JPH09127211A - テストパターン圧縮装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 テストパターンの圧縮を短時間でかつ高い圧
縮率で行うことができるテストパターン圧縮装置を提供
する。 【解決手段】 圧縮装置は、指定された参照パターンを
読み込む参照パターン指定部１２とテストパターン圧縮
部１０とから構成される。該テストパターン圧縮部１０
は、テストパターン中の繰返し記述を検索し変換する繰
返し記述変換部１１と、テストパターン中の前記参照パ
ターンと等しいパターンを検索し変換するサブルーチン
比較／変換部１３とからなる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＬＳＩのテストに
使用するテストパターンを圧縮するための装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】近年、ＬＳＩの大規模化に伴い、ＬＳＩ
のテストパターンの規模も、指数関数的に増大してい
る。このため、通常の１、０のパターンでは、そのデー
タ量も多くなり、ＬＳＩのテスト装置のメモリ容量を越
えてしまうため、テストパターンを圧縮してパターン数
を削減するという手法がこれまで用いられてきた。

【０００３】この従来技術の圧縮方法は、特開平６−７
５０１９号に見られるように、同一パターンあるいは同
一パターン列を繰返し記述に置き換えるものがほとんど
であった。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところが、ＬＳＩの大
規模化の傾向は、著しく、テストパターンの規模はさら
に大規模化し、従来の圧縮方法では対処できない事態も
生じている。従来の繰返し記述への変換による圧縮のみ
では、データが十分に圧縮されず、ＬＳＩテスト装置の
メモリ容量を越える場合もしばしば起こってきた。

【０００５】一方、あるパターン列をサブルーチンとし
てまとめて、記述の置き換えを行うことにより圧縮を行
うというサブルーチン記述による圧縮方法も存在する。

【０００６】図５は、繰返し記述のほかに、サブルーチ
ン変換記述による圧縮を併用する従来技術の圧縮装置の
構成を示す。この圧縮装置の主要部であるテストパター
ン圧縮部５０は、繰返し記述への変換を行う繰返し記述
変換部５１とサブルーチン記述への変換を行うサブルー
チン変換部５２とから構成される。繰返し記述とサブル
ーチン記述の両方を使用することにより、圧縮率を高め
ている。しかし、サブルーチン変換においては、サブル
ーチンとしてまとめる参照パターンの指定が行えず、圧
縮装置が内部で自動的に任意のパターン列をサブルーチ
ン化するため、必ずしも最適な圧縮が行えず、圧縮変換
の実行時間が長くなるという問題があった。

【０００７】また、テストパターン作成時間の短縮のた
めに論理シミュレーション実行時の出力結果よりテスト
パターンを抽出する方法がある。ＬＳＩの論理シミュレ
ーションはＬＳＩと外部メモリを組み合わせて行う場合
があり、テストパターンは、論理シミュレーション中に
ＬＳＩと外部メモリ間の接続ピンを流れるシミュレーシ
ョン結果の信号に基づき抽出される。図６は、論理シミ
ュレーションの終了と同時にＬＳＩテスト装置のテスト
パターンを出力する従来のテストパターン出力機能を有
する論理シミュレーション装置の構成図を示す。この従
来の論理シミュレーション装置は、論理シミュレーショ
ン結果をテスト装置制限記述を参照して、テストパター
ンに変換するテストパターン変換部６１を含む論理シミ
ュレーション部６０からなる。このような従来の論理シ
ミュレーション装置では、圧縮してテストパターンを出
力する機能はなく、近年のＬＳＩの大規模化に伴い生成
されるテストパターンも大規模化するという問題があっ
た。

【０００８】そこで、本発明は、テストパターンの圧縮
をより短時間で行い、より高い圧縮率を得ることができ
る圧縮装置、および論理シミュレーションと同時に圧縮
されたテストパターンを出力する論理シミュレーション
装置を提供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明に係る第１テスト
パターン圧縮装置は、ＬＳＩのテストパターンを読み込
み、読み込んだテストパターンを圧縮するテストパター
ン圧縮装置であって、参照パターンを指定するための指
定手段と、読み込んだ前記テストパターンの中から前記
参照パターンと同一のパターンを検索し、前記参照パタ
ーンと同一のパターンをサブルーチン記述に変換するサ
ブルーチン変換手段とを備える。

【００１０】本発明に係る第２テストパターン圧縮装置
は、ＬＳＩのテストパターンを読み込み、読み込んだテ
ストパターンを圧縮するテストパターン圧縮装置であっ
て、参照演算式を指定するための指定手段と、読み込ん
だ前記テストパターンの中から前記参照演算式に適合す
るパターンを検索し、前記参照演算式に適合するパター
ンと同一のパターンを演算形式記述に変換する演算式変
換手段とを備える。

【００１１】本発明に係る第１論理シミュレーション装
置は、参照パターンを指定するための参照パターン指定
手段と、シミュレーション結果より変換したテストパタ
ーンの中から参照パターンと同一のパターンを検索し、
前記参照パターンと同一のパターンをサブルーチン記述
に変換するサブルーチン変換手段とを備える。

【００１２】本発明に係る第２論理シミュレーション装
置は、参照演算式を指定する指定手段と、シミュレーシ
ョン結果より変換したテストパターンの中から参照演算
式に適合するパターンを検索し、前記参照演算式に適合
するパターンと同一のパターンを演算形式記述に変換す
る演算式変換手段とを備える。

【００１３】本発明に係る第３論理シミュレーション装
置は、シミュレーション結果より変換したテストパター
ンの中から繰返しパターンを検索し、繰返しパターンと
同一のパターンを繰返し記述に変換する繰返し記述変換
手段を備える。ミュレーションの終了と同時に圧縮され
たテストパターンを得ることができる。

【００１４】好ましくは、前記第１または第２論理シミ
ュレーション装置は、さらに、テストパターンの中から
繰返しパターンを検索し、前記繰返しパターンと同一の
パターンを繰返し記述に変換する繰返し記述変換手段を
備える。

【００１５】好ましくは、前記第１もしくは第２テスト
パターン圧縮装置または前記第１もしくは第２論理シミ
ュレーション装置において、前記指定手段は、使用者が
参照パターンまたは参照演算式を入力するための入力操
作手段と、入力された参照パターンまたは参照演算式を
記憶する記憶手段とを有する。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下に添付の図面を用いて、本発
明の実施の形態の詳細な説明を行う。 ＜実施の形態１＞．図１は、本発明の実施の形態１のテ
ストパターン圧縮装置の構成図である。本実施形態のテ
ストパターン圧縮装置は、指定された参照パターンを読
込み記憶する参照パターン指定部１２と圧縮装置の主要
部であるテストパターン圧縮部１０とから構成され、該
テストパターン圧縮部１０は、テストパターンの中から
繰返しパターンを検索して繰返し記述に変換する繰返し
記述変換部１１と、参照パターン指定部１２により読込
まれた参照パターンと同一のパターンをテストパターン
の中から検索し、サブルーチン記述に変換するサブルー
チン比較／変換部１３とからなる。

【００１７】図７は事前に指定された参照パターン列の
例を示す。図８は圧縮前のテストパターンの例を示し、
破線で囲まれた部分はそれぞれ、図７の参照パターンと
一致するパターン列を表す。図９は、本発明の実施の形
態１により、図８のテストパターンを図７の参照パター
ンを用いて圧縮した後のパターン列を示す。図８のテス
トパターン中での図７の参照パターンに一致する部分
（破線で囲まれた部分）がサブルーチン記述に変換され
ることにより、図９の圧縮されたテストパターンが得ら
れる。

【００１８】以下に図１３のフローチャートを用いて、
実施の形態１のテストパターン圧縮装置の動作を説明す
る。本実施形態のテストパターン圧縮装置は、参照パタ
ーン指定部１２が、使用者が事前に入力した参照パター
ンを格納する参照パターン格納部１５から図７に示すよ
うな参照パターンを読み込む（Ｓ１０１）。次にテスト
パターン格納部１４よりテストパターンを読み込み（Ｓ
１０２）、繰返し記述変換部１１で、テストパターン中
から繰返しパターンを検索し、見つかれば繰返し記述に
変換する（Ｓ１０３）。次にサブルーチン比較／変換部
１３で、繰返し記述変換後のテストパターン中から参照
パターンと同じパターンを検索する（Ｓ１０４）。前記
テストパターン中に参照パターンに一致するものがあれ
ば（Ｓ１０５）、サブルーチン比較／変換部１３でサブ
ルーチン記述に変換する（Ｓ１０６）。一致するものが
ないときはＳ１０７のステップに進む。ここで繰返し記
述変換後のパターンが図８に示すようなパターンである
とすると、図７の参照パターンＡ、参照パターンＢで表
されるパターンがテストパターン中に検索されるので、
サブルーチン記述変換により図９に示されるような圧縮
後のテストパターンが得られる。テストパターンが終了
したかどうか判断し（Ｓ１０７）、テストパターンが終
了するまで前記の検索および変換手順を繰り返す。これ
により、図９に示すような圧縮されたテストパターンが
得られる。尚、最終的な圧縮後のテストパターンはテス
トパターン格納部１４に出力される。本実施形態におい
て、指定された参照パターンを用いて、サブルーチン記
述変換によりテストパターンを圧縮するため、より短時
間で圧縮されたテストパターンが得られる。また、サブ
ルーチン記述変換と繰返し記述変換とを組合わせること
により、より高い圧縮率でテストパターンの圧縮ができ
る。

【００１９】＜実施の形態２＞．図２は、本発明の実施
の形態２のテストパターン圧縮装置の構成図である。本
実施形態のテストパターン圧縮装置は、指定された参照
演算式を読込み記憶する参照演算式指定部２２と圧縮装
置の主要部であるテストパターン圧縮部２０とから構成
され、該テストパターン圧縮部２０は、繰返し記述に変
換する繰返し記述変換部２１と、参照演算式指定部２２
により指定された参照演算式で表されるパターン列と同
じパターンをテストパターンの中から検索し、演算式記
述に変換する演算式比較／変換部２３とからなる。

【００２０】図１０は事前に指定された参照演算式の例
を示す。ここで、参照演算式とは、参照パターンを演算
式等を使用して表したものであり、パターンによって
は、上記参照パターンのような０、１の並びによる記述
よりもより広い範囲のパターンを表現することができ
る。例えば、図１０においては、Ｃ言語を用いて表現さ
れている。ここで、x、yは信号の現在値を５ビットで表
し、関数pattern_writeは、（x,y,1,1）の値を記述す
る。すなわち、参照演算式Ａは、x、yを１ずつ増加させ
ながら、（x,y,1,1）のパターンを３２回繰返し記述し
たときに得られるパターンを表す。実際には、図１１の
破線で囲まれたパターン（Ａ）となる。同様に参照演算
式Ｂは、図１１の破線で囲まれたパターン（Ｂ）とな
る。ここで、図１１に示したパターン全体をテストパタ
ーンとし、本発明の実施の形態２の圧縮装置により、こ
のテストパターンを図１０の参照演算式を用いて圧縮す
ると、図１２に示すような演算式記述が得られる。この
演算式記述は、ＬＳＩテスト装置を動作させるためのア
ルゴリズム言語で図１１のテストパターンを記述したも
のである。ここで、図１２の（Ａ）で示されるステップ
は、参照演算式Ａの演算式記述を表し、（Ｂ）で示され
るステップは、参照演算式Ｂの演算式記述を表す。図１
２において、図１１の圧縮前のテストパターンの参照演
算式で表されるパターンに一致する部分（破線で囲まれ
た部分）が演算式記述に変換されることにより、図１１
のテストパターンが圧縮される。

【００２１】以下に図１４のフローチャートを用いて、
実施の形態２のテストパターン圧縮装置の動作を説明す
る。本実施形態のテストパターン圧縮装置は、まず参照
演算式指定部２２により、使用者が事前に入力した参照
演算式を格納する参照演算式格納部２５より図１０に示
されるような参照演算式を読み込む（Ｓ２０１）。次に
テストパターン格納部２４よりテストパターンを読み込
み（Ｓ２０２）、繰返し記述変換部２１で、テストパタ
ーン中から繰返しパターンを検索し、見つかれば繰返し
記述に変換する（Ｓ２０３）。次に演算式比較／変換部
２３で繰返し記述変換後のテストパターン中の参照演算
式で表されるパターンを検索（Ｓ２０４）する。前記テ
ストパターン中に参照演算式で表されるパターンに一致
するものがあれば（Ｓ２０５）、演算式比較／変換部２
３により演算式記述に変換する（Ｓ２０６）。一致する
ものがなければＳ２０７のステップに進む。ステップＳ
２０７では、テストパターンが終了したかどうか判断
し、テストパターンが終了するまで前記の検索および変
換手順を繰り返す。ここで、繰返し記述変換後のパター
ンが図１１に示すようなパターンであるとすると、図１
０の参照演算式Ａ、参照演算式Ｂで表されるパターンが
テストパターン中に検索されるので、図１２に示される
ような圧縮後のテストパターンが得られる。また、最終
的な圧縮後のテストパターンはテストパターン格納部２
４に出力される。

【００２２】参照演算式による圧縮は、演算式で表現で
きるパターンの範囲が広いため、パターンの形式によっ
ては、参照パターンの場合と比較して、より高い圧縮率
で圧縮が実現できる。また、繰返し記述変換と組合わせ
ることにより、さらにより高い圧縮率でテストパターン
の圧縮ができる。

【００２３】＜実施の形態３＞．図３は、実施の形態１
のテストパターン圧縮装置を内蔵した、テストパターン
出力機能を有する論理シミュレーション装置を示す。論
理シミュレーション装置は、圧縮するときに参照される
参照パターンを指定する参照パターン指定部３２と論理
シミュレーション装置の主要部である論理シミュレーシ
ョン部３０とから構成され、該論理シミュレーション部
３０は、論理シミュレーション結果をテストパターンに
変換するテストパターン変換部３１と、参照パターン指
定部３２により読み込まれた参照パターンと同一のパタ
ーンをテストパターンの中から検索し、サブルーチン記
述に変換するサブルーチン比較／変換部３３と、テスト
パターンの中から繰返しパターンを検索し、繰返し記述
に変換する繰返し記述変換部３４とからなる。以下、図
１５を用いて、実施の形態３の論理シミュレーション装
置の動作の説明を行う。

【００２４】前記論理シミュレーション装置は、最初
に、参照パターン指定部３２が、指定された参照パター
ンを読込む（Ｓ３０１）。次に、論理シミュレーション
結果をテスト装置に見合ったテストパターンに変換する
ための制限情報であるテスト装置制限記述を読込んだ
（Ｓ３０２）後、シミュレーション入力パターンを読込
む（Ｓ３０３）。読込んだシミュレーション入力パター
ンにより、論理シミュレーションの実行を開始する（Ｓ
３０４）。次に、論理シミュレーションをステップ毎に
実行する（Ｓ３０５）。前記シミュレーション装置は、
論理シミュレーションの各ステップを実行する度毎にシ
ミュレーション結果を出力するため、テストパターン変
換部３１でシミュレーション結果が出力される度に、こ
のシミュレーション結果をテストパターンに変換する
（Ｓ３０６）。繰返し記述変換部３４で、前記テストパ
ターン中から繰返しパターンを検索し、一致するパター
ンがあれば、繰返し記述に変換する（３０７）。次に、
サブルーチン比較／変換部３３で、テストパターン中か
ら参照パターンを検索し、一致するパターンがあればサ
ブルーチン記述に変換する（Ｓ３０８）。論理シミュレ
ーションの全ステップを実行したかどうか判断し（Ｓ３
０９）、全ステップを実行するまで、上記のテストパタ
ーンへの変換、繰返し記述変換およびサブルーチン記述
変換を行う。

【００２５】このようにして、論理シミュレーション結
果から得られるテストパターンを繰返し記述および参照
パターンを用いて圧縮することにより、高圧縮率で短時
間で圧縮されたテストパターンを、論理シミュレーショ
ン実行終了と同時に得られる。

【００２６】＜実施の形態４＞．図４は、実施の形態２
のテストパターン圧縮装置を内蔵した、テストパターン
出力機能を有する論理シミュレーション装置を示す。該
論理シミュレーション装置は、圧縮するときに参照され
る参照演算式を指定する参照演算式指定部４２と論理シ
ミュレーション装置の主要部である論理シミュレーショ
ン部４０とから構成され、該論理シミュレーション部４
０は、論理シミュレーション結果をテストパターンに変
換するテストパターン変換部４１と、参照演算式指定部
４２により読み込まれた参照演算式と適合するパターン
をテストパターンの中から検索し、演算式記述に変換す
る演算式比較／変換部４３と、テストパターンの中から
繰返しパターンを検索し、繰返し記述に変換する繰返し
記述変換部４４とからなる。以下、図１６を用いて、実
施の形態４の動作の説明を行う。

【００２７】上記論理シミュレーション装置は、最初
に、参照演算子指定部４２が、指定された参照演算式を
読込む（Ｓ４０１）。次に論理シミュレーション結果を
テスト装置に見合ったテストパターンに変換するための
制限情報であるテスト装置制限記述を読込み（Ｓ４０
２）、シミュレーション入力パターンを読込む（Ｓ４０
３）。読込んだシミュレーション入力パターンにより、
論理シミュレーション実行を開始する（Ｓ４０４）。次
に、論理シミュレーションをステップ毎に実行する（Ｓ
４０５）。前記シミュレーション装置は、論理シミュレ
ーションの各ステップを実行する度毎にシミュレーショ
ン結果を出力するため、テストパターン変換部４１でシ
ミュレーション結果が出力される度にシミュレーション
結果をテストパターンに変換する（Ｓ４０６）。繰返し
記述変換部４４は、このテストパターン中から繰返しパ
ターンを検索し、同一のパターンがあれば繰返し記述に
変換する（Ｓ４０７）。次に、演算式比較／変換部４３
で、テストパターン中から参照演算式で表されるパター
ンを検索し、テストパターン中に参照演算式で表される
パターンと同一のパターンがあれば演算式記述に変換す
る（Ｓ４０８）。論理シミュレーションの全ステップを
実行したかどうか判断し（Ｓ４０９）、全ステップを実
行するまで、上記のテストパターンへの変換、テストパ
ターンの繰返し変換および参照演算式変換を繰返し行
う。

【００２８】このようにして、論理シミュレーション結
果から得られるテストパターンを繰返し記述および参照
演算式を用いて圧縮することにより、高圧縮率で圧縮さ
れたテストパターンを、論理シミュレーション実行終了
と同時に得られる。

【００２９】

【発明の効果】本発明により、下記のような効果が得ら
れる。

【００３０】本発明の第１テストパターン圧縮装置は、
指定された参照パターンを使用して、テストパターンを
サブルーチン記述に変換する。これにより、テストパタ
ーン圧縮時間が短縮される。

【００３１】本発明の第２テストパターン圧縮装置は、
指定された参照演算式を使用して演算式記述に変換す
る。参照演算式は、広範囲のパターンを表現できるた
め、テストパターンが高い圧縮率で圧縮される。

【００３２】本発明の第１論理シミュレーション装置
は、論理シミュレーション結果から得られるテストパタ
ーンを参照パターンを用いて圧縮することにより、論理
シミュレーション実行終了と同時に、圧縮されたテスト
パターンを得ることができる。

【００３３】本発明の第２論理シミュレーション装置
は、論理シミュレーション結果から得られるテストパタ
ーンを参照演算式を用いて圧縮することにより、論理シ
ミュレーション実行終了と同時に、圧縮されたテストパ
ターンを得ることができる。

【００３４】本発明の第３論理シミュレーション装置
は、論理シミュレーション結果から得られるテストパタ
ーンを繰返しパターンを用いて圧縮することにより、論
理シミュレーション実行終了と同時に、圧縮されたテス
トパターンを得ることができる。

【００３５】上記第１または第２論理シミュレーション
装置は、参照パターンまたは参照演算式に加えさらに、
繰返しパターンを使用してテストパターンの圧縮を行う
ため、より高い圧縮率で圧縮されたテストパターンをシ
ミュレーション実行終了と同時に得ることができる。

【００３６】上記第１もしくは第２テストパターン圧縮
装置または第１もしくは第２論理シミュレーション装置
において、使用者が参照パターンまたは参照演算式を指
定するための入力操作手段および記憶手段を設けること
により、最適な参照パターンまたは参照演算式の指定が
でき、それにより圧縮時間が短縮される。

【図面の簡単な説明】

【図１】 実施の形態１のテストパターン圧縮装置の構
成を示すブロック図。

【図２】 実施の形態２のテストパターン圧縮装置の構
成を示すブロック図。

【図３】 実施の形態３のテストパターン出力機能を有
する論理シミュレーション装置装置の構成を示すブロッ
ク図。

【図４】 実施の形態４のテストパターン出力機能を有
する論理シミュレーション装置装置の構成を示すブロッ
ク図。

【図５】 従来技術のテストパターン圧縮装置の構成を
示すブロック図。

【図６】 従来技術のテストパターン出力機能を有する
論理シミュレーション装置の構成を示すブロック図。

【図７】 参照パターンの例を示す図。

【図８】 圧縮前のテストパターンの例を示す図。

【図９】 参照パターンを用いてサブルーチン変換記述
により圧縮されたテストパターンを示す図。

【図１０】 参照演算式の例を示す図。

【図１１】 圧縮前のテストパターンの例を示す図。

【図１２】 参照演算式を用いて演算式記述変換により
圧縮されたテストパターンを示す図。

【図１３】 実施の形態１のテストパターン圧縮装置の
動作を表すフローチャート。

【図１４】 実施の形態２のテストパターン圧縮装置の
動作を表すフローチャート。

【図１５】 実施の形態３の論理シミュレーション装置
の動作を表すフローチャート。

【図１６】 実施の形態４の論理シミュレーション装置
の動作を表すフローチャート。

【符号の説明】

１０，２０，５０ テストパターン圧縮部、１１，２
１，３４，４４，５１ 繰返し記述変換部、１２，３２
参照パターン指定部、１３，３３ サブルーチン比較
／変換部、１４，２４，３７，４７，５３，６４ テス
トパターン格納部、１５，３８ 参照パターン格納部、
２２，４２ 参照演算式指定部、２３，４３演算式比較
／変換部、２５，４８ 参照演算式格納部、３０，４
０，６０ 論理シミュレーション部、３１，４１，６１
テストパターン変換部、３５，４５，６２ シミュレ
ーション入力パターン格納部、３６，４６，６３ テス
ト装置制限記述格納部、３９，４９，６５ シミュレー
ション結果格納部、５２ サブルーチン変換部。

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 集積回路のテストパターンを読み込み、
   読み込んだテストパターンを圧縮するテストパターン圧
   縮装置において、 参照パターンを指定するための指定手段と、 読み込んだ前記テストパターンの中から前記参照パター
   ンと同一のパターンを検索し、前記参照パターンと同一
   のパターンをサブルーチン記述に変換するサブルーチン
   変換手段とを備えることを特徴とするテストパターン圧
   縮装置。
2. 【請求項２】 集積回路のテストパターンを読み込み、
   読み込んだテストパターンを圧縮するテストパターン圧
   縮装置において、 参照演算式を指定するための指定手段と、 読み込んだ前記テストパターンの中から前記参照演算式
   に適合するパターンを検索し、前記参照演算式に適合す
   るパターンと同一のパターンを演算形式記述に変換する
   演算式変換手段とを備えることを特徴とするテストパタ
   ーン圧縮装置。
3. 【請求項３】 論理シミュレーションの実行と同時にテ
   ストパターンを発生させる手段を持つ論理シミュレーシ
   ョン装置において、 参照パターンを指定するための指定手段と、 前記テストパターンの中から参照パターンと同一のパタ
   ーンを検索し、前記参照パターンと同一のパターンをサ
   ブルーチン記述に変換するサブルーチン変換手段とを備
   えることを特徴とする論理シミュレーション装置。
4. 【請求項４】 論理シミュレーションの実行と同時にテ
   ストパターンを発生する手段を持つ論理シミュレーショ
   ン装置において、 参照演算式を指定するための指定手段と、 前記テストパターンの中から参照演算式に適合するパタ
   ーンを検索し、前記参照演算式に適合するパターンと同
   一のパターンを演算形式記述に変換する演算式変換手段
   とを備えることを特徴とする論理シミュレーション装
   置。
5. 【請求項５】 論理シミュレーションの実行と同時にテ
   ストパターンを発生する手段を持つ論理シミュレーショ
   ン装置において、 前記テストパターンの中から繰返しパターンを検索し、
   繰返しパターンと同一のパターンを繰返し記述に変換す
   る繰返し記述変換手段を備えることを特徴とする論理シ
   ミュレーション装置。
6. 【請求項６】 請求項３または請求項４に記載の論理シ
   ミュレーション装置において、前記テストパターンの中
   から繰返しパターンを検索し、前記繰返しパターンと同
   一のパターンを繰返し記述に変換する繰返し記述変換手
   段を、さらに備える論理シミュレーション装置。
7. 【請求項７】 請求項１に記載のテストパターン圧縮装
   置において、 前記指定手段は、使用者が参照パターンを入力するため
   の入力操作手段と、入力された参照パターンを記憶する
   記憶手段とを有することを特徴とするテストパターン圧
   縮装置。
8. 【請求項８】 請求項２に記載のテストパターン圧縮装
   置において、 前記指定手段は、使用者が参照演算式を入力するための
   入力操作手段と、入力された参照演算式を記憶する記憶
   手段とを有することを特徴とするテストパターン圧縮装
   置。
9. 【請求項９】 請求項３に記載の論理シミュレーション
   装置において、 前記指定手段は、使用者が参照パターンを入力するため
   の入力操作手段と、入力された参照パターンを記憶する
   記憶手段とを有することを特徴とする論理シミュレーシ
   ョン装置。
10. 【請求項１０】 請求項４に記載の論理シミュレーショ
    ン装置において、 前記指定手段は、使用者が参照演算式を入力するための
    入力操作手段と、入力された参照演算式を記憶する記憶
    手段とを有することを特徴とする論理シミュレーション
    装置。