JPH09178699A - 残留塩素測定方法および残留塩素計 - Google Patents
残留塩素測定方法および残留塩素計Info
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- JPH09178699A JPH09178699A JP7342045A JP34204595A JPH09178699A JP H09178699 A JPH09178699 A JP H09178699A JP 7342045 A JP7342045 A JP 7342045A JP 34204595 A JP34204595 A JP 34204595A JP H09178699 A JPH09178699 A JP H09178699A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 結合型残留塩素の影響を排除して遊離残留塩
素を測定する。 【解決手段】 内部に２個の検出電極１６，１７と対極
６を配設した密閉容器４に一定方向に被検査液Ｓを流通
させ、被被検査液Ｓを攪拌しつつ、電流−電圧曲線にお
けるプラトー領域内であって互いに大きさの異なる一定
電圧Ｖa ，Ｖb を印加し、流れる電流の大きさを計測す
る。計測した電流値ｉa ，ｉb とその差Δｉと電流値ｉ
a に対応する残留塩素濃度ｆｃ１とを次の式に代入し
て、遊離残留塩素濃度ｆｃを算出する。ｆｃ＝（Ａ／Δ
ｉ）・ｆｃ１（ここで、Ａは結合型有効塩素の影響を排
除する補正係数である）
素を測定する。 【解決手段】 内部に２個の検出電極１６，１７と対極
６を配設した密閉容器４に一定方向に被検査液Ｓを流通
させ、被被検査液Ｓを攪拌しつつ、電流−電圧曲線にお
けるプラトー領域内であって互いに大きさの異なる一定
電圧Ｖa ，Ｖb を印加し、流れる電流の大きさを計測す
る。計測した電流値ｉa ，ｉb とその差Δｉと電流値ｉ
a に対応する残留塩素濃度ｆｃ１とを次の式に代入し
て、遊離残留塩素濃度ｆｃを算出する。ｆｃ＝（Ａ／Δ
ｉ）・ｆｃ１（ここで、Ａは結合型有効塩素の影響を排
除する補正係数である）
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、無試薬で遊離残留
塩素濃度を測定する残留塩素測定方法および残留塩素計
に関する。
塩素濃度を測定する残留塩素測定方法および残留塩素計
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の残留塩素計として、例えば図３に
示したようなポーラログラフ法を採用したものがある。
示したようなポーラログラフ法を採用したものがある。
【０００３】残留塩素計１は、下部に被検査液Ｓの導入
口２を形成し上部に排出口３を形成した密閉容器４の底
部に検出電極（金電極）５を配設し、検出電極５に対向
する密閉容器４内の上部に対極（銀／塩化銀電極）６を
側面より嵌挿した状態で配設しており、密閉容器４の外
部に、検出電極５と対極６との間に一定電圧を印加する
電源７、および一定電圧印加時に流れる電流の大きさを
計測する電流計８を設けている。そして、電流計８に接
続して、電流計８により計測された電流値を残留塩素濃
度として認識し、表示する表示装置９を設けている。
口２を形成し上部に排出口３を形成した密閉容器４の底
部に検出電極（金電極）５を配設し、検出電極５に対向
する密閉容器４内の上部に対極（銀／塩化銀電極）６を
側面より嵌挿した状態で配設しており、密閉容器４の外
部に、検出電極５と対極６との間に一定電圧を印加する
電源７、および一定電圧印加時に流れる電流の大きさを
計測する電流計８を設けている。そして、電流計８に接
続して、電流計８により計測された電流値を残留塩素濃
度として認識し、表示する表示装置９を設けている。
【０００４】密閉容器４の内部には、外部の駆動装置１
０より垂設した駆動軸１１の下端部に固着して攪拌翼１
２を設け、検出電極５の表面の研磨を行って感度低下を
防ぐセラミックビーズなどのビーズ状研磨材１３を充填
するとともに、被検査液Ｓの温度を測定して温度補償を
施すサーミスタ１４を設けている。
０より垂設した駆動軸１１の下端部に固着して攪拌翼１
２を設け、検出電極５の表面の研磨を行って感度低下を
防ぐセラミックビーズなどのビーズ状研磨材１３を充填
するとともに、被検査液Ｓの温度を測定して温度補償を
施すサーミスタ１４を設けている。
【０００５】この構成において、導入口２から排出口３
に向けて被検査液Ｓを流通させ、密閉容器４内の被検査
液Ｓを攪拌翼１１により攪拌しつつ、検出電極５と対極
６との間に電源７により一定電圧Ｖａを印加して、流れ
る電流の大きさｉａを電流計８により計測し、計測した
電流値を表示装置９において残留塩素濃度として認識
し、表示するようにしている。
に向けて被検査液Ｓを流通させ、密閉容器４内の被検査
液Ｓを攪拌翼１１により攪拌しつつ、検出電極５と対極
６との間に電源７により一定電圧Ｖａを印加して、流れ
る電流の大きさｉａを電流計８により計測し、計測した
電流値を表示装置９において残留塩素濃度として認識
し、表示するようにしている。
【０００６】残留塩素濃度の測定原理は、次のようなも
のである。残留塩素を含んだ被検査液Ｓ中で検出電極５
と対極６との間に外部から電圧を印加すると、検出電極
５上で Ｃｌ2 ＋２ｅ- → ２Ｃｌ- なる還元反応が起こり、図４に示したような、残留塩素
濃度に応じた電流−電圧曲線（ポーラログラム）が得ら
れる。図４から明らかなように、電流−電圧曲線では、
印加電圧を変化させて対極に対する検出電極の電位を下
げていくと、反応速度が増して電流が大きくなっていき
（領域(1))、さらに電位を下げていくと、電流値が全く
変化しなくなる（領域(2))。
のである。残留塩素を含んだ被検査液Ｓ中で検出電極５
と対極６との間に外部から電圧を印加すると、検出電極
５上で Ｃｌ2 ＋２ｅ- → ２Ｃｌ- なる還元反応が起こり、図４に示したような、残留塩素
濃度に応じた電流−電圧曲線（ポーラログラム）が得ら
れる。図４から明らかなように、電流−電圧曲線では、
印加電圧を変化させて対極に対する検出電極の電位を下
げていくと、反応速度が増して電流が大きくなっていき
（領域(1))、さらに電位を下げていくと、電流値が全く
変化しなくなる（領域(2))。
【０００７】これは、反応速度が十分速くなると（無限
大になると）、残留塩素が還元消費される検出電極５に
向けての残留塩素の拡散が反応に追いつけなくなって、
拡散速度が反応を支配するようになり、拡散速度は、被
検査液Ｓの攪拌速度を一定にしておけば、被検査液Ｓ中
の残留塩素濃度に比例するため、残留塩素濃度に比例し
た大きさの電流が流れるからである。
大になると）、残留塩素が還元消費される検出電極５に
向けての残留塩素の拡散が反応に追いつけなくなって、
拡散速度が反応を支配するようになり、拡散速度は、被
検査液Ｓの攪拌速度を一定にしておけば、被検査液Ｓ中
の残留塩素濃度に比例するため、残留塩素濃度に比例し
た大きさの電流が流れるからである。
【０００８】このため、残留塩素濃度を測定する際に
は、拡散速度が安定するように被検査液Ｓを一定速度で
攪拌するとともに、反応速度が十分速くなる（無限大に
なる）適当な大きさの電圧であって、残留塩素濃度に応
じた大きさの電流が流れるプラトー領域（領域(2))内の
一定電圧（たとえば点線で示した電圧）を印加して、電
流の大きさを計測するようにしている。
は、拡散速度が安定するように被検査液Ｓを一定速度で
攪拌するとともに、反応速度が十分速くなる（無限大に
なる）適当な大きさの電圧であって、残留塩素濃度に応
じた大きさの電流が流れるプラトー領域（領域(2))内の
一定電圧（たとえば点線で示した電圧）を印加して、電
流の大きさを計測するようにしている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記した従
来の残留塩素測定方法では、結合型有効塩素（結合型残
留塩素）の影響を受けるため、安定した測定結果を得る
ことができない。図５に示したような電流−電圧曲線が
得られる条件下であれば、プラトー領域内の一定電圧
（たとえば点線で示した電圧）を印加することによっ
て、結合型有効塩素（結合型残留塩素）の影響を受ける
ことなく遊離有効塩素（遊離残留塩素）濃度を測定でき
る。しかしながら、被検査液中の結合型有効塩素（結合
型残留塩素）の割合が大きくなる冬季等には、図６に示
したように電流−電圧曲線が右上がりとなって、プラト
ー領域が存在しなくなるため、遊離有効塩素（遊離残留
塩素）の測定誤差が大きくなるという問題がある。
来の残留塩素測定方法では、結合型有効塩素（結合型残
留塩素）の影響を受けるため、安定した測定結果を得る
ことができない。図５に示したような電流−電圧曲線が
得られる条件下であれば、プラトー領域内の一定電圧
（たとえば点線で示した電圧）を印加することによっ
て、結合型有効塩素（結合型残留塩素）の影響を受ける
ことなく遊離有効塩素（遊離残留塩素）濃度を測定でき
る。しかしながら、被検査液中の結合型有効塩素（結合
型残留塩素）の割合が大きくなる冬季等には、図６に示
したように電流−電圧曲線が右上がりとなって、プラト
ー領域が存在しなくなるため、遊離有効塩素（遊離残留
塩素）の測定誤差が大きくなるという問題がある。
【００１０】本発明は上記問題を解決するもので、結合
型残留塩素の影響度合いを知り、影響度合いに応じ補正
して、遊離残留塩素濃度をより正確に測定できるように
することを目的とするものである。
型残留塩素の影響度合いを知り、影響度合いに応じ補正
して、遊離残留塩素濃度をより正確に測定できるように
することを目的とするものである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に、本発明の残留塩素測定方法は、内部に２個の検出電
極と各検出電極に対向する少なくとも１個の対極とを配
設した密閉容器に一定方向に被検査液を流通させ、密閉
容器内の被検査液を攪拌しつつ、各検出電極と対極との
間にそれぞれ、塩素含有溶液の電流−電圧曲線において
電圧の大きさにかかわらず電流の大きさがほぼ一定とな
る領域内の電圧であって互いに大きさの異なる一定電圧
Ｖa ，Ｖb を印加して、流れる電流の大きさをそれぞれ
計測し、計測した電流値ｉa とｉb との差Δｉを算出す
るとともに、一方の電流値ｉa に対応する残留塩素濃度
ｆｃ１を求め、前記Δｉとｆｃ１とを以下の式 遊離残留塩素濃度ｆｃ＝（Ａ／Δｉ）・ｆｃ１ （ここで、Ａは結合型有効塩素の影響を排除する補正係
数である）に代入することにより遊離残留塩素濃度ｆｃ
を算出するようにしたものである。
に、本発明の残留塩素測定方法は、内部に２個の検出電
極と各検出電極に対向する少なくとも１個の対極とを配
設した密閉容器に一定方向に被検査液を流通させ、密閉
容器内の被検査液を攪拌しつつ、各検出電極と対極との
間にそれぞれ、塩素含有溶液の電流−電圧曲線において
電圧の大きさにかかわらず電流の大きさがほぼ一定とな
る領域内の電圧であって互いに大きさの異なる一定電圧
Ｖa ，Ｖb を印加して、流れる電流の大きさをそれぞれ
計測し、計測した電流値ｉa とｉb との差Δｉを算出す
るとともに、一方の電流値ｉa に対応する残留塩素濃度
ｆｃ１を求め、前記Δｉとｆｃ１とを以下の式 遊離残留塩素濃度ｆｃ＝（Ａ／Δｉ）・ｆｃ１ （ここで、Ａは結合型有効塩素の影響を排除する補正係
数である）に代入することにより遊離残留塩素濃度ｆｃ
を算出するようにしたものである。
【００１２】また本発明の残留塩素計は、被検査液が導
入口から排出口に向けて流通する密閉容器と、密閉容器
の内部に配設された２個の検出電極および各検出電極に
対向する少なくとも１個の対極と、密閉容器内の被検査
液を攪拌する攪拌手段と、各検出電極と対極との間にそ
れぞれ、塩素含有溶液の電流−電圧曲線において電圧の
大きさにかかわらず電流の大きさがほぼ一定となる領域
内の電圧であって互いに大きさの異なる一定電圧を印加
する電源と、前記一定電圧が印加された時に流れる電流
の大きさをそれぞれ計測する電流計と、各電流計に接続
する制御装置とを有し、前記制御装置は、予め決定され
た結合型有効塩素の影響を排除する補正係数を記憶し、
前記各電流計により計測された電流値間の差を算出し、
前記一方の電流計により計測された電流値に対応する残
留塩素濃度を求め、前記補正係数と電流値間の差と残留
塩素濃度とに基づいて遊離残留塩素濃度を算出し、算出
した遊離残留塩素濃度を表示するように構成したもので
ある。
入口から排出口に向けて流通する密閉容器と、密閉容器
の内部に配設された２個の検出電極および各検出電極に
対向する少なくとも１個の対極と、密閉容器内の被検査
液を攪拌する攪拌手段と、各検出電極と対極との間にそ
れぞれ、塩素含有溶液の電流−電圧曲線において電圧の
大きさにかかわらず電流の大きさがほぼ一定となる領域
内の電圧であって互いに大きさの異なる一定電圧を印加
する電源と、前記一定電圧が印加された時に流れる電流
の大きさをそれぞれ計測する電流計と、各電流計に接続
する制御装置とを有し、前記制御装置は、予め決定され
た結合型有効塩素の影響を排除する補正係数を記憶し、
前記各電流計により計測された電流値間の差を算出し、
前記一方の電流計により計測された電流値に対応する残
留塩素濃度を求め、前記補正係数と電流値間の差と残留
塩素濃度とに基づいて遊離残留塩素濃度を算出し、算出
した遊離残留塩素濃度を表示するように構成したもので
ある。
【００１３】上記した補正係数Ａは、たとえば以下のよ
うにして予め決定される。遊離有効塩素および結合型有
効塩素を適当濃度にて含んだ複数の塩素含有溶液につい
て、上記と同様にして、一定電圧Ｖa ，Ｖb を印加した
時の電流値ｉan，ｉbn、電流値ｉanとｉbnとの差Δｉn
、および電流値ｉanに対応する有効塩素濃度ｆｃ１n
を求めるとともに、吸光光度法や電流滴定法などの高精
度の塩素濃度測定法により遊離有効塩素濃度ｆｃ２n を
求め、前記Δｉn とｆｃ１n とｆｃ２n とを以下の式 ｆｃ２n ＝（ａn ／Δｉn ）・ｆｃ１n に代入することにより補正係数ａn を算出し、算出した
補正係数ａn の平均値を求めて補正係数Ａとする。
うにして予め決定される。遊離有効塩素および結合型有
効塩素を適当濃度にて含んだ複数の塩素含有溶液につい
て、上記と同様にして、一定電圧Ｖa ，Ｖb を印加した
時の電流値ｉan，ｉbn、電流値ｉanとｉbnとの差Δｉn
、および電流値ｉanに対応する有効塩素濃度ｆｃ１n
を求めるとともに、吸光光度法や電流滴定法などの高精
度の塩素濃度測定法により遊離有効塩素濃度ｆｃ２n を
求め、前記Δｉn とｆｃ１n とｆｃ２n とを以下の式 ｆｃ２n ＝（ａn ／Δｉn ）・ｆｃ１n に代入することにより補正係数ａn を算出し、算出した
補正係数ａn の平均値を求めて補正係数Ａとする。
【００１４】上述した残留塩素測定方法によれば、２種
類の電圧Ｖa ，Ｖb を印加した時に流れる電流値ｉa ，
ｉb を求め、電流値ｉa に対応する有効塩素濃度ｆｃ１
を求め、求めた有効塩素濃度ｆｃ１に（予め決定した補
正係数Ａ／電流値ｉa ，ｉb間の差Δｉ）を掛けるよう
にしたことにより、結合型有効塩素の影響度合いに応じ
た補正を行って、真の遊離残留塩素濃度に近い測定値を
導き出すことができる。
類の電圧Ｖa ，Ｖb を印加した時に流れる電流値ｉa ，
ｉb を求め、電流値ｉa に対応する有効塩素濃度ｆｃ１
を求め、求めた有効塩素濃度ｆｃ１に（予め決定した補
正係数Ａ／電流値ｉa ，ｉb間の差Δｉ）を掛けるよう
にしたことにより、結合型有効塩素の影響度合いに応じ
た補正を行って、真の遊離残留塩素濃度に近い測定値を
導き出すことができる。
【００１５】上述した残留塩素計によれば、上記した真
の遊離残留塩素濃度に近い測定値を自動的に演算して得
ることができる。
の遊離残留塩素濃度に近い測定値を自動的に演算して得
ることができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面を
参照しながら説明する。図１に示した残留塩素計は図３
を用いて説明した従来のものと同様の構成を有している
ので、従来のものと同様の作用を有する部材に同じ符号
を付して詳しい説明を省略する。
参照しながら説明する。図１に示した残留塩素計は図３
を用いて説明した従来のものと同様の構成を有している
ので、従来のものと同様の作用を有する部材に同じ符号
を付して詳しい説明を省略する。
【００１７】残留塩素計１５は、下部に被検査液Ｓの導
入口２を形成し上部に排出口３を形成した密閉容器４の
底部に２個の検出電極（金電極）１６，１７を配設し、
検出電極１６，１７に対向する密閉容器４内の上部に１
個の対極（銀／塩化銀電極）６を側面より嵌挿した状態
で配設している。
入口２を形成し上部に排出口３を形成した密閉容器４の
底部に２個の検出電極（金電極）１６，１７を配設し、
検出電極１６，１７に対向する密閉容器４内の上部に１
個の対極（銀／塩化銀電極）６を側面より嵌挿した状態
で配設している。
【００１８】密閉容器４の外部には、検出電極１６，１
７と対極６との間にそれぞれ一定電圧Ｖａ，Ｖｂを印加
する電源１８，１９、および一定電圧Ｖａ，Ｖｂが印加
された時に流れる電流の大きさｉａ，ｉｂを計測する電
流計２０，２１を設け、電流計２０，２１に接続して、
メモリ機能および演算機能および表示機能を備えた制御
装置２２を設けている。ここで、一定電圧Ｖａ，Ｖｂ
は、残留塩素含有溶液の電流−電圧曲線において電圧の
大きさにかかわらず電流の大きさがほぼ一定となる領域
内の電圧であって、互いに大きさの異なる電圧である。
７と対極６との間にそれぞれ一定電圧Ｖａ，Ｖｂを印加
する電源１８，１９、および一定電圧Ｖａ，Ｖｂが印加
された時に流れる電流の大きさｉａ，ｉｂを計測する電
流計２０，２１を設け、電流計２０，２１に接続して、
メモリ機能および演算機能および表示機能を備えた制御
装置２２を設けている。ここで、一定電圧Ｖａ，Ｖｂ
は、残留塩素含有溶液の電流−電圧曲線において電圧の
大きさにかかわらず電流の大きさがほぼ一定となる領域
内の電圧であって、互いに大きさの異なる電圧である。
【００１９】密閉容器４の内部には、外部の駆動装置１
０より垂設した駆動軸１１の下端部に固着して攪拌翼１
２を設け、検出電極５の表面の研磨を行って感度低下を
防ぐセラミックビーズなどのビーズ状研磨材１３を充填
するとともに、被検査液Ｓの温度を測定して温度補償を
施すサーミスタ１４を設けている。
０より垂設した駆動軸１１の下端部に固着して攪拌翼１
２を設け、検出電極５の表面の研磨を行って感度低下を
防ぐセラミックビーズなどのビーズ状研磨材１３を充填
するとともに、被検査液Ｓの温度を測定して温度補償を
施すサーミスタ１４を設けている。
【００２０】上記した構成の残留塩素計１５による残留
塩素測定方法を説明する。導入口２より密閉容器４の内
部に被検査液Ｓを導入して排出口３に向けて流通させ、
密閉容器４内の被検査液Ｓを攪拌翼１１により攪拌しつ
つ、電源１８，１９によって検出電極１６，１７と対極
６との間に同時に上記した一定電圧Ｖａ，Ｖｂを印加す
る。
塩素測定方法を説明する。導入口２より密閉容器４の内
部に被検査液Ｓを導入して排出口３に向けて流通させ、
密閉容器４内の被検査液Ｓを攪拌翼１１により攪拌しつ
つ、電源１８，１９によって検出電極１６，１７と対極
６との間に同時に上記した一定電圧Ｖａ，Ｖｂを印加す
る。
【００２１】これにより、印加時の電流の大きさがそれ
ぞれ電流計２０，２１により計測され、制御装置２２に
おいて、計測された電流値ｉa とｉb との差Δｉが求め
られるとともに、一方の電流値ｉa に対応する残留塩素
濃度ｆｃ１が求められ、これらのΔｉ，ｆｃ１と予め記
憶された補正係数Ａとが以下の式 遊離残留塩素濃度ｆｃ＝（Ａ／Δｉ）・ｆｃ１ に代入されて遊離残留塩素濃度ｆｃが算出され、算出さ
れた遊離残留塩素濃度が表示される。
ぞれ電流計２０，２１により計測され、制御装置２２に
おいて、計測された電流値ｉa とｉb との差Δｉが求め
られるとともに、一方の電流値ｉa に対応する残留塩素
濃度ｆｃ１が求められ、これらのΔｉ，ｆｃ１と予め記
憶された補正係数Ａとが以下の式 遊離残留塩素濃度ｆｃ＝（Ａ／Δｉ）・ｆｃ１ に代入されて遊離残留塩素濃度ｆｃが算出され、算出さ
れた遊離残留塩素濃度が表示される。
【００２２】補正係数Ａは、たとえば以下のようにして
実験的に決定する。 １）０〜２ｍｇ／ｌの範囲内の適当濃度の遊離有効塩素
と適当濃度の結合型有効塩素とを含んだ複数の塩素含有
水溶液を調製する。たとえば、遊離有効塩素濃度０．
５，１．０，１．５，２．０ｍｇ／ｌと、結合型有効塩
素濃度０，０．１，０．３，０．６，１．０ｍｇ／ｌと
の組み合わせにより、２０種類の塩素含有水溶液を調製
する。
実験的に決定する。 １）０〜２ｍｇ／ｌの範囲内の適当濃度の遊離有効塩素
と適当濃度の結合型有効塩素とを含んだ複数の塩素含有
水溶液を調製する。たとえば、遊離有効塩素濃度０．
５，１．０，１．５，２．０ｍｇ／ｌと、結合型有効塩
素濃度０，０．１，０．３，０．６，１．０ｍｇ／ｌと
の組み合わせにより、２０種類の塩素含有水溶液を調製
する。
【００２３】２）調製した各塩素含有水溶液を被検査液
Ｓとして、上記と同様にして、一定電圧Ｖa ，Ｖb を印
加した時の電流値ｉan，ｉbn、電流値ｉanとｉbnとの差
Δｉn 、および電流値ｉanに対応する有効塩素濃度ｆｃ
１n を求める。
Ｓとして、上記と同様にして、一定電圧Ｖa ，Ｖb を印
加した時の電流値ｉan，ｉbn、電流値ｉanとｉbnとの差
Δｉn 、および電流値ｉanに対応する有効塩素濃度ｆｃ
１n を求める。
【００２４】３）調製した各塩素含有水溶液について、
ＤＰＤによる吸光光度法や電流滴定法などの高精度の塩
素濃度測定法により遊離有効塩素濃度ｆｃ２n を求め
る。 ４）上記２）および３）においてそれぞれ求めたΔｉn
とｆｃ１n とｆｃ２nとを以下の式 ｆｃ２n ＝（ａn ／Δｉn ）・ｆｃ１n に代入することによりａn を算出する。
ＤＰＤによる吸光光度法や電流滴定法などの高精度の塩
素濃度測定法により遊離有効塩素濃度ｆｃ２n を求め
る。 ４）上記２）および３）においてそれぞれ求めたΔｉn
とｆｃ１n とｆｃ２nとを以下の式 ｆｃ２n ＝（ａn ／Δｉn ）・ｆｃ１n に代入することによりａn を算出する。
【００２５】５）４）におけるａn は通常ばらつきをも
って求められるので、各ａn の平均を求め、求めた平均
値を補正係数Ａとする。 上述した残留塩素測定方法によれば、２種類の電圧Ｖa
，Ｖb で計測した電流値ｉａ，ｉｂの大きさと差とに
より結合型有効塩素の影響度合いを知り、結合型有効塩
素の影響度合いに応じた補正を行って、真の遊離残留塩
素濃度に近い測定値を導き出すことができる。
って求められるので、各ａn の平均を求め、求めた平均
値を補正係数Ａとする。 上述した残留塩素測定方法によれば、２種類の電圧Ｖa
，Ｖb で計測した電流値ｉａ，ｉｂの大きさと差とに
より結合型有効塩素の影響度合いを知り、結合型有効塩
素の影響度合いに応じた補正を行って、真の遊離残留塩
素濃度に近い測定値を導き出すことができる。
【００２６】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、２種類の
電圧Ｖa ，Ｖb を印加した時に流れる電流値ｉａ，ｉｂ
を求め、一方の電流値ｉa に対応する有効塩素濃度ｆｃ
１を求め、求めた有効塩素濃度ｆｃ１に、（予め実験的
に決定した補正係数Ａ／電流値ｉa ，ｉb 間の差Δｉ）
を掛けることにより、結合型有効塩素の影響度合いに応
じて、その影響を常に軽減する方向に補正を行うことが
でき、測定精度並びに安定性の向上を図れる。
電圧Ｖa ，Ｖb を印加した時に流れる電流値ｉａ，ｉｂ
を求め、一方の電流値ｉa に対応する有効塩素濃度ｆｃ
１を求め、求めた有効塩素濃度ｆｃ１に、（予め実験的
に決定した補正係数Ａ／電流値ｉa ，ｉb 間の差Δｉ）
を掛けることにより、結合型有効塩素の影響度合いに応
じて、その影響を常に軽減する方向に補正を行うことが
でき、測定精度並びに安定性の向上を図れる。
【図１】本発明の残留塩素測定方法が行われる一実施形
態の残留塩素計の全体構成を示した説明図である。
態の残留塩素計の全体構成を示した説明図である。
【図２】本発明の残留塩素測定方法および残留塩素計に
おける測定原理を説明する被検査液の電流−電圧曲線で
ある。
おける測定原理を説明する被検査液の電流−電圧曲線で
ある。
【図３】従来の残留塩素計の全体構成を示した説明図で
ある。
ある。
【図４】従来および本発明の残留塩素測定方法における
基本的な測定原理を説明する被検査液の電流−電圧曲線
である。
基本的な測定原理を説明する被検査液の電流−電圧曲線
である。
【図５】従来および本発明の残留塩素測定方法において
遊離有効塩素に対する結合型有効塩素の影響を説明する
被検査液の電流−電圧曲線である。
遊離有効塩素に対する結合型有効塩素の影響を説明する
被検査液の電流−電圧曲線である。
【図６】従来および本発明の残留塩素測定方法において
遊離有効塩素に対する結合型有効塩素の影響を説明する
他の被検査液の電流−電圧曲線である。
遊離有効塩素に対する結合型有効塩素の影響を説明する
他の被検査液の電流−電圧曲線である。
Ｓ 被検査液 ２ 導入口 ３ 排出口 ４ 密閉容器 ６ 対極 12 攪拌翼 15 残留塩素計 16,17 検出電極 18,19 電源 20,21 電流計 22 制御装置
Claims (2)
- 【請求項１】 内部に２個の検出電極と各検出電極に対
向する少なくとも１個の対極とを配設した密閉容器に一
定方向に被検査液を流通させ、密閉容器内の被検査液を
攪拌しつつ、各検出電極と対極との間にそれぞれ、塩素
含有溶液の電流−電圧曲線において電圧の大きさにかか
わらず電流の大きさがほぼ一定となる領域内の電圧であ
って互いに大きさの異なる一定電圧Ｖa ，Ｖb を印加し
て、流れる電流の大きさをそれぞれ計測し、計測した電
流値ｉa とｉb との差Δｉを算出するとともに、一方の
電流値ｉa に対応する残留塩素濃度ｆｃ１を求め、前記
Δｉとｆｃ１とを以下の式 遊離残留塩素濃度ｆｃ＝（Ａ／Δｉ）・ｆｃ１ （ここで、Ａは結合型有効塩素の影響を排除する補正係
数である）に代入することにより遊離残留塩素濃度ｆｃ
を算出することを特徴とする残留塩素測定方法。 - 【請求項２】 被検査液が導入口から排出口に向けて流
通する密閉容器と、密閉容器の内部に配設された２個の
検出電極および各検出電極に対向する少なくとも１個の
対極と、密閉容器内の被検査液を攪拌する攪拌手段と、
各検出電極と対極との間にそれぞれ、塩素含有溶液の電
流−電圧曲線において電圧の大きさにかかわらず電流の
大きさがほぼ一定となる領域内の電圧であって互いに大
きさの異なる一定電圧を印加する電源と、前記一定電圧
が印加された時に流れる電流の大きさをそれぞれ計測す
る電流計と、各電流計に接続する制御装置とを有し、前
記制御装置は、予め決定された結合型有効塩素の影響を
排除する補正係数を記憶し、前記各電流計により計測さ
れた電流値間の差を算出し、前記一方の電流計により計
測された電流値に対応する残留塩素濃度を求め、前記補
正係数と電流値間の差と残留塩素濃度とに基づいて遊離
残留塩素濃度を算出し、算出した遊離残留塩素濃度を表
示するように構成したことを特徴とする残留塩素計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34204595A JP3654694B2 (ja) | 1995-12-28 | 1995-12-28 | 残留塩素測定方法および残留塩素計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34204595A JP3654694B2 (ja) | 1995-12-28 | 1995-12-28 | 残留塩素測定方法および残留塩素計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09178699A true JPH09178699A (ja) | 1997-07-11 |
| JP3654694B2 JP3654694B2 (ja) | 2005-06-02 |
Family
ID=18350739
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34204595A Expired - Fee Related JP3654694B2 (ja) | 1995-12-28 | 1995-12-28 | 残留塩素測定方法および残留塩素計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3654694B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11148914A (ja) * | 1997-11-18 | 1999-06-02 | Kubota Corp | 塩素濃度測定装置 |
| JP2000074877A (ja) * | 1998-08-26 | 2000-03-14 | Noritz Corp | 残留塩素濃度測定装置 |
| JP2002090339A (ja) * | 2000-09-20 | 2002-03-27 | Dkk Toa Corp | 酸化還元電流測定装置のセンサ及び酸化還元電流測定装置、並びに酸化還元電流測定装置を用いた水質管理方法及び水質管理システム |
| JP2006053019A (ja) * | 2004-08-11 | 2006-02-23 | Tanita Corp | 電気化学式測定装置 |
| JP2009168694A (ja) * | 2008-01-18 | 2009-07-30 | Yokogawa Electric Corp | 塩素計 |
-
1995
- 1995-12-28 JP JP34204595A patent/JP3654694B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11148914A (ja) * | 1997-11-18 | 1999-06-02 | Kubota Corp | 塩素濃度測定装置 |
| JP2000074877A (ja) * | 1998-08-26 | 2000-03-14 | Noritz Corp | 残留塩素濃度測定装置 |
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| JP2006053019A (ja) * | 2004-08-11 | 2006-02-23 | Tanita Corp | 電気化学式測定装置 |
| JP4610965B2 (ja) * | 2004-08-11 | 2011-01-12 | 株式会社タニタ | 電気化学式測定装置 |
| JP2009168694A (ja) * | 2008-01-18 | 2009-07-30 | Yokogawa Electric Corp | 塩素計 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3654694B2 (ja) | 2005-06-02 |
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