JPH0916981A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JPH0916981A JPH0916981A JP16182795A JP16182795A JPH0916981A JP H0916981 A JPH0916981 A JP H0916981A JP 16182795 A JP16182795 A JP 16182795A JP 16182795 A JP16182795 A JP 16182795A JP H0916981 A JPH0916981 A JP H0916981A
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- Japan
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- recording surface
- track
- light
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 制御系が光ディスク上の異物で乱されないよ
うにし、信頼性の高い記録再生ができる光ディスク装置
を提供する。 【構成】 複数の光スポットを照射し、記録再生光スポ
ットに対して先行する光スポットによって、光ディスク
上の異物を検出し、記録再生光スポットが異物を通過す
る期間、トラッキング及びフォーカス制御を切り換え
て、制御系の乱れを防止する。
うにし、信頼性の高い記録再生ができる光ディスク装置
を提供する。 【構成】 複数の光スポットを照射し、記録再生光スポ
ットに対して先行する光スポットによって、光ディスク
上の異物を検出し、記録再生光スポットが異物を通過す
る期間、トラッキング及びフォーカス制御を切り換え
て、制御系の乱れを防止する。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は収束した光スポットを用
いて記録担体面に信号を記録または再生する光ディスク
装置に関するものである。
いて記録担体面に信号を記録または再生する光ディスク
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光ディスク装置は、光ディスクの記録担
体に設けられた1.6μmピッチの情報トラックに約1
μmφの光スポットを記録担体面に垂直方向に約±0.
5μm精度で追従する高精度なフォーカス制御を行う。
また、情報トラックと光スポットのトラックずれは約±
0.1μm精度で追従する高精度なトラッキング制御を
行う。
体に設けられた1.6μmピッチの情報トラックに約1
μmφの光スポットを記録担体面に垂直方向に約±0.
5μm精度で追従する高精度なフォーカス制御を行う。
また、情報トラックと光スポットのトラックずれは約±
0.1μm精度で追従する高精度なトラッキング制御を
行う。
【0003】ここで光ディスクに傷、異物、汚れがある
とフォーカス制御やトラッキング制御の制御系が乱され
てしまい、別の情報トラックへ飛んだり、制御がかから
なくなったりする。
とフォーカス制御やトラッキング制御の制御系が乱され
てしまい、別の情報トラックへ飛んだり、制御がかから
なくなったりする。
【0004】従来の光ディスク装置において、光ディス
クの傷、異物、汚れを検出し、制御の乱れを防止する技
術としては、特公平4−1408号公報に記載されてい
るものがある。
クの傷、異物、汚れを検出し、制御の乱れを防止する技
術としては、特公平4−1408号公報に記載されてい
るものがある。
【0005】同公報は、トラッキング制御手段と、基準
信号を出力する検波手段と、波形整形手段と、欠陥検知
手段と、処理手段とを備え、傷や汚れによるトラッキン
グの乱れの防止を可能にするとの開示がある。これは、
フィードバック制御によるトラッキング制御に関する一
般的な技術である。
信号を出力する検波手段と、波形整形手段と、欠陥検知
手段と、処理手段とを備え、傷や汚れによるトラッキン
グの乱れの防止を可能にするとの開示がある。これは、
フィードバック制御によるトラッキング制御に関する一
般的な技術である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来の光ディスク装置では、フィードバック制御を構成
するため、光ディスクの傷、異物、汚れに対して検出遅
れが発生する。このため傷などの大きさ、通過時間によ
っては制御系が乱れ、別の情報トラックへ飛んだり、制
御がかからなくなったりして記録または再生ができなく
なると言う問題があった。
従来の光ディスク装置では、フィードバック制御を構成
するため、光ディスクの傷、異物、汚れに対して検出遅
れが発生する。このため傷などの大きさ、通過時間によ
っては制御系が乱れ、別の情報トラックへ飛んだり、制
御がかからなくなったりして記録または再生ができなく
なると言う問題があった。
【0007】本発明は上記の問題を解決するもので、光
ディスクに多少の傷、異物、汚れがあっても確実に記録
面あるいは情報トラックを追従し、記録および再生を安
定にできる光ディスク装置を提供することを目的とす
る。
ディスクに多少の傷、異物、汚れがあっても確実に記録
面あるいは情報トラックを追従し、記録および再生を安
定にできる光ディスク装置を提供することを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、記録媒体に形成された記録面に複数の光
スポットを照射する光スポット照射手段と、複数の光ス
ポット中の先行する光スポットの反射光量より記録面の
異常を検出する記録面異常検出手段と、記録面異常検出
手段の出力に応じてフォーカス制御手段の出力を制御す
る異常時制御手段とを備える。
成するために、記録媒体に形成された記録面に複数の光
スポットを照射する光スポット照射手段と、複数の光ス
ポット中の先行する光スポットの反射光量より記録面の
異常を検出する記録面異常検出手段と、記録面異常検出
手段の出力に応じてフォーカス制御手段の出力を制御す
る異常時制御手段とを備える。
【0009】または、記録媒体に形成された記録面に複
数の光スポットを照射する光スポット照射手段と、複数
の光スポット中の先行する光スポットの反射光量より記
録面の異常を検出する記録面異常検出手段と、記録面異
常検出手段の出力に応じてトラッキング制御手段の出力
を制御する異常時制御手段とを備える。
数の光スポットを照射する光スポット照射手段と、複数
の光スポット中の先行する光スポットの反射光量より記
録面の異常を検出する記録面異常検出手段と、記録面異
常検出手段の出力に応じてトラッキング制御手段の出力
を制御する異常時制御手段とを備える。
【0010】または、先行光スポットと記録面との焦点
ずれを検出する先行光スポットフォーカスずれ検出手段
と、記録面異常検出手段の出力によりフォーカス制御手
段への入力をフォーカスずれ検出手段の出力から先行光
スポットフォーカスずれ検出手段の出力に切り換えるフ
ォーカスずれ切り換え手段とを備える。
ずれを検出する先行光スポットフォーカスずれ検出手段
と、記録面異常検出手段の出力によりフォーカス制御手
段への入力をフォーカスずれ検出手段の出力から先行光
スポットフォーカスずれ検出手段の出力に切り換えるフ
ォーカスずれ切り換え手段とを備える。
【0011】または、先行光スポットと情報トラックと
の位置ずれを検出する先行光スポットトラックずれ検出
手段と、記録面異常検出手段の出力によりトラッキング
制御手段への入力をトラックずれ検出手段の出力から先
行光スポットトラックずれ検出手段の出力に切り換える
トラックずれ切り換え手段とを備える。
の位置ずれを検出する先行光スポットトラックずれ検出
手段と、記録面異常検出手段の出力によりトラッキング
制御手段への入力をトラックずれ検出手段の出力から先
行光スポットトラックずれ検出手段の出力に切り換える
トラックずれ切り換え手段とを備える。
【0012】または、情報を記録または再生する光スポ
ットの後を行く光スポットから情報を再生する再生手段
と、記録情報と再生情報を比較する比較手段とを備え
る。
ットの後を行く光スポットから情報を再生する再生手段
と、記録情報と再生情報を比較する比較手段とを備え
る。
【0013】
【作用】本発明は前記した構成によって、先行光スポッ
トで光ディスクの傷、異物、汚れを検出し、記録再生用
の光スポットのフォーカス制御手段またはトラッキング
制御手段の出力を制御して、多少の傷、異物、汚れがあ
っても確実に記録面あるいは情報トラックを追従する。
トで光ディスクの傷、異物、汚れを検出し、記録再生用
の光スポットのフォーカス制御手段またはトラッキング
制御手段の出力を制御して、多少の傷、異物、汚れがあ
っても確実に記録面あるいは情報トラックを追従する。
【0014】また、記録時においては記録情報を後行の
光スポットで情報を再生し、比較、確認し、記録および
再生を安定にする。
光スポットで情報を再生し、比較、確認し、記録および
再生を安定にする。
【0015】
【実施例】以下、本発明の一実施例について、図面を参
照しながら説明する。
照しながら説明する。
【0016】図1は、本発明の一実施例における光ディ
スク装置の構成図である。半導体レーザ1、回折格子
2、コリメータレンズ3、ビームスプリッタ4、絞りレ
ンズ5により光スポット照射手段が構成され、半導体レ
ーザ1から出た光ビームは回折格子2を通り、コリメー
タレンズ3により平行光となりビームスプリッタ4、絞
りレンズ5を介して光ディスク6の情報トラック7に複
数の光スポットが集光される。複数の光スポットは、回
折格子2により異なる回折角で半導体レーザ1からの光
が透過することにより得る。なお、本実施例では、複数
の光スポットとして、3つの光スポットの場合について
説明している。
スク装置の構成図である。半導体レーザ1、回折格子
2、コリメータレンズ3、ビームスプリッタ4、絞りレ
ンズ5により光スポット照射手段が構成され、半導体レ
ーザ1から出た光ビームは回折格子2を通り、コリメー
タレンズ3により平行光となりビームスプリッタ4、絞
りレンズ5を介して光ディスク6の情報トラック7に複
数の光スポットが集光される。複数の光スポットは、回
折格子2により異なる回折角で半導体レーザ1からの光
が透過することにより得る。なお、本実施例では、複数
の光スポットとして、3つの光スポットの場合について
説明している。
【0017】光ディスク6は、モータ8により回転して
おり、光ディスク6の記録面には、情報トラック7が回
転方向に沿って形成されている。
おり、光ディスク6の記録面には、情報トラック7が回
転方向に沿って形成されている。
【0018】光ディスク6より反射された光は、再び絞
りレンズ5を通って平行光となり、ビームスプリッタ
4、1/2波長板9およびビームスプリッタ10を透過
しシリンドリカルレンズ11を介して、フォーカスずれ
検出手段としてのフォーカスずれ検出器12に入り非点
収差形のフォーカスずれ検出を構成する。
りレンズ5を通って平行光となり、ビームスプリッタ
4、1/2波長板9およびビームスプリッタ10を透過
しシリンドリカルレンズ11を介して、フォーカスずれ
検出手段としてのフォーカスずれ検出器12に入り非点
収差形のフォーカスずれ検出を構成する。
【0019】トラックずれ検出手段としてのトラックず
れ検出器13は、ビームスプリッタ10で分割(反射)
された光ビームが入り、ファーフィールド形のトラック
ずれ検出を構成している。また、14は先行する光スポ
ットの反射光検出器(以下、先行光スポット反射光検出
器と称す)、15は後行する光スポットの反射光検出器
(以下、後行光スポット反射光検出器と称す)である。
れ検出器13は、ビームスプリッタ10で分割(反射)
された光ビームが入り、ファーフィールド形のトラック
ずれ検出を構成している。また、14は先行する光スポ
ットの反射光検出器(以下、先行光スポット反射光検出
器と称す)、15は後行する光スポットの反射光検出器
(以下、後行光スポット反射光検出器と称す)である。
【0020】フォーカスずれ検出器12、トラックずれ
検出器13、先行光スポット反射光検出器14および後
行光スポット反射光検出器15のそれぞれの出力信号を
増幅回路16、17、18、19、20、21で増幅、
または電流電圧変換する。
検出器13、先行光スポット反射光検出器14および後
行光スポット反射光検出器15のそれぞれの出力信号を
増幅回路16、17、18、19、20、21で増幅、
または電流電圧変換する。
【0021】増幅回路16、17で増幅した検出信号か
ら差動増幅回路22で光ディスクの記録面と光スポット
との焦点ずれを示すフォーカスエラー信号を得る。ま
た、増幅回路18、19で増幅した検出信号から差動増
幅回路23で光ディスクの情報トラックとのずれを示す
トラッキングエラー信号を得る。
ら差動増幅回路22で光ディスクの記録面と光スポット
との焦点ずれを示すフォーカスエラー信号を得る。ま
た、増幅回路18、19で増幅した検出信号から差動増
幅回路23で光ディスクの情報トラックとのずれを示す
トラッキングエラー信号を得る。
【0022】差動増幅回路22の出力のフォーカスエラ
ー信号は、ディジタル信号処理回路25に入り、図示し
ていないがAD変換回路でアナログからディジタル信号
に変換される。ディジタル信号処理回路25では、入力
されたフォーカスエラー信号をもとに、フォーカス制御
手段としてのフォーカス制御系の位相補償処理を行い、
駆動回路26を介してフォーカス移動手段であるフォー
カスアクチュエータ28を移動して光ビームを光ディス
クの記録面に収束させる。つまり、絞りレンズ5を光デ
ィスク6の記録面に略垂直方向に移動させて、光スポッ
トの焦点を合わせる。
ー信号は、ディジタル信号処理回路25に入り、図示し
ていないがAD変換回路でアナログからディジタル信号
に変換される。ディジタル信号処理回路25では、入力
されたフォーカスエラー信号をもとに、フォーカス制御
手段としてのフォーカス制御系の位相補償処理を行い、
駆動回路26を介してフォーカス移動手段であるフォー
カスアクチュエータ28を移動して光ビームを光ディス
クの記録面に収束させる。つまり、絞りレンズ5を光デ
ィスク6の記録面に略垂直方向に移動させて、光スポッ
トの焦点を合わせる。
【0023】同様に、差動増幅回路23の出力のトラッ
キングエラー信号も、ディジタル信号処理回路25に入
り、AD変換回路(図示せず)によりディジタル信号に
変換され、ディジタル信号処理回路25で、トラッキン
グ制御手段としてのトラッキング制御系の位相補償処理
を行い、駆動回路27を介して、トラック移動手段であ
るトラッキングアクチュエータ29を移動させ光ビーム
を光ディスクの情報トラック7に追従させる。つまり、
絞りレンズ5を光ディスク6の情報トラック7に略直交
方向に移動させて、光スポットを情報トラック7上に合
わせる。
キングエラー信号も、ディジタル信号処理回路25に入
り、AD変換回路(図示せず)によりディジタル信号に
変換され、ディジタル信号処理回路25で、トラッキン
グ制御手段としてのトラッキング制御系の位相補償処理
を行い、駆動回路27を介して、トラック移動手段であ
るトラッキングアクチュエータ29を移動させ光ビーム
を光ディスクの情報トラック7に追従させる。つまり、
絞りレンズ5を光ディスク6の情報トラック7に略直交
方向に移動させて、光スポットを情報トラック7上に合
わせる。
【0024】図2は、情報トラック7上の光スポットの
位置を示す概念図である。3つの光スポットの内、30
は先行光スポット、31は光ディスク6の記録または再
生に用いる主となる記録再生光スポット、32は後行光
スポットである。つまり、図1の増幅回路21は、先行
光スポット30の反射光を増幅し、増幅回路20は、後
行光スポット32の反射光を増幅する。
位置を示す概念図である。3つの光スポットの内、30
は先行光スポット、31は光ディスク6の記録または再
生に用いる主となる記録再生光スポット、32は後行光
スポットである。つまり、図1の増幅回路21は、先行
光スポット30の反射光を増幅し、増幅回路20は、後
行光スポット32の反射光を増幅する。
【0025】図3は、光スポットが異物を通過するとき
の反射光量を示す概念図である。光ディスク6に傷、異
物、または汚れがあると光スポットによる反射光が図3
に示すように減少する。
の反射光量を示す概念図である。光ディスク6に傷、異
物、または汚れがあると光スポットによる反射光が図3
に示すように減少する。
【0026】記録面異常検出手段の機能を有するディジ
タル信号処理回路25は、先行光スポット30の反射光
を増幅回路21を介して監視し、通常の反射光量33に
対して所定光量レベル34を求めておき(予め定めてお
く)、所定光量レベル34より小さい期間である異物検
出期間36を検出する。図6は、異物検出を説明するた
めのフロー図であり、以下、図面に沿って説明する。
タル信号処理回路25は、先行光スポット30の反射光
を増幅回路21を介して監視し、通常の反射光量33に
対して所定光量レベル34を求めておき(予め定めてお
く)、所定光量レベル34より小さい期間である異物検
出期間36を検出する。図6は、異物検出を説明するた
めのフロー図であり、以下、図面に沿って説明する。
【0027】ステップ1で、先行光スポット30の反射
光量33を測定する。ステップ2で、反射光量が所定レ
ベル(所定光量レベル34)以下であるかを判定する。
以下でないならばエンド(他の処理)へ行く。以下であ
る場合は、ステップ3へ行く。ステップ3で、反射光量
33が所定レベル34以下の期間が所定期間継続してい
るか判定する。継続していなければエンドへ、継続して
いれば、ステップ4へ行く。ステップ4で、異物検出時
の処理を行う。そして、エンドへ行く。
光量33を測定する。ステップ2で、反射光量が所定レ
ベル(所定光量レベル34)以下であるかを判定する。
以下でないならばエンド(他の処理)へ行く。以下であ
る場合は、ステップ3へ行く。ステップ3で、反射光量
33が所定レベル34以下の期間が所定期間継続してい
るか判定する。継続していなければエンドへ、継続して
いれば、ステップ4へ行く。ステップ4で、異物検出時
の処理を行う。そして、エンドへ行く。
【0028】以上のように、反射光量33が所定レベル
34より小さい期間が所定期間継続するかをみることに
より、不必要に異物、傷、汚れを検出することをなく
す。この継続をみる所定期間は、制御系で決まる応答時
間より小さい値に設定する。
34より小さい期間が所定期間継続するかをみることに
より、不必要に異物、傷、汚れを検出することをなく
す。この継続をみる所定期間は、制御系で決まる応答時
間より小さい値に設定する。
【0029】また、この所定期間の値は、反射光量33
に応じて変化させることにより不必要に制御系が応答す
ることをなくす。
に応じて変化させることにより不必要に制御系が応答す
ることをなくす。
【0030】異物検出期間36は、図3に示すように、
光スポットが異物を通過している期間(光スポット異物
通過期間35)よりも短く検出されしてしまうが、先行
光スポット30と記録再生光スポット31は離れている
ので、ディジタル信号処理回路25で先行光スポット3
0から記録再生光スポット31までの移動時間を求める
とともに、光スポット異物通過期間35を所定の補正方
法により異物検出期間36から求める。
光スポットが異物を通過している期間(光スポット異物
通過期間35)よりも短く検出されしてしまうが、先行
光スポット30と記録再生光スポット31は離れている
ので、ディジタル信号処理回路25で先行光スポット3
0から記録再生光スポット31までの移動時間を求める
とともに、光スポット異物通過期間35を所定の補正方
法により異物検出期間36から求める。
【0031】図2では、先行光スポット30と記録再生
光スポット31は同一情報トラック7に照射するように
図示しているが、図4に示すように先行する隣接情報ト
ラックでもよい。または、更に数本先行する情報トラッ
クにあってもよい。
光スポット31は同一情報トラック7に照射するように
図示しているが、図4に示すように先行する隣接情報ト
ラックでもよい。または、更に数本先行する情報トラッ
クにあってもよい。
【0032】先行光スポット30から記録再生光スポッ
ト31までの移動時間は、光ディスクの線速と光ディス
クの半径位置とから演算できる。
ト31までの移動時間は、光ディスクの線速と光ディス
クの半径位置とから演算できる。
【0033】光ディスク6に書き込まれているアドレス
により、光スポットが照射されている光ディスク6の半
径位置がわかり、光ディスク6の線速は、回転数が一定
であれば半径位置よりわかり、線速一定であれば予めわ
かっていることになる。また、光ディスク6の記録する
領域で線速または回転数が変わる場合でも、光ディスク
6に書き込まれたアドレスで管理できる。
により、光スポットが照射されている光ディスク6の半
径位置がわかり、光ディスク6の線速は、回転数が一定
であれば半径位置よりわかり、線速一定であれば予めわ
かっていることになる。また、光ディスク6の記録する
領域で線速または回転数が変わる場合でも、光ディスク
6に書き込まれたアドレスで管理できる。
【0034】このようにしてディジタル信号処理回路2
5で記録再生光スポットの光スポット異物通過期間35
を求める。
5で記録再生光スポットの光スポット異物通過期間35
を求める。
【0035】光スポット異物通過期間35の反射光量は
減少し、また、異物形状、物質により変化する。フォー
カスエラー信号、トラッキングエラー信号も乱れること
になる。よって、光スポット異物通過期間35におい
て、そのままエラー信号をディジタル信号処理回路25
で演算し、フォーカスアクチュエータ28またはトラッ
キングアクチュエータ29を動作しつづけると情報トラ
ック7を追従できなくなる。
減少し、また、異物形状、物質により変化する。フォー
カスエラー信号、トラッキングエラー信号も乱れること
になる。よって、光スポット異物通過期間35におい
て、そのままエラー信号をディジタル信号処理回路25
で演算し、フォーカスアクチュエータ28またはトラッ
キングアクチュエータ29を動作しつづけると情報トラ
ック7を追従できなくなる。
【0036】そのため、ディジタル信号処理回路25で
求めた、先行光スポット30が異物を通過した後に、記
録再生光スポット31が異物に達する時間から異物を通
過する時間である光スポット異物通過期間35の間、駆
動回路26または駆動回路27に出力していた信号の低
域成分を出力する。低域成分は光ディスクの回転数の成
分を通過させる。この処理をディジタル信号処理回路2
5において、異常時制御手段として行う。
求めた、先行光スポット30が異物を通過した後に、記
録再生光スポット31が異物に達する時間から異物を通
過する時間である光スポット異物通過期間35の間、駆
動回路26または駆動回路27に出力していた信号の低
域成分を出力する。低域成分は光ディスクの回転数の成
分を通過させる。この処理をディジタル信号処理回路2
5において、異常時制御手段として行う。
【0037】図7は、異物検出時処理を説明するための
フロー図であり、以下、図面に沿って説明する。
フロー図であり、以下、図面に沿って説明する。
【0038】ステップ5で、記録再生光スポット31で
情報トラック7に作られたアドレスを読む。ステップ6
で、線速とアドレスより先行光スポット30が異物を検
出し、記録再生光スポット31が異物を通過する期間
(光スポット異物通過期間35)を演算する。ステップ
7で、記録再生光スポット31が演算で求めた異物を通
過する期間に、それまでの駆動信号の低域成分をフォー
カスアクチュエータ28、トラッキングアクチュエータ
29に出力する。ステップ8で、異物を通過したあと、
通常演算に戻す。
情報トラック7に作られたアドレスを読む。ステップ6
で、線速とアドレスより先行光スポット30が異物を検
出し、記録再生光スポット31が異物を通過する期間
(光スポット異物通過期間35)を演算する。ステップ
7で、記録再生光スポット31が演算で求めた異物を通
過する期間に、それまでの駆動信号の低域成分をフォー
カスアクチュエータ28、トラッキングアクチュエータ
29に出力する。ステップ8で、異物を通過したあと、
通常演算に戻す。
【0039】このとき、記録再生光スポット31での反
射光量の減少を確認しつつ、前記フローを実行すること
により異物検出処理を確実に行うことができる。
射光量の減少を確認しつつ、前記フローを実行すること
により異物検出処理を確実に行うことができる。
【0040】以上のように、本実施例の光ディスク装置
によれば、光ディスク6の異物などの異常を先行光スポ
ット30により検出し、記録再生光スポット31が検出
された異物を通過する期間、フォーカスまたはトラッキ
ングの制御を制御信号の低域成分とすることにより、安
定した制御が可能となる。
によれば、光ディスク6の異物などの異常を先行光スポ
ット30により検出し、記録再生光スポット31が検出
された異物を通過する期間、フォーカスまたはトラッキ
ングの制御を制御信号の低域成分とすることにより、安
定した制御が可能となる。
【0041】以下、本発明の実施例についてのさらなる
特徴を、図面を参照しながら説明する。図1において、
特徴となる構成要素としては、後行光スポット反射光検
出器15および差動増幅回路24である。
特徴を、図面を参照しながら説明する。図1において、
特徴となる構成要素としては、後行光スポット反射光検
出器15および差動増幅回路24である。
【0042】記録再生光スポット31の異物通過期間3
5の求め方は、前述したものと同様にし、異物通過期間
35の間の制御信号として先行光スポット30及び後行
光スポット32を用いて、例えばトラッキングエラー信
号を作り切り換えて用いる。
5の求め方は、前述したものと同様にし、異物通過期間
35の間の制御信号として先行光スポット30及び後行
光スポット32を用いて、例えばトラッキングエラー信
号を作り切り換えて用いる。
【0043】図5は、情報トラック7における光スポッ
トの位置を示す概念図である。図5を参照に、先行光ス
ポット30と後行光スポット32とで3ビームトラッキ
ングエラー信号を得る場合について説明する。
トの位置を示す概念図である。図5を参照に、先行光ス
ポット30と後行光スポット32とで3ビームトラッキ
ングエラー信号を得る場合について説明する。
【0044】差動増幅回路24により、先行光スポット
30と後行光スポット32と得られた反射光の差分を取
ることでトラッキングエラー信号を作る。
30と後行光スポット32と得られた反射光の差分を取
ることでトラッキングエラー信号を作る。
【0045】光ディスク6上の異物は、記録再生光スポ
ット31が通過している部分にあり、先行光スポット3
0及び後行光スポット32上にないとき、前記方法によ
りトラッキングエラー信号を作り、記録再生光スポット
31のトラッキングエラー信号として使用することによ
り記録再生光スポット31上に異物があっても記録再生
光スポット31が情報トラック7を確実に追従できる。
ット31が通過している部分にあり、先行光スポット3
0及び後行光スポット32上にないとき、前記方法によ
りトラッキングエラー信号を作り、記録再生光スポット
31のトラッキングエラー信号として使用することによ
り記録再生光スポット31上に異物があっても記録再生
光スポット31が情報トラック7を確実に追従できる。
【0046】このとき、先行光スポット30と後行光ス
ポット32で作るトラッキングエラー信号は光ディスク
6の回転数の成分のみを低域フィルタで取りだして使用
する。低域フィルタは、ディジタル信号処理回路25で
実現する。
ポット32で作るトラッキングエラー信号は光ディスク
6の回転数の成分のみを低域フィルタで取りだして使用
する。低域フィルタは、ディジタル信号処理回路25で
実現する。
【0047】先行光スポット30及び後行光スポット3
2上に異物がないことは、増幅回路20および増幅回路
21の出力をディジタル信号処理回路25で監視するこ
とで確定できる。
2上に異物がないことは、増幅回路20および増幅回路
21の出力をディジタル信号処理回路25で監視するこ
とで確定できる。
【0048】先行光スポット30と後行光スポット32
とのトラッキングエラー信号と記録再生光スポット31
によるトラッキングエラー信号の切り換えはディジタル
信号処理回路25で行う。これが、フォーカスずれ切り
換え手段を意味する。
とのトラッキングエラー信号と記録再生光スポット31
によるトラッキングエラー信号の切り換えはディジタル
信号処理回路25で行う。これが、フォーカスずれ切り
換え手段を意味する。
【0049】また、先行光スポット30と後行光スポッ
ト32で作るトラッキングエラー信号の低域フィルタ演
算もディジタル信号処理回路25で行う。
ト32で作るトラッキングエラー信号の低域フィルタ演
算もディジタル信号処理回路25で行う。
【0050】図8は、第2の実施例における異物検出時
処理を説明するためのフロー図であり、以下、図面に沿
って説明する。
処理を説明するためのフロー図であり、以下、図面に沿
って説明する。
【0051】ステップ9で、記録再生光スポット31で
情報トラック7に作られたアドレスを読む。ステップ1
0で、光ディスク6の線速とアドレスより先行光スポッ
ト30が異物を検出し、記録再生光スポット31が異物
を通過する期間(異物通過期間35)を演算する。ステ
ップ11で、記録再生光スポット31が演算で求めた異
物を通過する期間に、先行光スポット30または後行光
スポット32により求めたトラッキングエラー信号を用
いて演算し、トラッキングアクチュエータ29を駆動す
る。ステップ12で、異物を通過したあと、通常演算に
戻す。
情報トラック7に作られたアドレスを読む。ステップ1
0で、光ディスク6の線速とアドレスより先行光スポッ
ト30が異物を検出し、記録再生光スポット31が異物
を通過する期間(異物通過期間35)を演算する。ステ
ップ11で、記録再生光スポット31が演算で求めた異
物を通過する期間に、先行光スポット30または後行光
スポット32により求めたトラッキングエラー信号を用
いて演算し、トラッキングアクチュエータ29を駆動す
る。ステップ12で、異物を通過したあと、通常演算に
戻す。
【0052】フォーカスエラー信号の切り換えについて
は図示していないが先行光スポット30または後行光ス
ポット32によりフォーカスエラー信号を作り、図8に
示したフローと同様に切り換えることができる。フォー
カスエラー信号の作り方の一例としては公知のスポット
サイズ法がある。つまり、トラッキング制御の場合と同
様にして、フォーカスずれ切り換え手段を実現できる。
は図示していないが先行光スポット30または後行光ス
ポット32によりフォーカスエラー信号を作り、図8に
示したフローと同様に切り換えることができる。フォー
カスエラー信号の作り方の一例としては公知のスポット
サイズ法がある。つまり、トラッキング制御の場合と同
様にして、フォーカスずれ切り換え手段を実現できる。
【0053】記録再生光スポット31と先行光スポット
30または後行光スポット32で作るフォーカスエラー
信号またはトラッキングエラー信号にオフセットがある
場合は、通常の記録再生光スポット31での制御状態に
おいて先行光スポット30または後行光スポット32に
よるエラー信号のオフセットを記憶しておき、切り換え
たときにオフセット分を補正する。
30または後行光スポット32で作るフォーカスエラー
信号またはトラッキングエラー信号にオフセットがある
場合は、通常の記録再生光スポット31での制御状態に
おいて先行光スポット30または後行光スポット32に
よるエラー信号のオフセットを記憶しておき、切り換え
たときにオフセット分を補正する。
【0054】また、記録再生光スポット31により記録
している場合は、後行光スポット32により情報を増幅
回路21、ディジタル信号処理回路25により、記録し
た情報を再生し、記録情報とディジタル信号処理回路2
5で比較し、記録直後に確認する。このようにすること
により記録後、再度情報トラックに移動して再生し、確
認する時間が短縮できる。
している場合は、後行光スポット32により情報を増幅
回路21、ディジタル信号処理回路25により、記録し
た情報を再生し、記録情報とディジタル信号処理回路2
5で比較し、記録直後に確認する。このようにすること
により記録後、再度情報トラックに移動して再生し、確
認する時間が短縮できる。
【0055】図9は、記録データの確認処理を説明する
ためのフロー図であり、以下、図面に沿って説明する。
ためのフロー図であり、以下、図面に沿って説明する。
【0056】ステップ13で、記録再生光スポット31
により情報を光ディスク6に記録する。ステップ14
で、後行光スポット32で記録された情報を再生する。
ステップ15で、記録データ(遅延手段によりタイミン
グを調整している)と再生データの一致を判定する。一
致していれば、エンド(次の処理)へ行き、不一致であ
れば、ステップ16へ行く。ステップ16で、誤記録処
理を行い、終了後、次に処理へ移る。
により情報を光ディスク6に記録する。ステップ14
で、後行光スポット32で記録された情報を再生する。
ステップ15で、記録データ(遅延手段によりタイミン
グを調整している)と再生データの一致を判定する。一
致していれば、エンド(次の処理)へ行き、不一致であ
れば、ステップ16へ行く。ステップ16で、誤記録処
理を行い、終了後、次に処理へ移る。
【0057】以上のように、本実施例の光ディスク装置
によれば、記録再生光スポットが異物などを通過する期
間、制御手段を切り換えて、先行光スポット及び後行光
スポットにより、トラッキング又はフォーカスの制御を
行うので、安定した制御が可能となる。また、異物検出
及び検出時処理を行いつつ、記録データの確認を行うこ
とにより記録、再生を確実に行うことができる。
によれば、記録再生光スポットが異物などを通過する期
間、制御手段を切り換えて、先行光スポット及び後行光
スポットにより、トラッキング又はフォーカスの制御を
行うので、安定した制御が可能となる。また、異物検出
及び検出時処理を行いつつ、記録データの確認を行うこ
とにより記録、再生を確実に行うことができる。
【0058】
【発明の効果】以上のように本発明は、光ディスクに
傷、異物、汚れがあっても先行光スポットで検出し、異
物等が記録再生する光スポット上にある間、先行光スポ
ットまたは後行光スポットを用いて制御することによ
り、フォーカス、トラッキング制御系を安定にして、異
物期間を通過させるとともに、後行光スポットで記録情
報を再生し、記録情報の確認の短時間化、高信頼性化が
はかれる。
傷、異物、汚れがあっても先行光スポットで検出し、異
物等が記録再生する光スポット上にある間、先行光スポ
ットまたは後行光スポットを用いて制御することによ
り、フォーカス、トラッキング制御系を安定にして、異
物期間を通過させるとともに、後行光スポットで記録情
報を再生し、記録情報の確認の短時間化、高信頼性化が
はかれる。
【図1】本発明の一実施例における光ディスク装置のブ
ロック図
ロック図
【図2】光スポットの位置の一例を示す概念図
【図3】光スポットが異物を通過するときの反射光量を
示す概念図
示す概念図
【図4】光スポットの位置の一例を示す概念図
【図5】光スポットの位置の一例を示す概念図
【図6】異物検出を説明するためのフロー図
【図7】異物検出時処理を説明するためのフロー図
【図8】他の異物検出時処理を説明するためのフロー図
【図9】記録データの確認処理を説明するためのフロー
図
図
1 半導体レーザ 6 光ディスク 7 情報トラック 12 フォーカスずれ検出器 13 トラックずれ検出器 14 先行光スポット反射光検出器 15 後行光スポット反射光検出器 25 ディジタル信号処理回路 28 フォーカスアクチュエータ 29 トラッキングアクチュエータ
Claims (13)
- 【請求項1】 記録担体に形成された記録面に複数の光
スポットを照射する光スポット照射手段と、前記記録面
と光スポットとの焦点ずれを検出するフォーカスずれ検
出手段と、前記光スポットを記録面に略垂直方向に移動
させるフォーカス移動手段と、前記フォーカスずれ検出
手段の信号に応じて前記フォーカス移動手段を制御する
フォーカス制御手段と、前記複数の光スポット中の先行
する光スポットの反射光量より前記記録面の異常を検出
する記録面異常検出手段と、前記記録面異常検出手段の
出力に応じて前記フォーカス制御手段の出力を制御する
異常時制御手段とを備えた光ディスク装置。 - 【請求項2】 記録担体に形成された記録面に複数の光
スポットを照射する光スポット照射手段と、前記記録面
に形成された情報トラックと光スポットとのトラック位
置ずれを検出するトラックずれ検出手段と、前記光スポ
ットを前記情報トラックに略直交方向に移動させるトラ
ック移動手段と、前記トラックずれ検出手段の信号に応
じて前記トラック移動手段を制御するトラッキング制御
手段と、前記複数の光スポット中の先行する光スポット
の反射光量より前記記録面の異常を検出する記録面異常
検出手段と、前記記録面異常検出手段の出力に応じて前
記トラッキング制御手段の出力を制御する異常時制御手
段とを備えた光ディスク装置。 - 【請求項3】 先行する光スポットの反射光量が所定の
レベル以上変化し、かつ所定の期間継続したとき異常と
検出する記録面異常検出手段を備えたことを特徴とする
請求項1または2記載の光ディスク装置。 - 【請求項4】 記録面異常検出手段の出力により複数の
光スポット中の後行する光スポットが異常な記録面を通
過する期間を演算し、フォーカス制御手段の出力を制御
する異常時制御手段を備えたことを特徴とする請求項1
記載の光ディスク装置。 - 【請求項5】 記録面異常検出手段の出力により複数の
光スポット中の後行する光スポットが異常な記録面を通
過する期間を演算し、トラッキング制御手段の出力を制
御する異常時制御手段を備えたことを特徴とする請求項
2記載の光ディスク装置。 - 【請求項6】 光スポット照射手段から照射される光ス
ポットは、先行する光スポットと後行する光スポットと
の間隔がフォーカス制御手段が応答する時間以上になる
ことを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 【請求項7】 光スポット照射手段から照射される光ス
ポットは、先行する光スポットと後行する光スポットと
の間隔がトラッキング制御手段が応答する時間以上にな
ることを特徴とする請求項2記載の光ディスク装置。 - 【請求項8】 光スポット照射手段は、先行する光スポ
ットと後行する光スポットとを別の情報トラックに照射
することを特徴とする請求項1または2記載の光ディス
ク装置。 - 【請求項9】 記録担体に形成された記録面に複数の光
スポットを照射し、かつ前記光スポット中の先行する光
スポットを別の情報トラックに照射する光スポット照射
手段と、前記記録面と光スポットとの焦点ずれを検出す
るフォーカスずれ検出手段と、前記光スポットを記録面
に略垂直方向に移動させるフォーカス移動手段と、前記
フォーカスずれ検出手段の信号に応じて前記フォーカス
移動手段を制御するフォーカス制御手段と、前記先行光
スポットと前記記録面との焦点ずれを検出する先行光ス
ポットフォーカスずれ検出手段と、情報トラックへの情
報の記録または再生を行う光スポットの反射光量より記
録面の異常を検出する記録面異常検出手段と、前記記録
面異常検出手段の出力により前記フォーカス制御手段へ
の入力を前記フォーカスずれ検出手段の出力から前記先
行光スポットフォーカスずれ検出手段の出力に切り換え
るフォーカスずれ切り換え手段とを備えた光ディスク装
置。 - 【請求項10】 先行光スポットフォーカスずれ検出手
段は、先行する光スポットと記録面との焦点ずれを検出
し、記録担体の回転による成分を取り出す低域フィルタ
を備えたことを特徴とする請求項9記載の光ディスク装
置。 - 【請求項11】 記録担体に形成された記録面に複数の
光スポットを照射し、かつ前記光スポット中の先行する
光スポットを別の情報トラックに取捨する光スポット照
射手段と、前記記録面に形成された情報トラックと光ス
ポットとのトラック位置ずれを検出するトラックずれ検
出手段と、前記情報トラックに略直交方向に移動させる
トラック移動手段と、前記トラックずれ検出手段の信号
に応じて前記トラック移動手段を制御するトラッキング
制御手段と、前記先行光スポットと情報トラックとのト
ラック位置ずれを検出する先行光スポットトラックずれ
検出手段と、情報トラックへの情報の記録または再生を
行う光スポットの反射光量より記録面の異常を検出する
記録面異常検出手段と、前記記録面異常検出手段の出力
により前記トラッキング制御手段への入力を前記トラッ
クずれ検出手段の出力から前記先行光スポットトラック
ずれ検出手段の出力に切り換えるトラックずれ切り換え
手段とを備えた光ディスク装置。 - 【請求項12】 先行光スポットトラックずれ検出手段
は、先行する光スポットと情報トラックとのトラック位
置ずれを検出し、記録担体の回転による成分を取り出す
低域フィルタを備えたことを特徴とする請求項11記載
の光ディスク装置。 - 【請求項13】 情報を記録または再生する光スポット
の後を行く光スポットから情報を再生する再生手段と、
記録情報と前記再生手段から得られた再生情報とを比較
する比較手段とを備えたことを特徴とする請求項1また
は2記載の光ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16182795A JPH0916981A (ja) | 1995-06-28 | 1995-06-28 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16182795A JPH0916981A (ja) | 1995-06-28 | 1995-06-28 | 光ディスク装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0916981A true JPH0916981A (ja) | 1997-01-17 |
Family
ID=15742675
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16182795A Pending JPH0916981A (ja) | 1995-06-28 | 1995-06-28 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0916981A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006126242A1 (ja) * | 2005-05-23 | 2006-11-30 | Renesas Technology Corp. | 光ディスク装置 |
-
1995
- 1995-06-28 JP JP16182795A patent/JPH0916981A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006126242A1 (ja) * | 2005-05-23 | 2006-11-30 | Renesas Technology Corp. | 光ディスク装置 |
US7995431B2 (en) | 2005-05-23 | 2011-08-09 | Renesas Electronics Corporation | Optical disc device |
US8780680B2 (en) | 2005-05-23 | 2014-07-15 | Renesas Electronics Corporation | Optical disc device |
US9153271B2 (en) | 2005-05-23 | 2015-10-06 | Renesas Electronics Corporation | Optical disc device |
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