JPH09160728A - 記憶装置のエラー訂正方法 - Google Patents
記憶装置のエラー訂正方法Info
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- JPH09160728A JPH09160728A JP7346044A JP34604495A JPH09160728A JP H09160728 A JPH09160728 A JP H09160728A JP 7346044 A JP7346044 A JP 7346044A JP 34604495 A JP34604495 A JP 34604495A JP H09160728 A JPH09160728 A JP H09160728A
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- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/76—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using address translation or modifications
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【解決手段】 本発明においては、データを例えば１セ
クタ分読み出し、エラーが存在する場合、そのデータ中
で不良ビット数の検出を行う。そして、予め定めた値を
この不良ビット数と比較して、不良ビット数が多ければ
予備領域をその後使用するという代替処理を行う。 【効果】 不良ビット数が１ビット程度の場合には外来
雑音というケースが多いため、代替処理を行わないよう
にし、記憶装置の予備領域を有効に活用する。
クタ分読み出し、エラーが存在する場合、そのデータ中
で不良ビット数の検出を行う。そして、予め定めた値を
この不良ビット数と比較して、不良ビット数が多ければ
予備領域をその後使用するという代替処理を行う。 【効果】 不良ビット数が１ビット程度の場合には外来
雑音というケースが多いため、代替処理を行わないよう
にし、記憶装置の予備領域を有効に活用する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ディスク装
置、磁気ディスク装置等の記憶装置に対しデータを書き
込んだ場合に、その読出しの際に生じるエラーを訂正
し、適切な処置を行うための記憶装置のエラー訂正方法
に関する。
置、磁気ディスク装置等の記憶装置に対しデータを書き
込んだ場合に、その読出しの際に生じるエラーを訂正
し、適切な処置を行うための記憶装置のエラー訂正方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】情報処理装置には大量のデータやプログ
ラムを格納しておくためのディスク装置が使用される。
これには磁気ディスク装置、フロッピーディスク装置あ
るいは半導体により構成された半導体ディスク装置等が
よく知られている。これらの記憶装置に書き込まれたデ
ータは、各種のアプリケーション実行の際に呼び出され
利用される。このようなデータには高い信頼性が必要で
あり、記憶装置へのデータ書込みの際には、万一読出し
エラーが生じた場合に、その内容を正しく訂正するため
のデータが付加される。外部雑音の侵入等によってこの
ような読出しエラーが生じることがあるが、近年の情報
処理装置は雑音に対する遮蔽技術等が発達し、この種の
エラーは更に減少の傾向にある。
ラムを格納しておくためのディスク装置が使用される。
これには磁気ディスク装置、フロッピーディスク装置あ
るいは半導体により構成された半導体ディスク装置等が
よく知られている。これらの記憶装置に書き込まれたデ
ータは、各種のアプリケーション実行の際に呼び出され
利用される。このようなデータには高い信頼性が必要で
あり、記憶装置へのデータ書込みの際には、万一読出し
エラーが生じた場合に、その内容を正しく訂正するため
のデータが付加される。外部雑音の侵入等によってこの
ような読出しエラーが生じることがあるが、近年の情報
処理装置は雑音に対する遮蔽技術等が発達し、この種の
エラーは更に減少の傾向にある。
【０００３】ここで、例えばフラッシュメモリ等を利用
した半導体ディスク装置は、データの読み書きを繰り返
すと、その繰り返し回数が一定以上に達した場合に、デ
ータの記憶動作が不安定になり、その後、書込み不能と
なる。このような欠陥が生じた場合には、従来、その欠
陥のあるセクタをそっくり使用禁止にし、予備領域に対
し該当するデータを格納するという代替処理を行うよう
にしていた。即ち、データの読出しを行ってエラーが発
生した場合には、記憶媒体の欠陥があると見なし、その
エラーを訂正する一方で代替処理を実行するといった方
法で対処していた。
した半導体ディスク装置は、データの読み書きを繰り返
すと、その繰り返し回数が一定以上に達した場合に、デ
ータの記憶動作が不安定になり、その後、書込み不能と
なる。このような欠陥が生じた場合には、従来、その欠
陥のあるセクタをそっくり使用禁止にし、予備領域に対
し該当するデータを格納するという代替処理を行うよう
にしていた。即ち、データの読出しを行ってエラーが発
生した場合には、記憶媒体の欠陥があると見なし、その
エラーを訂正する一方で代替処理を実行するといった方
法で対処していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な従来の記憶装置のエラー訂正方法には次のような解決
すべき課題がある。既に説明したように、外部雑音等に
よって読み出したデータにエラーを生じる率は近年ます
ます減少している。しかしながら、これは皆無ではな
い。従って、記憶装置から読み出したデータにエラーが
生じた場合に一律に代替処理を実行すると、予備領域が
次第に減少し、記憶装置全体の寿命を縮めてしまう。一
方、エラーが発生しても訂正可能なエラーである限り訂
正処理を行い、代替処理の対象を絞る方法もあるが、こ
れではデータの読み出し動作を行う度にその訂正を行う
必要があり、アクセス時間が長くなるという問題があっ
た。
な従来の記憶装置のエラー訂正方法には次のような解決
すべき課題がある。既に説明したように、外部雑音等に
よって読み出したデータにエラーを生じる率は近年ます
ます減少している。しかしながら、これは皆無ではな
い。従って、記憶装置から読み出したデータにエラーが
生じた場合に一律に代替処理を実行すると、予備領域が
次第に減少し、記憶装置全体の寿命を縮めてしまう。一
方、エラーが発生しても訂正可能なエラーである限り訂
正処理を行い、代替処理の対象を絞る方法もあるが、こ
れではデータの読み出し動作を行う度にその訂正を行う
必要があり、アクセス時間が長くなるという問題があっ
た。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は以上の点を解決
するため次の構成を採用する。 〈構成１〉記憶媒体から読み出したデータにエラーがあ
って、かつ、そのデータが訂正可能な場合に、そのデー
タの訂正を行うとともに、読み出したデータに含まれる
不良ビット数を検出し、この不良ビット数が予め設定し
た値以下の場合には、そのまま訂正後のデータを出力
し、不良ビット数が予め設定した値を越える場合には、
上記記憶媒体の予備領域にそのデータを格納して、これ
まで格納していた記憶領域の使用を禁止する代替処理を
実行する。
するため次の構成を採用する。 〈構成１〉記憶媒体から読み出したデータにエラーがあ
って、かつ、そのデータが訂正可能な場合に、そのデー
タの訂正を行うとともに、読み出したデータに含まれる
不良ビット数を検出し、この不良ビット数が予め設定し
た値以下の場合には、そのまま訂正後のデータを出力
し、不良ビット数が予め設定した値を越える場合には、
上記記憶媒体の予備領域にそのデータを格納して、これ
まで格納していた記憶領域の使用を禁止する代替処理を
実行する。
【０００６】〈説明〉記憶媒体の特定の領域に障害があ
ると、その領域から読み出した一連のデータには、偶発
的でない頻度の高いエラーが生じる。エラーを生じたデ
ータは、予め準備したエラー訂正用のデータにより訂正
できることが多いが、エラービットが多ければ、記憶領
域の障害と判断し、記憶媒体の予備領域を使用する代替
え処理を行う。こうすれば、次の読み出し時に、再度訂
正処理を繰り返すのを防止できる。一方、エラービット
が少なければ、偶発的なエラーと判断し、代替え処理は
しない。これにより、記憶媒体の予備領域の無駄遣いを
防止できる。
ると、その領域から読み出した一連のデータには、偶発
的でない頻度の高いエラーが生じる。エラーを生じたデ
ータは、予め準備したエラー訂正用のデータにより訂正
できることが多いが、エラービットが多ければ、記憶領
域の障害と判断し、記憶媒体の予備領域を使用する代替
え処理を行う。こうすれば、次の読み出し時に、再度訂
正処理を繰り返すのを防止できる。一方、エラービット
が少なければ、偶発的なエラーと判断し、代替え処理は
しない。これにより、記憶媒体の予備領域の無駄遣いを
防止できる。
【０００７】〈構成２〉記憶媒体から読み出したデータ
にエラーがあって、かつ、そのデータが訂正可能な場合
に、そのデータの訂正を行うとともに、そのデータの読
み出し時の訂正回数を累積して記録し、訂正回数が予め
設定した限界値を越える場合には、上記記憶媒体の予備
領域にそのデータを格納して、これまで格納していた記
憶領域の使用を禁止する代替処理を実行する。
にエラーがあって、かつ、そのデータが訂正可能な場合
に、そのデータの訂正を行うとともに、そのデータの読
み出し時の訂正回数を累積して記録し、訂正回数が予め
設定した限界値を越える場合には、上記記憶媒体の予備
領域にそのデータを格納して、これまで格納していた記
憶領域の使用を禁止する代替処理を実行する。
【０００８】〈説明〉半導体ディスクのような記憶媒体
では、読み書き回数が所定回数を越えると動作が不安定
になる。一方、健全な状態ではほとんどエラーは生じな
い。そこで、エラー発生回数を累積して累積値が限界を
越えたらその記憶領域の使用を停止する。これにより、
データの信頼性を確保しつつ、記憶媒体の予備領域を有
効に活用できる。
では、読み書き回数が所定回数を越えると動作が不安定
になる。一方、健全な状態ではほとんどエラーは生じな
い。そこで、エラー発生回数を累積して累積値が限界を
越えたらその記憶領域の使用を停止する。これにより、
データの信頼性を確保しつつ、記憶媒体の予備領域を有
効に活用できる。
【０００９】〈構成３〉記憶媒体から読み出したデータ
にエラーがあって、かつ、そのデータが訂正可能な場合
に、そのデータの訂正を行うとともに、そのデータの読
み出し時の訂正が連続したかどうかを検出し、訂正が連
続的に生じた場合には、上記記憶媒体の予備領域にその
データを格納して、これまで格納していた記憶領域の使
用を禁止する代替処理を実行する。
にエラーがあって、かつ、そのデータが訂正可能な場合
に、そのデータの訂正を行うとともに、そのデータの読
み出し時の訂正が連続したかどうかを検出し、訂正が連
続的に生じた場合には、上記記憶媒体の予備領域にその
データを格納して、これまで格納していた記憶領域の使
用を禁止する代替処理を実行する。
【００１０】〈説明〉偶発的なエラーが同一の記憶領域
に対して連続的に生じる場合は極めて稀である。一方、
記憶領域に障害があれば、読み出し時にエラーが連続的
に発生する。これを検出すれば、記憶媒体の代替処理を
確実に行える。
に対して連続的に生じる場合は極めて稀である。一方、
記憶領域に障害があれば、読み出し時にエラーが連続的
に発生する。これを検出すれば、記憶媒体の代替処理を
確実に行える。
【００１１】〈構成４〉記憶媒体から読み出したデータ
にエラーがあって、かつ、そのデータが訂正可能な場合
に、そのデータの訂正を行うとともに、そのデータの読
み出し時の訂正頻度を計算して、訂正頻度が予め設定し
た限界値を越えているときは、上記記憶媒体の予備領域
にそのデータを格納して、これまで格納していた記憶領
域の使用を禁止する代替処理を実行する。
にエラーがあって、かつ、そのデータが訂正可能な場合
に、そのデータの訂正を行うとともに、そのデータの読
み出し時の訂正頻度を計算して、訂正頻度が予め設定し
た限界値を越えているときは、上記記憶媒体の予備領域
にそのデータを格納して、これまで格納していた記憶領
域の使用を禁止する代替処理を実行する。
【００１２】〈説明〉偶発的なエラーが同一の記憶領域
に対して連続的に生じる場合は稀である。一方、記憶領
域の動作が不安定であれば、読み出し時にエラーが高い
頻度で生じる。これを検出すれば、記憶媒体の代替処理
を、早期に永久故障の発生する前に行える。
に対して連続的に生じる場合は稀である。一方、記憶領
域の動作が不安定であれば、読み出し時にエラーが高い
頻度で生じる。これを検出すれば、記憶媒体の代替処理
を、早期に永久故障の発生する前に行える。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を具体
例を用いて説明する。 〈具体例１〉図１は、本発明による記憶媒体のリード動
作フローチャートである。この方法の説明の前に、まず
本発明の方法を実施するための一般の記憶装置の構成を
説明する。図２は、一般の記憶装置の構成を示すブロッ
ク図である。図の外部記憶装置１０は、例えば半導体デ
ィスク装置により構成されている。この外部記憶装置１
０はホストコンピュータ２０と接続されており、データ
の書込み及び読出しが実行される。外部記憶装置１０に
はインタフェース部１、バッファメモリ２、コントロー
ラ部３、ＥＣＣ部（エラー検出訂正部）４、記憶媒体５
が設けられている。
例を用いて説明する。 〈具体例１〉図１は、本発明による記憶媒体のリード動
作フローチャートである。この方法の説明の前に、まず
本発明の方法を実施するための一般の記憶装置の構成を
説明する。図２は、一般の記憶装置の構成を示すブロッ
ク図である。図の外部記憶装置１０は、例えば半導体デ
ィスク装置により構成されている。この外部記憶装置１
０はホストコンピュータ２０と接続されており、データ
の書込み及び読出しが実行される。外部記憶装置１０に
はインタフェース部１、バッファメモリ２、コントロー
ラ部３、ＥＣＣ部（エラー検出訂正部）４、記憶媒体５
が設けられている。
【００１４】図３には、このような記憶装置に対するデ
ータのライト動作フローチャートを示す。一般には、こ
のような手順でデータの書込みが行われる。まず、ステ
ップＳ１において、外部記憶装置１０はインタフェース
部１からデータを受け入れる。このデータはステップＳ
２においてバッファメモリ２に書き込まれる。次にステ
ップＳ３では、ＥＣＣ部４がデータのエラー検出用及び
訂正用データを生成し、これに付加する。そして、ステ
ップＳ４において、記憶媒体５へのデータ書込みが行わ
れる。
ータのライト動作フローチャートを示す。一般には、こ
のような手順でデータの書込みが行われる。まず、ステ
ップＳ１において、外部記憶装置１０はインタフェース
部１からデータを受け入れる。このデータはステップＳ
２においてバッファメモリ２に書き込まれる。次にステ
ップＳ３では、ＥＣＣ部４がデータのエラー検出用及び
訂正用データを生成し、これに付加する。そして、ステ
ップＳ４において、記憶媒体５へのデータ書込みが行わ
れる。
【００１５】図４に、一般の記憶装置のリード動作フロ
ーチャートを示す。まず、ステップＳ１において、記憶
媒体５からデータの読出しが行われる。この読出しは、
例えばセクタ単位で行われる。ステップＳ２では、この
データをバッファメモリ２へ格納する。ステップＳ３で
は、ＥＣＣ部４がこのデータのエラーの有無を検査す
る。そして、訂正不可能のエラーであればステップＳ４
に移り、エラー処理を行う。このエラー処理というの
は、データの再送要求をしたり、あるいは各種のエラー
メッセージの出力等の処理である。また、訂正可能なエ
ラーであればステップＳ５に移り、データの訂正を行
う。その後、ステップＳ６へ移り、データをホストへ送
る。なお、エラーが無い場合は直接ステップＳ３からス
テップＳ６に移り、データをホストへ送る。なお、ここ
で、従来は、一律にデータの訂正を行うか、あるいは図
に示すような代替処理を一律に行うようにしていた。
ーチャートを示す。まず、ステップＳ１において、記憶
媒体５からデータの読出しが行われる。この読出しは、
例えばセクタ単位で行われる。ステップＳ２では、この
データをバッファメモリ２へ格納する。ステップＳ３で
は、ＥＣＣ部４がこのデータのエラーの有無を検査す
る。そして、訂正不可能のエラーであればステップＳ４
に移り、エラー処理を行う。このエラー処理というの
は、データの再送要求をしたり、あるいは各種のエラー
メッセージの出力等の処理である。また、訂正可能なエ
ラーであればステップＳ５に移り、データの訂正を行
う。その後、ステップＳ６へ移り、データをホストへ送
る。なお、エラーが無い場合は直接ステップＳ３からス
テップＳ６に移り、データをホストへ送る。なお、ここ
で、従来は、一律にデータの訂正を行うか、あるいは図
に示すような代替処理を一律に行うようにしていた。
【００１６】本発明では、図１に示すようにして一定の
条件下に代替処理を行うかどうかの判断をする。図１に
戻って、本発明の動作を具体的に説明する。この図１に
示すフローチャートで、ステップＳ１、ステップＳ２、
ステップＳ３の処理は、図４を用いて説明した一般の処
理と同様である。即ち、ステップＳ１で記憶媒体からデ
ータを読み取り、ステップＳ２でバッファメモリへデー
タの格納をし、ステップＳ３でエラーの有無をチェック
する。訂正不可能なエラーの処理も従来と同様である。
条件下に代替処理を行うかどうかの判断をする。図１に
戻って、本発明の動作を具体的に説明する。この図１に
示すフローチャートで、ステップＳ１、ステップＳ２、
ステップＳ３の処理は、図４を用いて説明した一般の処
理と同様である。即ち、ステップＳ１で記憶媒体からデ
ータを読み取り、ステップＳ２でバッファメモリへデー
タの格納をし、ステップＳ３でエラーの有無をチェック
する。訂正不可能なエラーの処理も従来と同様である。
【００１７】一方、訂正可能なエラーの処理は、ステッ
プＳ５に移り、データの訂正を行った後、ステップＳ６
で不良ビット数の検出を行う。即ち、例えば１セクタ分
のデータを読み出した場合に、不良ビット数が何ビット
存在したかをここで検出する。そして、ステップＳ７に
おいて、予め設定した値とこの不良ビット数とを比較す
る。例えば、この設定した値は“２”とする。即ち、外
来雑音等によって稀に発生するデータエラーはほとんど
の場合１ビットである。一方、記憶媒体の動作不安定や
不良によるエラーは２ビット以上にわたることが多い。
従って、外来雑音による場合と、記憶媒体が原因する場
合とをこの不良ビット数により切り分ける。その結果、
不良ビット数が“１”の場合には、データ訂正後ステッ
プＳ９へそのまま移り、ホストへデータを送る。一方、
不良ビット数が“２”以上存在する場合には、ステップ
Ｓ８に移り、代替処理が行われる。
プＳ５に移り、データの訂正を行った後、ステップＳ６
で不良ビット数の検出を行う。即ち、例えば１セクタ分
のデータを読み出した場合に、不良ビット数が何ビット
存在したかをここで検出する。そして、ステップＳ７に
おいて、予め設定した値とこの不良ビット数とを比較す
る。例えば、この設定した値は“２”とする。即ち、外
来雑音等によって稀に発生するデータエラーはほとんど
の場合１ビットである。一方、記憶媒体の動作不安定や
不良によるエラーは２ビット以上にわたることが多い。
従って、外来雑音による場合と、記憶媒体が原因する場
合とをこの不良ビット数により切り分ける。その結果、
不良ビット数が“１”の場合には、データ訂正後ステッ
プＳ９へそのまま移り、ホストへデータを送る。一方、
不良ビット数が“２”以上存在する場合には、ステップ
Ｓ８に移り、代替処理が行われる。
【００１８】図５には、この代替処理の具体的な動作説
明図を示す。この図に示すように、記憶媒体５のある記
憶領域１１からデータを読み出した場合に不良ビット数
が多いことを検出すると、データの訂正を行い、ホスト
コンピュータに送ると共に、この領域から読み出した訂
正後のデータを記憶媒体５の予備領域１２に存在する空
き領域１３に格納する。そして、エラーの処理を行う際
に、記憶領域１１に不良マーク１４を付けて、以後この
記憶領域１１の使用を禁止する。こうして、記憶領域１
１の代わりに空き領域１３を代替セクタとして使用す
る。代替処理は以上のような内容で、この処理の内容自
体は従来と同様である。本発明においては、不良ビット
数に応じてこの代替処理を実行するかしないかを切り分
け、これによって外来雑音によって読み出しエラーが生
じた場合には、データの訂正処理のみを行うため記憶媒
体の予備領域が節約できる。また、一定ビット数以上の
エラーが生じるような場合には代替処理を行い、データ
読出しの都度訂正処理を行うことによってアクセス速度
が低下するのを防止する。
明図を示す。この図に示すように、記憶媒体５のある記
憶領域１１からデータを読み出した場合に不良ビット数
が多いことを検出すると、データの訂正を行い、ホスト
コンピュータに送ると共に、この領域から読み出した訂
正後のデータを記憶媒体５の予備領域１２に存在する空
き領域１３に格納する。そして、エラーの処理を行う際
に、記憶領域１１に不良マーク１４を付けて、以後この
記憶領域１１の使用を禁止する。こうして、記憶領域１
１の代わりに空き領域１３を代替セクタとして使用す
る。代替処理は以上のような内容で、この処理の内容自
体は従来と同様である。本発明においては、不良ビット
数に応じてこの代替処理を実行するかしないかを切り分
け、これによって外来雑音によって読み出しエラーが生
じた場合には、データの訂正処理のみを行うため記憶媒
体の予備領域が節約できる。また、一定ビット数以上の
エラーが生じるような場合には代替処理を行い、データ
読出しの都度訂正処理を行うことによってアクセス速度
が低下するのを防止する。
【００１９】図６には、半導体ディスクのメモリ素子動
作説明図を示す。ここで、半導体ディスクの場合のメモ
リ素子がそのリードライト回数に応じてどのような経過
を辿るかを説明する。図の（ａ）は、読み出しエラーの
累積値を縦軸にとり、横軸にはリードライト回数を示し
た。（ｂ）には、同様に横軸にリードライト回数を示
し、縦軸にはデータが正常な場合には“１”、エラーの
場合には“−１”となるような表示を行った。即ち、リ
ードライト回数が少ない場合には、読み出しエラーは生
じないが、ある回数を越えると次第に不安定になり、読
み出しエラーが頻発し、最後に永久故障となる。このよ
うな読み出しエラーの回数を累積すると、図の（ａ）に
示すように、永久故障が発生するまで緩やかに累積値が
増加し、その後は連続的にエラーが生じるため、直線的
に累積値が増加する。
作説明図を示す。ここで、半導体ディスクの場合のメモ
リ素子がそのリードライト回数に応じてどのような経過
を辿るかを説明する。図の（ａ）は、読み出しエラーの
累積値を縦軸にとり、横軸にはリードライト回数を示し
た。（ｂ）には、同様に横軸にリードライト回数を示
し、縦軸にはデータが正常な場合には“１”、エラーの
場合には“−１”となるような表示を行った。即ち、リ
ードライト回数が少ない場合には、読み出しエラーは生
じないが、ある回数を越えると次第に不安定になり、読
み出しエラーが頻発し、最後に永久故障となる。このよ
うな読み出しエラーの回数を累積すると、図の（ａ）に
示すように、永久故障が発生するまで緩やかに累積値が
増加し、その後は連続的にエラーが生じるため、直線的
に累積値が増加する。
【００２０】第２の具体例においては、このような半導
体ディスクの性質を利用し、読み出しエラーの累積値が
図に示す限界値Ｇを越えた場合に代替処理を実行させ
る。即ち、動作が不安定になり読み出しエラーの頻度が
高くなると、読み出しの都度その内容を訂正する処理が
負担になる。そこで、丁度動作が不安定になる直前ある
いは直後のタイミングで代替処理を行うようにする。
体ディスクの性質を利用し、読み出しエラーの累積値が
図に示す限界値Ｇを越えた場合に代替処理を実行させ
る。即ち、動作が不安定になり読み出しエラーの頻度が
高くなると、読み出しの都度その内容を訂正する処理が
負担になる。そこで、丁度動作が不安定になる直前ある
いは直後のタイミングで代替処理を行うようにする。
【００２１】図７には、このような動作を行うための具
体的な処理の説明図を示す。この図に示すように、この
動作を行うためには記憶媒体中にデータ２１と共に訂正
可能なエラーの発生回数２２を格納しておく。そして、
データの読み出しと共に訂正可能なエラーの発生回数２
２を読み出し、比較部２３において限界値Ｌと比較す
る。これによって、その判定結果を得る。
体的な処理の説明図を示す。この図に示すように、この
動作を行うためには記憶媒体中にデータ２１と共に訂正
可能なエラーの発生回数２２を格納しておく。そして、
データの読み出しと共に訂正可能なエラーの発生回数２
２を読み出し、比較部２３において限界値Ｌと比較す
る。これによって、その判定結果を得る。
【００２２】図８には、この第２の具体例の動作フロー
チャートを示す。まず、ステップＳ１において、記憶媒
体よりデータを読み出し、ステップＳ２において、それ
をバッファメモリに格納する。更にステップＳ３におい
て、エラーの有無を検出し、訂正不可能なエラーはステ
ップＳ４でエラー処理を実行する。また、ステップＳ３
で訂正可能なエラーと判断された場合には、ステップＳ
５に移りデータの訂正を行う。ここで、ステップＳ６で
先に説明した訂正可能なエラーの発生回数を読み出す。
そして、ステップＳ７において、予め設定した値と比較
する。この値は、記憶媒体が寿命に達するリードライト
回数近くまで使用した場合に、外来雑音によって生じる
エラーの累積値を考慮して設定する。このようなエラー
発生の確率が極めて少ない場合には、それに応じた限界
値を設定する。そして、限界値以下の場合には今回発生
した回数を加えて訂正可能エラー発生回数を保存してお
く。そして、ステップＳ１０でホストへデータを送る。
一方、限界値を越えた場合にはステップＳ９に移り、先
に説明した代替処理を実行する。
チャートを示す。まず、ステップＳ１において、記憶媒
体よりデータを読み出し、ステップＳ２において、それ
をバッファメモリに格納する。更にステップＳ３におい
て、エラーの有無を検出し、訂正不可能なエラーはステ
ップＳ４でエラー処理を実行する。また、ステップＳ３
で訂正可能なエラーと判断された場合には、ステップＳ
５に移りデータの訂正を行う。ここで、ステップＳ６で
先に説明した訂正可能なエラーの発生回数を読み出す。
そして、ステップＳ７において、予め設定した値と比較
する。この値は、記憶媒体が寿命に達するリードライト
回数近くまで使用した場合に、外来雑音によって生じる
エラーの累積値を考慮して設定する。このようなエラー
発生の確率が極めて少ない場合には、それに応じた限界
値を設定する。そして、限界値以下の場合には今回発生
した回数を加えて訂正可能エラー発生回数を保存してお
く。そして、ステップＳ１０でホストへデータを送る。
一方、限界値を越えた場合にはステップＳ９に移り、先
に説明した代替処理を実行する。
【００２３】この第２の具体例では、上記のように読み
出しエラーの累積値を基準にして代替処理の必要の有無
を判断した。従って、半導体ディスク装置の場合には、
特に図６に示すような動作を行う傾向が強いため、これ
に適した代替処理の管理が可能となる。また、動作が不
安定になった段階で代替処理を行うためには、比較的短
期間に繰り返しエラーが発生したことを検出すればよ
い。従って、その記憶媒体の使用開始時からの累積値と
限界値を比較するのでなく、一定期間のエラー発生回数
を限界値と比較する。これによって、データの読み出し
時の訂正頻度を基準として代替処理を行うことができ
る。このようにしても記憶媒体の代替処理を効率的に行
うことができる。なお、数回連続してエラーが発生した
場合には永久故障と見なせるから、その場合に直ちに代
替処理を行ってもよい。
出しエラーの累積値を基準にして代替処理の必要の有無
を判断した。従って、半導体ディスク装置の場合には、
特に図６に示すような動作を行う傾向が強いため、これ
に適した代替処理の管理が可能となる。また、動作が不
安定になった段階で代替処理を行うためには、比較的短
期間に繰り返しエラーが発生したことを検出すればよ
い。従って、その記憶媒体の使用開始時からの累積値と
限界値を比較するのでなく、一定期間のエラー発生回数
を限界値と比較する。これによって、データの読み出し
時の訂正頻度を基準として代替処理を行うことができ
る。このようにしても記憶媒体の代替処理を効率的に行
うことができる。なお、数回連続してエラーが発生した
場合には永久故障と見なせるから、その場合に直ちに代
替処理を行ってもよい。
【００２４】上記の具体例では、半導体ディスク装置を
例に挙げて説明を行った。しかしながら、磁気ディスク
装置、フロッピーディスク装置等、各種の記憶装置には
それぞれ類似した性質があり、先に説明したいずれかの
具体例を使用することによって適切な代替処理の管理が
可能となる。従って、いずれの場合にも記憶媒体の予備
領域を有効に利用し、記憶装置自体の長寿命化を図るこ
とが可能となる。
例に挙げて説明を行った。しかしながら、磁気ディスク
装置、フロッピーディスク装置等、各種の記憶装置には
それぞれ類似した性質があり、先に説明したいずれかの
具体例を使用することによって適切な代替処理の管理が
可能となる。従って、いずれの場合にも記憶媒体の予備
領域を有効に利用し、記憶装置自体の長寿命化を図るこ
とが可能となる。
【図１】本発明による記憶媒体のリード動作フローチャ
ートである。
ートである。
【図２】一般の記憶装置のブロック図である。
【図３】一般の記憶装置ライト動作フローチャートであ
る。
る。
【図４】一般の記憶装置リード動作フローチャートであ
る。
る。
【図５】代替処理の動作説明図である。
【図６】半導体ディスクのメモリ素子動作説明図であ
る。
る。
【図７】限界値との比較動作説明図である。
【図８】本発明による別の具体例の動作フローチャート
である。
である。
ステップＳ１〜ステップＳ９ 処理ステップ
Claims (4)
- 【請求項１】 記憶媒体から読み出したデータにエラー
があって、かつ、そのデータが訂正可能な場合に、 そのデータの訂正を行うとともに、読み出したデータに
含まれる不良ビット数を検出し、 この不良ビット数が予め設定した値以下の場合には、そ
のまま訂正後のデータを出力し、 不良ビット数が予め設定した値を越える場合には、前記
記憶媒体の予備領域にそのデータを格納して、これまで
格納していた記憶領域の使用を禁止する代替処理を実行
することを特徴とする記憶装置のエラー訂正方法。 - 【請求項２】 記憶媒体から読み出したデータにエラー
があって、かつ、そのデータが訂正可能な場合に、 そのデータの訂正を行うとともに、 そのデータの読み出し時の訂正回数を累積して記録し、 訂正回数が予め設定した限界値を越える場合には、 前記記憶媒体の予備領域にそのデータを格納して、これ
まで格納していた記憶領域の使用を禁止する代替処理を
実行することを特徴とする記憶装置のエラー訂正方法。 - 【請求項３】 記憶媒体から読み出したデータにエラー
があって、かつ、そのデータが訂正可能な場合に、 そのデータの訂正を行うとともに、 そのデータの読み出し時の訂正が連続したかどうかを検
出し、 訂正が連続的に生じた場合には、 前記記憶媒体の予備領域にそのデータを格納して、これ
まで格納していた記憶領域の使用を禁止する代替処理を
実行することを特徴とする記憶装置のエラー訂正方法。 - 【請求項４】 記憶媒体から読み出したデータにエラー
があって、かつ、そのデータが訂正可能な場合に、 そのデータの訂正を行うとともに、 そのデータの読み出し時の訂正頻度を計算して、 訂正頻度が予め設定した限界値を越えているときは、 前記記憶媒体の予備領域にそのデータを格納して、これ
まで格納していた記憶領域の使用を禁止する代替処理を
実行することを特徴とする記憶装置のエラー訂正方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7346044A JPH09160728A (ja) | 1995-12-11 | 1995-12-11 | 記憶装置のエラー訂正方法 |
| US08/740,899 US5740177A (en) | 1995-12-11 | 1996-11-04 | Method of correcting error, suitable for storage device |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7346044A JPH09160728A (ja) | 1995-12-11 | 1995-12-11 | 記憶装置のエラー訂正方法 |
| US08/740,899 US5740177A (en) | 1995-12-11 | 1996-11-04 | Method of correcting error, suitable for storage device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09160728A true JPH09160728A (ja) | 1997-06-20 |
Family
ID=26578176
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7346044A Pending JPH09160728A (ja) | 1995-12-11 | 1995-12-11 | 記憶装置のエラー訂正方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5740177A (ja) |
| JP (1) | JPH09160728A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7174478B2 (en) | 2002-08-14 | 2007-02-06 | International Business Machines Corporation | Method for re-assigning data, apparatus for recording data and program |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6360346B1 (en) * | 1997-08-27 | 2002-03-19 | Sony Corporation | Storage unit, method of checking storage unit, reading and writing method |
| JP2000173289A (ja) * | 1998-12-10 | 2000-06-23 | Toshiba Corp | エラー訂正可能なフラッシュメモリシステム |
| JP4695385B2 (ja) | 2004-11-30 | 2011-06-08 | 株式会社東芝 | メモリカードおよびカードコントローラ |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5268870A (en) * | 1988-06-08 | 1993-12-07 | Eliyahou Harari | Flash EEPROM system and intelligent programming and erasing methods therefor |
| US5367652A (en) * | 1990-02-02 | 1994-11-22 | Golden Jeffrey A | Disc drive translation and defect management apparatus and method |
| US5438573A (en) * | 1991-09-13 | 1995-08-01 | Sundisk Corporation | Flash EEPROM array data and header file structure |
| US5475693A (en) * | 1994-12-27 | 1995-12-12 | Intel Corporation | Error management processes for flash EEPROM memory arrays |
-
1995
- 1995-12-11 JP JP7346044A patent/JPH09160728A/ja active Pending
-
1996
- 1996-11-04 US US08/740,899 patent/US5740177A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7174478B2 (en) | 2002-08-14 | 2007-02-06 | International Business Machines Corporation | Method for re-assigning data, apparatus for recording data and program |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5740177A (en) | 1998-04-14 |
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