰り返すことによ
って耐久性等の試験を行なう冷熱衝撃試験装置に関し、
特に、予熱温度または予冷温度等の運転データを自動設
定できる冷熱衝撃試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】このような従来の冷熱衝撃試験装置とし
ては、冷凍サイクルを構成する蒸発器及び再加熱器を収
容した低温室と、加熱器を収容した高温室と、低温室及
び高温室を択一的に試験室に連通させる手段とを具備
し、低温室からの冷風あるいは高温室からの熱風を試験
室に交互に供給し、試験室内の雰囲気温度を任意温度に
保ち、試験室内の試料についての冷熱衝撃試験をする装
置がある。
ては、冷凍サイクルを構成する蒸発器及び再加熱器を収
容した低温室と、加熱器を収容した高温室と、低温室及
び高温室を択一的に試験室に連通させる手段とを具備
し、低温室からの冷風あるいは高温室からの熱風を試験
室に交互に供給し、試験室内の雰囲気温度を任意温度に
保ち、試験室内の試料についての冷熱衝撃試験をする装
置がある。
【０００３】そして、従来の冷熱衝撃試験装置では、運
転を開始する前に、オペレータが試験をするための必要
な条件として、高温試験温度、低温試験温度、高温試験
時間、低温試験時間、常温試験時間、試験サイクル数、
前記高温試験温度に対する予熱温度、前記低温試験温度
に対する予冷温度、除霜サイクル数の運転データを手動
で入力している。
転を開始する前に、オペレータが試験をするための必要
な条件として、高温試験温度、低温試験温度、高温試験
時間、低温試験時間、常温試験時間、試験サイクル数、
前記高温試験温度に対する予熱温度、前記低温試験温度
に対する予冷温度、除霜サイクル数の運転データを手動
で入力している。
【０００４】ここで、予熱温度とは、高温試験をする前
に予め高温室を高温にしておくときのその高温室の温度
をいう。また、予冷温度とは、低温試験をする前に予め
低温室を低温にしておくときのその低温室の温度をい
う。
に予め高温室を高温にしておくときのその高温室の温度
をいう。また、予冷温度とは、低温試験をする前に予め
低温室を低温にしておくときのその低温室の温度をい
う。
【０００５】従来の冷熱衝撃試験装置の動作としては、
運転を開始すると、高温室は予熱温度になるように運転
制御し、低温室は予冷温度になるように運転制御を行な
う。そして、高温室及び低温室が設定温度になると、高
温室から熱気を試験室内に送り込んで所定の高温状態に
することで、高温試験を行うようにしている。また、低
温室から試験室内に冷気を送り込んで所定の低温状態に
することで、低温試験を行うようにしている。
運転を開始すると、高温室は予熱温度になるように運転
制御し、低温室は予冷温度になるように運転制御を行な
う。そして、高温室及び低温室が設定温度になると、高
温室から熱気を試験室内に送り込んで所定の高温状態に
することで、高温試験を行うようにしている。また、低
温室から試験室内に冷気を送り込んで所定の低温状態に
することで、低温試験を行うようにしている。
【０００６】このような高温試験と低温試験を交互に行
なう２ゾーンサイクル試験を行なう場合は、高温試験中
には、低温室を予冷しておき低温試験中には、高温室を
予熱している。そして高温試験又は低温試験が設定した
試験時間だけ行なわれた後は、高温室又は低温室を閉
じ、再度、低温室又は高温室を開くことにより、次の低
温試験又は高温試験が行なわれる。
なう２ゾーンサイクル試験を行なう場合は、高温試験中
には、低温室を予冷しておき低温試験中には、高温室を
予熱している。そして高温試験又は低温試験が設定した
試験時間だけ行なわれた後は、高温室又は低温室を閉
じ、再度、低温室又は高温室を開くことにより、次の低
温試験又は高温試験が行なわれる。
【０００７】一方、高温試験−常温試験−低温試験−常
温試験、又は低温試験−常温試験−高温試験−常温試験
のサイクルで行なう３ゾーン試験の場合は、常温試験中
にも、予熱及び予冷が行われる。また、一般に、予熱温
度は高温試験温度の設定値よりも高く設定し、予冷温度
は低温試験温度の設定値よりも低く設定される。
温試験、又は低温試験−常温試験−高温試験−常温試験
のサイクルで行なう３ゾーン試験の場合は、常温試験中
にも、予熱及び予冷が行われる。また、一般に、予熱温
度は高温試験温度の設定値よりも高く設定し、予冷温度
は低温試験温度の設定値よりも低く設定される。
【０００８】また、予熱温度及び予冷温度は、次の高温
試験又は低温試験に移行するときにおいて、その試験室
内の温度が高温試験温度又は低温試験温度の設定値に到
達するまでの時間に影響を与える。すなわち、予熱温度
を高温試験温度に比べて高く設定するか又は、予冷温度
を低温試験温度に比べて低く設定した場合は、試験室の
温度は高温試験温度又は低温試験温度の設定値を通り過
ぎオーバシュート又はアンダーシュートした後に、設定
値に戻るが、高温試験開始又は低温試験開始から高温試
験温度又は低温試験温度に最初に到達するまでの時間は
短くなる。逆に、予熱温度の設定値が低いか又は予冷温
度の設定値が高い場合は、前記のオーバシュート又はア
ンダシュートが発生せず、各試験温度に到達しなくな
る。
試験又は低温試験に移行するときにおいて、その試験室
内の温度が高温試験温度又は低温試験温度の設定値に到
達するまでの時間に影響を与える。すなわち、予熱温度
を高温試験温度に比べて高く設定するか又は、予冷温度
を低温試験温度に比べて低く設定した場合は、試験室の
温度は高温試験温度又は低温試験温度の設定値を通り過
ぎオーバシュート又はアンダーシュートした後に、設定
値に戻るが、高温試験開始又は低温試験開始から高温試
験温度又は低温試験温度に最初に到達するまでの時間は
短くなる。逆に、予熱温度の設定値が低いか又は予冷温
度の設定値が高い場合は、前記のオーバシュート又はア
ンダシュートが発生せず、各試験温度に到達しなくな
る。
【０００９】さらにまた、２ゾーン試験又は３ゾーン試
験を繰返し行なっている内に蒸発器に着霜が生じて、冷
凍能力がダウンし、予冷温度に到達しなくなる。このた
め、除霜運転を定期的に行なう必要があるが、除霜間隔
を短く設定すると除霜期間中は低温試験や予冷運転がで
きないため、試験時間が長くなる。
験を繰返し行なっている内に蒸発器に着霜が生じて、冷
凍能力がダウンし、予冷温度に到達しなくなる。このた
め、除霜運転を定期的に行なう必要があるが、除霜間隔
を短く設定すると除霜期間中は低温試験や予冷運転がで
きないため、試験時間が長くなる。
【００１０】したがって、予熱温度及び予冷温度、除霜
サイクル数の適性な設定は試験効率を上げるうえで大き
な要因となる。従来はこの予熱温度、予冷温度の設定は
オペレータの経験で行っている。また、特願平２−５４
４１８号のように、オーバシュート、アンダーシュート
の量から試験後に予熱温度及び予冷温度を補正する冷熱
衝撃試験装置もある。
サイクル数の適性な設定は試験効率を上げるうえで大き
な要因となる。従来はこの予熱温度、予冷温度の設定は
オペレータの経験で行っている。また、特願平２−５４
４１８号のように、オーバシュート、アンダーシュート
の量から試験後に予熱温度及び予冷温度を補正する冷熱
衝撃試験装置もある。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の従
来の冷熱衝撃試験装置では、予熱温度、予冷温度、除霜
サイクル数の初期設定をオペレータが経験的に判断して
行わなければならないので、それらの各種設定を正確に
行うためにオペレータに大きな負担がかかっていた。
来の冷熱衝撃試験装置では、予熱温度、予冷温度、除霜
サイクル数の初期設定をオペレータが経験的に判断して
行わなければならないので、それらの各種設定を正確に
行うためにオペレータに大きな負担がかかっていた。
【００１２】また、その設定を誤った場合は、試験時間
が長くなって試験効率が著しく悪くなるだけではなく、
着霜がひどくなると、保護装置が動作して運転を停止す
る等の問題があった。
が長くなって試験効率が著しく悪くなるだけではなく、
着霜がひどくなると、保護装置が動作して運転を停止す
る等の問題があった。
【００１３】そこで、本発明は、予熱温度、予冷温度及
び除霜サイクル数の初期設定値をオペレータが入力する
ことを必要とせず、自動的に予熱温度、予冷温度及び除
霜サイクル数の初期設定をすることができる冷熱衝撃試
験装置を提供することを目的とする。
び除霜サイクル数の初期設定値をオペレータが入力する
ことを必要とせず、自動的に予熱温度、予冷温度及び除
霜サイクル数の初期設定をすることができる冷熱衝撃試
験装置を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明の冷熱衝撃試験装
置は、冷凍サイクルを構成する蒸発器及び再加熱器を収
容した低温室と、加熱器を収容した高温室と、前記低温
室及び前記高温室を択一的に試験室に連通させる手段と
を具備し、前記低温室からの冷風あるいは前記高温室か
らの熱風を前記試験室に交互に供給し、該試験室内の雰
囲気温度を任意温度に保ち、該試験室内の試料について
の冷熱衝撃試験をする装置において、高温試験をすると
きの前記試験室の目標温度である高温試験温度と、低温
試験をするときの前記試験室の目標温度である低温試験
温度と、高温試験の継続時間である高温試験時間と、低
温試験の継続時間である低温試験時間と、常温試験の継
続時間である常温試験時間と、少なくとも高温試験と低
温試験からなる試験サイクルを何回繰り返すかを示す数
である試験サイクル数とを、それぞれ設定する設定手段
を具備し、前記設定手段における設定の完了を自動検出
し、前記設定手段における設定内容に応じて、高温試験
をする直前の高温室内の温度である予熱温度、低温試験
をする直前の低温室内の温度である予冷温度、前記蒸発
器の除霜をする回数である除霜サイクル数、をそれぞれ
自動設定する自動設定手段と、その自動設定した設定値
を外部から変更する変更手段とを有することを特徴とす
る。
置は、冷凍サイクルを構成する蒸発器及び再加熱器を収
容した低温室と、加熱器を収容した高温室と、前記低温
室及び前記高温室を択一的に試験室に連通させる手段と
を具備し、前記低温室からの冷風あるいは前記高温室か
らの熱風を前記試験室に交互に供給し、該試験室内の雰
囲気温度を任意温度に保ち、該試験室内の試料について
の冷熱衝撃試験をする装置において、高温試験をすると
きの前記試験室の目標温度である高温試験温度と、低温
試験をするときの前記試験室の目標温度である低温試験
温度と、高温試験の継続時間である高温試験時間と、低
温試験の継続時間である低温試験時間と、常温試験の継
続時間である常温試験時間と、少なくとも高温試験と低
温試験からなる試験サイクルを何回繰り返すかを示す数
である試験サイクル数とを、それぞれ設定する設定手段
を具備し、前記設定手段における設定の完了を自動検出
し、前記設定手段における設定内容に応じて、高温試験
をする直前の高温室内の温度である予熱温度、低温試験
をする直前の低温室内の温度である予冷温度、前記蒸発
器の除霜をする回数である除霜サイクル数、をそれぞれ
自動設定する自動設定手段と、その自動設定した設定値
を外部から変更する変更手段とを有することを特徴とす
る。
【００１５】すなわち、本発明の冷熱衝撃試験装置は、
高温試験温度、低温試験温度、高温試験時間、低温試験
時間及び常温試験時間を自動的に読込み、これらの内容
に基づいて予熱温度、予冷温度及び除霜サイクル数をそ
れぞれ自動設定する。
高温試験温度、低温試験温度、高温試験時間、低温試験
時間及び常温試験時間を自動的に読込み、これらの内容
に基づいて予熱温度、予冷温度及び除霜サイクル数をそ
れぞれ自動設定する。
【００１６】これにより、従来においてはオペレータが
経験的に判断して初期設定しなければならなかった予熱
温度、予冷温度及び除霜サイクル数を、自動的に初期設
定をすることができるので、オペレータの負担が大幅に
軽減される。また、予熱温度、予冷温度及び除霜サイク
ル数について、設定誤りを大幅に低減することができる
のみならず、最適値により近づけることができるので、
試験時間を短縮することができ、着霜による運転を停止
等をも防止することができる。
経験的に判断して初期設定しなければならなかった予熱
温度、予冷温度及び除霜サイクル数を、自動的に初期設
定をすることができるので、オペレータの負担が大幅に
軽減される。また、予熱温度、予冷温度及び除霜サイク
ル数について、設定誤りを大幅に低減することができる
のみならず、最適値により近づけることができるので、
試験時間を短縮することができ、着霜による運転を停止
等をも防止することができる。
【００１７】また、本発明の冷熱衝撃試験装置は、高温
試験温度の設定値及び低温試験温度の設定値を雰囲気温
度と比較する手段を備え、自動設定手段は、高温試験温
度と低温試験温度との温度差から予熱温度及び予冷温度
を自動設定し、高温試験温度又は低温試験温度が変更さ
れたことを自動検出して、予熱温度及び予冷温度を自動
補正することが好ましい。
試験温度の設定値及び低温試験温度の設定値を雰囲気温
度と比較する手段を備え、自動設定手段は、高温試験温
度と低温試験温度との温度差から予熱温度及び予冷温度
を自動設定し、高温試験温度又は低温試験温度が変更さ
れたことを自動検出して、予熱温度及び予冷温度を自動
補正することが好ましい。
【００１８】また、本発明の冷熱衝撃試験装置は、自動
設定手段が、予熱温度を、高温試験温度＋αの値に基づ
いて算出し、予冷温度を、低温試験温度＋βの値に基づ
いて算出し、除霜サイクル数を、高温試験時間＋低温試
験時間＋γの値に基づいて算出して、それぞれ設定値と
することが好ましい。
設定手段が、予熱温度を、高温試験温度＋αの値に基づ
いて算出し、予冷温度を、低温試験温度＋βの値に基づ
いて算出し、除霜サイクル数を、高温試験時間＋低温試
験時間＋γの値に基づいて算出して、それぞれ設定値と
することが好ましい。
【００１９】ここで、除霜サイクル数の算出は、常温試
験時間の有無により、２ゾーンサイクル試験が３ゾーン
サイクル試験かを判定し、これに応じて算出することが
できる。即ち、３ゾーン試験の場合は、常温試験を有し
ているため、周囲温度を試験室に吸引するので、霜付き
が発生し易くなる。このため、３ゾーン試験の場合は、
除霜サイクル数を２ゾーン試験より小さく設定する。
験時間の有無により、２ゾーンサイクル試験が３ゾーン
サイクル試験かを判定し、これに応じて算出することが
できる。即ち、３ゾーン試験の場合は、常温試験を有し
ているため、周囲温度を試験室に吸引するので、霜付き
が発生し易くなる。このため、３ゾーン試験の場合は、
除霜サイクル数を２ゾーン試験より小さく設定する。
【００２０】また、３ゾーン試験の場合は、常温試験の
後で高温試験又は低温試験をするので、３ゾーン試験の
方が２ゾーン試験よりも温度変化幅が少ない。これよ
り、３ゾーン試験の方が２ゾーン試験よりも、予熱温度
と高温試験温度の差又は予冷温度と低温試験温度の差が
それぞれ少なくなるように設定することが好ましい。
後で高温試験又は低温試験をするので、３ゾーン試験の
方が２ゾーン試験よりも温度変化幅が少ない。これよ
り、３ゾーン試験の方が２ゾーン試験よりも、予熱温度
と高温試験温度の差又は予冷温度と低温試験温度の差が
それぞれ少なくなるように設定することが好ましい。
【００２１】また、高温試験温度が比較的高いときは、
予熱温度をより高く設定し、低温試験温度が低くなる
程、予冷温度をより低く設定することが好ましい。
予熱温度をより高く設定し、低温試験温度が低くなる
程、予冷温度をより低く設定することが好ましい。
【００２２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図１は、発明の実施の形態
に係る冷熱衝撃試験装置を示す構成図である。
て図面を参照して説明する。図１は、発明の実施の形態
に係る冷熱衝撃試験装置を示す構成図である。
【００２３】冷熱衝撃試験装置本体１は、冷凍サイクル
を構成する蒸発器及び再加熱器を収容した低温室４と、
加熱器を収容した高温室３と、低温室４及び高温室３を
択一的に試験室２に連通させる手段とを具備し、低温室
４からの冷風あるいは高温室３からの熱風を試験室２に
交互に供給し、試験室２内の雰囲気温度を任意温度に保
ち、その試験室内の試料についての冷熱衝撃試験をする
装置である。
を構成する蒸発器及び再加熱器を収容した低温室４と、
加熱器を収容した高温室３と、低温室４及び高温室３を
択一的に試験室２に連通させる手段とを具備し、低温室
４からの冷風あるいは高温室３からの熱風を試験室２に
交互に供給し、試験室２内の雰囲気温度を任意温度に保
ち、その試験室内の試料についての冷熱衝撃試験をする
装置である。
【００２４】そして、本冷熱衝撃試験装置は、高温試験
をするときの試験室２の目標温度である高温試験温度
と、低温試験をするときの試験室２の目標温度である低
温試験温度と、高温試験の継続時間である高温試験時間
と、低温試験の継続時間である低温試験時間と、常温試
験の継続時間である常温試験時間と、少なくとも高温試
験と低温試験からなる試験サイクルを何回繰り返すかを
示す数である試験サイクル数とを、それぞれ設定する設
定手段を具備している。ここで、本実施の形態では、タ
ッチパネル等を具備した液晶表示器６と、コントローラ
５とで設定手段を形成している。
をするときの試験室２の目標温度である高温試験温度
と、低温試験をするときの試験室２の目標温度である低
温試験温度と、高温試験の継続時間である高温試験時間
と、低温試験の継続時間である低温試験時間と、常温試
験の継続時間である常温試験時間と、少なくとも高温試
験と低温試験からなる試験サイクルを何回繰り返すかを
示す数である試験サイクル数とを、それぞれ設定する設
定手段を具備している。ここで、本実施の形態では、タ
ッチパネル等を具備した液晶表示器６と、コントローラ
５とで設定手段を形成している。
【００２５】さらに、本冷熱衝撃試験装置は、設定手段
における設定の完了を自動検出し、設定手段における設
定内容に応じて、高温試験をする直前の高温室３内の温
度である予熱温度、低温試験をする直前の低温室４内の
温度である予冷温度、蒸発器の除霜をする回数である除
霜サイクル数、をそれぞれ自動設定する自動設定手段
と、その自動設定した設定値を外部から変更する変更手
段とを有している。ここで、本実施の形態では、タッチ
パネル等を具備した液晶表示器６と、コントローラ５と
で自動設定手段及び変更手段を形成している。
における設定の完了を自動検出し、設定手段における設
定内容に応じて、高温試験をする直前の高温室３内の温
度である予熱温度、低温試験をする直前の低温室４内の
温度である予冷温度、蒸発器の除霜をする回数である除
霜サイクル数、をそれぞれ自動設定する自動設定手段
と、その自動設定した設定値を外部から変更する変更手
段とを有している。ここで、本実施の形態では、タッチ
パネル等を具備した液晶表示器６と、コントローラ５と
で自動設定手段及び変更手段を形成している。
【００２６】なお、コントローラ５は、高温室３及び低
温室４の温度制御を含めて、冷熱衝撃試験装置１全体の
運転制御を行なう。液晶表示器６は、高温試験温度、低
温試験温度、高温試験時間、低温試験時間、常温試験時
間、試験サイクル数等の運転データを入力する液晶表示
器で、マイクロコンピュータを内蔵している。
温室４の温度制御を含めて、冷熱衝撃試験装置１全体の
運転制御を行なう。液晶表示器６は、高温試験温度、低
温試験温度、高温試験時間、低温試験時間、常温試験時
間、試験サイクル数等の運転データを入力する液晶表示
器で、マイクロコンピュータを内蔵している。
【００２７】液晶表示器６とコントローラ５のインター
フェースについては、シリアル伝送（ＲＳ−２３２Ｃ通
信）を用いてコントローラ５をホストとして、定期的に
データの送受信を行なっている。
フェースについては、シリアル伝送（ＲＳ−２３２Ｃ通
信）を用いてコントローラ５をホストとして、定期的に
データの送受信を行なっている。
【００２８】高温試験温度及び低温試験温度等の運転デ
ータが液晶表示器６を介して外部から入力されると、液
晶表示器８からコントローラ５に対して割込み出力が発
生し、高温試験温度、低温試験温度、高温試験時間、低
温試験時間及び常温試験時間の運転データをコントロー
ラ５に送信する。そして、周囲温度検出センサ７の読み
込みデータを含めてコントローラ５は、運転データ解析
して液晶表示器６に予熱温度、予冷温度、除霜サイクル
数の設定データを送信し、自動設定する。
ータが液晶表示器６を介して外部から入力されると、液
晶表示器８からコントローラ５に対して割込み出力が発
生し、高温試験温度、低温試験温度、高温試験時間、低
温試験時間及び常温試験時間の運転データをコントロー
ラ５に送信する。そして、周囲温度検出センサ７の読み
込みデータを含めてコントローラ５は、運転データ解析
して液晶表示器６に予熱温度、予冷温度、除霜サイクル
数の設定データを送信し、自動設定する。
【００２９】予熱温度、予冷温度、除霜サイクル数は、
オペレータが可変することも可能としている。オペレー
タが高温試験温度等の設定データを変更すると、自動的
に予熱温度、予冷温度及び除霜サイクル数を自動補正
し、オペレータに知らせる。
オペレータが可変することも可能としている。オペレー
タが高温試験温度等の設定データを変更すると、自動的
に予熱温度、予冷温度及び除霜サイクル数を自動補正
し、オペレータに知らせる。
【００３０】次に、予熱温度、予冷温度、除霜サイクル
数を自動的に設定する方法について説明する。図２は、
図１に示す冷熱衝撃試験装置における自動設定装置の動
作を示すフローチャートである。
数を自動的に設定する方法について説明する。図２は、
図１に示す冷熱衝撃試験装置における自動設定装置の動
作を示すフローチャートである。
【００３１】まず、高温試験温度、低温試験温度、高温
試験時間、低温試験時間及び常温試験時間等の各設定デ
ータをコントローラが読み込む（Ｓ１）。次に、常温試
験時間が０か否かで２ゾーン試験か３ゾーン試験かを判
定する（Ｓ２）。
試験時間、低温試験時間及び常温試験時間等の各設定デ
ータをコントローラが読み込む（Ｓ１）。次に、常温試
験時間が０か否かで２ゾーン試験か３ゾーン試験かを判
定する（Ｓ２）。
【００３２】そして、２ゾーン試験と判定した場合は、
連続運転可能時間Ｈ2を各試験時間の和で除した値を除
霜サイクル数として自動設定する（Ｓ３）。ここで、連
続運転可能時間Ｈ2は、３ゾーン試験の連続可能時間Ｈ3
よりも大きい値とする。
連続運転可能時間Ｈ2を各試験時間の和で除した値を除
霜サイクル数として自動設定する（Ｓ３）。ここで、連
続運転可能時間Ｈ2は、３ゾーン試験の連続可能時間Ｈ3
よりも大きい値とする。
【００３３】その後、２ゾーン試験の予熱温度を、高温
試験温度＋１５℃の値に、高温試験温度値に基づく補正
値ε1と、高温試験温度と低温試験温度の温度差による
補正値ε2とを加えた値として求める（Ｓ４）。ここ
で、補正値ε1は高温試験温度が高くなるに比例して大
きくなる。補正値ε2も、高温試験温度と低温試験温度
の温度差が大きくなる程大きくなる。予冷温度は、低温
試験温度−１５℃の値に、低温試験温度値による補正値
ε3と、高温試験温度と低温試験温度の温度差による補
正値ε4を差し引いた値として求める（Ｓ５）。
試験温度＋１５℃の値に、高温試験温度値に基づく補正
値ε1と、高温試験温度と低温試験温度の温度差による
補正値ε2とを加えた値として求める（Ｓ４）。ここ
で、補正値ε1は高温試験温度が高くなるに比例して大
きくなる。補正値ε2も、高温試験温度と低温試験温度
の温度差が大きくなる程大きくなる。予冷温度は、低温
試験温度−１５℃の値に、低温試験温度値による補正値
ε3と、高温試験温度と低温試験温度の温度差による補
正値ε4を差し引いた値として求める（Ｓ５）。
【００３４】３ゾーン試験の場合も２ゾーン試験の場合
と同様になるが、２ゾーン試験と比較すると、予熱温度
は低目に、予冷温度は高く設定する。すなわち、除霜サ
イクル数は、連続運転可能時間Ｈ3を各試験時間の和で
除した値をとして自動設定する（Ｓ６）。予熱温度は、
高温試験温度＋１０℃の値に、高温試験温度値に基づく
補正値ε5と、高温試験温度と雰囲気温度の温度差によ
る補正値ε6とを加えた値として求める（Ｓ７）。予冷
温度は、低温試験温度−１０℃の値に、低温試験温度値
による補正値ε7と、高温試験温度と雰囲気温度の温度
差による補正値ε8を差し引いた値として求める（Ｓ
８）。
と同様になるが、２ゾーン試験と比較すると、予熱温度
は低目に、予冷温度は高く設定する。すなわち、除霜サ
イクル数は、連続運転可能時間Ｈ3を各試験時間の和で
除した値をとして自動設定する（Ｓ６）。予熱温度は、
高温試験温度＋１０℃の値に、高温試験温度値に基づく
補正値ε5と、高温試験温度と雰囲気温度の温度差によ
る補正値ε6とを加えた値として求める（Ｓ７）。予冷
温度は、低温試験温度−１０℃の値に、低温試験温度値
による補正値ε7と、高温試験温度と雰囲気温度の温度
差による補正値ε8を差し引いた値として求める（Ｓ
８）。
【００３５】次に補正値ε1〜ε8について、２ゾーン試
験において高温試験温度１５０℃から低温試験温度−５
０℃に温度変化させる場合を例として説明する。
験において高温試験温度１５０℃から低温試験温度−５
０℃に温度変化させる場合を例として説明する。
【００３６】１５０℃から−５０℃に温度降下させると
きに要する時間ｔは、下記数式１で求めることができ
る。
きに要する時間ｔは、下記数式１で求めることができ
る。
【００３７】
【数１】
【００３８】ここで、−５０℃に早く到達させるために
は、１５０℃の熱量を、−５０℃以下の予冷温度で蓄冷
した熱量でキャンセルし、かつ装置の冷却能力で目標温
度に到達させることが必要である。そして、予冷温度を
低くする程、蓄冷量を大きくすることができるが、大き
くし過ぎると目標温度以下になり過ぎる、いわゆるアン
ダシュートが発生する。
は、１５０℃の熱量を、−５０℃以下の予冷温度で蓄冷
した熱量でキャンセルし、かつ装置の冷却能力で目標温
度に到達させることが必要である。そして、予冷温度を
低くする程、蓄冷量を大きくすることができるが、大き
くし過ぎると目標温度以下になり過ぎる、いわゆるアン
ダシュートが発生する。
【００３９】そこで、補正値ε1〜ε8は、下記数式２〜
９で求めることができる。
９で求めることができる。
【００４０】
【数２】ε1＝ａ1×θx （ａ1＞０）
【００４１】
【数３】ε2＝ｂ2×（θx−θi） （ｂ2＞０）
【００４２】
【数４】ε3＝ａ3×θx （ａ3＞０）
【００４３】
【数５】ε4＝ｂ4×（θi−θx） （ｂ4＞０）
【００４４】
【数６】ε5＝ａ5×θx （ａ5＞０）
【００４５】
【数７】ε6＝ｂ6×（θx−θi） （ｂ6＞０）
【００４６】
【数８】ε7＝ａ7×｜θx｜ （ａ7＞０）
【００４７】
【数９】ε8＝ｂ8×（θi−θx） （ｂ8＞０）こ
こで、ａ1、ｂ2、ａ3、ｂ4、ａ5、ｂ6、ａ7、ｂ8は、そ
れぞれ比例定数であり、製品の能力特性、試験データよ
り決定される。また、各比例定数は、試験室に設置する
試験物の質量でも大きく作用されるため、試験物の重量
に応じても、対応させている。
こで、ａ1、ｂ2、ａ3、ｂ4、ａ5、ｂ6、ａ7、ｂ8は、そ
れぞれ比例定数であり、製品の能力特性、試験データよ
り決定される。また、各比例定数は、試験室に設置する
試験物の質量でも大きく作用されるため、試験物の重量
に応じても、対応させている。
【００４８】図３は、２ゾーン試験における高温室試験
温度、試験室温度、低温室試験温度の温度変化を示した
ものである。また、図４は、図３における部分Ａの拡大
図である。図４に示すように、最初の低温試験において
は、アンダーシュートが発生する。これは、高温から低
温への通常のサイクル運転に比べて、温度差が少ないた
めで、初期（１回）のみ、予冷温度を高く設定し、アン
ダシュートの防止を図っている。
温度、試験室温度、低温室試験温度の温度変化を示した
ものである。また、図４は、図３における部分Ａの拡大
図である。図４に示すように、最初の低温試験において
は、アンダーシュートが発生する。これは、高温から低
温への通常のサイクル運転に比べて、温度差が少ないた
めで、初期（１回）のみ、予冷温度を高く設定し、アン
ダシュートの防止を図っている。
【００４９】図５は、３ゾーン試験における高温室試験
温度、試験室温度、低温室試験温度の温度変化を示した
ものである。低温試験と高温試験の間に常温試験が設け
られている。
温度、試験室温度、低温室試験温度の温度変化を示した
ものである。低温試験と高温試験の間に常温試験が設け
られている。
【００５０】これらにより、本冷熱衝撃試験装置は、高
温試験温度、低温試験温度、高温試験時間、低温試験時
間及び常温試験時間を読込み、これらの内容に基づいて
予熱温度、予冷温度及び除霜サイクル数をそれぞれ自動
設定するので、オペレータの負担を大幅に軽減される。
また、予熱温度、予冷温度及び除霜サイクル数につい
て、設定誤りを大幅に低減することができるのみなら
ず、最適値により近づけることができるので、試験時間
を短縮することができ、着霜による運転を停止等をも防
止することができ、効率的な運転が可能となる。
温試験温度、低温試験温度、高温試験時間、低温試験時
間及び常温試験時間を読込み、これらの内容に基づいて
予熱温度、予冷温度及び除霜サイクル数をそれぞれ自動
設定するので、オペレータの負担を大幅に軽減される。
また、予熱温度、予冷温度及び除霜サイクル数につい
て、設定誤りを大幅に低減することができるのみなら
ず、最適値により近づけることができるので、試験時間
を短縮することができ、着霜による運転を停止等をも防
止することができ、効率的な運転が可能となる。
【００５１】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、予
熱温度、予冷温度及び除霜サイクル数を自動的に設定
し、高温試験温度又は低温試験温度を途中で変更した場
合は予熱、予冷温度を自動的に補正することができるの
で、オペレータの負担を大幅に軽減した冷熱衝撃試験装
置を提供することができる。
熱温度、予冷温度及び除霜サイクル数を自動的に設定
し、高温試験温度又は低温試験温度を途中で変更した場
合は予熱、予冷温度を自動的に補正することができるの
で、オペレータの負担を大幅に軽減した冷熱衝撃試験装
置を提供することができる。
【００５２】また、本発明によれば、冷熱衝撃試験を最
適な設定の下で実行することができるので、ランニング
コストを低減することができる。さらにまた、本発明に
よれば、試験状態が高温から低温、低温から高温へ変化
する時に、予熱、予冷が最適化されることにより、最高
の立上り、立下り特性を得ることができる。
適な設定の下で実行することができるので、ランニング
コストを低減することができる。さらにまた、本発明に
よれば、試験状態が高温から低温、低温から高温へ変化
する時に、予熱、予冷が最適化されることにより、最高
の立上り、立下り特性を得ることができる。
【図１】発明の実施の形態に係る冷熱衝撃試験装置を示
す構成図である。
す構成図である。
【図２】図１に示す冷熱衝撃試験装置における自動設定
装置の動作を示すフローチャートである。
装置の動作を示すフローチャートである。
【図３】図１に示す冷熱衝撃試験装置の動作を示す試験
温度サイクル図である。
温度サイクル図である。
【図４】図３における部分Ａの拡大図である。
【図５】図１に示す冷熱衝撃試験装置の他の動作を示す
試験温度サイクル図である。
試験温度サイクル図である。
１ 冷熱衝撃試験装置本体 ２ 試験室 ３ 高温室 ４ 低温室 ５ コントローラ ６ 液晶表示器 ７ 周囲温度センサ Ｈ2，Ｈ3 連続運転可能時間 ε1，ε2，ε3，ε4，ε5，ε6，ε7，ε8 補正係数
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 尾関 弘行 静岡県清水市村松390番地 日立清水エン ジニアリング株式会社内
Claims (3)
- 【請求項１】 冷凍サイクルを構成する蒸発器及び再加
熱器を収容した低温室と、加熱器を収容した高温室と、
前記低温室及び前記高温室を択一的に試験室に連通させ
る手段とを具備し、前記低温室からの冷風あるいは前記
高温室からの熱風を前記試験室に交互に供給し、該試験
室内の雰囲気温度を任意温度に保ち、該試験室内の試料
についての冷熱衝撃試験をする装置において、 高温試験をするときの前記試験室の目標温度である高温
試験温度と、低温試験をするときの前記試験室の目標温
度である低温試験温度と、高温試験の継続時間である高
温試験時間と、低温試験の継続時間である低温試験時間
と、常温試験の継続時間である常温試験時間と、少なく
とも高温試験と低温試験からなる試験サイクルを何回繰
り返すかを示す数である試験サイクル数とを、それぞれ
設定する設定手段を具備し、 前記設定手段における設定の完了を自動検出し、前記設
定手段における設定内容に応じて、高温試験をする直前
の高温室内の温度である予熱温度、低温試験をする直前
の低温室内の温度である予冷温度、前記蒸発器の除霜を
する回数である除霜サイクル数、をそれぞれ自動設定す
る自動設定手段と、その自動設定した設定値を外部から
変更する変更手段とを有することを特徴とする冷熱衝撃
試験装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の冷熱衝撃試験装置におい
て、高温試験温度の設定値及び低温試験温度の設定値を
雰囲気温度と比較する手段を備え、自動設定手段は、高
温試験温度と低温試験温度との温度差から予熱温度及び
予冷温度を自動設定し、高温試験温度又は低温試験温度
が変更されたことを自動検出して、予熱温度及び予冷温
度を自動補正することを特徴とする冷熱衝撃試験装置。 - 【請求項３】 請求項１記載の冷熱衝撃試験装置におい
て、自動設定手段が、予熱温度を、高温試験温度＋αの
値に基づいて算出し、予冷温度を、低温試験温度＋βの
値に基づいて算出し、除霜サイクル数を、高温試験時間
＋低温試験時間＋γの値に基づいて算出して、それぞれ
設定値とすることを特徴とする冷熱衝撃試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00545096A JP3341073B2 (ja) | 1996-01-17 | 1996-01-17 | 冷熱衝撃試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00545096A JP3341073B2 (ja) | 1996-01-17 | 1996-01-17 | 冷熱衝撃試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09196839A true JPH09196839A (ja) | 1997-07-31 |
| JP3341073B2 JP3341073B2 (ja) | 2002-11-05 |
Family
ID=11611555
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00545096A Expired - Lifetime JP3341073B2 (ja) | 1996-01-17 | 1996-01-17 | 冷熱衝撃試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3341073B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030078539A (ko) * | 2002-03-30 | 2003-10-08 | 한국하니웰 주식회사 | 열충격장치의 컨트롤러 |
| CN105910939A (zh) * | 2016-06-03 | 2016-08-31 | 无锡市奥斯韦特科技有限公司 | 回液控制系统及其控制方式 |
-
1996
- 1996-01-17 JP JP00545096A patent/JP3341073B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030078539A (ko) * | 2002-03-30 | 2003-10-08 | 한국하니웰 주식회사 | 열충격장치의 컨트롤러 |
| CN105910939A (zh) * | 2016-06-03 | 2016-08-31 | 无锡市奥斯韦特科技有限公司 | 回液控制系统及其控制方式 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3341073B2 (ja) | 2002-11-05 |
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