JPH09184806A - 発光分光分析装置 - Google Patents

発光分光分析装置

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JPH09184806A
JPH09184806A JP34317695A JP34317695A JPH09184806A JP H09184806 A JPH09184806 A JP H09184806A JP 34317695 A JP34317695 A JP 34317695A JP 34317695 A JP34317695 A JP 34317695A JP H09184806 A JPH09184806 A JP H09184806A
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diffraction grating
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light
wavelength
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Mitsuo Yamashita
光夫 山下
Tomoyuki Hirano
智之 平野
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Abstract

(57)【要約】 【課題】外部からの振動や熱の影響などで発生する回折
格子のドリフトを防いで回折角度を安定に保ち、測定精
度を向上する。 【解決手段】回折格子6をモータ12で直接的に高分解
能で回転駆動して分光する光10の波長を走査する分光
器で、モータ12を停止したときに、ピンシリンダー1
3の軸が上から下向にのび、回折格子6の回転軸に一体
的に取り付けられた円板11を当たり14との間に挟ん
で保持することによって回折格子の回転方向のドリフト
を防ぐ。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はICP(誘導結合プ
ラズマ)やスパーク放電を光源として元素に固有の発光
スペクトルを測光して元素分析を行う発光分光分析装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、シーケンシャル型と呼ばれる発
光分光分析装置は、内部に波長走査可能な分光器を備
え、試料からの放射光を回折格子で各波長のスペクトル
光に分光し、そのスペクトル光のうちの特定波長の光を
検出することによって試料に含まれる元素の定性・定量
分析を行う。特定の波長のスペクトル光を選別するため
には分光波長の走査を行う必要があるが、そのために、
従来装置では周知のサインバー機構などによって回折格
子の角度を変えるようにしている。
【0003】従来の装置において、回転駆動される回折
格子の角度位置精度はサインバーの精度に依存している
が、サインバー機構は機械的なリンク機構であるのでそ
の精度を高めるためには組立や調整に手数を要すばかり
でなく、装置全体が高価格になるなどの不都合があっ
た。これを解決するために、回折格子を直接的にステッ
ピングモータによって回転駆動する試みがなされてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】回折格子の回転軸とス
テッピングモータの駆動軸を直結し直接的に回折格子を
駆動する場合に、分光器の要求仕様としての高い分解能
を得るためには、ステッピングモータの駆動方式として
細かいステップ角で駆動する高分解能駆動方式をとるこ
とになる。ステッピングモータの高分解能駆動は、それ
用のドライバ装置が市販されており周知の技術である
が、ステッピングモータを停止しているときにそのまま
保持する力(すなわち静止トルク)が比較的小さいため
に外部から加えられる力によって軸が動きやすい。
【0005】分光器の回折格子を駆動する場合には、高
分解能でしかも高精度な駆動が必要であり、それに加え
て停止時にそのままその位置にとどまることが要求され
る。本発明の目的は、回折格子を直接的にステッピング
モータなどで回転駆動する場合に、モータの停止時に、
外部からの振動や熱の影響などで発生する回折格子角度
のドリフトを防ぐことにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、試料から放射された光を分光する回折格
子と、この分光された光を検出する検出器と、分光検出
される光の波長を走査するためにこの回折格子を直接的
に回転駆動するモータを有する発光分光分析装置におい
て、前記モータによる駆動を停止して前記回折格子の回
転を停止したときに回折格子をその角度位置に固定する
保持手段を備えた。
【0007】回折格子を回転駆動するモータを止めたと
きに、回折格子をその角度位置にとどまらせておく力は
モータの静止トルクであるが、この静止トルクが弱く外
部からの何らかの力によって回折格子が動こうとした場
合でも、保持手段によって回折格子は固定されているの
で動くことがない。したがって発光分析装置において試
料からの発光スペクトル強度を測定している最中に回折
格子がドリフトして分光波長が変わってしまうなどの不
具合を生じることがなく、常に安定した定量結果を得る
ことができる。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は本発明を実施した発光分光
分析装置の一形態を示す平面図である。分析されるべき
試料は誘導結合プラズマやスパーク放電などの光源部2
で励起され、光源2から発せられた光はツェルニターナ
マウント型の分光器1によって分光検出されて試料に含
まれる元素が定性・定量分析される。
【0009】分光器1は次のように構成されている。光
源2からの光10は集光レンズ3によって入射スリット
4の位置に集光され、入射スリット4を通過した光10
は凹面形をしたミラー5によって反射され、回折格子6
にあてられる。回折格子6で回折された光は凹面形のミ
ラー7によって反射され、出射スリット8を通過して光
電子増倍管などの検出器9で検出される。検出器9で検
出される光の波長は回折格子6を矢印Aのように回転さ
せることによって変えられるので、回折格子6を回転し
ながら(波長を走査しながら)検出器9で検出される光
の強度を記録することによって光源2からの光10のス
ペクトルを測定することができ、このスペクトルから試
料に含まれる元素の定性分析と定量分析を行う。
【0010】回折格子6の回転および回転を止めたとき
の保持は、図2に回折格子6付近の要部を立面図として
示したように行う。回折格子6を取り付けてある取付台
11をモータ13の軸に直結し、モータ13によって取
付台11とともに回折格子6を直接的に回転駆動するよ
うにしている。モータ13はステッピングモータであ
り、これを高分解能駆動することにより所定の必要な角
度分解能で回折格子6が回転される。回折格子6の取付
台11には円板12が一体的に取り付けてあり、モータ
13の回転を止めて、ある波長の光の強度を測定する場
合には、ピンシリンダー14によって取付台11を固定
保持する。ピンシリンダー14は空気圧などによって駆
動されるシリンダーであり、その軸は矢印Bのように上
下動する。さらに円板12を挟んでピンシリンダー14
と対向するように当たり15が設けられている。円板1
2を固定する場合には、ピンシリンダー14の軸を円板
12に押しあて、それと同期して当たり15を下から円
板12に押しあてて、円板12を両方で挟むようにして
円板12を固定し、それに伴って取付台11とそれに取
り付けられた回折格子6が固定保持される。こうするこ
とによって、ステッピングモータを高分解能駆動した場
合の静止トルクの不足から来る回折格子のドリフトを防
ぐことができる。
【0011】図3に回折格子を固定する保持手段の他の
実施の形態例を示す。図3(a)は回折格子の取付台の
円板11を板バネ22の先につけられたニードル23に
よって押さえるものである。空気圧などによって駆動さ
れるシリンダー21を矢印Cのように動かして下げるこ
とによって、板バネ22を介して先端が比較的とがった
ニードルによって円板11を押さえる。板バネ22の弾
性によって円板12を緩やかに押さえるので、上からの
力を別の当たりを設けて下から支える必要がない。なお
板バネ22のかわりに、弾性のあるものならば、棒状の
バネやコイル状のバネ、その他金属以外の例えばゴムや
プラスチック材料の弾性体を使用することができる。
【0012】図3(b)は円板11の近傍に電磁石24
を設け、円板11を固定保持する場合には電磁石24に
電流を流し、それによって発生する磁力によって円板1
1を引きつけ固定するものである。ただしこの場合には
円板11の材料を鉄系材料などの透磁率の高いもの(磁
石にくっつくもの)で作る必要がある。
【0013】
【発明の効果】本発明によれば、回折格子を直接的にス
テッピングモータなどで回転駆動する場合に、回折格子
の動きを止める保持手段によって回折格子を固定するの
で、外部からの振動や熱の影響などで発生する回折格子
角度のドリフトを防ぐことができる。したがって発光分
析装置において試料からの発光スペクトル強度を測定し
ている最中に回折格子がドリフトして分光波長が変わっ
てしまい、結果的に定量精度を悪くすることがなくなり
常に安定した定量結果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の発光分光分析装置の一実施の形態を示
す概略図である。
【図2】本発明の要部の一実施の形態を示す図である。
【図3】本発明の要部の他の実施の形態を示す図であ
る。
【符号の説明】
1…分光器 2…光源 3…レンズ 4…入射スリット 5…ミラー 6…回折格子 7…ミラー 8…出射スリット 9…検出器 10…光 11…取付台 12…円板 13…モータ 14…ピンシリンダー 15…当たり 21…シリンダー 22…板バネ 23…ニードル 24…電磁石

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料から放射された光を分光する回折格
    子と、この分光された光を検出する検出器と、分光検出
    される光の波長を走査するためにこの回折格子を直接的
    に回転駆動するモータを有する発光分光分析装置におい
    て、前記モータによる駆動を停止して前記回折格子の回
    転を停止したときに回折格子をその角度位置に固定する
    保持手段を備えることを特徴とする発光分光分析装置。
JP07343176A 1995-12-28 1995-12-28 発光分光分析装置 Expired - Fee Related JP3085179B2 (ja)

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US7173695B2 (en) 2002-01-24 2007-02-06 Nikon Corporation Spectroscope with thermal compensation mechanism
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