JPH09128809A - 光ディスク - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスクの表面に、スタンパ番号等のよう
な当該ディスクに関する情報を表記するための表示用ピ
ットが形成されていると、表面検査を行ったときに、表
示用ピットが異常な凹凸として検出されてしまう。そこ
で、本発明は、このような表示用ピットが形成されてい
ても、光ディスク表面全体にわたって精度良く表面検査
を行うことが可能な光ディスクを提供することを目的と
している。 【解決手段】 データ領域外に形成される表示用ピット
の深さを、データ領域内にトラッキング制御のために形
成されるグルーブの深さと同程度とする。これにより、
表示用ピット部分における反射率の変動が少なくなり、
表示用ピットが異常な凹凸として検出されるようなこと
がなくなる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、データ領域にグル
ーブが形成されるとともに、スタンパ番号等を表す表示
用ピットがデータ領域外に形成された光ディスクに関す
る。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクは、光学的に情報信号の記録
再生が行われる円盤状の記録媒体であり、光ディスク上
の領域は、主に、情報信号が書き込まれるデータ領域
と、データ領域よりも内周側の非データ領域とに分類さ
れる。

【０００３】このような光ディスクの領域のうち、デー
タ領域には、トラック間のクロストーク防止のための溝
であるグルーブが形成されている。一方、非データ領域
にはグルーブは形成されておらず、通常、非データ領域
は反射率の高いミラー状態とされている。

【０００４】そして、非データ領域には、通常、スタン
パ番号等のような当該光ディスクに関する情報を視認で
きるように、当該光ディスクに関する情報が書き込まれ
ている。ここで、当該光ディスクの関する情報は、直径
が数μｍ程度、深さが０．１μｍ程度の表示用ピットの
集合体として書き込まれている。すなわち、光ディスク
の非データ領域には複数の表示用ピットが形成され、こ
れにより、当該光ディスクに関する情報が表記されてい
る。

【０００５】ところで、光ディスクに対して正常に記録
再生を行うためには、光ディスクの表面に異常な凹凸が
無く、表面が十分に平坦となっていることが必要であ
る。ここで、光ディスクの表面は、データ領域だけでな
く、非データ領域の表面も十分に平坦となっている必要
がある。これは、非データ領域近傍のデータ領域に対し
て記録再生を行う際に、非データ領域の表面が十分に平
坦でないと、正常に記録再生を行うことができないから
である。すなわち、例えば、フライングヘッドを備えた
磁界変調タイプの記録再生装置によって光ディスクに対
して記録再生を行う場合、非データ領域近傍のデータ領
域に対して記録再生が行われるときに、非データ領域も
フライングヘッドの浮上領域となるため、非データ領域
の表面も十分に平坦となっている必要がある。

【０００６】そこで、一般に光ディスクは、ディスク表
面に異常な凹凸が存在しておらず、ディスク表面が十分
に平坦になっているか、製造後に表面検査が行われる。
ここで、光ディスクの表面検査で検出される異常な凹凸
は、通常、数μｍ程度以上の高さの凹凸である。そし
て、上述したように、光ディスクの表面は、データ領域
だけでなく、非データ領域の表面も十分に平坦となって
いる必要があるので、光ディスクの表面検査は、光ディ
スク表面全体にわたって行われる。

【０００７】この表面検査は、一般に、光ディスクの表
面にレーザ光を入射し、その反射光を検出することによ
って行われる。すなわち、光ディスクの表面に異常な凹
凸が存在していると、その部分の反射率が急激に変動す
るので、反射光を検出することにより、光ディスク表面
の異常な凹凸が検出される。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のように
反射光の強度を検出することによって光ディスクの表面
検査を行うと、非データ領域に形成された表示用ピット
を異常な凹凸として誤って検出してしまうことがある。
すなわち、非データ領域に表示用ピットが存在している
と、表示用ピットの部分で反射率が変動するので、反射
光が散乱され反射光強度に変動が生じ、その結果、表示
用ピットが異常な凹凸として検出されてしまう。

【０００９】したがって、従来の光ディスクでは、非デ
ータ領域に表示用ピットが形成されていると、非データ
領域を含む光ディスク表面全体にわたって精度良く表面
検査を行うことができなかった。

【００１０】そこで本発明は、このような従来の実情に
鑑みて提案されたものであり、非データ領域に表示用ピ
ットが形成されていても、非データ領域を含む光ディス
ク表面全体にわたって精度良く表面検査を行うことが可
能な光ディスクを提供することを目的としている。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに完成された本発明に係る光ディスクは、データ領域
にグルーブが形成されるとともに、データ領域外に表示
用ピットが形成されてなる光ディスクであって、上記表
示用ピットの深さと、上記グルーブの深さとが略等しい
ことを特徴とするものである。

【００１２】この光ディスクでは、非データ領域に形成
された表示用ピットの深さが、グルーブと同程度の深さ
となっている。すなわち、この光ディスクの表示用ピッ
トの深さは、従来の光ディスクに比べて、非常に浅いも
のとなっている。したがって、この光ディスクでは、レ
ーザ光を入射して表面検査を行ったときに、表示用ピッ
トに起因する反射率の変動が非常に少ないものとなる。

【００１３】また、本発明に係る他の光ディスクは、デ
ータ領域にグルーブが形成されるとともに、データ領域
外に表示用ピットが形成されてなる光ディスクであっ
て、上記表示用ピットが形成された領域にもグルーブが
形成されていることを特徴とするものである。ここで、
表示用ピットが形成された領域におけるグルーブのピッ
チと、データ領域におけるグルーブのピッチとは、略等
しいことが好ましい。

【００１４】この光ディスクでは、非データ領域に表示
用ピットとグルーブが形成されているので、レーザ光を
入射して行われる表面検査において、表示用ピットの実
質的な深さは、グルーブの深さと表示用ピットの深さの
差、すなわちグルーブの底面を基準としたときの深さと
なる。したがって、この光ディスクの表示用ピットの実
質的な深さは、従来の光ディスクに比べて、非常に浅い
ものとなる。したがって、この光ディスクでは、レーザ
光を入射して表面検査を行ったときに、表示用ピットに
起因する反射率の変動が非常に少ないものとなる。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明を適用した具体的な
実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明す
る。なお、本発明は以下の例に限定されるものではな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、形状や材質等を
任意に変更することが可能であることは言うまでもな
い。

【００１６】第１の実施の形態 本実施の形態に係る光ディスクは、図１に示すような円
盤状の記録媒体であり、この光ディスク上の領域は、主
に、情報信号が記録される領域であるデータ領域１と、
データ領域１よりも内周側の非データ領域２とに分類さ
れ、非データ領域２には、スタンパ番号等のような当該
光ディスクに関する情報３が書き込まれている。

【００１７】この光ディスクは、図２に示すように、ポ
リカーボネイト、ポリメチルメタクレート等の透明な合
成樹脂材料からなる基板１０上にＡｌ等からなる反射膜
１１が形成され、更に反射膜１１を保護するための保護
膜１２が反射膜１１上に被覆形成されて構成される。

【００１８】そして、この光ディスクのデータ領域１に
は、図２に示すように、トラック間のクロストーク防止
のための溝であるグルーブ１３が形成されており、グル
ーブ１３の間にランド部１４が形成されている。ここ
で、グルーブ１３のピッチ、すなわちこの光ディスクの
トラックピッチｔ１は、約１．２μｍとされ、グルーブ
１３の幅ｔ２は、０．４〜０．５μｍ程度とされ、グル
ーブ１３の深さｔ３は、記録再生に使用されるレーザ光
の波長をλとしたとき、約λ／８とされる。

【００１９】一方、非データ領域２にはグルーブ１３が
形成されておらず、非データ領域２は反射率の高いミラ
ー状態とされている。そして、この非データ領域２に
は、上述したように、スタンパ番号等のような当該光デ
ィスクに関する情報３が書き込まれており、これによ
り、当該光ディスクに関する情報３が視認できるように
なっている。このように当該光ディスクに関する情報３
が視認できるように書き込まれた光ディスクは、製造過
程において、更には製品として市場に出た後において
も、管理がしやすく非常に便利である。

【００２０】ここで、当該光ディスクの関する情報は、
図３に示すように、直径が数μｍ程度の表示用ピット２
０の集合体として書き込まれており、１字当たりの大き
さは０．５〜１ｍｍ角程度とされる。そして、本実施の
形態に係る光ディスクでは、これらの表示用ピット２０
の深さが、グルーブ１３の深さ、すなわち約λ／８と同
程度とされている。すなわち、この光ディスクは、従来
の光ディスクに比べて、当該光ディスクに関する情報３
を表記するために形成される表示用ピット２０の深さが
非常に浅いものとなっている。したがって、この光ディ
スクでは、表示用ピット２０の部分における反射率の変
動が少なく、後述するようにレーザ光を入射して表面検
査を行ったときに、このような表示用ピット２０に起因
する反射率の変動が非常に少ないものとなる。

【００２１】なお、図３では、当該光ディスクの関する
情報３として、表示用ピット２０の集合によって数字
「２」が書き込まれた例を挙げているが、当然の事なが
ら、このような当該光ディスクに関する情報３は、数字
に限定されるものではなく、アルファベット等の文字
や、各種の記号等が表記されることもある。

【００２２】第２の実施の形態 本実施の形態に係る光ディスクは、第１の実施の形態に
係る光ディスクと同様に、基板上に反射膜及び保護膜が
形成された円盤状の記録媒体であり、情報信号が記録さ
れる領域であるデータ領域と、データ領域よりも内周側
の非データ領域とを有している。

【００２３】ここで、データ領域には、第１の実施の形
態に係る光ディスクと同様に、トラック間のクロストー
ク防止のための溝であるグルーブが、ピッチが約１．２
μｍ、幅が０．４〜０．５μｍ程度、深さが約λ／８と
なるように形成されており、このグルーブの間にランド
部が形成されている。

【００２４】一方、非データ領域には、図４に示すよう
に、データ領域に形成されたグルーブと同様に形成され
たグルーブ３０と、スタンパ番号等のような当該光ディ
スクに関する情報を表記するための表示用ピット３１と
が形成されている。

【００２５】ここで、当該光ディスクの関する情報を表
記するために形成される各表示用ピット３１は、グルー
ブ３０の間に直径が約０．６μｍのドット状の凹部とし
て形成されている。そして、当該光ディスクの関する情
報は、このような表示用ピット３１の集合体として、１
字当たりの大きさが０．５〜１ｍｍ角程度となるように
表記されており、これにより、当該光ディスクに関する
情報が視認できるようになっている。このように当該光
ディスクに関する情報が視認できるように書き込まれた
光ディスクは、製造過程において、更には製品として市
場に出た後においても、管理がしやすく非常に便利であ
る。

【００２６】一方、非データ領域に形成されたグルーブ
は、上述したように、データ領域に形成されたグルーブ
と同じように形成されている。すなわち、図５に示すよ
うに、グルーブ３０の中心間の距離ｔ１０が約１．２μ
ｍとされ、グルーブ３０の幅ｔ１１が０．４〜０．５μ
ｍ程度とされ、グルーブ３０の深さｔ１２が約λ／８と
されている。また、上述したように、非データ領域に形
成された表示用ピット３１は、グルーブ３０の間に直径
ｔ１３が約０．６μｍのドット状の凹部として形成され
ているので、グルーブ３０と表示用ピット３１の間の距
離ｔ１４は０．１μｍ程度となる。

【００２７】このような本実施の形態に係る光ディスク
では、データ領域に形成されるグルーブのピッチと、非
データ領域に形成されるグルーブのピッチとが同じであ
るので、この光ディスクの元となるスタンパを作製する
際に、カッティングマシンのピッチ送りを一定にしたま
まで、データ領域と非データ領域の両方にグルーブを形
成することができる。したがって、この光ディスクは、
これらのグルーブを非常に効率良く形成することができ
る。

【００２８】そして、この光ディスクでは、図４及び図
５に示したように、非データ領域にグルーブ３０と表示
用ピット３１が形成されているので、後述するようにレ
ーザ光を入射して行われる表面検査において、表示用ピ
ット３１の実質的な深さは、グルーブ３０の深さｔ１２
と表示用ピット３１の深さ１５の差、すなわちグルーブ
３０の底面を基準としたときの深さｔ１６となる。した
がって、この光ディスクの表示用ピットの実質的な深さ
は、従来の光ディスクに比べて、非常に浅いものとなっ
ている。したがって、この光ディスクでは、表示用ピッ
ト３１の部分における反射率の変動が少なく、後述する
ようにレーザ光を入射して表面検査を行ったときに、こ
のような表示用ピット３１に起因する反射率の変動が非
常に少ないものとなる。

【００２９】なお、図４では、当該光ディスクの関する
情報として、表示用ピット３１の集合によって数字
「２」が書き込まれた例を挙げているが、当然の事なが
ら、このような当該光ディスクに関する情報は、数字に
限定されるものではなく、アルファベット等の文字や、
各種の記号等が表記されることもある。

【００３０】光ディスクの表面検査 つぎに、以上のような光ディスクの表面検査について説
明する。

【００３１】図６に示すように、光ディスク４０の表面
検査に使用される表面検査装置は、主に、レーザ光源４
１と、光ディスク４０上をレーザ光４１ａが走査するよ
うに、レーザ光源４１からのレーザ光４１ａを反射する
光走査用多面鏡４２と、光ディスク４０からの反射光４
１ｂを検出するための光検出器４３とから構成される。

【００３２】上記レーザ光源４１は、約１００μｍ径の
レーザ光４１ａを光走査用多面境４２に向かって出射す
る。そして、光走査用多面境４２は、レーザ光源４１か
らのレーザ光４１ａを反射しながら、図６中矢印Ａに示
すように回転する。これにより、レーザ光４１ａは光デ
ィスク４０の表面をディスク径方向に走査することとな
る。また、このとき、光ディスク４０は、図６中矢印Ｂ
に示すように回転させられ、これにより、レーザ光４１
ａは光ディスク４０の表面をディスク周方向に走査する
こととなる。そして、このようなディスク径方向の走査
と、ディスク周方向の走査とにより、光ディスク４０の
全面、すなわちデータ領域及び非データ領域の両方の領
域にわたってレーザ光が走査されることとなる。

【００３３】そして、このように光ディスク４０の表面
を走査するレーザ光４１ａは、光ディスク４０によって
反射され、その反射光４１ｂが光検出器４３によって検
出される。このとき、光ディスク４０の表面に異常な凹
凸が存在していると、その部分の反射率が急激に変動す
る。したがって、光検出器４３で、光ディスク４０から
の反射光４１ｂを検出し、光ディスク４０の表面の反射
率の変動を測定することにより、光ディスク４０の表面
の異常な凹凸が検出されることとなる。

【００３４】ところで、一般に、光ディスク４０の表面
に保護膜を完全に均一に形成することは困難であり、通
常、図７に示すように、ディスク中央よりの位置におけ
る保護膜４０ｂの方が、ディスク外周よりの位置におけ
る保護膜４０ａよりも薄く形成される。具体的には、典
型的な光ディスクにおいて、ディスク中央よりの位置に
おける保護膜４０ｂの厚さｔ２１は約１５μｍとなり、
ディスク外周よりの位置における保護膜４０ａの厚さｔ
２０は約２０μｍとなる。そして、このように保護膜の
厚さが変化していると、反射光の干渉条件が変化するた
め、光ディスク４０の表面の反射率は、ディスク径方向
の位置によって変化し、サインカーブを描くこととな
る。

【００３５】また、一般に、光ディスク４０の非データ
領域はミラー状態とされているので、非データ領域にお
ける反射率の方が、データ領域における反射率よりも高
くなっている。

【００３６】このように、通常、光ディスク４０の表面
の反射率には、異常な凹凸による急激な変動以外にも変
動が含まれている。したがって、表面検査装置では、先
ず、図８に示すような、保護膜の膜厚変化に起因するサ
インカーブ状の変動と、データ領域と非データ領域の反
射率の違いに起因した変動と、異常な凹凸による急激な
変動等との合計として、反射率が測定される。

【００３７】そこで、表面検査装置は、図８に示すよう
な反射率分布に対して微分処理を施した上でハイパスフ
ィルターに通し、これにより、測定された反射率の変動
の中から、保護膜の膜厚変化に起因する反射率の変動
や、非データ領域とデータ領域の反射率の違いに起因す
る反射率の変動等を取り除く。これにより、図９に示す
ように、反射率の急激な変動だけが抽出された信号が得
られ、光ディスク４０の表面における１００μｍ程度の
大きさの異常な凹凸が検出されることとなる。

【００３８】そして、このような表面検査装置で、第１
の実施の形態に係る光ディスク、及び第２の実施の形態
に係る光ディスクの表面検査を行った場合、これらの光
ディスクは、上述したように、非データ領域に形成され
た表示用ピット部分における反射率の変化が非常に少な
いため、非データ領域に形成された表示用ピットが光デ
ィスク表面の異常な凹凸として検出されるようなことは
ない。

【００３９】したがって、第１の実施の形態に係る光デ
ィスク、及び第２の実施の形態に係る光ディスクは、上
述のような表面検査装置により、光ディスク表面全体に
わたって、精度良く表面検査を行うことが可能である。

【００４０】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
に係る光ディスクでは、レーザ光を入射して表面検査を
行ったときに、表示用ピットに起因する反射率の変動が
非常に少ないため、非データ領域を含む光ディスク表面
全体にわたって精度良く表面検査を行うことが可能であ
る。

【００４１】したがって、本発明によれば、非データ領
域を含む光ディスク表面全体にわたって精度良く表面検
査が行われた高品質の光ディスクを提供することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用した光ディスクの一例を示す平面
図である。

【図２】本発明を適用した光ディスクの一例を示す要部
拡大断面図である。

【図３】表示用ピットによって表記された当該光ディス
クに関する情報の一例を示す模式図である。

【図４】表示用ピットによって表記された当該光ディス
クに関する情報の他の例を示す模式図である。

【図５】本発明を適用した光ディスクの他の例を示す要
部拡大断面図である。

【図６】表面検査装置の一構成例を示す模式図である。

【図７】光ディスクの保護膜の厚さの変化の様子を示す
模式図である。

【図８】表面検査装置によって測定された光ディスク表
面の反射率分布の一例を示す図である。

【図９】図８に示した反射率分布から、急激な反射率変
動が抽出された信号の一例を示す図である。

【符号の説明】

１ データ領域 ２ 非データ領域 ３ 当該光ディスクに関する情報 １０ 基板 １１ 反射膜 １２ 保護膜 １３ グルーブ １４ ランド部 ２０ 表示用ピット ３０ グルーブ ３１ 表示用ピット

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 データ領域にグルーブが形成されるとと
   もに、データ領域外に表示用ピットが形成されてなる光
   ディスクにおいて、 上記表示用ピットの深さと、上記グルーブの深さとが略
   等しいことを特徴とする光ディスク。
2. 【請求項２】 上記表示用ピットが、少なくともスタン
   パ番号を表していることを特徴とする請求項１記載の光
   ディスク。
3. 【請求項３】 データ領域にグルーブが形成されるとと
   もに、データ領域外に表示用ピットが形成されてなる光
   ディスクにおいて、 上記表示用ピットが形成された領域にもグルーブが形成
   されていることを特徴とする光ディスク。
4. 【請求項４】 前記表示用ピットが形成された領域にお
   けるグルーブのピッチと、前記データ領域におけるグル
   ーブのピッチとが、略等しいことを特徴とする請求項３
   記載の光ディスク。
5. 【請求項５】 上記表示用ピットが、少なくともスタン
   パ番号を表していることを特徴とする請求項３記載の光
   ディスク。