JP2000088648A - 分光分析装置 - Google Patents

分光分析装置

Info

Publication number
JP2000088648A
JP2000088648A JP11246179A JP24617999A JP2000088648A JP 2000088648 A JP2000088648 A JP 2000088648A JP 11246179 A JP11246179 A JP 11246179A JP 24617999 A JP24617999 A JP 24617999A JP 2000088648 A JP2000088648 A JP 2000088648A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diffraction grating
exit slit
axis
mandrel
spectroscopic analyzer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11246179A
Other languages
English (en)
Inventor
Bargen Kenneth P Von
ピー. ボンバーゲン ケネス
Karl H Norris
エイチ.ノリス カール
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
FOSS NIRSYST Inc
Original Assignee
FOSS NIRSYST Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by FOSS NIRSYST Inc filed Critical FOSS NIRSYST Inc
Publication of JP2000088648A publication Critical patent/JP2000088648A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/06Scanning arrangements arrangements for order-selection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0202Mechanical elements; Supports for optical elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ホログラフィック球面回折格子を用いて入射
光をスペクトルに分散し、全ての範囲のスペクトルに亘
って焦点を整合することのできる分光分析装置を提供す
ることを目的とする。 【解決手段】 本発明に係る加速度センサは、光を出口
スリットへ向けたスペクトルに分散するために回転して
焦点を整合する回折格子を有し、分散光の狭帯域幅が出
口スリットを通過し、出口スリットを通過する光の中心
波長が少なくともスペクトルの一部に亘って走査される
分光分析装置であって、回折格子が、回折格子の表面か
ら一定間隔を隔てた位置にある軸線上を回転され、軸線
が、回折格子が該回折格子によって分散された光を出口
スリットにおいて、スペクトルの一部に亘って実質的に
焦点整合させるように配置されることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ホログラフィック
球面回折格子を用いて入射光をスペクトルに分散する分
光分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】分光分析装置は、光を狭帯域幅に分散
し、これらの狭帯域幅を用いてサンプルの反射率又は透
過率を測定して物質及び色彩を分析する為に用いられ
る。特に、近赤外線領域で操作される分光分析装置は物
質の構成成分を決定したり物質を特定するだけでなく、
物質の物理特性を分析するためにも用いられる。
【0003】近年の分光分析装置は、ホログラフィック
球面回折格子を用いて入射光をスペクトルに分散する。
回折格子は分散スペクトルの狭帯域を幅出口スリットに
向け、その出口スリットを通過する。回折格子を選択さ
れた軸線上で回転させると、出口スリットを通過する光
の中心波長がスペクトルに亘って測定される。一般的な
装置では、回折格子は物質の分析を速く行うために高速
で振動される。
【0004】ホログラフィック球面回折格子は、分散ス
ペクトルの焦点を精度良く整合することが知られてい
る。回折格子は、分散スペクトルを出口スリットで焦点
整合して、出口スリットを通過する光が最狭の帯域幅を
与えるように配置されることが望ましい。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
球面回折格子を用いた分光分析装置においては、回折格
子は出口スリットを通過する光が分散スペクトルのうち
のある一つの波長となるように配置される。この配置に
より選択された波長においては最適な焦点整合をするこ
とができるが、全てのスペクトルに亘って最適な焦点整
合を得ることができるわけではない。
【0006】そこで、本発明は、回折格子が振動する際
に、出口スリットを通過する光が、全ての範囲のスペク
トルに亘って最適に焦点整合され、装置によって測定さ
れる全ての範囲のスペクトルに亘って出口スリットを通
過する帯域幅の焦点整合を実質的に改良し、標準化する
ことを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
前述の課題を解決するために、光を出口スリットへ向け
たスペクトルに分散するために回転して焦点を整合する
回折格子を有し、前記分散光の狭帯域幅が前記出口スリ
ットを通過し、前記出口スリットを通過する光の中心波
長が少なくともスペクトルの一部に亘って走査される分
光分析装置であって、前記回折格子が、前記回折格子の
表面から一定間隔を隔てた位置にある軸線上を回転さ
れ、前記軸線が、前記回折格子が該回折格子によって分
散された光を前記出口スリットにおいて、前記スペクト
ルの前記一部に亘って実質的に焦点整合させるように配
置される。
【0008】請求項2に係る発明は、前述の課題を解決
するために、請求項1に記載の分光分析装置において、
前記回折格子が、前記軸線を中心とした心棒上に載せら
れ、前記回折格子が前記心棒に接続されて前記心棒を動
かすモーターによって回転される。
【0009】請求項3に係る発明は、前述の課題を解決
するために、請求項1に記載の分光分析装置において、
前記回折格子が、支持台に載せられ、前記支持台が、前
記支持台と前記回折格子の結合体が前記軸線上で重心を
持つように構築されている。
【0010】請求項4に係る発明は、前述の課題を解決
するために、請求項3に記載の分光分析装置において、
前記支持台が、前記軸線を中心とした心棒上に載せら
れ、前記心棒を動かすモーターが設けられ、前記回折格
子を回転させる。
【0011】請求項5に係る発明は、前述の課題を解決
するために、請求項1に記載の分光分析装置において、
前記軸線が、前記回折格子よりも前記出口スリットから
離れている。
【0012】請求項6に係る発明は、前述の課題を解決
するために、請求項1に記載の分光分析装置において、
入口スリットを通過して、前記回折格子を照射する光源
をさらに有する。
【0013】請求項7に係る発明は、前述の課題を解決
するために、請求項1に記載の分光分析装置において、
前記回折格子が、ホログラフィック回折格子である。
【0014】請求項8に係る発明は、前述の課題を解決
するために、入射光を出口スリットへ向けたスペクトル
に分散するために回転して焦点を整合する回折格子を有
し、前記分散光の狭帯域幅が出口スリットを通過し、前
記出口スリットを通過する光の中心波長が少なくとも前
記スペクトルの所定の一部に亘って走査される分光分析
装置であって、前記回折格子が、該回折格子の表面から
一定間隔を隔てた位置にある軸線上で、前記出口スリッ
トを第1中心波長で通過するよう前記出口スリットを通
過する分散光の焦点を整合する第1位置から、前記出口
スリットを第2中心波長で通過するよう前記出口スリッ
トを通過する分散光の焦点を整合する第2位置へ回転さ
れる位置に配置される。
【0015】請求項9に係る発明は、前述の課題を解決
するために、請求項8に記載の分光分析装置において、
前記回折格子が、前記軸線上を所定の範囲で回転し、前
記回折格子が前記所定の範囲の一端に近づいたときに前
記第1中心波長が前記出口スリットを通過し、前記回折
格子が前記所定の範囲の多端に近づいたときに前記第2
中心波長が前記出口スリットを通過する。
【0016】請求項10に係る発明は、前述の課題を解
決するために、請求項8に記載の分光分析装置におい
て、前記回折格子が、前記軸線を中心とした心棒上に載
せられ、前記回折格子が前記心棒に接続されて前記心棒
を動かすモーターによって回転される。
【0017】請求項11に係る発明は、前述の課題を解
決するために、請求項8に記載の分光分析装置におい
て、前記回折格子が、支持台に載せられ、前記支持台
が、前記支持台と前記回折格子の結合体が前記軸線上で
重心を持つように構築されている。
【0018】請求項12に係る発明は、前述の課題を解
決するために、請求項11に記載の分光分析装置におい
て、前記支持台が、前記軸線を中心とした心棒上に載せ
られ、前記心棒を動かすモーターが設けられ、前記回折
格子を回転させる。
【0019】請求項13に係る発明は、前述の課題を解
決するために、請求項8に記載の分光分析装置におい
て、前記軸線が、前記回折格子よりも前記出口スリット
から離れている。
【0020】請求項14に係る発明は、前述の課題を解
決するために、請求項8に記載の分光分析装置におい
て、入口スリットを介して、前記回折格子を照射する光
源をさらに有する。
【0021】請求項15に係る発明は、前述の課題を解
決するために、請求項8に記載の分光分析装置におい
て、前記回折格子が、ホログラフィック回折格子であ
る。
【0022】
【発明の実施の形態】本発明は、図1に示したように、
回折格子システムに導入される。図1に示したように、
ホログラフィック球面回折格子11は、モーター13に
よって振動されるように回転自在に設置されており、モ
ーター13の心棒14によって直接駆動される。回折格
子11は42度の間で、高速で振動される。光源15か
らの光は入口スリット17を通過して平面ミラー19に
入射する。平面ミラー19で反射された光は、回折格子
11の格子表面21全体を照射する。格子表面21は光
をスペクトルに分散し、分散光は回折格子11から反射
されて出口スリット23を通過する。分散スペクトルの
狭帯域波長が出口スリット23を通過して、サンプル又
は標準物質25を照射する。サンプル又は標準物質25
は入射光を拡散反射してその拡散反射光は光検出器27
によって検出される。
【0023】図1に示した実施例は、サンプルを反射率
によって分析する為の配置である。しかし、この装置
は、サンプル25と光検出器27の配置を変えて、透過
性のあるサンプルを透過した光を光検出器が受けるよう
にしてもよい。代替的には、幅広いスペクトルの光が拡
散的にサンプルから反射し、又はサンプルを透過して、
サンプルから反射した光又はサンプルを透過した光が回
折格子を照射するようにしてもよい。
【0024】従来の回折格子システムにおいては、ホロ
グラフィック球面回折格子が振動する軸線は回折格子の
格子表面の中心に接していた。回折格子が振動すると、
出口スリットを通過する光の狭帯域幅がスペクトルに亘
って測定される。可視−赤外線システムにおいては、波
長は一般的に400nm〜2500nmの間で測定され
る。回折格子は出口スリットを透過する光の狭帯域幅が
ある一つの特定の中心波長に焦点整合されるように配置
される。一般的な近赤外線分光分析装置では、回折格子
を2500nmの波長が出口スリットを通過する極限振
動位置で焦点整合し、その他の位置ではよい焦点整合が
得られない。
【0025】図2は、本発明に係る回折格子11がモー
ター13の心棒14によって駆動される様子を示してい
る。回転軸29は、回折格子11を第1位置と第2位置
に配置し、回折格子11をその第1配置位置から第2配
置位置へ回転させる軸線を選ぶことによって決定され
る。回折格子11は、第1位置において、第1回折格子
位置で光を焦点整合し、第2位置において、第1位置と
は実質的に異なる波長となるよう第1回折格子位置とは
異なる回折格子位置で光を焦点整合する。選択された角
度の回折格子位置を焦点整合する位置は、回折格子11
と出口スリット23の間の距離を、出口スリット23を
通過する狭帯域幅が最少となる距離となるよう調整する
ことによって決定される。図2は回折格子11の格子表
面21の屈曲部の半径が192.4mmである例を示し
ている。同図において、参照ラインRは、図1に示した
出口スリット23と同一平面上で、垂直な関係にある。
回折格子11は分散光を出口スリット23で焦点整合す
る2つの位置で示されている。これらの2つの位置で、
回折格子11は参照ラインRに対してプラス31度とマ
イナス11度の間で回転される。
【0026】回折格子11の中心は、回折格子11がプ
ラス31度の位置に回転されたとき、出口スリット23
から184.9mmで、入口スリット17から(平面ミ
ラー19で折り曲げられて)206.9mmの位置にあ
る。入口スリット17を通過し、平面ミラー29の中心
で反射された光は、回折格子11に参照ラインRに対し
て38度の角度で当たる。回折格子11がプラス31度
の角度で回転される第1位置では、格子表面21の中心
はA点に位置する。このA点では、出口スリットを通過
する分散光の中心波長は2500nmである。回折格子
がマイナス11度の角度で回転される第2位置では、格
子表面21の中心はB点に位置する。このB点では、出
口スリット23を通過する分散光の中心波長は400n
mである。回折格子11を第1位置から第2位置に回転
させるためには、回折格子11は軸線29上を回転し、
格子表面21の中心をA点からB点まで弧31上をシフ
トし、回折格子11を角度位置プラス31度のA点から
角度位置マイナス11度のB点に回転させる。 軸線2
9は参照ラインRから9mm下で、参照ラインRに垂直
な線から4mm後方で、A点を通過する。回折格子11
が軸線29上を回転するとき、出口スリット23を通過
する分散光は、2500nmから400nmの間の全て
の範囲に亘って実質的に焦点整合される。
【0027】この効果は以下の表1に示している。
【表1】 出口スリット23で焦点整合された光を得ることによっ
て、より狭い帯域幅の光が出口スリット23を通過す
る。表1は各3つの中心波長945nm、1392n
m、2290nmにおける帯域幅を示している。「従来
の回折格子による帯域幅」とは、これらの3つの波長に
おいて、回転軸29が回折格子11の球面の中心に接し
ている場合に得られる帯域幅を示している。「本発明の
回折格子による帯域幅」とは、これらの3つの波長にお
いて、回折格子11の球面の中心が図2に示したように
A点とB点との間をシフトする場合に得られる帯域幅を
示している。帯域幅の限界は、ピーク強度の2分の1の
強度に落として測定した波長によって測定された。つま
り、本発明の回折格子11によって、全てのスペクトル
に亘って、10nm程度の帯域幅が得られることが明ら
かである。
【0028】回折格子11の球面の中心のシフトによっ
て、回折格子11の回転軸が回折格子の重心からずれる
傾向がある。高速で振動する回折格子においては、この
回転軸の重心からのずれは、モーター13を駆動し、回
折格子11を振動する心棒14を支えているベアリング
の摩耗を生じさせる。この問題を避けるために、回折格
子11は、図3及び図4に示したように、心棒14を受
入れる穴43を有する支持台41に載せられている。支
持台41は、穴43を2つに分割するくぼみ45を有
し、そのくぼみ45の両側に2つの板を形成する。ねじ
47は、2つの板を、穴を通して貫通し、2つの板を心
棒14に留め付け、回折格子11を心棒14の固定角度
位置にしっかりと取付ける。穴43は、回折格子11が
回転する軸線29が、図2に示したような選択位置に位
置させるように配置される。重心は支持台41にかか
り、基板を含む回折格子11と、支持台41との結合体
の重心が心棒14の軸線上にかかり、そのため、重心は
回折格子11が振動する軸線上にかかることになる。支
持台41は、回折格子11の裏面と係合する裏面部48
と、ねじ51によって裏面部48にねじ留めされ、回折
格子11のリムを受入れる弧状くぼみを形成する前面部
49を有している。前面部49は、内部に突出したタブ
53を穴43に対して末端位置に有しており、前表面回
折格子の一部分と係合して回折格子11が振動するとき
に固定されるようになっている。
【0029】本実施例では、ホログラフィック球面回折
格子を用いたが、出口スリットで分散光を焦点整合する
どのような回折格子が用いられてもよい。回折格子を回
転させる軸線を配置させる技術には、回折格子の走査範
囲の2つの極限における分散光を焦点整合させる回折格
子位置を決めることも含まれている。しかし、走査範囲
中の広く分離されたどのような2つの焦点整合位置から
決定されても良い。
【0030】
【発明の効果】本発明によれば、回折格子が振動する際
に、出口スリットを通過する光が、全ての範囲のスペク
トルに亘って最適に焦点整合され、装置によって測定さ
れる全ての範囲のスペクトルに亘って出口スリットを通
過する帯域幅の焦点整合を実質的に改良し、標準化する
ことができる。つまり、本発明の回折格子によって、全
てのスペクトルに亘って、10nm程度の帯域幅が得ら
れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る回折格子システムが導入された分
光分析装置を示す模式図である。
【図2】回折格子の回転軸のシフトを示す模式図であ
る。
【図3】回折格子と支持台との結合体を示す斜視図であ
る。
【図4】回折格子と支持台との結合体を示す斜視図であ
る。
【符号の説明】
11 回折格子 13 モーター 14 心棒 15 光源 17 入口スリット 19 平面ミラー 21 格子表面 23 出口スリット 25 サンプル 27 光検出器 29 軸線 41 支持台 43 穴 45 くぼみ 47 ねじ 48 裏面部 49 前面部 51 ねじ 53 タブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 597087712 12101 Tech Road Silve r Spring,Maryland 20904 U.S.A. (72)発明者 ケネス ピー. ボンバーゲン アメリカ合衆国 メリーランド 20740 カレッジ パーク シックスティーサード アベニュー 8801 (72)発明者 カール エイチ.ノリス アメリカ合衆国 メリーランド 20705 ベルツビル モンゴメリー アベニュー 11204

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光を出口スリットへ向けたスペクトルに分
    散するために回転して焦点を整合する回折格子を有し、
    前記分散光の狭帯域幅が前記出口スリットを通過し、前
    記出口スリットを通過する光の中心波長が少なくとも前
    記スペクトルの一部に亘って走査される分光分析装置で
    あって、 前記回折格子が、該回折格子の表面から一定間隔を隔て
    た位置にある軸線上を回転され、 前記軸線が、前記回折格子が該回折格子によって分散さ
    れた光を前記出口スリットにおいて、前記スペクトルの
    前記一部に亘って実質的に焦点整合させるように配置さ
    れる分光分析装置。
  2. 【請求項2】前記回折格子が、前記軸線を中心とした心
    棒上に載せられ、前記回折格子が前記心棒に接続されて
    前記心棒を動かすモーターによって回転される請求項1
    に記載の分光分析装置。
  3. 【請求項3】前記回折格子が、支持台に載せられ、前記
    支持台が、前記支持台と前記回折格子の結合体が前記軸
    線上で重心を持つように構築されている請求項1に記載
    の分光分析装置。
  4. 【請求項4】前記支持台が、前記軸線を中心とした心棒
    上に載せられ、前記心棒を動かすモーターが設けられ、
    前記回折格子を回転させる請求項3に記載の分光分析装
    置。
  5. 【請求項5】前記軸線が、前記回折格子よりも前記出口
    スリットから離れている請求項1に記載の分光分析装
    置。
  6. 【請求項6】入口スリットを通過して、前記回折格子を
    照射する光源をさらに有する請求項1に記載の分光分析
    装置。
  7. 【請求項7】前記回折格子が、ホログラフィック回折格
    子である請求項1に記載の分光分析装置。
  8. 【請求項8】入射光を出口スリットへ向けたスペクトル
    に分散するために回転して焦点を整合する回折格子を有
    し、前記分散光の狭帯域幅が出口スリットを通過し、前
    記出口スリットを通過する光の中心波長が少なくとも前
    記スペクトルの所定の一部に亘って走査される分光分析
    装置であって、 前記回折格子が、該回折格子の表面から一定間隔を隔て
    た位置にある軸線上で、前記出口スリットを第1中心波
    長で通過するよう前記出口スリットを通過する分散光の
    焦点を整合する第1位置から、前記出口スリットを第2
    中心波長で通過するよう前記出口スリットを通過する分
    散光の焦点を整合する第2位置へ回転される位置に配置
    される分光分析装置。
  9. 【請求項9】前記回折格子が、前記軸線上を所定の範囲
    で回転し、前記回折格子が前記所定の範囲の一端に近づ
    いたときに前記第1中心波長が前記出口スリットを通過
    し、前記回折格子が前記所定の範囲の多端に近づいたと
    きに前記第2中心波長が前記出口スリットを通過する請
    求項8に記載の分光分析装置。
  10. 【請求項10】前記回折格子が、前記軸線を中心とした
    心棒上に載せられ、前記回折格子が前記心棒に接続され
    て前記心棒を動かすモーターによって回転される請求項
    8に記載の分光分析装置。
  11. 【請求項11】前記回折格子が、支持台に載せられ、前
    記支持台が、前記支持台と前記回折格子の結合体が前記
    軸線上で重心を持つように構築されている請求項8に記
    載の分光分析装置。
  12. 【請求項12】前記支持台が、前記軸線を中心とした心
    棒上に載せられ、前記心棒を動かすモーターが設けら
    れ、前記回折格子を回転させる請求項11に記載の分光
    分析装置。
  13. 【請求項13】前記軸線が、前記回折格子よりも前記出
    口スリットから離れている請求項8に記載の分光分析装
    置。
  14. 【請求項14】入口スリットを介して、前記回折格子を
    照射する光源をさらに有する請求項8に記載の分光分析
    装置。
  15. 【請求項15】前記回折格子が、ホログラフィック回折
    格子である請求項8に記載の分光分析装置。
JP11246179A 1998-09-03 1999-08-31 分光分析装置 Pending JP2000088648A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/146424 1998-09-03
US09/146,424 US6031608A (en) 1998-09-03 1998-09-03 Spectroscopic instrument with offset grating to improve focus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000088648A true JP2000088648A (ja) 2000-03-31

Family

ID=22517300

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11246179A Pending JP2000088648A (ja) 1998-09-03 1999-08-31 分光分析装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6031608A (ja)
EP (1) EP0984253A3 (ja)
JP (1) JP2000088648A (ja)
CA (1) CA2279906C (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101619143B1 (ko) * 2015-12-15 2016-05-10 동우옵트론 주식회사 콘케이브형 회절격자의 최적화 방법을 이용한 혼합시료 분석시스템

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6751576B2 (en) 2000-03-10 2004-06-15 Cognis Corporation On-site agricultural product analysis system and method of analyzing
US7194369B2 (en) * 2001-07-23 2007-03-20 Cognis Corporation On-site analysis system with central processor and method of analyzing
US6636305B2 (en) 2001-09-13 2003-10-21 New Chromex, Inc. Apparatus and method for producing a substantially straight instrument image
US20050097021A1 (en) * 2003-11-03 2005-05-05 Martin Behr Object analysis apparatus
AU2006200712B1 (en) 2006-02-21 2006-09-28 Rosewood Research Pty Ltd Spectographic sample monitoring
US8857779B2 (en) 2009-03-30 2014-10-14 Ge Healthcare Bio-Sciences Ab Holder for a holographic grating
CN106197664A (zh) * 2016-06-30 2016-12-07 杭州泽天科技有限公司 光学分光装置及其调节方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2948184A (en) * 1957-07-03 1960-08-09 Gen Electric Concave grating spectrographic instrument
US3658424A (en) * 1971-01-14 1972-04-25 Spectra Metrics Inc Method of focusing the horizontal and vertical components from an echelle grating
US4264205A (en) * 1977-08-16 1981-04-28 Neotec Corporation Rapid scan spectral analysis system utilizing higher order spectral reflections of holographic diffraction gratings
US4436393A (en) * 1983-01-03 1984-03-13 Minnesota Mining And Manufacturing Company Distortion correction for an overhead projector system
JPH01128009A (ja) * 1987-11-12 1989-05-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光チューナ
US5015069A (en) * 1989-02-17 1991-05-14 Linear Instruments Off axis rotation of diffraction grating
JPH0650814A (ja) * 1990-01-30 1994-02-25 Seca Corp 多スペクトル反射率計
USH1152H (en) * 1990-09-27 1993-03-02 United States Of America Imaging channeled spectrograph
US5355188A (en) * 1993-09-09 1994-10-11 In Focus Systems, Inc. Method and apparatus for distortion correction in optical projectors
JP3254932B2 (ja) * 1994-09-30 2002-02-12 安藤電気株式会社 光スペクトル測定装置
JPH09210781A (ja) * 1996-01-31 1997-08-15 Ando Electric Co Ltd 分光装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101619143B1 (ko) * 2015-12-15 2016-05-10 동우옵트론 주식회사 콘케이브형 회절격자의 최적화 방법을 이용한 혼합시료 분석시스템

Also Published As

Publication number Publication date
CA2279906A1 (en) 2000-03-03
EP0984253A2 (en) 2000-03-08
US6031608A (en) 2000-02-29
EP0984253A3 (en) 2000-11-15
CA2279906C (en) 2008-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1103074A (en) Holographic diffraction grating system for rapid scan spectral analysis
US9036145B2 (en) Conoscopic illumination optical device with a hollow cone for an optical microscope and method of optical microscopy in conoscopy
JP2005518524A (ja) 顕微分光気体分析装置
US20050275844A1 (en) Variable Exposure Rotary Spectrometer
JP2001033384A (ja) 多走査ビーム反射率を用いる粒子評価のための方法および装置
JPS591971B2 (ja) ブンコウコウドケイ
WO2008008654A9 (en) Confocal spectrometer with astigmatic aperturing
JP2007121324A (ja) X線回折計
US5699156A (en) Spectrophotometer apparatus with dual light sources and optical paths, fiber optic pick-up and sample cell therefor
JP2000088648A (ja) 分光分析装置
JPS6315793Y2 (ja)
US6809812B2 (en) Spectral analysis system with moving objective lens
US10823614B2 (en) Device for providing variable sized aperture for a sample
JP7392856B2 (ja) 顕微ラマン分光測定装置、及び顕微ラマン分光測定装置の調整方法
JP5261862B2 (ja) 回折格子の迷光測定方法および装置
JP2002168694A (ja) 分光器
CN208350645U (zh) 一种拉曼光谱仪探头
KR101960223B1 (ko) 자동 가변 광 경로형 ftir 혼합가스측정장치
JP3085179B2 (ja) 発光分光分析装置
JPH03131742A (ja) 顕微方式分光光度計
JP2002372456A (ja) 赤外分光光度計
JPS61266926A (ja) 微分分光計
JP2943236B2 (ja) 全反射吸収スペクトル測定装置
JP2664632B2 (ja) 全反射蛍光x線分析装置
JP2000009666A (ja) X線分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060628

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081208

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090106

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090929