JPH09129396A - X線発生装置 - Google Patents
X線発生装置Info
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- JPH09129396A JPH09129396A JP29418895A JP29418895A JPH09129396A JP H09129396 A JPH09129396 A JP H09129396A JP 29418895 A JP29418895 A JP 29418895A JP 29418895 A JP29418895 A JP 29418895A JP H09129396 A JPH09129396 A JP H09129396A
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Abstract
エネルギに対して所定のX線エネルギを発生するための
多層薄膜ターゲットの準備が簡単なX線発生装置を提供
する。 【解決手段】荷電粒子ビームを発生し、これを加速して
送出する粒子ビーム発生装置21と、この粒子ビーム発
生装置21から送出された荷電粒子ビームを真空状態に
保持された空胴24内に導入し、該空胴24内で複数回
周回させる粒子ビーム保存装置23と、空胴24内に配
置され、荷電粒子ビームの入射を受けて多重干渉X線を
発生する多層膜ターゲット27とを備えている。多層膜
ターゲット27は、シリコンウェハにエッチング加工を
施した薄膜を積層したもので構成されている。
Description
子ビームを多層薄膜に入射させることによって多層薄膜
から多重干渉X線を発生させるX線発生装置に関する。
等の荷電粒子ビームを多層薄膜に入射させた際に発生す
る共鳴遷移放射光(resonance transition radiation)
が注目されている。
概略構成が示されている。図中1は電子ビームを発生
し、これを加速して送出する電子ビーム発生装置をを示
している。電子ビーム発生装置1から送出された電子ビ
ーム2は、進行路途上に配置された多層薄膜ターゲット
3に入射する。この入射によって多層薄膜ターゲット3
から波長が1オングストローム以下のX線4が放出され
る。このX線4は図示しない案内路を介して導かれ、た
とえば露光などに用いられる。多層薄膜ターゲット3を
通過した電子ビーム2は、ビームダンプ5で回収され
る。
が示されている。(a) は多層薄膜ターゲット3の縦断面
図であり、(b) は多層薄膜ターゲット3の正面図であ
る。同図に示すように、環状に形成された固定台6の一
方の面に径および高さの異なる複数の薄膜固定用リング
7を同心円状に配設し、これら薄膜固定用リング7にマ
イラ製の薄膜8を接着によってそれぞれ取り付けたもの
となっている。通常は、各薄膜固定用リング7の高さの
調整で薄膜相互の間隔を一定の値に保つようにしてい
る。また、薄膜8を形成する素材としては、マイラの他
にBe(ベリリウム)等のようにX線の吸収の少ない原
始番号の低い物質が用いられている。
来のX線発生装置にあっては次のような問題があった。
すなわち、従来の装置では、多層薄膜ターゲット3に入
射して一度多重干渉X線の発生に供された電子ビーム2
をビームダンプ5に捨てる構成を採用している。このた
め、効率が悪く、容量の大きい電子ビーム発生装置1を
必要とする問題があった。
膜8として市販されている薄膜を利用する場合には、厚
さの選択に制限があり、さらに複数の均一な薄膜から多
層膜を作成する際には、固定台6と薄膜固定用リング7
との間に介在されるスペーサ等の間隔調整用治具が必要
となるため、多層薄膜ターゲット3の構造が複雑になる
という問題点もあった。
るためには、電子ビームのエネルギが一定の場合、多層
膜ターゲット3を構成している薄膜8の膜厚および膜間
隔を変化させることが必要であるが、Be薄膜やマイラ
薄膜等の既製品を利用する場合には、任意の膜厚を選択
することが難しいため、多層膜ターゲット3より得られ
るX線のエネルギが必然的に狭い範囲に制限されるとい
う問題もあった。
から多重干渉X線を発生させるようにした従来のX線発
生装置にあっては、荷電粒子ビームの利用効率が低く、
これが原因して容量の大きい荷電粒子ビーム発生装置を
必要とするばかりか、多層薄膜ターゲットの構造が複雑
で、しかも任意の膜厚および膜間隔を選択することが難
しいため、得られるX線のエネルギが狭い範囲に制限さ
れるという不具合があった。そこで本発明は、上述した
不具合を解消でき、強力なエネルギを持つX線を発生さ
せることのできるX線発生装置を提供することを目的と
している。
に、本発明に係るX線発生装置では、荷電粒子ビームを
発生し、これを加速して送出する粒子ビーム発生装置
と、この粒子ビーム発生装置から送出された荷電粒子ビ
ームを真空状態に保持された空胴内に導入し、該空胴内
で複数回周回させる粒子ビーム保存装置と、前記空胴内
に配置され、周回する前記荷電粒子ビームの入射を受け
て多重干渉X線を発生する多層膜ターゲットとを備えて
いる。
としてシリコンウェハ等へのエッチング加工で形成され
た膜を用いたものであることが好ましい。具体的には、
荷電粒子ビームの通過領域となる薄肉のビーム通過領域
と該ビーム通過領域より厚肉のビーム非通過領域とを備
えた薄膜を、上記ビーム非通過領域の部分をスペーサと
して複数積層して構成されていることが好ましい。
膜における前記ビーム通過領域と前記ビーム非通過領域
との段差によって形成された各隙間を外部へ解放してい
る構成を採用していてもよい。
膜が結晶構造をなす素材で形成され、かつ上記各薄膜に
おける前記ビーム通過領域の結晶面が前記荷電粒子ビー
ムの入射方向に対して所定の角度をなすように配置され
ていてもよい。
対してそれぞれ異なるエネルギの多重干渉X線を発生す
る複数の多層膜ターゲットが配置するとともに、これら
多層膜ターゲットのうちの任意の1つを荷電粒子ビーム
の周回軌道上に位置させる交換手段をさらに備えていて
もよい。
する前記荷電粒子ビームを加速する高周波加速空胴を備
えていてもよい。さらにまた、前記粒子ビーム保存装置
は、所定の時間だけ前記多層膜ターゲットに前記荷電粒
子ビームを入射させるバンプ軌道を形成するパルス電磁
石を備えていてもよい。
発生装置から送出された荷電粒子ビームを真空状態に保
持された空胴内で複数回周回させる粒子ビーム保存装置
を設け、上記空胴内に多層膜ターゲットを配置している
ので、同じ荷電粒子を複数回に亘って多層膜ターゲット
に入射させることができ、荷電粒子ビームの利用効率を
大幅に向上させることが可能となる。
コンウェハ等へのエッチング加工で形成された膜を用い
ると、所望とする膜厚および膜間隔の多層膜ターゲット
を簡単な工程で製作できる。特に、薄膜として荷電粒子
ビームの通過領域となる薄肉のビーム通過領域と該ビー
ム通過領域より厚肉のビーム非通過領域とを備えたもの
を用い、この薄膜を上記ビーム非通過領域の部分をスペ
ーサとして複数積層した構成を採用すると、多層膜ター
ゲットの構成を単純化でき、所望とするエネルギに対応
したものを簡単な工程で製作できる。
の電子エネルギに対してそれぞれ異なるエネルギの多重
干渉X線を発生する複数の多層膜ターゲットが配置する
とともに、これら多層膜ターゲットのうちの任意の1つ
を荷電粒子ビームの周回軌道上に位置させる交換手段を
備えていると、エネルギ可変の強力なX線源を得ること
が可能となる。
施形態を説明する。図1には本発明の一実施形態に係る
X線発生装置の模式的構成図が示されている。
ビームを発生し、これを所定エネルギまで加速して送出
する電子ビーム発生装置を示している。電子ビーム発生
装置21から送出された電子ビームは、入射装置22を
介して電子ビーム保存装置23に導入される。この電子
ビーム保存装置23は、全体がレーストラック状に形成
され、内部が真空状態に保持された空胴24と、この空
胴24のいわゆる4隅に配置された偏向磁石25とを備
えている。そして、電子ビーム発生装置21から送出さ
れた電子ビームは、空胴24内に入射され、偏向磁石2
5による偏向を受けて空胴24内を多数回に亘って周回
する。
ムの入射を受けて多重干渉X線26を発生する多層膜タ
ーゲット27がターゲットホルダ28に保持された状態
で、かつ電子ビーム軌道を横切るように配置されてい
る。なお、発生したX線26は、案内路29を介して使
用場所へ導かれる。
に示すように、複数の薄膜30を積層した構成となって
いる。各薄膜30は、シリコンウェハ等のようにX線吸
収の少ない素材にエッチング加工を施して形成されたも
ので、周回する電子ビームの通過領域となる薄肉のビー
ム通過領域31と、このビーム通過領域31より厚肉の
ビーム非通過領域32とを備えており、ビーム非通過領
域32の部分をスペーサとして積層されている。ビーム
通過領域31の厚みは、積層方向の両面の境界面からの
遷移放射によるX線が干渉する条件によって決められ
る。通常は、たとえば10μm程度である。また、積層方
向に隣接するビーム通過領域31相互の間隔は、ビーム
非通過領域32との間の段差によって調節され、その値
は異なる薄膜間の遷移放射X線が干渉する条件で決定さ
れる。
在しているビーム通過領域31とビーム非通過領域32
との段差によって各薄膜30相互間に形成された各隙間
33が外部、つまり真空雰囲気に解放されるようにビー
ム通過領域31が中心部から偏った位置に形成されてい
る。このため、多層膜ターゲット27を真空雰囲気中に
配置したとき、薄膜30間からの排気が速やかに行わ
れ、その結果、薄膜30間の圧力差をなくすことがで
き、ビーム通過領域31相互間の間隔を均一に保持する
ことが可能となる。また、電子ビームを所定時間だけ多
層膜ターゲット27に入射させる場合、電子ビームをビ
ーム通過領域31に近付けたり、遠ざけたりする際に、
大きなビーム損失を招くビーム非通過領域32に電子ビ
ームを通過させる必要がないので、余分な電子ビームの
損失を抑えることができる。
を参照しながら説明する。薄膜30は、たとえば両面鏡
面研磨したシリコンウェハに異方性エッチングで形状加
工を施した後に、膜相当領域を切り出すことにより製造
される。
(100面)にシリコン酸化膜35を形成する。このシ
リコン酸化膜35は、異方性エッチングの際のマスク層
として使用するもので、形成方法は酸化に限らず、CV
Dなど酸化シリコンの堆積層でもよい。また、マスク材
料はシリコン酸化膜とは限らない。たとえば、異方性エ
ッチャントして水酸化カリウム水溶液を用いる場合は、
酸化膜を厚くして対処することもあるが、水酸化カリウ
ム水溶液がシリコン酸化膜を比較的よく溶かすので、水
酸化カリウム水溶液に溶け難いシリコン窒化膜を形成す
る場合も多い。また、この窒化膜は金属膜でもよい。
化膜35のパターニングを行なう。 (c) パターニングされたウェハ34を、薄膜部形成の
ためにシリコン異方性エッチャントで所定の深さまでエ
ッチングする。この異方性エッチャントとしては、エチ
レンジアミン・ピロカテコール(EDP)水溶液、水酸
化カリウム(KOH)水溶液、水酸化テトラメチルアン
モニウム(TMAH)水溶液などが知られている。
て、シリコン酸化膜35の除去(このプロセスは省略可
能)を行った後にもう一度酸化膜35を形成し、さらに
形状加工した面と反対側の面のシリコン酸化膜を除去す
る。
グを施し、最終的に得られる薄膜の膜厚まで薄くする。
異方性エッチングの特徴としてエッチングは(100)
面に垂直に均一に進行し、エッチング面は非常に滑らか
になる。したがって、エッチングで形成された薄膜は厚
さが均一で表面は非常に滑らかな鏡面になる。
膜を除去する。 (g) 酸化膜を除去したウェハ34をダイシングして各
薄膜30を切り離す。以上の工程によって、多層膜ター
ゲット27を構成する薄膜30を得ることができる。な
お、工程(f) は、工程(g) の後に行なうこともできる。
この場合、酸化膜が付いている面だけであるが、ダイシ
ング時のシリコン表面のダメージや汚れを少なくでき
る。
ビーム発生装置21から送出された電子ビームを真空状
態に保持された空胴24内で複数回周回させる粒子ビー
ム保存装置23を設け、空胴24内に多層膜ターゲット
27を配置しているので、同じ電子を複数回に亘って多
層膜ターゲット27に入射させることができ、電子ビー
ムの利用効率を大幅に向上させることが可能となる。
してシリコンウェハ等へのエッチング加工で形成された
膜を用いているので、所望とする膜厚および膜間隔の多
層膜ターゲット27を簡単な工程で製作できる。特に、
薄膜30として電子ビームの通過領域となる薄肉のビー
ム通過領域31と該ビーム通過領域31より厚肉のビー
ム非通過領域32とを備えたものを用い、これらの薄膜
30をビーム非通過領域32の部分をスペーサとして複
数積層した多層膜ターゲット27を用いているので、多
層膜ターゲット27の構成を単純化でき、所望とするエ
ネルギに対応したものを簡単な工程で製作できる。
ット27の積層面が周回する電子ビームの軌道と直交す
るように多層膜ターゲット27を設けているが、図4に
示すように、電子ビームの入射方向36に対して薄膜3
0aの結晶面が角度θB をなすように多層膜ターゲット
27aを配置してもよい。
成している薄膜30aの正面図を示し、図5(b) に多層
薄膜ターゲット27aの局部的断面図を示す。この例に
おいても、各薄膜30aは、段差の形成によってビーム
通過領域31aと該ビーム通過領域31aより厚肉のビ
ーム非通過領域32aとを備えている。ビーム通過領域
31aの厚みは、積層方向の両面の境界面からの遷移放
射によるX線が干渉する条件によって決められる。ま
た、積層方向に隣接するビーム通過領域31a相互の間
隔は、ビーム非通過領域32aとの間の段差によって調
節され、その値は異なる薄膜間の遷移放射X線が干渉す
る条件で決定される。
リコン単結晶の(100) 面に前述の如く段差を付けたもの
を用い、所定の遷移放射X線のエネルギで結晶面(たと
えば、(011) 面)に対するBragg 条件の角度となるよう
に多層薄膜ターゲット27aを傾けている。
る遷移放射X線26aを電子ビームの方向36に対して
比較的大きな角度の方向へ取出すことが可能となる。上
述のように多重干渉の共鳴条件を満たす膜厚および間隔
に配置されているため、Bragg 条件の角度に放出された
X線も多重干渉することになる。
30(30a)に存在しているビーム通過領域31(3
1a)とビーム非通過領域32(32a)との段差によ
って各薄膜相互間に形成された隙間33(33a)が外
部、つまり真空雰囲気に解放されるようにビーム通過領
域31(31a)が中心部から偏った位置に形成されて
いるが、図6(a) ,(b) に示すように、薄肉のビーム通
過領域31bが中央部に形成され、厚肉のビーム非通過
領域32bがビーム通過領域31bの周辺に形成されて
いる薄膜30bを積層した多層膜ターゲット27bを用
いてもよい。
発生装置の模式的構成図が示されている。なお、この図
では図1と同一機能部分が同一符号で示されている。し
たがって、重複する部分の説明は省略する。
なる点は、空胴24内に複数の多層膜ターゲット27
1 ,272 ,…27n を配置したことにある。すなわ
ち、これら多層膜ターゲット271 ,272 ,…27n
は、図2と同様な構造に形成されているが、所定の電子
エネルギに対してあるX線が多重干渉するように膜厚お
よび膜間隔が最適化されている。これら多層膜ターゲッ
ト271 ,272 ,…27n は、それぞれターゲットホ
ルダ281 ,282 ,…28n に支持されてターゲット
交換装置40内に配置されている。そして、遠隔操作あ
るいは手動操作でターゲット交換装置40を操作するこ
とによって任意の多層膜ターゲットを電子ビームの周回
軌道上に位置させることができるようになっている。
ーゲットを適宜交換して使用することで、エネルギ可変
の強力なX線源を実現できることになる。図8には本発
明のさらに別の実施形態に係るX線発生装置の模式的構
成図が示されている。なお、この図では図1と同一機能
部分が同一符号で示されている。したがって、重複する
部分の説明は省略する。
なる点は、空胴24に電子ビームを加速する高周波加速
空胴41を設けたことにある。空胴24内を周回する電
子ビームは、多層膜ターゲット27を通過する度に放射
損失でエネルギを失うと同時に多層膜内でのクーロン多
重散乱によりエミッタンスが増加する。上記構成である
と、多層膜ターゲット27および偏向磁石25の通過で
電子ビームが失ったエネルギ分だけ高周波加速空胴41
で加速することが可能となる。したがって、高周波加速
空胴41がない場合に較べて、エネルギ損失によるビー
ム損失をなくすことができる。このため、電子ビーム保
存装置23a内において電子ビームが多層膜ターゲット
27を通過する回数を増加できるため、パルス幅の長い
強力なX線を発生させることができる。
係るX線発生装置の模式的構成図が示されている。な
お、この図では図8と同一機能部分が同一符号で示され
ている。したがって、重複する部分の説明は省略する。
なる点は、電子ビーム保存装置23b内で多層膜ターゲ
ット27の配設位置を境にして上流側と下流側とにパル
ス電磁石51a,51b,52a,52bを設けている
ことにある。
52bは、所定の時間間隔で励磁される。そして、励磁
されている期間に電子ビームが偏向を受けて多層膜ター
ゲット27に入射し、それ以外の期間は多層膜ターゲッ
ト27には当たらずに周回する。すなわち、各パルス電
磁石51a,51b,52a,52bは、バンプ軌道を
構成する役目を担っている。
入射した電子ビームを高周波加速空胴41で加速し、所
定のエネルギまで加速した後に多層膜ターゲット27に
入射させることもできる。また、多層膜ターゲット27
を通過した際にビームサイズが増大した電子ビームを、
一定の時間だけ多層膜ターゲットを通過させないこと
で、ビームサイズを再び小さくすることも可能である。
高周波加速空胴41およびパルス電磁石51a,51
b,52a,52bを配置することで、所定のエネルギ
の電子ビームを必要な時間だけ、多層膜ターゲット27
に入射させることが可能となる。さらに、一度大きくな
ったビームサイズを再び小さくして再度、多層膜ターゲ
ットに入射させることができる。
として電子ビームを用いているが、電子ビームに限られ
るものではない。また、多層膜ターゲットの各薄膜の形
成素材もシリコンウェハに限られるものではない。
装置によれば、荷電粒子ビームの利用効率を向上させる
ことができるとともに、任意の入射エネルギに対して所
定のX線エネルギを発生するための多層薄膜ターゲット
の準備が容易できるため、効率良く広いエネルギ範囲の
X線を発生させることができる。
的構成図
正面図で(b) は同ターゲットを(a) におけるA−A線に
沿って切断し矢印方向にみた局部的断面図
法を説明するための図
するための図
ターゲットを(a) におけるB−B線に沿って切断し矢印
方向にみた局部的断面図
(b) は同ターゲットを(a) におけるC−C線に沿って切
断し矢印方向にみた局部的断面図
式的構成図
置の模式的構成図
模式的構成図
の縦断面図で(b) は同ターゲットを(a) におけるD−D
線に沿って矢印方向にみた図
ット 30,30a,30b…薄膜 31,31a,31b…ビーム通過領域 32,32a,32b…ビーム非通過領域 33,33a,33b…隙間 41…高周波加速空胴 51a,51b,52a,52b…バンプ軌道形成用の
パルス電磁石
Claims (8)
- 【請求項1】荷電粒子ビームを発生し、これを加速して
送出する粒子ビーム発生装置と、 この粒子ビーム発生装置から送出された荷電粒子ビーム
を真空状態に保持された空胴内に導入し、該空胴内で複
数回周回させる粒子ビーム保存装置と、 前記空胴内に配置され、周回する前記荷電粒子ビームの
入射を受けて多重干渉X線を発生する多層膜ターゲット
とを具備してなることを特徴とするX線発生装置。 - 【請求項2】前記多層膜ターゲットは、前記荷電粒子ビ
ームの通過領域となる薄肉のビーム通過領域と該ビーム
通過領域より厚肉のビーム非通過領域とを備えた薄膜
を、上記ビーム非通過領域の部分をスペーサとして複数
積層して構成されていることを特徴とする請求項1に記
載のX線発生装置。 - 【請求項3】前記多層膜ターゲットは、前記各薄膜にお
ける前記ビーム通過領域と前記ビーム非通過領域との段
差によって形成された各隙間を外部へ解放していること
を特徴とする請求項2に記載のX線発生装置。 - 【請求項4】前記多層膜ターゲットは、前記各薄膜が結
晶構造をなす素材で形成され、かつ上記各薄膜における
前記ビーム通過領域の結晶面が前記荷電粒子ビームの入
射方向に対して所定の角度をなすように配置されている
ことを特徴とする請求項2または3に記載のX線発生装
置。 - 【請求項5】前記多層膜ターゲットは、前記各薄膜とし
てシリコンウェハへのエッチング加工で形成された膜を
用いていることを特徴とする請求項2,3,4のいずれ
か1項に記載のX線発生装置。 - 【請求項6】前記空胴内には所定の電子エネルギに対し
てそれぞれ異なるエネルギの多重干渉X線を発生する複
数の多層膜ターゲットが配置されており、これら多層膜
ターゲットのうちの任意の1つを前記荷電粒子ビームの
周回軌道上に位置させる交換手段をさらに備えているこ
とを特徴とする請求項1に記載のX線発生装置。 - 【請求項7】前記粒子ビーム保存装置は、周回する前記
荷電粒子ビームを加速する高周波加速空胴を備えている
ことを特徴とする請求項1に記載のX線発生装置。 - 【請求項8】前記粒子ビーム保存装置は、所定の時間だ
け前記多層膜ターゲットに前記荷電粒子ビームを入射さ
せるバンプ軌道を形成するパルス電磁石を備えているこ
とを特徴とする請求項1または7に記載のX線発生装
置。
Priority Applications (1)
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JP3677103B2 JP3677103B2 (ja) | 2005-07-27 |
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- 1995-11-13 JP JP29418895A patent/JP3677103B2/ja not_active Expired - Lifetime
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